JP4942181B2 - Substance supply probe device and scanning probe microscope - Google Patents
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Description
本発明は、物質を試料表面に塗布および試料内に導入可能であって、試料表面の状態を計測する物質供給プローブ装置、及び該物質供給プローブ装置を有する走査型プローブ顕微鏡に関するものである。 The present invention relates to a substance supply probe apparatus that can apply a substance to a sample surface and introduce the substance into the sample and measure the state of the sample surface, and a scanning probe microscope having the substance supply probe apparatus.
従来、例えば生体試料が収容された容器内に、蛍光物質や遺伝子等の反応物質が混入された溶液を加え、生体試料の所定の反応箇所のみを蛍光させたり、遺伝子等を取り込んだ生体試料を発現させる方法が知られている。
しかしながら、このような方法では、容器内に反応物質が分散配置されることから、所望の反応を発生させる確率を増大させることが困難であるという問題が生じる。このような問題に対して、例えば反応物質の濃度を増加させることで反応物質が生体試料に取り込まれる確率を増大させると、生体試料において所望の反応以外の他の反応が発生したり、例えば蛍光物質が所望の反応箇所以外の他の箇所に吸着し、過剰に生体試料に取り込まれることにより、所望の反応状態を検出する際の雑音が増大してしまうという問題が生じる。
また、このような方法において、生体試料内に取り込ませた遺伝子等の反応物質を発現させる場合には、発現の発生確率を増大させるために、例えばガラス管を生体試料に差し込み、反応物質をガラス管から導入する方法が知られているが、この方法では、ガラス管を生体試料に突き刺す工程で生体試料が損傷し、死滅してしまう虞がある。
これらの問題に対して、従来、例えばカンチレバーの探針に遺伝子を付着させ、この探針を細胞に差し込む方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。
However, in such a method, since the reactants are dispersedly arranged in the container, there is a problem that it is difficult to increase the probability of generating a desired reaction. In response to such a problem, for example, when the probability that the reactant is incorporated into the biological sample is increased by increasing the concentration of the reactant, other reactions other than the desired reaction may occur in the biological sample, for example, fluorescence A problem arises in that noise is detected when a desired reaction state is detected because a substance is adsorbed at a place other than the desired reaction place and excessively taken into the biological sample.
Further, in such a method, when a reactive substance such as a gene incorporated into a biological sample is expressed, for example, a glass tube is inserted into the biological sample to increase the probability of occurrence of the expression, and the reactive substance is made of glass. A method of introducing from a tube is known, but in this method, the biological sample may be damaged and killed in the step of piercing the biological sample with the glass tube.
In order to solve these problems, conventionally, for example, a method is known in which a gene is attached to a cantilever probe and the probe is inserted into a cell (see, for example, Patent Document 1).
しかしながら、上述した従来技術に係る方法では、カンチレバーの探針が生体試料の膜を貫通する際に、反応物質を付着させた探針先端が損傷したり、探針に付着させた遺伝子が膜を貫通するより以前に変質したり、剥がれてしまう虞がある。
また、この方法では、生体試料の表面で反応を発生させたい場合に、試料表面で反応物質を探針から分離することが困難であって、試料表面に所望量の反応物質を供給することが困難であるという問題が生じる。
However, in the method according to the prior art described above, when the cantilever probe penetrates the membrane of the biological sample, the tip of the probe to which the reactive substance is attached is damaged, or the gene attached to the probe causes the membrane to penetrate the membrane. There is a risk that it will be altered or peeled off before it penetrates.
In this method, when a reaction is desired to occur on the surface of the biological sample, it is difficult to separate the reactant from the probe on the sample surface, and a desired amount of the reactant can be supplied to the sample surface. The problem of difficulty arises.
本発明は上記事情に鑑みてなされたもので、物質を試料表面に塗布および試料内に導入可能であって、試料表面の状態を適切に計測することが可能な物質供給プローブ装置、及び該物質供給プローブ装置を有する走査型プローブ顕微鏡を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, a substance supply probe device capable of applying a substance to a sample surface and introducing the substance into the sample, and capable of appropriately measuring the state of the sample surface, and the substance An object of the present invention is to provide a scanning probe microscope having a supply probe device.
上記課題を解決して係る目的を達成するために、本発明の物質供給プローブ装置は、先鋭化された先端部(例えば、実施の形態での先端部21a)を有する中空ガラスキャピラリー(例えば、実施の形態での中空ガラスキャピラリー21)と、前記中空ガラスキャピラリー内の圧力を制御する圧力制御手段(例えば、実施の形態での制御装置3、プランジャー22およびリニアアクチュエータ23、加減圧装置71)と、前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部の変位を検出する変位検出手段(例えば、実施の形態での測定部14)と、前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部を試料(例えば、実施の形態での生体試料S)に対して相対移動させる移動部(例えば、実施の形態での移動部13)と、前記変位検出手段による検出結果に基づき、前記移動部を制御する制御装置と、を備える。
In order to solve the above problems and achieve the object, the substance supply probe apparatus of the present invention has a hollow glass capillary (for example, implementation) having a sharpened tip (for example, the
この発明の物質供給プローブ装置によれば、圧力制御手段によって中空ガラスキャピラリー内の圧力を制御することにより、この中空ガラスキャピラリー内に所望量の物質を容易に導入および保持することができる。しかも、中空ガラスキャピラリーの先端部が先鋭化されていることから、試料表面に加えて、中空ガラスキャピラリーの先端部を試料に穿刺させることで試料内部において、この中空ガラスキャピラリー内に保持された物質を適宜に排出することができる。しかも、変位検出手段によって中空ガラスキャピラリーの先端部の変位を検出することができ、中空ガラスキャピラリーの先端部を試料表面上で走査させることで試料表面の状態を精度良く検出することができる。 According to the substance supply probe apparatus of the present invention, a desired amount of substance can be easily introduced and held in the hollow glass capillary by controlling the pressure in the hollow glass capillary by the pressure control means. In addition, since the tip of the hollow glass capillary is sharpened, the substance held in the hollow glass capillary inside the sample by puncturing the tip of the hollow glass capillary in addition to the sample surface. Can be discharged appropriately. Moreover, the displacement of the tip of the hollow glass capillary can be detected by the displacement detection means, and the state of the sample surface can be accurately detected by scanning the tip of the hollow glass capillary on the sample surface.
さらに、本発明の物質供給プローブ装置では、前記圧力制御手段は、前記中空ガラスキャピラリー内を往復移動可能なプランジャー(例えば、実施の形態でのプランジャー22)と、前記プランジャーを往復移動させるリニアアクチュエータ(例えば、実施の形態でのリニアアクチュエータ23)とを備え、前記制御装置は、前記リニアアクチュエータを制御する。
Furthermore, in the substance supply probe device of the present invention, the pressure control means reciprocally moves the plunger that can reciprocate within the hollow glass capillary (for example, the
この発明の物質供給プローブ装置によれば、中空ガラスキャピラリー内を往復移動可能なプランジャーを備えることで、装置構成が複雑化することを抑制しつつ、中空ガラスキャピラリー内の圧力を容易に制御することができる。 According to the substance supply probe device of the present invention, the pressure in the hollow glass capillary is easily controlled while suppressing the complication of the device configuration by providing the plunger that can reciprocate in the hollow glass capillary. be able to.
さらに、本発明の物質供給プローブ装置では、前記プランジャーは、前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部から突出可能な探針(例えば、実施の形態での探針部材61)を備える。
Furthermore, in the substance supply probe apparatus of the present invention, the plunger includes a probe (for example, the
この発明の物質供給プローブ装置によれば、プランジャーは中空ガラスキャピラリーの先端部から突出可能な探針を備えることから、圧力制御手段は、中空ガラスキャピラリー内でのプランジャーの往復移動を制御することによって、中空ガラスキャピラリー内の圧力に加えて、探針の突出状態を制御することができ、この探針を試料表面上で走査させることで試料表面の状態を、より一層、精度良く検出することができる。 According to the substance supply probe device of the present invention, since the plunger includes the probe that can protrude from the tip of the hollow glass capillary, the pressure control means controls the reciprocating movement of the plunger in the hollow glass capillary. Thus, in addition to the pressure in the hollow glass capillary, the protruding state of the probe can be controlled, and the state of the sample surface can be detected with higher accuracy by scanning the probe on the sample surface. be able to.
さらに、本発明の物質供給プローブ装置では、前記探針は、前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部を気密に閉塞可能である。 Furthermore, in the substance supply probe device of the present invention, the probe can airtightly close the tip of the hollow glass capillary.
この発明の物質供給プローブ装置によれば、中空ガラスキャピラリーの先端部を探針によって気密に閉塞することにより、例えば中空ガラスキャピラリー内に保持された物質が試料表面や試料内部に過剰に排出されてしまうことを防止することができると共に、例えば中空ガラスキャピラリー内に保持された物質に中空ガラスキャピラリーの先端部から不純物が混入してしまうことを防止することができる。 According to the substance supply probe apparatus of the present invention, for example, the substance held in the hollow glass capillary is excessively discharged to the surface of the sample or inside the sample by closing the tip of the hollow glass capillary with the probe. In addition, it is possible to prevent impurities from being mixed into the substance held in the hollow glass capillary from the tip of the hollow glass capillary, for example.
また、本発明の走査型プローブ顕微鏡は、上記本発明の何れか1つの物質供給プローブ装置(例えば、実施の形態での物質供給プローブ装置1a)を備え、前記移動部は、前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部に対向配置された前記試料(例えば、実施の形態での生体試料S)を載置するXYZステージ(例えば、実施の形態でのXYZステージ45)を備え、前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部と前記試料とを、試料表面に平行な方向に相対的に走査させると共に、試料表面に垂直な方向に相対的に移動させ、前記制御装置は、前記変位検出手段による検出結果に基づいて、前記走査時に前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部と前記試料表面との距離を制御すると共に、前記試料の状態に係るデータを取得する。
Further, the scanning probe microscope of the present invention includes any one of the substance supply probe devices of the present invention (for example, the substance
この発明の走査型プローブ顕微鏡によれば、物質供給プローブ装置の中空ガラスキャピラリーによって、所望量の物質を容易に導入および保持することができ、この中空ガラスキャピラリー内に保持された物質を試料表面および試料内部に適宜に排出することができると共に、移動手段により中空ガラスキャピラリーの先端部と試料とを相対的に移動させて走査を行う際に、変位検出手段による検出結果に基づいて、例えば中空ガラスキャピラリーの先端部の振動状態(例えば、振動振幅や励発振時の周波数等)が一定となるように、中空ガラスキャピラリーの先端部と試料表面との距離を制御することで、試料表面の状態を容易かつ精度良く検出することができる。 According to the scanning probe microscope of the present invention, a desired amount of substance can be easily introduced and held by the hollow glass capillary of the substance supply probe apparatus, and the substance held in the hollow glass capillary can be introduced into the sample surface and the sample. Based on the detection result by the displacement detection means, for example, the hollow glass can be appropriately discharged into the sample and scanned by relatively moving the tip of the hollow glass capillary and the sample by the moving means. By controlling the distance between the tip of the hollow glass capillary and the sample surface so that the vibration state of the tip of the capillary (for example, vibration amplitude, frequency during excitation oscillation, etc.) is constant, the state of the sample surface can be controlled. It can be detected easily and accurately.
また、本発明の走査型プローブ顕微鏡では、前記探針は導電性であって、前記制御装置は、前記試料の電気状態を検出する。 In the scanning probe microscope of the present invention, the probe is conductive, and the control device detects the electrical state of the sample.
この発明の走査型プローブ顕微鏡によれば、物質供給プローブ装置の中空ガラスキャピラリーによって、所望量の物質を容易に導入および保持することができ、この中空ガラスキャピラリー内に保持された物質を試料表面および試料内部に適宜に排出することができると共に、移動手段により中空ガラスキャピラリーの先端部と試料とを相対的に移動させて走査を行う際に、変位検出手段による検出結果に基づいて、例えば中空ガラスキャピラリーの先端部から突出した探針の振動状態(例えば、振動振幅や励発振時の周波数等)が一定となるように、中空ガラスキャピラリーの先端部から突出した探針と、試料表面との距離を制御することで、試料の電気状態(例えば、磁気力や電位等)を容易かつ精度良く検出することができる。 According to the scanning probe microscope of the present invention, a desired amount of substance can be easily introduced and held by the hollow glass capillary of the substance supply probe apparatus, and the substance held in the hollow glass capillary can be introduced into the sample surface and the sample. Based on the detection result by the displacement detection means, for example, the hollow glass can be appropriately discharged into the sample and scanned by relatively moving the tip of the hollow glass capillary and the sample by the moving means. Distance between the probe protruding from the tip of the hollow glass capillary and the sample surface so that the vibration state of the probe protruding from the tip of the capillary (for example, vibration amplitude, frequency at excitation oscillation, etc.) is constant. By controlling the above, it is possible to easily and accurately detect the electrical state (for example, magnetic force or potential) of the sample.
本発明の物質供給プローブ装置によれば、試料表面および試料内部の所望の反応箇所に所望量の物質を容易に供給することができ、例えば過剰な量の物質が試料に供給されてしまったり、所望の反応箇所以外の他の箇所に物質が拡散してしまう等の不具合が発生することを防止することができ、所望の反応を効率良く発生させることができる。
また、本発明の走査型プローブ顕微鏡によれば、試料に物質を供給可能な先鋭化された先端部を有する中空ガラスキャピラリーをプローブとして兼用することができ、装置構成が複雑化することを防止しつつ、試料での所望の反応状態を検出する際の信頼性を向上させることができる。
According to the substance supply probe apparatus of the present invention, a desired amount of substance can be easily supplied to a desired reaction site on the sample surface and inside the sample, for example, an excessive amount of substance is supplied to the sample, It is possible to prevent the occurrence of problems such as the diffusion of substances to other locations other than the desired reaction location, and the desired reaction can be efficiently generated.
Further, according to the scanning probe microscope of the present invention, a hollow glass capillary having a sharpened tip capable of supplying a substance to a sample can be used as a probe, and the apparatus configuration is prevented from becoming complicated. On the other hand, the reliability when detecting a desired reaction state in the sample can be improved.
以下、本発明の物質供給プローブ装置及び走査型プローブ顕微鏡の実施形態について添付図面を参照しながら説明する。
この実施形態による物質供給プローブ装置1aを有する走査型プローブ顕微鏡1は、例えばシャーレセルC内に貯留された溶液W内に存在する生体試料Sの状態に係る各種データを取得する測定装置10に搭載され、この測定装置10は、例えば図1に示すように、物質供給プローブ装置1aと、試料捕捉プローブ装置1bと、走査型プローブ顕微鏡1と、光学顕微鏡2と、制御装置3とを備えて構成されている。
Hereinafter, embodiments of a substance supply probe device and a scanning probe microscope of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
A scanning probe microscope 1 having a substance
走査型プローブ顕微鏡1は、例えば、物質供給プローブ11と、加振源12と、物質供給プローブ11をシャーレセルCの底面(例えば、水平面)に平行なXY方向及びXY方向に垂直なZ方向(例えば、鉛直方向)に相対移動させる移動部13と、物質供給プローブ11の変位を測定する測定部14と、試料捕捉プローブ15と、試料捕捉プローブ15をXY方向及びZ方向に相対移動させる移動部16とを備えて構成されている。
なお、物質供給プローブ装置1aは、例えば、物質供給プローブ11と、加振源12と、移動部13とを備えて構成され、試料捕捉プローブ装置1bは、例えば、試料捕捉プローブ15と、移動部16とを備えて構成されている。
また、光学顕微鏡2は、顕微鏡本体2aと、モニタ2bとを備えて構成され、顕微鏡本体2aから出力される生体試料Sの観察画像は、モニタ2b上に表示されると共に制御装置3に入力される。
The scanning probe microscope 1 includes, for example, a
The substance
The
物質供給プローブ11は、例えば図2に示すように、略鈎型に湾曲すると共に先鋭化された先端部21aを具備する中空ガラスキャピラリー21と、中空ガラスキャピラリー21内を往復移動可能なプランジャー22と、制御装置3から入力される制御信号に応じてプランジャー22を往復移動させるリニアアクチュエータ23とを備えて構成されている。そして、中空ガラスキャピラリー21およびリニアアクチュエータ23はシリコン基板(図示略)上に配置され、例えば、中空ガラスキャピラリー21は、先端部21aをシリコン基板から突出させた状態で自由端とし、シリコン基板の表面上に形成されたV字状等の凹溝に装着された基端部21bにおいて、紫外線硬化樹脂等により片持ち状態に固定されている。
なお、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの直径は、例えば生体試料Sが細胞(例えば、大きさが数μmから数百μm程度の細胞)である場合、10〜50nm程度とされている。
For example, as shown in FIG. 2, the
Note that the diameter of the
プランジャー22は、リニアアクチュエータ23によって中空ガラスキャピラリー21内を往復移動することによって、中空ガラスキャピラリー21内の圧力を可変とし、例えば蛍光物質や遺伝子等の反応物質が混入された溶液を、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから採取して中空ガラスキャピラリー21の内部に貯留したり、中空ガラスキャピラリー21の内部に貯留された溶液を中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから排出する。
The
加振源12は、例えばPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)等からなる圧電素子であって、中空ガラスキャピラリー21およびリニアアクチュエータ23が配置されるシリコン基板(図示略)上に設けられ、制御装置3の制御により加振電源24から入力される波形信号に応じた位相及び振幅でZ方向に振動し、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを微小振動させる。
The
移動部13は、加振源12を介して物質供給プローブ11が載置されるXYZステージ25と、駆動部26とを備えて構成され、駆動部26は制御装置3から入力される制御信号に応じてXYZステージ25に載置された物質供給プローブ11をXY方向及びZ方向に移動させる。
XYZステージ25は、例えばPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)等からなる圧電素子であって、駆動部26から印加される電圧波形に応じて物質供給プローブ11をXY方向及びZ方向に移動させることで、例えば中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを生体試料Sに対して所定位置に位置合わせをしたり、例えば中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを生体試料Sに穿刺させる。
The moving
The
測定部14は、例えば光てこ方式により中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの変位(例えば、振動の振幅や撓み等)を測定しており、例えば図1に示すように、ミラー31を介して、中空ガラスキャピラリー21の表面上に形成された反射面Mに向けてレーザ光Lを照射する光照射部32と、ミラー33を介して、中空ガラスキャピラリー21の反射面Mで反射されたレーザ光Lを受光し、このレーザ光Lの入射位置から中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの変位をDIF信号として出力する光検出部34と、光検出部34から出力されたDIF信号を増幅するプリアンプ35と、プリアンプ35の交流出力を直流変換して出力する交流−直流変換回路36とを備えて構成されている。
The
試料捕捉プローブ15は、例えば図3に示すように、シャーレセルCの底面(例えば、水平面)に対向し、基端側から先端側に向かう長手方向に延びる平板状のレバー部41と、このレバー部41の先端部に形成された開口部41aと、このレバー部41を片持ち状態に支持するホルダ部42と、レバー部41の撓みを測定する撓み測定部43とを備えて構成されている。
For example, as shown in FIG. 3, the
この試料捕捉プローブ15は、例えばシリコン支持層及び酸化層及びシリコン活性層の3層を熱的に貼り合わせたSOI基板から形成され、レバー部41及びホルダ部42が一体的に形成されている。
レバー部41の先端部には、例えば円形状等の開口部41aが形成され、この開口部41aは、生体試料Sの最大直径よりも若干小さい内径(例えば、数10μm〜100μm等)を有し、生体試料Sを捕捉可能とされている。
The
An
撓み測定部43は、例えばレバー部41の撓み量に応じて抵抗値が変化するピエゾ抵抗素子であって、レバー部41とホルダ部42との接合部であるレバー部41の基端部に形成されている。なお、このピエゾ抵抗素子は、レバー部41のSOI基板にイオン注入法や拡散法等により不純物が注入されて形成されている。
そして、レバー部41及びホルダ部42に設けられた接続端子(図示略)および金属配線(図示略)にバイアス電圧が印加されることで、レバー部41の撓み、つまりピエゾ抵抗素子に生じる歪に応じてレベル変化する電気的信号が出力信号として接続端子から制御装置3に出力されている。
The
The bias voltage is applied to the connection terminals (not shown) and the metal wiring (not shown) provided in the
移動部16は、例えば試料捕捉プローブ15が載置されるXYZステージ45と、駆動部46とを備えて構成され、駆動部46は制御装置3から入力される制御信号に応じてXYZステージ45をXY方向及びZ方向に移動させる。
XYZステージ45は、例えばPZT(チタン酸ジルコン酸鉛)等からなる圧電素子であって、駆動部46から印加される電圧波形に応じて試料捕捉プローブ15をXY方向及びZ方向に移動させることで、例えばレバー部41の開口部41aを生体試料Sに対して所定位置に位置合わせをしたり、例えば開口部41aを生体試料Sに嵌め込むようにして生体試料Sをレバー部41とシャーレセルCの底面とにより捕捉および固定する。
The moving
The
制御装置3は、リニアアクチュエータ23および加振電源24および各駆動部26,46に制御信号を出力しており、例えば光学顕微鏡2のモニタ2b上に表示される生体試料Sの観察画像等に基づき操作者から入力される操作入力に応じて、物質供給プローブ11および試料捕捉プローブ15を移動させる。
また、制御装置3は、試料捕捉プローブ15の撓み測定部43から入力されたレバー部41の撓みに係る出力信号に基づきレバー部41の撓み量を検出し、レバー部41の開口部41aにより生体試料Sを捕捉する際の押し付け力を制御しており、例えばレバー部41の撓み量が所定値に到達した時点で、レバー部41のZ方向への移動を停止することで、過剰な押し付け力が生体試料Sに作用することを防止している。
The control device 3 outputs control signals to the
Further, the control device 3 detects the amount of bending of the
また、制御装置3は、例えば物質供給プローブ11を振動させつつ走査型プローブ顕微鏡1により測定を行う振動モードSPM(Scanning Probe Microscope)の実行時や、例えば中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを生体試料Sに穿刺させる際等において加振源12を振動させる。
Further, the control device 3 performs, for example, a vibration sample SPM (Scanning Probe Microscope) in which measurement is performed by the scanning probe microscope 1 while vibrating the
また、制御装置3はZ電圧フィードバック回路51を備え、このZ電圧フィードバック回路51は、例えば走査型プローブ顕微鏡1による振動モードSPMの実行時等において、直流変換されたDIF信号が所定値となるように駆動部26をフィードバック制御する。これにより、例えばXYZステージ25による走査時に中空ガラスキャピラリー21の先端部21aと生体試料Sの表面との距離は、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの振動状態(例えば、振幅や周波数や角度等)が所定状態となるように制御される。
そして、制御装置3は、交流−直流変換回路36からZ電圧フィードバック回路51に入力される直流変換されたDIF信号に基づいて、例えば生体試料Sの表面形状および各種の物性情報(例えば、磁気力や電位等)を検出する。
In addition, the control device 3 includes a Z
Then, the control device 3, for example, the surface shape of the biological sample S and various physical property information (for example, magnetic force) based on the DC-converted DIF signal input from the AC-
本実施の形態による物質供給プローブ装置1aを有する走査型プローブ顕微鏡1は上記構成を備えており、次に、この走査型プローブ顕微鏡1の動作、特に、物質供給プローブ装置1aにより、生体試料S内に反応物質を導入したり、生体試料Sの試料表面に反応物質を塗布する動作について説明する。
The scanning probe microscope 1 having the substance
先ず、例えば図3に示ステップS01においては、例えば図4(a)に示すように、例えば蛍光物質や遺伝子等の反応物質が混入および分散配置された溶液Uが貯留された容器Dまで物質供給プローブ11を移動させ、リニアアクチュエータ23によってプランジャー22を中空ガラスキャピラリー21内の所定の基準位置に配置した状態で、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを溶液U内に浸漬する。
First, in step S01 shown in FIG. 3, for example, as shown in FIG. 4A, for example, the substance is supplied to the container D in which a solution U in which a reactive substance such as a fluorescent substance or a gene is mixed and dispersed is stored. The
次に、ステップS02においては、例えば図4(b)に示すように、リニアアクチュエータ23によって中空ガラスキャピラリー21内のプランジャー22を中空ガラスキャピラリー21の基端部に向かい所定位置まで引き込み、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから所定量の溶液Uを中空ガラスキャピラリー21内に取り込む。
Next, in step S02, for example, as shown in FIG. 4B, the
次に、ステップS03においては、例えば図4(c)に示すように、リニアアクチュエータ23によってプランジャー22を中空ガラスキャピラリー21内の所定位置に停止させた状態で、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを容器Dの溶液U内から引き出し、所定量の溶液Uを中空ガラスキャピラリー21内に保持する。
Next, in step S03, for example, as shown in FIG. 4C, the
次に、ステップS04においては、例えば図4(d)に示すように、シャーレセルCに貯留された溶液W中に存在する複数の生体試料Sのうち適宜の生体試料Sを選択して試料捕捉プローブ15により捕捉固定した状態で、この生体試料Sの表面上を中空ガラスキャピラリー21の先端部21aで走査させる。このとき、例えば振動モードSPMでは、物質供給プローブ11を加振源12により振動させつつ、測定部14でのレーザ光Lによる測定に応じて、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aと生体試料Sの表面との距離を、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの振動状態(例えば、振幅等)が所定状態となるように制御する。そして、Z電圧フィードバック回路51により駆動部26をフィードバック制御する制御信号に基づき、生体試料Sの表面形状を測定し、生体試料S内に反応物質を導入する位置あるいは生体試料Sの試料表面に反応物質を塗布する位置を設定する。
Next, in step S04, for example, as shown in FIG. 4 (d), an appropriate biological sample S is selected from a plurality of biological samples S existing in the solution W stored in the petri dish C to capture the sample. While being captured and fixed by the
次に、ステップS05においては、例えば図4(e)または図4(f)に示すように、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを加振源12により振動させつつ生体試料Sに穿刺させた状態または中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを生体試料Sの試料表面上の所定位置に配置させた状態で、リニアアクチュエータ23によって中空ガラスキャピラリー21内のプランジャー22を中空ガラスキャピラリー21の先端部21aに向かい押し出し、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから所定量の溶液Uを排出し、生体試料S内に反応物質を導入または生体試料Sの試料表面に反応物質を塗布する。
Next, in step S05, for example, as shown in FIG. 4 (e) or FIG. 4 (f), the biological sample S is punctured while the
次に、ステップS06においては、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを所定位置まで退避させ、一連の処理を終了する。
Next, in step S06, the
上述したように、この実施の形態に係る物質供給プローブ装置1aによれば、中空ガラスキャピラリー21内を往復移動可能なプランジャー22を備えることで、装置構成が複雑化することを抑制しつつ、中空ガラスキャピラリー21内の圧力を容易に制御することができる。そして、リニアアクチュエータ23によって中空ガラスキャピラリー21内の圧力を制御することにより、この中空ガラスキャピラリー21内に所望量の反応物質を容易に導入および保持することができる。しかも、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aが先鋭化されていることから、生体試料Sの試料表面に加えて、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを生体試料S内に穿刺させることで試料内部において、この中空ガラスキャピラリー21内に保持された反応物質を適宜に排出することができる。しかも、測定部14によって中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの変位を検出することができ、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを試料表面上で走査させることで試料表面の状態を精度良く検出することができる。
As described above, according to the substance
さらに、この実施の形態に係る物質供給プローブ装置1aを有する走査型プローブ顕微鏡1によれば、物質供給プローブ装置1aの中空ガラスキャピラリー21によって、所望量の反応物質を容易に導入および保持することができ、この中空ガラスキャピラリー21内に保持された反応物質を生体試料Sの試料表面および試料内部に適宜に排出することができると共に、移動部13により中空ガラスキャピラリー21の先端部21aと生体試料Sとを相対的に移動させて走査を行う際に、測定部14による検出結果に基づいて、例えば中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの振動状態(例えば、振動振幅や励発振時の周波数等)が一定となるように、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aと試料表面との距離を制御することで、試料表面の状態を容易かつ精度良く検出することができる。
Furthermore, according to the scanning probe microscope 1 having the substance
なお、上述した実施の形態においては、例えば図5に示す第1変形例に係る物質供給プローブ装置1aのように、プランジャー22は、中空ガラスキャピラリー21内を往復移動可能であって中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから突出可能な探針部材61を具備してもよい。
この探針部材61は、例えば金やプラチナやタングステン等の金属からなるワイヤー状部材であって、基端部がプランジャー22に固定されると共に、先鋭化された先端部61aを備えている。
In the above-described embodiment, for example, as in the substance
The
この第1変形例による物質供給プローブ装置1aでは、探針部材61に接続された電流検出部(図示略)を備えることで、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから突出した探針部材61の先端部61aを電極として、試料表面での局所的なイオン電流や電位勾配などの電気的シグナルを検出したり、局所的に所望の電気化学的反応を発生させることができる。これにより、物質供給プローブ11を、AFM(Atomic Force Mode)またはSTM(Scanning Tunneling Microscope)での観察動作や距離検出動作に加え、電気化学的プローブとして用いることができる。
In the substance
すなわち、探針部材61の先端部61aが、試料面との間で作用する原子間力を受けることで、試料の表面形状を検出することができ、試料表面と、試料表面に所定距離を置いて対峙する先端部61aとの間にバイアス電圧を印加した際に流れるイオン電流または、トンネル電流を電流検出部により検出することで、試料表面と先端部61aとの間の距離を精度良く検出することができ、さらに、試料表面と先端部61aとの間に電解液を介在させた状態で電圧を印加することで、先端部61aを電解加工の電極として作用させ、局所限定的に所望の電気化学的反応を発生させることができる。
That is, the
さらに、この第1変形例においては、試料捕捉プローブ15のレバー部41の開口部41aの内壁部に導電性部材41bを備え、この導電性部材41bを介して開口部41aに捕捉された生体試料Sに所定電圧を印加する電圧印加部(図示略)を備えることで、生体試料Sを電気的に観察することができる。
Furthermore, in this first modification, a
また、この第1変形例においては、走査型プローブ顕微鏡1を、例えば探針部材61の先端部61aを磁気検知可能とし、加振源12により振動させた際の中空ガラスキャピラリー21の撓み振幅や位相を検出することで磁気試料の磁気分布や磁区構造等の測定を行うMFM(Magnetic Force Microscope:磁気力顕微鏡)としてもよい。
In the first modification, the scanning probe microscope 1 can detect the bending amplitude of the
さらに、上述したMFMに限定されず、走査型プローブ顕微鏡1を、例えば試料表面と、試料表面に所定距離を置いて対峙する先端部61aを樹脂等の薄膜(図示略)で電気的に絶縁処理をした後、先端部61aとの間に、ACバイアス電圧を印加し、先端部61aと生体試料Sとの静電結合によって中空ガラスキャピラリー21を振動させ、この際の中空ガラスキャピラリー21の撓み振幅を検知することで生体試料Sの表面電位分布等の測定を行うKFM(Kelvin Prove Force Microscope:ケルビンプローブフォース顕微鏡)やSMM(Scanning Maxwell-stress Microscope:走査型マクスウェル応力顕微鏡)等のSPMとしてもよい。
Furthermore, the present invention is not limited to the above-described MFM, and the scanning probe microscope 1 is electrically insulated with a thin film (not shown) such as a resin, for example, on the sample surface and the
さらに、この第1変形例においては、例えば図6(a)〜(g)に示すように、探針部材61の先端部61aは、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを気密に閉塞可能なシール部材61bを備えてもよい。
このシール部材61bは、例えばゴム等からなる略環状に形成され、探針部材61の先端部61aから基端側にずれた位置に配置され、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの内径よりも小さな直径を有する探針部材61の本体部の外周面と、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの内周面との間を気密にシール可能とされている。
Furthermore, in this first modification, for example, as shown in FIGS. 6A to 6G, the
The
この場合、生体試料S内に反応物質を導入する際には、先ず、例えば図6(a)に示すように、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの位置に探針部材61のシール部材61bを配置し、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを気密に閉塞した状態で、例えば蛍光物質や遺伝子等の反応物質が混入および分散配置された溶液Uが貯留された容器Dまで物質供給プローブ11を移動させる。
そして、例えば図6(b)に示すように、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを気密に閉塞した状態で、この先端部21aを溶液U内に浸漬する。
そして、例えば図6(c)に示すように、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを溶液U内に浸漬した状態で、リニアアクチュエータ23によって中空ガラスキャピラリー21内のプランジャー22を中空ガラスキャピラリー21の先端部21aに向かい押し出すことにより、探針部材61のシール部材61bを中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから突出させ、シール部材61bによる先端部21aの閉塞を解除する。
In this case, when introducing the reactant into the biological sample S, first, as shown in FIG. 6A, for example, the
For example, as shown in FIG. 6B, the
Then, for example, as shown in FIG. 6C, the
そして、例えば図6(d)に示すように、リニアアクチュエータ23によって中空ガラスキャピラリー21内のプランジャー22を中空ガラスキャピラリー21の基端部に向かい引き込み、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから溶液Uを中空ガラスキャピラリー21内に取り込むと共に、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの位置に探針部材61のシール部材61bを配置し、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを気密に閉塞する。
そして、例えば図6(e)に示すように、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを気密に閉塞した状態で、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを容器Dの溶液U内から引き出し、溶液Uを中空ガラスキャピラリー21内に保持する。
For example, as shown in FIG. 6 (d), the
Then, for example, as shown in FIG. 6 (e), the
そして、例えば図6(f)に示すように、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを気密に閉塞した状態で、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを生体試料Sに穿刺させる。
そして、例えば図6(g)に示すように、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを生体試料Sに穿刺させた状態で、リニアアクチュエータ23によって中空ガラスキャピラリー21内のプランジャー22を中空ガラスキャピラリー21の先端部21aに向かい押し出すことにより、探針部材61のシール部材61bを中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから突出させ、シール部材61bによる先端部21aの閉塞を解除すると共に、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから中空ガラスキャピラリー21内の溶液Uを排出し、生体試料S内に反応物質を導入する。
Then, for example, as shown in FIG. 6 (f), the biological sample S is punctured with the
For example, as shown in FIG. 6G, the
この場合には、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを気密に閉塞可能であることから、中空ガラスキャピラリー21内に不純物等が混入してしまうことを防止することができる。
In this case, the
なお、上述した実施の形態においては、物質供給プローブ装置1aの物質供給プローブ11はプランジャー22とリニアアクチュエータ23とを備えるとしたが、これに限定されず、例えば図7に示す第2変形例に係る物質供給プローブ11のように、プランジャー22とリニアアクチュエータ23とを省略し、中空ガラスキャピラリー21の基端部に配置された加減圧装置71を備えてもよい。
この加減圧装置71は、例えば半導体プロセスを利用したマイクロダイヤフラムポンプ(例えば、MEMSダイヤフラム式ポンプ等)であって、制御装置3から入力される制御信号に応じて中空ガラスキャピラリー21内の圧力を制御する。
In the above-described embodiment, the
The pressurizing / depressurizing
この第2変形例に係る物質供給プローブ11を具備する物質供給プローブ装置1aにより、生体試料S内に反応物質を導入したり、生体試料Sの試料表面に反応物質を塗布する動作について説明する。
An operation of introducing a reactive substance into the biological sample S or applying a reactive substance to the sample surface of the biological sample S by the substance
先ず、例えばステップS01においては、例えば図8(a)に示すように、例えば蛍光物質や遺伝子等の反応物質が混入および分散配置された溶液Uが貯留された容器Dまで物質供給プローブ11を移動させ、加減圧装置71を停止させ、中空ガラスキャピラリー21内の圧力を大気圧に設定した状態で、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを溶液U内に浸漬する。
First, in step S01, for example, as shown in FIG. 8A, for example, the
次に、ステップS02においては、例えば図8(b)に示すように、加減圧装置71によって中空ガラスキャピラリー21内を減圧し、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから所定量の溶液Uを中空ガラスキャピラリー21内に取り込む。
Next, in step S02, for example, as shown in FIG. 8B, the inside of the
次に、ステップS03においては、例えば図8(c)に示すように、加減圧装置71による所定の減圧状態を保持した状態で、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを容器Dの溶液U内から引き出し、所定量の溶液Uを中空ガラスキャピラリー21内に保持する。
Next, in step S03, for example, as shown in FIG. 8C, the
次に、ステップS04においては、例えば図8(d)に示すように、シャーレセルCに貯留された溶液W中に存在する複数の生体試料Sのうち適宜の生体試料Sを選択して試料捕捉プローブ15により捕捉固定した状態で、この生体試料Sの表面上を中空ガラスキャピラリー21の先端部21aで走査させる。このとき、例えば振動モードSPMでは、物質供給プローブ11を加振源12により振動させつつ、測定部14でのレーザ光Lによる測定に応じて、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aと生体試料Sの表面との距離を、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aの振動状態(例えば、振幅等)が所定状態となるように制御する。そして、Z電圧フィードバック回路51により駆動部26をフィードバック制御する制御信号に基づき、生体試料Sの表面形状を測定し、生体試料S内に反応物質を導入する位置あるいは生体試料Sの試料表面に反応物質を塗布する位置を設定する。
Next, in step S04, for example, as shown in FIG. 8 (d), an appropriate biological sample S is selected from a plurality of biological samples S existing in the solution W stored in the petri dish C to capture the sample. While being captured and fixed by the
次に、ステップS05においては、例えば図8(e)または図8(f)に示すように、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを加振源12により振動させつつ生体試料Sに穿刺させた状態または中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを生体試料Sの試料表面上の所定位置に配置させた状態で、加減圧装置71によって中空ガラスキャピラリー21内を加圧し、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aから所定量の溶液Uを排出し、生体試料S内に反応物質を導入または生体試料Sの試料表面に反応物質を塗布する。
Next, in step S05, for example, as shown in FIG. 8 (e) or FIG. 8 (f), the biological sample S is punctured while the
次に、ステップS06においては、中空ガラスキャピラリー21の先端部21aを所定位置まで退避させ、一連の処理を終了する。
Next, in step S06, the
この第2変形例に係る物質供給プローブ11を具備する物質供給プローブ装置1aによれば、物質供給プローブ装置1aの装置構成を簡略化することができる。
According to the substance
なお、本発明の技術範囲は、上述した実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において、種々の変更を加えることが可能である。 The technical scope of the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
また、上述した実施の形態では、走査型プローブ顕微鏡1の測定部14は、光てこ方式により物質供給プローブ11の変位検出をおこなうとしたが、これに限定されず、例えば図9に示す第3変形例に係る走査型プローブ顕微鏡1のように、中空ガラスキャピラリー21にピエゾ抵抗素子等からなる変位検出部72を備え、自己検知方式により物質供給プローブ11の変位検出をおこなってもよい。
In the above-described embodiment, the
また、上述した実施形態では、物質供給プローブ装置1aは、物質供給プローブ11を移動部13により3次元方向に移動させるとしたが、これに限定されず、例えば生体試料S側を物質供給プローブ11に対して3次元方向に相対移動させる移動部(図示略)を走査型プローブ顕微鏡1に備え、生体試料Sを物質供給プローブ11に対して3次元方向に相対移動させてもよいし、あるいは、生体試料Sと物質供給プローブ11とを3次元方向に相対移動させてもよい。
In the above-described embodiment, the substance
また、上述した実施形態では、走査型プローブ顕微鏡1を、振動モードSPMの一例として、共振させた中空ガラスキャピラリー21の振動状態が所定状態になるように中空ガラスキャピラリー21の先端部21aと生体試料Sとの間の距離を制御しながら走査を行うDFM(共振モード測定−原子間力顕微鏡:Dynamic Force Mode Microscope)としてもよい。
In the above-described embodiment, the scanning probe microscope 1 is used as an example of the vibration mode SPM, and the
更には、走査型プローブ顕微鏡1を、AFM動作中に、生体試料Sを試料表面に平行な水平方向に横振動させ、又は中空ガラスキャピラリー21を試料表面に平行な水平方向に横振動させ、この際の中空ガラスキャピラリー21のねじれ振動振幅を検出することで摩擦力分布を測定するLM−FFM(Lateral Force Modulation Friction Force Microscope:横振動摩擦力顕微鏡)や、AFM動作中に、生体試料Sを試料表面に垂直なZ方向に微小振動させて、又は、中空ガラスキャピラリー21を試料表面に垂直なZ方向に微小移動させて、周期的な力を加え、この際の中空ガラスキャピラリー21の撓み振幅や、sin成分、cos成分を検出することで粘弾性分布を測定するVE−AFM(Viscoelastic AFM:マイクロ粘弾性測定−原子間力顕微鏡)としてもよい。
Further, during the AFM operation, the scanning probe microscope 1 causes the biological sample S to vibrate in the horizontal direction parallel to the sample surface, or the
また、上述した実施形態において、試料捕捉プローブ装置1bは、試料捕捉プローブ15をXY方向及びZ方向の3方向に適宜移動させて、生体試料Sをレバー部41の開口部41aに捕捉する際に、レーザ光を利用した光ピンセット技術を利用して生体試料Sの捕捉を補助してもよい。
In the above-described embodiment, the sample capturing probe device 1b moves the
S生体試料(試料) S1試料表面 1走査型プローブ顕微鏡 1a物質供給プローブ装置 3制御装置 13移動部 14測定部(変位検出手段) 21中空ガラスキャピラリー 21a先端部 22プランジャー(圧力制御手段) 23リニアアクチュエータ(圧力制御手段) 45XYZステージ 61探針部材(探針) 71加減圧装置(圧力制御手段)
S biological specimen (sample)
Claims (5)
前記中空ガラスキャピラリー内の圧力を制御する圧力制御手段と、
前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部の変位を検出する変位検出手段と、
前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部を試料に対して相対移動させる移動部と、
前記変位検出手段による検出結果に基づき、前記移動部を制御する制御装置と、を備え、
前記圧力制御手段は、前記中空ガラスキャピラリー内を往復移動可能なプランジャーと、前記プランジャーを往復移動させるリニアアクチュエータとを備え、
前記制御装置は、前記リニアアクチュエータを制御することを特徴とする物質供給プローブ装置。 A hollow glass capillary having a sharpened tip;
Pressure control means for controlling the pressure in the hollow glass capillary;
A displacement detecting means for detecting the displacement of the tip of the hollow glass capillary;
A moving unit for relatively moving the distal end portion of the front Symbol hollow glass capillary to the sample,
A control device for controlling the moving unit based on a detection result by the displacement detection means ,
The pressure control means comprises a plunger capable of reciprocating in the hollow glass capillary, and a linear actuator for reciprocating the plunger,
The substance supply probe apparatus , wherein the control device controls the linear actuator .
前記移動部は、前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部に対向配置された前記試料を載置するXYZステージを備え、前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部と前記試料とを、試料表面に平行な方向に相対的に走査させると共に、試料表面に垂直な方向に相対的に移動させ、
前記制御装置は、前記変位検出手段による検出結果に基づいて、前記走査時に前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部と前記試料表面との距離を制御すると共に、前記試料の状態に係るデータを取得することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。 A substance supply probe device according to any one of claims 1 to 3 , comprising:
The mobile unit includes an XYZ stage for placing the sample that is opposed to the tip portion of the hollow glass capillary, and the sample and the tip of the hollow glass capillaries, in a direction parallel to the sample surface Relatively scan and move relatively in the direction perpendicular to the sample surface ,
Wherein the control device, based on a detection result by the displacement detecting means, to control the distance between the tip and the sample surface of the hollow glass capillary during the scan, you obtain data relating to the state of the sample scanning probe microscope characterized by and this.
前記移動部は、前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部に対向配置された前記試料を載置するXYZステージと、を備え、前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部と前記試料とを、試料表面に平行な方向に相対的に走査させると共に、試料表面に垂直な方向に相対的に移動させ、
前記制御装置は、前記変位検出手段による検出結果に基づいて、前記走査時に前記中空ガラスキャピラリーの前記先端部と前記試料表面との距離を制御すると共に、前記試料の状態に係るデータを取得し、
前記探針は導電性であって、
前記制御装置は、前記試料の電気状態を検出することを特徴とする走査型プローブ顕微鏡。 A substance supply probe device according to claim 2 or claim 3 ,
The moving unit, and a XYZ stage for mounting the sample that is opposed to the tip portion of the hollow glass capillary, and the leading end portion of the hollow glass capillaries and the sample, parallel to the sample surface The relative scanning in the direction and the relative movement in the direction perpendicular to the sample surface ,
The control device controls the distance between the tip of the hollow glass capillary and the sample surface during the scanning based on the detection result by the displacement detection means , and acquires data related to the state of the sample ,
The probe is electrically conductive;
The scanning probe microscope, wherein the control device detects an electrical state of the sample.
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