JP5168735B2 - Optical device, optical scanner, and image forming apparatus - Google Patents

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Description

本発明に係るいくつかの態様は、例えばMEMS(Micro Electro Mechanical System)技術により作製され、可動板が弾性支持部を中心に往復運動する光学デバイス、光スキャナ及び画像形成装置に関する。   Some embodiments according to the present invention relate to an optical device, an optical scanner, and an image forming apparatus, which are manufactured by, for example, a MEMS (Micro Electro Mechanical System) technique and a movable plate reciprocates around an elastic support portion.

この種の光学デバイスは、例えば、一対の弾性支持部(トーションバー)でねじり回動可能に支持され、光を反射する反射膜を有する可動板を備えている。このような光学デバイスを備える装置の小型化・高機能化を図るためには、可動板を高速・大偏向角で駆動する必要がある。   This type of optical device includes, for example, a movable plate having a reflective film that is supported by a pair of elastic support portions (torsion bars) so as to be able to twist and rotate and reflects light. In order to reduce the size and increase the functionality of an apparatus including such an optical device, it is necessary to drive the movable plate at a high speed and a large deflection angle.

しかし、可動板を高速・大偏向角で駆動すると、可動板、特に可動板の外周部に気流が生じ、埃、塵、水分、油分などが可動板の反射膜に吸い寄せられて付着してしまう。その結果、反射膜の反射率が低下するので、反射した光の輝度が低下するという問題があった。反射した光の輝度の低下を防止するために光源の光の輝度を増加すると、光源における消費電力が増加するという新たな問題が生じる。また、反射膜の反射率が低下すると、光学デバイスに吸収されるエネルギーが大きくなるので、反射せずに吸収された光のエネルギーによって光学デバイスの温度が変化してしまう。その結果、温度変化により光学デバイスの共振周波数が変化し、可動板の駆動制御が困難になるという問題もあった。   However, when the movable plate is driven at a high speed and a large deflection angle, an air flow is generated in the outer periphery of the movable plate, particularly the movable plate, and dust, dust, moisture, oil, etc. are attracted to and adhere to the reflective film of the movable plate. . As a result, the reflectance of the reflective film is lowered, and there is a problem that the brightness of the reflected light is lowered. When the luminance of light from the light source is increased to prevent a decrease in the luminance of reflected light, a new problem that power consumption in the light source increases occurs. Moreover, since the energy absorbed by the optical device increases when the reflectance of the reflective film decreases, the temperature of the optical device changes depending on the energy of light absorbed without reflection. As a result, there is a problem that the resonance frequency of the optical device changes due to a temperature change, making it difficult to control the drive of the movable plate.

従来、これらの問題を解決するために、反射膜を有する可動板を反射膜側から光透過部材で覆い、反射膜の汚れを防止するようにしたものが知られている(例えば特許文献1参照)。
特開2005−173435号公報
Conventionally, in order to solve these problems, a movable plate having a reflection film is covered with a light transmission member from the reflection film side to prevent the reflection film from being contaminated (see, for example, Patent Document 1). ).
JP 2005-173435 A

しかしながら、従来のものでは、光源と反射膜の間に、光透過部材として例えば透過ガラスを設ける必要があるとともに、透過ガラスに反射防止膜をコーティングする必要があるため、コストアップに繋がるという問題があった。また、透過ガラスに反射防止膜を設けても光源光を全て透過することはできないので、エネルギーロスが生じることにより、光源における消費電力の増加を招いていた。さらに、透過できずに反射された光は迷光となるおそれもあった。   However, in the conventional one, it is necessary to provide, for example, transmissive glass as a light transmissive member between the light source and the reflective film, and it is necessary to coat the transmissive glass with an antireflective film, which leads to an increase in cost. there were. Further, even if an antireflection film is provided on the transmissive glass, it is impossible to transmit all light from the light source. Therefore, energy loss occurs, leading to an increase in power consumption in the light source. Furthermore, the light reflected without being transmitted may be stray light.

本発明のいくつかの態様は前述の問題に鑑みてなされたものであり、消費電力を増加させることなく、反射膜の汚れを防止することのできる光学デバイス、光スキャナ及び画像形成装置を提供することを目的の1つとする。   Some aspects of the present invention have been made in view of the above-described problems, and provide an optical device, an optical scanner, and an image forming apparatus that can prevent contamination of a reflective film without increasing power consumption. This is one of the purposes.

本発明に係る光学デバイスは、光を反射する反射膜を有する可動板と、前記可動板を所定軸周りに回動可能に支持する支持部とを備え、前記可動板は、前記所定軸と水平に直交する方向における長さが前記反射膜の長さより大きい薄膜を有する。   An optical device according to the present invention includes a movable plate having a reflective film that reflects light, and a support portion that supports the movable plate so as to be rotatable about a predetermined axis, and the movable plate is horizontally aligned with the predetermined axis. A thin film having a length in a direction orthogonal to the length of the reflective film.

かかる構成によれば、所定軸と水平に直交する方向における薄膜の長さが反射膜の長さより大きい。ここで、慣性モーメントは、その物体の微小部分の質量と、その微小部分の回動軸からの距離の2乗との積の総和である。これにより、可動板を所定軸周りに回動させたときに、気流によって可動板に吸い寄せられる塵や埃などが、反射膜ではなく薄膜の反射膜より外側の部分に付着する。一方、同一質量であって、所定軸と水平に直交する方向における長さが反射膜の長さ以下の薄膜と比較すると、回動軸である所定軸からの距離が長くなるが、薄膜は質量が小さいことから、慣性モーメントはほとんど変わらない。これにより、消費電力を増加させることなく、反射膜の汚れを防止することができる。   According to such a configuration, the length of the thin film in the direction orthogonal to the predetermined axis is larger than the length of the reflective film. Here, the moment of inertia is the sum of the products of the mass of the minute portion of the object and the square of the distance from the rotation axis of the minute portion. As a result, when the movable plate is rotated around a predetermined axis, dust or dirt attracted to the movable plate by the air current adheres to a portion outside the thin reflective film, not the reflective film. On the other hand, when compared with a thin film having the same mass and having a length in a direction perpendicular to the predetermined axis in the direction perpendicular to the length of the reflecting film, the distance from the predetermined axis as the rotation axis is longer, but the thin film has a mass Is small, the moment of inertia hardly changes. Thereby, it is possible to prevent the reflection film from being stained without increasing the power consumption.

好ましくは、前記反射膜と前記薄膜とが1つの膜として可動板上に形成される。
かかる構成によれば、反射膜と薄膜とが1つの膜として可動板上に形成されるので、当該膜が薄膜としての役割と反射膜としての役割とを兼ねる。これにより、消費電力を増加させることなく、反射膜の汚れを防止することができる光学デバイスを、より少ない工程で安価に実現することができる。
Preferably, the reflective film and the thin film are formed on the movable plate as one film.
According to such a configuration, since the reflective film and the thin film are formed as a single film on the movable plate, the film serves both as a thin film and as a reflective film. As a result, an optical device that can prevent the reflection film from being soiled without increasing power consumption can be realized at a lower cost with fewer steps.

好ましくは、前記可動板は、前記所定軸と水平に直交する方向における長さが前記反射膜の長さ以下である。   Preferably, the length of the movable plate in a direction perpendicular to the predetermined axis is equal to or shorter than the length of the reflective film.

かかる構成によれば、所定軸と水平に直交する方向における可動板の長さが反射膜の長さ以下であるので、同一質量であって、所定軸と水平に直交する方向における長さを反射膜の長さより大きくすることにより反射膜の汚れを防止する可動板と比較して、回動軸である所定軸からの距離が短くなることから、慣性モーメントを低減することができる。これにより、可動板の駆動トルクを低減することができ、共振周波数が同一であって、所定軸と水平に直交する方向における長さが反射膜の長さより大きい可動板と比較して、消費電力を低減することができる。   According to such a configuration, since the length of the movable plate in the direction perpendicular to the predetermined axis is equal to or less than the length of the reflection film, the length of the movable plate in the direction perpendicular to the predetermined axis is reflected with the same mass. The moment of inertia can be reduced because the distance from the predetermined axis, which is the rotation axis, is shorter than the movable plate that prevents the reflection film from being soiled by making it larger than the length of the film. As a result, the driving torque of the movable plate can be reduced, and the power consumption compared to a movable plate having the same resonance frequency and a length in the direction perpendicular to the predetermined axis in the horizontal direction is greater than the length of the reflective film. Can be reduced.

本発明に係る光スキャナは、前述した本発明に係る光学デバイスを備える。
かかる構成によれば、前述した本発明に係る光学デバイスを備えるので、反射面の汚れを防止することができる。これにより、反射面の反射率の低下を防止することができ、反射した光の輝度を維持できる優れた光学特性を有する光スキャナを実現することができる。
An optical scanner according to the present invention includes the above-described optical device according to the present invention.
According to this configuration, since the optical device according to the present invention described above is provided, it is possible to prevent the reflecting surface from being stained. As a result, it is possible to prevent a decrease in the reflectance of the reflecting surface and to realize an optical scanner having excellent optical characteristics capable of maintaining the brightness of the reflected light.

本発明に係る画像形成装置は、前述した本発明に係る光スキャナを備える。
かかる構成によれば、前述した本発明に係る光スキャナを備えるので、反射面で反射した光の輝度を維持できる。これにより、光源における消費電力の増大を抑制することができるとともに、優れた描画特性を有する画像形成装置を実現することができる。
An image forming apparatus according to the present invention includes the above-described optical scanner according to the present invention.
According to this configuration, since the above-described optical scanner according to the present invention is provided, the luminance of the light reflected by the reflecting surface can be maintained. Thereby, an increase in power consumption in the light source can be suppressed, and an image forming apparatus having excellent drawing characteristics can be realized.

以下、本発明の一実施形態について図面を参照しながら説明する。
<光学デバイス>
(第1実施形態)
図1乃至図24は、本発明に係る光学デバイスの第1実施形態を示すものであり、図1は、本発明に係る光学デバイスの第1実施形態における構成を説明する平面図である。図2は、図1のII−II線における断面図である。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
<Optical device>
(First embodiment)
1 to 24 show a first embodiment of an optical device according to the present invention, and FIG. 1 is a plan view for explaining a configuration of the optical device according to the first embodiment of the present invention. 2 is a cross-sectional view taken along line II-II in FIG.

図1に示すように、光学デバイス1は、可動板11と、支持枠12と、支持枠12に対して可動板11をX軸周りに回動可能に支持する一対の弾性支持部13とを備える。可動板11、支持枠12、及び弾性支持部13は、例えばシリコン基板をエッチング加工することにより一体形成される。   As shown in FIG. 1, the optical device 1 includes a movable plate 11, a support frame 12, and a pair of elastic support portions 13 that support the movable plate 11 to be rotatable about the X axis with respect to the support frame 12. Prepare. The movable plate 11, the support frame 12, and the elastic support portion 13 are integrally formed, for example, by etching a silicon substrate.

図2に示すように、可動板11の表面には、窒化シリコン(SiN)や酸化シリコン(SiO2)などからなる薄膜21aが形成されており、薄膜21a上には入射した光を反射する反射膜21bが形成されている。ミラー2は、可動板11、薄膜21a、及び反射膜21bから構成される。 As shown in FIG. 2, a thin film 21a made of silicon nitride (SiN), silicon oxide (SiO 2 ), or the like is formed on the surface of the movable plate 11, and the reflective light that reflects incident light on the thin film 21a. A film 21b is formed. The mirror 2 includes a movable plate 11, a thin film 21a, and a reflective film 21b.

本実施形態では、ミラー2として平面形状が矩形のものを示したが、これに限定されず、光学デバイスのミラーとして求められる役割を果たす限り、円形、楕円形、多角形などの他の形状であってもよい。   In the present embodiment, the mirror 2 has a rectangular planar shape, but the present invention is not limited to this, and other shapes such as a circle, an ellipse, and a polygon may be used as long as they play a role required as a mirror of an optical device. There may be.

可動板11の裏面には、図示しない接着剤を介して磁石22が接合されている。磁石22は、可動板11を平面視したときに、可動板11の回動中心軸であるX軸に直交する方向に磁化されている。すなわち、磁石22は、X軸を介して対向する互いに極性の異なる一対の磁極を有している。支持枠12は、ホルダ50に接合されており、ホルダ50上には、可動板11を駆動させるためのコイル51が配置されている。   A magnet 22 is bonded to the back surface of the movable plate 11 via an adhesive (not shown). The magnet 22 is magnetized in a direction orthogonal to the X axis that is the rotation center axis of the movable plate 11 when the movable plate 11 is viewed in plan. In other words, the magnet 22 has a pair of magnetic poles having opposite polarities facing each other via the X axis. The support frame 12 is joined to the holder 50, and a coil 51 for driving the movable plate 11 is disposed on the holder 50.

コイル51には、図示しない電源から周期的に変化する交流電流が供給される。これにより、コイル51は上方(可動板11側)に向く磁界と、下方に向く磁界とを交互に発生させる。これにより、コイル51に対し磁石22の一対の磁極のうち一方の磁極が接近し他方の磁極が離間するようにして、弾性支持部13を捩れ変形させながら、可動板11がX軸回りに回動させられる。   The coil 51 is supplied with an alternating current that periodically changes from a power source (not shown). As a result, the coil 51 alternately generates a magnetic field directed upward (movable plate 11 side) and a magnetic field directed downward. As a result, one of the pair of magnetic poles of the magnet 22 approaches the coil 51 and the other magnetic pole moves away, and the movable plate 11 rotates around the X axis while twisting and deforming the elastic support portion 13. Be moved.

本実施形態では、磁石22とコイル51間の電磁力を利用した駆動方式の振動ミラーを示したが、これに限定されず、光学デバイス1は、静電引力を利用した方式や、圧電素子を利用した方式を採用してもよい。例えば、静電引力を利用した方式の場合には、磁石22は不要であり、コイル51の代わりに可動板11に対向する1つ又は複数の電極が設置される。そして、可動板11と電極との間に周期的に変化する交流電圧を印加することにより、可動板11と電極との間に静電引力を作用させ、弾性支持部13を捩れ変形させながら、可動板11をX軸周りに回動させるようにしてもよい。   In the present embodiment, the drive-type vibration mirror using the electromagnetic force between the magnet 22 and the coil 51 is shown. However, the present invention is not limited to this, and the optical device 1 uses a method using electrostatic attraction or a piezoelectric element. The method used may be adopted. For example, in the case of a system using electrostatic attraction, the magnet 22 is not necessary, and one or a plurality of electrodes facing the movable plate 11 are installed instead of the coil 51. Then, by applying an alternating voltage that periodically changes between the movable plate 11 and the electrode, an electrostatic attractive force acts between the movable plate 11 and the electrode, and the elastic support portion 13 is twisted and deformed. The movable plate 11 may be rotated around the X axis.

図3は、図2に示した可動板の詳細な構成を説明する断面図である。図3に示すように、反射膜21bのX軸と水平に直交する方向における長さ(以下、幅という)は、反射膜21bが入射した光を反射するために必要な面積(以下、有効面積という)を確保するための幅Wに設定される。これに対し、薄膜21aの幅は、反射膜21bの幅Wより、例えば片側で100〜200μm程度大きくなるように設定される。ここで、慣性モーメントは、その物体の微小部分の質量と、その微小部分の回動軸からの距離の2乗との積の総和である。これにより、可動板11をX軸周りに回動させたときに、気流によって可動板11に吸い寄せられる塵や埃などが、反射膜21bではなく、薄膜21aの反射膜21bより外側の部分に付着する。一方、同一質量であって、幅が反射膜の幅以下の薄膜と比較すると、回動軸であるX軸からの距離が長くなるが、薄膜は質量が小さいことから、慣性モーメントはほとんど変わらない。   FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating the detailed configuration of the movable plate shown in FIG. As shown in FIG. 3, the length (hereinafter referred to as width) in the direction perpendicular to the X axis of the reflective film 21b is the area necessary for reflecting the light incident on the reflective film 21b (hereinafter referred to as effective area). ) Is set to a width W for securing. On the other hand, the width of the thin film 21a is set to be, for example, about 100 to 200 μm larger than the width W of the reflective film 21b. Here, the moment of inertia is the sum of the products of the mass of the minute portion of the object and the square of the distance from the rotation axis of the minute portion. As a result, when the movable plate 11 is rotated around the X axis, dust or dust attracted to the movable plate 11 by the air current adheres to the portion outside the reflective film 21b of the thin film 21a, not the reflective film 21b. To do. On the other hand, compared to a thin film having the same mass and a width equal to or smaller than the width of the reflective film, the distance from the X axis, which is the rotation axis, is longer, but since the mass of the thin film is small, the moment of inertia hardly changes. .

また、可動板11の幅は、反射膜21bの幅Wと同一に設定される。本実施形態では、可動板11の幅を反射膜21bの幅Wと同一に設定したが、これに限定されず、反射膜21bの幅Wより小さくてもよい。これにより、同一質量であって、幅を反射膜の幅より大きくすることにより反射膜の汚れを防止する可動板と比較して、回動軸であるX軸からの距離が短くなることから、慣性モーメントを低減することができる。   The width of the movable plate 11 is set to be the same as the width W of the reflective film 21b. In the present embodiment, the width of the movable plate 11 is set to be the same as the width W of the reflective film 21b. However, the width is not limited to this and may be smaller than the width W of the reflective film 21b. Thereby, the distance from the X axis that is the rotation axis is shorter than the movable plate that has the same mass and prevents the contamination of the reflection film by making the width larger than the width of the reflection film. The moment of inertia can be reduced.

次に、図4乃至図24を参照して本発明に係る光学デバイスの第1実施形態における製造方法について説明する。まず、シリコン基板を用いた製造方法について説明する。図4乃至図19は、図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。   Next, a manufacturing method in the first embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIGS. First, a manufacturing method using a silicon substrate will be described. 4 to 19 are cross-sectional views illustrating an example of a method for manufacturing the optical device shown in FIG.

図4に示すように、例えばシリコンからなる基板10を用意する。そして、図5に示すように、熱酸化により、基板10の両面に酸化シリコン(SiO2)からなるマスク31,32を形成する。なお、マスク31,32は窒化シリコン(SiN)であってもよい。 As shown in FIG. 4, a substrate 10 made of, for example, silicon is prepared. Then, as shown in FIG. 5, masks 31 and 32 made of silicon oxide (SiO 2 ) are formed on both surfaces of the substrate 10 by thermal oxidation. The masks 31 and 32 may be silicon nitride (SiN).

次に、図6に示すように、基板10の表面側のマスク31上にレジスト41を形成する。レジストは、ポジ型であってもネガ型であってもよい。そして、続いて、図7に示すように、基板10の裏面側のマスク32上にレジスト42を形成する。   Next, as shown in FIG. 6, a resist 41 is formed on the mask 31 on the surface side of the substrate 10. The resist may be positive or negative. Subsequently, as shown in FIG. 7, a resist 42 is formed on the mask 32 on the back surface side of the substrate 10.

次に、図8に示すように、基板10の裏面側のレジスト42を露光及び現像して、レジスト42に所定の開口パターンP2を形成する。開口パターンP2は、例えば、可動板11、支持枠12、弾性支持部13以外の領域を開口するパターンである。   Next, as shown in FIG. 8, the resist 42 on the back surface side of the substrate 10 is exposed and developed to form a predetermined opening pattern P <b> 2 in the resist 42. The opening pattern P2 is a pattern that opens an area other than the movable plate 11, the support frame 12, and the elastic support portion 13, for example.

次に、図9に示すように、レジスト42をマスクとして裏面側のマスク32をエッチングする。これにより、レジスト42の開口パターンP2が、マスク32に転写される。マスク32のエッチングには、例えばバッファードフッ酸(BHF)が用いられる。   Next, as shown in FIG. 9, the mask 32 on the back surface side is etched using the resist 42 as a mask. Thereby, the opening pattern P2 of the resist 42 is transferred to the mask 32. For example, buffered hydrofluoric acid (BHF) is used for etching the mask 32.

次に、図10に示すように、基板両面のレジスト41,42を除去する。レジスト41,42の除去には、硫酸洗浄又はアッシングが用いられる。   Next, as shown in FIG. 10, the resists 41 and 42 on both sides of the substrate are removed. For removing the resists 41 and 42, sulfuric acid washing or ashing is used.

次に、図11に示すように、基板10の裏面側に再度、レジスト43を形成する。さらに、図12に示すように、基板10の表面側に再度、レジスト44を形成する。   Next, as shown in FIG. 11, a resist 43 is formed again on the back side of the substrate 10. Further, as shown in FIG. 12, a resist 44 is formed again on the surface side of the substrate 10.

次に、図13に示すように、基板10の表面側のレジスト44を露光及び現像して、レジスト44に所定の開口パターンP1を形成する。開口パターンP1は、例えば、薄膜21a、支持枠12、弾性支持部13以外の領域を開口するパターンである。   Next, as shown in FIG. 13, the resist 44 on the surface side of the substrate 10 is exposed and developed to form a predetermined opening pattern P <b> 1 in the resist 44. The opening pattern P1 is a pattern that opens a region other than the thin film 21a, the support frame 12, and the elastic support portion 13, for example.

次に、図14に示すように、レジスト44をマスクとして表面側のマスク31をエッチングする。これにより、レジスト44の開口パターンP1が、マスク31に転写される。マスク31のエッチングには、例えばバッファードフッ酸(BHF)が用いられる。   Next, as shown in FIG. 14, the mask 31 on the surface side is etched using the resist 44 as a mask. Thereby, the opening pattern P1 of the resist 44 is transferred to the mask 31. For the etching of the mask 31, for example, buffered hydrofluoric acid (BHF) is used.

次に、図15に示すように、基板両面のレジスト43,44を除去する。レジスト43,44の除去には、硫酸洗浄又はアッシングが用いられる。   Next, as shown in FIG. 15, the resists 43 and 44 on both sides of the substrate are removed. For removing the resists 43 and 44, sulfuric acid cleaning or ashing is used.

次に、図16に示すように、マスク31,32を用いて、基板10を裏面側からエッチングする。これにより、基板10に貫通孔が形成されて、可動板11、支持枠12、弾性支持部13、及び薄膜21aのパターンが形成される。基板10のエッチングには、例えば、ドライエッチングを用いる。ドライエッチングは選択性を有するので、シリコンである基板10がエッチングされ、酸化シリコン(SiO2)などのマスク31,32は残る。 Next, as shown in FIG. 16, the substrate 10 is etched from the back surface side using masks 31 and 32. Thereby, a through-hole is formed in the substrate 10, and the pattern of the movable plate 11, the support frame 12, the elastic support portion 13, and the thin film 21a is formed. For example, dry etching is used for etching the substrate 10. Since dry etching has selectivity, the substrate 10 made of silicon is etched, and masks 31 and 32 such as silicon oxide (SiO 2 ) remain.

次に、図17に示すように、一部のマスクを残してマスク31,32を除去することにより、残したマスクである薄膜21aが可動板11の表面に形成される。薄膜21aの厚さは、例えば1μm以下程度である。   Next, as shown in FIG. 17, by removing the masks 31 and 32 while leaving a part of the mask, a thin film 21 a that is the remaining mask is formed on the surface of the movable plate 11. The thickness of the thin film 21a is, for example, about 1 μm or less.

次に、図18に示すように、薄膜21aの表面に金属膜を成膜し、薄膜21a上に反射膜21bを形成する。金属膜の成膜方法としては、真空蒸着、スパッタリング、金属箔の接合などが挙げられる。   Next, as shown in FIG. 18, a metal film is formed on the surface of the thin film 21a, and a reflective film 21b is formed on the thin film 21a. Examples of the method for forming the metal film include vacuum deposition, sputtering, and metal foil bonding.

次に、図19に示すように、可動板11の裏面に、図示しない接着剤を介して磁石22を接合して固定する。   Next, as shown in FIG. 19, the magnet 22 is joined and fixed to the back surface of the movable plate 11 via an adhesive (not shown).

以降の工程は、特に図示しないが、このようにして一枚の基板10から作製された可動板11、支持枠12、弾性支持部13、薄膜21a、及び反射膜21bを含む構造体を、ホルダ50に取り付けることにより、光学デバイス1が製造される。   Although the subsequent steps are not particularly illustrated, a structure including the movable plate 11, the support frame 12, the elastic support portion 13, the thin film 21 a, and the reflective film 21 b manufactured from the single substrate 10 in this manner is attached to the holder. By attaching to 50, the optical device 1 is manufactured.

次に、いわゆるSOI基板を用いた製造方法について説明する。図20乃至図24は、図1に示した光学デバイスの製造方法の変形例を説明する断面図である。   Next, a manufacturing method using a so-called SOI substrate will be described. 20 to 24 are cross-sectional views for explaining modifications of the method of manufacturing the optical device shown in FIG.

図20に示すように、第1のシリコン層100aと酸化膜層100bと第2のシリコン層100cとが積層した基板100を用意する。この基板は一般的にSOI基板と呼ばれる。   As shown in FIG. 20, a substrate 100 in which a first silicon layer 100a, an oxide film layer 100b, and a second silicon layer 100c are stacked is prepared. This substrate is generally called an SOI substrate.

SOI基板の第1のシリコン層100a及び第2のシリコン層100cに対し、マスク31,32及びレジスト41,42,43,44を形成してエッチングを施すことにより、図21に示すように、前述の開口パターンP1を有するマスク31を第1のシリコン層100aの表面側に形成するとともに、前述の開口パターンP2を有するマスク32を第2のシリコン層100cの裏面側に形成する。なお、開口パターンP1,P2の形成方法は、前述の図5〜図15と同様であるため、図示及びその説明を省略する。   The first and second silicon layers 100a and 100c of the SOI substrate are etched by forming masks 31 and 32 and resists 41, 42, 43, and 44, as shown in FIG. The mask 31 having the opening pattern P1 is formed on the front surface side of the first silicon layer 100a, and the mask 32 having the opening pattern P2 is formed on the back surface side of the second silicon layer 100c. In addition, since the formation method of opening pattern P1, P2 is the same as that of above-mentioned FIGS. 5-15, illustration and its description are abbreviate | omitted.

次に、図22に示すように、マスク31を用いて、第2のシリコン層100cの表面側からエッチングする。第2のシリコン層100cのエッチングには、例えば、ドライエッチングを用いる。ドライエッチングは選択性を有するので、第2のシリコン層100cがエッチングされ、酸化膜層100b及び酸化シリコン(SiO2)などのマスク31は残る。 Next, as shown in FIG. 22, etching is performed from the surface side of the second silicon layer 100 c using a mask 31. For example, dry etching is used for etching the second silicon layer 100c. Since dry etching has selectivity, the second silicon layer 100c is etched and the oxide film layer 100b and the mask 31 such as silicon oxide (SiO 2 ) remain.

次に、図23に示すように、マスク32を用いて、第1のシリコン層100aの裏面側からエッチングする。第1のシリコン層100aのエッチングには、例えば、ドライエッチングを用いる。ドライエッチングは選択性を有するので、第1のシリコン層100aがエッチングされ、酸化膜層100b及び酸化シリコン(SiO2)などのマスク32は残る。 Next, as shown in FIG. 23, etching is performed from the back surface side of the first silicon layer 100a using a mask 32. For the etching of the first silicon layer 100a, for example, dry etching is used. Since dry etching has selectivity, the first silicon layer 100a is etched, and the oxide film layer 100b and the mask 32 such as silicon oxide (SiO 2 ) remain.

次に、図24に示すように、例えばフッ酸又はバッファードフッ酸(BHF)が用いてエッチングする。これにより、酸化膜層100bに貫通孔が形成されて、可動板11、支持枠12、弾性支持部13が形成されるとともに、可動板11の表面に第2のシリコン層100cからなる薄膜21aが形成される。これにより、薄膜21aの厚さはSOI基板100のシリコン層の厚さと同一となる。ここで、SOI基板の各層は高精度にその厚さを変更することが可能であるから、薄膜21aの厚さの制御が容易になる。   Next, as shown in FIG. 24, etching is performed using, for example, hydrofluoric acid or buffered hydrofluoric acid (BHF). As a result, a through hole is formed in the oxide film layer 100b to form the movable plate 11, the support frame 12, and the elastic support portion 13, and the thin film 21a made of the second silicon layer 100c is formed on the surface of the movable plate 11. It is formed. Thereby, the thickness of the thin film 21a becomes the same as the thickness of the silicon layer of the SOI substrate 100. Here, since the thickness of each layer of the SOI substrate can be changed with high accuracy, the thickness of the thin film 21a can be easily controlled.

なお、薄膜21aの厚さは、例えば5μm程度である。また、エッチングにはフッ酸又はバッファードフッ酸(BHF)が用いられるので、マスク31,32が酸化シリコン(SiO2)からなる場合には、酸化膜層100bとともにマスク31,32が除去される。 The thickness of the thin film 21a is, for example, about 5 μm. Further, since hydrofluoric acid or buffered hydrofluoric acid (BHF) is used for etching, when the masks 31 and 32 are made of silicon oxide (SiO 2 ), the masks 31 and 32 are removed together with the oxide film layer 100b. .

以降の光学デバイス1を製造する工程は、前述の図18及び図19と同様であるため、図示及びその説明を省略する。   Since the subsequent steps for manufacturing the optical device 1 are the same as those in FIGS. 18 and 19, the illustration and description thereof are omitted.

本実施形態では、薄膜21aのパターン又は薄膜21aを形成した後に、薄膜21aに反射膜21bを形成するようにしたが、これに限定されず、薄膜21aのパターン又は薄膜21aが形成される箇所の表面に、あらかじめ反射膜21bを形成しておき、次いで薄膜21aを形成するようにしてもよい。かかる場合、反射膜21bを保護するマスクとして、樹脂などのレジストを用いる。   In the present embodiment, the reflective film 21b is formed on the thin film 21a after the pattern of the thin film 21a or the thin film 21a is formed. However, the present invention is not limited to this, and the pattern or the thin film 21a of the thin film 21a is formed. The reflective film 21b may be formed on the surface in advance, and then the thin film 21a may be formed. In such a case, a resist such as a resin is used as a mask for protecting the reflective film 21b.

このように、本実施形態における光学デバイス1によれば、薄膜21aの幅が反射膜21bの幅より大きい。ここで、慣性モーメントは、その物体の微小部分の質量と、その微小部分の回動軸からの距離の2乗との積の総和である。これにより、可動板11をX軸周りに回動させたときに、気流によって可動板11に吸い寄せられる塵や埃などが、反射膜21bではなく、薄膜21aの反射膜21bより外側の部分に付着する。一方、同一質量であって、幅が反射膜の幅以下の薄膜と比較すると、回動軸であるX軸からの距離が長くなるが、薄膜21aは質量が小さいことから、慣性モーメントはほとんど変わらない。これにより、消費電力を増加させることなく、反射膜21bの汚れを防止することができる。   Thus, according to the optical device 1 in the present embodiment, the width of the thin film 21a is larger than the width of the reflective film 21b. Here, the moment of inertia is the sum of the products of the mass of the minute portion of the object and the square of the distance from the rotation axis of the minute portion. As a result, when the movable plate 11 is rotated around the X axis, dust or dust attracted to the movable plate 11 by the air current adheres to the portion outside the reflective film 21b of the thin film 21a, not the reflective film 21b. To do. On the other hand, when compared with a thin film having the same mass and a width equal to or smaller than the width of the reflective film, the distance from the X axis, which is the rotation axis, is longer, but since the thin film 21a has a smaller mass, the moment of inertia is almost the same. Absent. Thereby, it is possible to prevent the reflection film 21b from being stained without increasing the power consumption.

また、本実施形態における光学デバイス1によれば、可動板11の幅が反射膜21bの幅以下であるので、同一質量であって、幅を反射膜の幅より大きくすることにより反射膜の汚れを防止する可動板と比較して、慣性モーメントを低減することができる。これにより、可動板11の駆動トルクを低減することができ、共振周波数が同一であって、幅が反射膜の幅より大きい可動板と比較して、消費電力を低減することができる。   Further, according to the optical device 1 in the present embodiment, since the width of the movable plate 11 is equal to or less than the width of the reflection film 21b, the reflection film is contaminated by having the same mass and making the width larger than the width of the reflection film. The moment of inertia can be reduced as compared with a movable plate that prevents the above. Thereby, the driving torque of the movable plate 11 can be reduced, and the power consumption can be reduced as compared with a movable plate having the same resonance frequency and a width larger than that of the reflective film.

(第2実施形態)
図25乃至図30は、本発明に係る光学デバイスの第2実施形態を示すものであり、図25は、本発明に係る光学デバイスの第2実施形態における可動板の詳細な構成を説明する断面図である。なお、前述した第1実施形態と同一構成部分は同一符号をもって表し、その説明を省略する。
(Second Embodiment)
FIG. 25 thru | or FIG. 30 shows 2nd Embodiment of the optical device based on this invention, FIG. 25 is sectional drawing explaining the detailed structure of the movable plate in 2nd Embodiment of the optical device based on this invention. FIG. Note that the same components as those of the first embodiment described above are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted.

第2実施形態と第1実施形態との相違点は、薄膜と反射膜とが含まれる一体膜を可動板上に形成するようにしたことである。   The difference between the second embodiment and the first embodiment is that an integrated film including a thin film and a reflective film is formed on the movable plate.

すなわち、図25に示すように、可動板11の表面には一体膜21cが形成されている。一体膜21cの表面側は、第1実施形態における反射膜21bのように、光反射性を有しており、一体膜21cの幅は、第1実施形態における薄膜21aのように、幅Wよりも大きく設定される。これにより、一体膜21cが薄膜21aとしての役割と反射膜21bとしての役割とを兼ねる。   That is, as shown in FIG. 25, an integral film 21 c is formed on the surface of the movable plate 11. The surface side of the integral film 21c has light reflectivity like the reflective film 21b in the first embodiment, and the width of the integral film 21c is larger than the width W as in the thin film 21a in the first embodiment. Is also set larger. Thereby, the integral film 21c serves both as the thin film 21a and as the reflective film 21b.

また、可動板11の幅は、反射膜21bとして役割を担う一体膜21cの幅より小さいが、幅Wと同一に設定される。これにより、第1実施形態と同様に、同一質量であって、幅を反射膜の幅より大きくすることにより反射膜の汚れを防止する可動板と比較して、回動軸であるX軸からの距離が短くなることから、慣性モーメントを低減することができる。   Further, the width of the movable plate 11 is set to be the same as the width W although it is smaller than the width of the integral film 21c that plays a role as the reflective film 21b. Thus, as in the first embodiment, compared to a movable plate that has the same mass and prevents the dirt of the reflecting film by making the width larger than the width of the reflecting film, from the X axis that is the rotation axis Since the distance is reduced, the moment of inertia can be reduced.

次に、図26乃至図30を参照して本発明に係る光学デバイスの第2実施形態における製造方法について説明する。図26乃至図30は、本発明に係る光学デバイスの第2実施形態における製造方法の一例を説明する断面図である。   Next, a manufacturing method in the second embodiment of the optical device according to the present invention will be described with reference to FIGS. 26 to 30 are cross-sectional views for explaining an example of the manufacturing method in the second embodiment of the optical device according to the present invention.

まず、第1実施形態と同様に、例えばシリコンからなる基板10を用意し、図26に示すように、基板10の表面の所定位置にアルミニウム(Al)からなるマスク33を形成する。そして、図27に示すように、熱酸化により、基板10の表面側の残りの部分と裏面側とに酸化シリコン(SiO2)からなるマスク31,32を形成する。なお、マスク31,32は窒化シリコン(SiN)であってもよい。 First, as in the first embodiment, a substrate 10 made of silicon, for example, is prepared, and a mask 33 made of aluminum (Al) is formed at a predetermined position on the surface of the substrate 10 as shown in FIG. Then, as shown in FIG. 27, masks 31 and 32 made of silicon oxide (SiO 2 ) are formed on the remaining portion on the front surface side and the back surface side of the substrate 10 by thermal oxidation. The masks 31 and 32 may be silicon nitride (SiN).

次に、マスク31,32,33が形成された基板10に対し、レジスト41,42,43,44を形成してエッチングを施すことにより、図28に示すように、前述の開口パターンP1を有するマスク31,33を基板10の表面側に形成するとともに、前述の開口パターンP2を有するマスク32を基板10の裏面側に形成する。なお、開口パターンP1,P2の形成方法は、前述の図6〜図15と同様であるため、図示及びその説明を省略する。   Next, resists 41, 42, 43, and 44 are formed and etched on the substrate 10 on which the masks 31, 32, and 33 are formed, so that the opening pattern P1 is obtained as shown in FIG. The masks 31 and 33 are formed on the front surface side of the substrate 10, and the mask 32 having the opening pattern P <b> 2 is formed on the back surface side of the substrate 10. In addition, since the formation method of opening pattern P1, P2 is the same as that of above-mentioned FIGS. 6-15, illustration and its description are abbreviate | omitted.

次に、図29に示すように、マスク31,32,33を用いて、基板10を裏面側からエッチングする。これにより、基板10に貫通孔が形成されて、可動板11、支持枠12、弾性支持部13、及び一体膜21cのパターンが形成される。基板10のエッチングには、例えば、ドライエッチングを用いる。ドライエッチングは選択性を有するので、シリコンである基板10がエッチングされ、酸化シリコン(SiO2)などのマスク31,32とアルミニウム(Al)であるマスク33とは残る。 Next, as shown in FIG. 29, the substrate 10 is etched from the back surface side using masks 31, 32 and 33. Thereby, a through-hole is formed in the substrate 10, and a pattern of the movable plate 11, the support frame 12, the elastic support portion 13, and the integral film 21c is formed. For example, dry etching is used for etching the substrate 10. Since dry etching has selectivity, the substrate 10 made of silicon is etched, and the masks 31 and 32 such as silicon oxide (SiO 2 ) and the mask 33 made of aluminum (Al) remain.

次に、図30に示すように、マスク33を残してマスク31,32を除去することにより、残したマスク33である一体膜21cが可動板11の表面に形成される。   Next, as shown in FIG. 30, by removing the masks 31 and 32 while leaving the mask 33, an integrated film 21 c that is the remaining mask 33 is formed on the surface of the movable plate 11.

以降の光学デバイス1を製造する工程は、前述の図18及び図19と同様であるため、図示及びその説明を省略する。   Since the subsequent steps for manufacturing the optical device 1 are the same as those in FIGS. 18 and 19, the illustration and description thereof are omitted.

このように、本実施形態における光学デバイス1によれば、反射膜21bと薄膜21aとが一体膜21cとして可動板11上に形成されるので、一体膜21cが薄膜21aとしての役割と反射膜21bとしての役割とを兼ねる。これにより、消費電力を増加させることなく、反射膜21bの汚れを防止することができる光学デバイス1を、より少ない工程で安価に実現することができる。   Thus, according to the optical device 1 in this embodiment, since the reflective film 21b and the thin film 21a are formed on the movable plate 11 as the integral film 21c, the integral film 21c functions as the thin film 21a and the reflective film 21b. Also serves as a role. Thereby, the optical device 1 capable of preventing the reflection film 21b from being contaminated without increasing the power consumption can be realized at a lower cost with fewer steps.

(光スキャナ)
前述の光学デバイス1は、反射膜21aを備えているため、例えば、レーザープリンタ、バーコードリーダー、走査型共焦点レーザー顕微鏡、イメージング用ディスプレイなどの画像形成装置に備える光スキャナに好適に適用することができる。なお、本発明に係る光スキャナは、前述した光学デバイス1と同様の構成であるため、その説明を省略する。
(Optical scanner)
Since the optical device 1 includes the reflective film 21a, the optical device 1 is preferably applied to an optical scanner included in an image forming apparatus such as a laser printer, a barcode reader, a scanning confocal laser microscope, or an imaging display. Can do. Since the optical scanner according to the present invention has the same configuration as that of the optical device 1 described above, the description thereof is omitted.

このように、本発明に係る光スキャナによれば、前述した本発明に係る光学デバイス1を備えるので、反射膜21bの汚れを防止することができる。これにより、反射膜21bの反射率の低下を防止することができ、反射した光の輝度を維持できる優れた光学特性を有する光スキャナを実現することができる。   Thus, according to the optical scanner according to the present invention, since the optical device 1 according to the present invention described above is provided, it is possible to prevent the reflection film 21b from being contaminated. As a result, it is possible to prevent the reflectance of the reflective film 21b from being lowered and to realize an optical scanner having excellent optical characteristics capable of maintaining the brightness of the reflected light.

(画像形成装置)
次に、図31を参照して本発明に係る画像形成装置について説明する。図31は、本発明に係る光スキャナを備える画像形成装置の一例を説明する概略図である。
(Image forming device)
Next, an image forming apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. FIG. 31 is a schematic diagram illustrating an example of an image forming apparatus including an optical scanner according to the present invention.

図31に示す画像形成装置(イメージングディスプレイ)119は、光スキャナである光学デバイス1と、R(赤)、G(緑)、B(青)の3色の光源191、192、193と、クロスダイクロイックプリズム(Xプリズム)194と、ガルバノミラー195と、固定ミラー196と、スクリーン197とを備えている。   An image forming apparatus (imaging display) 119 shown in FIG. 31 includes an optical device 1 that is an optical scanner, light sources 191, 192, and 193 of three colors R (red), G (green), and B (blue), and a cross A dichroic prism (X prism) 194, a galvano mirror 195, a fixed mirror 196, and a screen 197 are provided.

このような画像形成装置119にあっては、光源191、192、193からクロスダイクロイックプリズム194を介して光学デバイス1(反射膜21b)に各色の光が照射される。このとき、光源191からの赤色の光と、光源192からの緑色の光と、光源193からの青色の光とが、クロスダイクロイックプリズム194にて合成される。そして、反射膜21bで反射した光(3色の合成光)は、ガルバノミラー195で反射した後に、固定ミラー196で反射し、スクリーン197上に照射される。   In such an image forming apparatus 119, light of each color is irradiated from the light sources 191, 192, 193 to the optical device 1 (reflection film 21 b) via the cross dichroic prism 194. At this time, the red light from the light source 191, the green light from the light source 192, and the blue light from the light source 193 are combined by the cross dichroic prism 194. The light reflected by the reflective film 21 b (three colors of combined light) is reflected by the galvanometer mirror 195, then by the fixed mirror 196, and irradiated on the screen 197.

その際、光学デバイス1の動作(可動板11のX軸周りの回動)により、反射膜21bで反射した光は、スクリーン197の横方向に走査(主走査)される。一方、ガルバノミラー195の軸線Y周りの回動により、反射膜21bで反射した光は、スクリーン197の縦方向に走査(副走査)される。また、各色の光源191、192、193から出力される光の強度は、図示しないホストコンピュータから受けた画像情報に応じて変化する。   At that time, the light reflected by the reflection film 21b is scanned in the horizontal direction of the screen 197 (main scanning) by the operation of the optical device 1 (the rotation of the movable plate 11 around the X axis). On the other hand, the light reflected by the reflective film 21 b is scanned (sub-scanned) in the vertical direction of the screen 197 by the rotation of the galvano mirror 195 around the axis Y. In addition, the intensity of light output from the light sources 191, 192, and 193 of each color changes according to image information received from a host computer (not shown).

このように、本発明に係る画像形成装置119によれば、前述した本発明に係る光スキャナを備えるので、反射膜21bで反射した光の輝度を維持できる。これにより、光源における消費電力の増大を抑制することができるとともに、優れた描画特性を有する画像形成装置119を実現することができる。   As described above, according to the image forming apparatus 119 according to the present invention, since the optical scanner according to the present invention described above is provided, the luminance of the light reflected by the reflective film 21b can be maintained. Accordingly, an increase in power consumption in the light source can be suppressed, and an image forming apparatus 119 having excellent drawing characteristics can be realized.

なお、本発明の構成は、前述の実施形態にのみ限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲内において種々変更を加えてもよい。   In addition, the structure of this invention is not limited only to the above-mentioned embodiment, You may add a various change within the range which does not deviate from the summary of this invention.

本発明に係る光学デバイスの第1実施形態における構成を説明する平面図である。It is a top view explaining the structure in 1st Embodiment of the optical device which concerns on this invention. 図2は図1のII−II線における断面図である。2 is a cross-sectional view taken along line II-II in FIG. 図2に示した可動板の詳細な構成を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the detailed structure of the movable plate shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の変形例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the modification of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の変形例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the modification of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の変形例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the modification of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の変形例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the modification of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 図1に示した光学デバイスの製造方法の変形例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the modification of the manufacturing method of the optical device shown in FIG. 本発明に係る光学デバイスの第2実施形態における可動板の詳細な構成を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining the detailed structure of the movable plate in 2nd Embodiment of the optical device which concerns on this invention. 本発明に係る光学デバイスの第2実施形態における製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method in 2nd Embodiment of the optical device which concerns on this invention. 本発明に係る光学デバイスの第2実施形態における製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method in 2nd Embodiment of the optical device which concerns on this invention. 本発明に係る光学デバイスの第2実施形態における製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method in 2nd Embodiment of the optical device which concerns on this invention. 本発明に係る光学デバイスの第2実施形態における製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method in 2nd Embodiment of the optical device which concerns on this invention. 本発明に係る光学デバイスの第2実施形態における製造方法の一例を説明する断面図である。It is sectional drawing explaining an example of the manufacturing method in 2nd Embodiment of the optical device which concerns on this invention. 本発明に係る光スキャナを備える画像形成装置の一例を示す概略図である。1 is a schematic diagram illustrating an example of an image forming apparatus including an optical scanner according to the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

1…光学デバイス、11…可動板、12…支持枠、13…弾性支持部、21a…薄膜、21b…反射膜、119…画像形成装置。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optical device, 11 ... Movable plate, 12 ... Support frame, 13 ... Elastic support part, 21a ... Thin film, 21b ... Reflective film, 119 ... Image forming apparatus.

Claims (4)

光を反射する反射膜と、
薄膜と、
前記薄膜を介して前記反射膜を支持する可動板と、
前記可動板を所定軸周りに回動可能に支持する支持部とを備え、
平面視において、前記所定軸と直交する第一方向における前記薄膜の長さは、前記第一方向における前記反射膜の長さおよび前記第一方向における前記可動板の長さよりも長い
ことを特徴とする光学デバイス。
A reflective film that reflects light ;
A thin film,
A movable plate that supports the reflective film via the thin film ;
And a support portion rotatably supporting a predetermined axis around the movable plate,
In plan view, the length of the thin film in the predetermined axis and the straight intersects the first direction is characterized by longer than a length of the movable plate in the length and the first direction of the reflective film in the first direction An optical device.
前記第一方向における前記反射膜の長さは、前記第一方向における前記可動板の長さに等しい
ことを特徴とする請求項1に記載の光学デバイス。
The optical device according to claim 1 , wherein a length of the reflective film in the first direction is equal to a length of the movable plate in the first direction .
求項1又は2に記載の光学デバイスを備える
ことを特徴とする光スキャナ。
Optical scanner, characterized in that it comprises an optical device according to Motomeko 1 or 2.
請求項に記載の光スキャナを備える
ことを特徴とする画像形成装置。
An image forming apparatus comprising the optical scanner according to claim 3 .
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