JP4934281B2 - 全反射蛍光顕微鏡 - Google Patents
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Description
ここで、d:エバネッセント光のしみ出し深さ、λ:光の波長、n1:入射側(カバーガラス)屈折率、θ1:入射角、n2:出射側(標本)屈折率である。
なお、標本照射角度NAは、
NA=sinθ1・n1
で求められる。
図1は、本発明の第1の実施の形態にかかる全反射蛍光顕微鏡の概略構成を示している。
図1において、レーザ光源ユニット1は、エバネッセント照明に用いられる、例えば488nmのレーザ光を発振するアルゴン(Ar)レーザ2と543nmのレーザ光を発振するグリーンヘリウムネオンレーザ3を有している。他に、633nmのレーザ光を発振するヘリウムネオンレーザを有していても良い。
この状態で、アルゴンレーザ2から発振したレーザ波長488nmは、ダイクロイックミラー5、音響光学素子6を通過し、ファイバ7の入射端に導かれる。
図2は、本発明の第1の実施の形態の変形例の概略構成を示す図で、図1と同一部分には、同符号を付している。
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
この第2の実施の形態では、エバネッセント照明を行なう全反射蛍光顕微鏡に対し、光走査ミラーによりレーザ光を偏向し、標本上にスポット光を2次元走査し、標本から発する蛍光を共焦点ピンホールを介して共焦点観察する走査ユニットを組み合わせている。
図4を参照して、第3の実施の形態を説明する。図4は、第3の実施の形態に係る、例えば、図1のモニタ30への表示例を示す図である。
観察者が、波長488nmの標本の画像をCCDカメラ26で確認しながら、図示しない入力手段を用いてガルバノミラーユニット12のガルバノミラー12aの角度(以下、「ガルバノ角度」と称する)を調整(指定)する。このとき指定されたガルバノ角度から試料への照射角度NAを、図1の集光レンズ13、対物レンズ18の光学特性を用いて求める(図4の(a)の斜文字)。そして、この照射角度NAから各波長毎のしみ出し深さを、式(1)を用いて計算し、その計算結果を、例えば図4の(a)に示すように表示する。図4の(a)の例では、照射角度NAが1.4のときにおける、488nm、543nm、633nmの各波長に対して、それぞれ、165nm、183nm、214nmのしみ出し深さの計算結果が一覧表示される。このとき、図4の(b)に示すような、対物レンズの倍率と、カバーガラスの屈折率と、標本の屈折率が併せて表示される(以下の変形例において、図4の(b)は同じであるので、変形例において同表示については省略する)。なお、対物レンズの倍率は対物レンズを切り替えたときに、現時点で光路上に配置された対物レンズの倍率を図示しないセンサが検知して、検知結果が表示される。また、カバーガラスと標本の屈折率については、それらの材質などを選択することによって、記憶部29aに記憶された屈折率を表示する。なお、図4の(b)に記載の対物レンズの倍率やカバーガラスの屈折率や標本の屈折率は、当該数値を観察者が入力可能であっても良い。本実施の形態によれば、目的とするしみ出し深さを得る条件を求めることができ、また標本を観察しながら照明角度を調整する時などに現在のしみ出し深さを容易に認識できる。さらに、波長ごとのしみ出し深さを容易に認識できる。
図5は、第3の実施の形態の第1の変形例に係る表示例を示す図である。本変形例では、1つの波長で照射角度を設定すると、他の角度でも同じしみ出し深さにする照射角度NAを表示するようにしている。
波長488nmの標本の画像を目視観察用ユニット28で確認しながら、図示しない入力手段を用いてガルバノ角度を指定する。次に、指定されたガルバノ角度から、標本照射角度NAを計算して表示する(この場合、NA=1.4と求まる)。そして、求められた照射角度NAから波長488nmのしみ出し深さを計算して、表示する(しみ出し深さ=165nm)。そして、波長488nmの場合のしみ出し深さ165nmを維持する場合における、波長ごとの照射角度NAを波長毎に計算して、表示する。この場合には、波長488nm、NA=1.4でしみ出し深さ165nmとなり、波長543nm、633nmに対して、それぞれ、照射角度NAが1.40472、1.41349と求まる。
第3の実施の形態の第2の変形例に係る表示例は、図5と同じであるので、図示を省略する。本変形例では、しみ出し深さを設定した場合の照射角度NAを表示するようにしている。第1の変形例との違いは、以下のとおりである。第1の変形例では、波長488nmの画像を見ながらガルバノ角度を調整して、このガルバノ角度から照射角度NAを計算し、この照射角度NAからしみ出し深さを計算している。これに対し、本変形例では、観察者がしみ出し深さを入力して、該染み出し深さにおける、波長ごとの照射角度NAを計算して、表示するようにしている。
3…グリーンヘリウムネオンレーザ、4…反射ミラー
5…ダイクロイックミラー、6…音響光学素子
7…ファイバ、8…エバネッセント投光管、801…投光管本体
802…導光管、8a…レーザ導入部、9…倒立顕微鏡本体
10…落射照明用光源、11…コリメートレンズ
12…ガルバノミラーユニット、12a…ガルバノミラー
12b…回転軸、13…集光レンズ
14…キューブターレット、15…モータ
16.17…キューブユニット、16a…励起ダイクロイックミラー
17a…ダイクロイックミラー、17b…バリアフィルタ
18…対物レンズ、18a…瞳位置、19…標本
20…ステージ、21…カバーガラス、22…結像レンズ
22a…透過光路、22b…目視観察光路、23…反射ミラー
24…フィルタホイール、24a.24b…フィルタ
25…モータ、26…CCDカメラ、26a…撮像面
27…反射ミラー、28…目視観察用ユニット
29…制御部、29a…記憶部、30…モニタ
31…蛍光検出部、32…分光ダイクロイックミラー
33.35…バリアフィルタ、34.36…検出器
41…走査ユニット、41a…レーザ光導入ポート
42…コリメートレンズ、43…励起ダイクロイックミラー
44…光偏向ミラーユニット、45…瞳投影レンズ
45a…結像位置、46…集光レンズ
47…キューブユニット、47a…反射ミラー
48…レンズユニット、49…モータ
50…反射ミラー、51…共焦点レンズ
52…共焦点ピンホール、53…バリアフィルタ、54…光検出器
Claims (24)
- 複数の波長のレーザ光を発生する光源と、
前記光源からのレーザ光を標本に対し対物レンズを介して所定の入射角で照射し、エバネッセント照明を発生させる集光光学系と、
前記エバネッセント照明により標本より発生する蛍光を観察する蛍光観察手段と、
前記標本に照射されるレーザ光の入射角を調整可能にした入射角調整手段と、
前記光源からのレーザ光の波長を切り替えた場合に、前記エバネッセント光のしみ出し深さが同じ量になるように前記入射角調整手段を制御する制御手段とを具備したことを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 複数の波長のレーザ光を発生する光源と、
前記光源からのレーザ光を標本に対し対物レンズを介して所定の入射角で照射し、エバネッセント照明を発生させる集光光学系と、
前記エバネッセント照明により標本より発生する蛍光を観察する蛍光観察手段と、
前記標本に照射されるレーザ光の入射角を調整可能にした入射角調整手段と、
前記光源からのレーザ光の波長を切り替えた場合に、前記エバネッセント光のしみ出し深さを所望の量に設定するように前記入射角調整手段を制御する制御手段とを具備したことを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項1又は請求項2に記載の全反射蛍光顕微鏡において、前記制御手段は、前記光源からのレーザ光の波長に応じた前記入射角の制御情報を記憶する記憶手段を有し、前記レーザ光の波長の切り替えに対して、前記記憶手段に記憶された制御情報に基づいて前記入射角調整手段を制御することを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
- 請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の全反射蛍光顕微鏡において、前記入射角調整手段は、偏向ミラーを有することを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
- 請求項1乃至請求項3のいずれか1項に記載の全反射蛍光顕微鏡において、
前記光源からのレーザ光を偏向する偏向ミラーを有し、該偏向ミラーを偏向することで、前記標本上を光スポットで2次元走査する共焦点観察機能をさらに具備し、
前記集光光学系は、前記偏向ミラーで偏向されるレーザ光を前記標本上でスポット照明する第1の状態と、前記対物レンズを介して前記標本に対し所定の入射角で照射し、エバネッセント照明を発生させる第2の状態とを、切換え可能であることを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項1乃至請求項5のいずれか1項に記載の全反射蛍光顕微鏡において、
前記蛍光観察手段は、前記標本から発生した蛍光を波長ごとに選択して透過する蛍光波長選択手段を有し、
前記蛍光波長選択手段による蛍光の波長選択がレーザ光の波長の切り替えに連動していることを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項1乃至請求項6のいずれか1項に記載の全反射蛍光顕微鏡において、前記蛍光観察手段は、前記標本から発生した蛍光を波長ごとに検出する蛍光検出手段を更に有することを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
- 請求項6又は請求項7に記載の全反射蛍光顕微鏡において、前記蛍光観察手段より検出された波長ごとの蛍光を画像化し、蛍光画像として表示する表示手段をさらに具備することを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
- 請求項1乃至請求項8のいずれか1項に記載の全反射蛍光顕微鏡において、
さらに、前記レーザ光の波長と、出力強度とを可変に制御する可変手段を具備したことを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項9に記載の全反射顕微鏡において、
前記可変手段と前記蛍光観察手段とを制御する制御手段を更に具備し、
前記制御手段は、前記可変手段を制御して、複数のレーザ波長を時系列的に切替えて標本に対してレーザ光を照射することを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項10に記載の全反射顕微鏡において、前記制御手段は同期信号を出力し、該同期信号により前記可変手段と蛍光観察手段が駆動されることを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
- 請求項10に記載の全反射顕微鏡において、蛍光観察手段は同期信号を出力し、該同期信号に同期して前記可変手段が駆動することを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
- 請求項11又は請求項12に記載の全反射顕微鏡において、前記可変手段が音響光学素子であることを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
- 請求項11又は請求項12に記載の全反射顕微鏡において、前記光源と前記可変手段がレーザダイオードで構成されていることを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
- 請求項11又は請求項12に記載の全反射顕微鏡において、前記可変手段が電気光学素子であることを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
- 請求項11又は請求項12に記載の全反射顕微鏡において、前記可変手段が液晶シャッタを含むことを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
- 請求項1、請求項2又は請求項9に記載の全反射蛍光顕微鏡において、
前記照射角度制御手段の制御値から全反射照明の標本へのしみ出し深さを演算するしみ出し深さ演算手段と、
前記しみ出し深さ演算手段により演算されたしみ出し深さを表示する表示手段と、を更に備えたことを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項1、請求項2又は請求項9に記載の全反射蛍光顕微鏡において、
全反射照明の標本へのしみ出し深さを入力する入力手段と、
全反射照明の標本への染み出し深さを、前記入力されたしみ出し深さに設定するための前記照射角度を演算する条件照射角度演算手段と、
前記条件照射角度演算手段により求められた条件照射角度を表示する表示手段と、を更に備えたことを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項1、請求項2又は請求項9に記載の全反射蛍光顕微鏡において、
さらに、前記照射角度制御手段の制御値から全反射照明の標本へのしみ出し深さを演算するしみ出し深さ演算手段と、
前記しみ出し深さ演算手段により演算されたしみ出し深さを表示する表示手段と、を備えたことを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項19に記載の全反射蛍光顕微鏡において、前記光源は複数の波長の光を出力し
前記しみ出し深さ演算手段は前記波長のそれぞれに対してしみ出し深さを演算し、
前記表示手段は、算出された染み出し深さを波長毎に表示することを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項1、請求項2又は請求項9に記載の全反射蛍光顕微鏡において、
さらに、全反射照明の標本へのしみ出し深さを入力する入力手段と、
全反射照明の標本への染み出し深さを、前記入力されたしみ出し深さに設定するための条件前記照射角度を演算する条件照射角度演算手段と、
前記条件照射角度演算手段により求められた照射角度条件を表示する表示手段と、を備えたことを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項19に記載の全反射蛍光顕微鏡において、
前記光源は複数の波長の光を出力し、
前記複数の波長の光のうち選択された1つの波長に対して照射角度を設定すると、全ての波長において全反射照明のしみ出し深さを一定にするためのそれぞれの波長毎の照射角度を演算する照射角度演算手段と、
前記照射角度演算手段により求められた照射角度を波長毎に表示する照射角度表示手段と、をさらに備え、
前記照射角度制御手段は、実際に照射する波長に合わせて照射角度を制御することを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項21に記載の全反射蛍光顕微鏡において、
前記光源は複数の波長の光を出力し、
入力されたしみ出し深さに対応する照射角度を少なくとも2つの波長に対して演算する照射角度演算手段と、
前記照射角度演算手段により求められた照射角度を波長毎に表示する表示手段と、をさらに備え、
前記照射角度制御手段は、実際に照射する波長に合わせて照射角度を制御することを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。 - 請求項19乃至請求項23のいずれか1項に記載の全反射蛍光顕微鏡において、
前記染み出し深さ演算手段又は前記照射角度演算手段は、前記演算のパラメータとしてカバーガラスの屈折率及び標本の屈折率の少なくとも一方を使用し、
前記全反射蛍光顕微鏡は、カバーガラスの屈折率及び標本の屈折率の少なくとも一方について入力又は表示の少なくとも一方が可能であることを特徴とする全反射蛍光顕微鏡。
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