JP5150698B2 - デプス補正装置及び方法 - Google Patents
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Description
第1の実施形態に係るデプス補正装置は、図6に示されるように、仮クラスタリング部101、代表画素値算出部102、代表デプス値算出部103及びデプス補正部104を含む。図6のデプス補正装置は、2次元画像11と、2次元画像11の各画素の(初期)デプス値を規定する初期デプスマップ12とを入力し、補正デプスマップ16を得る。
仮クラスタリング部101は、演算ブロック内の複数の画素のデプス値の平均値または中央値を算出する。仮クラスタリング部101は、算出した平均値または中央値を閾値として利用し、演算ブロック内の複数の画素をデプス値が閾値より大きいクラスとデプス値が閾値以下のクラスとに分類する。尚、閾値は、平均値または中央値に限られない。例えば、閾値は、演算ブロック内の複数の画素のデプス値の最大値と最小値との平均値(即ち、最大値及び最小値の和の1/2倍)であってもよい。
第2の実施形態に係るデプス補正装置は、図9に示されるように、仮クラスタリング部101、画素値統計量算出部202、代表デプス値算出部103及びデプス補正部204を含む。図9のデプス補正装置は、2次元画像11と、2次元画像11の各画素の(初期)デプス値を規定する初期デプスマップ12とを入力し、補正デプスマップ26を得る。
第3の実施形態に係るデプス補正装置は、図13に示されるように、仮クラスタリング部101、代表画素値算出部102、代表デプス値算出部103、デプス補正部104、デプス値統計量算出部305、処理切り替え部306、セレクタ307及びスイッチ308を含む。図13のデプス補正装置は、2次元画像11と、2次元画像11の各画素の(初期)デプス値を規定する初期デプスマップ12とを入力し、出力デプスマップ36を得る。
第4の実施形態に係るデプス補正装置は、図15に示されるように、仮クラスタリング部101、画素値統計量算出部202、代表デプス値算出部103、デプス補正部204、デプス値統計量算出部305、処理切り替え部306、セレクタ307及びセレクタ308を含む。図15のデプス補正装置は、2次元画像11と、2次元画像11の各画素の(初期)デプス値を規定する初期デプスマップ12とを入力し、出力デプスマップ46を得る。
第5の実施形態に係るデプス補正装置は、図17に示されるように、仮クラスタリング部101、画素値統計量算出部202及びデプス補正部504を含む。図17のデプス補正装置は、2次元画像11と、2次元画像11の各画素の(初期)デプス値を規定する初期デプスマップ12とを入力し、補正デプスマップ56を得る。
第6の実施形態に係るデプス補正装置は、図19に示されるように、仮クラスタリング部601、画素値統計量算出部202、デプス補正部604、デプス値統計量算出部305及び処理切り替え部606を含む。図19のデプス補正装置は、2次元画像11と、2次元画像11の各画素の(初期)デプス値を規定する初期デプスマップ12とを入力し、補正デプスマップ66を得る。
ステップS619において、仮クラスタリング部601は演算ブロック内の全画素にTHROUGHラベルを割り当て、処理はステップS616へ進む。
12・・・初期デプスマップ
13,63・・・ラベル情報
14・・・代表画素値
15・・・代表デプス値
16,26,56,66・・・補正デプスマップ
24・・・画素値統計量
36,46・・・出力デプスマップ
101,601・・・仮クラスタリング部
102・・・代表画素値算出部
103・・・代表デプス値算出部
104,204,504,604・・・デプス補正部
202・・・画素値統計量算出部
305・・・デプス値統計量算出部
306,606・・・処理切り替え部
307,308・・・セレクタ
Claims (14)
- 補正対象画素に対応する演算範囲内の複数の画素の画素値及びデプス値の少なくとも一方についてクラスタリングを行い、前記演算範囲内の複数の画素を複数のクラスに分類するクラスタリング部と、
各クラス内の画素の画素値を用いて各クラスの画素値統計量を算出する第1の算出部と、
各クラス内の画素のデプス値を用いて各クラスの代表デプス値を算出する第2の算出部と、
前記補正対象画素の画素値及び前記各クラスの画素値統計量に基づいて前記補正対象画素の対応クラスを判定し、前記補正対象画素のデプス値を前記対応クラスの代表デプス値に置き換える補正を行う補正部と
を具備し、
前記対応クラスは、前記複数のクラスのうちいずれか1つである、
デプス補正装置。 - 前記各クラスの画素値統計量は、前記各クラスの代表画素値であり、
前記補正部は、前記補正対象画素の画素値との間の距離の最も小さい代表画素値を持つクラスを前記対応クラスと判定する、
請求項1のデプス補正装置。 - 前記距離は、前記補正対象画素の画素値との間の画素値の差分の絶対値である、請求項2のデプス補正装置。
- 前記代表画素値は、クラス内の画素の画素値の平均値である、請求項2のデプス補正装置。
- 前記補正部は、前記各クラスの画素値統計量及び前記補正対象画素の画素値によって評価される各クラスの尤度と、前記補正対象画素と前記補正対象画素の周辺画素との間の空間的相関とに基づいて前記対応クラスを判定する、請求項1のデプス補正装置。
- 前記演算範囲内の複数の画素のデプス値の高周波成分の大きさを示すデプス値統計量を算出する第3の算出部と、
前記デプス値統計量が閾値未満であれば、前記補正対象画素のデプス値の補正を省略させるように処理を切り替える切り替え部と
を更に具備する、請求項1のデプス補正装置。 - 前記デプス値統計量は、前記演算範囲内の複数の画素のデプス値の標本分散である、請求項6のデプス補正装置。
- 前記補正対象画素のデプス値は複数回に亘って補正される、請求項1のデプス補正装置。
- 前記クラスタリング部は、前記演算範囲内の複数の画素のデプス値から閾値を算出し、前記閾値よりも大きいデプス値を持つ画素を第1のクラスに分類し、前記閾値以下のデプス値を持つ画素を第2のクラスに分類する、請求項1のデプス補正装置。
- 前記代表デプス値は、クラス内の画素のデプス値の平均値である、請求項1のデプス補正装置。
- 前記代表デプス値は、クラス内の画素のデプス値の中央値である、請求項1のデプス補正装置。
- 補正対象画素に対応する演算範囲内の複数の画素の画素値及びデプス値の少なくとも一方についてクラスタリングを行い、前記演算範囲内の複数の画素を複数のクラスに分類するクラスタリング部と、
各クラス内の画素の画素値を用いて各クラスの画素値統計量を算出する算出部と、
前記補正対象画素の画素値及び前記各クラスの画素値統計量に基づいて前記補正対象画素の対応クラスを判定し、前記補正対象画素と対応クラスの一致する周辺画素のデプス値を用いて前記補正対象画素のデプス値を補正する補正部と
を具備し、
前記対応クラスは、前記複数のクラスのうちいずれか1つである、
デプス補正装置。 - 補正対象画素に対応する演算範囲内の複数の画素のデプス値の高周波成分の大きさを示すデプス値統計量を算出する第1の算出部と、
前記デプス値統計量が閾値以上であれば、前記演算範囲内の複数の画素の画素値及びデプス値の少なくとも一方についてクラスタリングを行い、前記演算範囲内の複数の画素を複数のクラスに分類するクラスタリング部と、
各クラス内の画素の画素値を用いて各クラスの画素値統計量を算出する第2の算出部と、
前記補正対象画素の画素値及び前記各クラスの画素値統計量に基づいて前記補正対象画素の対応クラスを判定し、前記補正対象画素と対応クラスの一致する周辺画素のデプス値を用いて前記補正対象画素のデプス値を補正する補正部と
を具備し、
前記対応クラスは、前記複数のクラスのうちいずれか1つである、
デプス補正装置。 - クラスタリング部が、補正対象画素に対応する演算範囲内の複数の画素の画素値及びデプス値の少なくとも一方についてクラスタリングを行い、前記演算範囲内の複数の画素を複数のクラスに分類することと、
第1の算出部が、各クラス内の画素の画素値を用いて各クラスの画素値統計量を算出することと、
第2の算出部が、各クラス内の画素のデプス値を用いて各クラスの代表デプス値を算出することと、
補正部が、前記補正対象画素の画素値及び前記各クラスの画素値統計量に基づいて前記補正対象画素の対応クラスを判定し、前記補正対象画素のデプス値を前記対応クラスの代表デプス値に置き換える補正を行うことと
を具備し、
前記対応クラスは、前記複数のクラスのうちいずれか1つである、
デプス補正方法。
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