JP5048801B2 - 光学および干渉リソグラフィを統合して複雑なパターンを生成する方法および装置 - Google Patents
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Description
本発明は概して、半導体製造の間に反復構造を作るための干渉技術の使用に関し、具体的には、任意に複雑なパターンをウエハ上に作るための、干渉リソグラフィの光学リソグラフィとの統合に関する。
大規模集積(VLSI)を用いた集積回路の生産における進歩は、ますます小さくなっている機能寸法により特徴付けられてきた。トランジスタ機能の横方向の寸法は、1970年の〜5マイクロメートル(4KDRAM)から、今日の0.35マイクロメートル(64M DRAM)に減少している。機能寸法におけるこの継続的な改善は、直線寸法が3年ごとに30%ずつ縮小されることによって特徴付けられる指数関数的な機能寸法の減少を見積もる、「ムーアの法則」の必須部分である。この「法則」は、「National Technology Roadmap for Semiconductors」(Semiconductor Industry Association、1994)の中で例示されるように、半導体産業計画の基礎となっている。
本発明は、従来技術の欠点の多くを克服する態様で光学リソグラフィおよび干渉リソグラフィを統合する方法および装置を提供する。
第1のマスクパターンを特徴とする第1のマスクの照射を提供するための第1の照射システムと、基板上の該感光性材料上に該第1のマスクパターンを結像するための第1の結像システムとを含む第1の光学アレンジメントを用いた該感光性材料の第1の露光であって、第1の強度パターンを持つ第1の露光と、
第2の光学アレンジメントを用いた該感光性材料の第2の露光であって、該第2の露光は、第2の強度パターンを持ち、該二次元空間パターンの空間周波数の第1および第2のサブセットを提供する該第1および第2の強度パターンを組み合わせて、これにより、該感光性材料に該二次元空間パターンを規定する、第2の露光と、
該感光性材料を処理し、それによって該二次元空間パターンを例示することと、
のプロセスから生じる基板上の感光性材料における二次元空間パターン。
前記基板上の該感光性材料上への該マルチビームの入射角によって確立される空間周波数での該基板における強度パターンと、
該第2の露光で用いられた露光量によって確立される、該感光性材料における該強度パターンの振幅と、
該基板上の基準点に対する該強度パターンの位相と、
を特徴とする、項目1に記載のプロセス。
中心空間周波数における中心空間周波数成分と、
該第2の露光で用いられた露光量によって確立される該中心空間周波数成分の振幅と、
該中心空間周波数成分の位相と、
前記基板上の該感光性材料における該二次元空間パターンを規定するように調整された振幅および位相を持つ該中心空間周波数を中心とする円の少なくとも一部の中にある空間周波数を持つ該高い空間周波数成分の範囲と、
を特徴とする、項目1に記載のプロセス。
波長λ 2 の空間的にコヒーレントな照射源と、
開口数NA 2 と、倍率M 2 とを持つ第2の光学結像システムと、
該第2の結像光学システムに固定された座標システムに対して極角(−arcsin[M 2 sin(θ 2 )],φ 2 )に第2のマスクを取付けるための手段と、
該第2のマスクを、実質的に均一な平面波で、該座標システムに対して極角(−arcsin[sin(θ 3 )/M 2 ],φ 2 )に照射するための光学手段と、
該座標システムに対して極角(θ 2 ,φ 2 )に前記基板を取付けるための手段と、
前記基板上の露光領域を定めるために第3のマスクを通して基準平面波を指向し、該第2のマスクの該照射および該第2の光学結像システムによって生じる光学場とコヒーレントに、該座標システムに対して極角(θ 3 ,φ 2 )に該基板上に入射する結像のゼロ次空間周波数で、該基板上に該第3のマスクを結像するための光学手段と、
基板位置または相対的光学経路長を調整し、それによって前記第1の露光の周波数成分と前記第2の露光の周波数成分との間の適切な位相関係を保証する整合手段と、
を備え、これにより、該基板上に該第2の露光が行われ、該第2の露光は、
φ 2 で表される方向において+[sin(θ 2 )+sin(θ 3 −θ 2 )]/λ 2 および−[sin(θ 2 )+sin(θ 3 −θ 2 )]/λ 2 の2つのオフセット中心空間周波数と、
該オフセット中心空間周波数の各々を中心とする空間周波数空間における、半径NA 2 /λ 2 の円の少なくとも前記部分の中にある空間周波数成分と、
を特徴とし、該円の少なくとも一部の中にある空間周波数成分の相対的振幅および位相が、該基板上に所望のパターンの相対的振幅および位相を実質的に再現する、項目13に記載のプロセス。
波長がλ 2 でコヒーレントがσ 2 である部分的に空間的にコヒーレントな照射源と、
開口数NA 2 および倍率M 2 を持つ第2の光学結像システムと、
該第2の結像光学システムに固定された座標システムに対して極角(−arcsin[M 2 sin(θ 2 )],φ 2 )に第2のマスクを取付けるための手段と、
該座標システムに対して(−arcsin[sin(θ 3 )/M 2 ],φ 2 )を中心とする極角で、該第2のマスクを照射するための光学手段と、
該座標システムに対して極角(θ 2 ,φ 2 )に基板を取付けるための手段と、
該基板上の露光領域を定めるために第3のマスクを通して基準波を指向し、該基板上に該第3のマスクを結像する光学手段であって、該結像のゼロ次空間周波数は、該座標システムに対する極角(θ 3 ,φ 2 )で該基板上に入射して、該第2のマスクおよび該第2の光学結像システムの該照射によって生じる光学場と干渉する、光学手段と、
基板位置または相対的光学経路長を調整し、それによって該第1の露光の周波数成分と該第2の露光の周波数成分との間の適切な位相関係が保証される整合手段と、
を含包し、これにより、該基板上に該第2の露光が行われ、該第2の露光は、
φ 2 で表される方向において+[sin(θ 2 )+sin(θ 3 −θ 2 )]/λ 2 および−[sin(θ 2 )+sin(θ 3 −θ 2 )]/λ 2 の2つのオフセット中心空間周波数と、
該オフセット中心空間周波数の各々を中心とする空間周波数空間における、半径(1+σ 2 )NA 2 /λ 2 の円の少なくとも一部の中にある空間周波数成分と、を特徴とし、
該円の該少なくとも該一部の中にある空間周波数成分の相対的振幅および位相が、該基板上に所望のパターンの相対的振幅および位相を実質的に再現する、項目13に記載のプロセス。
前記所望の周波数空間領域を、少なくともその一部が基板平面に位置する、フォトレジストコーティングされたブランクなマスクブランク上に結像するプロセスと、
その後に該マスクブランクを処理し、それによって該フォトレジストを現像し、前記光学的に生成されたパターンを該マスクに転写するプロセスと、
のプロセスを包含する光学的生成ステップをさらに包含する、項目13に記載のプロセス。
対応するy空間軸において小さな寸法を持つ小さな構造によって生じる高い空間周波数を包含するように、前記第3の露光の前記中心空間周波数を直交するy周波数軸に沿って整合させ、これにより、直線配置の空間パターンに関する空間周波数包括範囲を最大化するステップと、
のプロセスをさらに含む、項目22に記載のプロセス。
対応するy空間軸において小さな寸法を持つ小さな構造によって生じる高い空間周波数を包含するように、前記第3の露光の前記中心空間周波数を直交するy周波数軸に沿って整合させ、これにより、直線配置の空間パターンに関する空間周波数包括範囲を最大化するステップと、
のプロセスをさらに含む、項目23に記載のプロセス。
対応するy空間軸において小さな寸法を持つ小さな構造によって生じる高い空間周波数を包含するように、前記第3の露光の前記オフセット中心空間周波数を直交するy周波数軸に沿って整合させ、これにより、直線配置の空間パターンに関する空間周波数包括範囲を最大化するステップと、
のプロセスをさらに含む、項目24に記載のプロセス。
対応するy空間軸において小さな寸法を持つ小さな構造によって生じる高い空間周波数を包含するように、前記第3の露光の前記オフセット中心空間周波数を直交するy周波数軸に沿って整合させ、これにより、直線配置の空間パターンに関する空間周波数包括範囲を最大化するステップと、
のプロセスをさらに含む、項目25に記載のプロセス。
本発明を詳細に説明する前に、フーリエ光学の検討を示す。J.W. Goodman、Introduction to Fourier Optics、 2nd Ed. (John Wiley Press、NY 1996)も参照されたい。本明細書において、上記文献の内容全体を参考として援用する。
(4) k≦koptの場合、Tcoh(kx,ky)=1、および
k>koptの場合、Tcoh(kx,ky)=0
ここで、上記のように、この伝達関数は、適切には、空中像強度を評価する前に光電界に適用される。
(6) kx=2ksin(θ)
最大空間周波数は、kx|max≡kIL=2/λである。これは、結像光学システムの場合の最大空間周波数、即ち、k|max=2kopt=2NA/λと比較されるべきである。さらに、干渉露光の場合の変調伝達関数は、従来の光学システムの場合の急激な降下とは異なり、典型的には、すべてのk<kILの場合に1である。これは、コヒーレントな照射の光学結像システムおよび非コヒーレントな照射の光学結像システムの両方の場合の対応するMTFとともに、図2に示される。コヒーレントな照射のMTFが、強度のフーリエ成分ではなく、電界のフーリエ成分に適用されることを覚えておくことが重要である。強度をとることに関与する非線形二乗演算は、2×koptまでに及ぶ周波数成分を生成する。
(22) 2w=wbias
図14は、実験とモデル化との優れた一致を示すことにより、モデル化を有効にする上記方法および装置を用いて例示的に実施したものを示す。この結果は、上記発明が、所定のレンズシステムについての解像度の劇的な向上につながることを明らかに示す。これらの実験に関して、発明者らは、安価な色消し複レンズを使用した。比較的収差のない像を保証するために、レンズは、わずか0.04のNAにされた。パターンは、入れ子状の5つの「L」を含み、中心の特徴は、細長くなって、分離された線を提供し、10×10CD2の大きい箱形が、密集した線にすぐ隣接している。大きく露光された像を提供するために、反復パターンは40CDずつ分離され、散乱光の効果についての厳格なテストを提供した。このビューグラフ(viewgraph)から、特徴は、2μmCDである。
Claims (30)
- 基板上の感光性材料における二次元空間パターンを生成するプロセスであって、
該プロセスは、
第1の光学装置を用いて該感光性材料の第1の露光を形成するステップであって、該第1の光学装置は、該二次元空間パターンの低い空間周波数成分のみを含む第1のマスクパターンによって特徴付けられる第1のマスクの照射を提供する第1の照射システムと、該基板上の該感光性材料上に該第1のマスクパターンを結像する第1の結像システムとを含み、該第1の露光は、第1の強度パターンを有する、ステップと、
第2の光学装置を用いて該感光性材料の第2の露光を形成するステップであって、該第2の露光は、第2の強度パターンを有し、該第2の露光を形成するステップは、マルチビーム干渉露光を用いて露光することにより、該二次元空間パターンの高い空間周波数成分を該感光性材料に提供するステップを含み、該高い空間周波数成分の空間周波数の絶対値は、2NA1/λ1より大きく、
該第2の露光は、
該基板上の該感光性材料への該マルチビームの入射角によって確立される空間周波数を有する、該基板における強度パターンと、
該第2の露光に用いられた露光量によって確立される、該感光性材料における該強度パターンの振幅と、
該基板上の基準に対する該強度パターンの位相と
を含み、
該二次元空間パターンの空間周波数の第1および第2の所定の範囲を提供する該第1および第2の強度パターンの各々は、該感光性材料において該二次元空間パターンを規定するように組み合わせられる、ステップと、
該感光性材料を処理することにより、該二次元空間パターンを形成するステップと
を含む、プロセス。 - 前記感光性材料がフォトレジスト層である、請求項1に記載のプロセス。
- 前記基板がウェハである、請求項1に記載のプロセス。
- 前記処理により、前記二次元空間パターンに従って前記基板の適切な特性を変更するためのマスクとして前記感光性材料が作用するように該感光性材料において物理的変化が生じる、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第3のマスクは前記第2のマスクと実質的に同一である、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第1および第2の露光を形成するステップが、時間的に連続して行われる、請求項1に記載のプロセス。
- 前記組み合わせのステップが、直交偏光を有する照射源を用いて、前記露光の前記第1および第2の強度パターンを実質的に同時に足すステップを含む、請求項1に記載のプロセス。
- 前記組み合わせのステップが、互いに非コヒーレントな照射源を用いて、前記露光の前記第1および第2の強度パターンを実質的に同時に足すステップを含む、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第1の露光を形成するステップが、第1の波長λ1の照射源を有し且つ第1の開口数NA1によって特徴付けられる第1の光学リソグラフィー露光システムを用いて露光することにより、前記二次元空間パターンの低い空間周波数成分を前記感光性材料に提供するステップを含み、該低い空間周波数成分の空間周波数の絶対値は、2NA1/λ1より小さい、請求項1に記載のプロセス。
- 前記第2の露光は、
中心空間周波数における中心空間周波数成分と、
該第2の露光で用いられた露光量によって確立される該中心空間周波数成分の振幅と、
該中心空間周波数成分の位相と、
前記基板上の該感光性材料における該二次元空間パターンを規定するように調整された振幅および位相を有する該中心空間周波数を中心とする円の少なくとも一部の中にある空間周波数を有する前記高い空間周波数成分の範囲と
をさらに含む、請求項1に記載のプロセス。 - 基板上の感光性材料における二次元空間パターンを生成するプロセスであって、
該プロセスは、
第1の光学装置を用いて該感光性材料の第1の露光を形成するステップであって、該第1の光学装置は、該二次元空間パターンの低い空間周波数成分のみを含む第1のマスクパターンによって特徴付けられる第1のマスクの照射を提供する波長λ1の第1の照射システムと、該基板上の該感光性材料上に該第1のマスクパターンを結像する開口数NA1によって特徴付けられる第1の結像システムとを含み、該第1の露光は、第1の強度パターンを有する、ステップと、
第2の光学装置を用いて該感光性材料の第2の露光を形成するステップであって、該第2の露光は、第2の強度パターンを有し、該二次元空間パターンの空間周波数の第1および第2の所定の範囲を提供する該第1および第2の強度パターンの各々は、該感光性材料において該二次元空間パターンを規定するように組み合わせられる、ステップと、
該感光性材料を処理することにより、該二次元空間パターンを形成するステップと
を含み、
該第2の露光を形成するステップは、結像干渉露光を用いて露光することにより、該二次元空間パターンの高い空間周波数成分を該感光性材料に提供するステップを含み、該高い空間周波数成分の空間周波数の絶対値は、2NA1/λ1より大きく、
該第2の露光は、
中心空間周波数における中心空間周波数成分と、
該第2の露光で用いられた露光量によって確立される、該中心空間周波数成分の振幅と、
該中心空間周波数成分の位相と、
該基板上の該感光性材料における該二次元空間パターンを規定するように調整された振幅および位相を有する該中心空間周波数を中心とする円の少なくとも一部の中にある空間周波数を有する該高い空間周波数成分の範囲と
によって特徴付けられ、
該結像干渉露光が、結像干渉光学システムによって形成され、
該結像干渉光学システムは、
波長λ2の空間的にコヒーレントな照射源と、
開口数NA2と、倍率M2とを有する第2の光学結像システムと、
該第2の結像光学システムに固定された座標システムに対して極角(−arcsin[
M2sin(θ2)],φ2)で第2のマスクを取付ける手段と、
該第2のマスクを、実質的に均一な平面波で、該座標システムに対して極角(−arcsin[sin(θ3)/M2],φ2)で照射する光学手段と、
該座標システムに対して極角(θ2,φ2)で基板を取付ける手段と、
該基板上の露光領域を定めるために第3のマスクを通して基準平面波を指向し、該第2のマスクの該照射および該第2の光学結像システムによって生じる光学場とコヒーレントに、該座標システムに対して極角(θ3,φ2)で該基板上に入射する結像のゼロ次空間
周波数で、該基板上に該第3のマスクを結像する光学手段と、
基板位置または相対的光学経路長を調整することにより、該第1の露光の周波数成分と該第2の露光の周波数成分との間の適切な位相関係を保証する整合手段と
を備え、これにより、該基板上に該第2の露光が行われ、
該第2の露光は、
φ2で表される方向に沿って、+[sin(θ2)+sin(θ3−θ2)]/λ2および−[sin(θ2)+sin(θ3−θ2)]/λ2の2つのオフセット中心空間周波数と、
該オフセット中心空間周波数の各々を中心とする空間周波数空間における、半径NA2/λ2の円の少なくとも一部の中にある空間周波数成分と
によって特徴付けられ、
該円の少なくとも一部の中にある空間周波数成分の相対的振幅および位相が、該基板上に所望のパターンの相対的振幅および位相を実質的に再現する、プロセス。 - 前記角度θ2は−θ3に固定されており、これにより、前記基板上の前記感光性材料を対称的に照射し、前記第2の光学結像システムの中心線は該基板に対して−θ3の角度であり、前記結像光学手段の中心線は該基板に対して+θ3の角度であり、さらに、前記中心空間周波数は、φ2で表される方向に沿って、それぞれ+2sin(θ3)/λ2および−2sin(θ3)/λ2である、請求項11に記載のプロセス。
- 前記角度θ2は0に固定されており、これにより、前記第2のマスクおよび前記基板は前記第2の光学結像システムの中心線に対して垂直であり、さらに、前記中心空間周波数は、φ2で表される方向に沿って、それぞれ+sin(θ3)/λ2および−sin(θ3)/λ2である、請求項11に記載のプロセス。
- 基板上の感光性材料における二次元空間パターンを生成するプロセスであって、
該プロセスは、
第1の光学装置を用いて該感光性材料の第1の露光を形成するステップであって、該第1の光学装置は、該二次元空間パターンの低い空間周波数のみを含む第1のマスクパターンによって特徴付けられる第1のマスクの照射を提供する波長λ1の第1の照射システムと、該基板上の該感光性材料上に該第1のマスクパターンを結像する開口数NA1によって特徴付けられる第1の結像システムとを含み、該第1の露光は、第1の強度パターンを有する、ステップと、
第2の光学装置を用いて該感光性材料の第2の露光を形成するステップであって、該第2の露光は、第2の強度パターンを有し、該二次元空間パターンの空間周波数の第1および第2の所定の範囲を提供する該第1および第2の強度パターンの各々は、該感光性材料において該二次元空間パターンを規定するように組み合わせられる、ステップと、
該感光性材料を処理することにより、該二次元空間パターンを形成するステップと
を含み、
該第2の露光を形成するステップは、結像干渉露光を用いて露光することにより、該二次元空間パターンの高い空間周波数成分を該感光性材料に提供するステップを含み、該高い空間周波数成分の空間周波数の絶対値は、2NA1/λ1より大きく、
該第2の露光は、
中心空間周波数における中心空間周波数成分と、
該第2の露光で用いられた露光量によって確立される、該中心空間周波数成分の振幅と、
該中心空間周波数成分の位相と、
該基板上の該感光性材料における該二次元空間パターンを規定するように調整された振幅および位相を有する該中心空間周波数を中心とする円の少なくとも一部の中にある空間周波数を有する該高い空間周波数成分の範囲と
によって特徴付けられ、
該結像干渉露光は結像干渉光学システムによって形成され、
該結像干渉光学システムは、
波長がλ2でコヒーレントがσ2である部分的に空間的にコヒーレントな照射源と、
開口数NA2および倍率M2を有する第2の光学結像システムと、
該第2の結像光学システムに固定された座標システムに対して極角(−arcsin[
M2sin(θ2)],φ2)で第2のマスクを取付ける手段と、
該座標システムに対して(−arcsin[sin(θ3)/M2],φ2)を中心とす
る極角で、該第2のマスクを照射する光学手段と、
該座標システムに対して極角(θ2,φ2)で基板を取付ける手段と、
該基板上の露光領域を定めるために第3のマスクを通して基準波を指向し、該基板上に該第3のマスクを結像する光学手段であって、該結像のゼロ次空間周波数は、該座標システムに対する極角(θ3,φ2)で該基板上に入射して、該第2のマスクおよび該第2の
光学結像システムの該照射によって生じる光学場と干渉する、光学手段と、
基板位置または相対的光学経路長を調整することにより、該第1の露光の周波数成分と該第2の露光の周波数成分との間の適切な位相関係を保証する整合手段と
を備え、これにより、該基板上に該第2の露光が行われ、
該第2の露光は、
φ2で表される方向に沿って+[sin(θ2)+sin(θ3−θ2)]/λ2および−[sin(θ2)+sin(θ3−θ2)]/λ2の2つのオフセット中心空間周波数と、
該オフセット中心空間周波数の各々を中心とする空間周波数空間における、半径(1+σ2)NA2/λ2の円の少なくとも一部の中にある空間周波数成分と
によって特徴付けられ、
該円の該少なくとも該一部の中にある空間周波数成分の相対的振幅および位相が、該基板上に所望のパターンの相対的振幅および位相を実質的に再現する、プロセス。 - 前記角度θ2は−θ3に固定されており、これにより、前記基板上の前記感光性材料を対称的に照射し、前記第2の光学結像システムの中心線は該基板に対して−θ3の角度であり、前記第3の結像光学手段の中心線は該基板に対して+θ3の角度であり、さらに、前記中心空間周波数は、φ2で表される方向に沿って、それぞれ+2sin(θ3)/λ2および−2sin(θ3)/λ2である、請求項14に記載のプロセス。
- 前記角度θ2は0に固定されており、これにより、前記第2のマスクおよび前記基板は前記第2の光学結像システムの中心線に対して垂直であり、さらに、前記中心空間周波数は、φ2で表される方向に沿って、それぞれ+sin(θ3)/λ2および−sin(θ3)/λ2である、請求項14に記載のプロセス。
- 前記第2のマスクおよび前記第3のマスクは実質的に同じ空間パターンを含み、さらに、前記第2の光学結像システムおよび前記光学手段は、実質的に等価な開口数を提供し、前記基板上の前記感光性材料上の前記二次元パターンは、空間周波数2sin(θ2/2)の高い空間周波数成分で畳み込みされた該マスクの縮小空間パターンによって特徴付けられる、請求項11に記載のプロセス。
- 前記第2のマスクおよび前記第3のマスクは実質的に同じ空間パターンを含み、さらに、前記第2の光学結像システムおよび前記光学手段は、実質的に等価な開口数を提供し、前記基板上の前記感光性材料上の前記二次元パターンは、空間周波数2sin(θ2/2)の高い空間周波数成分で畳み込みされた該マスクの縮小空間パターンによって特徴付けられる、請求項14に記載のプロセス。
- 前記マスクの前記照射によって生じた前記空間周波数成分の振幅および位相が、前記第2の光学システムおよび前記光学手段によって収集されない他の周波数空間領域に生じる該空間周波数成分の振幅および位相に関して何ら制約もなしに、前記周波数空間領域内の最終結像に望まれる振幅および位相と実質的に同じであるように、前記第2のマスクおよび前記第3のマスクが構成される場合をさらに含む、請求項11に記載のプロセス。
- 前記マスクの前記照射によって生じた前記空間周波数成分の振幅および位相が、前記第2の光学システムおよび前記光学手段によって収集されない他の周波数空間領域に生じる空間周波数成分の振幅および位相に関して何ら制約もなしに、前記周波数空間領域内の最終結像に望まれる振幅および位相と実質的に同じであるように、前記第2のマスクおよび前記第3のマスクが構成される場合をさらに含む、請求項14に記載のプロセス。
- 前記マスクの前記照射によって生じた前記空間周波数成分の振幅および位相が、最終結像に望まれる振幅および位相と実質的に同じであるが、空間周波数に関してシフトされるように該第2のマスクおよび前記第3のマスクが構成され、前記光学結像システムが、前記基板上の所望の周波数空間領域内に前記空間周波数を印刷するように調整され、該周波数空間領域内にはない空間周波数成分には何ら制約がない場合をさらに含む、請求項11に記載のプロセス。
- 前記マスクの前記照射によって生じた前記空間周波数成分の振幅および位相が、最終結像に望まれる振幅および位相と実質的に同じであるが、空間周波数に関してシフトされるように該第2のマスクおよび前記第3のマスクが構成され、前記光学結像システムが、前記基板上の所望の周波数空間領域内に前記空間周波数を印刷するように調整され、該周波数空間領域内にはない空間周波数成分には何ら制約がない場合をさらに含む、請求項14に記載のプロセス。
- 完全なマスクおよび前記コヒーレントに照射される結像干渉光学システムを用いて、前記マスクを光学的に生成するステップをさらに含み、
該光学的に生成するステップは、
前記所望の周波数空間領域を、少なくともその一部が基板平面に位置する、フォトレジストコーティングされたブランクなマスクブランク上に結像するステップと、
その後に該マスクブランクを処理することにより、該フォトレジストを現像し、前記光学的に生成されたパターンを該マスクに転写するステップと
を含む、請求項12に記載のプロセス。 - 前記第2のマスクの前記二次元パターンは、主に直交方向xおよびyに沿って配向されたエッジを有する構造を含み、これにより、対応するx軸に沿った小さな寸法の小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むように前記極角φ2を該x方向に沿って整合させることを有利にし、さらに、第3の露光において、対応するy軸における小さな寸法の小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むようにφ2を直交するy軸に沿って整合させ、これにより、直線配置の空間パターンに関する空間周波数包括範囲を最大化する、請求項11に記載のプロセス。
- 前記第2のマスクの前記二次元パターンは、主に直交方向xおよびyに沿って配向されたエッジを有する構造を含み、これにより、対応するx軸に沿った小さな寸法の小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むように前記極角φ2を該x方向に整合させることを有利にし、さらに、第3の露光において、対応するy軸における小さな寸法の小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むようにφ2を直交するy軸に沿って整合させ、これにより、直線配置の空間パターンに関する空間周波数包括範囲を最大化する、請求項14に記載のプロセス。
- 対応するx空間軸に沿った小さな寸法を有する小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むように、前記第2の露光の前記オフセット中心空間周波数をx周波数軸に沿って整合させるステップと、
対応するy空間軸において小さな寸法を有する小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むように、前記第3の露光の前記中心空間周波数を直交するy周波数軸に沿って整合させ、これにより、直線配置の空間パターンに関する空間周波数包括範囲を最大化するステップと
をさらに含む、請求項19に記載のプロセス。 - 対応するx空間軸に沿った小さな寸法を有する小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むように、前記第2の露光の前記オフセット中心空間周波数をx周波数軸に沿って整合させるステップと、
対応するy空間軸において小さな寸法を有する小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むように、前記第3の露光の前記中心空間周波数を直交するy周波数軸に沿って整合させ、これにより、直線配置の空間パターンに関する空間周波数包括範囲を最大化するステップと
をさらに含む、請求項20に記載のプロセス。 - 対応するx空間軸に沿った小さな寸法を有する小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むように、前記第2の露光の前記オフセット中心空間周波数をx周波数軸に沿って整合させるステップと、
対応するy空間軸において小さな寸法を有する小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むように、前記第3の露光の前記オフセット中心空間周波数を直交するy周波数軸に沿って整合させ、これにより、直線配置の空間パターンに関する空間周波数包括範囲を最大化するステップと
をさらに含む、請求項21に記載のプロセス。 - 対応するx空間軸に沿った小さな寸法を有する小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むように、前記第2の露光の前記オフセット中心空間周波数をx周波数軸に沿って整合させるステップと、
対応するy空間軸において小さな寸法を有する小さな構造によって生じる高い空間周波数を含むように、前記第3の露光の前記オフセット中心空間周波数を直交するy周波数軸に沿って整合させ、これにより、直線配置の空間パターンに関する空間周波数包括範囲を最大化するステップと
をさらに含む、請求項22に記載のプロセス。 - 前記第1の露光および前記第2の露光は、単一のコヒーレント放射源から導出される、請求項1に記載のプロセス。
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