JP5031215B2 - 多機能x線分析システム - Google Patents
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- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 title claims description 45
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 55
- 238000000560 X-ray reflectometry Methods 0.000 claims description 47
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 43
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 31
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000009304 pastoral farming Methods 0.000 claims description 18
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 17
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 12
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 claims description 12
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 11
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 11
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 10
- 238000002017 high-resolution X-ray diffraction Methods 0.000 claims description 9
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 8
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 claims description 6
- 238000012284 sample analysis method Methods 0.000 claims description 5
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000001988 small-angle X-ray diffraction Methods 0.000 claims description 4
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 claims description 3
- 238000004148 unit process Methods 0.000 claims description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 131
- 238000000235 small-angle X-ray scattering Methods 0.000 description 53
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 39
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 36
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 29
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 15
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 9
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 9
- 239000010408 film Substances 0.000 description 7
- 238000001341 grazing-angle X-ray diffraction Methods 0.000 description 7
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 6
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 6
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 6
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 4
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 4
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 4
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 3
- 238000013507 mapping Methods 0.000 description 3
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 3
- 238000000333 X-ray scattering Methods 0.000 description 2
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 2
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000011800 void material Substances 0.000 description 2
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052790 beryllium Inorganic materials 0.000 description 1
- ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N beryllium atom Chemical compound [Be] ATBAMAFKBVZNFJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000013480 data collection Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000011065 in-situ storage Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000005272 metallurgy Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000001151 other effect Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 1
- 238000012797 qualification Methods 0.000 description 1
- 239000013074 reference sample Substances 0.000 description 1
- 239000006104 solid solution Substances 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N tantalum atom Chemical compound [Ta] GUVRBAGPIYLISA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
- 238000004876 x-ray fluorescence Methods 0.000 description 1
- 238000009681 x-ray fluorescence measurement Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/2055—Analysing diffraction patterns
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0411—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using focussing or collimating elements, i.e. lenses or mirrors; Aberration correction
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume, or surface-area of porous materials
- G01N15/08—Investigating permeability, pore-volume, or surface area of porous materials
- G01N15/0806—Details, e.g. sample holders, mounting samples for testing
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
- G01N23/20075—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials by measuring interferences of X-rays, e.g. Borrmann effect
Description
第1のX線収束ビームを試料表面に向け、第2のX線平行ビームを試料表面に向けるように構成された照射源と、
放射源を、X線が放射源から試料表面にかすめ角で向けられる第1の光源位置と、X線が試料のブラッグ角近傍で放射源から試料表面に向けられる第2の光源位置との間で移動させるように作動する動作アセンブリと、
放射源が第1および第2の光源構成のいずれか、ならびに第1および第2の光源位置のいずれかにあるときに、試料から散乱したX線を角度の関数として感知し、散乱したX線に反応して出力信号を生成するように構成された検出素子アセンブリと、
出力信号を受けて処理し、試料の特性を判定するように結合した信号処理部とを備える試料分析装置が提供される。
X線平行ビームを、ビーム軸に沿ってかすめ角で試料の選択領域に向け、X線の一部が方位角範囲全体の領域から散乱するように機能する照射源と、
試料表面に平行に、かつ選択領域に近接して配置されて、表面とナイフエッジとの間に空隙を画定し、空隙を通過しないビームの部分を遮断するナイフエッジと、
方位角範囲の少なくとも一部分に散乱したX線を遮断することなく、空隙を通過してさらにビーム軸に沿って伝播するX線を遮断するように構成されたビーム遮断部と、
散乱したX線を方位角の関数として感知し、散乱したX線に反応して出力信号を生成するように構成された検出素子アセンブリと、
出力信号を受けて処理し、試料特性を判定するように結合された信号処理部とを備える試料分析装置が提供される。
X線ビームを試料の選択領域に向け、X線の一部が領域から散乱するように機能する照射源と、
試料表面に平行に、かつ選択領域に近接して配置されて、表面とシリンダとの間に空隙を画定し、空隙を通過しないビームの部分を遮断する、X線吸収材料のシリンダを包含するナイフエッジと、
散乱したX線を角度の関数として感知し、散乱したX線に反応して出力信号を生成するように構成された検出素子アセンブリと、
出力信号を受けて処理し、試料特性を判定するように結合された信号処理部とを備える試料分析装置が提供される。
分析中に試料を支持し、配向を調整する取付アセンブリ、
X線平行ビームを試料表面上の選択領域に向け、X線の一部が方位角範囲全体の領域から散乱するように機能する照射源と、
散乱したX線を方位角の関数として感知し、散乱したX線に反応して出力信号を生成するように構成した検出素子アセンブリと、
特徴的な表面の傾き角を示す傾きマップを受け入れ、傾きマップに基づいて選択領域の傾き角を判定し、推定傾き角に反応して取付アセンブリを方向付けて試料の配向を調整するように機能する信号処理部であって、配向を調整した後に、出力信号を処理して試料の特性を判定する、信号処理部とを備える試料分析装置が提供される。
第1のX線収束ビームを試料表面に向け、第2のX線平行ビームを試料表面に向けるように構成された照射源を操作し、
放射源を、X線が放射源から試料表面にかすめ角で向けられる第1の光源位置と、X線が試料のブラッグ角近傍で放射源から試料表面に向けられる第2の光源位置との間で移動させ、
放射源が第1および第2の光源構成の両方、ならびに第1および第2の光源位置の両方にあるときに、試料から散乱したX線を角度の関数として感知して、試料特性を判定することを含む、試料分析方法が提供される。
X線平行ビームを、ビーム軸に沿ってかすめ角で試料の選択領域に向け、X線の一部が方位角範囲全体の領域から散乱するようにし、
ナイフエッジを試料表面に平行に、かつ選択領域に近接して配置して、表面とナイフエッジとの間に空隙を画定し、空隙を通過しないビームの部分を遮断し、
方位角範囲の少なくとも一部分に散乱したX線を遮断することなく、空隙を通過してさらにビーム軸に沿って伝播するX線を遮断するようにビーム遮断部を配置し、
散乱したX線を方位角の関数として感知して、試料の特性を判定することを含む、試料分析方法が提供される。
X線ビームを、試料の選択領域に向け、X線の一部が領域から散乱するようにし、
X線吸収材料のシリンダを、試料表面に平行に、かつ選択領域に近接して配置して、表面とシリンダとの間に空隙を画定し、空隙を通過しないビームの部分を遮断し、
散乱したX線を角度の関数として感知して、試料の特性を判定することを含む、試料分析方法が提供される。
試料の傾きマップを生成し、
X線平行ビームを、ビーム軸に沿ってかすめ角で試料の選択領域に向け、X線の一部が方位角範囲全体の領域から散乱するようにし、
傾きマップに基づいて、選択領域の傾き角を判定し、
試料の配向を調整して傾き角を補償し、
配向を調整した後、散乱したX線を方位角の関数として感知して、試料の特性を判定することを含む、試料分析方法が提供される。本発明は、以下の実施形態の詳細な説明を図面と併せて読むことで、より十分に理解されよう。
次の表は、システムの選択的な構成の概要を示す。
22:試料
24:ステージ
26:X線源
28、40:光源動作アセンブリ
30、36:動作アセンブリは曲線軌道
32:検出素子アセンブリ
34:検出素子動作アセンブリ
38:管
42:光学素子
44:収束ビーム
46:シャッター
48:ナイフエッジ
50:領域
54:アレイ
56:処理部
58:分布
70:散乱ビーム
72:視準光学素子
74:X線ビーム
75:光源ビーム遮断部
76:検出素子
80:スリット
82:回折防止スリット
86:窓
88:筐体
90:ワイヤ
100:傾きマッピングステップ
102:モード設定ステップ
104:部位選択ステップ
106:傾き決定ステップ
108:傾き補正ステップ
Claims (32)
- 試料分析装置であって、
第1のX線収束ビームを試料表面に向け、第2のX線平行ビームを前記試料表面に向けるように構成された照射源と、
前記照射源を、前記X線が前記照射源から前記試料表面にかすめ角で向けられる第1の光源位置と、前記X線が前記照射源から前記試料表面に前記試料のブラッグ角近傍で向けられる第2の光源位置との間で移動させるように動作する動作アセンブリと、
前記第1および第2の光源位置のいずれかにあるときに、前記収束ビーム及び平行ビームのいずれかに反応して前記試料から散乱した前記X線を角度の関数として感知し、前記散乱したX線に反応して出力信号を生成するように構成された検出素子アセンブリと、
前記出力信号を受けてこれを処理し、試料の特性を判定するように結合された信号処理部とを備え、
前記照射源が、
前記X線を放射するように動作するX線管と、
前記X線を受けて前記収束ビームに集光するように構成された第1のミラーと、
前記X線を受けて前記平行ビームに集光するように構成された第2のミラーと、
を備え、
前記収束ビーム及び前記平行ビームを前記試料の同一の領域に衝突させるように、前記第1のミラーおよび前記第2のミラーを互いに対向するよう配置し、
前記第1のミラーおよび第2のミラーは、前記X線を受けるとともに集光するように構成され、前記収束ビーム及び前記平行ビームの方位をずらすように配置される、
試料分析装置。 - 前記第1および第2のミラーが二重湾曲構造を有する、請求項1に記載の装置。
- 収束ビーム及び平行ビームのいずれか一方のみが前記試料に衝突するようにX線管から照射されたX線の一部を遮断するために可動であるビーム遮断部を備える請求項1に記載の装置。
- 前記動作アセンブリが、前記検出素子アセンブリが前記試料からかすめ角で散乱した前記X線を感知する第1の検出素子仰角と、前記検出素子アセンブリが前記表面からブラッグ角の近傍で散乱した前記X線を感知する第2の検出素子仰角との間で、前記検出素子アセンブリを移動するように動作する、請求項1に記載の装置。
- 前記動作アセンブリが、前記第1の検出素子仰角にある前記検出素子アセンブリを、前記検出素子アセンブリが前記X線の小角散乱を感知する第1の方位角と、前記検出素子アセンブリが前記試料表面の面内構造から回折された前記X線を感知する第2のより大きい方位角との間で移動させるように動作する、請求項4に記載の装置。
- 前記検出素子アセンブリが、前記試料表面に垂直な第1の軸に沿って前記散乱したX線を分解する第1の検出素子構成と、前記表面に平行な第2の軸に沿って前記散乱したX線を分解する第2の検出素子構成とを有する検出素子アレイを備える、請求項1に記載の装置。
- 前記信号処理部が、前記第1の検出素子構成にある前記検出素子アセンブリからの前記出力信号を処理して、前記表面からの反射率を前記表面に対する仰角の関数として判定し、前記第2の検出素子構成にある前記検出素子アセンブリからの前記出力信号を処理して、前記表面の散乱特性を前記表面平面の方位角の関数として判定するように構成された、請求項6に記載の装置。
- 前記信号処理部が、前記照射源が前記第1のビームを照射し、かつ前記第1の光源位置にあるときに、前記検出素子アセンブリからの前記出力信号を処理して、前記表面のX線反射率(XRR)スペクトルを獲得し、前記照射源が前記第2のビームを照射し、かつ前記第1の光源位置にあるときに、前記検出素子アセンブリからの前記出力信号を処理して、前記表面のX線小角散乱(SAXS)スペクトルおよび小角X線回折(XRD)スペクトルの少なくとも一つを獲得し、また前記照射源が前記第2の光源位置にあるときに、前記検出アセンブリからの前記出力信号を処理して、前記表面の高角度XRDスペクトルを獲得するように構成された、請求項1に記載の装置。
- 前記信号処理部が、前記照射源が前記第2の光源位置にあって前記第1のビームを照射しているときに高分解能XRDスペクトルを獲得し、前記照射源が前記第2の光源位置にあって前記第2のビームを照射しているときに低分解能XRDスペクトルを獲得するように構成された、請求項8に記載の装置。
- 動作センサが、前記高分解能XRDスペクトルを獲得するように、前記検出素子アセンブリを前記試料表面からの第1の距離に配置し、前記低分解能XRDスペクトルを獲得するように、前記検出素子アセンブリを、前記第1の距離よりも小さい前記表面からの第2の距離に配置するように構成された、請求項9に記載の装置。
- 前記試料が少なくとも1つの表面層を備え、前記信号処理部が、前記XRR、SAXSおよびXRDスペクトルの2つ以上を共に分析するように構成されて、前記少なくとも1つの表面層の特性を判定する、請求項8に記載の装置。
- 前記特性が、膜厚、密度、表面品質、空隙率、および結晶構造の少なくとも1つを含む、請求項11に記載の装置。
- 前記試料表面に平行に、かつ選択領域に隣接して配置されたナイフエッジを備え、前記表面と前記ナイフエッジとの間に空隙を画定して、前記空隙を通過しない前記ビームの一部を遮断する、請求項1に記載の装置。
- 対象となる角度範囲に散乱する前記X線を遮断することなく、前記空隙を通過してさらに前記ビーム軸に沿って伝播する前記X線を遮断するように構成されたビーム遮断部を備える、請求項13に記載の装置。
- 前記ナイフエッジがX線吸収材料のシリンダを備える、請求項13に記載の装置。
- 分析中に前記試料の配向を受けてこれを調整する搭載アセンブリを備え、前記照射源が、前記X線ビームを前記試料表面の選択領域に向けるように構成され、前記信号処理部が、前記表面の特徴的な傾き角を示す傾きマップを受けて、前記傾きマップを基に前記選択領域の傾き角を決定し、前記搭載アセンブリで前記試料の配向を調整させて前記決定された傾き角を補償するように構成された、請求項1に記載の装置。
- X線源からの前記X線を前記収束ビームに集光する第1のミラーを配置し、前記X線源からの前記X線を前記平行ビームに集光する第2のミラーを配置することにより、第1のX線収束ビームを試料表面に向け、第2のX線平行ビームを前記試料表面に向けるように照射源を操作し、
前記収束ビーム及び前記平行ビームを前記試料の同一の領域に衝突させるように、前記第1のミラーおよび前記第2のミラーを互いに対向するよう配置し、
前記第1のミラーおよび第2のミラーは、前記X線を受けるとともに集光するように構成され、前記収束ビーム及び前記平行ビームの方位をずらすように配置され、
前記照射源を、前記X線が前記照射源から前記試料表面にかすめ角で向けられる第1の光源位置と、前記X線が前記照射源から前記試料表面に前記試料のブラッグ角近傍で向けられる第2の光源位置との間で移動させ、
前記照射源が、前記第1および第2の光源位置のいずれかにあるときに、前記収束ビーム及び平行ビームのいずれかに反応して前記試料から散乱した前記X線を角度の関数として感知して、前記試料の特性を判定する試料分析方法。 - 前記第1および第2のミラーが二重湾曲構造を有する、請求項17に記載の方法。
- 前記照射源を操作することは、収束ビーム及び平行ビームのいずれか一方のみが前記試料に衝突するようにX線管から照射されたX線の一部を遮断するためにビーム遮断部を移動させることを特徴とする、請求項18に記載の方法。
- 前記X線を感知することが、前記散乱したX線を検出素子を用いて捕捉し、前記検出素子を、前記照射源が前記第1の光源位置にあるときに、前記検出素子が前記試料からかすめ角で散乱した前記X線を感知する第1の検出素子仰角と、前記照射源が前記第2の光源位置にあるときに、前記検出素子が前記表面からブラッグ角の近傍で散乱した前記X線を感知する第2の検出素子仰角との間で、前記検出素子を移動させることを特徴とする、請求項17に記載の方法。
- 前記検出素子を移動させることが、前記第1の検出素子仰角にある前記検出素子を、前記検出素子アセンブリが前記X線の小角散乱を感知する第1の方位角と、前記検出素子アセンブリが前記試料表面の面内構造から回折された前記X線を感知する第2のより大きい方位角との間で移動させることをさらに特徴とする、請求項20に記載の方法。
- 前記X線を感知することが、前記試料表面に垂直な第1の軸に沿って前記散乱したX線を分解する第1の検出素子構成と、前記表面に平行な第2の軸に沿って前記散乱したX線を分解する第2の検出素子構成とに配置することを特徴とする、請求項17に記載の方法。
- 前記X線を感知することが、前記第1の検出素子構成にある前記検出素子アレイの出力を処理して、前記表面からの反射率を前記表面に対する仰角の関数として判定し、前記第2の検出素子構成にある前記検出素子アレイの出力を処理して、前記表面の散乱特性を前記表面平面の方位角の関数として判定することを特徴とする、請求項22に記載の方法。
- 前記X線を感知することが、前記照射源が前記第1の光源位置にあって前記表面に前記第1のビームを向けているときに、前記表面のX線反射率(XRR)スペクトルを獲得し、前記照射源が前記第1の光源位置にあって前記表面に前記第1のビームを向けているときに、前記表面のX線小角散乱(SAXS)スペクトルおよび小角X線回折(XRD)スペクトルの少なくとも一つを獲得し、また前記照射源が前記第2の光源位置にあるときに、前記表面の高角度XRDスペクトルを獲得することを特徴とする、請求項17に記載の方法。
- 前記XRDスペクトルを獲得することが、前記照射源が前記第2の光源位置にあって前記表面に前記第1のビームを向けているときに高分解能XRDスペクトルを獲得し、前記照射源が前記第2の光源位置にあって前記表面に前記第2のビームを向けているときに低分解能XRDスペクトルを獲得することを特徴とする、請求項24に記載の方法。
- 前記X線を感知することが、前記高分解能XRDスペクトルを獲得するために、前記試料表面からの第1の距離で前記散乱したX線を受けるように検出素子を配置し、前記低分解能XRDスペクトルを獲得するために、前記第1の距離よりも小さい前記表面からの第2の距離で前記散乱したX線を受けるように前記検出素子を配置することを特徴とする、請求項25に記載の方法。
- 前記試料が少なくとも1つの表面層を備え、前記少なくとも1つの表面層の特性を判定するために、前記XRR、SAXSおよびXRDスペクトルの2つ以上を共に分析することを特徴とする、請求項24に記載の方法。
- 前記特性が、膜厚、密度、表面品質、空隙率、および結晶構造の少なくとも1つを含む、請求項27に記載の方法。
- 前記試料表面に平行に、かつ選択領域に隣接してナイフエッジを配置し、前記表面と前記ナイフエッジとの間に空隙を画定して、前記空隙を通過しない前記ビームの一部を遮断することを特徴とする、請求項17に記載の方法。
- 対象となる角度範囲に散乱する前記X線を遮断することなく、前記空隙を通過してさらに前記ビーム軸に沿って伝播する前記X線を遮断するビーム遮断部を配置することを特徴とする、請求項29に記載の方法。
- 前記ナイフエッジがX線吸収材料のシリンダを備える、請求項29に記載の方法。
- 前記照射源を操作することが、前記X線ビームを前記試料表面の選択領域に向けることを特徴とし、さらに、
前記表面の特徴的な傾き角を示す傾きマップを提供し、
前記傾きマップに基づいて前記選択領域の傾き角を決定し、
前記試料の配向を調整して前記決定された傾き角を補償することを特徴とする、請求項17に記載の方法。
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/946,426 US7120228B2 (en) | 2004-09-21 | 2004-09-21 | Combined X-ray reflectometer and diffractometer |
US10/946,426 | 2004-09-21 | ||
US11/200,857 | 2005-08-10 | ||
US11/200,857 US7551719B2 (en) | 2004-09-21 | 2005-08-10 | Multifunction X-ray analysis system |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006138837A JP2006138837A (ja) | 2006-06-01 |
JP2006138837A5 JP2006138837A5 (ja) | 2011-06-02 |
JP5031215B2 true JP5031215B2 (ja) | 2012-09-19 |
Family
ID=36619748
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005274293A Active JP5031215B2 (ja) | 2004-09-21 | 2005-09-21 | 多機能x線分析システム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5031215B2 (ja) |
KR (1) | KR101231731B1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7316473B1 (ja) | 2023-03-27 | 2023-07-27 | 直行 棚野 | 配電盤設置方法 |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7120228B2 (en) * | 2004-09-21 | 2006-10-10 | Jordan Valley Applied Radiation Ltd. | Combined X-ray reflectometer and diffractometer |
KR20080015735A (ko) * | 2006-08-15 | 2008-02-20 | 조르단 밸리 세미컨덕터즈 리미티드 | X선 빔 스폿 크기 제어 |
JP5081556B2 (ja) * | 2007-09-28 | 2012-11-28 | 株式会社リガク | デバイシェラー光学系を備えたx線回折測定装置とそのためのx線回折測定方法 |
US8903044B2 (en) | 2011-01-31 | 2014-12-02 | Rigaku Corporation | X-ray diffraction apparatus |
US9588066B2 (en) * | 2014-01-23 | 2017-03-07 | Revera, Incorporated | Methods and systems for measuring periodic structures using multi-angle X-ray reflectance scatterometry (XRS) |
CN109997031B (zh) * | 2016-09-19 | 2022-05-10 | 索雷克核研究中心 | 用于检测材料的x射线荧光系统和方法以及控制系统 |
CN110567997A (zh) * | 2019-10-11 | 2019-12-13 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 一种用于散射实验站的真空腔体组件 |
KR102135213B1 (ko) * | 2020-01-10 | 2020-07-17 | 주식회사 에이피엔 | 초점 조절 방식의 방사선 콜리메이터 장치 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0666741A (ja) * | 1992-08-24 | 1994-03-11 | Mc Sci:Kk | X線回折装置 |
JPH08313458A (ja) * | 1995-05-17 | 1996-11-29 | Rigaku Corp | X線装置 |
JP3519203B2 (ja) * | 1996-02-20 | 2004-04-12 | 理学電機株式会社 | X線装置 |
JP2904191B2 (ja) * | 1997-06-23 | 1999-06-14 | 日本電気株式会社 | X線回折顕微方法およびx線回折顕微装置 |
US6317483B1 (en) * | 1999-11-29 | 2001-11-13 | X-Ray Optical Systems, Inc. | Doubly curved optical device with graded atomic planes |
US6895075B2 (en) * | 2003-02-12 | 2005-05-17 | Jordan Valley Applied Radiation Ltd. | X-ray reflectometry with small-angle scattering measurement |
JP3548556B2 (ja) * | 2001-12-28 | 2004-07-28 | 株式会社リガク | X線回折装置 |
ATE488011T1 (de) * | 2002-08-02 | 2010-11-15 | X Ray Optical Sys Inc | Optische vorrichtung aus einer vielzahl von gekrümmten optischen kristallen zum fokussieren von röntgenstrahlen |
JP4327477B2 (ja) * | 2003-02-27 | 2009-09-09 | 株式会社島津製作所 | X線透視装置 |
-
2005
- 2005-09-21 KR KR1020050087778A patent/KR101231731B1/ko active IP Right Grant
- 2005-09-21 JP JP2005274293A patent/JP5031215B2/ja active Active
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7316473B1 (ja) | 2023-03-27 | 2023-07-27 | 直行 棚野 | 配電盤設置方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20060051491A (ko) | 2006-05-19 |
JP2006138837A (ja) | 2006-06-01 |
KR101231731B1 (ko) | 2013-02-08 |
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A621 | Written request for application examination |
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|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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|
A601 | Written request for extension of time |
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|
A602 | Written permission of extension of time |
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A524 | Written submission of copy of amendment under article 19 pct |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R250 | Receipt of annual fees |
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