JP5169983B2 - 磁性体管の欠陥検査方法。 - Google Patents

磁性体管の欠陥検査方法。 Download PDF

Info

Publication number
JP5169983B2
JP5169983B2 JP2009113360A JP2009113360A JP5169983B2 JP 5169983 B2 JP5169983 B2 JP 5169983B2 JP 2009113360 A JP2009113360 A JP 2009113360A JP 2009113360 A JP2009113360 A JP 2009113360A JP 5169983 B2 JP5169983 B2 JP 5169983B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
permanent magnet
yoke
probe
defect
magnetic tube
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009113360A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010261836A (ja
Inventor
光男 橋本
久和 森
秀彦 末次
豊和 多田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Chemical Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2009113360A priority Critical patent/JP5169983B2/ja
Application filed by Sumitomo Chemical Co Ltd filed Critical Sumitomo Chemical Co Ltd
Priority to CN201080011030.2A priority patent/CN102348972B/zh
Priority to EP10713254.0A priority patent/EP2406623B1/en
Priority to US13/203,795 priority patent/US8928315B2/en
Priority to KR1020117023713A priority patent/KR101679446B1/ko
Priority to SG2011063443A priority patent/SG174227A1/en
Priority to PCT/JP2010/054621 priority patent/WO2010104213A1/en
Publication of JP2010261836A publication Critical patent/JP2010261836A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5169983B2 publication Critical patent/JP5169983B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Description

本発明は、磁性体管の欠陥を精度良く検査する方法に関する。
金属材料の検査方法の一つとして渦流探傷法が挙げられる。オーステナイト系ステンレス鋼、チタン、銅合金などの非磁性体管の検査では、内挿型の渦流探傷用プローブを用いた渦流探傷が広く行われている。
炭素鋼、フェライト系ステンレス鋼、フェライト相とオーステナイト相の二相からなる二相ステンレス鋼などの磁性体管の検査においては、非磁性体管の渦流探傷用プローブでは渦電流が表面しか流れないこと、透磁率の局部的な変動に起因するノイズが検出能に悪影響を及ぼすことから精度良く欠陥の探傷ができない。
二相ステンレス伝熱管の渦流探傷用プローブとして、円柱状ヨークの中央部の周囲に検出コイルを配置し、その両側のヨークの周囲に、磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように永久磁石を装着したプローブが知られている(例えば、非特許文献1参照。)
このプローブを用いることによって二相ステンレス管などの弱磁性体管の渦流探傷は可能であるが、炭素鋼などの強磁性体管の小さい欠陥を探傷するには不十分であり、強磁性体管の小さい欠陥をもより精度良く検査できる方法が望まれている。
非破壊検査 第42巻 第9号 520〜526頁 平成5年
本発明は、磁性体管の欠陥を精度良く検査する方法、更には磁性体管の外部に設けられたバッフルプレート、管板、支持具など(以下、単にバッフルと称する)の部分の磁性体管の欠陥をも精度良く検査する方法を提供することを目的とする。
本発明者は、磁性体管の渦流探傷方法について鋭意検討した結果、円柱状ヨークの中央部の周囲に検出コイルを配置し、その両側のヨークの周囲に、磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように永久磁石を装着したプローブの中央部に、更に磁化方向がヨークの軸方向になるように永久磁石を装着したプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することによって、磁性体管の欠陥を精度良く検査できること、更に多重周波数法によって渦流探傷することによって、外部に設けられたバッフルの部分の磁性体管の欠陥をも精度良く検査できることを見出し、本発明に至った。
すなわち本発明は、(1)円柱状ヨークの中央部の周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着し、その両側のヨークの周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように装着し、中央部の永久磁石の上に検出コイルを配置してなるプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することを特徴とする磁性体管の欠陥検査方法、および(2)多重周波数法によって渦流探傷することを特徴とする上記(1)の磁性体管の欠陥検査方法である。
本発明の方法によって、磁性体管の欠陥を精度良く検査でき、更には磁性体管の外部に設けられたバッフルの部分の磁性体管の欠陥をも精度良く検査することができる。
本発明のプローブの一実施態様を示す断面模式図である。 本発明のプローブの永久磁石取り付け方法の模式図である。 本発明のプローブの永久磁石取り付け方法の模式図である。 本発明のプローブの永久磁石取り付け方法の模式図である。 本発明のプローブの回路図である。 多重周波数法を説明するための図である。 実施例1の結果を示す図である。 実施例1の他の結果を示す図である。 実施例3の結果を示す図である。 実施例3の他の結果を示す図である。 実施例3の他の結果を示す図である。 実施例3の他の結果を示す図である。
以下、図面を参照して本発明を詳細に説明する。図1は本発明のプローブの一実施態様を示す断面模式図である。
円柱状ヨーク1の中央部の周囲に永久磁石2が、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着されている。図では左側にN極、右側にS極になるように装着されている。
永久磁石2の両側のヨークの周囲に永久磁石3および永久磁石4が、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が永久磁石3および永久磁石4で異なるように装着されている。図では永久磁石3はヨーク側がS極、外側がN極、永久磁石4はヨーク側がN極、外側がS極になるように装着されている。
中央部の永久磁石2の上に検出コイル5が配置されている。その両側には内側励磁コイル6が配置されている。
プローブの両端部にはガイド7、8が設けられている。ヨーク1の略中心部に空気導入孔9、および両端部に空気導入孔から半径方向に延びる複数の空気噴射孔10が設けられている。
なお、コイルの導線およびその取り出し孔は図示されていない。
ヨークとしては、炭素鋼、低合金鋼などの高透磁率金属が用いられる。
永久磁石としては、例えば、ネオジム磁石などの高性能永久磁石が用いられる。中央部に装着する永久磁石2としては、ヨークの軸方向の長さが約5〜10mmのリング状のものが用いられる。永久磁石2の両側に装着される永久磁石3および永久磁石4としては、ヨークの軸方向の長さが約5〜30mm、好ましくは約10〜30mmのリング状のものが用いられる。永久磁石3および永久磁石4は長い方が、探傷精度が向上するが、約30mmを超えてもそれに見合った効果は得られない。なお、永久磁石3および永久磁石4のヨークの半径方向の大きさ、厚さは探傷する磁性体管の大きさに合わせて変更される。
半径方向の磁化を有するリング状の永久磁石は製作コストがかかるため、通常、図2−Aに示すように、四分割等の分割形状にして円柱状ヨークの周囲に装着し使用される。該1/4周分割の永久磁石を円柱状ヨークに装着するときは図2−Bに示す如くダミーの鉄片あるいは装着する永久磁石とは磁化方向が逆の永久磁石を間に挟むことにより対面の永久磁石の反発力が解消されて容易に装着が可能となる。円柱状ヨークへの永久磁石の装着方法は特に限定されないが、接着剤、例えばアクリル系接着剤を用いて接着して装着される。一対の永久磁石を装着後、ダミーの鉄片もしくは装着した永久磁石とは磁化方向が逆の永久磁石を取り除いて、この位置に、円柱状ヨークとの接触面に接着剤を塗布したもう一対の永久磁石を装入し、対面する永久磁石を万力等で接着剤が接着効果を奏するまで挟み保持することにより容易に円柱状ヨークに永久磁石を装着することができる。また、別法として図2−Cに示すように、円柱状ヨークの周囲に接着剤を介して半径方向に磁化を有する永久磁石を並べ、この永久磁石を覆うように、磁化方向が逆になったダミーの永久磁石を、隣り合う永久磁石にまたがって配置する場合には、反発力が緩和され、万力等を用いて固定しなくても、容易に円柱状ヨークに永久磁石を接着し得る。ダミーの永久磁石は接着剤が効果を発現した後、取り除けばよい。
2個の検出コイル5および2個の内側励磁コイル6としては、各々、例えば、素線径が約0.05〜0.1mmφの銅線を、幅が約0.8〜1.2mm、深さが約0.8〜1.2mmで、約60〜80回巻いて形成される。
内側励磁コイルは、渦電流の導電範囲を欠陥近傍のみに抑制し、微小な欠陥のS/N比を改善し、管端近傍の影響を軽減するので、設けることが好ましい。
プローブの両端部のガイド7、8は、アセタール樹脂、ステンレス鋼などで形成され、ねじ構造によってヨークに装着される。
ヨーク1に設けられた空気導入孔9から空気が導入され、空気噴射孔10から空気が噴射される。磁性体管の探傷ではプローブに装着した強力な永久磁石による管内面への張り付きによって、プローブの走査および芯出しが困難になるが、空気噴射孔から垂直に空気が噴射されることによって、管への張り付きを軽減させることができ、プローブの走査が容易になる。
なお、空気噴射孔10は、例えば、孔径が約2mmφで、空気導入孔9から周方向に約6〜10本設けられる。
コイルは導線によって渦流探傷装置に接続され、時間-電圧特性などを求め、欠陥を検査する。
図3にプローブの回路図を示す。2個の検出コイルL1、L2および2個の内側励磁コイルL3、L4および4個の可変抵抗器R1、R2、R3、R4を、ロックインアンプに対して並列に接続し、検出コイルL1、L2と可変抵抗器R1、R2がホイストンブリッジ回路となるように、ロックインアンプの入力信号用の端子と接続している。
探傷は次のようにして行う。
所定の試験周波数、例えば、実際の探傷で探傷感度が高い100kHz、印加電圧5vの時の検出コイルおよび内側励磁コイルのインピーダンスを測定し、可変抵抗器R1、R2の抵抗値を、その測定した抵抗値に調整する。またこのときの検出コイルと可変抵抗器の合成インピーダンスを測定し、内側励磁コイルに接続する可変抵抗器R3、R4の抵抗値を、その測定した抵抗値の前後に変化させて探傷し、最終的に検出感度が良い条件で探傷を行う。
プローブによる探傷速度は、約2〜50mm/秒であり、より小さい欠陥を精度良く検出するためには、約2〜10mm/秒が好ましい。
上記の方法によって、磁性体管の外部にバッフルが設けられていない部分の磁性体管の欠陥を精度良く検出することができるが、バッフルが設けられている部分では、バッフルの信号が邪魔して、磁性体管の欠陥を精度良く検出することができない。
このような邪魔する信号を除去して渦流探傷の精度を向上させる方法として、検出コイルに2つ以上の周波数を加えて渦流探傷する多重周波数法が知られている。多重周波数法については、例えば、「非破壊検査シーリーズ 渦流探傷試験II」(平成14年10月5日 1995年版第6刷 社団法人日本非破壊検査協会発行)に記載されている。
以下、二つの周波数を用いた多重周波数法によるバッフルが設けられている部分の磁性体管の欠陥の検査について説明する。図4はこれを説明のための図である。
バッフルが設けられている部分の欠陥の無い磁性体管をfという周波数で探傷を行なうと(A)に示したようなバッフルの信号(リサージュ波形)が得られる(f処理)。周波数をfにして探傷すると、(B)に示したようなバッフルの信号が得られる(f2処理)。周波数fで得られたバッフルの信号の振幅X、Yおよび位相θを回転させ、周波数fで探傷した時に得られたバッフルの信号とできるだけ同じ振幅と傾きを持った信号になるように調整する(C)。周波数fで得られた信号を調整して得られたのでこの処理をf’とする。
処理の信号とf’処理の信号の差をとる処理(f−f’)をすると、同じようなリサージュ波形形状になっているためバッフルの信号は相殺されて消える(D)。
バッフルが設けられている部分の欠陥が有る磁性体管をfという周波数で探傷を行なうと(E)に示したようなバッフルと欠陥が複合された信号が得られる(f処理)。
ここで、上記と同じようにバッフル信号を除去するような処理(f−f’)を行ない、バッフル信号が除去された欠陥信号のみを取り出し(F)、(D)と比較して欠陥を検査する。
周波数fとfが同じような帯域であると、バッフル信号も欠陥信号も似通ったものになるため、演算すると欠陥信号も大部分が演算で消えてしまう可能性ある。逆に周波数fとfを全く異なった帯域に設定すると、基本的な波形形状が変わってしまうため、いくら調整してもf処理とf’処理のバッフル信号を似た形状にすることができず、結果としてバッフル信号を消去できなくなる。周波数fは、通常、周波数fの1/2〜1/8程度にする。周波数は、磁性体管の材質などによって変わり、走査して最適な周波数を選定する。
渦流探傷および演算処理は、周波数fとfを検出コイルに同時に加え、演算処理も行うように回路を形成し、プローブを走査すると同時に欠陥を検査することができる。
また、周波数fとfを別々に検出コイルに加えて走査し、その後、得られた信号を演算処理して欠陥を検出することもできる。
なお、バッフル以外に邪魔な信号、例えば、プローブのガタ信号(管内でプローブがガタつくことによって、管と検出コイルとの距離が変化して発生する信号)が大きい場合に、それを消去するために第3の周波数を用いて行うことがある。
以下、実施例を挙げて本発明を説明するが、本発明は以下の実施例に限定されるものではない。
実施例1
図1に示すと同様のプローブを作製した。使用した材料および形状を以下に示す。
ヨーク1:炭素鋼S15C焼鈍材
永久磁石2:ネオジウムマグネット((株)アサヒコーポレーション製)
外径φ25.5mm×内径φ21mm×長さ6.4mmのリング状
永久磁石3、4:ネオジムマグネット((株)アサヒコーポレーション製)
外径φ28mm×内径φ21mm×長さ30mmのリング状を四分割したも
の。
検出コイル5、内側励磁コイル6:
各コイルともに、線径φ0.08mmの銅線を使用し、寸法は幅1.0mm×
深さ1.0mm、巻数は70回、コイル間隔は0.8mmとした。
ガイド7、8:ポリアセタール(コポリマー)ジュラコン(登録商標)(ポリプラス
チック(株)製)、外径φ28.4mm
永久磁石をヨークに接着するための接着剤:
アクリル系接着剤ハードロック(登録商標)(電気化学工業(株)製)
なお、ロックインアンプは、LI5640((株)エヌエフ回路設計ブロック製)を、オシロスコープは、TDS3104B(日本テクトロニクス(株)製を、プローブを走査させるステージコントローラは、CAT-E(中央精機(株)製)を用いた。
プローブの回路図を図3に示すように作製した。試験周波数を100kHz、印加電圧5vの時の検出コイルおよび内側励磁コイルのインピーダンスを測定すると約93Ωであったことから、可変抵抗器R1、R2の抵抗値を約93Ωに調整した。またこのときの検出コイルと可変抵抗器の合成インピーダンスを測定すると約172Ωであった。この条件で、内側励磁コイルに接続する可変抵抗器R3、R4の抵抗値を150〜500Ωに変化させて探傷を行った。
強磁性体管(炭素鋼STB340、外径φ34mm×厚み2.3mm×長さ900mm)に100mm間隔でφ2.0mm、φ1.5mm、φ1.0mm、φ0.5mmの貫通孔を設けたものについて、速度30mm/秒、4mm/秒で走査して探傷を行った。
探傷速度が30mm/秒の時の結果を図5に、探傷速度が4mm/秒でφ1.0mm、φ0.5mmの貫通孔について探傷した時の結果を図6に示す。
図中、内側励磁なし(2コイル)は、内側励磁コイルを生かさず、検出コイルのみで探傷したことを、150・・・500Ωは可変抵抗器R3、R4の抵抗値を表す。
φ2mm以下の微小な欠陥では内側励磁コイルを設けたプローブを用いることによって、内側励磁コイルがなく検出コイルのみのプローブを使用した時よりも明らかにS/N比が改善されている。また探傷速度が約4mm/秒の時、内側励磁コイルがないとS/N比が悪く、φ1mm、φ0.5mmの貫通孔をともに検出できていないが、内側励磁コイルを設けたプローブでは両者ともに十分な感度で検出可能である。
実施例2
実施例1で使用したプローブのヨークの軸方向の内部にφ4mmの空気導入孔、および永久磁石の両側(ガイド部)に空気導入孔から半径方向に延びるそれぞれ8本のφ2mmの空気噴射孔を設けた。
プローブの端部にばね秤を取り付け、実施例1と同じ強磁性体管に挿入し、レギュレーターで圧力を調整した空気を空気導入孔に供給し、空気噴射孔から噴出させながら一定速度となるように引張り、プローブが動き出す直前の引張り力を測定した。同じ条件で5回測定し、平均値を求めた。
結果を表1に示す。空気圧を高くして空気を多く噴射させることによって、引張り力が低下して走査が容易になっている。
Figure 0005169983
実施例3
強磁性体管(炭素鋼STB340、外径φ34mm×厚み2.3mm×長さ900mm)に、模擬欠陥として直径1mmφの貫通孔、外表面に幅5mm×長さ12.5mmで深さが厚みの25%である方形溝、外表面に幅5mm×長さ17.5mmで深さが厚みの50%である方形溝、幅が1.5mmで深さが厚みの20%の内側全周溝、幅が1.5mmで深さが厚みの70%の内側全周溝、幅が1.5mmで深さが厚みの50%の外側全周溝、幅が1.5mmで深さが厚みの80%の外側全周溝を設けた。
模擬バッフル(炭素鋼SS400、縦100mm×横100mm×厚み15mm、中央に直径34.4mmφの孔)の孔に強磁性体管を挿入し、実施例1と同じプローブおよび渦流探傷装置を用い、模擬バッフルの位置を変えて渦流探傷し、欠陥の検査を行った。
探傷速度を約4mm/秒で、先ず周波数fを20kHzで探傷し(f処理)、その後、周波数fを10kHzで探傷した(f処理)。
得られたデータを演算処理した。すなわち、f処理で得られたバッフルの信号の振幅X、Yおよび位相θを回転させ、f処理で得られたバッフルの信号とできるだけ同じ振幅と傾きを持った信号になるように処理(f’処理)した。
処理の信号とf’処理の信号との差をとる処理(f−f’)をし、欠陥を検査した。得られたリサージュ波形を図7〜図10に示す。図7の(1)は欠陥の無い部位、(2)は直径1mmφの貫通孔、図8の(3)は幅5mm×長さ12.5mmで深さが厚みの25%である方形溝、(4)は幅5mm×長さ17.5mmで深さが厚みの50%である方形溝、図9の(5)は幅が1.5mmで深さが厚みの20%の内側全周溝、(6)は幅が1.5mmで深さが厚みの70%の内側全周溝、図10の(7)は幅が1.5mmで深さが厚みの50%の外側全周溝、(8)は幅が1.5mmで深さが厚みの80%の外側全周溝について示す。
(1)と(2)〜(8)のリサージュ波形の比較から、外部に設けられたバッフル部分の磁性体管の欠陥が検出されていることが判る。
1 ヨーク
2 永久磁石
3 永久磁石
4 永久磁石
5 検出コイル
6 内側励磁コイル
7 ガイド
8 ガイド
9 空気導入孔
10 空気噴出孔

Claims (4)

  1. 円柱状ヨークの中央部の周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの軸方向になるように装着し、その両側のヨークの周囲に永久磁石を、その磁化方向がヨークの半径方向であって、ヨーク側の磁極が相異なるように装着し、中央部の永久磁石の上に検出コイルを配置してなるプローブを用いて、磁性体管内を渦流探傷することを特徴とする磁性体管の欠陥検査方法。
  2. 検出コイルの両側に内側励磁コイルを配置してなるプローブを用いることを特徴とする請求項1記載の磁性体管の欠陥検査方法。
  3. ヨークの軸方向の内部に空気導入孔、および両側の永久磁石の更に両側に空気導入孔から半径方向に延びる複数の空気噴射孔を有してなるプローブを用いることを特徴とする請求項1記載の磁性体管の欠陥検査方法。
  4. 多重周波数法によって渦流探傷することを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の磁性体管の欠陥検査方法。
JP2009113360A 2009-03-11 2009-05-08 磁性体管の欠陥検査方法。 Active JP5169983B2 (ja)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009113360A JP5169983B2 (ja) 2009-05-08 2009-05-08 磁性体管の欠陥検査方法。
EP10713254.0A EP2406623B1 (en) 2009-03-11 2010-03-11 Eddy current flaw detection probe
US13/203,795 US8928315B2 (en) 2009-03-11 2010-03-11 Eddy current flaw detection probe
KR1020117023713A KR101679446B1 (ko) 2009-03-11 2010-03-11 와류 탐상용 프로브
CN201080011030.2A CN102348972B (zh) 2009-03-11 2010-03-11 涡电流缺陷检测探头
SG2011063443A SG174227A1 (en) 2009-03-11 2010-03-11 Eddy current flaw detection probe
PCT/JP2010/054621 WO2010104213A1 (en) 2009-03-11 2010-03-11 Eddy current flaw detection probe

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009113360A JP5169983B2 (ja) 2009-05-08 2009-05-08 磁性体管の欠陥検査方法。

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010261836A JP2010261836A (ja) 2010-11-18
JP5169983B2 true JP5169983B2 (ja) 2013-03-27

Family

ID=43360030

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009113360A Active JP5169983B2 (ja) 2009-03-11 2009-05-08 磁性体管の欠陥検査方法。

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5169983B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180030991A (ko) 2015-07-16 2018-03-27 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 측정 방법, 결함 측정 장치 및 검사 프로브

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6200638B2 (ja) * 2012-09-06 2017-09-20 住友化学株式会社 渦流探傷用プローブおよび渦流探傷検査装置
CN110470728B (zh) * 2019-09-03 2023-06-20 西安航空职业技术学院 一种磁粉检测用自然缺陷试块及制作方法

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5280055A (en) * 1975-12-26 1977-07-05 Mitsutoyo Seisakusho Probe for measuring inner diameter
JPS5891155U (ja) * 1981-12-15 1983-06-20 住友金属工業株式会社 渦流探傷用プロ−ブ
JPH0338696Y2 (ja) * 1985-02-09 1991-08-15
JPS62126345A (ja) * 1985-11-27 1987-06-08 Kawasaki Heavy Ind Ltd 渦流探傷用プロ−ブ
JPH0684954B2 (ja) * 1985-12-10 1994-10-26 川崎重工業株式会社 渦流探傷用プロ−ブ
JPH0827260B2 (ja) * 1986-11-14 1996-03-21 川崎重工業株式会社 渦電流探傷方法及び渦電流探傷プロ−ブ
JPH04273055A (ja) * 1991-02-28 1992-09-29 Asahi Chem Ind Co Ltd 磁性管用の内挿型の渦流探傷子
JPH07218473A (ja) * 1994-01-27 1995-08-18 Asahi Chem Ind Co Ltd 磁性管用の内挿型の包被渦流探傷子
JPH08193981A (ja) * 1995-01-17 1996-07-30 Toshiba Corp 渦流探傷方法およびその装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180030991A (ko) 2015-07-16 2018-03-27 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 결함 측정 방법, 결함 측정 장치 및 검사 프로브
US10539535B2 (en) 2015-07-16 2020-01-21 Sumitomo Chemical Company, Limited Defect measurement method, defect measurement device, and testing probe

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010261836A (ja) 2010-11-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8928315B2 (en) Eddy current flaw detection probe
JP6514592B2 (ja) 欠陥測定方法、欠陥測定装置および検査プローブ
JP4247723B2 (ja) 渦流探傷方法及び渦流探傷装置
KR20150048141A (ko) 와류 탐상용 프로브 및 와류 탐상 검사 장치
JP2009069090A (ja) 検査対象物の探傷方法および装置ならびに渦流探傷用プローブ
JP5851783B2 (ja) 渦電流探傷用プローブ
EP2470893A1 (en) Method for inspecting an austenitic stainless steel weld
JP5169983B2 (ja) 磁性体管の欠陥検査方法。
JP5233835B2 (ja) 渦流探傷用プローブ
KR102140170B1 (ko) 교차 경사형 유도전류를 이용한 비파괴 검사장치용 프로브 및 비파괴 검사장치용 유도코일 제조방법
JP2000266727A (ja) 浸炭深さ計測方法
JP5417979B2 (ja) 磁性体管の欠陥検査方法
JP2011047716A (ja) 渦流式検査装置、及び、渦流式検査方法
JP2006189347A (ja) 探傷プローブ及び探傷装置
KR102283396B1 (ko) 와전류 비파괴검사를 위한 센서프로브 검사장치
JPS61198055A (ja) 渦流探傷用内插型プロ−プ
JP2014066688A (ja) 渦流探傷プローブ、渦流探傷装置
JP2013185951A (ja) 電磁気探傷用プローブ
JP5721475B2 (ja) 強磁性鋼管の渦流探傷用内挿プローブ
JPH11295275A (ja) 渦電流探傷方法及び装置
JP2019020272A (ja) 表面きず検査装置
JP2010054415A (ja) 管板溶接部の欠陥検査方法
JP3426748B2 (ja) 渦電流探知試験方法
JP2006220630A (ja) 渦電流探傷用プローブ
Tohara et al. Experimental Evaluation of Defects in Ferromagnetic Steel Tube by Electromagnetic Sensor Using Square Wave AC Magnetic Field with DC Bias

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110630

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120911

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121109

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121204

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121217

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5169983

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160111

Year of fee payment: 3

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350