JP5025577B2 - 撮像管 - Google Patents
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Description
E(nx,ny,nz)=h2/8π2m(π/L)2(nx 2+ny 2+nz 2)・・・・・(1)
4 波長フィルタ
10 真空管
11 電子銃
12 光導電膜
13 面板
14 レンズ
16 偏向コイル
18 抵抗
19 電源
21 ナノ微粒子
31 カソード
41 基板
42 第1の量子ドット
43 第2の量子ドット
44 第3の量子ドット
Claims (5)
- 電子ビームを出射する電子銃と、
上記電子ビームが走査され、入射される光の像を内部光電効果に基づいて電気信号に変換し電荷パターンとして蓄積するための光導電膜と、
上記光導電膜の光入射側に形成された波長フィルタとを備え、
上記波長フィルタは、
導電性の結晶により構成される基板と、
上記基板内に形成され、入射される300nm以下の光の波長に応じて励起子が励起される第1のエネルギー準位を有する第1の量子ドットと、
上記基板内に上記第1の量子ドットより大体積で形成され、上記第1のエネルギー準位との共鳴に応じて上記第1の量子ドットから励起子が注入される第2のエネルギー準位と、当該第2のエネルギー準位から励起子の遷移が複数段に亘って生じるように設定された複数段の下位準位とを有する第2の量子ドットとを備え、
上記第2の量子ドットにおける少なくとも一の準位間は、上記励起子の遷移により放出される光が上記光導電膜により吸収可能な波長となるようにエネルギー差が設定され、
入射される光の1光子を、上記励起子の遷移が生じる段数に応じた複数光子に変換すること
を特徴とする撮像管。 - 上記第1の量子ドットは、X線領域の光又はX線領域の光によって生成される紫外光の入射に応じて励起子が励起される第1のエネルギー準位を有すること
を特徴とする請求項1記載の撮像管。 - 上記波長フィルタは、上記第1の量子ドットと、上記第2の量子ドットとの間に形成された第3の量子ドットとを備え、
上記第3の量子ドットは、上記第1の量子ドット以上、上記第2の量子ドット以下のサイズで構成され、上記第1の量子ドットから上記第2の量子ドットへ注入される励起子を中継するために、これらと共鳴するエネルギー準位を有するとともに、出力光の波長が光導電膜により吸収可能な波長となるように少なくとも一の下位準位間のエネルギー差が設定されていること
を特徴とする請求項1又は2記載の撮像管。 - 上記光導電膜と上記波長フィルタの間に配設され、直径50nm以下のナノ微粒子を含み、当該ナノ微粒子が、上記光導電膜に対してその直径以下の位置に配置される面板をさらに備えること
を特徴とする請求項1〜3のうち何れか1項記載の撮像管。 - 上記ナノ微粒子は、上記入射される光を吸収し、この吸収した入射光に基づいて近接場光を少なくとも上記光導電膜へ滲出させ、この滲出させた近接場光による近接場光相互作用に基づいて上記光導電膜における内部光電効果の効率を向上させること
を特徴とする請求項4記載の撮像管。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2008158621A JP5025577B2 (ja) | 2008-06-18 | 2008-06-18 | 撮像管 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2010003416A JP2010003416A (ja) | 2010-01-07 |
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ID=41584994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2008158621A Expired - Fee Related JP5025577B2 (ja) | 2008-06-18 | 2008-06-18 | 撮像管 |
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JP (1) | JP5025577B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2014127443A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-07-07 | Pioneer Electronic Corp | 光電変換素子、撮像素子および撮像装置 |
JP2014127442A (ja) * | 2012-12-27 | 2014-07-07 | Pioneer Electronic Corp | 撮像装置 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04112434A (ja) * | 1990-09-03 | 1992-04-14 | Hitachi Ltd | 撮像管およびその動作方法 |
JP4051476B2 (ja) * | 1997-11-13 | 2008-02-27 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP4624540B2 (ja) * | 2000-11-02 | 2011-02-02 | 富士通株式会社 | 量子半導体装置、波長多重化光信号受信装置、光メモリ装置 |
US7728366B2 (en) * | 2004-04-05 | 2010-06-01 | Nec Corporation | Photodiode and method for fabricating same |
GB2439973A (en) * | 2006-07-13 | 2008-01-16 | Sharp Kk | Modifying the optical properties of a nitride optoelectronic device |
JP5110254B2 (ja) * | 2006-10-10 | 2012-12-26 | 富士レビオ株式会社 | 蛍光測定法と、蛍光測定のための測定用チップ及びその製造方法 |
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JP2010003416A (ja) | 2010-01-07 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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