JP4995193B2 - X-ray diagnostic imaging equipment - Google Patents

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Description

本発明は、X線平面検出器(FPD:Flat Panel Detector)を備えるX線画像診断装置に係り、特にFPDのオフセット補正の改良技術に関する。   The present invention relates to an X-ray diagnostic imaging apparatus including an X-ray flat panel detector (FPD), and more particularly to an improved technique for offset correction of an FPD.

X線画像診断装置は、被検体の透過X線をFPDによりX線画像データへ変換出力し、その出力されたX線画像データをモニタに表示する。   The X-ray image diagnostic apparatus converts and transmits transmitted X-rays of a subject to X-ray image data by FPD, and displays the output X-ray image data on a monitor.

FPDは、複数個の検出素子がX線画像データの各画素に対応してマトリクス状に配置され、スイッチング素子を介して所望の画素が読み出せるようになっている。この検出素子は、X線の入射に伴い光を発生するシンチレータ(例えばヨウ化セシウム)と、このシンチレータから出力される光信号を電荷に変換するフォトダイオードと、変換された電荷を蓄積するコンデンサと、を備えている。つまり、X線画像データの各画素は、それぞれの検出素子のコンデンサに蓄積された電荷に対応するので、スイッチング素子を駆動して所望の画素に対応する電荷を読み出すことにより、X線画像データを得る。   In the FPD, a plurality of detection elements are arranged in a matrix corresponding to each pixel of the X-ray image data, and a desired pixel can be read out via the switching element. This detection element includes a scintillator (eg, cesium iodide) that generates light upon incidence of X-rays, a photodiode that converts an optical signal output from the scintillator into electric charge, and a capacitor that accumulates the converted electric charge. It is equipped with. That is, each pixel of the X-ray image data corresponds to the electric charge accumulated in the capacitor of each detection element, so that the X-ray image data is read by driving the switching element and reading out the electric charge corresponding to the desired pixel. obtain.

ところで、FPDではX線が照射されていないときでも、検出素子の回路部分に流れる暗電流を含むオフセット補正データによってコンデンサに電荷が蓄積され、その蓄積された電荷はノイズ成分であり、X線画像の画質を劣化させる要因の一つとなる。   By the way, even when X-rays are not irradiated in the FPD, charges are accumulated in the capacitor by offset correction data including dark current flowing in the circuit portion of the detection element, and the accumulated charges are noise components, and the X-ray image This is one of the factors that degrade the image quality.

この画質劣化の対策は、特許文献1に記載されるように、FPDから出力される撮影画像データから、このオフセット補正データを減算している。   As a countermeasure against the image quality deterioration, as described in Patent Document 1, the offset correction data is subtracted from the captured image data output from the FPD.

特開2002-159481号公報JP 2002-159481 A

しかしながら、FPDのオフセット補正データは、温度依存性が大きく、具体的には回路部分自体からの発熱や、検出器周辺の温度変化により、その電流量が変化する。この暗電流量の変化量が所定の閾値より大きい場合は、従来のオフセット補正では対応できないことがあるという未解決の問題があった。   However, the offset correction data of FPD has a large temperature dependency, and specifically, the amount of current changes due to heat generation from the circuit portion itself and temperature change around the detector. When the amount of change in the dark current amount is larger than a predetermined threshold, there is an unsolved problem that conventional offset correction may not be able to cope with it.

本発明の目的は、FPDにおけるオフセット補正データの変化量が所定の閾値より大きい場合でも、良好な画質が得られるX線画像診断装置を提供することにある。   An object of the present invention is to provide an X-ray diagnostic imaging apparatus capable of obtaining good image quality even when the amount of change in offset correction data in the FPD is larger than a predetermined threshold.

本発明のX線画像診断装置は、X線を被検体に照射するX線発生手段と、前記X線発生手段と対向配置され前記被検体の透過X線をX線画像データとして変換出力するX線平面検出器と、前記X線発生手段によってX線が照射されない時の前記X線平面検出器の出力を用いてオフセット補正データを求める補正データ作成手段と、前記X線画像データから前記オフセット補正データを減算するオフセット補正手段と、を備えたX線画像診断装置において、前記作成されたオフセット補正データに基づき前記X線平面検出器の使用環境によるオフセット補正データの変動が所定の範囲外にある画素を検出する画素検出手段と、前記検出された画素のオフセット補正データに対して所定のデータ補正を行い、前記オフセット補正手段に出力する画素補正手段と、前記データ補正されたオフセット補正データが前記オフセット補正手段によって前記X線画像データから減算された画像データを表示する画像表示部と、
を備えたことを特徴とする。
An X-ray diagnostic imaging apparatus according to the present invention includes an X-ray generation unit that irradiates a subject with X-rays, and an X-ray generation unit that converts the transmitted X-rays of the subject as X-ray image data. A line plane detector, correction data creating means for obtaining offset correction data using an output of the X-ray plane detector when X-rays are not irradiated by the X-ray generation means, and the offset correction from the X-ray image data An X-ray diagnostic imaging apparatus comprising an offset correction means for subtracting data, wherein the fluctuation of the offset correction data due to the use environment of the X-ray flat panel detector is outside a predetermined range based on the created offset correction data Pixel detection means for detecting pixels, pixel correction means for performing predetermined data correction on the offset correction data of the detected pixels and outputting to the offset correction means; and An image display unit that displays image data obtained by subtracting offset corrected data from the X-ray image data by the offset correcting unit;
It is provided with.

本発明によれば、FPDにおけるオフセット補正データの変化量が所定の閾値より大きい場合でも、良好な画質が得られるX線画像診断装置を提供することができる。   According to the present invention, it is possible to provide an X-ray diagnostic imaging apparatus capable of obtaining good image quality even when the amount of change in offset correction data in the FPD is greater than a predetermined threshold.

本発明の実施の形態1を示す機能ブロック図。FIG. 2 is a functional block diagram showing Embodiment 1 of the present invention. 図1における動作手順を示すフローチャート。2 is a flowchart showing an operation procedure in FIG. 撮影画像における3×3画素の領域を示す模式説明図とその領域における3つの画素の輝度値のばらつきを示すグラフ。The model explanatory drawing which shows the area | region of 3x3 pixel in a picked-up image, and the graph which shows the dispersion | variation in the luminance value of three pixels in the area | region. 本発明の実施の形態2を示す機能ブロック図。FIG. 5 is a functional block diagram showing Embodiment 2 of the present invention. 図4における動作手順を示すフローチャート。5 is a flowchart showing an operation procedure in FIG. 実施の形態3における動作手順を示すフローチャート。10 is a flowchart showing an operation procedure in the third embodiment.

符号の説明Explanation of symbols

1…X線発生部、2…X線平面検出器(FPD)、3…操作パネル部、4…画像処理装置、5…画像表示部、P…被検体。 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... X-ray generation part, 2 ... X-ray plane detector (FPD), 3 ... Operation panel part, 4 ... Image processing apparatus, 5 ... Image display part, P ... Subject.

以下、本発明の実施の形態を図に基づいて説明する。   Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

(実施の形態1)
<装置構成>
本発明の実施の形態1のX線画像診断装置は、図1に示すように、X線発生部1と、X線発生部1と対向配置されるFPD 2と、X線画像診断装置の操作者の操作室に設置される操作パネル部3と、X線発生部1から操作パネル部3までの各構成要素と接続される画像処理装置4と、画像処理装置4と接続される画像表示部5を備える。
(Embodiment 1)
<Device configuration>
As shown in FIG. 1, the X-ray diagnostic imaging apparatus according to Embodiment 1 of the present invention operates an X-ray generating unit 1, an FPD 2 disposed opposite to the X-ray generating unit 1, and the operation of the X-ray diagnostic imaging apparatus. Control panel 3 installed in the operator's control room, an image processing device 4 connected to each component from the X-ray generation unit 1 to the control panel unit 3, and an image display unit connected to the image processing device 4 5 is provided.

X線発生部1は、X線を発生するX線管と、該発生されたX線の照射範囲のみにX線が照射されるように、その照射範囲外のX線を遮蔽するX線絞りとを有している。FPD2はX線発生手段1に対向配置され、X線発生部1から照射されたX線の入射により、その入射X線をX線画像データとして変換出力する。撮影時、被検体PはX線発生部1とFPD2の間に位置され、X線発生部1から照射されたX線が被検体Pを透過して、その透過X線がFPD2に入射されることでX線画像が得られる。この撮影に必要な撮影条件(管電圧や管電流時間積など)は、操作パネル部3から操作者によって入力設定される。FPD2から変換出力されたX線画像データは、一旦画像処理装置4内の画像データ記憶手段410に記憶される。この記憶手段410は、被検体Pの撮影画像はもちろん、後述するオフセット画像も記憶する。そして、この記憶手段410から読み出されたX線画像データを用いて画像処理装置4により各種画像処理が施され、その画像処理後のX線画像がディスプレイなどの画像表示部5に表示される。   The X-ray generator 1 includes an X-ray tube that generates X-rays, and an X-ray diaphragm that blocks X-rays outside the irradiation range so that only the irradiation range of the generated X-rays is irradiated And have. The FPD 2 is disposed so as to face the X-ray generation unit 1 and converts the incident X-ray as X-ray image data by the incidence of the X-ray irradiated from the X-ray generation unit 1. At the time of imaging, the subject P is positioned between the X-ray generation unit 1 and the FPD 2, the X-ray irradiated from the X-ray generation unit 1 passes through the subject P, and the transmitted X-ray enters the FPD 2. An X-ray image can be obtained. The photographing conditions (tube voltage, tube current time product, etc.) necessary for this photographing are input and set by the operator from the operation panel unit 3. The X-ray image data converted and output from the FPD 2 is temporarily stored in the image data storage means 410 in the image processing device 4. The storage unit 410 stores not only a captured image of the subject P but also an offset image described later. Various image processing is performed by the image processing device 4 using the X-ray image data read from the storage unit 410, and the X-ray image after the image processing is displayed on the image display unit 5 such as a display. .

この画像処理装置4は、補正データ作成部411と、補正データ作成部411に接続される補正データ記憶部412と、補正データ記憶部412に接続されるオフセット補正部413と、を備えている。   The image processing apparatus 4 includes a correction data creation unit 411, a correction data storage unit 412 connected to the correction data creation unit 411, and an offset correction unit 413 connected to the correction data storage unit 412.

補正データ作成部411は、FPD2の暗電流量からオフセット補正するための補正データを作成する。この暗電流量の読み出しは、被検体Pの不存在下でかつX線を照射しない状態での画像(オフセット画像)を複数枚取得することで行う。このオフセット画像の取得は、非撮影時に適時行われる。そして、それら複数枚のオフセット画像の平均画像を補正データとしている。   The correction data creation unit 411 creates correction data for offset correction from the dark current amount of the FPD2. The reading of the dark current amount is performed by acquiring a plurality of images (offset images) in the absence of the subject P and without irradiation with X-rays. Acquisition of this offset image is performed in a timely manner during non-shooting. An average image of the plurality of offset images is used as correction data.

補正データ記憶部412は、補正データ作成部411によって作成された補正データが記憶される。補正データ記憶部412中の補正データは、温度などの装置の使用環境の変化を反映させるために適宜更新される。   The correction data storage unit 412 stores the correction data created by the correction data creation unit 411. The correction data in the correction data storage unit 412 is updated as appropriate to reflect changes in the usage environment of the apparatus such as temperature.

オフセット補正部413は、被検体Pの撮影画像から補正データを減算することでオフセット補正処理を行う。   The offset correction unit 413 performs offset correction processing by subtracting correction data from the captured image of the subject P.

さらに、この画像処理装置4は、画像データ記憶部410に接続される変動画素検出部414と、変動画素検出部414に接続される位置情報記憶部415と、オフセット補正部413及び位置情報記憶部415に接続される変動画素補正部416も備えている。   Further, the image processing apparatus 4 includes a variation pixel detection unit 414 connected to the image data storage unit 410, a position information storage unit 415 connected to the variation pixel detection unit 414, an offset correction unit 413, and a position information storage unit. Also included is a variable pixel correction unit 416 connected to 415.

変動画素検出部414は、暗電流量の変動量が大きい変動画素を検出する。ここでは、撮影直前のオフセット画像の各画素値と、それ以前に取得した複数枚のオフセット画像の平均画像における各画素値とを比較することで変動画素の検出を行う。例えば、撮影直前のオフセット画像の画素値が平均画像の画素値に対して10%以上の差異があった場合、その画素を変動画素と判定する。   The fluctuation pixel detection unit 414 detects a fluctuation pixel having a large fluctuation amount of the dark current amount. Here, the variation pixel is detected by comparing each pixel value of the offset image immediately before photographing with each pixel value in an average image of a plurality of offset images acquired before that time. For example, when the pixel value of the offset image immediately before photographing has a difference of 10% or more with respect to the pixel value of the average image, the pixel is determined as a variation pixel.

位置情報記憶部415は、変動画素と判定された画素の位置情報を記憶する。FPD2の各画素は平面座標状に配列されているため、各画素の座標を位置情報として記憶すれば良い。   The position information storage unit 415 stores the position information of the pixels that are determined as the changing pixels. Since each pixel of FPD2 is arranged in a plane coordinate form, the coordinates of each pixel may be stored as position information.

変動画素補正部416は、変動画素の出力に対して次の補正を行う。ここでは、オフセット補正の行われた暗電流補正画像において、変動画素を中心とする3×3画素の領域における非変動画素の平均画素値を変動画素の画素値とする補正を行う。   The variable pixel correction unit 416 performs the following correction on the output of the variable pixel. Here, in the dark current corrected image subjected to offset correction, correction is performed using the average pixel value of non-varying pixels in a 3 × 3 pixel area centering on the varying pixel as the pixel value of the varying pixel.

その他、画像処理装置4は、変動画素補正部416に接続されるゲイン補正部417と、ゲイン補正部417に接続される欠陥画素補正部418と、欠陥画素補正部418に接続される欠陥画素情報記憶部419と、を備えている。   In addition, the image processing apparatus 4 includes a gain correction unit 417 connected to the variable pixel correction unit 416, a defective pixel correction unit 418 connected to the gain correction unit 417, and defective pixel information connected to the defective pixel correction unit 418. And a storage unit 419.

ゲイン補正部417は、FPD2の予め規定された感度特性データに基づいてX線の入射線量とFPD2の各画素の出力値の関係を補正する。   The gain correction unit 417 corrects the relationship between the incident dose of X-rays and the output value of each pixel of the FPD2 based on the sensitivity characteristic data defined in advance of the FPD2.

欠陥画素補正部418は、欠陥画素情報記憶部419に記憶された欠陥画素の位置情報に基づいて、その欠陥画素の出力を補正する。例えば、ゲイン補正処理後の画像データに対して、欠陥画素を中心とする3×3画素の領域における非欠陥画素の平均画素値を欠陥画素の画素値とする補正を行う。   The defective pixel correction unit 418 corrects the output of the defective pixel based on the position information of the defective pixel stored in the defective pixel information storage unit 419. For example, the image data after the gain correction process is corrected using the average pixel value of the non-defective pixels in the 3 × 3 pixel region centered on the defective pixel as the pixel value of the defective pixel.

<処理手順>
このような装置において、変動画素を検出し、その画素の出力値に適切な補正を行う手順を図2のフローチャートに基づいて説明する。なお、装置の各部は図1を参照する。なお、画像処理装置4は、X線画像診断装置全体を統括制御する。
<Processing procedure>
In such an apparatus, a procedure for detecting a variable pixel and appropriately correcting the output value of the pixel will be described based on the flowchart of FIG. For each part of the apparatus, refer to FIG. Note that the image processing apparatus 4 performs overall control of the entire X-ray image diagnostic apparatus.

画像処理装置4は、被検体Pの撮影に先立って複数枚のオフセット画像を取得し、その画像を画像データ記憶部410に記憶する。(ステップS1)
画像処理装置4は、画像データ記憶部410に記憶されたオフセット画像を用いて、変動画素検出部414で変動画素を検出する。具体的には、オフセット画像のうち、撮影直前のオフセット画像の画素値を、それ以前の複数枚のオフセット画像を平均化した画像の画素値(しきい値)と比較して変動画素を検出する。ここでは、撮影直前のオフセット画像の画素値がしきい値から10%以上大きければ変動画素であると判断することとする。(ステップS2)。
Prior to imaging of the subject P, the image processing apparatus 4 acquires a plurality of offset images and stores the images in the image data storage unit 410. (Step S1)
In the image processing device 4, the variation pixel detection unit 414 detects the variation pixel using the offset image stored in the image data storage unit 410. Specifically, among the offset images, the pixel value of the offset image immediately before photographing is compared with the pixel value (threshold value) of an image obtained by averaging a plurality of offset images before that to detect a variation pixel. . Here, if the pixel value of the offset image immediately before photographing is larger than the threshold by 10% or more, it is determined that the pixel is a variable pixel. (Step S2).

画像処理装置4は、変動画素が検出されれば、その画素の位置情報を位置情報記憶部415に記憶する。(ステップS3)
画像処理装置4は、操作者の操作に基づいて被検体Pが撮影され、その撮影画像が取得され、その撮影画像は画像データ記憶部410に記憶される。(ステップS4)。
When the variation pixel is detected, the image processing device 4 stores the position information of the pixel in the position information storage unit 415. (Step S3)
The image processing apparatus 4 captures the subject P based on the operation of the operator, acquires the captured image, and stores the captured image in the image data storage unit 410. (Step S4).

画像処理装置4は、補正データ記憶部412からオフセット補正データを読み出し、オフセット補正手段413により撮影画像から補正データを減算してオフセット補正処理を行う(ステップS5)。   The image processing apparatus 4 reads the offset correction data from the correction data storage unit 412 and performs offset correction processing by subtracting the correction data from the captured image by the offset correction unit 413 (step S5).

画像処理装置4は、オフセット処理された暗電流補正画像の変動画素の画素値を、変動画素補正部416で補正させる(ステップS6)。
具体的には、位置情報記憶手段415に記憶されている変動画素の位置情報を読み出し、その変動画素を中心とする3×3画素の領域のうち、非変動画素の平均画素値を変動画素の画素値とする補正を行う。
The image processing device 4 causes the variation pixel correction unit 416 to correct the pixel value of the variation pixel of the dark current correction image that has been offset (step S6).
Specifically, the position information of the variation pixel stored in the position information storage unit 415 is read out, and the average pixel value of the non-variation pixels in the 3 × 3 pixel area centered on the variation pixel is calculated. Correction to pixel value is performed.

変動画素補正の手順は次のとおりである、まず、画像処理装置4は、位置情報記憶部415に変動画素の位置情報が記憶されているか否かを判断し、位置情報があればその位置情報に対応した画素の出力値に対して変動画素補正処理を行う。また、画像処理装置4は、位置情報がなければ変動画素補正処理を行わない。   The procedure of variable pixel correction is as follows. First, the image processing device 4 determines whether or not the position information of the variable pixel is stored in the position information storage unit 415, and if there is position information, the position information The variation pixel correction process is performed on the output value of the pixel corresponding to. Further, the image processing device 4 does not perform the variable pixel correction process if there is no position information.

この変動画素補正処理を行った後、画像処理装置4は、ゲイン補正部417によりゲイン補正処理を行う(ステップS7)。さらに、ゲイン補正処理後のゲイン補正画像に対して欠陥画素補正部418で欠陥画素補正処理を行う(ステップS8)。そして、画像処理装置4は、これらの補正処理を行った画像を画像表示部に表示する(ステップS9)。なお、ステップS7、S8は必要に応じて行うものであったり、順序として既に行われている場合は割愛でき、ステップS6(変動画素補正処理)後のステップS9(画像表示)も行うことができる。   After performing this variation pixel correction process, the image processing apparatus 4 performs a gain correction process by the gain correction unit 417 (step S7). Further, the defective pixel correction unit 418 performs defective pixel correction processing on the gain corrected image after gain correction processing (step S8). Then, the image processing device 4 displays the image subjected to these correction processes on the image display unit (step S9). Note that steps S7 and S8 are performed as necessary, or can be omitted if they are already performed in order, and step S9 (image display) after step S6 (variable pixel correction processing) can also be performed. .

以上説明したように、本実施の形態1によれば、暗電流の変動量が大きい画素を特定し、その画素の画素値に対して変動画素補正部416による所定の補正を行うことで、X線平面検出器2における暗電流量の変動が大きい場合でも、良好な画質を得ることができる。   As described above, according to the first embodiment, by specifying a pixel having a large amount of variation in dark current and performing a predetermined correction by the variation pixel correction unit 416 on the pixel value of the pixel, X Even when the amount of dark current in the line flat detector 2 varies greatly, good image quality can be obtained.

(変形例1)
上記実施の形態1では、撮影直前のオフセット画像の各画素値と、それ以前に取得した複数枚のオフセット画像の平均画像における各画素値とを比較することで変動画素の検出を行ったが、その代わりに撮影画像の所定領域における平均画素値から一定幅以上のずれた画素値となる画素を変動画素と判断してもよい。
(Modification 1)
In Embodiment 1 described above, each pixel value of the offset image immediately before shooting is detected and the pixel variation in the average image of a plurality of offset images acquired before that is detected as a variable pixel. Instead, a pixel having a pixel value deviated by a certain width or more from an average pixel value in a predetermined area of the photographed image may be determined as a variation pixel.

図3(A)は撮影画像における3×3の画素で示される領域を示している。この領域のうち、縦、横、斜めのいずれかの画素群の画素値を図3(B)に示す。これらの図に示すように、一部の画素が変動画素(図3(A)のクロスハッチング表示)であれば、その出力値が他の正常画素に比べて大きくなるため、変動画素を検出することができる。例えば、横一列に並ぶ3つの画素の平均画素値から20%以上の差異があるものを変動画素と判断することが挙げられる。FPDの画素は、例えば約0.15mm角程度の大きさであり、撮影画像中に輝度値(画素値)の高い部分と低い部分とがあっても、隣接する画素の画素値が大きく異なることは稀であり、隣接する画素の画素値を比較することで変動画素を検知することができる。   FIG. 3A shows an area indicated by 3 × 3 pixels in the photographed image. FIG. 3B shows the pixel values of one of the vertical, horizontal, and diagonal pixel groups in this region. As shown in these figures, if some of the pixels are variable pixels (cross-hatched display in FIG. 3A), the output value is larger than that of other normal pixels. be able to. For example, it may be determined that a pixel having a difference of 20% or more from the average pixel value of three pixels arranged in a horizontal row is a variable pixel. FPD pixels are, for example, about 0.15 mm square, and even if there are high and low luminance values (pixel values) in the captured image, the pixel values of adjacent pixels are not significantly different. It is rare, and a variable pixel can be detected by comparing pixel values of adjacent pixels.

(実施の形態2)
次に、特定の画素が所定回数以上変動画素として判定された場合に、その変動画素を欠陥画素と判断し、欠陥画素の出力に対して所定の補正を行う実施の形態を図4、図5に基づいて説明する。
(Embodiment 2)
Next, when a specific pixel is determined as a variable pixel a predetermined number of times or more, an embodiment in which the variable pixel is determined as a defective pixel and predetermined correction is performed on the output of the defective pixel is illustrated in FIGS. Based on

<装置構成>
本実施形態では、図4に示すように、実施の形態1の構成に、カウンタ手段420と、欠陥画素追加手段421とを付加した点が主たる相違点であり、その他の構成は実施の形態1と同様である。カウンタ手段420は、変動画素検出部414及び位置情報記憶部415に接続され、欠陥画素追加手段421は位置情報記憶部415及び欠陥画素情報記憶部419に接続される。以下、実施の形態1との相違点を中心に説明する。
<Device configuration>
In the present embodiment, as shown in FIG. 4, the main difference is that a counter means 420 and a defective pixel adding means 421 are added to the structure of the first embodiment, and other structures are the same as in the first embodiment. It is the same. The counter unit 420 is connected to the variation pixel detection unit 414 and the position information storage unit 415, and the defective pixel addition unit 421 is connected to the position information storage unit 415 and the defective pixel information storage unit 419. Hereinafter, the difference from the first embodiment will be mainly described.

カウンタ部420は、変動画素検出部414で各画素が変動画素と判断された回数をカウントする。ここでは、本発明装置の利用開始時から変動画素検出部414で変動画素として判断された累積回数をカウンタ手段420でカウントする。その他、一定期間内おいて変動画素検出部414で変動画素として判断された回数をカウントするようにしてもよい。
そして、カウンタ部420は、そのカウント数を位置情報記憶部415に記憶させる。つまり、本形態の位置情報記憶部415は、カウンタ部420のカウント数の記憶の機能も兼ねている。
The counter unit 420 counts the number of times each pixel is determined to be a variable pixel by the variable pixel detection unit 414. Here, the counter means 420 counts the cumulative number of times that the variation pixel detection unit 414 has determined that the pixel is a variation pixel from the start of use of the apparatus of the present invention. In addition, the number of times that the variation pixel detection unit 414 determines the variation pixel within a certain period may be counted.
Then, the counter unit 420 causes the position information storage unit 415 to store the count number. That is, the position information storage unit 415 of this embodiment also has a function of storing the count number of the counter unit 420.

一方、欠陥画素追加部421は、カウンタ部420でのカウント数が所定のしきい値を超えた画素を欠陥画素と判断し、その欠陥画素の位置情報を欠陥画素情報記憶部419に記憶させる。ここでは、カウンタ手段420のカウント数が100以上となった画素を欠陥画素と判断する。   On the other hand, the defective pixel adding unit 421 determines a pixel whose count value in the counter unit 420 exceeds a predetermined threshold value as a defective pixel, and stores the position information of the defective pixel in the defective pixel information storage unit 419. Here, a pixel whose count number of the counter means 420 is 100 or more is determined as a defective pixel.

その他、本実施の形態2では、変動画素検出部414による変動画素の検出手法が実施の形態1とは異なる。ここでは、撮影画像における画素値を、その撮影画像の特定領域における画素値の平均値と比較し、その平均値から一定のしきい値以上外れた画素値の画素を見出すことで変動画素を検出する。より具体的には、3×3画素の領域における平均画素値からその20%以上外れた画素値を示す画素を変動画素と判断している。   In addition, in the second embodiment, the variation pixel detection method by the variation pixel detection unit 414 is different from that in the first embodiment. Here, the pixel value in the captured image is compared with the average value of the pixel values in a specific area of the captured image, and a pixel with a pixel value that deviates from the average value by a certain threshold or more is detected to detect a fluctuating pixel. To do. More specifically, a pixel having a pixel value that is 20% or more off the average pixel value in the 3 × 3 pixel region is determined as a variation pixel.

<処理手順>
このような装置において、変動画素を検出し、その画素の出力値に適切な補正を行う手順を図5のフローチャートに基づいて説明する。なお、装置の各部は図4を参照する。
<Processing procedure>
In such an apparatus, a procedure for detecting a variable pixel and appropriately correcting the output value of the pixel will be described with reference to the flowchart of FIG. For each part of the apparatus, refer to FIG.

まず、画像処理装置4は、撮影画像を取得する(ステップS11)。次に、画像処理装置4は、変動画素検出手段414により、撮影画像における画素値を、その撮影画像の特定領域における画素値の平均値と比較し、変動画素を検出する(ステップS12)。   First, the image processing device 4 acquires a captured image (step S11). Next, the image processing device 4 compares the pixel value in the photographed image with the average value of the pixel values in the specific area of the photographed image by the varying pixel detection means 414, and detects the varying pixel (step S12).

このとき、画像処理装置4は、変動画素と判断された画素は、その画素の位置情報と変動画素と判断された回数とを位置情報記憶部415に記憶する(ステップS13)。   At this time, the image processing device 4 stores, in the position information storage unit 415, the position information of the pixel determined to be a variation pixel and the number of times the pixel is determined to be a variation pixel (step S13).

画像処理装置4は、変動画素と判断された画素および変動画素と判断されなかった画素について、カウンタ部420によるカウント数がしきい値以上か否かの判断を行う(ステップS14)。例えば、画像処理装置4は、この判断においてカウント数が100回以上となった画素は欠陥画素であると判断され、その位置情報が欠陥画素追加部421に追加され、その追加された情報が欠陥画素情報記憶部419に記憶される(ステップS15)。   The image processing device 4 determines whether or not the count number by the counter unit 420 is greater than or equal to the threshold value for the pixels that are determined to be the changing pixels and the pixels that are not determined to be the changing pixels (step S14). For example, the image processing device 4 determines that a pixel having a count number of 100 or more in this determination is a defective pixel, adds its position information to the defective pixel adding unit 421, and the added information is defective. It is stored in the pixel information storage unit 419 (step S15).

次に、画像処理装置4は、オフセット補正部413に全ての画素に対してオフセット補正を行わせる(ステップS16)。続いて、画像処理装置4は、変動画素に対しては変動画素補正部416により変動画素補正処理が行われる(ステップS17)。その際、画像処理装置4は、変動画素のうち、追加の欠陥画素と判断された画素の出力値には変動画素補正処理を省略する。この変動画素補正処理の内容は、実施の形態1における手順と同様である。さらに、変動画素補正処理後の画像データに対してゲイン補正処理が行われる(ステップS18)。この処理内容も実施の形態1における手順と同様である。   Next, the image processing apparatus 4 causes the offset correction unit 413 to perform offset correction on all pixels (step S16). Subsequently, in the image processing device 4, the variation pixel correction process is performed on the variation pixel by the variation pixel correction unit 416 (step S17). At that time, the image processing device 4 omits the variation pixel correction processing for the output value of the pixel determined as the additional defective pixel among the variation pixels. The contents of this variable pixel correction process are the same as those in the first embodiment. Further, gain correction processing is performed on the image data after the variation pixel correction processing (step S18). This processing content is also the same as the procedure in the first embodiment.

その後、画像処理装置4は、ゲイン処理画像に対して欠陥画素補正処理を行う。(ステップS19)ここでは、初期に欠陥画素情報記憶手段に記憶されている位置情報に対応した画素はもちろん、後発的に変動画素から欠陥画素として判断された画素の出力に対しても欠陥画素補正の処理が行える。この処理内容も実施の形態1で述べた手順と同様である。   Thereafter, the image processing apparatus 4 performs a defective pixel correction process on the gain processed image. (Step S19) Here, not only the pixel corresponding to the position information stored in the defective pixel information storage means in the initial stage but also the defective pixel correction for the output of the pixel that was later determined as the defective pixel from the variation pixel Can be processed. This processing content is also the same as the procedure described in the first embodiment.

そして、画像処理装置4は、画像処理された画像を表示部5により表示する(ステップS20)。   Then, the image processing device 4 displays the image processed image on the display unit 5 (step S20).

以上説明したように、本実施の形態2によれば、変動画素のうち、変動画素として判断される回数の多い画素を欠陥画素として扱うことで、後発的に生じる欠陥画素を的確に検出することができる。そして、その検出した欠陥画素の出力値に所定の補正を行うことで、暗電流量が不安定な画素があっても適切な画像を得ることができる。   As described above, according to the second embodiment, a defective pixel that occurs later can be accurately detected by treating, as a defective pixel, a pixel that is frequently determined as a variable pixel among the variable pixels. Can do. Then, by performing a predetermined correction on the detected output value of the defective pixel, an appropriate image can be obtained even if there is a pixel with an unstable dark current amount.

(実施の形態3)
画像処理装置4が被検体を撮影しない際に一定数のオフセット画像を収集し、これらのオフセット画像から変動画素の検出及び欠陥画素の検出を行う実施形態3を説明する。
(Embodiment 3)
Embodiment 3 will be described in which a fixed number of offset images are collected when the image processing apparatus 4 does not image a subject, and detection of fluctuating pixels and defective pixels are detected from these offset images.

<装置構成>
本形態の装置構成は、図4と同様である。ただし、ここでの変動画素検出手段414は、オフセット画像における画素値を、そのオフセット画像の特定領域における画素値の平均値と比較し、その平均値から一定のしきい値以上外れた画素値の画素を見出すことで変動画素を検出する。より具体的には、3×3画素の領域における平均画素値からその20%以上の差異がある画素値を示す画素を変動画素と判断している。
<Device configuration>
The apparatus configuration of this embodiment is the same as that shown in FIG. However, the fluctuation pixel detecting means 414 here compares the pixel value in the offset image with the average value of the pixel values in the specific area of the offset image, and the pixel value that deviates from the average value by a certain threshold value or more. A variable pixel is detected by finding the pixel. More specifically, a pixel indicating a pixel value having a difference of 20% or more from an average pixel value in a 3 × 3 pixel region is determined as a variation pixel.

<処理手順>
この装置での処理手順を図6に基づいて説明する。
<Processing procedure>
A processing procedure in this apparatus will be described with reference to FIG.

まず、画像処理装置4は、夜中などの撮影を行わない時間帯にオフセット画像を取得する(ステップS31)。画像処理装置4は、その枚数を記録し、合計枚数が100枚になるまでオフセット画像の取得を続ける(ステップS32)。次に、画像処理装置4は、変動画素検出部414により、各オフセット画像の画素値を、同画像の3×3画素の領域における平均画素値と比較して、平均画素値から20%以上差異のある画素値を有する画素を変動画素と判断する(ステップS33)。画像処理装置4は、変動画素と判断された画素をその画素の位置情報と変動画素と判断された回数とを位置情報記憶部415に記憶する(ステップS34)。   First, the image processing device 4 acquires an offset image during a time period when shooting is not performed, such as at night (step S31). The image processing apparatus 4 records the number of sheets and continues to acquire offset images until the total number reaches 100 (step S32). Next, the image processing device 4 compares the pixel value of each offset image with the average pixel value in the 3 × 3 pixel area of the image by the variation pixel detection unit 414, and the difference is 20% or more from the average pixel value. A pixel having a certain pixel value is determined as a variation pixel (step S33). The image processing device 4 stores, in the position information storage unit 415, the position information of the pixel determined to be a varying pixel and the number of times the pixel has been determined to be a varying pixel (step S34).

次に、画像処理装置4は、変動画素として判断された画素および変動画素として判断されなかった画素について、100枚全ての画像で変動画素となった画素を欠陥画素と判断する(ステップS35)。画像処理装置4は、欠陥画素と判断された画素をその位置情報が欠陥画素位置情報記憶部419に記憶する(ステップS36)。   Next, the image processing apparatus 4 determines that the pixels that have changed in all 100 images are defective pixels for the pixels that have been determined as changed pixels and the pixels that have not been determined as changed pixels (step S35). The image processing device 4 stores the position information of the pixel determined to be a defective pixel in the defective pixel position information storage unit 419 (step S36).

そして、実際に被検体を撮影する際には、画像処理装置4は、以上の動作から検出された変動画素、欠陥画素に対して実施の形態2と同様の補正処理(ステップS16〜S20)を施す。   When the subject is actually imaged, the image processing apparatus 4 performs the same correction process (steps S16 to S20) as that of the second embodiment on the fluctuating pixels and defective pixels detected from the above operations. Apply.

この実施形態によれば、非撮影時にオフセット画像を取得することで、効率的に変動画素、欠陥画素の検出を行なうことができる。   According to this embodiment, by acquiring an offset image at the time of non-photographing, it is possible to efficiently detect a fluctuation pixel and a defective pixel.

また、オフセット補正の対象は、FPD2の暗電流量に限らず、FPD2の使用温度、回路構成による熱分布、周囲温度及び湿度、冷却器の取り付けなど、FPD2のX線非照射時におけるノイズ成分の変動に関連するあらゆる条件、要因を含むものである。   The target of offset correction is not limited to the amount of dark current of the FPD2, but the noise component when the FPD2 is not irradiated with X-rays, such as the operating temperature of the FPD2, the heat distribution due to the circuit configuration, the ambient temperature and humidity, and the installation of a cooler. It includes all conditions and factors related to fluctuations.

なお、本形態で取得するオフセット画像は、時系列に連続するオフセット画像でなくても良い。例えば、毎日収集したオフセット画像であってもよい。   Note that the offset image acquired in this embodiment may not be an offset image that is continuous in time series. For example, offset images collected every day may be used.

その他、本発明は前記各説明の一部構成を適宜組み合わせても構わないし、その主旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能である。   In addition, the present invention may appropriately combine a part of the configurations described above, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.

本発明のX線画像診断装置は、X線画像の撮影に好適に利用することができる。特に、本発明は、一般撮影用X線装置はもちろん、透視撮影用X線装置にも利用することができる。   The X-ray image diagnostic apparatus of the present invention can be suitably used for taking X-ray images. In particular, the present invention can be used not only for X-ray apparatuses for general imaging but also for X-ray apparatuses for fluoroscopic imaging.

Claims (2)

X線を被検体に照射するX線発生手段と、前記X線発生手段と対向配置され前記被検体の透過X線をX線画像データとして変換出力するX線平面検出器と、前記X線発生手段によってX線が照射されない時の前記X線平面検出器の出力を用いてオフセット補正データを求める補正データ作成手段と、前記X線画像データから前記オフセット補正データを減算するオフセット補正手段と、を備えたX線画像診断装置において、
前記求められたオフセット補正データに基づき前記X線平面検出器の使用環境によるオフセット補正データの変動が所定の範囲外にある画素を検出する変動画素検出手段と、前記検出された変動画素のオフセット補正データに対して所定のデータ補正を行い、前記オフセット補正手段に出力する変動画素補正手段と、前記データ補正されたオフセット補正データが前記オフセット補正手段によって前記X線画像データから減算された画像データを表示する画像表示部と、を有し、
加えて、前記変動画素のオフセット補正データの変動状態が安定しているか否かを判定する安定性判定手段と、安定性判断手段により不安定であると判断された場合に、その変動画素の位置情報を欠陥画素の位置情報として追加する欠陥画素情報追加手段と、この追加された位置情報に基づき欠陥画素の出力に対して欠陥画素としての補正を行う欠陥画素補正手段と、を有し、
前記安定性判定手段は、前記変動画素検出手段により変動画素と判断された回数、または前記変動画素補正手段により変動画素として補正が行われた回数を計測して記録するカウンタ手段であって、前記欠陥画素情報追加手段は、カウンタ手段によって計測された回数が所定値以上の場合に、その変動画素を欠陥画素と判断して、その位置情報を欠陥画素情報記憶手段に記憶させることを特徴とするX線画像診断装置。
X-ray generation means for irradiating the subject with X-rays, an X-ray flat panel detector disposed opposite to the X-ray generation means for converting and outputting the transmitted X-rays of the subject as X-ray image data, and the X-ray generation Correction data creating means for obtaining offset correction data using the output of the X-ray flat panel detector when X-rays are not irradiated by the means, and offset correction means for subtracting the offset correction data from the X-ray image data. In the X-ray diagnostic imaging device provided,
And change pixel detection means for variation of the offset correction data by using the environment of the X-ray flat panel detector based on the determined al offset correction data to detect pixels that are outside the predetermined range, the detected offset variations pixels Fluctuating pixel correction means for performing predetermined data correction on the correction data and outputting to the offset correction means, and image data obtained by subtracting the data-corrected offset correction data from the X-ray image data by the offset correction means an image display unit that displays, have,
In addition, the stability determination unit that determines whether or not the variation state of the offset correction data of the variation pixel is stable, and the position of the variation pixel when the stability determination unit determines that the variation is unstable. Defective pixel information adding means for adding information as defective pixel position information, and defective pixel correcting means for correcting the output of the defective pixel as a defective pixel based on the added position information,
The stability determination unit is a counter unit that measures and records the number of times that the variation pixel detection unit determines that the pixel is a variation pixel, or the number of times that the variation pixel correction unit corrects the variation pixel. The defective pixel information adding unit is characterized in that, when the number of times measured by the counter unit is equal to or greater than a predetermined value, the fluctuation pixel is determined as a defective pixel and the position information is stored in the defective pixel information storage unit. X-ray diagnostic imaging equipment.
X線平面検出器の暗電流量を用いてオフセット補正データを求める補正データ作成手段と、前記X線平面検出器の暗電流量の変動する画素を検出する変動画素検出手段と、前記検出された変動画素の位置情報を記憶する位置情報記憶手段と、X線を被検体へX線発生手段により照射し、前記X線発生手段と対向配置され前記被検体の透過X線をX線画像データとしてX線平面検出器により変換出力することでX線画像データを取得し、この取得されたX線画像データを記憶する画像データ記憶手段と、前記記憶されたX線画像データから前記補正データ作成手段によって作成されたオフセット補正データを減算するオフセット補正手段と、前記検出された変動画素に対して補正を行う変動画素補正手段と、前記補正された変動画素をX線画像データとして表示する画像表示部と、を備えたX線画像診断装置において、
前記変動画素の暗電流量の変動状態が安定しているか否かを判定する安定性判定手段と、
安定性判断手段により不安定であると判断された場合に、その変動画素の位置情報を欠陥画素の位置情報として追加する欠陥画素情報追加手段と、この追加された位置情報に基づき欠陥画素の出力に対して欠陥画素としての補正を行う欠陥画素補正手段と、を有し、
前記安定性判定手段は、前記変動画素検出手段により変動画素と判断された回数、または変動画素補正手段により変動画素として補正が行われた回数を計測して記録するカウンタ手段であって、前記欠陥画素情報追加手段は、カウンタ手段によって計測された回数が所定値以上の場合に、その変動画素を欠陥画素と判断して、その位置情報を欠陥画素情報記憶手段に記憶させることを特徴とするX線画像診断装置。
Correction data creation means for obtaining offset correction data using the dark current amount of the X-ray flat panel detector, variable pixel detection means for detecting a pixel in which the dark current amount of the X-ray flat panel detector fluctuates, and the detected Position information storage means for storing position information of the fluctuating pixels, X-rays are irradiated to the subject by the X-ray generation means, and the transmitted X-rays of the subject that are arranged opposite to the X-ray generation means are used as X-ray image data X-ray image data is acquired by conversion output by an X-ray flat panel detector, the image data storage means for storing the acquired X-ray image data, and the correction data creation means from the stored X-ray image data display offset correction means for subtracting the offset correction data created, and the defective pixel correction means for performing correction on the detected change pixel, the corrected change pixel as the X-ray image data by In X-ray image diagnostic apparatus having that an image display unit, a
Stability determination means for determining whether or not the variation state of the dark current amount of the variation pixel is stable;
When it is determined that the stability is unstable by the stability determination means, the defective pixel information adding means for adding the position information of the changed pixel as the position information of the defective pixel, and the output of the defective pixel based on the added position information Defective pixel correction means for correcting as defective pixels for,
The stability determination unit is a counter unit that measures and records the number of times that the variation pixel detection unit determines that the pixel is a variation pixel, or the number of times that the variation pixel correction unit corrects the variation pixel. The pixel information adding means, when the number of times measured by the counter means is equal to or greater than a predetermined value, determines that the fluctuation pixel is a defective pixel and stores the position information in the defective pixel information storage means. Line image diagnostic device.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010246714A (en) * 2009-04-15 2010-11-04 Shimadzu Corp Radiographic apparatus
US11490869B2 (en) * 2020-03-04 2022-11-08 Fujifilm Corporation Radiographic image detection device, method for operating radiographic image detection device, and program for operating radiographic image detection device

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011254121A (en) * 2008-09-19 2011-12-15 Konica Minolta Medical & Graphic Inc Defective pixel determination method, defective pixel determination program, radiation image detector and defective pixel determination system
JP5169867B2 (en) * 2009-01-23 2013-03-27 株式会社島津製作所 Radiation imaging device
JP5416426B2 (en) * 2009-02-03 2014-02-12 富士フイルム株式会社 Radiation imaging equipment
JP2010261828A (en) * 2009-05-08 2010-11-18 Shimadzu Corp Detection method of defective pixel in two-dimensional array x-ray detector, and detection device of the defective pixel
JP5534756B2 (en) * 2009-09-16 2014-07-02 キヤノン株式会社 Image processing apparatus, image processing method, image processing system, and program
JP2011167329A (en) * 2010-02-18 2011-09-01 Shimadzu Corp Method for detecting deficient pixel in two-dimensional array x-ray detector, and device for detecting deficient pixel
JP5894371B2 (en) * 2011-03-07 2016-03-30 キヤノン株式会社 Radiation imaging apparatus and control method thereof
JP5475737B2 (en) * 2011-10-04 2014-04-16 富士フイルム株式会社 Radiation imaging apparatus and image processing method
GB201119257D0 (en) * 2011-11-08 2011-12-21 Eshtech Ltd X-ray detection apparatus
US10551510B2 (en) 2014-10-24 2020-02-04 Rigaku Corporation Data processing apparatus, method of obtaining characteristic of each pixel and method of data processing, and program
JP7041252B6 (en) * 2017-09-22 2022-05-31 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ Dealing with detector pixel performance fluctuations in digital positron emission tomography
US10270995B1 (en) * 2017-10-19 2019-04-23 Kromek Group, PLC Automated non-conforming pixel masking

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07236093A (en) * 1994-02-21 1995-09-05 Toshiba Medical Eng Co Ltd Image pickup device
JP2004015711A (en) * 2002-06-11 2004-01-15 Fuji Photo Film Co Ltd Method and device for reading image and outputting correction information
JP2004201784A (en) * 2002-12-24 2004-07-22 Hitachi Medical Corp X-ray image diagnostic apparatus
JP2005006196A (en) * 2003-06-13 2005-01-06 Canon Inc Radiation photographing device and method, computer program, and computer readable recording medium
JP2006049939A (en) * 2004-07-30 2006-02-16 Shimadzu Corp Radiographic device

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4118535B2 (en) * 2001-07-03 2008-07-16 株式会社日立メディコ X-ray inspection equipment

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH07236093A (en) * 1994-02-21 1995-09-05 Toshiba Medical Eng Co Ltd Image pickup device
JP2004015711A (en) * 2002-06-11 2004-01-15 Fuji Photo Film Co Ltd Method and device for reading image and outputting correction information
JP2004201784A (en) * 2002-12-24 2004-07-22 Hitachi Medical Corp X-ray image diagnostic apparatus
JP2005006196A (en) * 2003-06-13 2005-01-06 Canon Inc Radiation photographing device and method, computer program, and computer readable recording medium
JP2006049939A (en) * 2004-07-30 2006-02-16 Shimadzu Corp Radiographic device

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010246714A (en) * 2009-04-15 2010-11-04 Shimadzu Corp Radiographic apparatus
US11490869B2 (en) * 2020-03-04 2022-11-08 Fujifilm Corporation Radiographic image detection device, method for operating radiographic image detection device, and program for operating radiographic image detection device

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