JP5004962B2 - Method and apparatus for producing a predetermined pattern on a silicon panel - Google Patents

Method and apparatus for producing a predetermined pattern on a silicon panel Download PDF

Info

Publication number
JP5004962B2
JP5004962B2 JP2008537617A JP2008537617A JP5004962B2 JP 5004962 B2 JP5004962 B2 JP 5004962B2 JP 2008537617 A JP2008537617 A JP 2008537617A JP 2008537617 A JP2008537617 A JP 2008537617A JP 5004962 B2 JP5004962 B2 JP 5004962B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silicon
substrate
panel
band
groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008537617A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2009513363A (en
Inventor
シェーネケル、アクセル・ジョルグ
ホエク、エールコ・ゲルベルト
グティアール、アストリド
ラース、レオナルドゥス・ヤコブス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RGS DEVELOPMENT B.V.
Original Assignee
RGS DEVELOPMENT B.V.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RGS DEVELOPMENT B.V. filed Critical RGS DEVELOPMENT B.V.
Publication of JP2009513363A publication Critical patent/JP2009513363A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP5004962B2 publication Critical patent/JP5004962B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1804Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic System
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1804Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic System
    • H01L31/182Special manufacturing methods for polycrystalline Si, e.g. Si ribbon, poly Si ingots, thin films of polycrystalline Si
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/546Polycrystalline silicon PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/4998Combined manufacture including applying or shaping of fluent material
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12201Width or thickness variation or marginal cuts repeating longitudinally
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/12All metal or with adjacent metals
    • Y10T428/12361All metal or with adjacent metals having aperture or cut

Description

本発明は、請求項1の前文に従ったシリコンパネルを製造するための方法に関する。 The present invention relates to a method for manufacturing a silicon panel according to the preamble of claim 1.

このような方法は、広く知られている。このような方法の一例は、Ribbon Growth on Substrate(RGS)として知られるフォイル引き抜き方法である。この方法では、キャスティングフレームに、例えば液体シリコンが充填されている。また、このキャスティングフレームが所定の位置にとどまり、バンド状の基板がこのキャスティングフレームの下を通過する所で、表面がシリコン溶融液と接触するように駆動されるバンド状の基板が、使用されている。このバンド状の基板がキャスティングフレームを離れるキャスティングフレーム側へと、結晶化されたシリコンフォイルは、この時点で逃れる。このシリコンフォイルは、複数のピースに分割され、これらピースは、例えば太陽電池を製造するための基礎部材となることができる。 Such a method is widely known. An example of such a method is the foil drawing method known as Ribbon Growth on Substrate (RGS). In this method, the casting frame is filled with, for example, liquid silicon. Also, stay the casting frame is in place, where the band-shaped substrate passes under the casting frame, the band-shaped substrate surface is driven into contact with the silicon melt is used Yes. The crystallized silicon foil escapes at this point to the casting frame side where the band-shaped substrate leaves the casting frame. The silicon foil is divided into a plurality of pieces, and these pieces can serve as a base member for manufacturing a solar cell, for example.

太陽電池の表面には、この表面への入射光の反射を低減するために所定の構造とすることは、知られている。このための一例として、太陽電池の表面を大きくするように、複数の溝部を設けて、太陽電池の効率を向上させている。   It is known that the surface of a solar cell has a predetermined structure in order to reduce reflection of incident light on the surface. As an example for this purpose, a plurality of grooves are provided to increase the surface of the solar cell, thereby improving the efficiency of the solar cell.

特許公報US5704992は、特別な鋸歯によりフォイルにV字形状の溝部を形成する方法を、記載している。この鋸歯は、鋭い外形を有し、高速で回転する。また、公報US4608451に従えば、所定の構造が、金属フォイルの表面に導入される。後者の公報では、複数の溝部が、フォイルにエッチングされる。所定のマスクが、フォイルに装着され、このフォイル上で、マスクは、エッチング材と接触される。この場合、V字形状の溝部が、また、フォイルに形成されることができる。また、同じ効果を得るために、でこぼこ若しくは二次元の構造をエッチングにより適用することも可能である。   Patent publication US 5704992 describes a method of forming a V-shaped groove in a foil with special saw teeth. The saw blade has a sharp outline and rotates at high speed. Also, according to publication US Pat. No. 4,608,451, a predetermined structure is introduced on the surface of the metal foil. In the latter publication, a plurality of grooves are etched into the foil. A predetermined mask is attached to the foil, on which the mask is brought into contact with the etching material. In this case, V-shaped grooves can also be formed in the foil. It is also possible to apply a bumpy or two-dimensional structure by etching to obtain the same effect.

しかし、これら技術を使用した場合、所望の構造を表面に得るために、製造の後に金属フォイルを更に処理する必要がある。   However, when these techniques are used, the metal foil needs to be further processed after manufacture in order to obtain the desired structure on the surface.

公報JP2001206798は、フォイル引き抜き方法により形成されたシリコンパネルを製造し得る装置を記載している。回転形式の基板が使用され、この基板上で、シリコンの結晶化が生じる。基板の表面は、機械加工されておらず、従って、製造されたシリコンパネルは、表面に、例えばのこ歯構造が与えられる。これは、効果的なエリアを大きくし、太陽電池の効率を改善する。 The publication JP2001206798 describes an apparatus that can produce a silicon panel formed by a foil drawing method. A rotating substrate is used on which silicon crystallization occurs. The surface of the substrate is not machined, so the manufactured silicon panel is provided with a sawtooth structure on the surface, for example. This increases the effective area and improves the efficiency of the solar cell.

前記フォイル引き抜き方法は、非常に薄いフォイルを製造するのに理想的である。このようなフォイルは、250μm未満の厚さを有するように製造されることができる。この方法の主な利点は、パネル、例えば太陽電池1つ当りのシリコンの量が非常に限定されることである。非常に薄いシリコンパネルの欠点は、シリコンパネルが簡単に破損し得ることである。このようなリスクは、特に、太陽電池の更なる製造において事実である。 The foil drawing method is ideal for producing very thin foils. Such a foil can be manufactured to have a thickness of less than 250 μm. The main advantage of this method is that the amount of silicon per panel, for example a solar cell, is very limited. The disadvantage of a very thin silicon panel is that the silicon panel can be easily broken. Such a risk is especially true in the further production of solar cells.

本発明の目的は、従来技術により製造されるパネルよりも強固なパネルを製造するフォイル引き抜き方法により薄いシリコンパネルを製造することである。この目的は、液体シリコンが実質的に充填されるようなディメンションを有した少なくとも1つの第2の溝部を基板が有し、かつ前記少なくとも1つの第2の溝部がシリコンパネルに形成されている位置に補強部分を形成することを特徴とする、導入部分に示されているような方法により達成される。 It is an object of the present invention to produce a thin silicon panel by a foil drawing method that produces a panel that is stronger than a panel produced by the prior art. The purpose is that the substrate has at least one second groove having a dimension such that it is substantially filled with liquid silicon , and the at least one second groove is formed in the silicon panel. This is achieved by a method as shown in the introduction part, characterized in that a reinforcement part is formed on the introduction part.

前記補強部分は、1つ以上の第2の溝部を基板に形成することにより、シリコンパネルに形成される。これら補強部分は、パネルを全体的に補強し、パネルの残りの部分は、薄いままであり得る。 The reinforcing portion is formed in the silicon panel by forming one or more second grooves on the substrate. These reinforcing portions reinforce the panel as a whole, and the rest of the panel can remain thin.

一実施液体では、シリコンパネルは、補強部分を除く面全体に渡って100ないし350μmの平均厚さを有している。 In one implementation liquid, the silicon panel has an average thickness of 100 to 350 μm over the entire surface excluding the reinforcing portion.

前記少なくとも1つの第2の溝部は、50ないし500μmの深さを有することが好ましい。   Preferably, the at least one second groove has a depth of 50 to 500 μm.

一実施形態では、前記少なくとも1つの第2の溝部は、2ないし5mmの幅を有している。   In one embodiment, the at least one second groove has a width of 2 to 5 mm.

更なる実施形態では、少なくとも1つの第2の溝部が、シリコンパネルの上面にほぼ平行に延びる底面を有している。 In a further embodiment, the at least one second groove has a bottom surface extending substantially parallel to the top surface of the silicon panel.

更なる実施形態では、基板は、これと同じパターンがシリコンパネルの表面に形成されるように、基板の一表面にリセスと突出部分との少なくとも一方を有している。前記リセスは、シリコン溶融液が充填されるような深さ、幅、並びに側壁の傾斜角度を有することができる。また、前記リセスは、結晶化したシリコンによりブリッジが形成されるような深さと幅とを有することも可能である。 In a further embodiment, the substrate has at least one of a recess and a protruding portion on one surface of the substrate so that the same pattern is formed on the surface of the silicon panel. The recess may have a depth, a width and an inclination angle of the side wall so that the silicon melt is filled. The recess may have a depth and width such that a bridge is formed by crystallized silicon .

特定の実施形態では、複数の第1の溝部の断面は、シリコン溶融液が充填される程度に大きく、また、複数の第2の溝部は、シリコン溶融液が充填されない程度に大きい。複数の第1の溝部は、例えばローラー印刷方法による処理の後にシリコン接点として機能する突出部分をフォイルに形成する程度の深さであり得る。 In a specific embodiment, the cross section of the plurality of first grooves is large enough to be filled with the silicon melt , and the plurality of second grooves are large enough not to be filled with the silicon melt . The plurality of first grooves may be deep enough to form a protruding portion in the foil that functions as a silicon contact after processing by a roller printing method, for example.

前記リセスは、1mmよりも狭いことが好ましい。基板のこのように狭い溝部は、シリコンにより、結晶化の間にブリッジが形成される。この方法を使用すると、例えば太陽電池の効果的なエリアを増加させ得るV字形状の互いに平行な溝部を一側面に有する非常に薄いフォイルが、製造され得る。このように面が大きいと、光学的性質が改善され、太陽電池の効率が高くなる。 The recess is preferably narrower than 1 mm. Such narrow grooves in the substrate are bridged during crystallization by silicon . Using this method, very thin foils can be produced with V-shaped parallel grooves on one side that can increase the effective area of the solar cell, for example. Such a large surface improves the optical properties and increases the efficiency of the solar cell.

本発明の一実施形態では、前記リセスは、複数のキャビティを有し、これらキャビティは、基板に形成されているポイントで、ホールがフォイルにそれぞれ形成されるようなディメンションを有している。かくして形成されたホールは、例えば、フォイルの前部と後部とのシリコン接点が互いに接続される次の工程に使用されることができる。例えばレーザーを使用してこれらホールを特別に形成することが、もはや必要されない。これらホールは、1mmないし2mmの幅を有することが好ましい。 In an embodiment of the present invention, the recess has a plurality of cavities, and the cavities have dimensions such that holes are respectively formed in the foil at points formed in the substrate. The holes thus formed can be used, for example, in the next step in which the silicon contacts at the front and back of the foil are connected to each other. It is no longer necessary to specially form these holes, for example using a laser. These holes preferably have a width of 1 mm to 2 mm.

他の実施形態では、前記突出部分は、バンドを有している。これらバンドは、所定の長さの基板に設けられた突出部分である。これら突出部分は、まっすぐであっても良いが、湾曲されていても良い。特別な実施形態では、これらバンドの断面は、ジグザグ形状であると考えられる。このような特別なジグザグ形状は、言わば、ジグザグ構造をフォイルに形成するのに使用されることができる。これにより、太陽電池の効率が向上され得る。   In another embodiment, the protruding portion has a band. These bands are protruding portions provided on a substrate having a predetermined length. These protruding portions may be straight or curved. In particular embodiments, the cross-sections of these bands are considered zigzag shaped. Such a special zigzag shape can be used, so to speak, to form a zigzag structure in the foil. Thereby, the efficiency of a solar cell can be improved.

本発明は、また、上述された方法により製造されたシリコンパネルと、シリコンパネルを製造するための装置とに関する。
本発明の更なる利点並びに特徴は、添付図面を参照した個々の実施形態の説明に関連して詳細に説明される。
This invention also provides a silicon panels manufactured by the method described above, related to the apparatus for manufacturing a silicon panel.
Further advantages and features of the invention are explained in detail in connection with the description of the individual embodiments with reference to the attached drawings.

図1は、本発明の一実施形態に従ったフォイル引き抜き装置(drawing device)の概略的な側面図を示している。このシリコンフォイルを製造するための装置は、液体シリコン、即ち、シリコン溶融液が中に注入され得るキャスティングフレーム2からなっている。シリコン溶融液(metal melt)4とも称される液体シリコン4が、供給装置6により、このキャスティングフレーム2中に注入される。このキャスティングフレーム2の下側には、シリコン溶融液と接触してシリコン溶融液を吐出させながら所定のスピードでキャスティングフレーム2の下を移動するように設計された基材バンド8の形態の、即ち、バンド状の基板8がある。このために要求された駆動手段が、図1に示され、参照符号15により示されている。このフォイル引き抜き装置は、また、キャスティングフレーム2内の液体シリコン4の高さを決定するように設計された制御モジュール10と高さ測定器12とを有している。前記バンド状の基板8の温度は、液体シリコン4がバンド状の基板8の表面で結晶化するように、調整されている。液体シリコンの代表的な温度は、1200℃である。バンド状の基板8は、図1の右方向へと移動するので、フォイル16は、キャスティングフレーム2の下流側に逃れる。そして、このフォイル16は、キャスティングフレーム2を下流側で上方に押し上げて、キャスティングフレームをわずかに傾斜させている。バンド状の基板8には、移動方向に対して直交する複数の溝部17が、規則的な間隔で設けられている。これら溝部17は、液体シリコン4がこの液体シリコンの表面張力のためにこれら溝部17内に流れ込まないで、破断部(interruptions)18がシリコンフォイル16に形成されるような幅と深さとを有している。このため、太陽電池に適した矩形のフォイルが、非常に簡単に製造され得る。これら矩形のフォイルは、冷却され、最終的にはわずかに収縮する。従って、これらフォイルは、バンド状の基板8から離されるようになる。そして、これらフォイルは、例えば更なる処理のために、ロボットアームにより、バンド状の基板8から除去されることができる。 FIG. 1 shows a schematic side view of a foil drawing device according to an embodiment of the present invention. The apparatus for producing this silicon foil consists of a casting frame 2 into which liquid silicon , i.e. a silicon melt, can be poured. Silicon melt (metal melt) 4, also referred Silicone fluid 4, the supply device 6, is injected into the casting frame 2. The casting on the lower side of the frame 2, in the form of base band 8 which is designed to move under the casting frame 2 at a predetermined speed while in contact with the silicon melt by ejecting silicon melt, i.e. There is a band-shaped substrate 8. The drive means required for this is shown in FIG. The foil pulling device also has a control module 10 and a height measuring device 12 designed to determine the height of the liquid silicon 4 in the casting frame 2. Temperature of the band-shaped substrate 8, liquid silicon 4 so that crystallization at the surface of the band-shaped substrate 8, is adjusted. A typical temperature of liquid silicon is 1200 ° C. Since the band-shaped substrate 8 moves to the right in FIG. 1, the foil 16 escapes to the downstream side of the casting frame 2. The foil 16 pushes the casting frame 2 upward on the downstream side to slightly tilt the casting frame. The band-shaped substrate 8 is provided with a plurality of groove portions 17 orthogonal to the moving direction at regular intervals. The grooves 17 have such widths and depths that the liquid silicon 4 does not flow into the grooves 17 due to the surface tension of the liquid silicon , but the interruptions 18 are formed in the silicon foil 16. ing. For this reason, a rectangular foil suitable for solar cells can be produced very simply. These rectangular foils cool and eventually shrink slightly. Accordingly, these foils are separated from the band-shaped substrate 8. These foils can then be removed from the band-shaped substrate 8 by means of a robot arm, for example for further processing.

図2は、本発明の一実施形態に従ったバンド状の基板8の上面図を示している。この基板8は、例えば3mmの幅を有した溝部21を有している。この溝部21は、液体シリコンにより充填されるようなサイズである。前記バンド状の基板8は、また、このバンド状の基板8の長手方向にリセス22,23,24,25のパターンを有している。比較的幅広の溝部32,34が、また、バンド状の基板8の両側部に長手方向にそれぞれ設けられている。これら溝部32,34と前記溝部17とは、特に、EP0497148に開示され、フォイル16(のピース)のディメンションを決定している。前記溝部32,34の形状と深さとは、液体シリコン4が、表面張力のためにこれら溝部32,34中に達することのないようになっている。従って、液体シリコン4は、溝部32,34の他側(外側)に達することができない。これは、キャスティングフレーム2が、液体シリコン4が溝部32と溝部34との内側(若しくは、これら溝部のエッジのわずか上方)のみでバンド状の基板8と接触するようなディメンションを有しているためである。 FIG. 2 shows a top view of a band-shaped substrate 8 according to one embodiment of the present invention. The substrate 8 has a groove 21 having a width of 3 mm, for example. The groove 21 is sized to be filled with liquid silicon. The band-shaped substrate 8 has a pattern of recesses 22, 23, 24, and 25 in the longitudinal direction of the band-shaped substrate 8. Relatively wide grooves 32 and 34 are provided in the longitudinal direction on both sides of the band-shaped substrate 8. These groove parts 32 and 34 and the groove part 17 are disclosed in particular in EP 0497148 and determine the dimension of the foil 16 (piece). The shape and depth of the grooves 32 and 34 prevent the liquid silicon 4 from reaching the grooves 32 and 34 due to surface tension. Accordingly, the liquid silicon 4 cannot reach the other side (outside) of the groove portions 32 and 34. This is because the casting frame 2 has a dimension such that the liquid silicon 4 contacts the band-shaped substrate 8 only inside the groove portions 32 and 34 (or just above the edges of the groove portions). It is.

図3は、図2のバンド状の基板8の横断面図を示している。この例において、前記リセス22,23,24,25は、V字形状の溝部である。これら溝部22,23,24,25の幅と側壁の傾斜角度とは、液体シリコンが、これら溝部内で結晶化しないように設定されている。代わりに、この液体シリコンは、これら溝部に渡ってブリッジを形成する。このことは、図4に示され、また、フォイルは、16により示されている。しかし、前記溝部21には、シリコンが充填されている。結晶化の後に、シリコンパネルの厚い部分は、この場所で形成される。この厚い部分は、シリコンパネルを全体的に補強している。従って、この厚い部分は、正確には、補強部分として称されることができる。図2では、前記溝部21が、バンド状の基板8の一方のエッジに平行に延びている。この溝部21と、前記リセス22,23,24,25との方向は、異なっていても良く、例えば、バンド状の基板8のエッジに対して所定の角度をなしていても良い。また、溝部21は、リセス22,23,24,25の長さとは異なる長さを有することも可能である。 FIG. 3 shows a cross-sectional view of the band-shaped substrate 8 of FIG. In this example, the recesses 22, 23, 24, 25 are V-shaped grooves. The widths of the grooves 22, 23, 24, and 25 and the inclination angles of the side walls are set so that liquid silicon does not crystallize in these grooves. Instead, the liquid silicon forms a bridge across these grooves. This is shown in FIG. 4 and the foil is indicated by 16. However, the groove 21 is filled with silicon. After crystallization, a thick part of the silicon panel is formed at this location. This thick part reinforces the silicon panel as a whole. Thus, this thick part can be accurately referred to as a reinforcing part. In FIG. 2, the groove 21 extends parallel to one edge of the band-shaped substrate 8. The direction of the groove portion 21 and the recesses 22, 23, 24, and 25 may be different. For example, a predetermined angle may be formed with respect to the edge of the band-shaped substrate 8. Further, the groove portion 21 can have a length different from the length of the recesses 22, 23, 24, 25.

図2ないし4は、簡略のために、幅狭の4つの溝部を単に示している。この数は、非常に多く、例えば1000を超え得る。この実施形態の溝部22ないし25の幅の代表的な値は、0.1ないし1mmである。また、側壁の傾斜角度α(図3を見よ)は、代表的に20°よりも小さい。これら図では、溝部21の相対的な幅は、正確に再現されていない。この溝部の代表的な値は、2ないし5mmである。   2 to 4 simply show four narrow grooves for the sake of simplicity. This number is very large, for example over 1000. A typical value of the width of the grooves 22 to 25 in this embodiment is 0.1 to 1 mm. Also, the sidewall inclination angle α (see FIG. 3) is typically less than 20 °. In these figures, the relative width of the groove 21 is not accurately reproduced. A typical value for this groove is 2 to 5 mm.

他の実施形態において、基板8は、液体シリコンが充填されるような深さ、幅、並びに側壁の傾斜角度αを有した複数のリセスを備えている。側壁の傾斜角度αが、これらリセスのディメンションに対して比較的大きい場合、液体シリコンが、リセスに充填される。このような場合、フォイル16には、溝部が形成されないが、代わりに、バー若しくはストリップのような突条部分が形成される。また、リセスに、例えば小さく丸い1つのキャビティが、基板8に完全に局所的に設けられ、かくして、フォイル16にノブ部分を与えることが可能である。このようなノブ部分は、コンベヤシステム用のマーキングに使用されることができる。 In another embodiment, the substrate 8 comprises a plurality of recesses having a depth, width and sidewall inclination angle α such that it is filled with liquid silicon . If the side wall tilt angle α is relatively large with respect to the dimensions of these recesses, the liquid silicon is filled into the recesses. In such a case, the groove portion is not formed in the foil 16, but instead, a protruding portion such as a bar or a strip is formed. It is also possible for the recess to be provided, for example, with a small, round cavity completely locally in the substrate 8, thus giving the foil 16 a knob part. Such knob portions can be used for marking for conveyor systems.

図5は、基板8が2つの溝部52,54を有した実施形態を示している。これら溝部52,54の傾斜角度は、約0°である。しかし、これら溝部52,54は、液体シリコンが溝部52,54を充填する程度に幅広である。これら溝部52,54の代表的な幅は、2ないし5mmである。また、これら溝部53,54の代表的な深さは、0.2ないし2mmである。傾斜角度αが、例えば0ないし45°よりも大きな値を有し得ることに、注意すべきである。図6は、図5に示されているような基板で形成された2つの太陽電池60,61を示している。太陽電池60の補強部分64,65と、太陽電池61の補強部分66,67とは、これら太陽電池(「バス・バー」)の上部に金属接続部分を装着する位置付けを強化するために使用されている。補強部分64は、金属ジョイント70により、太陽電池が補強部分66を有する所でこの太陽電池の前面に接続されている。また、補強部分65は、他の金属ジョイント71により、補強部分67の所で前記前面に接続されている。従って、太陽電池60,61は、互いに電気的に接続される。このような接続は、太陽電池の接続が代表的である。太陽電池が互いに接続されるとき、薄い電池を破損させてしまうようなかなりの力が、発生される。このような力は、主に金属ジョイント70,71を介して、太陽電池60,61に伝えられる。前記補強部分64,65,66,67は、ジョイント70,71の接着場所の下に設けられているので、錫の太陽電池60,61は、発生された力に良好な抵抗を与える。 FIG. 5 shows an embodiment in which the substrate 8 has two grooves 52 and 54. The inclination angles of the grooves 52 and 54 are about 0 °. However, the grooves 52 and 54 are wide enough to fill the grooves 52 and 54 with liquid silicon . The typical width of these grooves 52 and 54 is 2 to 5 mm. Moreover, the typical depth of these groove parts 53 and 54 is 0.2 to 2 mm. It should be noted that the tilt angle α can have a value greater than, for example, 0 to 45 °. FIG. 6 shows two solar cells 60 and 61 formed of a substrate as shown in FIG. The reinforcing portions 64 and 65 of the solar cell 60 and the reinforcing portions 66 and 67 of the solar cell 61 are used to reinforce the positioning of the metal connection portion on top of these solar cells (“bus bars”). ing. The reinforcing portion 64 is connected to the front surface of the solar cell by a metal joint 70 where the solar cell has the reinforcing portion 66. The reinforcing portion 65 is connected to the front surface at the reinforcing portion 67 by another metal joint 71. Therefore, the solar cells 60 and 61 are electrically connected to each other. Such connection is typically a solar cell connection. When the solar cells are connected to each other, a considerable force is generated that will damage the thin cells. Such a force is transmitted to the solar cells 60 and 61 mainly through the metal joints 70 and 71. Since the reinforcing portions 64, 65, 66, 67 are provided under the joint location of the joints 70, 71, the tin solar cells 60, 61 provide good resistance to the generated force.

図7は、方法の更なる実施形態に従って形成されたフィルム16と基板8との横断面図を示している。この基板8は、互いに平行な複数の溝部90を基板8の表面に有している。これら溝部は、液体シリコンがこれら溝部内で結晶化しないように、即ち、「ブリッジング」を形成しない程度に狭い。前記基板は、また、シリコンが充填される複数のリセス92を有している。これらリセス92は、結晶化したフォイル16の上面94にほぼ平行に延びている底面を有している。図8は、図7で形成されたフォイルの斜視図を示している。この図8からは、フォイル16にジグザク状の面が与えられ、この面から、複数の突出部分(elevations)95が突出していることが、判る。これら突出部分95には、ローラー印刷のような知られた印刷方法により、金属層が形成されることができる。これにより、比較的簡単な方法で、太陽電池を接続するように機能し得る金属接触を形成している。   FIG. 7 shows a cross-sectional view of a film 16 and a substrate 8 formed according to a further embodiment of the method. The substrate 8 has a plurality of groove portions 90 parallel to each other on the surface of the substrate 8. These grooves are so narrow that liquid silicon does not crystallize in these grooves, ie, does not form “bridging”. The substrate also has a plurality of recesses 92 that are filled with silicon. These recesses 92 have bottom surfaces that extend substantially parallel to the top surface 94 of the crystallized foil 16. FIG. 8 shows a perspective view of the foil formed in FIG. From FIG. 8, it can be seen that the foil 16 is provided with a zigzag surface from which a plurality of elevations 95 protrude. A metal layer can be formed on the protruding portions 95 by a known printing method such as roller printing. This forms a metal contact that can function to connect the solar cells in a relatively simple manner.

図9は、シリコン溶融液が充填されないようなディメンションと傾斜角度とを有する複数のキャビティ93を備えたバンド状の基板8の横断面図を示している。このバンドは、シリコンパネルに複数のホールを局所的に形成する。用語「ホール」は、通路を称している。これらホールは、丸くても良いし、いずれの形状、例えば矩形であっても良い。これらホールは、シリコン接点がフォイル16の前側と後側とに夫々接続される次の処理工程で使用されることができる。ここで、例えばレーザーでのこれらホールの特別な形成は、もはや必要ではない。これらホールは、1mmないし2mmの幅を有することが好ましい。長さは、規定される場合は、適用例により決定される。上述されたホールは、また、フォイル16を貫通するように高い突出部分を基板8の表面に与えることにより形成されることができる。図10は、図9の実施形態の上面図を示している。各シリコンパネルには9つのホールが形成されていることが、判る。図10は、マトリックス状に配置されたキャビティ93を示している。他の配置並びに数が、シリコンパネルの適用例に応じて、可能である。 FIG. 9 shows a cross-sectional view of the band-shaped substrate 8 having a plurality of cavities 93 having dimensions and inclination angles that do not fill the silicon melt . This band locally forms a plurality of holes in the silicon panel. The term “hole” refers to a passage. These holes may be round or any shape, for example, a rectangle. These holes can be used in the next processing step where the silicon contacts are connected to the front side and the back side of the foil 16, respectively. Here, the special formation of these holes, for example with a laser, is no longer necessary. These holes preferably have a width of 1 mm to 2 mm. The length, if specified, is determined by the application example. The holes described above can also be formed by providing a high protrusion on the surface of the substrate 8 to penetrate the foil 16. FIG. 10 shows a top view of the embodiment of FIG. It can be seen that nine holes are formed in each silicon panel. FIG. 10 shows cavities 93 arranged in a matrix. Other arrangements and numbers are possible depending on the application of the silicon panel.

図11は、ルツボ72がシリコン溶融液74を収容した本発明の他の実施形態を示している。基板78が、シリコン溶融液74の表面に接触されている(図9を見よ)。この基板78は、基板78がシリコン溶融液74の表面に沿ってゆっくりと摺動するように駆動手段82により移動されるバー80に接続されている。図11に示されている例では、駆動手段82は、コンベヤパス83により案内される。基板78は、シリコンの結晶化温度より低い温度を有している。このため、結晶化したシリコンの薄層が、基板78の面に形成される。基板は、また、表面から離れるので、所定の厚さのフォイルが、形成される。図12は、図11の基板78の下面図の一例を示している。基板78は、複数の溝部84を有し、これら溝部は、液体シリコン74がこれら溝部84を充填しないような幅と傾斜角度とを有している。代わりに、ブリッジングが、図4を参照してすでに説明されたように、これら溝部を覆うように形成されることができる。また、この実施形態では、フォイルのリセスの代わりにフォイルに突出部分を形成することも可能である。 FIG. 11 shows another embodiment of the present invention in which the crucible 72 contains a silicon melt 74. A substrate 78 is in contact with the surface of the silicon melt 74 (see FIG. 9). The substrate 78 is connected to a bar 80 that is moved by the driving means 82 so that the substrate 78 slides slowly along the surface of the silicon melt 74. In the example shown in FIG. 11, the driving means 82 is guided by the conveyor path 83. The substrate 78 has a temperature lower than the crystallization temperature of silicon . For this reason, a thin layer of crystallized silicon is formed on the surface of the substrate 78. Since the substrate is also away from the surface, a foil of a predetermined thickness is formed. FIG. 12 shows an example of a bottom view of the substrate 78 of FIG. The substrate 78 has a plurality of groove portions 84, and these groove portions have a width and an inclination angle such that the liquid silicon 74 does not fill the groove portions 84. Alternatively, bridging can be formed to cover these grooves, as already described with reference to FIG. In this embodiment, it is also possible to form a protruding portion on the foil instead of the recess of the foil.

形成されたフォイルは、冷却されるので、収縮する。このように収縮することにより、フォイルは、基板78から確実に外される。   The formed foil shrinks as it cools. By contracting in this way, the foil is reliably removed from the substrate 78.

フォイル16のパターンが、実際に、基板8に形成されたパターンの鏡像であることに、注意すべきである
また、パネルが、ホールだけを有し補強部分を有さない本発明に従った方法により形成され得ることにも、注意すべきである。
It should be noted that the pattern of the foil 16 is actually a mirror image of the pattern formed on the substrate 8 and the method according to the invention in which the panel has only holes and no reinforcements. It should also be noted that can be formed by:

上記を読んで、変形例が、最先端の技術から容易に差し引き可能であることは、理解される。また、シリコン溶融液4の側の基板8が移動されて、フォイルが上方に流されることも可能である。このような変形例は、添付された特許請求の範囲に記載されているような適用例の範囲内にあると考えられる。 Read the above modification, it is readily subtracted from the state of the art is, Ru understood. Also, the substrate 8 side of the silicon melt 4 is moved, it is possible to foil is flowed upwardly. Such variations are considered to be within the scope of the application as set forth in the appended claims.

本発明の一実施形態に従った装置の概略的な側面図を示している。Fig. 2 shows a schematic side view of an apparatus according to an embodiment of the invention. 一実施形態に従ったバンド状の基板の上面図を示している。FIG. 3 shows a top view of a band-shaped substrate according to one embodiment. 図2の基板の横断面図を示している。3 shows a cross-sectional view of the substrate of FIG. 基板と形成されたフォイルとの横断面図を示している。Figure 2 shows a cross-sectional view of the substrate and the formed foil. 他の実施形態に従った基板とこの基板上に形成されたパネルとの横断面図を示している。FIG. 6 shows a cross-sectional view of a substrate according to another embodiment and a panel formed on the substrate. 他の実施形態に従った方法により製造され、互いに接続された2つの太陽電池を示している。Fig. 2 shows two solar cells manufactured by a method according to another embodiment and connected to each other. 方法の更なる実施形態に従って形成されたパネルと基板との横断面図を示している。FIG. 4 shows a cross-sectional view of a panel and a substrate formed in accordance with a further embodiment of the method. 図7に形成されたフォイルの斜視図を示している。FIG. 8 shows a perspective view of the foil formed in FIG. 7. 本発明の一実施形態に従って形成されたパネルと基板との横断面図を示している。FIG. 2 shows a cross-sectional view of a panel and a substrate formed in accordance with one embodiment of the present invention. 図9の基板の上面図を示している。FIG. 10 shows a top view of the substrate of FIG. 9. 他の実施形態に従った装置の概略的な側面図を示している。Fig. 4 shows a schematic side view of an apparatus according to another embodiment. 図11の基板の下面図を示している。FIG. 12 shows a bottom view of the substrate of FIG. 11.

Claims (15)

複数のシリコンパネルを製造するための方法であって、
シリコン溶融液(4、74)が吐出可能に充填された容器(2、72)を準備することと
製造される前記シリコンパネルの全幅に渡って延びている1つ以上の第1の溝部(17)を一面に有し、前記シリコン溶融液が結晶化するようにこのシリコン溶融液よりも低い温度を有するバンド状の基板(8、78)の前記一面に、前記容器(2、72)から吐出されるようにシリコン溶融液(4、74)を接触させることと、
前記基板(8、78)の前記一面にシリコンフォイル(16)が形成されるように、前記シリコン溶融液(4、74)に対してこの基板(8、78)を移動させることと、
前記シリコンフォイルを前記基板から離すこととを具備し、前記シリコンフォイル(16)は、前記第1の溝部(17)が形成されている所で、シリコンパネルに夫々分割される方法において、
前記バンド状の基板(8、78)は、前記シリコン溶融液により実質的に充填されるようなディメンションを有した少なくとも1つの第2の溝部(52,54,92)を前記一面に有し、この場所で前記シリコンフォイルの厚い補強部分が形成され、かくして、厚い補強部分が、前記少なくとも1つの第2の溝部(52,54,92)内で前記シリコンパネルに形成され、シリコンパネルの残りの部分は、薄いままであり、前記厚い補強部分は、シリコンパネルを全体的に補強することを特徴とする方法。
A method for manufacturing a plurality of silicon panels, comprising:
Preparing a container (2, 72) filled with a silicon melt (4, 74) in a dischargeable manner and one or more first grooves (17) extending across the entire width of the silicon panel to be manufactured; ) and has on one side a discharge, the one surface of the substrate (8,78) band-shaped having a lower temperature than the silicon melt as the silicon melt is crystallized, from the container (2,72) Contacting the silicon melt (4, 74) as
Moving the substrate (8, 78) relative to the silicon melt (4, 74) such that a silicon foil (16) is formed on the one surface of the substrate (8, 78);
Separating the silicon foil from the substrate, wherein the silicon foil (16) is divided into silicon panels, respectively, where the first groove (17) is formed,
The band-shaped substrate (8, 78) has at least one second groove (52, 54, 92) on the one surface having a dimension that is substantially filled with the silicon melt , At this location, a thick reinforcement portion of the silicon foil is formed, and thus a thick reinforcement portion is formed in the silicon panel within the at least one second groove (52, 54, 92) and the remaining of the silicon panel A method wherein the portion remains thin and the thick reinforcing portion reinforces the silicon panel as a whole.
前記シリコンパネルは、前記補強部分を除く面全体に渡って100ないし350μmの平均厚さを有する請求項1の方法。The method of claim 1, wherein the silicon panel has an average thickness of 100 to 350 µm over the entire surface excluding the reinforcing portion. 前記少なくとも1つの第2の溝部は、50ないし500μmの深さを有する請求項1又は2の方法。  The method of claim 1 or 2, wherein the at least one second groove has a depth of 50 to 500 m. 前記少なくとも1つの第2の溝部は、2ないし5mmの幅を有する請求項1ないし3のいずれか1の方法。  4. The method according to claim 1, wherein the at least one second groove has a width of 2 to 5 mm. 前記少なくとも1つの第2の溝部は、前記シリコンパネルの上面にほぼ平行に延びる底面を有する請求項1ないし4のいずれか1の方法。The method according to claim 1, wherein the at least one second groove has a bottom surface extending substantially parallel to an upper surface of the silicon panel. 前記バンド状の基板(8)は、これと同じパターンが前記シリコンパネル(16)の表面に形成されるように、基板(8)の前記一面に形成されたリセス並びに突出部分(22,23,24,25)の少なくとも一方を有する請求項1ないし5のいずれか1の方法。The bands-like substrate (8), so that this same pattern is formed on the surface of the silicon panel (16), wherein formed on one surface a recessed well projecting portion of the substrate (8) (22, 23 , 24, 25). A method as claimed in any one of the preceding claims. 前記バンド状の基板は、前記シリコン溶融液が充填されるような深さ並びに幅の複数の前記リセスを有する請求項6の方法。The method according to claim 6, wherein the band-shaped substrate has a plurality of the recesses having a depth and a width so as to be filled with the silicon melt . 前記バンド状の基板は、結晶化されたシリコンによりブリッジが形成されるような深さ並びに幅の複数の前記リセスを有する請求項6の方法。7. The method of claim 6, wherein the band-shaped substrate has a plurality of the recesses having a depth and width such that a bridge is formed by crystallized silicon . 前記バンド状の基板は、複数の前記リセスを有し、これらリセスは、夫々複数のキャビティ(93)を有し、これらキャビティは、キャビティ(93)が前記基板(8)に形成されているポイントで、ホールが前記シリコンパネルにそれぞれ形成されるようなディメンションを有する請求項6の方法。The band-shaped substrate has a plurality of the recesses, and each of the recesses has a plurality of cavities (93), and the cavities (93) are formed on the substrate (8). The method of claim 6 having dimensions such that holes are respectively formed in the silicon panel. 前記突出部分は、複数のストリップを有する請求項6の方法。  The method of claim 6, wherein the protruding portion comprises a plurality of strips. 前記バンド状の基板(8)は、少なくとも1つのリセス(93)を前記一面に有し、前記リセスは、前記液体シリコンの結晶化が前記少なくとも1つのリセス内で生じないようなディメンションを有し、この結果として、ホールが、前記シリコンパネルに局所的に形成されることを特徴とする請求項1の方法。The band-shaped substrate (8) has at least one recess (93) on the one side, and the recess has a dimension such that crystallization of the liquid silicon does not occur in the at least one recess. The method of claim 1, wherein as a result, holes are formed locally in the silicon panel. 前記バンド状の基板(78)は、前記容器に充填されたシリコン溶融液(74)の表面上でこのシリコン溶融液(74)1に接触され、このシリコン溶融液から離れるように案内される請求項の方法。The band-shaped substrate (78) is brought into contact with the silicon melt (74) 1 on the surface of the silicon melt (74) filled in the container and guided away from the silicon melt. Item 2. The method according to Item 1 . 請求項1ないし12のいずれか1の方法により製造されたシリコンパネル。Claims 1 to 12 or 1 silicon panels prepared by the process of. 複数のシリコンパネルを製造するための装置であって、
シリコン溶融液を吐出可能に収容する容器(2、72)と、
製造されるシリコンパネルの全幅に渡って延びている1つ以上の第1の溝部(17)を有し、シリコン溶融液が結晶化するようにこのシリコン溶融液よりも低い温度に少なくとも動作時に維持され、前記容器内のシリコン溶融液と接触するか、前記容器からのシリコン溶融液と接触するようにして、前記容器に対して移動されるバンド状の基板(8、78)と、
この基板(8)の一面に前記シリコン溶融液を接触させるように配置され、かつシリコンフォイルを基板(8)の一面に形成するようにシリコン溶融液に対して基板(8)を移動させるように配置されている駆動手段とを具備し、前記シリコンフォイル(16)は、前記第1の溝部(17)が形成されている所でシリコンパネルに夫々分割される装置において、
前記バンド状の基板(8)は、前記シリコン溶融液により実質的に充填されるようなディメンションを有した少なくとも1つの第2の溝部(52,54,92)を前記一面に有し、かくして、厚い補強部分が、前記少なくとも1つの第2の溝部(52,54;92)内で、前記シリコンパネルに形成され、また、シリコンパネルの残りの部分は、薄いままであり、また、前記厚い補強部分は、シリコンパネルを全体的に補強することを特徴とする装置。
An apparatus for manufacturing a plurality of silicon panels,
A container (2, 72) for containing a silicon melt in a dischargeable manner ;
Has one or more first groove extending over the entire width of the silicon panels to be produced (17), maintained at least during operation at a lower temperature than the silicon melt as the silicon melt is crystallized is either in contact with the silicon melt in the container, so as to be in contact with the silicon melt from the container, a band-shaped substrate is moved relative to said container (8,78),
The substrate is placed into contact with the silicon melt on one surface of (8), and a silicon foil to move the substrate (8) to the silicon melt so as to form on one surface of the substrate (8) In which the silicon foil (16) is divided into silicon panels where the first groove (17) is formed, respectively,
The band-shaped substrate (8) has at least one second groove (52, 54, 92) on the one side with a dimension such that it is substantially filled with the silicon melt , thus A thick reinforcement portion is formed in the silicon panel within the at least one second groove (52, 54; 92), and the remaining portion of the silicon panel remains thin, and the thick reinforcement The device is characterized in that the part reinforces the entire silicon panel.
前記バンド状の基板(8)は、少なくとも1つのリセス(93)を前記一面に有し、前記リセスは、前記シリコン溶融液の結晶化が前記少なくとも1つのリセス内で生じないようなディメンションを有し、この結果として、ホールが、前記シリコンパネルに局所的に形成されることを特徴とする請求項14の装置。The band-shaped substrate (8) has at least one recess (93) on the one side, and the recess has a dimension such that crystallization of the silicon melt does not occur in the at least one recess. and, this as a result, holes, according to claim 14, characterized in that it is formed locally in the silicon panel.
JP2008537617A 2005-10-27 2006-10-27 Method and apparatus for producing a predetermined pattern on a silicon panel Active JP5004962B2 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL1030285 2005-10-27
NL1030285A NL1030285C2 (en) 2005-10-27 2005-10-27 Method and device for manufacturing metal foils with a pattern.
PCT/NL2006/050267 WO2007049964A1 (en) 2005-10-27 2006-10-27 Method and device for producing metal panels with a pattern

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2009513363A JP2009513363A (en) 2009-04-02
JP5004962B2 true JP5004962B2 (en) 2012-08-22

Family

ID=36408026

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008537617A Active JP5004962B2 (en) 2005-10-27 2006-10-27 Method and apparatus for producing a predetermined pattern on a silicon panel

Country Status (7)

Country Link
US (1) US8225480B2 (en)
EP (1) EP1949457B1 (en)
JP (1) JP5004962B2 (en)
AU (1) AU2006306869B2 (en)
BR (1) BRPI0617803A2 (en)
NL (1) NL1030285C2 (en)
WO (1) WO2007049964A1 (en)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008032555B3 (en) * 2008-07-10 2010-01-21 Innolas Systems Gmbh Structuring device for the structuring of plate-shaped elements, in particular of thin-film solar modules, corresponding structuring method and use thereof
FR2935840A1 (en) * 2008-09-05 2010-03-12 Commissariat Energie Atomique Liquid phase semi-conductor material mold for realizing e.g. semi-conductor material plates of photovoltaic cells, has support part covered with superficial layer, where free surface of layer is structured along predetermined motif
US9143478B2 (en) * 2009-11-08 2015-09-22 Venkat Ramaswamy Email with social attributes
WO2016100025A1 (en) * 2014-12-19 2016-06-23 Nucor Corporation Method of making thin floor plate

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2850805C2 (en) * 1978-11-23 1986-08-28 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Process for the production of disk-shaped or ribbon-shaped silicon crystals with a columnar structure for solar cells
US4212343A (en) * 1979-03-16 1980-07-15 Allied Chemical Corporation Continuous casting method and apparatus for structurally defined metallic strips
DE3210403A1 (en) * 1982-03-22 1983-09-22 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Method of producing large-area modular silicon bodies
US4705095A (en) * 1986-01-09 1987-11-10 Ribbon Technology Corporation Textured substrate and method for the direct, continuous casting of metal sheet exhibiting improved uniformity
JPS6364909A (en) * 1986-09-05 1988-03-23 Nippon Kokan Kk <Nkk> Production of silicon thin plate for solar cell
JPH02185021A (en) * 1989-01-12 1990-07-19 Hoxan Corp Method of forming polycrystalline silicon onto semiconductor substrate
JP2843357B2 (en) * 1989-05-17 1999-01-06 株式会社岡本 Non-slip type manhole cover and manufacturing method thereof
JP2693032B2 (en) * 1990-10-16 1997-12-17 キヤノン株式会社 Method for forming semiconductor layer and method for manufacturing solar cell using the same
DE4102484A1 (en) * 1991-01-29 1992-07-30 Bayer Ag METHOD FOR THE PRODUCTION OF METAL DISC AND THE USE OF SILICONE DISC
JPH04314327A (en) * 1991-04-12 1992-11-05 Oki Electric Ind Co Ltd Method and apparatus for manufacture of semiconductor device
JP3087188B2 (en) * 1991-07-15 2000-09-11 エア・ウォーター株式会社 Method for producing polycrystalline silicon sheet by cast ribbon method
JP4111669B2 (en) * 1999-11-30 2008-07-02 シャープ株式会社 Sheet manufacturing method, sheet and solar cell
JP3553487B2 (en) * 2000-11-14 2004-08-11 シャープ株式会社 Silicon ribbon manufacturing equipment
JP4011335B2 (en) * 2000-12-05 2007-11-21 シャープ株式会社 Method for producing solid phase sheet
JP2002208108A (en) * 2001-01-10 2002-07-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd Manufacturing method for magnetic head
JP2002283044A (en) * 2001-03-23 2002-10-02 Sharp Corp Device and method for manufacturing crystalline sheet
JP3754321B2 (en) * 2001-05-21 2006-03-08 シャープ株式会社 Crystal sheet manufacturing equipment
JP2003112252A (en) * 2001-10-03 2003-04-15 Canon Inc Method of manufacturing semiconductor substrate, semiconductor substrate, solar battery, and casting mold for manufacturing semiconductor substrate
JP4242294B2 (en) * 2002-02-26 2009-03-25 シャープ株式会社 Method for producing plate silicon, substrate for producing plate silicon, plate silicon, solar cell using the plate silicon, and solar cell module

Also Published As

Publication number Publication date
AU2006306869A1 (en) 2007-05-03
JP2009513363A (en) 2009-04-02
AU2006306869B2 (en) 2011-03-03
NL1030285C2 (en) 2007-05-01
US20080286599A1 (en) 2008-11-20
WO2007049964A1 (en) 2007-05-03
US8225480B2 (en) 2012-07-24
AU2006306869A2 (en) 2008-06-12
EP1949457B1 (en) 2018-09-26
EP1949457A1 (en) 2008-07-30
BRPI0617803A2 (en) 2013-04-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0430593B1 (en) Method of cutting a silicon wafer by orientation dependent etching
JP4372115B2 (en) Semiconductor device manufacturing method and semiconductor module manufacturing method
US8961806B2 (en) Laser processing method
EP2599576B1 (en) Laser processing method
JP5004962B2 (en) Method and apparatus for producing a predetermined pattern on a silicon panel
EP1964820B1 (en) Method of glass substrate working and glass part
JP5513227B2 (en) Fine structure forming method, laser irradiation apparatus, and substrate
US4672736A (en) Method for producing laser diodes with an adjusted and integrated heat sink
CN110034141B (en) Image sensor package and method of fabricating the same
US6398943B1 (en) Process for producing a porous layer by an electrochemical etching process
JP3228028B2 (en) Method of manufacturing ink jet recording head
EP0227076B1 (en) Method of manufacturing monocrystal thin-film
JP3814910B2 (en) Method for forming grooves in single crystal silicon substrate
JP2673143B2 (en) Method of manufacturing upper core for multi-track thin film magnetic head
US6620331B1 (en) Method of etching an opening
JPH08215800A (en) Irregular-section amorphous metallic thin strip
TW202227369A (en) Method for producing raised structures on glass elements and glass element produced according to the method
JP3604953B2 (en) Method of manufacturing element substrate for liquid jet recording head and method of manufacturing liquid jet recording head
CN116661036A (en) 45-degree silicon reflecting mirror and manufacturing method thereof
JPS596816B2 (en) Manufacturing method of glass substrate for panel display device
JP2007271679A (en) Optical film peeling apparatus and optical film peeling method
JP2004221001A (en) Manufacturing method of barrier rib
JPS63169092A (en) Semiconductor laser
JP2006099858A (en) Manufacturing method of magnetic head slider
JP2009283481A (en) Method of manufacturing crystalline silicon film

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091015

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100420

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100720

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100727

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101014

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110607

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110906

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120424

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120522

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150601

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 5004962

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250