JP4993196B2 - 捲回電極体の検査方法、および、捲回電極体の検査装置 - Google Patents

捲回電極体の検査方法、および、捲回電極体の検査装置 Download PDF

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Description

本発明は、正極と負極の間にセパレータ(separator)を介在させて扁平に捲回された捲回電極体の検査方法および検査装置に関する。かかる捲回電極体は、例えば、電池に用いられている。
捲回電極体は、帯状正極と、帯状負極とが帯状セパレータを介して積層し捲回されている。電池が構成される際には、電池ケースに当該捲回電極体が収容され、電解液が注入される。当該電池は、放電および充電が繰り返し行われる二次電池を構成することができる。当該二次電池としては、例えば、リチウムイオン二次電池(lithium-ion secondary battery)がある。同様の構造を有するリチウムイオン二次電池は、例えば、特開平09−283152号公報に開示されている。同公報では、帯状の電極を表面硬度の異なる2つのロールで加圧することが開示されている。なお、当該技術は、局番に捲回方向と交差する方向に多数の微細なクラックを形成することを目的としている。
また、同様に、捲回電極体の製造工程において、ローラで加圧する技術としては、例えば、特開2000−215886号公報、特開平5−283069号公報、特開平10−241722号公報がある。
特開2000−215886号公報に記載された発明は、巻回時の正極板のクラックを抑制し、この正極板のクラックに起因する内部短絡のないアルカリ蓄電池の製造方法を提供することを目的としている。そして、正極板は、乾燥してプレスした後、加圧しながら少なくとも二つのプレスローラ間を通過させて曲げ加工するものであり、この二つのプレスローラは、一方のプレスローラが他方のプレスローラよりも径の小さなものである。
特開平5−283069号公報には、渦巻電極体の製造方法として、同公報の図3の(a)〜(d)に示すように、セパレータ2を引き出し、捲回軸芯5ではさみ、陽極板1(正極)、陰極板3(負極)を供給し、加圧ローラ6を押しつけ、極板間に押圧力をかけながら捲回して渦巻電極体を製造する方法が記載されている。
特開平10−241722号公報にも、渦巻電極体を製造する製造工程において、加圧ローラで加圧しながら捲回する製造方法が記載されており、ここで、加圧ローラは緻密な巻装に寄与することが記載されている。
特開平09−283152号公報 特開2000−215886号公報 特開平5−283069号公報 特開平10−241722号公報
捲回電極体に異物が混入していると、デンドライト(dendrite)の原因になる場合がある。捲回電極体の製造工程、および、電池の製造工程は、クリーンルーム内で行なわれ、異物の混入については、厳重に注意して製造されている。しかしながら、電極活物質を塗布する工程や、帯状電極の切断する工程等において、数μmの極めて微小な塵が発生する可能性があり、これらの塵が捲回電極体に混入する可能性がある。そして、これらの塵が上述したデンドライト(dendrite)などの原因となり、電池に不具合を生じさせる場合がある。二次電池の信頼性をさらに向上させるためには、捲回電極体に異物が混入したことを精度よく発見し、かかる異物が混入した捲回電極体を不良品として確実に製造ラインから排除したい。
ところで、捲回電極体には、渦巻状に巻かれた渦巻電極体だけではなく、角型の二次電池に用いられる扁平な捲回電極体がある。扁平な捲回電極体は、帯状の電極を捲回後に扁平な形状にプレスすることもある。このような捲回電極体では、プレス後のスプリングバックにより若干外側に膨らんでいる場合がある。
かかる扁平な捲回電極体について、本発明者は、図1に示すように、捲回電極体10の扁平な面を一対の押圧板11、12で挟んで押圧し、この状態で捲回電極体10の正負の電極端子13、14に電圧を印加するとともに、捲回電極体10の正極と負極の間の漏れ電流を検知する検査方法を検討した。
この検査方法によれば、図2に示すように、捲回電極体10を一対の押圧板11、12で挟むことにより、上述したスプリングバックに抗して、捲回電極体10の帯状正極(図示省略)、帯状負極(図示省略)およびセパレータ(図示省略)を密着させることができる。当該押圧力により、捲回電極体10に異物が混入している場合に、異物がセパレータを突き破り、捲回電極体10の内部で短絡が生じる。また、捲回電極体を一対の押圧板11、12で挟むことにより、異物がセパレータ(図示省略)を突き破らない場合でも、印加電圧を高くすることにより、異物の介在に起因して、当該異物が混入した部分において強制的に短絡を生じさせることができる。かかる検査方法は、正極(帯状正極)と負極(帯状負極)との漏れ電流を漏れ電流検知部15によって、検知することによって、捲回電極体10に異物が混入したことを検知することができる。
しかしながら、上述した検査方法によって異物の混入が検知されなかった捲回電極体において、異物が混入していることがあった。そこで、本発明者は、上述した捲回電極体の検査方法の検査の精度を、さらに良くしたいと考え、本発明を考えた。
本発明に係る捲回電極体の検査方法は、正極と負極の間にセパレータを介在させて、扁平に捲回された捲回電極体に異物が混入しているか否かを検査する捲回電極体の検査方法であって、正極と負極に電圧を印加しつつ、前記捲回電極体の扁平な面に直線状に接触する押圧部材で前記捲回電極体を押圧しつつ、前記捲回電極体の扁平な面上を移動させ、前記正極と負極との間に漏れ電流が生じるか否かを検知して、異物の混入を検査する。
この検査方法によれば、押圧部材が捲回電極体に線接触するので、略一様な押圧力で捲回電極体を押圧することができる。このため、捲回電極体に異物が混入していることを精度良く検知することができる。
捲回電極体の押圧は、例えば、押圧部材が線接触する部位を、捲回電極体の捲回方向に直交する方向に沿って配設し、当該押圧部材で捲回電極体の扁平な面を押圧しつつ、捲回電極体の捲回方向に移動させてもよい。押圧部材が線接触する部位を、捲回電極体の捲回方向に直交する方向に沿って配設し、当該押圧部材で捲回電極体の扁平な面を押圧しつつ、捲回電極体の捲回方向に移動させると、捲回電極体を略一様の押圧力で押圧することができ、異物の検知精度が向上する。
例えば、捲回電極体の押圧は、一対のローラによって捲回電極体の扁平な面を押圧しつつ、一対のローラを転動させてもよい。また、例えば、捲回電極体の押圧は、扁平な捲回電極体の片側の面をプレートによって支持した状態で、捲回電極体の反対側の面にローラを押し当て、ローラを転動させてもよい。
この場合、ローラの転動軸は、捲回電極体の捲回方向に直交する方向に沿って配設してもよい。ローラは、さらに捲回電極体の捲回方向に直交する方向において、扁平な捲回電極体の全幅を押圧し得る長さを有していてもよい。また、ローラは自走するものでもよい。
また、捲回電極体の押圧は、扁平な捲回電極体の片側の面をプレートによって支持した状態で、滑り部材を前記扁平な捲回電極体の反対側の面に押し当てつつ滑らせてもよい。この場合、捲回電極体の反対側の面に直線上に押し当てられる部位は、捲回電極体の捲回方向に直交する方向に沿って配設してもよい。捲回電極体の反対側の面に直線上に押し当てられる部位は、さらに捲回電極体の捲回方向に直交する方向において、扁平な捲回電極体の全幅を押圧し得る長さを有していてもよい。
ところで、図1および図2に示す捲回電極体の検査方法では、一対の押圧板11、12で扁平な捲回電極体10を挟んでいる。本発明者は、80mm×80mmの扁平な捲回電極体10に対して、500kg(約5kN)というかなり大きな押圧力で押圧したが、異物の混入が検知できない場合があった。
そこで、本発明者は、当該押圧板11、12で押圧したときの押圧力の分布を調べた。その結果、平らな押圧板11、12で押しているものの、捲回電極体10に作用する押圧力は意外にも一様ではなく、押圧力が大きいところと押圧力が小さいところがあった。詳しくは、上記のように一対の押圧板で押圧した場合、捲回電極体の厚さが厚いところでは、押圧力が大きくなり、厚くないところで押圧力が小さくなる傾向があった。特に、押圧される捲回電極体10の中央部10aに生じる押圧力は、捲回のコーナ部分10bの近傍に比べて小さくなる傾向があった。捲回のコーナ部分10bの近傍は、帯状正極、帯状負極、セパレータなどが曲げられているため、剛性が高く一対の押圧板11、12で捲回電極体10を挟んだ場合でも、当該コーナ部分10bの変位は小さい。このため押圧力は、当該コーナ部分10bおよびその近傍に集中すると考えられる。本発明者は、当該知見を基に本発明を考えた。
以下、本発明の一実施形態に係る捲回電極体の検査方法、および、捲回電極体の検査装置を図面に基づいて説明する。なお、同じ作用を奏する部材又は部位には、同じ符号を付している。また、下記の実施形態は本発明の実施の一形態を例示するに過ぎず、本発明は下記の実施形態には限定されない。
本発明の一実施形態に係る捲回電極体の検査方法は、図3および図4に示すように、正極13と負極14に電圧を印加しつつ、捲回電極体10の扁平な面10c、10dに線接触する押圧部材51、52で捲回電極体10を押圧しつつ、捲回電極体10の扁平な面10c、10d上を移動させ、正極13と負極14との間に漏れ電流が生じるか否かを検知して、異物の混入を検査する。
この検査方法によれば、押圧部材51、52が捲回電極体10に線接触するので、略一様な押圧力で捲回電極体10を押圧することができ、捲回電極体10に異物が混入していることを精度良く検知することができる。なお、ここで、「線接触」は、押圧部材51、52が捲回電極体10に当接するので、当然ながら物理的に幅のある直線で接触している。
以下、この捲回電極体の検査方法を具現化する捲回電極体の検査装置をさらに詳述する。
本発明の一実施形態に係る捲回電極体の検査装置100は、図3に示すように、漏れ電流検知部30と、押圧部50とを備えている。
漏れ電流検知部30は、正極と負極に電圧を印加して、正極と負極の間に漏れる電流の有無を検知する。この実施形態では、漏れ電流検知部30は、図3に示すように、捲回電極体10の帯状正極21(図5参照)と帯状負極22(図5参照)に接続される。なお、図3、図4に示すように、漏れ電流検知部30の接続端子は、捲回電極体10の内部の帯状正極21(図5参照)に連結された正極端子13と、捲回電極体10の内部の帯状負極22(図示省略)に連結された負極端子14にそれぞれ接続されている。
この漏れ電流検知部30は、電圧印加部31と、電流検知部32を備えている。電圧印加部31は、当該正極端子13と負極端子14を介して捲回電極体10の帯状正極(図示省略)と帯状負極(図示省略)に電圧を印加する。電圧印加部31は、例えば、出力を可変できる直流電源で構成するとよい。電流検知部32は、帯状正極21(図5参照)と帯状負極22(図5参照)の間に生じる漏れ電流を検知する。また、電流検知部32は、例えば、電流計で構成するとよい。
押圧部50は、捲回電極体10の扁平な面に線接触し、当該捲回電極体10を押圧する。この実施形態では、一対のローラ51、52と、プレス装置53、54と、駆動装置55、56を備えている。
一対のローラ51、52は、扁平な捲回電極体10を挟む。この実施形態では、捲回電極体10の同じ位置を押圧するように、両側の扁平な面に対して対向して配設される。また、ローラ51、52の転動軸51a、52aは、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向に沿って配設している。また、ローラ51、52は、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向において、扁平な捲回電極体10の全幅を押圧し得る長さを有している。プレス装置53、54は、ローラ51、52の転動軸51a、52aを軸支する。そして、プレス装置53、54は、一対のローラ51、52の間隔を狭める方向に一対のローラ51、52に押圧力を付与する。また、駆動装置55、56は、ローラ51、52を自走させる駆動力を付与する装置であり、この実施形態では、駆動装置55、56は、DCモータで構成され、ローラ51、52が転動するように、ローラ51、52の転動軸51a、52aに駆動力を伝達する。
この捲回電極体の検査装置100は、図3および図4に示すように、扁平な捲回電極体10の両面10c、10dを一対のローラ51、52によって挟み、上述したプレス装置53、54の作用によって当該一対のローラ51、52で捲回電極体10を押圧する。そして、一対のローラ51、52で捲回電極体10を挟み、押圧しつつ、駆動装置55、56によって一対のローラ51、52を転動させて、捲回電極体10の全面を押圧している。
一対のローラ51、52が通過する際に、図5に示すように、当該一対のローラ51、52が通過する部位において帯状正極21と、帯状負極22と、セパレータ23、24に押圧力が作用する。このため、捲回電極体10のスプリングバック(springback)に抗して、当該一対のローラ51、52に挟まれた部位は、帯状正極21と、帯状負極22と、セパレータ23、24が密着する。そして、ローラ51、52が線接触する部位には、略一様に押圧力が作用する。
捲回電極体10に異物25が混入している場合には、異物25が混入している部位を一対のローラ51、52が通過する際に、当該一対のローラ51、52が帯状正極21と、帯状負極22と、セパレータ23、24に作用する押圧力により、帯状正極21と帯状負極22の間のセパレータ23、24が突き破られ、帯状正極21と帯状負極22に短絡が生じる。また、セパレータ23、24が突き破られなくても、帯状正極21と帯状負極22に印加される電圧および押圧力によって、当該異物が混入している部位を短絡させることができる。帯状正極21と帯状負極22の間で短絡が生じると、帯状正極21と帯状負極22との間に漏れ電流が生じる。漏れ電流は、漏れ電流検知部30の電流検知部32によって検知される。
なお、漏れ電流検知部30で検知される漏れ電流は、所定の規定値以上において、帯状正極21と帯状負極22との間に異物があると判定してもよい。かかる規定値は、経験上得られる値を設定するとよい。相当な印加電圧が付与されるため、軽微な漏れ電流の検知は、異物の混入に起因しない誤った検知である可能性があるためである。また、所定の規定値以上の漏れ電流を検知した場合に、当該部位に、ローラ51、52(押圧部材)を再度通過させて、再検査するようにしてもよい。これにより、誤って正常な捲回電極体を検知することを防止できるとともに、検査スピードおよび検査精度を向上させることができる。
また、この実施形態では、ローラ51、52(押圧部材)が捲回電極体10を移動しながら検査でき、また異物の混入に起因する漏れ電流を検知するので、捲回電極体10に異物が混入している場所を特定することも可能である。
この捲回電極体の検査装置100は、図3および図4に示すように、捲回電極体10の扁平な面10c、10dに線接触する一対のローラ51、52(押圧部材)で捲回電極体10を挟んで押圧している。そして、一対のローラ51、52を転動させることによって、捲回電極体10の全面を略一様な押圧力で押圧することができる。
この際、図5に示すように、帯状正極21(正極)と帯状負極22(負極)との間に漏れ電流が生じるか否かを、漏れ電流検知部30によって検知して、異物25の混入を検査している。このように捲回電極体の検査装置100によれば、捲回電極体10の全面を略一様な押圧力で押圧することができるので、捲回電極体10に異物が混入しているか否かを、精度良く検査することができる。なお、一対のローラ51、52に付与する押圧力、および、漏れ電流検知部30が印加する印加電圧は、検査対象となる捲回電極体10の構造等によっても差があるが、上述したような押圧力および印加電圧の作用を考慮して、異物の混入が検知できる程度に、押圧力および印加電圧を調整するとよい。
また、図1、図2で示すような一対の押圧板11、12を用いた装置に比べて、捲回電極体10とローラ51、52(押圧部材)の接触面積がかなり小さくなる。このため、ローラ51、52に付与する力は、図1、図2で示すような一対の押圧板11、12を用いた装置で、一対の押圧板11、12に付与していた力に比べて、より小さい力で異物の混入を検知できる。これにより、図1、図2で示すような一対の押圧板11、12を用いた装置に比べて、プレス装置53、54の出力を小さくできる。さらに、プレス装置53、54の出力を小さくできるので、より小型のプレス装置を用いることができ、捲回電極体の検査装置100を製造に要するコストを低く抑えることができ、また、捲回電極体の検査装置100の設置スペースを小さくすることができる。
また、この実施形態では、ローラ51、52の転動軸を、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向に沿って配設しているので、捲回電極体10の中央部分にも適切に押圧することができる。このため、捲回電極体に異物が混入したことを精度よく検知できる。
また、この実施形態では、ローラ51、52は、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向において、扁平な捲回電極体10の全幅を押圧し得る長さを有している。このため、検査において、捲回電極体10の捲回方向にローラ51、52を少なくとも一度転動させることにより、検査を完了させることができる。
また、ローラ51、52が自走するので、捲回電極体10に対して、せん断方向に変形を生じさせるように摩擦力が生じるのを抑制することができる。
以上、本発明の一実施形態に係る捲回電極体の検査方法、および、捲回電極体の検査装置を例示したが、本発明に係る捲回電極体の検査方法、および、捲回電極体の検査装置は、種々の変更ができる。以下に、本発明の他の実施形態を説明する。
本発明の他の実施形態に係る捲回電極体の検査装置100Aは、図6に示すように、漏れ電流検知部30と、押圧部200で構成されている。漏れ電流検知部30は、図3および図4に示す捲回電極体の検査装置100と同じ構造を備えている。
押圧部200は、図6に示すように、扁平な捲回電極体10の片側の面10cを支持する支持部201(図6に示す例では、平らなプレート)と、捲回電極体10の反対側の面10dに押し当てられるローラ202とを備えている。図6に示す実施形態では、支持部201はローラ202の押圧に対抗しうる台座203などの固定物に固定されている。ローラ202の転動軸202aは、プレス装置204によって支持されている。なお、支持部201を固定する台座203は、当該プレス装置204に設置してもよい。ローラ202は、駆動装置205によって自走するように構成されている。
この押圧部200は、扁平な捲回電極体10の片側の面10cをプレート(支持部201)に支持させた状態で、捲回電極体10の反対側の面10dにローラ202を押し当てつつ、当該ローラ202を転動させる。この実施形態では、ローラ202の転動軸202aは、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向に沿って配設されている。ローラ202は、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向において、扁平な捲回電極体10の全幅を押圧し得る長さを有している。そして、ローラ202を捲回電極体10に押圧しつつ、ローラ202を捲回電極体10の捲回方向に沿って転動させる。これにより、押圧部200は、捲回電極体10を、全面にわたって略一様な押圧力で押圧することができる。
この場合において、捲回電極体10に異物が混入している場合には、捲回電極体10に異物が混入している部位をローラ202が通過する際に、印加電圧および押圧力によって、捲回電極体10内の帯状正極(図示省略)と帯状負極(図示省略)の間に短絡を生じさせることができる。帯状正極(図示省略)と帯状負極(図示省略)の間で短絡が生じると、帯状正極(図示省略)と帯状負極(図示省略)との間に漏れ電流が生じ、漏れ電流は正極端子13と負極端子14に接続した漏れ電流検知部30によって検知される。
この捲回電極体の検査装置100Aによれば、押圧部200が、扁平な捲回電極体10の片側の面10cを支持する支持部201と、捲回電極体10の反対側の面10dに押し当てられるローラ202とで構成されている。この構造によって、捲回電極体10の全面を略一様な押圧力で押圧することができ、捲回電極体10に異物が混入しているか否かを、精度良く検査することができる。また、ローラ202が捲回電極体10の片側で転動するので、図3、図4に示す実施形態に比べて、捲回電極体10の支持構造や、プレス装置の構成や駆動装置の構成が簡単になる。これにより、捲回電極体の検査装置の製造コストを低く抑えることができる。
また、この実施形態では、ローラ202の転動軸を、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向に沿って配設しているので、捲回電極体10の中央部分にも適切に押圧することができる。このため、捲回電極体に異物が混入したことを精度よく検知できる。
また、この実施形態では、ローラ202は、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向において、扁平な捲回電極体10の全幅を押圧し得る長さを有している。このため、検査において、ローラ202を、捲回電極体10の捲回方向に少なくとも一度転動させることにより、検査を完了させることができる。
また、ローラ202が自走するので、捲回電極体10に対して、せん断方向に変形を生じさせるように摩擦力が生じるのを抑制することができる。
以上の通り、図6に示す捲回電極体の検査装置100A、および、当該捲回電極体の検査装置により具現化される捲回電極体の検査方法においても、捲回電極体に対する異物の混入を検知する精度を向上させることができる。
さらに、本発明の他の実施形態を説明する。当該他の実施形態に係る捲回電極体の検査装置100Bは、図7に示すように、漏れ電流検知部30と、押圧部300で構成されている。漏れ電流検知部30は、図3および図4に示す捲回電極体の検査装置100と同じ構造を備えている。
押圧部300は、図7に示すように、一対のローラ301、302と、当該ローラ301、302を支持する支持部303と、プレス装置304、305と、駆動装置306とを備えている。
プレス装置304、305は、ローラ301、302の間隔を狭めるように押圧力を付与する。駆動装置306はローラ301、302を捲回電極体10に対して相対的に移動させる駆動装置であり、この実施形態では、支持部303に駆動力を作用させ、支持部303に支持させたローラ301、302を捲回電極体10に対して相対的に移動させている。すなわち、この実施形態では、ローラ301、302は自走しない。駆動装置306によって、ローラ301、302が捲回電極体10に対して相対的に移動する際に、これに応じて、転動する。
この実施形態では、ローラ301、302の転動軸301a、302aは、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向に沿って配設される。また、ローラ301、302は、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向において、扁平な捲回電極体10の全幅を押圧し得る長さを有している。この押圧部300は、ローラ301、302を捲回電極体10に押圧させつつ、ローラ301、302を捲回電極体10の捲回方向に沿って転動させる。これにより、押圧部300は、捲回電極体10を、全面にわたって略一様な押圧力で押圧することができる。
この場合において、捲回電極体10に異物が混入している場合には、捲回電極体10に異物が混入している部位をローラ301、302が通過する際に、当該異物が混入している部位において、帯状正極(図示省略)と帯状負極(図示省略)の間で短絡を生じる。帯状正極(図示省略)と帯状負極(図示省略)の間で短絡が生じると、帯状正極(図示省略)と帯状負極(図示省略)との間に漏れ電流が生じる。漏れ電流は、漏れ電流検知部30によって検知される。
この押圧部300によれば、扁平な捲回電極体10を挟む一対のローラ301、302によって、捲回電極体10の扁平な面10c、10dを押圧しつつ、一対のローラ301、302を転動させる。これにより、捲回電極体10の全面を略一様な押圧力で押圧することができ、捲回電極体10に異物が混入しているか否かを、精度良く検査することができる。この実施形態では、ローラ301、302の転動軸を、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向に沿って配設しているので、捲回電極体10の中央部分にも適切に押圧することができる。
また、この実施形態では、ローラ301、302は、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向において、扁平な捲回電極体10の全幅を押圧し得る長さを有している。このため、検査において、ローラ301、302を、捲回電極体10の捲回方向に少なくとも一度転動させることにより、検査を完了させることができる。
このように、捲回電極体10をローラ301、302によって押圧する場合には、ローラ301、302は自走しなくても、異物の混入を検知することができる。このことは、図6に示した捲回電極体の検査装置100Aのように、捲回電極体10の片側の面をプレートで支持し、反対側の面にローラを押し当てる構造についても同様である。すなわち、図6に示す押圧部200において、ローラ202が自走せず、駆動装置によって、ローラ202が捲回電極体10に対して相対的に移動し、これに応じて、ローラ202が転動するようにしても、異物の混入を検知することができる。
以上の通り、図7に示す捲回電極体の検査装置100C、および、当該捲回電極体の検査装置により具現化される捲回電極体の検査方法においても、捲回電極体に対する異物の混入を検知する精度を向上させることができる。
次に、本発明の他の実施形態に係る捲回電極体の検査装置100Cを説明する。捲回電極体の検査装置100Cは、図8に示すように、漏れ電流検知部30と、押圧部400で構成されている。漏れ電流検知部30は、図3および図4に示す捲回電極体の検査装置100と同じ構造を備えている。
押圧部400は、図8に示すように、扁平な捲回電極体10の片側の面10cを支持する支持部401(図8に示す例では、平らなプレート)と、捲回電極体10の反対側の面10dに押し当てられる滑り部材402とを備えている。図8に示す実施形態では、支持部401は滑り部材402の押圧に対抗しうる台座403などの固定物に固定されている。滑り部材402は、プレス装置404に押圧力が付与される。なお、支持部401を固定する台座403は、当該プレス装置404に設置してもよい。支持部401は、駆動装置405によって、捲回電極体10に対して相対的に移動するように構成されている。
滑り部材402は、捲回電極体10に対して直線状に押し当てられる部位402aを有しており、プレス装置404によって捲回電極体10に押し当てられた状態で滑るように構成されている。この場合、滑り部材402の当該部位402aは、捲回電極体10を傷つけないように、また、捲回電極体10内部で、帯状正極や帯状負極や帯状セパレータなどがずれないように、滑り性の良い形状と表面状態で構成するとよい。
このため、滑り部材402の当該部位402aは、捲回電極体10の扁平な面10dに対して滑り易いように、適当な曲面形状で形成されている。また、この実施形態では、滑り部材402の当該部位402aは、捲回電極体10に対して滑り易いように、表面処理が施されている。かかる表面処理としては、例えば金属鍍金を施すとよい。また、滑り部材402の当該部位402aは、所要の硬度を有し、表面が滑らかな樹脂で形成してもよい。
この押圧部400は、扁平な捲回電極体10の片側の面10cをプレート(支持部401)に支持させた状態で、捲回電極体10の反対側の面10dに滑り部材402を押し当てつつ、当該滑り部材402を滑らせる。この実施形態では、滑り部材402は、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向に沿って配設されている。また、滑り部材402は、捲回電極体10に対して直線状に押し当てられる部位が、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向において、扁平な捲回電極体10の全幅を押圧し得る長さを有している。そして、滑り部材402を捲回電極体10に押圧しつつ、滑り部材402を捲回電極体10の捲回方向に沿って滑らせる。これにより、押圧部400は、捲回電極体10を、全面にわたって略一様な押圧力で押圧することができる。
この場合において、捲回電極体10に異物が混入している場合には、捲回電極体10に異物が混入している部位を滑り部材402が通過する際に、印加電圧および押圧力によって、捲回電極体10内の帯状正極(図示省略)と帯状負極(図示省略)の間に短絡を生じさせることができる。帯状正極(図示省略)と帯状負極(図示省略)の間で短絡が生じると、帯状正極(図示省略)と帯状負極(図示省略)との間に漏れ電流が生じ、漏れ電流は正極端子13と負極端子14に接続した漏れ電流検知部30によって検知される。
この捲回電極体の検査装置100Cによれば、押圧部400が、扁平な捲回電極体10の片側の面10cを支持する支持部401と、捲回電極体10の反対側の面10dに押し当てられる滑り部材402とで構成されている。この構造によって、捲回電極体10の全面を略一様な押圧力で押圧することができ、捲回電極体10に異物が混入しているか否かを、精度良く検査することができる。また、滑り部材402が捲回電極体10の片側で転動するので、図3、図4に示す実施形態に比べて、捲回電極体10の支持構造や、プレス装置の構成や駆動装置の構成が簡単になる。これにより、捲回電極体の検査装置の製造コストを低く抑えることができる。
また、この実施形態では、滑り部材402の転動軸を、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向に沿って配設しているので、捲回電極体10の中央部分にも適切に押圧することができる。このため、捲回電極体10に異物が混入したことを精度よく検知できる。
また、この実施形態では、滑り部材402は、捲回電極体10の捲回方向に直交する方向において、扁平な捲回電極体10の全幅を押圧し得る長さを有している。このため、検査において、滑り部材402を、捲回電極体10の捲回方向に少なくとも一度転動させることにより、検査を完了させることができる。
以上の通り、図8に示す捲回電極体の検査装置100C、および、当該捲回電極体の検査装置により具現化される捲回電極体の検査方法においても、捲回電極体に対する異物の混入を検知する精度を向上させることができる。
このように、捲回電極体を押圧する押圧部材は、捲回電極体に押し当てられた状態で滑り得る滑り部材を用いても良い。また、図3〜図7には、押圧部材にローラを用いた本発明の実施形態を例示したが、かかるローラにおいて、ローラが自走せず(換言すれば、ローラが自ら転動せず)、駆動装置によって、ローラが捲回電極体に対して移動するような実施形態においては、ローラの外周面は、捲回電極体に押し当てられた状態で滑り得るようにしてもよい。これによりローラと捲回電極体とに生じる摩擦を軽減でき、捲回電極体10に対して、せん断方向に変形が生じる抑制することができる。これにより、当該検査により、捲回電極体に不具合が生じるのを防止することができる。
以上、本発明に係る捲回電極体の検査装置および捲回電極体の検査方法を種々説明したが、これらは本発明の一実施形態を示すに過ぎず、本発明は上述した実施形態に限定されるものではない。また、上述した実施形態の各構成は、適宜に組み合わせることができる。上述した捲回電極体の検査装置および捲回電極体の検査方法は、電池などに用いられる捲回電極体の検査に広く適用できる。
捲回電極体の検査方法を示す斜視図。 捲回電極体の検査方法を示す側面図。 本発明の一実施形態に係る捲回電極体の検査方法を示す斜視図。 本発明の一実施形態に係る捲回電極体の検査方法を示す側面図。 本発明の一実施形態に係る捲回電極体の検査方法における捲回電極体の部分断面図。 本発明の他の実施形態に係る捲回電極体の検査方法を示す側面図。 本発明の他の実施形態に係る捲回電極体の検査方法を示す側面図。 本発明の他の実施形態に係る捲回電極体の検査方法を示す側面図。
符号の説明
10 捲回電極体
10a 扁平な面の中央部
10b コーナ部分
10c 片側の面(扁平な面)
10d 反対側の面(扁平な面)
11 押圧板
13 正極(正極端子)
14 負極(負極端子)
15 電流検知部
21 帯状正極
22 帯状負極
23、24 帯状セパレータ
25 異物
30 漏れ電流検知部
31 電圧印加部
32 電流検知部
50 押圧部
51、52 ローラ(押圧部材)
51a、52a 転動軸
53 プレス装置
55、56 駆動装置
100、100A、100B、100C 捲回電極体の検査装置
200 押圧部
201 支持部
202 ローラ(押圧部材)
202a 転動軸
203 台座
204 プレス装置
205 駆動装置
300 押圧部
301、302 ローラ(押圧部材)
301a、302a 転動軸
303 支持部
304、305 プレス装置
306 駆動装置
400 押圧部
401 支持部
402 滑り部材(押圧部材)
402a 捲回電極体に押し当てられる部位
403 台座
404 プレス装置
405 駆動装置

Claims (20)

  1. 正極と負極の間にセパレータを介在させて、扁平に捲回された捲回電極体に異物が混入しているか否かを検査する捲回電極体の検査方法であって、
    前記正極と負極に電圧を印加しつつ、前記捲回電極体の扁平な面に直線状に接触する押圧部材で前記捲回電極体を押圧しつつ、前記捲回電極体の扁平な面上を移動させ、前記正極と負極との間に漏れ電流が生じるか否かを検知して、異物の混入を検査する捲回電極体の検査方法。
  2. 前記捲回電極体の押圧は、前記押圧部材が線接触する部位を、前記捲回電極体の捲回方向に直交する方向に沿って配設し、当該押圧部材で前記捲回電極体の扁平な面を押圧しつつ、捲回電極体の捲回方向に移動させる、請求項1に記載の捲回電極体の検査方法。
  3. 前記押圧部材は、前記扁平な捲回電極体を挟む一対のローラを備え、
    前記捲回電極体の押圧は、前記一対のローラによって前記捲回電極体の扁平な面を押圧しつつ、前記一対のローラを転動させる、請求項1に記載の捲回電極体の検査方法。
  4. 前記押圧部材は、前記扁平な捲回電極体の片側の面を支持するプレートと、前記捲回電極体の反対側の面に押し当てられるローラとを備え、
    前記捲回電極体の押圧は、前記扁平な捲回電極体の片側の面を前記プレートによって支持した状態で、前記捲回電極体の反対側の面にローラを押し当て、当該ローラを転動させる、請求項1に記載の捲回電極体の検査方法。
  5. 前記ローラの転動軸は、前記捲回電極体の捲回方向に直交する方向に沿って配設される、請求項3又は4に記載の捲回電極体の検査方法。
  6. 前記ローラは、前記捲回電極体の捲回方向に直交する方向において、前記扁平な捲回電極体の全幅を押圧し得る長さを有している、請求項5に記載の捲回電極体の検査方法。
  7. 前記ローラは自走する、請求項3〜6の何れかに記載の捲回電極体の検査方法。
  8. 前記押圧部材は、前記扁平な捲回電極体の片側の面を支持するプレートと、前記捲回電極体の反対側の面に直線上に押し当てられる部位を有する滑り部材とを備え、
    前記捲回電極体の押圧は、前記扁平な捲回電極体の片側の面を前記プレートによって支持した状態で、前記滑り部材を前記扁平な捲回電極体の反対側の面に押し当てつつ滑らせる、請求項1に記載の捲回電極体の検査方法。
  9. 前記捲回電極体の反対側の面に直線上に押し当てられる部位は、前記捲回電極体の捲回方向に直交する方向に沿って配設される、請求項8に記載の捲回電極体の検査方法。
  10. 前記捲回電極体の反対側の面に直線上に押し当てられる部位は、前記捲回電極体の捲回方向に直交する方向において、前記扁平な捲回電極体の全幅を押圧し得る長さを有している、請求項8又は9に記載の捲回電極体の検査方法。
  11. 正極と負極の間にセパレータを介在させて、扁平に捲回された捲回電極体に異物が混入しているか否かを検査する捲回電極体の検査装置であって、
    前記正極と負極に電圧を印加して、前記正極と負極の間に漏れる電流の有無を検知する漏れ電流検知部と、
    前記捲回電極体の扁平な面に線接触して前記捲回電極体を押圧する押圧部とを備えた、捲回電極体の検査装置。
  12. 前記押圧部は、
    前記扁平な捲回電極体を挟む一対のローラと、
    前記一対のローラをそれぞれ支持し、当該一対のローラに押圧力を付与するプレス装置とを備えた、請求項11に記載の捲回電極体の検査装置。
  13. 前記押圧部は、
    前記扁平な捲回電極体の片側の面を支持する支持部と、
    捲回電極体の反対側の面に押し当てられるローラと、
    前記支持部とローラに押圧力を付与するプレス装置とを備えた、請求項11に記載の捲回電極体の検査装置。
  14. 前記ローラの転動軸を、前記捲回電極体の捲回方向に直交する方向に沿って配設される、請求項12又は13に記載の捲回電極体の検査装置。
  15. 前記ローラは、前記捲回電極体の捲回方向に直交する方向において、前記扁平な捲回電極体の全幅を押圧し得る長さを有している、請求項14に記載の捲回電極体の検査装置。
  16. 前記ローラを自走させる駆動装置を備えた、請求項12〜15の何れかに記載の捲回電極体の検査装置。
  17. 前記捲回電極体に対して前記ローラを相対的に移動させる駆動装置を備えた、請求項12〜15の何れかに記載の捲回電極体の検査装置。
  18. 前記押圧部は、
    前記扁平な捲回電極体の片側の面を支持する支持部と、
    前記扁平な捲回電極体の反対側の面に直線上に押し当てられる部位を有する滑り部材と、
    前記滑り部材を支持し、当該滑り部材に押圧力を付与するプレス装置と、
    前記捲回電極体に対して前記滑り部材を相対的に移動させる駆動装置とを備え、
    前記滑り部材は、前記プレス装置によって捲回電極体に押し当てられた状態で滑る、請求項11に記載の捲回電極体の検査装置。
  19. 前記直線上に押し当てられる部位は、前記捲回電極体の捲回方向に直交する方向に沿って配設される、請求項18に記載の捲回電極体の検査装置。
  20. 前記直線上に押し当てられる部位は、前記捲回電極体の捲回方向に直交する方向において、前記扁平な捲回電極体の全幅を押圧し得る長さを有している、請求項19に記載の捲回電極体の検査装置。
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