JP5076143B2 - 細孔微粒子のガス吸着特性測定装置及びその測定方法 - Google Patents

細孔微粒子のガス吸着特性測定装置及びその測定方法 Download PDF

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Description

本発明は、細孔微粒子のガス吸着特性測定装置及びその測定方法に関する。
細孔微粒子の吸着表面積や細孔分布などの表面特性を評価する方法として、例えば、N2ガスの吸着量を容量法により定量し、それにより得られる吸着等温線を解析して表面特性を求める方法がある。このような方法に対し、プローブ分子を細孔微粒子の表面に吸着させてこのプローブ分子の核磁気共鳴(NMR)を測定することにより表面特性を評価する方法が注目されている。特に、Xe(キセノン)を吸着させて129XeのNMRを観察する方法は、ミクロ環境の情報をより提供できる評価方法として1980年代から期待されている方法である。なぜなら、129Xe化学シフトは吸着減少を鋭敏に反映して大きく変化するからである。また、最近の超偏極技術により129XeNMRの高感度化が可能となり、その技術発展に対する期待がさらに膨らみつつあり、その応用例は、多くはないものの、いくつか開示されている(例えば、特許文献1及び2参照)。
特開2004−93187号公報 特開2005−30808号公報
従来、細孔微粒子の吸着表面積を求めるには、BET吸着装置を用いる方法が汎用されているが、この方法は、吸着表面積に関するデータしか提供できず、吸着エネルギー(吸着熱)を求めるには、カロリーメトリー法など別法を用いなければならず、サンプルの取扱いが煩雑であり、全体として測定に時間がかかり効率の点で問題がある。
一方、129XeNMRの信号強度や化学シフトを用いた細孔微粒子の表面特性の解析手法も、十分に確立されたとはいいがたい状況である。例えば、表面特性を測定する試料の取扱いは、従来の方法では正確なデータが得られないおそれがある。なぜなら、従来の方法では試料の気密性の確保が不十分であり、空気中の湿気の混入などによる細孔表面の微妙な変化を鋭敏に反映することが多いからである。すなわち、分光法による吸着プローブ分子の観察において、湿気などの混入による吸着表面の変性は、吸着量に対してよりもはるかに大きな変化を吸着分子の化学シフトのような分光データに引き起こすおそれがある。したがって、129XeNMRなどプローブ分子検出用NMRを用いて表面特性を測定する場合、測定試料の気密性をより確実にしなければならないという問題がある。
また、例えば、吸着表面積を129XeNMRのプローブ分子検出用NMRで求める場合には較正データを得る必要となるが、従来では較正試料を測定するために試料管を交換する必要があるため吸着信号の強度を正確に較正する方法がないという問題がある。
吸着エネルギー(吸着熱)を129XeNMRなどのプローブ分子検出用NMRで求める方法としては、下記式[1]又は[2]を用いる2つの方法が提案されている。下記式[1]は、測定試料の細孔表面に吸着したプローブ分子の化学シフトδobsと吸着熱ΔHとを関係づける式である(V.T.Terskikh et al、J.Chem.Soc.,Faraday Trans.,89,4239−4243,1993)。下記式[1]において、δaは吸着固有化学シフトであって、プローブ分子が細孔表面上にあるときのプローブ分子の化学シフトであり、V及びSは、それぞれ、細孔内の空洞容積と表面積であり、K0は、Henry式の定数であり、Rは気体定数であり、Tは絶対温度である。
Figure 0005076143
下記式[2]は、細孔内でのガス状態と吸着状態の両状態間のエネルギー差ΔEを、細孔内でガス状のプローブ分子の固有化学シフトδf及び表面に吸着したプローブ分子の固有化学シフトδaと関連づける式である(Q.J.Chen and J.Fraissard,J.Phys.Chem.,96,1809−1814,1992)。
Figure 0005076143
しかしながら、上記式[1]を用いて求めた吸着熱ΔHの報告は少なく、信頼性は確立されていない。また、上記式[2]を129XeNMRに適用してΔE=5.5kJ/molの値が報告されているが、この値は、Xe自身の蒸発熱12.6kJ/molと比べてかなり小さく、やはり信頼性が高いとは言えない。これらの方法では、吸着固有化学シフトδaとして、温度によらない一定の値が使用されている。例えば、多くの場合、アルミナ含量の少ないゼオライトについて報告された243ppmの値(J.Demarquay and J. Fraissard,Chem.Phys.Lett.,136,314−318,1987)が使用されている。その他、115ppmの値、又は、個別サンプルについて測定した値の中で最も低磁場に出た値(107−160ppm)が使用されたという報告もある。すなわち、129Xeなどのプローブ分子の吸着固有化学シフトδaの値は、相互作用系の化学シフトであるから温度依存性を考慮すべきにもかからず、従来の方法では、吸着固有化学シフトδaの値は温度によらず一定としているという問題がある。
その他、吸着した129Xeの化学シフトδobsと下記式[3]とを用いて評価する方法が提案されているが(J.Demarquay and J. Fraissard,Chem.Phys.Lett.,136,314−318,1987)、この方法の一般的な適用性には問題があるといわれている。また、この方法においても吸着固有化学シフトδa=243ppmが使用されている。なお、下記式[3]において、Lは、壁との衝突の平均自由工程であり、無限長円柱型空洞では、L=DC−DXeであり、球形空洞では、L=(DS−DXe)/2となる(DCとDSは空洞直径であり、DXeは、Xe原子の直径である)。
Figure 0005076143
そこで、本発明は、より信頼性が向上した細孔微粒子のガス吸着特性測定が可能な装置の提供を目的とする。
前記目的を達成するため、本発明の細孔微粒子のガス吸着特性測定装置は、
一定の磁場を発生するNMRマグネット、測定試料である細孔微粒子が含まれる試料管をその内部に配置可能であり前記試料への信号の送信と前記試料からの信号の受信とを行うNMRプローブ、及び、前記NMRプローブが受信した信号を測定するNMR分光器を含む核磁気共鳴装置と、耐高真空コックを備える管に接続され気密制御が可能な前記試料管と、前記NMRプローブ内に配置された前記試料管内の圧力制御を行う圧力調整部とを含み、前記NMRプローブが、その内部に配置された前記試料管内の温度を制御する温度調整部を備え、前記圧力調整部が、圧力計、プローブ分子ガス供給源、及び、真空排気系を含み、前記NMRプローブ内に配置された前記試料管が、前記耐高真空コックを介して前記圧力調整部と接続可能であること特徴とする。
129XeNMRなどのプローブ分子検出用NMRのような分光法を用いた表面特性測定の観察においては、高温加熱の前処理の必要性は知られていた。しかしながら、本発明者らは、例えば、湿気などの混入による吸着表面の変性は、吸着量に変化を及ぼすよりもはるかに大きな変化を吸着分子の化学シフトなどの分光データに及ぼしうることに着目した。また、より信頼性の高い測定データを得るためには、従来行われていた高温加熱の前処理を、高真空下で行うことが重要であることを見出した。そして、本発明者らは、前処理から測定まで測定試料の気密性を厳格に確保することが可能であり、かつ、高真空に耐えられる試料管の使用が可能である測定装置であれば、測定データの信頼性を向上できることを見出し、本発明に到達した。
本発明のガス吸着特性測定装置において、前記試料管は、耐高真空コックを備える管に接続されて気密制御が可能であるから、高真空下で前処理ができ、かつ、前記前処理の後で外気を混入させることなくプローブ分子検出用NMRの測定ができる。よって、本発明によれば、細孔微粒子の表面特性の測定の信頼性を、好ましくは、向上できる。
また、本発明のガス吸着特性測定装置において、前記試料管は、核磁気共鳴装置のNMRプローブ内に配置された状態で前記圧力調整部に接続し、さらに、前記NMRプローブが前記温度調整部を備えているから、例えば、一試料について、試料管を移動させることなく様々な温度及び圧力条件下で測定できる。これにより、後述するように、プローブ分子の吸着固有化学シフトδaの温度依存性を評価することが可能となる。よって、本発明によれば、細孔微粒子の表面特性の測定の信頼性及び簡便性を、好ましくは、向上できる。
本発明のガス吸着特性測定装置は、プローブ分子として、129Xeの他にも、3He、19Fを含むフッ素系ガス(テトラフルオロメタンCF4など)、13Cを含む炭素系ガス(炭酸ガス13CO2など)、及び、15Nを含む窒素系ガス(アンモニアガス15NH3など)から選択されるプローブ分子を、好ましくは、使用できる。一般に3Heでは吸着による化学シフトの変化は129Xeより小さいが、ガス状ピークと分離して吸着ピークが観察されれば適用可能である。129Xeと同様これらのプローブ分子も超偏極技術の利用により高感度化が達成でき、微量化と迅速化が可能となる。
本発明は、例えば、細孔微粒子を含む製品の開発や製造の段階で、その製品の細孔表面特性の解析や評価に、好ましくは、利用できる。例えば、パウダー化粧品の肌触り、白さ、輝きなどの特性を改良する場合、細孔表面特性を分析して比較することにより、改良の指針が得られる場合がある。また、例えば、ゼオライト工業においても、触媒や反応媒介として新たに開発した製品の特性解析に応用でき、さらなる開発を促進できる。さらに、製造段階においても、例えば、製品の品質確認に使用できる。
本発明のガス吸着特性測定装置は、さらに、前記試料の前処理装置を含み、前記前処理装置が、前記試料管をその内部に配置可能なヒーター、及び、前記耐高真空コックを介して前記試料管と接続可能な高真空排気部、を含むことが好ましい。このような前処理装置によれば、例えば、高真空下で試料を高温加熱して前処理することができる。
本発明のガス吸着特性測定装置において、前記試料管は、較正用標準試料を配置できる標準試料保持部を、その内部の前記測定試料から空間的に分離した位置に備えることが好ましい。このような標準試料保持部を備えることで、例えば、前処理の段階から測定試料と標準試料とを前記試料管内に密閉しつつ、高熱による前記標準試料の破壊を回避することができる。
本発明のガス吸着特性測定装置は、さらに、前記温度調整部及び前記圧力調整部を制御して前記NMRプローブ内に配置された状態の前記試料管内の温度及び圧力を制御する制御部を含むことが好ましい。
本発明のガス吸着特性測定装置は、さらに、前記NMR分光器が測定した信号データを処理するデータ処理部を含むことが好ましい。
前記データ処理部は、一定温度T1、複数の圧力条件下で測定された化学シフト対圧力データδobs(P)と下記式[10]とに基づき最小二乗法で演算して温度T1における吸着固有化学シフトδa(T1)を得るステップ、前記ステップと同様にして、前記T1とは異なる少なくとも4点の温度T2〜T5におけるδa(T2)〜δa(T5)を得るステップ、及び、前記δa(T1)〜δa(T5)を含む少なくとも5点の吸着固有化学シフトδaに基づき吸着固有化学シフトδaの温度の一次関数;δa(T)=aT+b (a、bは定数)を得るステップ、を含む処理を行うものであってもよい。下記式[10]を用いることにより、例えば、圧力依存性のプローブ分子の化学シフトデータから、吸着固有化学シフトδaを評価でき、さらに、例えば、吸着固有化学シフトδaの温度依存性を考慮した表面吸着特性の解析が可能となる。
Figure 0005076143
(上記式[10]中、constは、積分のときの定数を表す。)
また、前記データ処理部は、任意の温度、複数の圧力条件下で測定された化学シフト対圧力データδobs(P)と下記式[13]及び[14]とに基づき演算して吸着エネルギーに相当するβE0を得るステップを含む処理を行うものであってもよい。このような処理であれば、例えば、任意の温度と圧力における化学シフトデータから吸着エネルギーを評価できる。
Figure 0005076143
(上記式[13]、[14]中、waは圧力Pのときの吸着量を表し、w0は飽和吸着量を表し、Peqはその時の相当圧力を表す。)
また、前記データ処理部は、一定温度、複数の圧力条件下で測定された信号強度データ対圧力S(P)と下記式[12]とに基づき最小二乗法で演算して完全被覆のときの信号強度Sを得るステップ、及び、前記Sと前記標準試料から測定された較正データであるS(PCA)/Sstdと下記式[19’]とに基づき演算して単位質量当たりの吸着表面積Aを得るステップ、を含む処理を行うものであってもよい。このような処理であれば、例えば、化学シフトデータを用いることなく、信号強度データのみから吸着表面積を評価できる。
Figure 0005076143
(上記式[19’]中、Cstdは前記標準試料中のプローブ分子濃度を表し、Vstdは前記標準試料の容積を表し、SPrは1モルのプローブ分子相当の表面積を表し、Wsampleは測定試料の質量を表す。)
また、前記データ処理部は、任意の温度、複数の圧力条件下で測定された信号強度対圧力データS(P)と、下記式[13]においてwa/w0をS(P)/Sに置き換えた式とに基づき最小二乗法で演算して吸着エネルギーに相当するβE0及び完全被覆のときの信号強度Sを得るステップ、及び、前記Sと前記標準試料から測定された較正データであるS(PCA)/Sstdと下記式[19’]とに基づき演算して単位質量当たりの吸着表面積Aを得るステップ、を含む処理を行うものであってもよい。このような処理であれば、例えば、任意の温度と圧力における信号強度データから吸着エネルギー及び吸着表面積を評価できる。
Figure 0005076143
(上記式[13]中、waは圧力Pのときの吸着量を表し、w0は飽和吸着量を表し、Peqはその時の相当圧力を表す。また、上記式[19’]中、Cstdは前記標準試料中のプローブ分子濃度を表し、Vstdは前記標準試料の容積を表し、SPrは1モルのプローブ分子相当の表面積を表し、Wsampleは測定試料の質量を表す。)
本発明は、その他の態様において、細孔微粒子のガス吸着特性測定方法であって、測定試料である細孔微粒子を、気密制御が可能な試料管内で、高真空下で加熱して前処理する工程と、前記試料管の気密状態を維持したまま、前記試料管を核磁気共鳴装置のNMRプローブ内に配置する工程と、前記NMRプローブに配置された前記試料管にプローブ分子ガスを導入して圧力の調整を行う工程と、前記試料管を前記NMRプローブにセットしたまま前記プローブ分子ガスの圧力を調整し、少なくとも2点の圧力で核磁気共鳴の測定を行う工程と、前記核磁気共鳴装置で測定した信号データを処理する工程とを含むガス吸着特性測定方法を提供する。
本発明のガス吸着特性測定方法は、前記前処理工程の前に、前記前処理工程で直接加熱されない前記試料管内の部位に、較正用標準試料を配置する工程と、前記前処理工程後、前記試料管を前記NMRプローブ内に配置する工程の前に、前記試料管の気密状態を維持したまま、前記標準試料を前記測定試料と同じ部位に移動させる工程とを含んでもよい。このような工程を含むことで、標準試料を前処理の段階から密閉状態の試料管内で測定試料と共存させることができる。前記較正用標準試料は、プローブ分子、及び、既知濃度の包接化合物を含む溶液のアンプルであってもよい。
本発明のガス吸着特性測定方法において、前記信号データの処理工程は、本発明のガス吸着特性測定装置の前記データ処理部におけるデータ処理の工程であってもよい。
本発明は、その他の態様において、細孔微粒子を含む製品の製造方法であって、本発明のガス吸着特性測定装置、又は、本発明のガス吸着特性測定方法を用いて前記細孔微粒子のガス吸着特性を測定する工程を含む製造方法を提供する。
本発明において、「細孔微粒子」とは、例えば、高分子系、炭素材料系、金属系、金属酸化物系、及び、これらの混合物の多孔性材料からなる群から選択されるものである。例えば、前記細孔微粒子としては、ゼオライト、シリカゲル、メソ多孔体、アルミナ、活性炭などがあげられる。前記細孔微粒子の粒径としては、前記試料管に納まる範囲であれば特に制限されないが、例えば、5μm〜8mmである。前記細孔微粒子の細孔径も特に制限されず、例えば、0.3nm〜500nmである。
本発明において、「プローブ分子」とは、細孔表面に吸着される分子であって、分子の一部にNMRにより検出されうる核種を含有する分子であって、例えば、129Xe、3He、19F、13C、15Nなどの核種を含む分子があげられる。また、本発明において、「プローブ分子ガス」とは、プローブの分子の中で、吸着の目的に使用されるガスであって、例えば、Xe(キセノン)ガス、He(ヘリウム)ガス、CF4やSF6などのフッ素系ガス、CO2などの炭素系ガス、NH3などの窒素系ガス、及び、これらの超偏極ガスがあげられる。超偏極ガスを用いることは、さらに高感度化と迅速化が可能となるため好ましい。さらにまた、本発明において、「プローブ分子検出用NMR」とは、前記プローブ分子の信号を検出する核磁気共鳴分光法であって、例えば、129Xe信号、3He信号、19F信号、13C信号、15N信号などを核磁気共鳴装置で観測することをいう。
本発明において、「ガス吸着特性」とは、プローブ分子検出用NMRにより得られるスペクトル及び/又はFID(自由誘導減衰)若しくはエコー信号、及び、それらを処理して得られた化学シフト、吸着表面積、吸着エネルギー、細孔分布などを含む。本発明において、「吸着したプローブ分子の化学シフトδobs」とは、NMRスペクトルで観測されるピークの中で、0ppmの純粋ガス状態のピーク以外のピークの化学シフトのことをいい、「プローブ分子の吸着固有化学シフトδa」とは、プローブ分子が細孔表面に完全に吸着束縛された状態に固有の化学シフトであり、被覆率で表せば被覆率が1のときのδobsに相当する値のことをいう。
本発明において、「高真空」とは、10-2Pa以下であって、好ましくは、10-3Pa〜10-2Paであり、より好ましくは、10-5Pa〜10-4Paである。本発明において、「真空」とは、例えば、10-1Pa以下であって、好ましくは、0.5×10-1Pa〜10-1Paである。
以下に、本発明の細孔微粒子のガス吸着特性測定装置を、図1及び図2に示す一実施形態に基づいて説明する。
図1に示すガス吸着特性測定装置1は、一定の磁場を発生するNMRマグネット5、測定試料である細孔微粒子6が含まれる試料管3をその内部に配置可能であり、前記測定試料6への信号の送信と前記測定試料6からの信号の受信とを行うNMRプローブ7、及び、前記NMRプローブ7が受信した信号を測定するNMR分光器8を含む核磁気共鳴装置2と、耐高真空コック9を備える管10に接続され気密制御が可能な前記試料管3と、前記NMRプローブ7内に配置された前記試料管3内の圧力制御を行う圧力調整部4とから構成されている。前記NMRプローブ7は、その内部に配置された前記試料管3内の温度を制御する温度調整部(図示せず)を備えており、前記圧力調整部4は、圧力計11、プローブ分子ガス供給源12、乾燥器13、及び、真空排気系(矢印14で示す)を含み、前記NMRプローブ7内に配置された前記試料管3は、前記耐高真空コック9を介して前記圧力調整部4と接続している。
図1の本発明のガス吸着特性測定装置1は、前記NMR分光器8が測定した信号データを処理するデータ処理部15、及び、制御部16を含む。制御部16は、核磁気共鳴装置2、前記温度調整部及び前記圧力調整部4の少なくとも1つの制御を行う。管10は、その一端において、前記試料管3と耐高真空ジョイント17により脱着自在に接続しており、他端において、前記圧力調整部4と耐高真空ジョイント18により脱着自在に接続している。また、前記圧力調整部4は、真空下、プローブ分子ガスによるパージなどのためのコック19〜23を備える。
本発明のガス吸着特性測定装置1の核磁気共鳴装置2におけるNMRマグネット5及びNMR分光器8は、公知の核磁気共鳴装置に含まれるものを使用できる。また、NMRプローブ7も、温度調整部を備えたNMRプローブを含むものであれば公知のものを使用することができ、また、当業者であれば、従来のNMRプローブに温度調整部を取り付けることは容易である。前記温度調節部の調節可能な温度範囲は、例えば、−70℃〜+70℃であって、好ましくは、−150℃〜+100℃である。データ処理部15及び制御部16としては、同一又は別個のコンピュータを使用できる。
図2は、本発明の前処理装置の一実施形態を示す。同図において、図1と同一部分には同一符号を付す。図2の前処理装置30は、前記試料管3をその内部に配置可能なヒーター31、及び、前記耐高真空コック9を介して前記試料管3と接続可能な高真空排気部32を含む。
前記高真空排気部32は、高真空下で測定試料6を高温加熱するためのものであって、例えば、図2に示すとおり、冷却部33、液溜め34、耐高真空コック35、36、及び、高真空排気系37を含むものがあげられる。ヒーター31の高温加熱によって試料6から蒸発した水分を、冷却部33で冷却して液体又は固体とすることができる。前記液溜め34は、例えば、試料6から得られた水分量の測定に使用することができる。前処理した試料6を含む試料管3は、耐高真空コック9で気密状態を確保し、耐高真空ジョイント18で切り離してそのまま図1に示すガス吸着特性測定装置1に移すことができる。
細孔微粒子、とりわけ、ゼオライトやメソポーラスシリカ(メソ多孔体)のような細孔径の小さい材料では、空気中の湿気の吸着に起因して、129XeNMRなどのプローブ分子検出用NMRにより得られる表面特性が大きく変化又は劣化してしまうことを本発明者らは見出した(例えば、実施例1参照)。そこで、本発明のガス吸着特性測定装置1及び前処理装置2は、前処理からその後のプローブ分子検出用NMR測定までの間、測定試料6に外気を触れさせないことが可能な構造となっている。
細孔材料を測定するための前処理としては、一般に、日本触媒学会が推奨する条件である、真空下又は不活性ガス流通下で300℃2時間以上の焼成があげられる。しかしながら、プローブ分子検出用NMRの測定データの信頼性の向上のためには、高真空下で行うことが重要である。したがって、図2の本発明の前処理装置に用いる試料管3、管10、ジョイント17、18、コック9、35、36、及び、その他の管や装置は、高真空条件に耐えうる必要があり、高真空排気系37は、高真空以上が可能な真空ポンプを含むことが好ましい。一方、図1の圧力調整部4における真空排気系14は、真空以上が可能であればよく、圧力調整部4の部材も、真空程度に耐えうるものが使用できる。図1及び図2に示す管10を含む管は、例えば、ガラス製のもの(例えば、パイレックス(登録商標)管)を使用してもよい。
試料管3の一実施態様を図3に示す。図3の試料管3は、先端部43と接続部42とから構成されている。同図において図1及び2と同一部分には同一符号を付す。先端部43は、通常のNMRの試料管として用いられるガラス管と同じ組成及び形態であってよい。例えば、外径約3〜15mm、肉厚0.2〜0.6mmのガラス管を使用できる。前記接続部42は、ジョイント17との接続のためより肉厚であることが好ましく、例えば、肉厚1.0〜2.0mmであることが好ましい。また、図3の試料管3は、標準試料保持部41を備えることが好ましい。これにより、前処理の高温加熱処理に耐えることが出来ない較正用標準試料のアンプル40を試料管3内のヒーター31内に入らない位置に存在させつつ、測定試料6の前処理をすることが可能となる。前処理の後、前記標準試料アンプル40を測定試料6へ埋没するように移動させ、試料管3をNMRプローブ7内に配置して測定することで、後述するとおり、信号の較正が可能となる。前記標準試料保持部41の形状は、垂直又は傾斜した試料管3内において標準試料アンプル40を一時的に保持できる形状であれば、特に制限されない。
前処理後、真空状態でNMRプローブ7内に配置された試料管3にガス供給源12から乾燥器13を通してプローブ分子ガスを導入する。前記乾燥器13を通すことでプローブ分子ガスに湿気が含まれていた場合にも試料への混入を防ぐことができる。よって、前記圧力調整部4は、乾燥器13を備えることが好ましい。但し、プローブ分子ガスとして炭酸ガスを使用する場合は、後述するような乾燥剤と反応するので、乾燥器13を通さないでガスを供給することが好ましい。前記プローブ分子ガス供給源12は、プローブ分子ガス又は超偏極のプローブ分子ガスを供給できるものであれば、特に制限されない。前記乾燥器13は、例えば、KとNaとの合金であって液状化したもの、あるいは、市販の強力ガス乾燥セット(商品名 ミニファインピューラー、(株)リキッドガス社製)などが使用できる。圧力計11は、特に制限されず、例えば、デジタル圧力計又はその他の圧力計を使用できる。図1における乾燥器13のバイパスは、また、例えば、測定前のプローブ分子ガスを配管内に充満させて配管内面に付着した痕跡の水分のパージ(除去)にガス供給源12のガスを直接利用することを可能とする。
したがって、その他の態様において、本発明は、測定試料である細孔微粒子6を、気密制御が可能な試料管3内で、高真空下で加熱して前処理する工程、前記試料管3の気密状態を維持したまま、前記試料管3を核磁気共鳴装置2のNMRプローブ7内に配置する工程、前記NMRプローブ7に配置された前記試料管3にプローブ分子ガスを導入して圧力の調整を行う工程、前記試料管3を前記NMRプローブ7にセットしたまま前記プローブ分子ガスの圧力を調整し、少なくとも2点の圧力で核磁気共鳴の測定を行う工程、及び、前記核磁気共鳴装置2で測定した信号データを処理する工程、を含むガス吸着特性測定方法である。本発明のガス吸着特性測定方法は、本発明のガス吸着特性測定装置を用いて行うことができる。プローブ分子ガスを導入して圧力の調整を行う前記工程においては、上述したとおり、プローブ分子ガスとして炭酸ガス以外のものを使用する場合には、乾燥器13を通して前記プローブ分子ガス導入することが好ましい。
つぎに、本発明における前処理の方法について説明する。前処理は、上述のとおり、例えば、図2の前処理装置を用いて行うことができる。前処理における試料管内の圧力としては、例えば、10-2Pa以下であって、好ましくは、10-4Pa〜10-2Pa、より好ましくは、10-5Pa〜10-4Paである。測定試料を加熱する温度としては、例えば、300℃であって、好ましくは、300℃〜400℃、より好ましくは、400℃である。また、前記温度を加熱する時間としては、例えば、5時間以上であって、好ましくは、5時間〜8時間、より好ましくは、8時間である。前記試料管に配置する測定試料の量としては、10mg〜200mgであって、好ましくは、30mg〜150mg、より好ましくは、100mg〜150mgである。但し、この試料の量は、送受信コイルの範囲を越えない程度が好ましい。また、超偏極希ガスを用いた場合は、前記試料の量を1/10以下にすることができる。
以下に、本発明における較正用標準試料及びそれを用いたNMR信号強度の較正方法を、プローブ分子ガスとしてXeガスを使用した実施態様を用いて説明する。
NMR信号強度は、スペクトル強度であれFIDやエコー信号であれ、飽和の影響のない理想条件下で測定すれば受信コイル中の対象スピンの数に比例するので、スピン数を較正できる試料を作成しておけば、スピン数の絶対量を計測できる。Xeを用いた吸着表面積の測定では、一定量のサンプルに吸着されたXeの数を信号強度から求め、それに1個のXe原子に相当する断面積を掛けることで、吸着表面積を得ることが出来る。但し、1層吸着で表面が完全に覆われたとき、即ち被覆率θ=1のとき、の信号強度を実験結果から得る必要がある。信号強度の較正用標準試料が満たすべき条件としては、下記1)〜4)があげられる。
1)試料管を交換して測定試料と較正用標準試料を別々に測定するのではなく、較正用標準試料と測定試料とを一緒に試料管の中に入れる。同時に測定する方が、較正精度が高くなり好ましいからである。
2)較正用標準試料は、測定試料の前処理の段階でNMR試料管内に一緒に入れておき、前処理後は測定試料を空気に触れさせないで、そのままNMR測定に供する。前処理の効果を失うのを防ぐことができるからである。
3)較正用標準試料は、ガス信号(0ppm)に信号を与えないものがよい。また、測定試料の吸着信号と重ならないものがよい。測定試料の129XeNMR観察時には、Xeガスを充填しているので、通常は吸着信号の他にガス信号も観察されるため、ガス信号を較正用標準試料とすると、充填されたガス信号と重なってしまうので較正が困難となるからである。但し、後述するとおり、波形処理(例えば、デコンボルーションなど)を用いて両者の信号を明確に分離できる場合には、信号に重なりがあっても、有効に較正用標準試料として活用できる。
4)較正用標準試料のXe濃度が正確に予測できること。
以上の条件を満たす較正用標準試料としては、包接されたXeの溶液があげられる。単純にガスを溶媒に吹き込んで溶かしただけのものでは、濃度が確定せず、後述するとおり、別途、特別な方法で較正する必要がある。包接の相手であるゲスト分子としては、特に制限されないが、例えば、α−シクロデキストリンやクリプトファンA、あるいは、カリックスアレンがあげられる。カリックスアレンは、水溶液中におけるXeとの包接現象がNMRで詳しく調べられている(J.Fukutomi et al.,J.Incl.Phen.Macrocyc.Chem.,published online,2006)という点で好ましい。また、クリプトファンAは、平衡定数の大きさが3000l/mol以上という点で好ましい。したがって、本発明における較正用標準試料としては、濃度を測定したゲスト分子溶液(α‐シクロデキストリンは水、クリプトファンAは有機溶媒)にXeガスを吹き込んで一定量をガラスアンプルに封入したものがあげられる。
以下に、Xeを包接したカリックスアレンのガラスアンプル内のXe総濃度を求める一例を示す。Xeとカリックスアレン(以下の式ではCDと略記)は、1:1の包接錯体が形成されるから、Xe+CD=Xe・CDとなる。この平衡定数をKとすると、下記式[4]となり、129XeNMRの観察化学シフトδobsは、下記式[5]となるから、両式から下記式[6]が得られる。
Figure 0005076143
ここで、上記式[5]及び[6]において、δXe及びδXe・CDは、それぞれ、遊離のXe及び包接されたXeの溶液中の化学シフトである。25℃の水溶液中では、δXe=182ppm、δXe・CD=135ppmであり、[Xe]=4.37mMであるので、較正用標準試料のδobsから上記式[6]を用いて[Xe・CD]が求まり、その結果、Xeの総濃度を、[Xe]+[Xe・CD]から求めることができる。
その他の較正用標準試料の実施形態として、溶媒にプローブ分子を溶かしただけの溶液を所定量ガラスアンプルに封入したものがあげられる。このような較正用標準試料を使用する場合、予め、例えば、上記包接体の溶液の一定量と一緒にNMR試料管中に入れ、信号強度比から溶媒に溶けているプローブ分子濃度を求めるなどして、アンプル内のプローブ分子濃度を測定しておく。あるいは、このようにしてプローブ分子濃度を測定されたガラスアンプルを本発明の較正用標準試料として使用してもよい。129Xe、3He、19F、13C、15Nなどのプローブ分子に含まれる核種に対応して、適切なプローブ分子が溶解した較正用標準試料を選択して使用できる。
本発明の較正用標準試料アンプルは、さらに、ラジカル等の緩和試薬を含むことが好ましい。信号強度の正確な測定には緩和時間(T1)への配慮が必要であり、繰り返し測定の待ち時間をT1の10倍程度長くしないと飽和の影響で強度に歪みが生じる。ここで較正に用いる包接体のXeのT1が20秒程度に長いことが問題となる。そこで、ラジカル等の緩和試薬を添加することで、緩和時間を短くすることができる。包接体を用いた較正用標準試料の場合は、前記緩和試薬としては、特に制限されないが、例えば、比較的分子径の大きいニトロキシドラジカル(TEMPO、又は、3−carbamoyl−PROXYL)などがあげられる。Mn2+などの常磁性金属イオンのように包接体に取り込まれるものは不都合な場合がある。また、特定の溶媒に溶かしたXeやHeなどのプローブ分子を較正標準試料とする場合には、前記緩和試薬としては、例えば、Cr(acac)2、Fe(acac)3、Cr(dpm)3などの常磁性緩和試薬があげられる。
ガラスアンプルの形態の較正用標準試料は、前処理の段階で測定試料に加えることは困難である。なぜなら、前処理は、上述のとおり非常に高温で行われるからである。したがって、前処理段階では、例えば、前記標準試料保持部などに配置して前記アンプルが高温加熱部に入らないようにしておくことが好ましい。そして、前処理後に、試料管の気密状態を保ったまま、前記アンプルを測定試料中へ移動させることが好ましい。
本発明において、前記較正用標準試料を使用する場合、プローブ分子検出用NMRの分解能調整を行ってもよい。すなわち、前記試料管を前記NMRプローブに配置してプローブ分子ガスを導入した段階で、前記較正用標準試料中の水(溶媒)信号を用いて1H−NMRにより分解能の調整を行う。例えば、1H−NMRの水(溶媒)信号がシャープで強くなるように分解能調整用パラメータを調節する。当業者であれば、この工程により、NMRの分解能を簡単に向上させることができる。
本発明のガス吸着特性測定方法におけるデータ収集までの工程の流れの一例を図4に示す。なお、較正用標準試料を用いない場合には、*の印を付した同図のST2、4、7、11は行わなくてよい。ST10は、測定圧力点が、例えば、5〜50点、好ましくは、10〜40点、さらに好ましくは、15〜30点となるまで繰り返すことが好ましい。
プローブ分子検出用NMRの化学シフトの測定のためには、FID(自由誘導減衰)又はエコー信号データを取り込んだ後、フーリエ変換してスペクトルを得る必要がある。信号強度のみを測定する場合は、このフーリエ変換は省略し、FID又はエコー信号から信号強度を定量することが可能である。したがって、NMR分光器がフーリエ変換の機能を備えてなくても信号強度のデータのみを使用して、吸着のエンタルピーやエントロピーを評価できる。例えば、FID又はエコー信号から信号強度を得て、後述するように、前記信号強度の測定から吸着の平衡定数を評価し、その温度依存性から吸着のエンタルピーやエントロピーを評価できる。
一方、本発明においては、観察したプローブ分子の化学シフトから吸着エネルギーを評価することができる。その場合、本発明のガス吸着特性測定装置のデータ処理部及び本発明のガス吸着特性測定方法のデータ処理工程において、吸着固有化学シフトδaの温度依存性を考慮することが好ましい。具体的には、吸着系のプローブ分子の化学シフトの圧力依存性に着目し、一定温度条件下で複数の圧力におけるプローブ分子の化学シフトを測定し、後述する下記式[10]でその温度における吸着固有化学シフトδaを求める(図5のST1)。測定圧力点としては、上述のとおり、例えば、5〜50点、好ましくは、10〜40点、さらに好ましくは、15〜30点である。次に、複数の温度において、同様に吸着固有化学シフトδaを求める(図5のST2)。測定温度点としては、例えば、5〜50点、好ましくは、10〜40点、さらに好ましくは、15〜30点である。そして、δaの温度依存性を、例えば、δa(T)=aT+b(Tは温度、a,bは定数)などのような式で表す(図5のST3)。これにより、例えば、吸着固有化学シフトδaの温度依存性を考慮した上で吸着エネルギーを評価することが可能となる。なお、δaの温度依存性の式は、一次式に限定されない。
プローブ分子の化学シフトの圧力依存性の解析から吸着固有化学シフトδaを求める方法における基本式である下記式[10]の誘導は、以下のとおりである。なお、以下では、プローブ分子として129Xeを使用した態様で説明する。
細孔内でXe原子が、図6に示すように、ガス状(V)と細孔表面の吸着状態(a)との間で早い平衡関係がある場合、観察化学シフトδobsは、下記式[7]のように、両状態の固有化学シフトの加重平均として与えられる。同式において、nは両状態にあるスピン(Xe)の数を表し、δfはガス状のXeの固有化学シフトを表す。下記式[7]から下記式[8]が導かれる。下記式[8]において、ρはXeの濃度を表し、Vはガス相の容積を表し、Aは吸着表面積を表し、DXeはXe原子の直径を表す。下記式[8]の右辺の最後の等号は、ρv/ρa=K、及び、(V−ADXe)/ADXe=Cと置いて得られたものであり、Cは、細孔の幾何学因子を表す。Kは、ガス相と吸着相との間のXeの濃度比であり、分配係数(Henry定数)に相当する。下記式[8]の対数をとり、圧力Pで微分すると、下記式[9]が得られる。このとき、吸着エネルギーが、ΔE=−RTlnKであり、その微分圧力が、容積変化ΔVであること(dΔE/dP=ΔV)を利用した。下記式[9]を積分して指数をとることにより、下記式[10]が得られる。このとき、ガス相の化学シフトの基準として、δf=0とした。また、constは、積分のときの定数を表す。
Figure 0005076143
なお、参考までに、上記式[8]の対数をとり、温度1/Tで微分すると、上記式[2]が得られる。上記式[2]を積分して指数をとり、δf=0と置いて変形すると、下記式[11]となり、ΔE=−ΔHとすると(ΔHは吸着熱で符号は正)、上記式[1]が得られる。但し、[1]式では分母の指数の前にT-1/2が付いている。これは[1]式の誘導の中で、Henry定数の温度依存性をK=K0ΔH/RT/T1/2の形で表したことによるものであり、より簡単な形でK=K0ΔH/RTと表すとT-1/2は省略される。
Figure 0005076143
吸着固有化学シフトδaの温度依存性を考慮して吸着エネルギーを求める工程の一例を図5に示す。上述のようにして温度依存化学シフトデータδobs及びδa(T)=aT+bを得た後(図5のST1〜ST3)、上記式[2]を適用してΔEを導出し(図5のST4)、及び/又は、上記式[1]を適用してΔHを導出することができる(図5のST5)。具体的には、上記式[2]を適用する場合、[2]式を積分し、ガス状態の化学シフトδf=0とした下記式[2’]を利用し、左辺の値を1/Tに対してプロットした傾斜からΔEを求めることができる。また、上記式[1]を適用する場合、[1]式を変形した下記式[1’]を利用し、左辺の値を1/Tに対してプロットした傾斜からΔHを求めることができる。
Figure 0005076143
吸着エネルギーを求める基本式には、上述したHenry(ヘンリー)型吸着式(上記式[2])の他、DR解析や、Langmuir(ラングミュア)型吸着式を利用することができる。DR解析は細孔に埋め込み型で吸着が起こるとするモデルであり、Langmuir型は平面的な吸着面に飽和形で吸着が進行するモデル、また、Henry型はHenryの法則で代表されるようにガス濃度に比例した吸着が起こるとするモデルである。この他、平面的に多層吸着が起こるとするBET型の吸着モデルがある。これらのモデルをNMRに適用する場合、吸着量の相対的変化は吸着ピークの信号強度変化に置き換えることができるが、飽和などの強度データをひずませる要因を避けた条件下での測定が必須である。一方、吸着ピークの化学シフトは、ピーク面積より高精度で測定できるので、化学シフトデータをこれらの吸着モデルに適用する方法が確立されれば、そのメリットは非常に大きい。超偏極希ガスを用いることにより、化学シフトが高感度で迅速に測定できるので、この点でも化学シフトからの解析法の確立の意義は大きい。後述する実施例では、BET型以外の上記3つのモデルに適用させた例を示す。また、較正用標準試料から得た較正用データを用いたデータ吸着表面積の評価方法についても、後述の実施例で説明する。しかしながら、本発明のガス吸着特性測定装置のデータ処理部及び本発明のガス吸着特性測定方法のデータ処理工程において、化学シフトデータ、信号強度データ、及び、較正用データの処理方法は、これらに制限されず、当業者であれば、これら以外の公知の処理方法を適用でき、必要に応じて前記データ処理部用のプログラムとすることができる。
本発明は、例えば、細孔微粒子を含む製品の開発や製造の段階で、その製品の細孔表面特性の解析や評価に利用できる。例えば、パウダー化粧品の肌触り、白さ、輝きなどの特性を改良する場合、細孔表面特性を分析して比較することにより、改良の指針が得られる場合がある。また、例えば、ゼオライト工業においても、触媒や反応媒介として新たに開発した製品の特性解析に応用でき、さらなる開発を促進できる。さらに、製造段階においても、例えば、製品の品質確認に使用できる。したがって、本発明は、さらにその他の態様において、本発明のガス吸着特性測定装置、及び/又は、本発明のガス吸着特性測定方法を用い、細孔微粒子のガス吸着特性を測定する工程を含む細孔微粒子を含む製品の製造方法である。前記細孔微粒子を含む製品としては、特に制限されず、例えば、化粧品、触媒、脱臭剤や化学センサーなどの化学吸着剤などがあげられる。
以下、実施例を用いて本発明をさらに説明する。なお、下記実施例では、Xeガスを用いているが、本発明においてプローブ分子ガスは、Xeガスに限定されない。
(前処理後に試料を空気にさらすことの影響の確認・1)
約100mgのゼオライト試料(商品名:ゼオラムF9、東ソー(株)製)を外径10mmの試料管に一定量を測りとり、真空に接続し10-3Paより高真空下で2〜3時間かけてゆっくり300℃まで昇温させ、300℃に8時間保って前処理した。この試料を129XeNMR測定した結果、図7Aのような化学シフトが得られた。次に、上記条件で前処理したゼオライト試料を、較正用標準試料が入った別の試料管に移し替え、室温で3時間、10-3Paの高真空に保持した後、129XeNMR測定した。その結果を図7Bに示す。図7Bに示すとおり、高真空、高温下での前処理の後に試料の詰め替えを行った場合、その後、室温で前処理をしても、ピークの分裂と15ppm以上のピークのズレが観察された。なお、図7Bの145.2ppmのシャープな信号は、較正用に包接されたXeの信号である。
(前処理後に試料を空気にさらすことの影響の確認・2)
約100mgのZSM−5試料(日本触媒学会参照試料;JRC−Z5−70Na)を外径10mmの試料管に一定量を測りとり、真空に接続し10-3Paより高真空下で300℃に8時間保って前処理した。この試料を129XeNMR測定した結果、図8Aのような化学シフトが得られた。次に、上記条件で前処理したZSM−5試料を、較正用標準試料が入った別の試料管に移し替え、室温で3時間、10-3Paの高真空に保持した後、129XeNMR測定した。その結果を図8Bに示す。図8Bに示すとおり、高真空、高温下での前処理の後に試料の詰め替えを行った場合、その後、室温で前処理をしても、ピークの分裂は見られなかったが、18ppm程度のピークのズレが観察された。なお、図8Bの145.2ppmのシャープな信号は、較正用に包接されたXeの信号である。
129XeNMRによる吸着表面積の測定)
測定対象試料(商品名:CBV5524G、Zeolyst社製)を、外径10mmの試料管3(図3参照)に12mgを測りとり、試料管3の標準試料保持部41に較正用標準試料アンプル40を配置した後、図2の前処理装置30において、高真空排気部32に接続し10-3Paより高真空下で300℃に8時間保って前処理した。前記較正用標準試料アンプルとして、Xeを包接した0.11Mのカリックスアレン水溶液を含むアンプル、及び、前記水溶液にさらに代表的な安定ニトロキシヒドロラジカルであるTEMPO(2,2,6,6−tetramethylpiperidine 1−oxyl)が2.4μMとなるように添加されたアンプルを使用した。前記前処理により、通常、2〜3%程度の水が液体窒素トラップに回収される。コック9を操作して気密性を確保した後、ジョイント18をはずし、試料管3を傾け上部の較正用標準試料40を底部の試料6の中に誘導し埋没させた。次に、試料管3を、図1に示すように、本発明のガス吸着特性測定装置1の圧力調整部4へジョイント18を介して接続し、NMRプローブ7内にセットした。圧力調整部4は、コック9までの間を真空に引いてXeガスでパージし、配管中のガラス管表面に付着した水分などは十分除いておいた。コック操作によりXeガスを試料管3に導入し圧力を調整した。また、NMRプローブ7の温度調整部により試料管3の温度を調節した。さらに、較正用標準試料中の水信号を用いて1H−NMR測定をし、NMR分解能を調節した。具体的には、1H−NMRの水信号がシャープで強くなるように分解能調節用パラメータを調節した。この操作により、分解能が容易に向上した。
測定温度25℃における前記測定試料の信号強度対圧力データS(P)の結果の一例を図9のグラフに示す。同グラフにおいて、横軸は圧力(atm)、縦軸は信号強度(吸着ピーク面積)(任意単位)である。さらに、温度25℃、圧力0.62atmにおける前記測定試料と較正用標準試料の129XeNMRスペクトルの一例を図10に示す。このときのNMR測定条件は、SW=25kHz,at=0.4sec,d1=50sec,1296fids,np=20k点、fn=64k点、であった。また、較正標準試料の測定から得られたデータ;S(PCA)/Sstd、すなわち、S(0.62atm)/Sstdは、図5の吸着ピーク(135.3ppm)と包接化合物の較正ピーク(145.2ppm)の面積比から算出され、7.05であった。また、S(0.62atm)は、図9に示すとおり、2.7×10-5であった。
図9のような高圧力側で飽和に達するような曲線(いわゆる、Langmuir型の吸着特性)が得られる場合、これらのデータからの吸着表面積の評価は、図11に示すような方法で行うことができる。
まず、1層吸着が完全に起こった時(被覆率θ=1の時)の信号強度を求める(図11のST1)。なお、高圧力側で飽和型の一定値が観察される場合は、図11のST1に替えてその値を用いてもよい。一般には、図9のような飽和に達する途中の曲線が得られる。このタイプの曲線はLangmuir型の吸着特性として解析できる。即ち、Sを圧力PのときのNMR信号強度(面積)とし、Sを完全被覆のときの信号強度とすると、θ=S/Sであり、下記式[12]を得る。即ち、P/SをPに対してプロットすると吸着平衡定数Kと完全被覆の信号強度Sが求められる。
Figure 0005076143
次に、Sから吸着表面積を求めるには、較正用試料の信号強度Sstdを用いて行う(図11のST2)。S/Sstd=n/nstdであり(nはXeのモル数)、nstd=Cstdstd(Cstdは較正溶液のXe濃度、Vstdはアンプル中の較正溶液の容積)、上記式[6]式からCstd=[Xe]+[Xe・CD]であるので、nを求めることができる。吸着表面積は試料量当たりnXeとして計算される。ここでSXeはXe1モル当たりの占有面積で、0.25nm2×アボガドロ数の値をとる。すなわち、Wsampleを測定試料の質量として、単位質量当たりの吸着表面積Aを下記式[19]から求めることができる。
A=(S/Sstd)CstdstdXe/Wsample [19]
上記のように測定試料の吸着表面積を評価した結果、S(0.62atm)/S(CA)=7.05、S(0.62atm)/S=0.79、試料量=12mgより、吸着表面積は、317m2/gとなった。この結果は、仕様値である420m2/gと近い値であった。
なお、較正用標準試料アンプル内の包接XeのT1は、ラジカル添加前が15.6±2.4秒であったのに対して、2.4μMのTEMPO添加後は4.3±0.9秒となった。したがって、T1の10倍を目安として50秒毎の信号積算が実現され、緩和試剤添加の有効性が確認された。
ここで、超偏極129Xeガスを用いる場合、信号強度が偏極率に大きく左右されるので信号強度の定量的考察は困難である。しかしながら、超偏極Xeガスを用いた場合でも、較正用標準試料を含んだ状態で、1つの圧力及び熱平衡条件下で信号強度測定をすればSを求めることは出来る。即ち、超偏極Xeガスを用いた化学シフトの測定から求めた吸着平衡定数Kを利用すれば良い。この場合は、熱平衡希ガスについて1つの圧力で較正用標準試料併存のもとに信号強度測定を行えば、Sが求められ吸着表面積が求められる。
129Xe化学シフトの圧力依存性からの吸着固有化学シフトδaの決定、及び、吸着固有化学シフトδaの温度依存性を考慮した吸着エネルギーの評価)
129XeNMRから得られた化学シフト対圧力データδobs(P)に基づき、図5に示す方法により、吸着固有シフトδaを求め、温度依存性を評価し、その情報に基づき吸着エネルギーを評価した。
較正用標準試料アンプルを用いない他は実施例2と同様にして、様々な温度で化学シフト対圧力データδobs(P)を得た。その結果の一例を図12に示す。同図のグラフにおいて横軸は圧力(atm)であり、縦軸は化学シフト(ppm)である。測定温度は、*が−50℃であり、×が−25℃であり、△が0℃であり、■が25℃であり、◆が50℃である。それぞれの温度において、上記式[10]を用いて最小二乗法で解析してδaを求めた。前記解析には、市販のソフトウエアを利用した(商品名;ORIGIN、LightStone社製)。その結果を下記表1に示す。
Figure 0005076143
室温でのδaは146ppmであり、文献[I.L.Moudrakovski et al.,J.Phys.Chem.,B,106,5938−5946,2002]のメソポーラスシリカPNNLについて180Kで報告された値に近い。但し、同文献ではδaの温度依存性は考慮してないので詳しい比較は困難である。ここで観察した吸着固有シフトが温度の低下にしたがって低磁場シフトすることは、水素結合や電荷移動相互作用する系での1H化学シフトの温度依存性と同じ傾向であり、妥当な結果である。
273K〜343Kまでの8点で求めた吸着ピークの化学シフトδobsをプロットした一例が、図13である。同図のグラフは、横軸が温度(K)であり、縦軸が吸着ピークの化学シフトδobs(ppm)である。上記表1において、0℃(273K)以上の高温側の範囲から、δa=−0.36T+253.3のような温度依存性の一次式が得られた。この式を用いて、図5のST4及びST5を行い、それぞれ、ΔE及びΔHを求めた結果を下記表2及び図14A及びBに示す。同表2には、δa=243ppmとする従来の方法で求めた結果を併せて示す。下記表2及び図14A及びBに示すとおり、0℃(273K)以上においては、δaの温度依存性を考慮することにより、吸着エネルギーとして30kJ/mol程度の妥当な値が求められることを確認した。
Figure 0005076143
(DR解析による吸着エネルギーの導出)
Dubinin−Radushkevich解析(DR解析)はいわゆる埋め込み型で吸着が起こることを想定したモデルであり、吸着状態では細孔内でエネルギーがβE0だけ安定化すると考える。βは吸着媒に特有の値をとり、Xeでは0.5である。waを圧力Pのときの吸着量、w0を飽和吸着量としその時の相当圧力をPeqとする。この時、下記式[13]が、DR式となる。
Figure 0005076143
129XeNMRから得られた信号強度対圧力データS(P)を用いる場合、上記式に、S/S=wa/w0を当てはめることで、吸着エネルギー相当のβE0を求めることができる(図15のST1)。また、この時、Sを同時に得ることができるから、上記式[19]に基づき、吸着表面積を得ることができる(図15のST2)。
他方、129XeNMRから得られた化学シフト対圧力データδobs(P)を用いてDR解析を用いる場合、基本式の設定が必要である。そこで、wa/w0が、吸着サイトの飽和量に対する実際の吸着量の比を表すことに注目し、δobsをwa/w0のビリアル展開型で表し、下記式[14]を得て、これと上記式[13]により吸着エネルギー相当のβE0を求めることができる(図16のST1)。
Figure 0005076143
そして、DR解析では、温度一定条件は不要である。温度と圧力は相互に可変であり、温度を変えることなく吸着エネルギー相当のβE0が求まる。また、βE0と下記式[15]とから等量吸着熱qstが得られる(図15のST3、及び、図16のST2)。下記式[15]において、ΔHVは、Xeの蒸発熱である(12.6 kJ/mol)。
Figure 0005076143
実施例2で得られた信号強度対圧力データS(P)及び化学シフト対圧力データδobs(P)を用いて、それぞれ、図15及び図16の方法で解析した結果の一例を下記表3に示す。
Figure 0005076143
(Langmuir型解析の適用)
Langmuir型の吸着式はガス相から平板に近い表面に吸着が起こる場合を考えて導かれた式である。しかし、ゼオライトのように細いシリンダー状の細孔に吸着される場合でも、バルクのガス相とシリンダー状細孔内のスピンの間に平衡関係が成り立っていれば、即ちバルク相と細孔内とがNMR化学シフト差に比べれば交換速度は遅く両者の信号は分離観察できるが、化学平衡としてはダイナミックな平衡状態にあると考えられる場合には、Langmuir型の吸着等温式が適用できる。これは吸着等温式の分類でI型に属すると言える。
129XeNMRから得られた信号強度対圧力データS(P)を用いる場合、上記式[12]による解析から吸着平衡定数Kが求まるので(図17のST1、ST2)、下記式[20]からΔH(吸着エンタルピー)とΔS(吸着エントロピー)とを求めることができる(図17のST3)。
Figure 0005076143
他方、129XeNMRから得られた化学シフト対圧力データδobs(P)を用いる場合、特別の関係式の選定が必要である。そこで、吸着の化学シフトをθ(被覆率)を用いて下記式[16]〜[18]のように表すことで、吸着平衡定数Kが求めることができる(図18のST1)。あとは、信号強度対圧力データS(P)を用いる場合と同様にして(ΔH(吸着エンタルピー)とΔS(吸着エントロピー)とを求めることができる(図18のST2、ST3)。
θ=KP/(1+KP) [16]
θ=S/S [17]
δobs=δa0+F1θ+F2θ2+F3θ3+・・・ [18]
実施例2で得られた信号強度対圧力データS(P)及び化学シフト対圧力データδobs(P)を用いて、それぞれ、図17及び図18の方法で解析した結果の一例を下記表4に示す。なお、上記式[18]では、F1までを求めて、F2以降は0とした。
Figure 0005076143
なお、上記信号強度から[17]式を利用して解析すると、K/atm-1=3.72(323K),7.04(298K),15.8(273K),106.6(248K),210.6(223K)であり、ΔH=−25.9kJ/molとΔS=−70J/(K・mol)が得られた。
以上説明したとおり、本発明は、例えば、核磁気共鳴装置の分野、細孔微粒子の研究分野、及び、細孔微粒子を使用した工業的な製品の開発及び製造の分野などで有用である。
図1は、本発明の細孔微粒子のガス吸着特性測定装置の一例を示す模式図である。 図2は、本発明の前処理装置の一例を示す模式図である。 図3は、本発明に用いる試料管の一例を示す模式図である。 図4は、本発明のガス吸着特性測定方法におけるプローブ分子検出用NMRの測定工程の一例を示す。 図5は、吸着固有化学シフトδaの温度依存性を考慮して吸着エネルギーを評価するデータ処理方法の一例を示す。 図6は、Xeガスの吸着平衡状態を説明する模式図である。 図7は、試料と空気との接触が化学シフトに及ぼす影響を示す一例である。 図8は、試料と空気との接触が化学シフトに及ぼす影響を示すその他の例である。 図9は、129XeNMR測定で得られた吸着ピーク面積(信号強度)の圧力依存性を示すグラフの一例である。 図10は、測定試料と較正用標準試料の129XeNMRスペクトルの一例である。 図11は、信号強度対圧力データS(P)から吸着表面積を評価するデータ処理方法の一例を示す。 図12は、129Xe吸着化学シフトの圧力と温度に対する依存性を示すグラフの一例である。 図13は、吸着ピークの化学シフトδobsの温度依存性を示すグラフの一例である。 図14は、吸着固有化学シフトδaの温度依存性を考慮して吸着エネルギーを求めた結果の一例である。 図15は、DR解析により信号強度対圧力データS(P)から吸着表面積及び吸着エネルギーを評価するデータ処理方法の一例を示す。 図16は、DR解析により化学シフト対圧力データδobs(P)から吸着エネルギーを評価するデータ処理方法の一例を示す。 図17は、Langmuir型解析により信号強度対圧力データS(P)から吸着エネルギーを評価するデータ処理方法の一例を示す。 図18は、Langmuir型解析により化学シフト対圧力データδobs(P)から吸着エネルギーを評価するデータ処理方法の一例を示す。
符号の説明
1・・ガス吸着特性測定装置
2・・核磁気共鳴装置
3・・試料管
4・・圧力調整部
5・・NMRマグネット
6・・測定試料
7・・NMRプローブ
8・・NMR分光器
9・・耐高真空コック
10・・管
11・・圧力計
12・・プローブ分子ガス供給源
13・・乾燥器
14・・真空排気系
15・・データ処理部
16・・制御部
17,18・・耐高真空ジョイント
19〜23・・コック
30・・前処理装置
31・・ヒーター
32・・高真空排気部
33・・冷却部
34・・液溜め
35,36・・耐高真空コック
37・・高真空排気系
40・・較正用標準試料アンプル
41・・標準試料保持部
42・・接続部
43・・先端部

Claims (13)

  1. 細孔微粒子のガス吸着特性測定装置であって、
    一定の磁場を発生するNMRマグネット、測定試料である細孔微粒子が含まれる試料管をその内部に配置可能であり前記測定試料への信号の送信と前記測定試料からの信号の受信とを行うNMRプローブ、及び、前記NMRプローブが受信した信号を測定するNMR分光器を含む核磁気共鳴装置と、
    耐高真空コックを備える管に接続され気密制御が可能な前記試料管と、
    前記NMRプローブ内に配置された前記試料管内の圧力制御を行う圧力調整部とを含み、
    前記NMRプローブが、その内部に配置された前記試料管内の温度を制御する温度調整部を備え、
    前記圧力調整部が、圧力計、プローブ分子ガス供給源、及び、真空排気系を含み、
    前記NMRプローブ内に配置された前記試料管が、前記耐高真空コックを介して前記圧力調整部と接続可能であること特徴とするガス吸着特性測定装置。
  2. さらに、前記測定試料の前処理装置を含み、前記前処理装置が、前記試料管をその内部に配置可能なヒーター、及び、前記耐高真空コックを介して前記試料管と接続可能な高真空排気部を含む請求項1記載のガス吸着特性測定装置。
  3. 前記試料管が、較正用標準試料を配置できる標準試料保持部を、その内部の前記測定試料から空間的に分離した位置に備える請求項1又は2記載のガス吸着特性測定装置。
  4. さらに、制御部を含み、前記制御部が、前記温度調整部及び前記圧力調整部を制御して前記NMRプローブ内に配置された状態の前記試料管内の温度及び圧力を制御する請求項1から3のいずれか一項に記載のガス吸着特性測定装置。
  5. さらに、前記NMR分光器が測定した信号データを処理するデータ処理部を含み、前記データ処理部が、
    一定温度T1、複数の圧力条件下で測定された化学シフト対圧力データδobs(P)と下記式[10]とに基づき最小二乗法で演算し、温度T1における吸着固有化学シフトδa(T1)を得るステップ、
    前記ステップと同様にして、前記T1とは異なる少なくとも4点の温度T2〜T5におけるδa(T2)〜δa(T5)を得るステップ、及び、
    前記δa(T1)〜δa(T5)を含む少なくとも5点の吸着固有化学シフトδaに基づき吸着固有化学シフトδaの温度の一次関数;δa(T)=aT+b(a、bは定数)を得るステップを含む処理を行う請求項1から4のいずれか一項に記載のガス吸着特性測定装置。
    Figure 0005076143
    (上記式[10]中、constは、積分のときの定数を表す。)
  6. さらに、前記NMR分光器が測定した信号データを処理するデータ処理部を含み、前記データ処理部が、
    任意の温度、複数の圧力条件下で測定された化学シフト対圧力データδobs(P)と下記式[13]及び[14]とに基づき演算し、吸着エネルギーに相当するβE0を得るステップを含む処理を行う請求項1から5のいずれか一項に記載のガス吸着特性測定装置。
    Figure 0005076143
    (上記式[13]、[14]中、waは圧力Pのときの吸着量を表し、w0は飽和吸着量を表し、Peqはその時の相当圧力を表す。)
  7. さらに、前記NMR分光器が測定した信号データを処理するデータ処理部を含み、前記データ処理部が、
    一定温度、複数の圧力条件下で測定された信号強度対圧力データS(P)と下記式[12]とに基づき最小二乗法で演算して完全被覆のときの信号強度Sを得るステップ、及び、前記Sと前記標準試料から測定された較正データであるS(PCA)/Sstdと下記式[19’]とに基づき演算して単位質量当たりの吸着表面積Aを得るステップを含む処理を行う請求項3から6のいずれか一項に記載のガス吸着特性測定装置。
    Figure 0005076143
    (上記式[19’]中、Cstdは前記標準試料中のプローブ分子濃度を表し、Vstdは前記標準試料の容積を表し、SPrは1モルのプローブ分子相当の表面積を表し、Wsampleは測定試料の質量を表す。)
  8. さらに、前記NMR分光器が測定した信号データを処理するデータ処理部を含み、前記データ処理部が、
    任意の温度、複数の圧力条件下で測定された信号強度対圧力データS(P)と、下記式[13]においてwa/w0をS(P)/Sに置き換えた式とに基づき最小二乗法で演算して吸着エネルギーに相当するβE0及び完全被覆のときの信号強度Sを得るステップ、及び、前記Sと前記標準試料から測定された較正データであるS(PCA)/Sstdと下記式[19’]とに基づき演算して単位質量当たりの吸着表面積Aを得るステップを含む処理を行う請求項3から7のいずれか一項に記載のガス吸着特性測定装置。
    Figure 0005076143
    (上記式[13]中、waは圧力Pのときの吸着量を表し、w0は飽和吸着量を表し、Peqはその時の相当圧力を表す。また、上記式[19’]中、Cstdは前記標準試料中のプローブ分子濃度を表し、Vstdは前記標準試料の容積を表し、SPrは1モルのプローブ分子相当の表面積を表し、Wsampleは測定試料の質量を表す。)
  9. 細孔微粒子のガス吸着特性測定方法であって、
    測定試料である細孔微粒子を、気密制御が可能な試料管内で、高真空下で加熱して前処理する工程と、
    前記試料管の気密状態を維持したまま、前記試料管を核磁気共鳴装置のNMRプローブ内に配置する工程と、
    前記NMRプローブに配置された前記試料管にプローブ分子ガスを導入して圧力の調整を行う工程と、
    前記試料管を前記NMRプローブにセットしたまま前記プローブ分子ガスの圧力を調整し、少なくとも2点の圧力で核磁気共鳴の測定を行う工程と、
    前記核磁気共鳴装置で測定した信号データを処理する工程とを含むことを特徴とするガス吸着特性測定方法。
  10. 前記前処理工程の前に、前記前処理工程で直接加熱されない前記試料管内の部位に、較正用標準試料を配置する工程と、
    前記前処理工程後、前記試料管を前記NMRプローブ内に配置する工程の前に、前記試料管の気密状態を維持したまま、前記標準試料を前記測定試料と同じ部位に移動させる工程とを含む請求項9記載のガス吸着特性測定方法。
  11. 前記較正用標準試料が、プローブ分子、及び、既知濃度の包接化合物を含む溶液のアンプルである請求項9又は10記載のガス吸着特性測定方法。
  12. 前記信号データの処理工程が、請求項5から8のいずれか一項に記載のガス吸着特性測定装置のデータ処理部におけるデータ処理ステップを行う工程である請求項9から11のいずれか一項に記載のガス吸着特性測定方法。
  13. 細孔微粒子を含む製品の製造方法であって、請求項1から8のいずれか一項に記載のガス吸着特性測定装置、又は、請求項9から12のいずれか一項に記載のガス吸着特性測定方法を用いて前記細孔微粒子のガス吸着特性を測定する工程を含む製造方法。
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