JP5055776B2 - Deposition equipment - Google Patents

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本発明は、処理基板をキャリアに搭載した状態で、インラインで、キャリアごと搬送しながら、該処理基板の一面側に成膜を施す成膜装置に関し、特に、大気と真空を繰り返すローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーにおいて、排気、あるいは、給気の際に、粉塵が巻き上がるのを防止できる成膜装置に関する。   The present invention relates to a film forming apparatus for forming a film on one surface side of a processing substrate while carrying the entire substrate in-line with the processing substrate mounted on the carrier, and in particular, a loading chamber that repeats air and vacuum and / or The present invention relates to a film forming apparatus capable of preventing dust from being rolled up during exhaust or supply of air in an unloading chamber.

近年、情報化社会への進展が著しく、ディスプレイ装置の使用も多様化し、種々のディスプレイ装置が開発、実用化されている。
特に、液晶表示装置は、CRT(Cathode−Ray Tube、ブラウン管) に代わり、広く普及されるようになってきた。
液晶表示装置用のカラー表示用の液晶パネルは、簡単には、バックライトからの光が各色の着色層を通過して表示されるが、各色の着色層を通過する光は、画素毎に液晶をスイッチング素子としてオン−オフ制御されている。
そして、この画素毎に液晶をスイッチング素子としてオン−オフ制御するための制御用電極の材質としては、従来から、透明導電性のITO膜(錫をドープしたインジウム酸化物)が用いられている。
ITO膜の成膜方法としては、ITO焼結体をターゲットとし、所定のスパッタリング条件の下で基板上にITOをスパッタリングすることにより、所望のITO膜を形成する方法が、特開平6−24826号公報(特許文献1)、特開平6−247765号公報(特許文献2)等にて知られている。
特開平6−24826号公報 特開平6−247765号公報
In recent years, progress toward an information society has been remarkable, and the use of display devices has been diversified, and various display devices have been developed and put into practical use.
In particular, liquid crystal display devices have been widely used in place of CRT (Cathode-Ray Tube, CRT).
In a liquid crystal panel for color display for a liquid crystal display device, light from a backlight is displayed through a colored layer of each color, but the light passing through the colored layer of each color is liquid crystal for each pixel. Are controlled on and off as switching elements.
A transparent conductive ITO film (indium oxide doped with tin) has been conventionally used as a material for a control electrode for on-off control using a liquid crystal as a switching element for each pixel.
As a method for forming an ITO film, a method for forming a desired ITO film by sputtering an ITO on a substrate under a predetermined sputtering condition using an ITO sintered body as a target is disclosed in JP-A-6-24826. It is known in Japanese Patent Publication (Patent Document 1), Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-247765 (Patent Document 2), and the like.
Japanese Patent Laid-Open No. 6-24826 JP-A-6-247765

生産性向上の面、低コスト化の面等から、面付け生産が行われているが、これに用いられる透明なガラス基板の大型化の要求は強く、最近では、G6世代(1800mm×1500mmサイズ)サイズの大サイズのガラス基板での量産化が現実のものとなってきている。
そして、生産性の面から、このような、大サイズのガラス基板を用いた処理基板へのITO膜の成膜をインラインで行う、図5(a)にその概略構成配置図を示すような、インラインITOスパッタ成膜装置も提案されている。
ここに示すスパッタ装置においては、図5(b)に示すように、大サイズのガラス基板をベース基板とする処理基板863を、キャリア860に搭載して鉛直方向892に立てた状態で、インラインで、搬送しながらスパッタ処理を行い、処理基板863の一面側に電極用のITO膜をスパッタ成膜する。
簡単には、処理基板863は、ローディングチャンバー811に投入され、予備チャンバー812を経て、第1のスパッタチャンバー883に投入され、搬送されながらスパッタ処理され、回転処理部820に搬入され、ここで、回転部によりキャリアごと180度回転され、向きを変え、第2のスパッタチャンバー833に投入され、搬送されながらスパッタ処理される。
そして、スパッタ後、予備チャンバー832、アンローディングチャンバー831を経て搬出される。
ここでは、図5(b)に示すように、キャリア(基板ホルダ−とも言う)860と呼ばれる、処理基板863を保持するための枠体861を有するサポート部材に、処理基板863を載せた状態で、キャリア860ごと立てた状態で搬送する。
キャリア860は、枠体861に、順に、処理基板863、裏板861を嵌め込み、処理基板863を保持する処理基板保持部101を備えたものであり、処理基板863は、鉛直方向892に沿うように立てた状態でキャリア860の処理基板保持部101にはめ込まれている。
そして、図5(a)に示すように、処理基板863は、処理基板保持部101ごとキャリア860に搭載されて、水平方向891に搬送され、鉛直方向892に沿うように立てた状態で、ターゲット871と平行にして対向させてスパッタが行われる。
尚、図5(a)中、点線矢印は、キャリア860の搬送方向を示している。
図示していないが、ここでのスパッタ方式は、ターゲット871の裏面側(処理基板863側とは反対の側)に、外側磁極と内側磁極の間で磁場が閉じるように設計し、発生したプラズマをターゲット871近傍のみに存在するようにしているマグネトロンスパッタ方式のものである。
大サイズの処理基板として、例えば、大サイズの透明なガラス基板の一面側に各色の着色層をカラーフィルタ(以下、CFとも言う)として形成したカラーフィルタ形成基板を処理基板が挙げられ、この処理基板のCF形成面側に、電極用のITO膜を成膜する。
Impositional production is carried out from the viewpoint of productivity improvement and cost reduction, but there is a strong demand for enlargement of the transparent glass substrate used for this, and recently, the G6 generation (1800 mm x 1500 mm size) ) Mass production with large glass substrates is becoming a reality.
And, from the viewpoint of productivity, in-line deposition of the ITO film on the processing substrate using such a large glass substrate is performed in-line, as shown in FIG. An inline ITO sputter deposition apparatus has also been proposed.
In the sputtering apparatus shown here, as shown in FIG. 5B, a processing substrate 863 having a large glass substrate as a base substrate is mounted on a carrier 860 and placed in a vertical direction 892 in-line. Then, sputtering is performed while being conveyed, and an ITO film for electrodes is formed on one surface side of the processing substrate 863 by sputtering.
Briefly, the processing substrate 863 is put into the loading chamber 811, passed through the preliminary chamber 812, put into the first sputter chamber 883, sputtered while being transported, and carried into the rotation processing unit 820, where Each carrier is rotated 180 degrees by the rotating unit, the direction is changed, and the carrier is put into the second sputtering chamber 833 and sputtered while being conveyed.
Then, after sputtering, the material is unloaded through the preliminary chamber 832 and the unloading chamber 831.
Here, as shown in FIG. 5B, the processing substrate 863 is placed on a support member called a carrier (also referred to as a substrate holder) 860 having a frame body 861 for holding the processing substrate 863. Then, the carrier 860 is conveyed in a standing state.
The carrier 860 includes a processing substrate holding portion 101 that holds the processing substrate 863 in order by fitting the processing substrate 863 and the back plate 861 into the frame 861, and the processing substrate 863 is arranged along the vertical direction 892. The carrier 860 is fitted into the processing substrate holding part 101 in a state where it stands upright.
Then, as shown in FIG. 5A, the processing substrate 863 is mounted on the carrier 860 together with the processing substrate holding unit 101, is transported in the horizontal direction 891, and stands in the vertical direction 892. Sputtering is performed parallel to 871 and facing.
In FIG. 5A, a dotted arrow indicates the conveyance direction of the carrier 860.
Although not shown, the sputtering method here is designed so that the magnetic field is closed between the outer magnetic pole and the inner magnetic pole on the back side of the target 871 (the side opposite to the processing substrate 863 side). Is of a magnetron sputtering method, so that it exists only in the vicinity of the target 871.
An example of a large-size processing substrate is a color filter-formed substrate in which a colored layer of each color is formed as a color filter (hereinafter also referred to as CF) on one surface side of a large-size transparent glass substrate. An ITO film for electrodes is formed on the CF forming surface side of the substrate.

図5(b)に示すキャリア860には、図示していない駆動用モーター(キャリア側のものではない)からの駆動力を歯車(図示していない)との噛み合わせで伝える溝を切った溝形成部868がその下部に設けられており、更に、歯車による磨耗を極力抑えるために、キャリア860の溝形成部868の進行方向両側、下側に平坦部を有する搬送支持レール866、867が、キャリアの荷重を支えるために設けられており、本体側にある前記の歯車とは異なるボビンのような回転体869にキャリア側の搬送支持レール866、868の平坦部が乗っかるようになっている。
キャリア860は、その下側に設けられた搬送支持レール866、867に保持されながら、溝形成部868にて駆動用モーターからの駆動力を歯車の噛み合わせで受けて、搬送される。
G6世代では、スパッタ処理する処理基板863とキャリ860アを併せた重量は100kg程度となるため、どうしても磨耗が発生するためこのように、できるだけ、前記溝形成部200と歯車との嵌合を少なくしている。
尚、キャリア860の材質としては重量の面、剛性の面から、Tiが好ましく用いられる。
スパッタリングは、Arガス雰囲気中、10-3torr〜10-2torr圧下で、プレート状にされた、成膜する膜組成のITOをターゲットとして用いて行う。
この場合、CFを形成する着色層の耐熱性(CFからの脱ガス)の面から、低温で成膜を行うことが求められている。
尚、このような、マグネトロンスパッタ方式で、低温スパッタには、例えば、In2 3 、90w%+SnO2 、10w%組成の焼結したターゲット材を、厚さ8mm〜15mmとして用いる。
例えば、ターゲットとしては、Cuプレートをバッキング材として、インジウム半田を接着層とし、つなぎ目は斜めにして、多数枚の焼結ターゲット材をつなぎ合わせている。
The carrier 860 shown in FIG. 5B has a groove in which a groove for transmitting a driving force from a driving motor (not shown on the carrier side) (not shown) is engaged with a gear (not shown). A forming portion 868 is provided at the lower portion thereof, and in order to suppress wear by the gears as much as possible, conveyance support rails 866 and 867 having flat portions on both sides in the traveling direction of the groove forming portion 868 of the carrier 860 and below, It is provided to support the load of the carrier, and the flat portions of the carrier support rails 866 and 868 are placed on a rotating body 869 such as a bobbin different from the gear on the main body side.
The carrier 860 is conveyed by receiving the driving force from the driving motor by the engagement of the gears at the groove forming portion 868 while being held by the conveying support rails 866 and 867 provided below the carrier 860.
In the G6 generation, the combined weight of the processing substrate 863 to be sputtered and the carrier 860a is about 100 kg, so wear is inevitably generated. Thus, the fitting between the groove forming portion 200 and the gear is reduced as much as possible. doing.
As a material of the carrier 860, Ti is preferably used from the viewpoint of weight and rigidity.
Sputtering is performed in an Ar gas atmosphere under a pressure of 10 −3 to 10 −2 torr using a plate-shaped ITO having a film composition to be formed as a target.
In this case, it is required to form the film at a low temperature from the viewpoint of heat resistance (degassing from CF) of the colored layer forming CF.
In addition, in such a magnetron sputtering method, for example, a sintered target material having a composition of In 2 O 3 , 90 w% + SnO 2 , 10 w% is used in a low temperature sputtering with a thickness of 8 mm to 15 mm.
For example, as a target, a Cu plate is used as a backing material, indium solder is used as an adhesive layer, and joints are slanted to join a large number of sintered target materials.

このような、スパッタ装置においては、上記のように、キャリアの荷重を支えるための搬送支持レール866、867と回転体869とは、荷重がかかった状態で接触してキャリアをコロ搬送するため、接触箇所において磨耗カスが発生してしまう。
また、歯車210と溝形成部200とは、互いに嵌合し、これを搬送駆動力とするため、ここでも磨耗カスが発生する。
特に、G6世代のサイズのガラス基板をベースとする処理基板では、スパッタ処理する処理基板863とキャリ860とを併せた重量は100kg程度となるため、どうしても磨耗が発生する。
できるだけ、前記溝形成部200と歯車200との嵌合は少なくしている。
尚、キャリア860の材質としては重量の面、剛性の面から、Tiが好ましく用いられる。
In such a sputtering apparatus, as described above, the conveyance support rails 866 and 867 for supporting the load of the carrier and the rotating body 869 come into contact with each other in a state where the load is applied, so that the carrier is roller-conveyed. Wear debris is generated at the contact point.
Further, since the gear 210 and the groove forming portion 200 are fitted to each other and used as a transport driving force, wear debris is generated here.
In particular, in a processing substrate based on a glass substrate of the G6 generation size, the combined weight of the processing substrate 863 to be sputtered and the carrier 860 is about 100 kg.
As much as possible, the fitting between the groove forming portion 200 and the gear 200 is reduced.
As a material of the carrier 860, Ti is preferably used from the viewpoint of weight and rigidity.

上記のように、近年、情報化社会への進展が著しく、ディスプレイ装置の使用も多様化し、特に、液晶表示装置が広く普及されるようになり、その生産性向上の面、低コスト化の面から、面付け生産が行われているが、これに用いられるガラス基板をベースとする処理の大型化の要求は強く、最近では、G6世代(1800mm×1500mmサイズ)の大サイズの透明なガラス基板での量産化が現実のものとなってきている。
このような中、図5(a)に示すようなスパッタ装置においては、ターゲット871と処理基板863とを立てた状態で対向させて、搬送しながらスパッタ処理を行っているが、キャリアの搬送系において、磨耗カスがどうしても発生し、これが、品質面で問題となっており、また、ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーにおいて、キャリアの搬送とともに運ばれてきた粉塵が、排気あるいは給気の際に、巻き上がり、これが品質面で問題となっており、これらの対応が求められていた。
本発明はこれらに対応するもので、処理基板をキャリアに搭載した状態で、インラインで、キャリアごと搬送しながら、該処理基板の一面側に成膜を施す成膜装置で、搬送系において磨耗カスが発生しても、磨耗カスによる品質面での悪影響を少なくすることができる成膜装置を提供しようとするものである。
特に、ターゲットと処理基板とを立てた状態で対向させて、搬送しながらスパッタ処理を行う縦型のインラインスパッタ装置で、G6世代以上の大サイズの処理基板を、処理する場合において、磨耗カス等の粉塵による品質面での悪影響を少なくすることができるスパッタ装置を提供しようとするものである。
As described above, in recent years, progress toward the information society has been remarkable, and the use of display devices has been diversified. In particular, liquid crystal display devices have become widespread, improving productivity and reducing costs. Therefore, imposition production is performed, but there is a strong demand for larger processing based on the glass substrate used for this, and recently, a large transparent glass substrate of G6 generation (1800 mm × 1500 mm size). Mass production at has become a reality.
In such a situation, in the sputtering apparatus as shown in FIG. 5A, the sputtering process is performed while the target 871 and the processing substrate 863 face each other in an upright state. In this case, wear debris is inevitably generated, which is a problem in terms of quality, and in the loading chamber and / or unloading chamber, the dust carried along with the carrier transport is exhausted or supplied. Rolling up, this has become a problem in terms of quality, and these measures have been required.
The present invention corresponds to these, and is a film forming apparatus for forming a film on one surface side of a processing substrate while transferring the whole substrate in-line with the processing substrate mounted on the carrier. Even if this occurs, an object of the present invention is to provide a film forming apparatus capable of reducing the adverse effect on the quality due to the wear residue.
In particular, when processing a large-sized processing substrate of G6 generation or more with a vertical in-line sputtering apparatus that performs sputtering processing while transporting the target and the processing substrate in an upright state, wear debris, etc. It is an object of the present invention to provide a sputtering apparatus that can reduce the adverse effects on the quality due to the dust.

本発明のスパッタ装置は、処理基板をキャリアに搭載した状態で、インラインで、キャリアごと搬送しながら、該処理基板の一面側に成膜を施す成膜装置であって、ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーに、ローディングのための、あるいはアンローディングのための排気機構、給気機構とは別に、排気あるいは給気の際に、粉塵が巻き上がるのを防止するために、ローディングチャンバーの下部およびまたはアンローディングチャンバーの下部に、排気口を配して、該排気口から、粉塵が巻き上がるのを抑えるように真空引きを行う真空引き部を備えており、前記真空引き部による真空引きを行う際に、粉塵が巻き上がるのを有効に抑えるために、チャンバー内のガスの流れ(気流とも言う)を制御するためのガス流れ制御用部材を1以上配設しており、前記ガス流れ制御用部材に強磁性体からなる磨耗カスを磁気により吸着する、磨耗カス吸着部を備えているもので、且つ、前記磨耗カス吸着部は、磁性体材料からなる吸着用材に接してマグネットを配して、該吸着用材に磁気を帯びさせたものであることを特徴とするものである。
そして、上記の成膜装置であって、粉塵の発生源(搬送用のローラー部等)を囲み該粉塵の発生源から粉塵が巻き上がるのを防止するようにガスの流れを制御するガス流れ制御用部材を設けていることを特徴とするものである。
そしてまた、上記いずれかの成膜装置であって、前記ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーの下部、前記排気口の上側に、キャリアの搬送とともに運ばれてきた強磁性体からなる磨耗カスを磁気により吸着する、磨耗カス吸着部を備えていることを特徴とするものである。
また、上記いずれかの成膜装置であって、搬送系の粉塵発生源の下に、粉塵発生源から発生した粉塵が、貯まり、且つ、前記チャンバーの給気、排気の際に、その影響を受けにくい、エアーポケット部(別空間)を設けていることを特徴とするものであり、前記エアーポケット部を排気するエアーポケット排気部を別に設けていることを特徴とするものである。
また、上記いずれかの成膜装置であって、処理基板をキャリアごと、キャリアとは別体の歯車を駆動源として、コロ搬送されるもので、該キャリアは、その下部にコロ搬送用のレールと、前記歯車と嵌合する嵌合歯部を直線状に設けており、該嵌合歯部から搬送のための駆動力を得て、コロ搬送されるものであることを特徴とするものである。
また、上記いずれかの成膜装置であって、前記処理基板が、ガラス基板をベース基板とし、該ガラス基板の一面側に各色の着色層をカラーフィルタとして形成したカラーフィルタ形成基板で、該カラーフィルタ形成面側にITO膜をスパッタ成膜するスパッタ装置であることを特徴とするものである。
The sputtering apparatus of the present invention is a film forming apparatus for forming a film on one surface side of a processing substrate while carrying the entire substrate in-line while the processing substrate is mounted on a carrier. In addition to the exhaust mechanism and air supply mechanism for loading or unloading, the chamber has a lower portion of the loading chamber and / or an unloading chamber to prevent dust from being rolled up during exhaust or air supply. the bottom of the loading chamber, by disposing the exhaust port, the exhaust port includes a vacuum unit for performing evacuation so as to suppress dust roll up to, when performing vacuuming by the vacuum unit To control the flow of gas (also called airflow) in the chamber in order to effectively prevent dust from rolling up One or more gas flow control members are disposed, and the gas flow control member is provided with a wear debris adsorbing portion that magnetically adsorbs wear debris made of a ferromagnetic material. The attracting portion is characterized in that a magnet is disposed in contact with the attracting material made of a magnetic material, and the attracting material is magnetized .
Further , in the film forming apparatus described above, gas flow control that controls a gas flow so as to surround a dust generation source (a transfer roller unit or the like) and prevent the dust from rolling up from the dust generation source. A member for use is provided.
And also the be any film forming apparatus, the bottom of the loading chamber and or unloading chamber, the upper side of the exhaust port, the wear debris made of a ferromagnetic material that has been carried along with the carrier transfer by magnetic It is characterized by having a wear residue adsorbing portion that adsorbs.
Further, in any one of the above film forming apparatuses, the dust generated from the dust generation source is stored below the dust generation source of the transport system, and the influence is exerted when the chamber is supplied and exhausted. An air pocket portion (another space) that is difficult to receive is provided, and an air pocket exhaust portion that exhausts the air pocket portion is provided separately.
Further, in any one of the above film forming apparatuses, the processing substrate is roller-transferred using the carrier as a drive source and a gear separate from the carrier as a driving source, and the carrier has a roller-transporting rail below the carrier. And a fitting tooth portion to be fitted with the gear is provided in a straight line, and a driving force for conveyance is obtained from the fitting tooth portion, and is roller-conveyed. is there.
Further, in any one of the above film forming apparatuses, the processing substrate is a color filter forming substrate in which a glass substrate is used as a base substrate and a colored layer of each color is formed as a color filter on one surface side of the glass substrate. It is a sputtering apparatus for sputtering an ITO film on the filter forming surface side.

(作用)
本発明のスパッタ装置は、このような構成にすることにより、処理基板をキャリアに搭載した状態で、インラインで、キャリアごと搬送しながら、該処理基板の一面側に成膜を施す成膜装置で、搬送系において磨耗カスが発生しても、磨耗カスによる品質面での悪影響を少なくすることができる成膜装置の提供を可能としている。
特に、ターゲットと処理基板とを立てた状態で対向させてて、搬送しながらスパッタ処理を行う縦型のインラインスパッタ装置で、G6世代以上の大サイズの処理基板を、処理する場合において、磨耗カス等の粉塵による品質面での悪影響を少なくすることができるスパッタ装置の提供を可能としている。
詳しくは、ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーに、ローディングのための、あるいはアンローディングのための排気機構、給気機構とは別に、排気あるいは給気の際に、粉塵が巻き上がるのを防止するために、ローディングチャンバーの下部およびまたはアンローディングチャンバーの下部に、排気口を配して、該排気口から、粉塵が巻き上がるのを抑えるように真空引きを行う真空引き部を備えており、前記真空引き部による真空引きを行う際に、粉塵が巻き上がるのを有効に抑えるために、チャンバー内のガスの流れを制御するためのガス流れ制御用部材を1以上配設しており、前記ガス流れ制御用部材に強磁性体からなる磨耗カスを磁気により吸着する、磨耗カス吸着部を備えているもので、且つ、前記磨耗カス吸着部は、磁性体材料からなる吸着用材に接してマグネットを配して、該吸着用材に磁気を帯びさせたものであることにより、これを達成している。
即ち、前記ローディング、アンローディングの際の、真空引きを行う排気機構や、大気に戻すための給気機構とは別に、ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーに、粉塵が巻き上がらないように気流の流れを制御して真空引きを行う真空引き部を備えていることにより、ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーにおいて、磨耗カス等の粉塵による品質的な悪影響を少なくできるものとしている。
そして、前記真空引き部による真空引きを行う際に、粉塵が巻き上がるのを有効に抑えるために、チャンバー内のガスの流れを制御するためのガス流れ制御用部材を1以上配設している形態であることにより、ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーにおいて、磨耗カス等の粉塵による品質的な悪影響を、より少なくできるものとしている。
この形態において、特に、粉塵の発生源(搬送用のローラー部等)を囲み該粉塵の発生源から粉塵が巻き上がるのを防止するようにガスの流れを制御するガス流れ制御用部材を設けている、請求項2の発明の形態とすることにより、粉塵の発生源からの粉塵が巻き上がりや他への粉塵の飛散を有効的に防止できるものとしている。
に、前記ガス流れ制御用部材に強磁性体からなる磨耗カスを磁気により吸着する、磨耗カス吸着部を備えているもので、且つ、前記磨耗カス吸着部は、磁性体材料からなる吸着用材に接してマグネットを配して、該吸着用材に磁気を帯びさせたものである形態としていることにより、強磁性体からなる磨耗カス等の粉塵が巻き上がるのを一層有効に防止できるものとしている。
尚、真空引き部による真空引きを行う際に、急激な真空引きを行うと、ガスの流れ(気流ともいう)が発生し、それと伴に粉塵が舞い上がり、該粉塵が処理基板に付着し、品質的に不良の原因となることがあるため、ガス流れ制御用部材は、これにより、真空引きの気流を制御することで、気流は発生するもののチャンバー全体に粉塵が舞い上がらないようにするもので、例えば、該ガス流れ制御用部材で仕切られた部分のみで、粉塵の舞い上がりをおさせ、チャンバー全体への飛散を防止する。
また、前記ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーの下部、前記排気口の上側に、キャリアの搬送とともに運ばれてきた強磁性体からなる磨耗カスを磁気により吸着する、磨耗カス吸着部を備えているもので、且つ、前記磨耗カス吸着部は、磁性体材料からなる吸着用材に接してマグネットを配して、該吸着用材に磁気を帯びさせたものである、請求項3の発明の形態とすることにより、強磁性体からなる磨耗カス等の粉塵がチャンバーの下側巻き上がるのを確実に防止できるものとしている。
上記のような磁気により吸着する、磨耗カス吸着部を備えていることにより、そこで発生したあるいはキャリアの搬送とともに運ばれてきた強磁性体の磨耗カスで、ローディングチャンバーあるいはアンローディングチャンバーにおけるチャンバー内の圧の変化の際に、巻き上がり、飛散しようとする磨耗カスを、吸着して保持し、該キャリアを再度使用して搬送し、成膜する際に、強磁性体の磨耗カスによる成膜品質への悪影響(ピンホールの発生)を防止できるものとしている。吸着用材の形状としては種々の形状をとることができる。
(Function)
The sputtering apparatus according to the present invention is a film forming apparatus for forming a film on one surface side of the processing substrate while carrying the carrier in-line in a state where the processing substrate is mounted on the carrier. Even if wear debris is generated in the transport system, it is possible to provide a film forming apparatus that can reduce the adverse effects on quality due to the wear debris.
In particular, when processing a large size processing substrate of G6 generation or more with a vertical in-line sputtering apparatus that performs sputtering processing while transporting the target and the processing substrate facing each other in a standing state, wear debris is lost. Thus, it is possible to provide a sputtering apparatus that can reduce the adverse effects on quality due to dust and the like.
Specifically, in order to prevent dust from being rolled up in the loading chamber and / or the unloading chamber, separately from the exhaust mechanism and the air supply mechanism for loading or unloading. in the lower part of the lower and or unloading chamber of the loading chamber, by disposing the exhaust port, the exhaust port includes a vacuum unit for performing evacuation so as to suppress dust roll up of the vacuum One or more gas flow control members for controlling the flow of gas in the chamber are disposed in order to effectively suppress the dust from being rolled up when evacuating by the pulling portion, and the gas flow The control member is provided with a wear residue adsorbing portion that magnetically adsorbs the wear residue consisting of a ferromagnetic material, and Worn Kas suction unit is disposed a magnet in contact with the suction timber made of a magnetic material, by those obtained by magnetized to absorbent wearing material, we have achieved this.
That is, the loading, during Anrodin grayed, and an exhaust mechanism for evacuating separately from the air supply mechanism for returning to the atmosphere, the loading chamber and or unloading chamber, the air flow so that dust does not rise winding By providing a vacuuming section that controls the flow and performs vacuuming, it is possible to reduce adverse effects on quality due to dust such as debris in the loading chamber and / or unloading chamber.
One or more gas flow control members for controlling the gas flow in the chamber are disposed in order to effectively suppress the dust from being rolled up when evacuation is performed by the evacuation unit . Due to the form , in the loading chamber and / or the unloading chamber, it is possible to further reduce the adverse effects of quality due to dust such as abrasion debris.
In this embodiment , in particular, a gas flow control member is provided for controlling the gas flow so as to surround the dust generation source (such as a roller section for conveyance) and prevent the dust from rolling up from the dust generation source. According to the second aspect of the invention , the dust from the dust generation source can be effectively prevented from rolling up and scattering of the dust to others.
Further, the adsorbing wear debris made of a ferromagnetic material in the gas flow control member by a magnetic, those provided with a wear debris suction unit, and the wear debris suction unit is made of a magnetic material adsorbed By arranging a magnet in contact with the material and making the adsorbing material magnetized, it is possible to more effectively prevent dust such as wear debris made of ferromagnetic material from rolling up. Yes.
In addition, when performing vacuuming by the vacuuming unit, if a rapid vacuuming is performed, a gas flow (also referred to as an air flow) is generated, and the dust rises with it, and the dust adheres to the processing substrate, and the quality In this case, the gas flow control member controls the evacuation airflow so that the airflow is generated but the dust does not rise in the entire chamber. For example, only the portion partitioned by the gas flow control member causes dust to rise and prevents scattering to the entire chamber.
Also provided with a wear debris adsorbing portion for magnetically adsorbing debris made of a ferromagnetic material carried along with the carrier transport, below the loading chamber and / or unloading chamber and above the exhaust port. in, and the wear debris suction unit is disposed a magnet in contact with the suction timber made of a magnetic material, is obtained by magnetized to absorbent wearing material, be in the form of the invention of claim 3 Thus, dust such as wear debris made of a ferromagnetic material can be reliably prevented from rolling up on the lower side of the chamber.
Adsorbed by magnetic, such as described above, due to the provision of the wear debris adsorption unit, where in wear debris generated or ferromagnetic material has been carried along with the transport of the carrier, the chamber in the loading chamber or unloading chamber When the pressure changes, the wear debris that rolls up and scatters is adsorbed and held, transported using the carrier again, and film is formed by the wear debris of the ferromagnetic material. It can prevent adverse effects on quality (occurrence of pinholes). The shape of the adsorbing material can take various shapes.

また、搬送系の粉塵発生源の下に、粉塵発生源から発生した粉塵が、貯まり、且つ、前記チャンバーの給気、排気の際に、その影響を受けにくい、エアーポケット部(別空間)を設けている、請求項4の発明の形態とすることにより、粉塵発生源からの粉塵の他への分散を防止できるものとしており、特に、請求項4の発明の形態において、エアーポケット部を排気するエアーポケット排気部を別に設けている請求項5の発明の形態とすることにより、より効果的に粉塵発生源からの粉塵の他への分散を防止できるものとしいる。 In addition, an air pocket part (separate space) where dust generated from the dust generation source is stored under the transport system dust generation source and is not easily affected by air supply and exhaust of the chamber. By providing the form of the invention according to claim 4 , it is possible to prevent the dust from being dispersed from the dust generation source. In particular, in the form of the invention of claim 4 , the air pocket portion is exhausted. By adopting the form of the invention of claim 5 in which a separate air pocket exhaust part is provided, it is possible to more effectively prevent the dust from being dispersed from the dust generation source.

尚、このような、磨耗カス吸着部を、更に、搬送系等における磨耗カス発生箇所近辺に設けて、該磨耗カス発生箇所において発生した磨耗カスを吸着するようにする形態も挙げられる。
更に、磨耗カス発生箇所を遮蔽するように吸着用材を配して仕切った、仕切り部を局所排気し、該仕切り部をその外部より低圧とし、磨耗カスが仕切り部の外への流出を効果的に防止できる形態も挙げられる。
これらは、ただマグネットを吸着用材に接して配するだけで、容易に、磨耗カスを吸着できる。
この場合、特に、粉塵の原因となる磨耗カスの発生箇所である磨耗カス発生源が、マグネット材料で作成されている場合には、有効である。
In addition, a configuration in which such a wear debris adsorbing portion is further provided in the vicinity of a wear debris generation location in a transport system or the like so as to adsorb the wear debris generated at the wear debris generation location.
Furthermore, an adsorption material is arranged and partitioned so as to shield the place where wear debris is generated. The partition portion is locally evacuated, the partition portion is set to a low pressure from the outside, and the wear debris effectively flows out of the partition portion. The form which can prevent is also mentioned.
These can easily adsorb wear debris simply by placing a magnet in contact with the adsorbing material.
In this case, it is particularly effective when the wear residue generating source, which is the place where the wear residue causing dust is generated, is made of a magnet material.

具体的には、処理基板をキャリアごと、キャリアとは別体の歯車を駆動源として、コロ搬送されるもので、該キャリアは、その下部にコロ搬送用のレールと、前記歯車と嵌合する嵌合歯部を直線状に設けており、該嵌合歯部から搬送のための駆動力を得て、コロ搬送されるものである、請求項6の発明の形態が挙げられる。
更に具体的には、前記処理基板が、ガラス基板をベース基板とし、該ガラス基板の一面側に各色の着色層をカラーフィルタとして形成したカラーフィルタ形成基板で、該カラーフィルタ形成面側にITO膜をスパッタ成膜するスパッタ装置である、請求項7の発明の形態が挙げられるが、量産性や、品質面で、有効である。
Specifically, the processing substrate is roller-transferred using the carrier as a drive source and a gear separate from the carrier as a drive source, and the carrier is fitted with a roller-transfer rail and the gear below the carrier. The form of the invention of Claim 6 which is provided with the fitting tooth part linearly, obtains the driving force for conveyance from this fitting tooth part, and is roller-conveyed is mentioned.
More specifically, the processing substrate is a color filter forming substrate in which a glass substrate is used as a base substrate and a colored layer of each color is formed as a color filter on one surface side of the glass substrate, and an ITO film is formed on the color filter forming surface side. The invention of claim 7 , which is a sputtering apparatus for forming a film by sputtering, is effective in terms of mass productivity and quality.

本発明は、上記のように、処理基板をキャリアに搭載した状態で、インラインで、キャリアごと搬送しながら、該処理基板の一面側に成膜を施す成膜装置で、ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーにおいて、磨耗カス等の粉塵による品質的な悪影響を少なくできるものとした。
更に、搬送系において強磁性体材料からなる磨耗カスが発生しても、該磨耗カスによる品質面での悪影響を無くすことができる成膜装置の提供を可能とした。
そして、特に、ターゲットと処理基板とを立てた状態で対向させてて、搬送しながらスパッタ処理を行う縦型のインラインスパッタ装置で、G6世代以上の大サイズの、ガラス基板をベース基板とし、該ガラス基板の一面側に各色の着色層をカラーフィルタとして形成したカラーフィルタ形成基板を処理基板として、スパッタ処理する場合において、搬送系の強磁性体材料からなる磨耗カスによる品質面での悪影響を無くすことができるスパッタ装置の提供を可能とした。
As described above, the present invention is a film forming apparatus that forms a film on one surface side of a processing substrate while carrying the entire substrate in-line with the processing substrate mounted on the carrier. In the chamber, adverse effects on quality due to dust such as abrasion debris can be reduced.
Furthermore, even when wear debris made of a ferromagnetic material is generated in the transport system, it is possible to provide a film forming apparatus that can eliminate the adverse effect on quality due to the wear debris.
In particular, in a vertical in-line sputtering apparatus that performs sputtering processing while conveying the target and the processing substrate in an upright state, a large glass substrate of G6 generation or more is used as a base substrate, When sputter processing is performed using a color filter-formed substrate in which a colored layer of each color is formed as a color filter on one side of a glass substrate as a processing substrate, the adverse effect on quality due to wear debris made of a ferromagnetic material in the transport system is eliminated. It is possible to provide a sputtering apparatus that can perform the above process.

本発明の実施の形態を図に基づいて説明する。
図1(a)は本発明のスパッタ装置の実施の形態の1例のアンローディングチャンバーにおける状態を透視して示した上面図で、図1(b)は図1(a)のA0側から透視して示した図で、図2(a)はキャリアと搬送用の回転ロールを示した概略断面図で、図2(b)は図2(a)のB1方向からみた、キャリアと搬送駆動用の歯車を示した図で、図3(a)は歯車嵌合磨耗箇所における磨耗カス吸着部を示したもので、図3(b)は図3(a)のC1側からみた図で、 図4(a)はコロ搬送の磨耗箇所における磨耗カス吸着部を示したもので、図4(b)は図4(a)のD1側からみた図である。
尚、図1は簡略化して要部のみを示したものである。
また、図2においては、キャリアの他にも回転ローラや歯車を示している。
図1〜図4中、1はアンローディングチャンバー、1aは壁部、1bは底部、1cは天井部、2は(メイン排気用の)排気用開閉弁、2aは真空引き用配管、3は給気用の開閉弁、3aは給気用配管、4は真空引き部、4a,4bは真空引き用開閉弁(排気口とも言う)、4cは真空引き用配管、5は吸着部、5aは磁性体材、5bはマグネット、6は支持部材、10は磨耗カス吸着部、11は吸着用材、12はマグネット、15は磨耗カス吸着部、20はターゲット、21は遮蔽板、22はバッキングプレート、23は保持部、30はローディングチャンバー、31はチャンバー室、32は壁部、100はキャリア、101は処理基板保持部、110は枠体、120は裏板、130は処理基板、150は支持部、161、162は位置決め回転ロール、161a、162aは軸、171、172は搬送支持レール(単に支持部とも言う)、190は回転ロール(回転体とも言う)、190aは軸、200は溝形成部、210は歯車である。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1A is a top view illustrating a state in an unloading chamber of an example of an embodiment of the sputtering apparatus of the present invention, and FIG. 1B is a perspective view from the A0 side of FIG. 1A. 2A is a schematic cross-sectional view showing a carrier and a rotating roll for conveyance, and FIG. 2B is a diagram illustrating the carrier and conveyance drive as seen from the B1 direction of FIG. 2A. 3 (a) shows the wear residue adsorbing portion at the gear fitting wear location, and FIG. 3 (b) is a view seen from the C1 side of FIG. 3 (a). 4 (a) shows the wear residue adsorbing portion at the wear portion of the roller conveyance, and FIG. 4 (b) is a view seen from the D1 side of FIG. 4 (a).
FIG. 1 is simplified and shows only the main part.
In addition to the carrier, FIG. 2 shows a rotating roller and a gear.
1-4, 1 is an unloading chamber, 1a is a wall part, 1b is a bottom part, 1c is a ceiling part, 2 is an exhaust on-off valve (for main exhaust), 2a is a vacuuming pipe, 3 is a supply pipe Open / close valve for gas, 3a is a supply pipe, 4 is a vacuuming part, 4a and 4b are open / close valves for vacuuming (also called exhaust ports), 4c is a vacuuming pipe, 5 is an adsorbing part, 5a is magnetic Body material, 5b is a magnet, 6 is a support member, 10 is a wear residue adsorbing part, 11 is an adsorption material, 12 is a magnet, 15 is an abrasion residue adsorbing part, 20 is a target, 21 is a shielding plate, 22 is a backing plate, 23 Is a holding chamber, 30 is a loading chamber, 31 is a chamber chamber, 32 is a wall portion, 100 is a carrier, 101 is a processing substrate holding portion, 110 is a frame body, 120 is a back plate, 130 is a processing substrate, 150 is a supporting portion, 161 and 162 are positioned Rotating rolls, 161a and 162a are shafts, 171 and 172 are conveying support rails (also simply referred to as support portions), 190 is a rotating roll (also referred to as a rotating body), 190a is a shaft, 200 is a groove forming portion, and 210 is a gear. .

はじめに、本発明のスパッタ装置の実施の形態の1例を、図に基づいて説明する。
本例のスパッタ装置は、ディスプレイパネル用のG6世代サイズ(1800mm×1500mmサイズ)以上の大サイズの透明なガラス基板をベース基板とする処理基板130を、キャリアに搭載して立てた状態で、インラインで、搬送しながらスパッタ処理を行い、処理基板の一面側に電極用のITO膜をスパッタ成膜する、マグネトロンスパッタ方式のスパッタ装置で、図5に示す各部の構成配列と同じ構成配列のスパッタ装置である。
本例は、スパッタ処理の際には、処理基板130を図2(a)に示すキャリア100に搭載し、処理基板130の成膜する側の面とターゲット10とを、平行に対向させ、搬送しながら、スパッタ処理を行うものである。
本例の成膜装置においては、通常のローディング、アンローディングのための排気機構としてメイン排気用の排気用開閉弁2、真空引き用配管2aと、通常のローディング、アンローディングのための給気機構として給気用の開閉弁3、給気用配管3aを、チャンバーの上側、処理基板130の成膜面とは反対側の壁部1aに配しているが、特に、大気と真空を繰り返すアンローディングチャンバー1(図5の831に相当)およびローディングチャンバー(図5の811に相当)に、真空を大気におとすアンローディングの際に、あるいは、真空引きを行うローディングの際に、粉塵が巻き上がるのを防止するために、通常のローディング、アンローディングのための上記排気機構、給気機構とは別に、アンローディングチャンバー1(図5の831に相当)およびローディングチャンバー(図5の811に相当)の底部の処理基板130の成膜面とは反対側に、排気口(真空引き用開閉弁4a、4bに相当)を配して、該排気口から粉塵の巻き上げを抑えるように気流の流れを制御して真空引きを行う真空引き部4を備えているものである。
このように、上記排気機構、給気機構と真空引き部4を配することにより、真空引き部4を設けない場合に比べて処理基板130の成膜面側の気流を和らげ、成膜面側への粉塵の品質的な悪影響を少なくしている。
First, an example of an embodiment of a sputtering apparatus of the present invention will be described with reference to the drawings.
The sputtering apparatus of this example is in-line with a processing substrate 130 having a large transparent glass substrate of G6 generation size (1800 mm × 1500 mm size) or larger for a display panel as a base substrate mounted on a carrier. 5 is a magnetron sputtering type sputtering apparatus that performs sputtering processing while transporting and sputter-deposits an ITO film for an electrode on one side of the processing substrate, and has the same arrangement as the arrangement shown in FIG. It is.
In this example, during the sputtering process, the processing substrate 130 is mounted on the carrier 100 shown in FIG. 2A, the surface of the processing substrate 130 on which the film is formed and the target 10 face each other in parallel, and are transported. However, the sputtering process is performed.
In the film forming apparatus of this example, as an exhaust mechanism for normal loading and unloading, an exhaust on-off valve 2 for main exhaust, a vacuuming pipe 2a, and an air supply mechanism for normal loading and unloading As shown, the air supply on-off valve 3 and the air supply pipe 3a are arranged on the wall 1a on the upper side of the chamber and on the side opposite to the film formation surface of the processing substrate 130. Dust is rolled up in the loading chamber 1 (corresponding to 831 in FIG. 5) and the loading chamber (corresponding to 811 in FIG. 5) during unloading in which the vacuum is brought to the atmosphere or during loading with vacuuming. In order to prevent this, the unloading chamber 1 (see FIG. 831) and a loading chamber (corresponding to 811 in FIG. 5), an exhaust port (corresponding to the evacuation opening / closing valves 4a and 4b) is arranged on the side opposite to the film forming surface of the processing substrate 130. In addition, a vacuum evacuation unit 4 is provided for performing vacuum evacuation by controlling the flow of the air flow so as to suppress the dust from being wound up from the exhaust port.
As described above, by providing the exhaust mechanism, the air supply mechanism, and the evacuation unit 4, the air flow on the film formation surface side of the processing substrate 130 is reduced compared to the case where the evacuation unit 4 is not provided, and the film formation surface side is reduced. Reduces the negative effects of dust quality.

そして、本例の成膜装置は、前記ローディングチャンバー(図5の811に相当)およびまたはアンローディングチャンバー1(図5の831に相当)の下部、真空引き用開閉弁(排気口)4a,4bの上側に、キャリアの搬送とともに運ばれてきた強磁性体の磨耗カスで、ローディングあるいはアンローディングにおける、排気、あるいは給気の際に、真空圧の変化に起因する気流により下側に落とされる磨耗カスを磁気により吸着する、磨耗カス吸着部を備えている。
ここでの磨耗カス吸着部は、磁性体材料からなる吸着用材に接してマグネットを配して、該吸着用材に磁気を帯びさせるものである。
そして、更に、搬送系において発生する強磁性体材料からなる磨耗カスを磁気吸着する、磨耗カス吸着部を、発生箇所の付近に備えたものである。
本例のスパッタ装置においては、キャリア100は、図2(a)に示すように、枠体110に、順に、処理基板130、裏板120を嵌め込み、処理基板130を保持する処理基板保持部101を備えている。
ここでは、処理基板130として、G6世代サイズの透明なガラス基板の一面側に各色の着色層をカラーフィルタとして形成したカラーフィルタ形成基板を用い、そのカラーフィルタ形成面側にITO膜をスパッタ成膜するものである。
The film forming apparatus of this example includes a lower part of the loading chamber (corresponding to 811 in FIG. 5) and / or the unloading chamber 1 (corresponding to 831 in FIG. 5), and vacuum opening / closing valves (exhaust ports) 4a and 4b. On the upper side of this, the wear debris of the ferromagnetic material that has been carried along with the carrier transport, which is dropped by the air flow caused by the change in vacuum pressure during exhaust or supply during loading or unloading A wear debris adsorbing portion that adsorbs debris by magnetism is provided.
In this case, the wear residue adsorbing portion is provided with a magnet in contact with the adsorbing material made of a magnetic material and magnetizing the adsorbing material.
Further, a wear residue adsorbing portion that magnetically adsorbs wear residue made of a ferromagnetic material generated in the transport system is provided in the vicinity of the occurrence location.
In the sputtering apparatus of this example, as shown in FIG. 2A, the carrier 100 sequentially fits the processing substrate 130 and the back plate 120 into the frame 110 and holds the processing substrate 130. It has.
Here, a color filter forming substrate in which a colored layer of each color is formed as a color filter on one surface side of a G6 generation size transparent glass substrate is used as the processing substrate 130, and an ITO film is formed by sputtering on the color filter forming surface side. To do.

本例の特徴部である、ローディングチャンバー(図5の811に相当)およびまたはアンローディングチャンバー1(図5の831に相当)に設けられた、粉塵の巻き上げ防止の機構について、説明する。
尚、ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーに設けられた粉塵の巻き上げ防止の機構は、基本的に同じで、ここでは、アンローディングチャンバー1についてのみ、それを説明する。
本例においては、図1(a)、図1(b)に示すように、アンローディングチャンバー1の底部1bに、真空引き用開閉弁4a、4bを、排気口として配しており、該真空引き用開閉弁4a、4bは真空引き用配管4cにより繋がっており、該真空引き用開閉弁4a、4bを開いた状態で、ロータリーポンプや必要に応じてメカニカルブースターポンプ等の真空ポンプにより、真空引きするものである。
本例においては、アンローディングチャンバー1内を真空状態とするメインの排気は、排気用開閉弁2を開いた状態で真空引き用配管2aを介して繋がっているロータリーポンプや必要に応じてメカニカルブースターポンプ等の真空ポンプにより、大気から真空引きして行われる。
勿論、給気用開閉弁3を閉じた状態で行う。
また、アンローディングチャンバー1を大気に戻すための給気は、給気用開閉弁3を開いた状態で、給気用配管3aを介して繋がった清浄にされた大気あるいは窒素ガス等をアンローディングチャンバー1内に導入することにより行う。
勿論、この場合は、真空引き用開閉弁4a、4bを閉じた状態で行う。
本例の場合は、上記の大気からの真空引きの際、大気への戻しの際に、真空引き用開閉弁4a、4bを開け、これを排気口として、真空引きを行い、これにより、粉塵の巻き上げを抑制するものである。
大気からの真空引きの際には、真空引が急激に行われるのを防止し、大気への戻しの際には、給気用開閉弁3から導入される清浄にされた大気あるいは窒素ガス等による急激な流れを防止するものである。
A mechanism for preventing the dust from rolling up, which is provided in the loading chamber (corresponding to 811 in FIG. 5) and / or the unloading chamber 1 (corresponding to 831 in FIG. 5), which is a feature of this example, will be described.
The mechanism for preventing the dust from being rolled up provided in the loading chamber and / or the unloading chamber is basically the same, and only the unloading chamber 1 will be described here.
In this example, as shown in FIGS. 1 (a) and 1 (b), evacuation opening / closing valves 4a and 4b are arranged at the bottom 1b of the unloading chamber 1 as exhaust ports, and the vacuum The on / off valves 4a and 4b are connected by a vacuum piping 4c. With the on / off valves 4a and 4b being opened, a vacuum pump such as a rotary pump or a mechanical booster pump is used to To pull.
In this example, the main exhaust that evacuates the inside of the unloading chamber 1 is a rotary pump connected via a vacuuming pipe 2a with the exhaust on-off valve 2 open, or a mechanical booster as necessary. A vacuum pump such as a pump is used to evacuate the atmosphere.
Of course, it is performed with the air supply on-off valve 3 closed.
The air supply for returning the unloading chamber 1 to the atmosphere is performed by unloading the purified air or nitrogen gas connected through the air supply pipe 3a with the air supply opening / closing valve 3 opened. This is done by introducing it into the chamber 1.
Of course, in this case, the evacuation opening / closing valves 4a and 4b are closed.
In the case of this example, at the time of evacuation from the above atmosphere, at the time of returning to the atmosphere, the evacuation opening / closing valves 4a and 4b are opened, and this is used as an exhaust port to perform evacuation. This suppresses the hoisting.
When evacuating from the atmosphere, abrupt evacuation is prevented, and when returning to the atmosphere, the purified atmosphere or nitrogen gas or the like introduced from the air supply on-off valve 3 is used. This prevents the sudden flow caused by.

更に、本例においては、強磁性体からなる磨耗カスを吸着する吸着部を備えて、一度ここに到達した強磁性体からなる磨耗カスが、大気からの真空引きの際、あるいは、大気への戻しの際に、巻き上がるのを防止できる構造としている。
図1(b)に示すように、吸着部5は、板状の磁性体材5b上にマグネット5aを載せただけのものであるが、強磁性体からなる磨耗カス等の粉塵が磁性体材5bに付着した場合には、磁気を帯び該磁性体材5b上に磁気的に吸着され、大気からの真空引きの際、あるいは、大気への戻しの際に、巻き上がるのを防止できる。
Further, in this example, an adsorption portion for adsorbing the wear debris made of a ferromagnetic material is provided, and the wear debris made of a ferromagnetic material that has reached here once is evacuated from the atmosphere or to the atmosphere. It is structured so that it can be prevented from rolling up when returning.
As shown in FIG. 1 (b), the attracting portion 5 is a plate-like magnetic material 5b that is simply mounted on a magnet 5a, but dust such as wear debris made of a ferromagnetic material is magnetic material. When adhering to 5b, it is magnetized and magnetically adsorbed on the magnetic material 5b, and can be prevented from winding up when evacuating from the atmosphere or returning to the atmosphere.

本例にでは、図3に示すように、搬送系において、歯車210と溝形成部200とが嵌合する歯車嵌合磨耗箇所に、強磁性体材料からなる磨耗カスを磁気吸着する磨耗カス吸着部10を設けている。
ここでは、磨耗カス発生箇所の側面と下部を覆うように磁性体からなる吸着用材11を配し、吸着用材の下側の内面上にマグネット12を配して、磨耗カス吸着部10としている。
このように、磁性体材料からなる吸着用材11に接してマグネット12を配していることにより、磁性体からなる吸着用材11は磁気を帯び、強磁性体材料からなる磨耗カスを磁気により吸着する。
また、本例では、その搬送系において、回転体190が、回転しながら、キャリア100下部の搬送レール171、172を、その荷重を支持して搬送するため、この搬送レール171、172と接触して磨耗カスを発生させるが、図4に示すように、回転体190の側面と下部を覆うように、強磁性体材料からなる磨耗カスを磁気吸着する第1の磨耗カス吸着部15を設けている。
ここでも、磁性体材料からなる吸着用材に接してマグネットを配していることにより、磁性体からなる吸着用材11は磁気を帯び、強磁性体材料からなる磨耗カスを磁気により吸着する。
In this example, as shown in FIG. 3, in the transport system, wear debris adsorption that magnetically adsorbs wear debris made of a ferromagnetic material at a gear fitting wear location where the gear 210 and the groove forming portion 200 are fitted together. Part 10 is provided.
Here, the adsorbing material 11 made of a magnetic material is disposed so as to cover the side surface and the lower portion of the wear debris generation site, and the magnet 12 is disposed on the lower inner surface of the adsorbing material to form the wear debris adsorbing portion 10.
As described above, by arranging the magnet 12 in contact with the attracting material 11 made of a magnetic material, the attracting material 11 made of a magnetic material is magnetized, and wear debris made of a ferromagnetic material is attracted magnetically. .
Further, in this example, in the transport system, the rotating body 190 contacts the transport rails 171 and 172 in order to transport the transport rails 171 and 172 below the carrier 100 while supporting the load while rotating. As shown in FIG. 4, a first wear debris adsorbing portion 15 that magnetically adsorbs wear debris made of a ferromagnetic material is provided so as to cover the side surface and the lower portion of the rotating body 190 as shown in FIG. Yes.
Also in this case, the magnet is disposed in contact with the adsorbing material made of the magnetic material, so that the adsorbing material 11 made of the magnetic material is magnetized, and wear debris made of the ferromagnetic material is adsorbed magnetically.

尚、ターゲット10としては、ここでは、例えば、In2 3 、90w%+SnO2 、10w%組成の焼結したターゲット材を、厚さ8mm〜15mmとしたものを用いるが、サイズを大とするために、Cuプレートをバッキング材として、インジウム半田を接着層とし、複数枚の焼結ターゲット材をつなぎ合わせて四角状にしている。
そして、スパッタリングは、Arガス雰囲気中、10-5torr〜10-2torr圧下で、プレート状にされた、成膜する膜組成のITOをターゲットとして用いて行う。
この場合、CFを形成する着色層の耐熱性(CFからの脱ガス)の面から、低温で成膜を行う。
Here, as the target 10, for example, a sintered target material having a composition of In 2 O 3 , 90 w% + SnO 2 , 10 w% and having a thickness of 8 mm to 15 mm is used, but the size is increased. For this purpose, a Cu plate is used as a backing material, indium solder is used as an adhesive layer, and a plurality of sintered target materials are connected to form a square shape.
Sputtering is performed in an Ar gas atmosphere under a pressure of 10 −5 torr to 10 −2 torr using a plate-shaped ITO having a film composition to be formed as a target.
In this case, the film is formed at a low temperature from the viewpoint of the heat resistance (degassing from CF) of the colored layer forming the CF.

本例のスパッタ装置は、図5に示されるスパッタ装置と同じように、搬送されながらスパッタ処理を行うもので、各チャンバーの配置や処理基板の搬入から搬出までの流れは、基本的に、図5(a)に示されるスパッタ装置と同じである。
本例におけるキャリア100は、図5(b)に示すキャリア860と同じである。
キャリア100の搬送も、基本的には図5に示されるスパッタ装置と同じで、図2に示すように、駆動用モーターからの駆動力を歯車210との噛み合わせで伝える溝を切った溝形成部200が、キャリア100下部に設けられており、更に、歯車210による磨耗を極力抑えるために、キャリア100の溝形成部200の進行方向両側、下側に、平坦部を有する搬送支持レール171、172が、キャリアの荷重を支えるために設けられており、本体側にある前記の歯車210とは異なるボビンのような回転体190にキャリア側の搬送支持レール171、172の平坦部が乗っかるようになっている。
本例においては、このような回転体190、歯車210を、搬送路に沿い複数配置して搬送を行う。
The sputtering apparatus of this example performs the sputtering process while being transported in the same manner as the sputtering apparatus shown in FIG. 5. The flow from the placement of each chamber and the loading and unloading of the processing substrate is basically shown in FIG. This is the same as the sputtering apparatus shown in FIG.
The carrier 100 in this example is the same as the carrier 860 shown in FIG.
The carrier 100 is basically transported in the same manner as the sputtering apparatus shown in FIG. 5, and as shown in FIG. 2, a groove is formed by cutting a groove that transmits the driving force from the driving motor by meshing with the gear 210. The portion 200 is provided at the lower portion of the carrier 100, and further, in order to suppress wear due to the gear 210 as much as possible, a conveyance support rail 171 having a flat portion on both sides and below the groove forming portion 200 of the carrier 100, 172 is provided to support the load of the carrier so that the flat portions of the carrier-side transport support rails 171 and 172 ride on a rotating body 190 such as a bobbin different from the gear 210 on the main body side. It has become.
In this example, a plurality of such rotating bodies 190 and gears 210 are arranged along the conveyance path for conveyance.

本例のスパッタ装置においては、簡単には、処理基板130(図5の863に相当)は、ローディングチャンバー(図5の811に相当)に投入され、予備チャンバー(図6の812に相当)を経て、第1のスパッタチャンバー(図5の813に相当)に投入され、搬送されながらスパッタ処理され、回転処理部(図5の820に相当)に搬入され、ここで、回転部によりキャリアごと180度回転され、向きを変え、第2のスパッタチャンバー(図5の833に相当)に投入され、搬送されながらスパッタ処理される。
そして、スパッタ後、予備チャンバー(図5の832に相当)、アンローディングチャンバー1(図5の831に相当)を経て搬出される。
尚、各チャンバーの境には、機械的な仕切りがあり、各仕切りの開放は、両側のチャンバーの真空度を同じ程度にして行う。
また、処理基板保持部101の枠体110他各部の材質については、剛性が大きく、強固で、軽いものが好ましく、Tiやステンレスが挙げられる。
In the sputtering apparatus of this example, simply, the processing substrate 130 (corresponding to 863 in FIG. 5) is put into a loading chamber (corresponding to 811 in FIG. 5), and a spare chamber (corresponding to 812 in FIG. 6) is provided. Then, it is put into the first sputter chamber (corresponding to 813 in FIG. 5), sputtered while being transported, and carried into the rotation processing part (corresponding to 820 in FIG. 5). The direction is changed, the direction is changed, and the second sputtering chamber (corresponding to 833 in FIG. 5) is put and sputtered while being conveyed.
Then, after sputtering, the material is unloaded through a preliminary chamber (corresponding to 832 in FIG. 5) and an unloading chamber 1 (corresponding to 831 in FIG. 5).
In addition, there is a mechanical partition at the boundary of each chamber, and the opening of each partition is performed with the same degree of vacuum in the chambers on both sides.
Moreover, about the material of frame 110 other than the process board | substrate holding | maintenance part 101, rigidity, big, strong, and a light thing are preferable, and Ti and stainless steel are mentioned.

本例のスパッタ装置は1例で、本発明は、これに限定されるものではない。
図1に示す本例のアンローディングチャンバー1の磨耗カス等の粉塵の巻き上げ防止のための構造を、他の形態のマグネトロン方式のスパッタ装置に、適用する形態も挙げられる。
また、図3に示す本例の磨耗カス吸着部10、図4に示す磨耗カス吸着部15の構造を、他の形態のマグネトロン方式のスパッタ装置に、適用する形態も挙げられる。
また、処理基板130、タゲット10を鉛直方向から傾けた状態、あるいは水平にして、互いに平行に対向した状態でスパッタを行う形態も挙げられる。
勿論、図5に示す各部の構成配置を直線的に設けた形態としても良い。
また、本例における、図3に示す磨耗カス吸着部10、図4に示す磨耗カス吸着部15、の構造に代え、磨耗カス発生箇所の上側も覆うように吸着用材11を配した構造のものも挙げられる。
The sputtering apparatus of this example is one example, and the present invention is not limited to this.
An embodiment in which the structure for preventing the dust dust such as abrasion debris of the unloading chamber 1 of this example shown in FIG. 1 from being applied to another type of magnetron type sputtering apparatus is also included.
Moreover, the form which applies the structure of the wear residue adsorption | suction part 10 of this example shown in FIG. 3 and the abrasion residue adsorption | suction part 15 shown in FIG. 4 to the magnetron type | system | group sputtering apparatus of another form is also mentioned.
Moreover, the form which sputter | spatters in the state which inclined the process board | substrate 130 and the target 10 from the perpendicular direction, or was made into a horizontal state and mutually opposed in parallel is also mentioned.
Of course, it is good also as a form which provided the structure arrangement | positioning of each part shown in FIG. 5 linearly.
Further, instead of the structure of the wear residue adsorbing portion 10 shown in FIG. 3 and the wear residue adsorbing portion 15 shown in FIG. 4 in this example, a structure in which the adsorbing material 11 is arranged so as to cover the upper side of the wear residue generation location is also provided. Also mentioned.

また、真空引き部4による真空引きを行う際に、粉塵が巻き上がるのを有効に抑えるために、チャンバー内のガスの流れを制御するためのガス流れ制御用部材を1以上配設する形態も挙げられる。
これにより、チャンバー内のガスの流れ(気流)を制御し、処理基板130の成膜面への悪影響を一層少なくすることができる。
特に、粉塵の発生源(搬送用のローラー部等)を囲み該粉塵の発生源から粉塵が巻き上がるのを防止するようにガスの流れを制御するガス流れ制御用部材を設けた形態とした場合には、より効果的である。
このガス流れ制御用部材に強磁性体からなる磨耗カスを磁気により吸着する、磨耗カス吸着部を備え、且つ、前記磨耗カス吸着部は、磁性体材料からなる吸着用材に接してマグネットを配して、該吸着用材に磁気を帯びさせたものである場合には、品質面から更に一層好ましい。
また、搬送系の粉塵発生源の下に、粉塵発生源から発生した粉塵が、貯まり、且つ、前記チャンバーの給気、排気の際に、その影響を受けにくい、エアーポケット部(別空間)を設けている形態も挙げられる。
これは、エアーポケット部側に常に気流が流れるように制御してエアーポケット部側を真空引きするものである。
In addition, in order to effectively suppress the dust from being rolled up when evacuation is performed by the evacuation unit 4, one or more gas flow control members for controlling the gas flow in the chamber may be provided. Can be mentioned.
Thereby, the gas flow (airflow) in the chamber can be controlled, and the adverse effect on the film formation surface of the processing substrate 130 can be further reduced.
In particular, when a gas flow control member is provided to control the gas flow so as to surround the dust generation source (conveyance roller, etc.) and prevent the dust from rolling up from the dust generation source. Is more effective.
The gas flow control member is provided with a wear debris adsorbing portion that magnetically adsorbs wear debris made of a ferromagnetic material, and the wear debris adsorbing portion has a magnet in contact with the adsorbing material made of a magnetic material. In the case where the adsorbing material is magnetized, it is even more preferable in terms of quality.
In addition, an air pocket part (separate space) where dust generated from the dust generation source is stored under the transport system dust generation source and is not easily affected by air supply and exhaust of the chamber. The form which is provided is also mentioned.
In this method, the air pocket portion side is evacuated by controlling so that the airflow always flows to the air pocket portion side.

更に、ローディングチャンバー、アンローディングチャンバーの他においても、磨耗カス発生箇所を遮蔽するように前記吸着用材を配して仕切った、仕切り部を構成し、該仕切り部を局所排気する形態も挙げられる。
この場合、該仕切り部をその外部より低圧とでき、磨耗カスが仕切り部の外への流出を効果的に防止できる。
また、磨耗カス発生箇所の磨耗カス発生源が、マグネット材料で作成されている形態も挙げられる。
この場合、磨耗カスが、磁石なので、成膜装置のチャンバーや成膜の際の防着板に吸着して、成膜されるガラス基板に付着する確率を低減することが可能である。
Further, in addition to the loading chamber and the unloading chamber, a configuration is also possible in which a partition portion is configured by partitioning the adsorption material so as to shield a place where wear residue is generated, and the partition portion is locally evacuated.
In this case, the partition portion can be set to a lower pressure than the outside, and wear debris can be effectively prevented from flowing out of the partition portion.
Moreover, the form by which the abrasion residue generation source of the abrasion residue generation | occurrence | production site | part is created with the magnet material is also mentioned.
In this case, since the abrasion debris is a magnet, it is possible to reduce the probability of adhering to the glass substrate on which the film is formed by being attracted to the chamber of the film forming apparatus and the deposition preventing plate at the time of film forming.

図1(a)は本発明のスパッタ装置の実施の形態の1例のアンローディングチャンバーにおける状態を透視して示した上面図で、図1(b)は図1(a)のA0側から透視して示した図である。FIG. 1A is a top view illustrating a state in an unloading chamber of an example of an embodiment of the sputtering apparatus of the present invention, and FIG. 1B is a perspective view from the A0 side of FIG. 1A. FIG. 図2(a)はキャリアと搬送用の回転ロールを示した概略断面図で、図2(b)は図2(a)のB1方向からみた、キャリアと搬送駆動用の歯車を示した図である。FIG. 2A is a schematic cross-sectional view showing a carrier and a rotating roll for conveyance, and FIG. 2B is a diagram showing a carrier and a gear for conveying driving as seen from the B1 direction of FIG. is there. 図3(a)は歯車嵌合磨耗箇所における磨耗カス吸着部を示したもので、図3(b)は図3(a)のC1側からみた図である。FIG. 3A shows the wear residue adsorbing portion at the gear fitting wear location, and FIG. 3B is a view seen from the C1 side of FIG. 3A. 図4(a)はコロ搬送の磨耗箇所における磨耗カス吸着部を示したもので、図4(b)は図4(a)のD1側からみた図である。FIG. 4A shows the wear residue adsorbing portion at the wear portion of the roller conveyance, and FIG. 4B is a view seen from the D1 side of FIG. 4A. 図5(a)はインライン型のITOスパッタ成膜装置の概略構成配置図で、図5(b)は図5(a)に示すITOスパッタ成膜装置に用られるキャリアを示した図である。FIG. 5A is a schematic configuration layout diagram of an in-line type ITO sputter film forming apparatus, and FIG. 5B is a view showing a carrier used in the ITO sputter film forming apparatus shown in FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 アンローディングチャンバー
1a 壁部
1b 底部
1c 天井部
2 (メイン排気用の)排気用開閉弁
2a 真空引き用配管
3 給気用の開閉弁
3a 給気用配管
4 真空引き部
4a,4b 真空引き用開閉弁(排気口とも言う)
4c 真空引き用配管
5 吸着部
5a 磁性体材
5b マグネット
6 支持部材
10 磨耗カス吸着部
11 吸着用材
12 マグネット
15 磨耗カス吸着部
20 ターゲット
21 遮蔽板
22 バッキングプレート
23 保持部
30 ローディングチャンバー
31 チャンバー室
32 壁部
100 キャリア
101 処理基板保持部
110 枠体
120 裏板
130 処理基板
150 支持部
161、162 位置決め回転ロール
161a、162a 軸
171、172 搬送支持レール(単に支持部とも言う)
190 回転ロール(回転体とも言う)
190a 軸
200 溝形成部
210 歯車
10 磨耗カス吸着部
11 吸着用材
12 マグネット
15 磨耗カス吸着部
20 ターゲット
21 遮蔽板
22 バッキングプレート
23 保持部
30 ローディングチャンバー
31 チャンバー室
32 壁部
100 キャリア
101 処理基板保持部
110 枠体
120 裏板
130 処理基板
150 支持部
161、162 位置決め回転ロール
161a、162a 軸
171、172 搬送支持レール(単に支持部とも言う)
190 回転ロール(回転体とも言う)
190a 軸
200 溝形成部
210 歯車
811 ローディングチャンバー
812 予備チャンバー
813 スパッタチャンバー
820 回転処理部
821 回転部
831 アンローディングチャンバー
832 予備チャンバー
833 スパッタチャンバー
841〜843 チャンバー仕切り
841a〜843a チャンバー仕切り
860、860a キャリア
860A 基板保持部
861 枠体
862 裏板(押さえ板とも言う)
863 処理基板
864 支持部
865 位置決回転ローラ
865a、865b 軸
866、867 支持部(搬送用支持部)
868 溝形成部
869 回転ローラ(回転部とも言う)
869a 軸
871 ターゲット
891 水平方向
892 鉛直方向


DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Unloading chamber 1a Wall part 1b Bottom part 1c Ceiling part 2 Exhaust on-off valve 2a (Vacuum evacuation pipe 3) Air supply on-off valve 3a Air supply on / off valve 3a Air supply pipe 4 Vacuum evacuation parts 4a, 4b On-off valve (also called exhaust port)
4c Piping for vacuum 5 Adsorbing part 5a Magnetic material 5b Magnet 6 Support member 10 Wear debris adsorbing part 11 Adsorbing material 12 Magnet 15 Wear debris adsorbing part 20 Target 21 Shielding plate 22 Backing plate 23 Holding part 30 Loading chamber 31 Chamber chamber 32 Wall portion 100 Carrier 101 Processing substrate holding portion 110 Frame body 120 Back plate 130 Processing substrate 150 Support portions 161 and 162 Positioning rotary rolls 161a and 162a Shafts 171 and 172 Conveyance support rail (also simply referred to as a support portion)
190 Rotating roll (also called rotating body)
190a Shaft 200 Groove forming portion 210 Gear 10 Wear debris adsorbing portion 11 Adsorption material 12 Magnet 15 Wear debris adsorbing portion 20 Target 21 Shielding plate 22 Backing plate 23 Holding portion 30 Loading chamber 31 Chamber chamber 32 Wall portion 100 Carrier 101 Processing substrate holding portion DESCRIPTION OF SYMBOLS 110 Frame body 120 Back plate 130 Process substrate 150 Support part 161, 162 Positioning rotation roll 161a, 162a Axes 171, 172 Conveyance support rail (also simply referred to as support part)
190 Rotating roll (also called rotating body)
190a Shaft 200 Groove forming part 210 Gear 811 Loading chamber 812 Preliminary chamber 813 Sputtering chamber 820 Rotating processing part 821 Rotating part 831 Unloading chamber 832 Preliminary chamber 833 Sputtering chamber 841 to 843 Chamber partition 841a to 843a Chamber partition 860, 860a Carrier 860A Substrate Holding portion 861 Frame body 862 Back plate (also referred to as pressing plate)
863 Processing substrate 864 Support unit 865 Positioning rotation rollers 865a and 865b Shafts 866 and 867 Support unit (support unit for conveyance)
868 Groove forming portion 869 Rotating roller (also referred to as rotating portion)
869a shaft 871 target 891 horizontal direction 892 vertical direction


Claims (7)

処理基板をキャリアに搭載した状態で、インラインで、キャリアごと搬送しながら、該処理基板の一面側に成膜を施す成膜装置であって、ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーに、ローディングのための、あるいはアンローディングのための排気機構、給気機構とは別に、排気あるいは給気の際に、粉塵が巻き上がるのを防止するために、ローディングチャンバーの下部およびまたはアンローディングチャンバーの下部に、排気口を配して、該排気口から、粉塵が巻き上がるのを抑えるように真空引きを行う真空引き部を備えており、前記真空引き部による真空引きを行う際に、粉塵が巻き上がるのを有効に抑えるために、チャンバー内のガスの流れを制御するためのガス流れ制御用部材を1以上配設しており、前記ガス流れ制御用部材に強磁性体からなる磨耗カスを磁気により吸着する、磨耗カス吸着部を備えているもので、且つ、前記磨耗カス吸着部は、磁性体材料からなる吸着用材に接してマグネットを配して、該吸着用材に磁気を帯びさせたものであることを特徴とする成膜装置。 A film forming apparatus for forming a film on one surface side of a processing substrate while carrying the whole substrate in-line with the processing substrate mounted on the carrier, and loading the loading substrate and / or the unloading chamber for loading In addition to the exhaust mechanism and the air supply mechanism for unloading, in order to prevent dust from being rolled up during exhaust or air supply, an exhaust is provided at the lower part of the loading chamber and / or the lower part of the unloading chamber. It is equipped with a vacuum evacuation unit that evacuates so that dust is prevented from rolling up from the exhaust port, and when the vacuum evacuation is performed by the vacuum evacuation unit , In order to suppress effectively, one or more gas flow control members for controlling the gas flow in the chamber are disposed, The gas flow control member is provided with a wear debris adsorbing portion that magnetically adsorbs wear debris made of a ferromagnetic material, and the wear debris adsorbing portion is in contact with an adsorbing material made of a magnetic material. A film forming apparatus , wherein a magnet is provided and the adsorbing material is magnetized . 請求項1に記載の成膜装置であって、粉塵の発生源(搬送用のローラー部等)を囲み該粉塵の発生源から粉塵が巻き上がるのを防止するようにガスの流れを制御するガス流れ制御用部材を設けていることを特徴とする成膜装置。 The film forming apparatus according to claim 1 , wherein the gas controls a gas flow so as to surround a dust generation source (a transfer roller unit or the like) and prevent the dust from rolling up from the dust generation source. A film forming apparatus comprising a flow control member. 請求項1ないし2のいずれか1項に記載の成膜装置であって、前記ローディングチャンバーおよびまたはアンローディングチャンバーの下部、前記排気口の上側に、キャリアの搬送とともに運ばれてきた強磁性体からなる磨耗カスを磁気により吸着する、磨耗カス吸着部を備えていることを特徴とする成膜装置。 3. The film forming apparatus according to claim 1 , wherein the ferromagnetic material is carried along with carrier transport to a lower portion of the loading chamber and / or an unloading chamber and to the upper side of the exhaust port. the composed wear debris adsorbed by the magnetic film forming apparatus characterized in that it comprises a wear debris adsorption unit. 請求項1ないし3のいずれか1項に記載の成膜装置であって、搬送系の粉塵発生源の下に、粉塵発生源から発生した粉塵が、貯まり、且つ、前記チャンバーの給気、排気の際に、その影響を受けにくい、エアーポケット部(別空間)を設けていることを特徴とする成膜装置。 4. The film forming apparatus according to claim 1 , wherein dust generated from the dust generation source is stored under the dust generation source of the transport system, and air supply and exhaust of the chamber are performed. The film forming apparatus is provided with an air pocket portion (separate space) that is not easily affected by this. 請求項4に記載の成膜装置であって、前記エアーポケット部を排気するエアーポケット排気部を別に設けていることを特徴とする成膜装置。 5. The film forming apparatus according to claim 4 , further comprising an air pocket exhaust part for exhausting the air pocket part. 請求項1ないし5のいずれか1項に記載の成膜装置であって、処理基板をキャリアごと、キャリアとは別体の歯車を駆動源として、コロ搬送されるもので、該キャリアは、その下部にコロ搬送用のレールと、前記歯車と嵌合する嵌合歯部を直線状に設けており、該嵌合歯部から搬送のための駆動力を得て、コロ搬送されるものであることを特徴とする成膜装置。 The film forming apparatus according to any one of claims 1 to 5, wherein the substrate is roller-rolled by using a processing substrate as a carrier and a gear separate from the carrier as a driving source. A roller conveying rail and a fitting tooth portion that engages with the gear are provided in a straight line at the bottom, and a driving force for conveyance is obtained from the fitting tooth portion, and the roller is conveyed. A film forming apparatus. 請求項1ないし6のいずれか1項に記載の成膜装置であって、前記処理基板が、ガラス基板をベース基板とし、該ガラス基板の一面側に各色の着色層をカラーフィルタとして形成したカラーフィルタ形成基板で、該カラーフィルタ形成面側にITO膜をスパッタ成膜するスパッタ装置であることを特徴とする成膜装置。 7. The film forming apparatus according to claim 1 , wherein the processing substrate has a glass substrate as a base substrate, and a colored layer of each color is formed as a color filter on one surface side of the glass substrate. A film forming apparatus, comprising: a filter forming substrate, and a sputtering apparatus for forming an ITO film on the color filter forming surface side by sputtering.
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