JP4910318B2 - レーザ装置 - Google Patents

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Description

本発明は、特に歯科の医療用などに使用されるハンドピースを有するレーザ装置に関する。
一般に、医療分野におけるレーザ装置としては、レーザメス、疼痛緩和用レーザ、および歯科用のレジン硬化用レーザなどが挙げられる(例えば、特許文献1参照。)。これらのレーザ装置においては、レーザ光を被照射領域に走査しながら照射させるため、通常、レーザ光は、光ファイバーなどの導光部材を介して患部に照射される。この際、当該導光部材の先端が患者と接触して血液や唾液などが付着することによって汚染される危険性があるので、この導光部材をレーザ装置本体から着脱自在に構成し、使用後に取り外して滅菌処理などを行う必要がある。また、例えば導光部材をレーザ光の放射径の異なるものに交換する際にも、導光部材を取り外す必要がある。
以上のような導光部材が着脱自在に構成されたレーザ装置において、導光部材をレーザ装置本体から取り外す際に、誤ってレーザ光が放射された状態のままで取り外しを行うと、意図しない箇所にレーザ光が照射されてしまうという危険な状態となり、それが例えば術者あるいは患者の目などであると、重大な障害が残るおそれがある。
このようなレーザ照射事故を未然に防止するために、日本工業規格JIS C 6802に、レーザ装置は、レーザ装置本体から導光部材が取り外される際にはレーザ光の放射が強制的に停止されるよう構成されなければならないことが明示されており、レーザ装置には導光部材の装着状態を検知する安全機構(セーフティ・インターロック)を組み込む必要がある。
従来、安全機構として、例えば、レーザ光が放射されるレーザ本体側に雌型のコネクタを設け、導光部材側に雄型のコネクタを設け、さらにレーザ本体に雌型のコネクタと雄型のコネクタとの結合状態を検知するためのスライドピンを設けて、雄型コネクタと雌型コネクタとが結合されたときにスライドピンが作動されることによってレーザ光の出力スイッチが押されてオンとされるよう構成し、例えば導光部材がレーザ装置本体から取り外されると、スライドピンが元の位置に復元されてレーザ光の出力スイッチがオフとされるものが提案されている(例えば、特許文献2参照。)。
しかしながら、このような安全機構は、スライドピンの磨耗や、折れ曲がるなどの物理的な損傷によって十分にレーザ光の出力スイッチを押せなくなるなどのおそれがあり、安全機構として決して確実なものとはいえない。
特開平5−245165号公報 特開平9−281359号公報
本発明は、以上のような事情に基づいてなされたものであって、その目的は、半導体レーザを用いたレーザ装置であって、導光部材をレーザ装置本体から取り外した際のレーザ光の誤照射による事故を未然に防止することのできるレーザ装置を提供することを目的とする。
本発明のレーザ装置は、レーザ光を放射する半導体レーザ、およびこの半導体レーザに対向するよう着脱自在に装着される、半導体レーザよりのレーザ光が入射される導光部材を有するハンドピースを備えたレーザ装置であって、
装着された状態の導光部材の光入射面によるレーザ光の反射光が受光されるよう、受光素子が配設されており、
この受光素子の出力による導光部材の離脱情報に基づいて半導体レーザがオフ状態とされるシャットダウン機構を備えると共に、
前記受光素子の出力が設定値以下であるときに半導体レーザのレーザ光出力を大きくし、受光素子の出力が設定値より大きいときに半導体レーザのレーザ光出力を小さくする光出力安定化制御を行う半導体レーザ制御機構を備え、
前記シャットダウン機構は、前記半導体レーザ制御機構の光出力安定化制御による半導体レーザのレーザ光出力が上限値を超えた場合に作動するものであることを特徴とする。
本発明のレーザ装置によれば、導光部材の光入射面に反射される半導体レーザよりのレーザ光の反射光のみを受光する受光素子の出力による導光部材の離脱情報に基づいて半導体レーザがオフ状態とされるので、半導体レーザがオン状態であるときに導光部材を取り外したとしても、半導体レーザが強制的にオフ状態とされて確実にレーザ光の誤照射による事故が未然に防止され、従って、高い安全性が得られる。
また、シャットダウン機構において、受光素子の出力を利用して半導体レーザのレーザ光出力の大きさが一定となるよう制御されるため、例えば温度条件による半導体レーザのレーザ光出力の大きさの変動が低減されるなどして、レーザ光出力が安定性の高いものとされる。
以下、本発明の半導体レーザを備えたレーザ装置について説明する。
図1は、本発明のレーザ装置の一例における構成を部分的に示す説明用図、図2は、図1のレーザ装置の動作制御およびシャットダウン機構の動作を説明するフローチャート、図3は、図1のレーザ装置におけるシャットダウン機構の回路構成を示すブロック図である。
このレーザ装置のハンドピースに備えられた、光源としてレーザ光を放射する半導体レーザ27は、術者が握るためのハンドル11に設けられた装着ハウジング20の連続する装着面20Aに配設されている。
この半導体レーザ27としては、例えば中心波長680nm、出力300mWのものなどを挙げることができるが、中心波長はこれに限定されるものではない。
また、装着ハウジング20の装着面20Aの外周から前方に突出するよう連結部を構成する筒部20Bが形成され、一方、導光部材12における多数の光ファイバーが束ねられてなるバンドルファイバー16およびこの外周面を覆う金属シース15よりなる照射ノズル17の基端部が、装着ハウジング20の筒部20Bに連結され、これにより、導光部材12が半導体レーザ27に対して着脱自在とされている。
具体的には、照射ノズル17の基端部の外周面には、例えばステンレス鋼またはアルミニウムよりなる口金18が設けられており、この口金18が、装着ハウジング20の筒部20B内に嵌合されることにより連結されており、これにより、導光部材12のバンドルファイバー16の光入射面13が空隙を介して半導体レーザ27と対向する状態とされている。
そして、装着ハウジング20の装着面20Aにおける半導体レーザ27と隣接する位置に、受光素子である例えばフォトダイオード29が、その受光面29Aが導光部材12の光入射面13と対向するよう配設され、これにより、半導体レーザ27からのレーザ光のうち、導光部材12のバンドルファイバー16の光入射面13または金属シース15の一端面による反射光のみを受光する構成とされる。
このフォトダイオード29としては、例えばシリコンフォトダイオードを用いることができる。
ここに、受光素子の代表例としてフォトダイオードを挙げて説明するが、受光素子としてはこれに限定されず、フォトトランジスタ、フォトセル、光電子増倍管(フォトマル)などを用いることができる。
半導体レーザ27は、装着ハウジング20に設けられた制御回路28に電気的に接続されており、フォトダイオード29も、アンプ23(図3参照)を介して半導体レーザ27と共通の制御回路28に電気的に接続されている。
以上のようなレーザ装置は、次のように動作される。すなわち、術者がレーザ装置の半導体レーザ27をオン状態とすると、電源装置30から制御回路28に電力が供給されて半導体レーザ27のレーザ駆動電流量がゼロから増加し、半導体レーザ27がレーザ発振して放射されたレーザ光が導光部材12のバンドルファイバー16の光入射面13に入射してこれの内部を導光されて当該バンドルファイバー16の光出射面14から放射され、目的とする箇所にレーザ光が照射される。
レーザ装置の動作中において、半導体レーザ制御機構26においては、フォトダイオード29の出力を利用して半導体レーザ27のレーザ光出力の大きさである、レーザ駆動電流検知器22によって検知されるレーザ駆動電流量が一定となるよう、フォトダイオード29によってバンドルファイバー16の光入射面13からの半導体レーザ27によるレーザ光の反射光が受光され、その出力が設定値以下であるときには半導体レーザ27のレーザ駆動電流量を増加させ、設定値より大きいときには半導体レーザ27のレーザ駆動電流量を減少させる光出力安定化制御が継続して行われる。
半導体レーザ制御機構26におけるフォトダイオード29の出力の設定値は、当該フォトダイオード29の受光量に比例するフォトダイオード電流量で例えば1mAとされる。
そして、半導体レーザ制御機構26の光出力安定化制御による半導体レーザ27のレーザ駆動電流量が特定の上限値を超えた場合に、シャットダウン機構25が作動してシャットダウン処理が行われ、制御回路28に離脱情報としてシャットダウン信号が発され、これにより、半導体レーザ27が強制的にオフ状態とされる。
具体的には、例えば、半導体レーザ27のオン状態において導光部材12がレーザ装置本体から取り外される場合には、フォトダイオード29の出力が設定値よりも大幅に減少されるので、半導体レーザ制御機構26によって半導体レーザ27のレーザ駆動電流量が大幅に増加されてレーザ駆動電流量が上限値まで達し、これによりシャットダウン処理が行われて半導体レーザ27が強制的にオフ状態とされる。
シャットダウン機構25における半導体レーザ27のレーザ駆動電流量の上限値は、例えば100mAとされる。
シャットダウン機構25における半導体レーザ27のレーザ駆動電流量が前記の範囲とされることで、導光部材12がレーザ装置本体から完全に外されるまでの時間内、例えば100msec以内に、半導体レーザ27をオフ状態とすることができて、半導体レーザ27からのレーザ光が装着ハウジング20の筒部20Bの外部に放射されることが防止され、安全性が確保される。
以上のレーザ装置によれば、導光部材12の光入射面13に反射される半導体レーザ27よりのレーザ光の反射光のみを受光するフォトダイオード29の出力による導光部材12の離脱情報に基づいて半導体レーザ27がオフ状態とされるので、半導体レーザ27がオン状態であるときに導光部材12を取り外したとしても、確実に半導体レーザ27が強制的にオフ状態とされてレーザ光の誤照射による事故が未然に防止され、従って、高い安全性が得られる。
また、半導体レーザ制御機構26においては、フォトダイオード29の出力を利用して半導体レーザ27のレーザ光出力の大きさが一定となるよう制御されているため、レーザ光出力が安定性の高いものとされる。
例えば、半導体レーザ27の温度依存性などによるレーザ光出力の大きさの変動が低減され、レーザ光出力の大きさが安定性の高いものとされる。
具体的には、半導体レーザ制御機構26において、半導体レーザ27の温度が大きく上昇した場合、温度の上昇によって半導体レーザ27のレーザ光出力が減少するところ、フォトダイオード29の出力が減少してレーザ駆動電流量が増加され、一方、温度の降下によっては半導体レーザ27のレーザ光出力が増加するとレーザ駆動電流量が減少される制御が行われ、これにより、レーザ光出力の大きさが安定性の高いものとされる。
そして、シャットダウン機構25において、半導体レーザ27のレーザ駆動電流量に上限値が設けられてシャットダウン処理されることにより、半導体レーザ27自体が極度の高温状態となる前にレーザ駆動電流量が上限値に達して半導体レーザ27がオフ状態とされるために、半導体レーザ27自体が高温状態となって破損されることを未然に防止することができる。
以上、本発明の実施の形態について具体的に説明したが、本発明の実施の形態は上記の例に限定されるものではなく、種々の変更を加えることができる。
本発明のレーザ装置の一例における構成を部分的に示す説明用図である。 図1のレーザ装置の動作制御およびシャットダウン機構の動作を説明するフローチャートである。 図1のレーザ装置におけるシャットダウン機構の回路構成を示すブロック図である。
符号の説明
11 ハンドル
12 導光部材
13 光入射面
14 光出射面
15 金属シース
16 バンドルファイバー
17 照射ノズル
18 口金
20 装着ハウジング
20A 装着面
20B 筒部
22 レーザ駆動電流検知器
23 アンプ
25 シャットダウン機構
26 半導体レーザ制御機構
27 半導体レーザ
28 制御回路
29 フォトダイオード
29A 受光面
30 電源装置

Claims (1)

  1. レーザ光を放射する半導体レーザ、およびこの半導体レーザに対向するよう着脱自在に装着される、半導体レーザよりのレーザ光が入射される導光部材を有するハンドピースを備えたレーザ装置であって、
    装着された状態の導光部材の光入射面によるレーザ光の反射光が受光されるよう、受光素子が配設されており、
    この受光素子の出力による導光部材の離脱情報に基づいて半導体レーザがオフ状態とされるシャットダウン機構を備えると共に、
    前記受光素子の出力が設定値以下であるときに半導体レーザのレーザ光出力を大きくし、受光素子の出力が設定値より大きいときに半導体レーザのレーザ光出力を小さくする光出力安定化制御を行う半導体レーザ制御機構を備え、
    前記シャットダウン機構は、前記半導体レーザ制御機構の光出力安定化制御による半導体レーザのレーザ光出力が上限値を超えた場合に作動するものであることを特徴とするレーザ装置。
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5034719B2 (ja) * 2007-07-04 2012-09-26 日亜化学工業株式会社 半導体発光装置
CN104659650A (zh) * 2015-02-11 2015-05-27 西安炬光科技有限公司 一种半导体激光医疗制热调控方法
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61280873A (ja) * 1985-06-06 1986-12-11 富士電機株式会社 レ−ザ照射装置
JPS62240058A (ja) * 1986-04-10 1987-10-20 日本赤外線工業株式会社 レ−ザ治療装置
JPH05183224A (ja) * 1991-12-27 1993-07-23 Matsushita Electric Works Ltd レーザ光切換装置
JPH05245165A (ja) * 1992-03-05 1993-09-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 歯科用レーザ医療装置
JPH05299753A (ja) * 1992-04-16 1993-11-12 Olympus Optical Co Ltd レーザー装置
JPH05343773A (ja) * 1992-06-04 1993-12-24 Fujitsu Ltd 発光素子駆動回路
JPH06319767A (ja) * 1993-05-12 1994-11-22 Kowa Co レーザー光治療装置
JPH0821931A (ja) * 1994-07-08 1996-01-23 Sumitomo Electric Ind Ltd Ldモジュールおよびその駆動方法並びにldモジュールを用いた漏光監視システム
JP2716027B2 (ja) * 1995-12-25 1998-02-18 日本電気株式会社 レーザ光出力装置
JP2001149380A (ja) * 1999-11-30 2001-06-05 Nidek Co Ltd レーザ治療装置
JP2003102855A (ja) * 2001-09-28 2003-04-08 Ya Man Ltd レーザ光照射装置
JP2005010484A (ja) * 2003-06-19 2005-01-13 Hitachi Cable Ltd 光モジュール

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