JP4965430B2 - 不正開封反応カバーリング - Google Patents
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Description
Claims (58)
- 少なくとも一のアイテムが配置された表面に実装することに適合する、不正開封反応カバーリング(tamper respondent covering)であって、
該不正開封反応カバーリングは、基材と、電気的特性を有する少なくとも一の非金属検出エレメントとを含み、ここで、結果として前記少なくとも一の非金属検出エレメントへのダメージが該電気的特性の変動として検出可能となるように、該カバーリングが、該基材および該少なくとも一の非金属検出エレメントを含み、表面上の少なくとも一のアイテムをカバーしかつ保護するために前もって形成された凹部(recess)を提供するように変形されている平面状ラミネートから提供される、不正開封反応カバーリング。 - 熱および圧力を使用することによって又は真空形成によって、変形されている平面状ラミネートから提供される、請求項1に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一の非金属検出エレメントが、凹部とカバーリングの周囲との間の段差においてある程度の延長を有する、請求項1又は2に記載された不正開封反応カバーリング。
- 四角い中央の凹部を、四角い平面状の周囲を伴って含む、請求項1、2又は3に記載された不正開封反応カバーリング。
- カバーリングが概して、カバーされそして保護されるアイテムの三次元形状と形状が一致する、請求項1〜4のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- カバーリングが装置又はそれに類似する物の一表面のみに配置されることに適合する、請求項1〜5のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- カバーリングが装置又はそれに類似する物の二の反対方向の表面に拡がることに適合する、請求項1〜5のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- カバーリングが平面状ラミネートから変形され、複数の前もって形成された凹部を提供する、請求項1〜7のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- カバーリングが表面に結合されることに適合する、請求項1〜8のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- カバーリングが接着剤によって表面に結合されることに適合する、請求項9に記載された不正開封反応カバーリング。
- カバーリングが機械的な締め付け(クランプ)によって表面に実装されることに適合する、請求項1〜10のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 検出エレメントと基材との間の結合が或る特定の接着強度(adhesive strength)を有し、ここでカバーリングが或る特定の接着強度の検出エレメントと表面との間の結合を有するように設定されており、且つここで検出エレメントの結合強度(cohesive strength)が、検出エレメントと基材との間の結合の接着強度、または検出エレメントと表面との間の結合の接着強度の少なくとも一より小さい、請求項1〜11のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一の検出エレメントが結合強度を有し、そして該検出エレメントと、結合している接着剤との間に或る接着強度の結合が提供され、そして該結合強度は該接着強度より小さい、請求項10に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一のエレメントは導電性トラックである、請求項1〜13のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 導電性トラックが導電性インクからなりそして炭素を含んでなる、請求項14に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一のエレメントが実質的に基材の全範囲にわたって拡がるか、又は少なくとも一のエレメントが基材の周囲の辺りに拡がる、請求項1〜15のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 複数の検出エレメントが備えられ、使用時に各エレメントが実質的に同一の電気的条件となるように配置される、請求項1〜16のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- エレメントが相互嵌合される、請求項17に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一のエレメントの電気的特性がレジスタンス、キャパシタンス、インダクタンス、及びインピーダンスの少なくとも一から選択される、請求項1〜18のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一のエレメントがブリッジ回路の少なくとも一のレジスタンスを画定する、請求項1〜19のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一のエレメントが、複数の導電性トラック、基材の少なくとも一辺にプリントした導電性インクトラックのパターン、又は基材の両辺にプリントした導電性インクトラックのパターンを画定する、請求項1〜20のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- トラックが曲がりくねったパターンを画定するか、直線的であるか、又はジグザグパターンである、請求項21に記載された不正開封反応カバーリング。
- 検出エレメントと保護されているアイテムとの間の電気的接続の発生を防ぐために、絶縁層をさらに含む、請求項1〜22のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一のエレメントが基材の面に備えられ、そして該エレメントを不透明な材料でカバーすることによって該エレメントは不透明にされる、請求項1〜23のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 不透明な材料が前もって形成されたフィルムを含んでなる、請求項24に記載された不正開封反応カバーリング。
- フィルムが電気的特性を有するエレメントを含み、該特性はカバーリングを貫通する攻撃を検知するためのさらなる手段を提供するために監視されてもよい、請求項25に記載された不正開封反応カバーリング。
- カバーリングが柔軟性であるか、又は非金属ラミネートである請求項1〜26のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一のエレメントがX線イメージング(画像化)によって区別できない(non-differentiable)、請求項1〜27のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一のエレメントが導電性材料を配合された輸送媒体を含んでなる、請求項1〜28のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 輸送媒体が高分子樹脂を含み、そして導電性材料が炭素を含んでなる請求項29に記載された不正開封反応カバーリング。
- カバーリングがプリント基盤(PCB)に実装した1のみのアイテム、または選択された複数のアイテムの上に拡がるように寸法が定められるか、又はカバーリングがプリント基盤(PCB)の全表面の上に拡がるように寸法が定められる、請求項1〜30のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 凹部が、2〜4mmの深さのように、1〜20mmの深さを有する請求項1〜31のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一のエレメントがセンシング回路に連結されることに適合する、請求項1〜32のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 金融取引システム、チケッティングシステム、商品計測システム、暗号化装置、テレビのセットトップボックス、携帯端末機、安全なワイヤレス通信システム、USBトークン、PROM、EPROM、安全な認証トークン、又はPCMCIAカードの装置又はアイテムを保護するように設定されている、請求項1〜33のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 少なくとも一の保護されるアイテムを有する少なくとも一の表面をさらに含み、および少なくとも一の検出エレメントと動作的に(operatively)関連するセンサーを随意的にさらに含んでなる、請求項1〜34のいずれか1項に記載された不正開封反応カバーリング。
- 保護される少なくとも一のアイテムをその上に有する少なくとも一の表面;
該少なくとも一の表面に実装された不正開封反応カバーリングであっって、
ここで該不正開封反応カバーリングは、基材と、電気的特性を有する少なくとも一の非金属検出エレメントとを含み、
ここで、結果として前記少なくとも一の非金属検出エレメントへのダメージが該電気的特性の変動として検出可能となるように、該カバーリングが、該基材および該少なくとも一の非金属検出エレメントを含み、該少なくとも一の表面上の該少なくとも一のアイテムをカバーしかつ保護する前もって形成された凹部(recess)を提供するように変形されている平面状ラミネートから提供される、不正開封反応カバーリング;および
該少なくとも一の検出エレメントと動作的に(operatively)関連する随意的なセンサー、を含んでなる器具(apparatus)。 - 第一表面及び第一表面と反対にある第二表面を含み、さらに第一表面に実装した不正開封反応カバーリングを少なくとも一つ及び第二表面に実装した不正開封反応カバーリングを少なくとも一つ含んでなる、請求項36に記載された器具。
- カバーリングが表面に結合される、請求項36又は37に記載された器具。
- カバーリングが接着剤によって表面に結合される、請求項38に記載された器具。
- 検出エレメントと基材との間の結合が或る特定の接着強度(adhesive strength)を有し、ここでカバーリングが或る特定の接着強度の検出エレメントと表面との間の結合を有するように設定されており、且つここで検出エレメントの結合強度(cohesive strength)が、検出エレメントと基材との間の結合の接着強度、または検出エレメントと表面との間の結合の接着強度の少なくとも一より小さい、請求項36〜39のいずれか1項に記載された器具。
- 少なくとも一の検出エレメントが結合強度を有し、そして該検出エレメントと、結合している接着剤との間に或る接着強度の結合が提供され、そして該結合強度は該接着強度より小さい、請求項39に記載された器具。
- 保護される装置又はアイテムが金融取引システムの構成要素、チケッティングシステムの構成要素、商品計測システムの構成要素、暗号化装置の構成要素、テレビのセットトップボックスの構成要素、携帯端末機の構成要素、安全なワイヤレス通信システムの構成要素、USBトークンの構成要素、PROM、EPROM、安全な認証トークン、又はPCMCIAカードの構成要素である、請求項36〜41のいずれか1項に記載された器具。
- 請求項36〜42のいずれか1項に記載された器具を含むか、または請求項1〜35のいずれか1項に記載されたカバーリングを含む、装置又はシステム。
- 実装デバイスを携行し、積層方式で配置された、二以上の盤を含んでなる請求項43に記載された装置又はシステム。
- 金融取引システム、チケッティングシステム、商品計測システム、暗号化装置、テレビのセットトップボックス、携帯端末機、安全なワイヤレス通信システム、USBトークン、PROM、EPROM、安全な認証トークン、又はPCMCIAカードを含んでなる、請求項43又は44に記載された装置又はシステム。
- 表面実装したアイテムまたは装置を保護するための方法であって、
不正開封反応カバーリングを含む回路に対する検出可能な変化を監視する工程を含み、
ここで該回路は電気的特性を有する少なくとも一の非金属検出エレメントを有し、該カバーリングは、基材と該少なくとも一の非金属検出エレメントを含み、該表面実装したアイテムをカバーしかつ保護するために前もって形成された凹部(recess)を提供するように変形されている平面状ラミネートから提供され、該回路に対する検出可能な変化は前記少なくとも一の非金属検出エレメントへのダメージと関連している、方法。 - 変化を検出した場合に、保護されたアイテムまたは装置に含まれた情報を消去するシステムを起動することをさらに含む、請求項46に記載の方法。
- 該アイテムまたは装置が該凹部に位置するように該カバーリングを表面に実装すること、
該非金属検出エレメントを含む該電気的回路を形成すること;
の一以上をさらに含む、請求項46又は47に記載の方法。 - 請求項46又は47に記載の方法を提供するように設定され、コンピュータプログラムを含んでなる、貯蔵装置またはメディア。
- 不正開封反応カバーリングを提供する方法であって、
基材と電気的特性を有する少なくとも一の非金属検出エレメントとを含む平面状ラミネートを変形して、表面上の少なくとも一のアイテムをカバーしかつ保護するための前もって形成された凹部(recess)を提供し、結果として前記少なくとも一の非金属検出エレメントへのダメージが該電気的特性の変動として検出可能となるようにする、ことを含む方法。 - 熱および圧力を使用することによって又は真空形成によって、平面状ラミネートが変形されている、請求項50に記載の方法。
- 変形の結果として、凹部とカバーリングの周囲との間の段差において、少なくとも一の非金属検出エレメントのある程度の延長をもたらす、請求項50または51に記載の方法。
- 平面状ラミネートを提供するために、少なくとも一の非金属検出エレメントを基材上に配置することを含む、請求項50〜52のいずれか1項に記載の方法。
- 基材をレーザードリルして、基材を通って形成される電気的接続を可能にすることを含む、請求項50〜53のいずれか1項に記載の方法。
- 黒いポリマー樹脂の層で重ねプリントすることによって、又は不透明なカバーフィルムを提供することによって、少なくとも一の非金属検出エレメントを不透明にすることを含む、請求項50〜54のいずれか1項に記載の方法。
- カバーリングに接着層を提供して、該カバーリングを保護される少なくとも一のアイテムに固定することを含む、請求項50〜55のいずれか1項に記載の方法。
- カバーリングをPCBのような表面に接着することによって、少なくとも一のアイテムをカバーすることを含む、請求項50〜56のいずれか1項に記載の方法。
- 請求項50〜57のいずれか1項に記載の方法によって提供され得る不正開封反応カバーリング。
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