JP5080157B2 - Equipment for processing flat, fragile substrates - Google Patents

Equipment for processing flat, fragile substrates Download PDF

Info

Publication number
JP5080157B2
JP5080157B2 JP2007188478A JP2007188478A JP5080157B2 JP 5080157 B2 JP5080157 B2 JP 5080157B2 JP 2007188478 A JP2007188478 A JP 2007188478A JP 2007188478 A JP2007188478 A JP 2007188478A JP 5080157 B2 JP5080157 B2 JP 5080157B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
shaft
pressing member
processing
processing apparatus
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2007188478A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2008028394A (en
Inventor
コシコウスキー トマス
Original Assignee
ヘルミューラー マシネンバウ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ヘルミューラー マシネンバウ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング filed Critical ヘルミューラー マシネンバウ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
Publication of JP2008028394A publication Critical patent/JP2008028394A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5080157B2 publication Critical patent/JP5080157B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D17/00Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
    • C25D17/005Contacting devices
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D17/00Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
    • C25D17/001Apparatus specially adapted for electrolytic coating of wafers, e.g. semiconductors or solar cells
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D17/00Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
    • C25D17/06Suspending or supporting devices for articles to be coated
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D7/00Electroplating characterised by the article coated
    • C25D7/06Wires; Strips; Foils
    • C25D7/0614Strips or foils

Description

本発明は、特に半導体及び太陽エネルギ産業用の平坦な壊れやすい基板を処理する装置であって、
a)その中で基板に処理液を供給することができる処理チャンバと;
b)互いに対して平行な多数のトラック内で、処理チャンバを水平に通過するように基板を案内することができる移送装置と;
c)基板の上方を向いた側に作用して、移送装置から持ち上がるのを阻止し、かつ複数のトラックにわたるつながった軸を有し、その軸に多数の押え部材が固定されている少なくとも1つの押え装置;
を有する装置に関する。
The present invention is an apparatus for processing flat fragile substrates, particularly for the semiconductor and solar energy industries,
a) a processing chamber in which processing liquid can be supplied to the substrate;
b) a transfer device capable of guiding the substrate horizontally through the processing chamber in a number of tracks parallel to each other;
c) at least one acting on the upwardly facing side of the substrate to prevent lifting from the transfer device and having a connected shaft over a plurality of tracks, to which a number of pressing members are fixed Presser device;
The present invention relates to a device having

半導体及び太陽エネルギ産業においては、しばしば、様々な湿式処理を施さなければならない、例えばシリコンディスク(ウェーハ)、シリコンプレート及びガラスプレートのような、非常に平坦な基板がある。処理方法は、例えば、化学的処理と電気化学的処理、洗浄処理と乾燥処理である。処理液は、スプレイ方法においても、浸漬方法においても、塗布することができる。   In the semiconductor and solar energy industries, there are often very flat substrates such as silicon disks (wafers), silicon plates and glass plates that have to be subjected to various wet processes. The treatment method is, for example, chemical treatment and electrochemical treatment, cleaning treatment and drying treatment. The treatment liquid can be applied by either a spraying method or an immersion method.

上述した種類の基板は、極めて破断に弱く、従って非常に丁寧に1つ以上の処理チャンバを通して移送される必要がある。   Substrates of the type described above are very vulnerable to breakage and therefore need to be transferred very carefully through one or more processing chambers.

導体プレート電気めっきのために使用されるような、既知の水平通過電気めっき設備は、ここで言及される基板において使用することはできない。それらは、ここでは接触部材としても用いられる場合が多い押え部材として、ローラを利用し、それらのローラはトラックにまたがる共通の軸上に取り付けられている。ここでは、導体プレートのわずかな厚み変動は、押え部材の圧接力にあまり強く作用しない;わずかな厚み変動は、硬い軸によって吸収することができ、導体プレートの破断の危険は生じない。さらに、既知の水平通過電気めっき設備においては、ここを流れる電流が高いので、接触抵抗を低く抑えるために、押え部材の強い圧接力が必要である。この強い圧接力が、壊れやすい基板を破壊してしまう。   Known horizontal pass electroplating equipment, such as that used for conductor plate electroplating, cannot be used on the substrates mentioned herein. They use rollers as pressing members that are also often used here as contact members, which are mounted on a common shaft that spans the track. Here, slight thickness fluctuations of the conductor plate do not act very strongly on the pressing force of the pressing member; slight thickness fluctuations can be absorbed by the hard shaft and there is no risk of breakage of the conductor plate. Furthermore, in the known horizontal-pass electroplating equipment, since the current flowing therethrough is high, a strong pressing force of the pressing member is required to keep the contact resistance low. This strong pressure contact force destroys the fragile substrate.

特に、壊れやすい基板を処理するために形成されたローラ移送装置が、従来技術(例えば、特許文献1、特許文献2及び特許文献3を参照)に記載されている。しかし、ここでは押え装置の形成が、極めて複雑である。
国際公開公報第2005/093788A1号明細書 国際公開公報第03/086913A1号明細書 国際公開公報第03/086914A1号明細書
In particular, roller transfer devices formed for processing fragile substrates are described in the prior art (see, for example, Patent Document 1, Patent Document 2, and Patent Document 3). However, the formation of the presser device is very complicated here.
International Publication No. 2005 / 093788A1 Specification International Publication No. 03 / 086913A1 Specification International Publication No. 03 / 086914A1 Specification

本発明の課題は、簡単な手段で基板の丁寧な移送が可能である、冒頭で挙げた種類の装置を提供することである。   The object of the present invention is to provide an apparatus of the kind mentioned at the outset, which is capable of carefully transferring a substrate by simple means.

この課題は、本発明によれば、
d)押え装置が次のように、すなわち、個々の押え部材が互いに独立して垂直方向に移動可能であって、その結果、基板上にその厚みに実質的に依存しない圧力を加えることができるように形成されていることによって、解決される。
According to the present invention, this problem is
d) The presser device is as follows, that is, the individual presser members can be moved vertically independently of each other, so that a pressure substantially independent of their thickness can be applied on the substrate. It is solved by being formed in this way.

本発明は、基板の破断は、わずかでも基板に厚みの差があることに起因することが多い、という認識に基づいている。複数の押え部材が同一の硬い軸上に配置されており、かつ最も薄い基板に加えられる圧力が押えるのにちょうど十分である場合に、より厚い基板の場合には破断限界を上回ることがある。従って本発明においては、同一のつながった軸に対応づけられた個々の押え部材は上方及び下方にある程度の移動可能性を有しているので、個々のトラック内の個々の基板の厚みの差に追従して、許容できない高さの押圧力の形成を回避することができる、可能性が設けられる。   The present invention is based on the recognition that the breakage of a substrate is often caused by a slight difference in thickness between the substrates. If a plurality of pressing members are arranged on the same hard axis and the pressure applied to the thinnest substrate is just enough to hold down, the break limit may be exceeded for thicker substrates. Accordingly, in the present invention, the individual pressing members associated with the same connected shaft have a certain degree of movement upward and downward, so that the difference in the thickness of the individual substrates in the individual tracks can be reduced. There is a possibility that it can follow and avoid the formation of an unacceptably high pressing force.

これは、最も簡単な場合において、押え部材が配置されている軸が、可撓性であって、それに加えて、個々の押え部材によって上方への力が供給された場合に弾性的に撓むことができる細さであり、かつそのような材料から形成されており、かつ押え部材が基板に対して作用する力が、破断限界の下方に留まっていることによって、すでに達成される。   This is because, in the simplest case, the shaft on which the pressing member is arranged is flexible and, in addition, flexes elastically when an upward force is supplied by the individual pressing member. This is already achieved by the fact that the force that the presser member acts on the substrate remains below the break limit.

軸の材料が金属である場合に、例えば、1mmと3mmの間の軸の直径が適している。   When the shaft material is metal, for example, shaft diameters between 1 mm and 3 mm are suitable.

それに対する代替案は、押え部材が、軸に対して揺動可能な、揺動アームに固定されていることにある。この形態においては、同一の軸に対応づけられた種々の押え部材の移動可能性が、互いに対してさらに独立している。基板表面への接触部材の載置力は、場合によっては揺動アームに設けられるカウンターウェイトによって調節することができる。   An alternative to this is that the presser member is fixed to a swing arm that can swing relative to the shaft. In this embodiment, the movement possibilities of the various pressing members associated with the same shaft are further independent of each other. The placement force of the contact member on the substrate surface can be adjusted by a counterweight provided on the swing arm in some cases.

電気めっき設備においては、押え部材が同時に、基板へ電流を供給するための接触部材として用いられ、かつ軸が押え部材への電流供給部として形成されていることが、一般的である。これは、本発明に基づく装置においては、軸が極めて細い場合でも可能である。というのは、ここでは伝達すべき電流は、導体プレートを処理するための設備の場合よりもずっと小さいからである。   In an electroplating facility, it is common that the pressing member is simultaneously used as a contact member for supplying current to the substrate, and the shaft is formed as a current supply portion to the pressing member. This is possible even with very thin shafts in the device according to the invention. This is because the current to be transmitted here is much smaller than in the case of equipment for processing conductor plates.

押え部材は、ローラであることが好ましい。というのは、ローラはわずかな摩擦で結びついており、特に丁寧に基板に添接するからである。   The pressing member is preferably a roller. This is because the rollers are connected with slight friction and are particularly carefully attached to the substrate.

以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

ここで興味をひく主旨における“処理”の例として、以下で、太陽エネルギ産業に基づく適用例を説明する:   As an example of “processing” in the gist of interest here, an application example based on the solar energy industry is described below:

太陽電池を形成するために、約0.2mm厚みのシリコンプレートが使用され、そのシリコンプレートは、後の“太陽に対し活性の”側面に蒸着され、あるいはスクリーン印刷された薄い金属の電気的な導体路を有している。この導体路は、電気めっきで1−20μmの層厚に強化されなければならない。強化材料は、銅、錫、銀又は金とすることができる。基板の対向する側に、そのために必要な、たとえば接触細片及び/又は接触窓の形式の、接触面が設けられており、それが“太陽に対し活性の”側面に蒸着またはスクリーン印刷された電気的な導体路と電気的に接続している。   To form a solar cell, a silicon plate about 0.2 mm thick is used, which is deposited on a later “sun-active” side or screen printed thin metal electrical plate. It has a conductor track. This conductor track must be reinforced by electroplating to a layer thickness of 1-20 μm. The reinforcing material can be copper, tin, silver or gold. The opposite side of the substrate is provided with a contact surface required for that, for example in the form of contact strips and / or contact windows, which is vapor-deposited or screen-printed on the “active to the sun” side. It is electrically connected to the electrical conductor track.

図1は、全体を参照符号1で示す装置を示しており、その装置によってこの種のシリコン基板の蒸着された導体路を強化することができる。図1には、3つのシリコン基板が示されており、かつ参照符号2a、2b及び2cで示されている。これらシリコン基板2a、2b及び2cは、多数の駆動されるローラ3a、3b、3c及び3dを有するローラ移送システムによって電気めっき浴液4を通して案内される。移送方向は、矢印4で示されている。電気めっき浴液14の液面15は、シリコン基板2a、2b及び2cのすぐ上、0.1から10mm上にある。従ってシリコン基板2a、2b及び2cは、電気めっき浴剤を通過する際に、浴液14内に完全に浸る。その場合に“太陽に対し活性の”側面は、下方を向いており、シリコン基板2a、2b及び2cの接触面を有する側が上方を向いている。   FIG. 1 shows an apparatus, generally designated by reference numeral 1, which can reinforce a deposited conductor track of this type of silicon substrate. In FIG. 1, three silicon substrates are shown and denoted by reference numerals 2a, 2b and 2c. These silicon substrates 2a, 2b and 2c are guided through the electroplating bath liquid 4 by a roller transport system having a number of driven rollers 3a, 3b, 3c and 3d. The direction of transport is indicated by arrow 4. The liquid surface 15 of the electroplating bath liquid 14 is 0.1 to 10 mm above the silicon substrates 2a, 2b and 2c. Accordingly, the silicon substrates 2a, 2b and 2c are completely immersed in the bath liquid 14 when passing through the electroplating bath. In that case, the “active to the sun” side faces downward and the side with the contact surface of the silicon substrates 2a, 2b and 2c faces upward.

シリコン基板2a、2b及び2cの移動路に沿って、かつその下方にプレート形状の陽極5が延びており、その陽極が電気めっき電流源(図示せず)のプラス極と接続されている。強化材料は、銅、錫又は銀であるので、可溶性の消費される陽極5を使用することができる。しかし、金浴である場合には、不溶性の陽極5によって作業される。   A plate-shaped anode 5 extends along and below the movement paths of the silicon substrates 2a, 2b and 2c, and the anode is connected to a positive electrode of an electroplating current source (not shown). Since the reinforcing material is copper, tin or silver, a soluble consumed anode 5 can be used. However, in the case of a gold bath, it is operated with an insoluble anode 5.

シリコン基板2a、2b及び2cの、移送ローラ3a、3b、3c及び3dと対向する側に、カウンターローラ7a、7b、7c及び7dが配置されている。これらのカウンターローラ7a、7b、7c及び7dは、2つの機能に用いられる:1つには、それらは、シリコン基板2a、2b及び2cをソフトに下方へ押して、それによって浴液14の液面15の下方に保持する。他方で、カウンターローラ7a、7b及び7cは接触装置として用いられ、その接触装置によってシリコン基板2a、2b、2c及びそれに伴って下側に蒸着され、あるいはスクリーン印刷された導体路を通常の方法で、電気めっき電流源(図示せず)のマイナス極と電気的に接続することができる。   Counter rollers 7a, 7b, 7c and 7d are arranged on the sides of the silicon substrates 2a, 2b and 2c facing the transfer rollers 3a, 3b, 3c and 3d. These counter rollers 7a, 7b, 7c and 7d are used for two functions: for one, they push the silicon substrates 2a, 2b and 2c softly downwards, thereby the level of the bath liquid 14 15 below. On the other hand, the counter rollers 7a, 7b and 7c are used as contact devices, and by means of the contact devices, the silicon substrates 2a, 2b and 2c and accompanyingly vapor-deposited or screen-printed conductor paths are used in the usual way. , And can be electrically connected to the negative electrode of an electroplating current source (not shown).

特に図2から明らかなように、設備1は、2つの平行な“トラック”を有しており、そのトラック内でそれぞれ並べられたシリコン基板2が処理液14を通して案内されることができる。これらのトラックの各々は、多数の移送ローラ3を有しており、それらの移送ローラは互いに対をなして対向し、かつ対の内部で軸6によって互いに結合されている。移送ローラ3の側方の外側に、同様に軸6と結合され、あるいは移送ローラ3と構造的に一体に、円錐形状を有する側方ローラ20が配置されている。基板2は、端縁側においてその下側が移送ローラ3上に載置されている。移送ローラ3は、その周面に摩擦を改良するOリング21を有している。   As can be seen in particular from FIG. 2, the installation 1 has two parallel “tracks”, and the silicon substrates 2 respectively arranged in the tracks can be guided through the treatment liquid 14. Each of these tracks has a number of transfer rollers 3, which face each other in pairs and are connected to each other by a shaft 6 within the pair. A lateral roller 20 having a conical shape is disposed outside the lateral side of the transfer roller 3, similarly to the shaft 6, or structurally integrated with the transfer roller 3. The lower side of the substrate 2 is placed on the transfer roller 3 on the edge side. The transfer roller 3 has an O-ring 21 that improves friction on the peripheral surface thereof.

図2はさらに、設備1の各“トラック”にそれぞれカウンターローラ7のセットが対応づけられていることを示している。異なるトラックの、移送方向4において同じ“高さ”にあるカウンターローラ7は、共通の軸22上に、かつ特に、シリコン基板の上側の2つの移送ローラ3の間のそれぞれほぼ中央で転動することができるような、軸方向の位置に取り付けられている。軸22は、両側で軸受23内に軸承されている。軸は、カウンターローラ7を保持するためだけでなく、それへの電流供給にも用いられる。   FIG. 2 further shows that a set of counter rollers 7 is associated with each “track” of the facility 1. Counter rollers 7 of different tracks at the same “height” in the transfer direction 4 roll on a common shaft 22 and in particular approximately in the middle between the two transfer rollers 3 on the upper side of the silicon substrate. It is mounted in an axial position so that it can. The shaft 22 is supported in the bearing 23 on both sides. The shaft is used not only to hold the counter roller 7 but also to supply current to it.

軸22は、その材料の選択によって、かつその幾何学的配置の選択によって、可撓性に形成されている。すなわち、軸22は、小さい力を受けてすぐに撓むことができる。その結果、図2に示すように、同一の軸22上にある2つのカウンタローラ7の垂直位置は、同一になる必要がない。たとえば、図2内で右に示すシリコン基板2の上側が、左に示すシリコン基板2の上側よりもわずかに高い場合に、軸22のある程度の弾性変形の下で、右に示されるカウンターローラ7が上方へ変位することができ、左に示されるカウンターローラ7は対応づけられたシリコン基板2の上側に添接し続ける。このようにして、シリコン基板2は互いに対して幾何学的に変位した場合でも浴液14を通して丁寧に案内することができるので、シリコン基板2の破断は排除されている。   The shaft 22 is made flexible by the choice of its material and by the choice of its geometry. That is, the shaft 22 can bend immediately upon receiving a small force. As a result, as shown in FIG. 2, the vertical positions of the two counter rollers 7 on the same shaft 22 do not need to be the same. For example, when the upper side of the silicon substrate 2 shown on the right in FIG. 2 is slightly higher than the upper side of the silicon substrate 2 shown on the left, the counter roller 7 shown on the right is subjected to some elastic deformation of the shaft 22. Can be displaced upward, and the counter roller 7 shown on the left continues to contact the upper side of the associated silicon substrate 2. In this way, even if the silicon substrates 2 are geometrically displaced with respect to each other, the silicon substrate 2 can be carefully guided through the bath solution 14, so that the breakage of the silicon substrate 2 is eliminated.

ここで関心をもたれる適用分野においては、シリコン基板2へ案内すべき電流は比較的小さいので、この電流を案内するためには、軸22の細い横断面で全く十分である。たとえば、約0.25dm2の導通する表面を備えた180×80mmの寸法を有する太陽電池プレートの場合には、0.5A/dm2の電流密度において、0.125Aの電流を伝達しなければならない。装置1が、たとえば6本の平行なトラックを有する場合には、軸22当たり0.75Aになる。この低い電流においては、カウンターローラ7のわずかな圧接力でも十分であって、それがシリコン基板2の丁寧な通過をもたらす。軸22が金属、特に特殊鋼から形成されている場合には、軸22の直径として、約1mmと約4mmの間の領域が考えられる。 In the application field of interest here, the current to be guided to the silicon substrate 2 is relatively small, so a narrow cross section of the shaft 22 is quite sufficient to guide this current. For example, in the case of solar cell plates having dimensions of 180 × 80 mm having a surface which conducts approximately 0.25Dm 2 is at a current density of 0.5A / dm 2, unless transfer of current 0.125A Don't be. If the device 1 has, for example, six parallel tracks, it will be 0.75 A per axis 22. At this low current, a slight pressing force of the counter roller 7 is sufficient, which leads to a careful passage of the silicon substrate 2. If the shaft 22 is made of metal, in particular special steel, the diameter of the shaft 22 can be in the region between about 1 mm and about 4 mm.

図3には、本発明の第2の実施例が、図2の断面に相当する断面で示されている。2つの実施例は、互いに極めて似ている;従って図3における対応する構成部品は、図2におけるのと同じ参照符号に100を加えて示されている。唯一の差は、同じ軸22上に、図2の実施例の場合のように、“トラック”当たり唯一の(中央の)カウンターローラ7ではなく、シリコン基板102上の端縁側で転動する2つのカウンターローラ107、107’が設けられていることにある。この実施形態は、より大きい寸法のシリコン基板102において使用され、かつその中央領域における曲がりを防止する。   FIG. 3 shows a second embodiment of the present invention in a cross section corresponding to the cross section of FIG. The two embodiments are very similar to each other; therefore, the corresponding components in FIG. 3 are shown with the same reference numerals as in FIG. The only difference is that the two rolling on the same axis 22 on the edge side on the silicon substrate 102 rather than the only (central) counter roller 7 per “track” as in the embodiment of FIG. One counter roller 107, 107 'is provided. This embodiment is used in larger dimension silicon substrates 102 and prevents bending in its central region.

シリコン基板202上に塗布された金属の導体路を電気めっきで強化するための装置201の第3の実施例が、図4から6の対象である。この第3の実施例も、上述した2つの実施例に極めて似ている。図4から6における部分が、図1と2の実施例の部分に相当する限りにおいて、これらの部分は200を加えて同じ参照符号で示されている。   A third embodiment of an apparatus 201 for strengthening a metal conductor track applied on a silicon substrate 202 by electroplating is the subject of FIGS. This third embodiment is also very similar to the two embodiments described above. Insofar as the parts in FIGS. 4 to 6 correspond to the parts of the embodiment of FIGS. 1 and 2, these parts are denoted by the same reference numerals plus 200.

移送ローラ203、側方ガイドローラ220及びこれらを互いに結合する軸206を有する移送システムの2つの“トラック”の形成は、上述した2つの実施例のそれに完全に相当する。差は、カウンターローラ207が保持される方法のみにある。   The formation of the two “tracks” of the transfer system having the transfer roller 203, the side guide rollers 220 and the shaft 206 connecting them together corresponds completely to that of the two embodiments described above. The difference is only in the method in which the counter roller 207 is held.

図4から6の実施例は、各トラックに、シリコン基板202の表面上の移送ローラ203のほぼ中央で転動する、1セットのカウンターローラ207のみが対応づけられている限りにおいて、請求項1と2の実施例に、より強く似ている。しかし、カウンターローラ207は、2つの上述した実施例の場合のように、直接軸202と結合されていない。むしろ、このカウンターローラは、揺動アーム240のフォーク状の端部領域内に軸承されており、その揺動アームの反対側の端部は、軸222を中心に回動可能ないし揺動可能に取り付けられている。軸222は、この実施例においては、硬くてよく、従ってシリコン基板202に作用する過大な力を回避するために可撓性である必要がない。図から明らかなように、2つのカウンターローラ207は、軸222を中心とする然るべき揺動運動の下で、互いに独立して垂直方向に移動することができ、その結果、シリコン基板202及び装置201自体内の幾何学的偏差にほとんど依存しない圧接力を可能にする。   The embodiment of FIGS. 4 to 6 is only as long as each track is associated with only one set of counter rollers 207 that roll about the center of the transfer roller 203 on the surface of the silicon substrate 202. And 2 are more similar to the second embodiment. However, the counter roller 207 is not directly coupled to the shaft 202 as in the two above-described embodiments. Rather, the counter roller is supported in the fork-shaped end region of the swing arm 240, and the end on the opposite side of the swing arm is rotatable or swingable about the shaft 222. It is attached. The shaft 222 may be stiff in this embodiment, and therefore need not be flexible to avoid excessive forces acting on the silicon substrate 202. As can be seen from the figure, the two counter rollers 207 can move vertically independently of each other under a suitable swinging movement about the shaft 222, so that the silicon substrate 202 and the device 201 can be moved. Enables a pressure force that is largely independent of the geometrical deviation within itself.

カウンターローラ207がシリコン基板202上に載置される力は、実質的に、揺動アーム240とその中に軸承されたカウンターローラ207を有する揺動可能なユニットの重量によって定められる。その力は、場合によってはカウンターウェイトによって調節することができる。   The force with which the counter roller 207 is placed on the silicon substrate 202 is substantially determined by the weight of the swingable unit having the swing arm 240 and the counter roller 207 supported therein. The force can be adjusted by a counterweight in some cases.

図1は、シリコン基板の上に塗布された金属の導体路を電気的に強化するための装置を図式的に示す側面図である。FIG. 1 is a side view schematically showing an apparatus for electrically strengthening a metal conductor track applied on a silicon substrate. 図2は、図1の装置をその図面平面に対して垂直に示す垂直断面図である。2 is a vertical cross-sectional view of the apparatus of FIG. 1 perpendicular to the drawing plane. 図3は、この種の装置の第2の実施例を、図2と同様に示す断面図である。FIG. 3 is a cross-sectional view similar to FIG. 2, showing a second embodiment of this type of apparatus. 図4は、この種の装置の第3の実施例を、図2及び3と同様に示す断面図である。FIG. 4 is a cross-sectional view similar to FIGS. 2 and 3 showing a third embodiment of this type of apparatus. 図5は、図4の装置の一部を示す上面図である。FIG. 5 is a top view showing a part of the apparatus of FIG. 図6は、図4と5の装置の詳細を拡大した寸法で示している。FIG. 6 shows the details of the apparatus of FIGS. 4 and 5 in enlarged dimensions.

符号の説明Explanation of symbols

1 処理装置
2 シリコン基板
3 駆動ローラ(移送装置)
4 移送方向
5 陽極
7 カウンターローラ(接触装置、押え装置)
14 電気めっき浴液
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Processing apparatus 2 Silicon substrate 3 Drive roller (transfer apparatus)
4 Transfer direction 5 Anode 7 Counter roller (contact device, presser device)
14 Electroplating bath solution

Claims (5)

特に半導体及び太陽エネルギ産業用の平坦な壊れやすい基板を処理するための装置であって、
a)その中で前記基板に処理液を供給することができる処理チャンバと;
b)互いに対して平行な多数のトラック内で、前記処理チャンバを水平に通過するように前記基板を案内することができる移送装置と;
c)前記基板の上方を向いた側に作用して、前記移送装置から持ち上がるのを阻止し、かつ前記複数のトラックにわたるつながった軸を有し、その軸に多数の押え部材が固定されている少なくとも1つの押え装置;
を有するものにおいて、
d)前記押え装置(7、22;107、122;207、222)が次のように、すなわち前記個々の押え部材(7;107;207)が互いに独立して垂直方向に移動可能であって、その結果、前記基板(2;102;202)上にその厚みに実質的に依存しない圧力を及ぼすことができるように形成されていることを特徴とする、
平坦な壊れやすい基板を処理する装置。
An apparatus for processing flat fragile substrates, particularly for the semiconductor and solar energy industries,
a) a processing chamber in which processing liquid can be supplied to the substrate;
b) a transfer device capable of guiding the substrate to pass horizontally through the processing chamber in a number of tracks parallel to each other;
c) Acts on the upwardly facing side of the substrate to prevent lifting from the transfer device, and has a connecting shaft extending over the plurality of tracks, and a number of pressing members are fixed to the shaft. At least one presser device;
In what has
d) The pressing device (7, 22; 107, 122; 207, 222) is movable as follows, that is, the individual pressing members (7; 107; 207) are movable in the vertical direction independently of each other. As a result, the substrate (2; 102; 202) is formed so as to be able to exert a pressure substantially independent of its thickness.
Equipment for processing flat, fragile substrates.
前記押え部材(7、107)が取り付けられている軸(22;122)が可撓性であって、かつそれに加えて、前記個々の押え部材(7;107)によって上方へ向かう力が供給された場合に弾性的に撓むことができるような細さで、形成されており、かつ前記押え部材(7;107)が前記基板(2;102)に対して作用する力が、前記基板の破断限界の下に留まることを特徴とする、請求項1に記載の処理装置。 The shaft (22; 122) to which the pressing member (7, 107) is attached is flexible, and in addition, an upward force is supplied by the individual pressing member (7; 107). in thinness that can flex elastically when are formed, and the pressing member (7; 107) said substrate; force acting against (2 102), of the substrate The processing apparatus according to claim 1, wherein the processing apparatus stays below a breaking limit. 前記押え部材(207)が、前記軸(222)に対して揺動可能な揺動アーム(240)に固定されていることを特徴とする、請求項1に記載の処理装置。   The processing apparatus according to claim 1, wherein the pressing member (207) is fixed to a swing arm (240) swingable with respect to the shaft (222). 前記押え部材(7;107;207)は、同時に、前記基板(2;102;202)へ電流を供給するための接触部材として用いられ、かつ前記軸(22;122;222)は前記押え部材(7;107;207)への電流供給部として形成されていることを特徴とする、請求項1〜3のいずれか1項に記載の処理装置。   The pressing member (7; 107; 207) is simultaneously used as a contact member for supplying current to the substrate (2; 102; 202), and the shaft (22; 122; 222) is used as the pressing member. The processing apparatus according to claim 1, wherein the processing apparatus is formed as a current supply unit to (7; 107; 207). 前記押え部材は、ローラ(7;107;207)であることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか1項に記載の処理装置。   The processing device according to claim 1, wherein the pressing member is a roller (7; 107; 207).
JP2007188478A 2006-07-19 2007-07-19 Equipment for processing flat, fragile substrates Expired - Fee Related JP5080157B2 (en)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006033354.3 2006-07-19
DE102006033354A DE102006033354B4 (en) 2006-07-19 2006-07-19 Apparatus for treating flat, fragile substrates

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008028394A JP2008028394A (en) 2008-02-07
JP5080157B2 true JP5080157B2 (en) 2012-11-21

Family

ID=38859143

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007188478A Expired - Fee Related JP5080157B2 (en) 2006-07-19 2007-07-19 Equipment for processing flat, fragile substrates

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP5080157B2 (en)
CN (1) CN101110350B (en)
DE (1) DE102006033354B4 (en)
PL (1) PL382903A1 (en)
TW (1) TW200812888A (en)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006049488A1 (en) * 2006-10-17 2008-04-30 Höllmüller Maschinenbau GmbH Flat, fragile silicon substrate e.g. silicon wafer, treatment e.g. rinsing and drying treatment, device for semiconductor and solar industry, has side guiding device gripping edge of substrates and provided with side guiding rollers
JP5652700B2 (en) * 2010-02-09 2015-01-14 富士電機株式会社 Position control device for flexible substrate
CN103985630A (en) * 2014-06-03 2014-08-13 天津源天晟科技发展有限公司 Fluid internal adsorption conveying method
DE102017215605A1 (en) * 2017-09-05 2019-03-07 Thyssenkrupp Ag Transport device and method for its operation
JP7198039B2 (en) * 2018-10-22 2022-12-28 株式会社Screenフェバックス Substrate transfer device and substrate processing apparatus provided with this substrate transfer device
CN113044576B (en) * 2021-06-02 2021-08-13 江苏维宏智能科技有限公司 Glass conveying device and method

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5881997A (en) * 1981-11-07 1983-05-17 Hideo Tsubaki Horizontally conveying type automatic plating apparatus
JPS62108563A (en) * 1985-11-06 1987-05-19 Mitsubishi Electric Corp Plating treater
DE3639594C1 (en) * 1986-11-20 1987-12-03 Siemens Ag Brush machine
DE3737855A1 (en) * 1987-11-05 1989-05-18 Siemens Ag DEVICE FOR TRANSPORTING LARGE OBJECTS
DE4121079A1 (en) * 1991-06-26 1993-01-07 Schmid Gmbh & Co Geb DEVICE FOR TREATING PLATE-SHAPED OBJECTS
US5209464A (en) * 1992-03-23 1993-05-11 Eastman Kodak Company Bottom scuff sheet feeder
JP2000355413A (en) * 1999-06-17 2000-12-26 Tokai Rubber Ind Ltd Steeply inclined belt conveyor device (enclosed type)
JP3960087B2 (en) * 2001-05-30 2007-08-15 東京エレクトロン株式会社 Transport device
ATE265383T1 (en) * 2002-04-15 2004-05-15 Rena Sondermaschinen Gmbh TRANSPORT ROLLERS, HOLD-OWN HOLDERS AND TRANSPORT SYSTEM FOR FLAT TRANSPORTED GOODS
EP1733418B2 (en) * 2004-03-22 2018-01-17 RENA Technologies GmbH Process for electrically isolating both sides of silicon wafers by their single-sided wet-chemical treatment using a liquid bath

Also Published As

Publication number Publication date
DE102006033354A1 (en) 2008-01-31
CN101110350A (en) 2008-01-23
DE102006033354B4 (en) 2012-01-12
JP2008028394A (en) 2008-02-07
CN101110350B (en) 2011-07-13
PL382903A1 (en) 2008-01-21
TW200812888A (en) 2008-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5080157B2 (en) Equipment for processing flat, fragile substrates
JP2008103722A (en) Apparatus for processing flat and fragile substrate
JP5529188B2 (en) Anode holder and plating apparatus
US8172989B2 (en) Prevention of substrate edge plating in a fountain plating process
JP5150727B2 (en) Apparatus and method for electrical contact of planar products in in-line equipment
US20070187257A1 (en) Electrolytic processing apparatus and electrolytic processing method
US7138039B2 (en) Liquid isolation of contact rings
JP2008025030A (en) Method and apparatus for handling flat and fragile substrate
US7422982B2 (en) Method and apparatus for electroprocessing a substrate with edge profile control
KR20190060985A (en) Electrolytic treatment jig and electrolytic treatment method
JP2008198673A (en) Compound electrolytic polishing apparatus
KR20130006987A (en) Roller for transferring a substrate
US20070095659A1 (en) Electrolytic processing apparatus and electrolytic processing method
KR101103471B1 (en) Wafer plating apparatus
JP2013194242A (en) One side plating device for planar workpiece
CN115552060B (en) Plating device
JP3703355B2 (en) Board plating equipment
KR101070039B1 (en) Wafer plating apparatus
KR20170099919A (en) Galvanic plating device of a horizontal galvanic plating processing line for galvanic metal deposition and use thereof
KR20240015822A (en) Deposition apparatus and method of operating the same
JP5763243B2 (en) Plating equipment
JP2005054205A (en) Electrochemical machining apparatus and electrochemical machining method
JP2004255479A (en) Electrochemical machining method and electrochemical machining device
KR20100055751A (en) Apparatus for transferring a substrate
JP2005264268A (en) Electrochemical machining device and electrochemical machining method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100527

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20111222

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120110

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20120409

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20120412

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120709

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120731

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120830

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150907

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees