JP4909698B2 - 偏光板一体型光学補償フィルム及び液晶表示装置 - Google Patents
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Description
<1>
少なくとも、(A)長手方向に平行な吸収軸を有する長尺状の偏光膜、(B)下記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10 −24 cm 3 以上である芳香族アシル基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、厚み方向のレターデーションRthが−300nm〜−40nmで、面内のレターデーションReが50nm以下であり、且つ光学軸がフィルム面内に含まれない長尺状の第2位相差膜、及び前記偏光膜と前記第2位相差膜との間に、(C)長手方向に実質的に直交する遅相軸を有する長尺状の第1位相差膜を有する長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム。
式(1) : Δα=αx−(αy+αz)/2
(式中、αx、αy、αzは分極率テンソルを対角化後に得られる固有値であり、αx≧αy≧αzを満足する)
<2>
少なくとも、(A)長手方向に平行な吸収軸を有する長尺状の偏光膜、(B)下記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10 −24 cm 3 以上である芳香族アシル基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、厚み方向のレターデーションRthが−300nm〜−40nmで、面内のレターデーションReが50nm以下であり、且つ光学軸がフィルム面内に含まれない長尺状の第2位相差膜、及び(C)長手方向に実質的に平行な遅相軸を有する長尺状の第1位相差膜を、前記偏光膜、前記第2位相差膜及び第1位相差膜の順で配置した長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム。
式(1) : Δα=αx−(αy+αz)/2
(式中、αx、αy、αzは分極率テンソルを対角化後に得られる固有値であり、αx≧αy≧αzを満足する)
<3>
前記第1位相差膜のReが60nm〜200nmであり、第1位相差膜のNz=Rth/Re+0.5で定義されるNz値が0.8を超え1.5以下である上記<1>又は<2>に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
<4>
少なくとも、第1偏光膜と、第1位相差領域と、第2位相差領域と、液晶層及び該液晶層を挟持する一対の基板を含む液晶セルと、第2偏光膜とを含み、黒表示時に該液晶層の液晶分子が前記一対の基板の表面に対して平行に配向する液晶表示装置であって、前記第2位相差領域の厚み方向のレターデーションRthが−300nm〜−40nmで、前記第1位相差領域は、面内のレターデーションReが60nm〜200nmで、Nz=Rth/Re+0.5で定義される第1位相差領域のNz値が0.8を超え1.5以下で、且つ面内のレターデーションReが50nm以下であって、前記第2位相差領域は、下記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10 −24 cm 3 以上である芳香族アシル基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、且つ前記第1偏光膜の透過軸が、黒表示時の液晶分子の遅相軸方向に平行である液晶表示装置。
式(1) : Δα=αx−(αy+αz)/2
(式中、αx、αy、αzは分極率テンソルを対角化後に得られる固有値であり、αx≧αy≧αzを満足する)
<5>
前記第1偏光膜、第1位相差領域、第2位相差領域及び液晶セルが、この順序で配置され、且つ前記第1位相差領域の遅相軸が、第1偏光膜の透過軸に平行である上記<4>に記載の液晶表示装置。
<6>
前記第1偏光膜、第2位相差領域、第1位相差領域及び液晶セルが、この順序で配置され、且つ第1位相差領域の遅相軸が、第1偏光膜の透過軸に直交である上記<4>に記載の液晶表示装置。
<7>
前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち少なくとも液晶層に近い側の保護膜の厚み方向のレターデーションRthが−40nm〜40nmである上記<4>〜<6>のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
<8>
前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち少なくとも液晶層に近い側の保護膜の厚み方向のレターデーションRthが−20nm〜20nmである上記<4>〜<7>のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
<9>
前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち少なくとも液晶層に近い側の保護膜の厚みが60μm以下である上記<4>〜<8>のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
<10>
前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち液晶層に近い側の保護膜がセルロースアシレートフィルム又はノルボルネン系フィルムである上記<4>〜<9>のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
<11>
前記第1位相差領域又は前記第2位相差領域が前記第1偏光膜に隣接してなる上記<4>〜<10>のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
<12>
前記液晶セルの一対の基板のうち視認側と反対側の基板により近い位置に、他の膜を介することなく前記第1位相差領域及び前記第2位相差領域が配置されている上記<4>〜<11>のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
<13>
前記セルロースアシレートフィルムが延伸処理されていることを特徴とする上記<1>〜<3>のいずれか一項に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
<14>
前記セルロースアシレートフィルムのアシル基の総置換度PAが2.4以上3.0以下であり、芳香族アシル基の置換度が0.1以上1.0以下であることを特徴とする上記<1>、<2>、<3>、又は<13>に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
<15>
Rthを低下させる化合物を少なくとも1種、セルロースアシレート固形分に対して0.01〜30質量%含むことを特徴とする上記<1>、<2>、<3>、<13>、又は<14>に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
<16>
前記第2位相差領域は、前記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10 −24 cm 3 以上である芳香族アシル基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、前記セルロースアシレートフィルムが延伸処理されていることを特徴とする上記<4>〜<12>のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
<17>
前記セルロースアシレートフィルムのアシル基の総置換度PAが2.4以上3.0以下であり、芳香族アシル基の置換度が0.1以上1.0以下であることを特徴とする上記<4>〜<12>、<16>のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
<18>
Rthを低下させる化合物を少なくとも1種、セルロースアシレート固形分に対して0.01〜30質量%含むことを特徴とする上記<4>〜<12>、<16>、<17>のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
なお、本発明は上記<1>〜<18>に関するものであるが、参考のためその他の事項(例えば下記(1)〜(21)に記載の事項など)についても記載した。
(1)
少なくとも、(A)長手方向に平行な吸収軸を有する長尺状の偏光膜、(B)下記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である置換基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、厚み方向のレターデーションRthが−300nm〜−40nmで、面内のレターデーションReが50nm以下であり、且つ光学軸がフィルム面内に含まれない長尺状の第2位相差膜、及び前記偏光膜と前記第2位相差膜との間に、(C)長手方向に実質的に直交する遅相軸を有する長尺状の第1位相差膜を有する長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム。
式(1) : Δα=αx−(αy+αz)/2
(式中、αx、αy、αzは分極率テンソルを対角化後に得られる固有値であり、αx≧αy≧αzを満足する)
(2)
少なくとも、(A)長手方向に平行な吸収軸を有する長尺状の偏光膜、(B)下記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である置換基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、厚み方向のレターデーションRthが−300nm〜−40nmで、面内のレターデーションReが50nm以下であり、且つ光学軸がフィルム面内に含まれない長尺状の第2位相差膜、及び(C)長手方向に実質的に平行な遅相軸を有する長尺状の第1位相差膜を、前記偏光膜、前記第2位相差膜及び第1位相差膜の順で配置した長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム。
式(1) : Δα=αx−(αy+αz)/2
(式中、αx、αy、αzは分極率テンソルを対角化後に得られる固有値であり、αx≧αy≧αzを満足する)
(3)
前記第1位相差膜のReが60nm〜200nmであり、第1位相差膜のNz=Rth/Re+0.5で定義されるNz値が0.8を超え1.5以下である(1)又は(2)に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
(4)
少なくとも、第1偏光膜と、第1位相差領域と、第2位相差領域と、液晶層及び該液晶層を挟持する一対の基板を含む液晶セルと、第2偏光膜とを含み、黒表示時に該液晶層の液晶分子が前記一対の基板の表面に対して平行に配向する液晶表示装置であって、第2位相差領域の厚み方向のレターデーションRthが−300nm〜−40nmである液晶表示装置。
(5)
少なくとも、第1偏光膜と、第1位相差領域と、第2位相差領域と、液晶層及び該液晶層を挟持する一対の基板を含む液晶セルと、第2偏光膜とを含み、黒表示時に該液晶層の液晶分子が前記一対の基板の表面に対して平行に配向する液晶表示装置であって、前記第1位相差領域は、面内のレターデーションReが60nm〜200nmで、Nz=Rth/Re+0.5で定義される第1位相差領域のNz値が0.8を超え1.5以下で、且つ面内のレターデーションReが50nm以下であって、前記第2位相差領域は、下記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である置換基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、且つ前記第1偏光膜の透過軸が、黒表示時の液晶分子の遅相軸方向に平行である(4)に記載の液晶表示装置。
式(1) : Δα=αx−(αy+αz)/2
(式中、αx、αy、αzは分極率テンソルを対角化後に得られる固有値であり、αx≧αy≧αzを満足する)
(6)
前記第1偏光膜、第1位相差領域、第2位相差領域及び液晶セルが、この順序で配置され、且つ前記第1位相差領域の遅相軸が、第1偏光膜の透過軸に平行である(4)または(5)に記載の液晶表示装置。
(7)
前記第1偏光膜、第2位相差領域、第1位相差領域及び液晶セルが、この順序で配置され、且つ第1位相差領域の遅相軸が、第1偏光膜の透過軸に直交である(4)または(5)に記載の液晶表示装置。
(8)
前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち少なくとも液晶層に近い側の保護膜の厚み方向のレターデーションRthが−40nm〜40nmである(4)〜(7)のいずれかに記載の液晶表示装置。
(9)
前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち少なくとも液晶層に近い側の保護膜の厚み方向のレターデーションRthが−20nm〜20nmである(4)〜(8)のいずれかに記載の液晶表示装置。
(10)
前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち少なくとも液晶層に近い側の保護膜の厚みが60μm以下である(4)〜(9)のいずれかに記載の液晶表示装置。
(11)
前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち液晶層に近い側の保護膜がセルロースアシレートフィルム又はノルボルネン系フィルムである(4)〜(10)のいずれかに記載の液晶表示装置。
(12)
前記第1位相差領域又は前記第2位相差領域が前記第1偏光膜に隣接してなる(4)〜(11)のいずれかに記載の液晶表示装置。
(13)
前記液晶セルの一対の基板のうち視認側と反対側の基板により近い位置に、他の膜を介することなく前記第1位相差領域及び前記第2位相差領域が配置されている(4)〜(12)のいずれかに記載の液晶表示装置。
(14)
前記セルロースアシレートフィルムが延伸処理されていることを特徴とする(1)〜(3)のいずれかに記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
(15)
前記セルロースアシレートフィルムの分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である置換基が芳香族アシル基であることを特徴とする(1),(2),(3)または(14)に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
(16)
前記セルロースアシレートフィルムのアシル基の総置換度PAが2.4以上3.0以下であり、芳香族アシル基の置換度が0.1以上1.0以下であることを特徴とする(15)に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
(17)
Rthを低下させる化合物を少なくとも1種、セルロースアシレート固形分に対して0.01〜30質量%含むことを特徴とする(15)または(16)に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
(18)
前記第2位相差領域は、前記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である置換基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、前記セルロースアシレートフィルムが延伸処理されていることを特徴とする(5)〜(13)のいずれかに記載の液晶表示装置。
(19)
前記セルロースアシレートフィルムの分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である置換基が芳香族アシル基であることを特徴とする(4)〜(13)または(18)のいずれかに記載の液晶表示装置。
(20)
前記セルロースアシレートフィルムのアシル基の総置換度PAが2.4以上3.0以下であり、芳香族アシル基の置換度が0.1以上1.0以下であることを特徴とする(19)に記載の液晶表示装置。
(21)
Rthを低下させる化合物を少なくとも1種、セルロースアシレート固形分に対して0.01〜30質量%含むことを特徴とする(19)または(20)に記載の液晶表示装置。
とくに、少なくとも、第1偏光膜と、第1位相領域と、第2位相領域と、液晶層を一対の基板で挟んだ液晶セルと、第2偏光膜とを含み、黒表示時に該液晶層の液晶分子が前記一対の基板の表面に対して平行に配向する液晶表示装置において、面内のレターデーションReが60nm〜200nmで、Nz値が0.8を超え1.5以下の第1位相差領域と、面内のレターデーションReが50nm以下であって、厚み方向のレターデーションRthが−200nm〜−50nmであり、分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である置換基を含むセルロースアシレートフィルムを含む第2位相差領域を用い、且つ第1偏光膜の透過軸が黒表示時の液晶分子の遅相軸方向と平行にすることによって、上記効果を一層高めることができる。さらに偏光膜の保護膜のRthを40nm以下とすることによって更なるコントラスト向上を実現することができる。また本発明の偏光板一体型光学補償フィルムでは、分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である置換基を含むセルロースアシレートを第2位相差膜に用いる。当該フィルムは、セルロースアシレートの置換基の種類や水酸基へのアシル置換度の調整や、作製条件の調整により、第2位相差領域に要求される光学特性を一層のみで満たすことができる。従って、当該フィルムを用いることにより、簡易な構成で視野角特性の改善された液晶表示装置を作製することができる。また、当該フィルムは、偏光膜の保護膜として要求される性能を有するので、偏光膜の表面に形成することで、保護膜として機能させることができ、より簡易な構成で、視野角特性の改善された液晶表示装置を作製することができる。
測定されるフイルムが1軸または2軸の屈折率楕円体で表されるものである場合には、以下の方法によりRth(λ)は算出される。Rth(λ)は前記Re(λ)を、面内の遅相軸(KOBRA 21ADHまたはWRにより判断される)を傾斜軸(回転軸)として(遅相軸がない場合にはフイルム面内の任意の方向を回転軸とする)のフィルム法線方向に対して法線方向から片側50度まで10度ステップで各々その傾斜した方向から波長λnmの光を入射させて全部で6点測定し、その測定されたレタデーション値と平均屈折率の仮定値及び入力された膜厚値を基にKOBRA 21ADHまたはWRが算出する。
上記において、法線方向から面内の遅相軸を回転軸として、ある傾斜角度にレタデーションの値がゼロとなる方向をもつフイルムの場合には、その傾斜角度より大きい傾斜角度でのレタデーション値はその符号を負に変更した後、KOBRA 21ADHまたはWRが算出する。
尚、遅相軸を傾斜軸(回転軸)として(遅相軸がない場合にはフイルム面内の任意の方向を回転軸とする)、任意の傾斜した2方向からレタデーション値を測定し、その値と平均屈折率の仮定値及び入力された膜厚値を基に、以下の数式(10)及び数式(20)よりRthを算出することもできる。
数式(10)
数式(10)におけるnxは面内における遅相軸方向の屈折率を表し、nyは面内においてnxに直交する方向の屈折率を表し、nzはnx及びnyに直交する方向の屈折率を表す。
数式(20)
Rth=((nx+ny)/2−nz)xd
測定されるフイルムが1軸や2軸の屈折率楕円体で表現できないもの、いわゆる光学軸(optic axis)がないフイルムの場合には、以下の方法によりRth(λ)は算出される。Rth(λ)は前記Re(λ)を、面内の遅相軸(KOBRA 21ADHまたはWRにより判断される)を傾斜軸(回転軸)としてフィルム法線方向に対して−50度から+50度まで10度ステップで各々その傾斜した方向から波長λnmの光を入射させて11点測定し、その測定されたレタデーション値と平均屈折率の仮定値及び入力された膜厚値を基にKOBRA 21ADHまたはWRが算出する。
上記の測定において、平均屈折率の仮定値は ポリマーハンドブック(JOHN WILEY&SONS,INC)、各種光学フィルムのカタログの値を使用することができる。平均屈折率の値が既知でないものについてはアッベ屈折計で測定することができる。主な光学フィルムの平均屈折率の値を以下に例示する: セルロースアシレート(1.48)、シクロオレフィンポリマー(1.52)、ポリカーボネート(1.59)、ポリメチルメタクリレート(1.49)、ポリスチレン(1.59)である。これら平均屈折率の仮定値と膜厚を入力することで、KOBRA 21ADHまたはWRはnx、ny、nzを算出する。この算出されたnx,ny,nzよりNz=(nx−nz)/(nx−ny)が更に算出される。
[液晶表示装置]
図2に示す液晶表示装置は、偏光膜8、20と、第1位相差領域10と、第2位相差領域12と、一対の基板13、17及びこれに挟持される液晶層15からなる液晶セルとを有する。偏光膜8及20は、それぞれ保護膜7aと7b及び19aと19bによって挟持されている。
また、本発明に用いられる液晶セルはIPSモードやFFSモードに限定されることなく、黒表示時に液晶分子が前記一対の基板の表面に対して実質的に平行に配向する液晶表示装置であれば、いずれも好適に用いることができる。この例としては強誘電性液晶表示装置、反強誘電性液晶表示装置、ECB型液晶表示装置がある。
図2に示す液晶表示装置では、偏光膜8が二枚の保護膜7a及び7bに挟持された構成を示しているが、保護膜7bはなくてもよい。但し、保護膜7bを配置しない場合は、第1位相差領域10は後述する特定の光学特性を有するとともに、偏光膜8を保護する機能も兼ね備えている必要がある。保護膜7bを配置する場合は、該保護膜の厚み方向のレターデーションRthは、−40nm〜40nmであることが好ましく−20nm〜20nmであることがさらに好ましい。また、偏光膜20も二枚の保護膜19a及び19bに挟持されているが、液晶層15に近い側の保護膜19aはなくてもよい。保護膜19aを配置する場合は、該保護膜の厚み方向のレターデーションRthは、−40nm〜40nmであることが好ましく−20nm〜20nmであることがさらに好ましい。また、保護膜7b及び保護膜19aは、その厚みが薄いのが好ましく、具体的には60μm以下であるのが好ましい。
図3の液晶表示装置においても、上記と同様、保護膜7bまたは保護膜19aはなくてもよい。但し、保護膜7bがない場合は、第2位相差領域12が、後述する特定の光学特性を有するとともに、偏光膜8を保護する機能も兼ね備えている必要がある。保護膜7bを配置する場合は、該保護膜の厚み方向のレターデーションRthは、−40nm〜40nmであることが好ましく−20nm〜20nmであることがさらに好ましい。また、偏光膜20も二枚の保護膜19a及び19bに挟持されているが、液晶層15に近い側の保護膜19aはなくてもよい。保護膜19aを配置する場合は、該保護膜の厚み方向のレターデーションRthは、−40nm〜40nmであることが好ましく−20nm〜20nmであることがさらに好ましい。また、保護膜7b及び保護膜19aは、その厚みが薄いのが好ましく、具体的には60μm以下であるのが好ましい。
本発明では、第1位相差領域は、面内のレターデーションReが60nm〜200nmであるのが好ましい。斜め方向の光漏れを効果的に低減するためには、第1位相差領域のReは、70nm〜180nmであるのがより好ましく、90nm〜160nmであるのがさらに好ましい。また、偏光板との貼合角度許容範囲、歩留まり、コントラストの観点から、Nz=Rth/Re+0.5で定義されるNzが0.8を超え1.5以下が斜め方向の光漏れを効果的に低減するために好ましい。第1位相差領域のNzは、0.9〜1.3であるのが好ましく、0.95〜1.2であるのがより好ましい。このような光学性能は以下に記載したフィルムの延伸処理、または液晶層塗布など一般的に公知の手法で達成することができる。
なお、本発明の液晶表示装置には、第1位相差領域が、脂環式構造含有重合体樹脂フィルムを延伸して得られた位相差層を含まない態様が含まれる。
また、配向ムラや位相差ムラの少ないものが好ましい。その厚さは、位相差等により適宜に決定しうるが、一般には薄型化の点より1〜300μmであるのが好ましく、10〜200μmであるのがより好ましく、20〜150μmであるのがさらに好ましい。
前記光学異方性層を形成する際には、液晶性分子の配向方向を規定するために、配向膜を用いることが好ましい。配向膜は、有機化合物(好ましくはポリマー)のラビング処理、無機化合物の斜方蒸着、マイクログルーブを有する層の形成、あるいはラングミュア・ブロジェット法(LB膜)による有機化合物(例、ω−トリコサン酸、ジオクタデシルメチルアンモニウムクロライド、ステアリル酸メチル)の累積のような手段で、設けることができる。さらに、電場の付与、磁場の付与あるいは光照射により、配向機能が生じる配向膜も知られている。配向膜は、ポリマーのラビング処理により形成することが好ましい。ラビング処理は、配向膜の表面を、紙や布で一定方向に、数回こすることにより実施する。長さおよび太さが均一な繊維を均一に植毛した布を用いることが好ましい。なお、光学異方性層の液晶性分子が配向膜上で配向固定化された後は、配向膜を除去しても液晶性分子の配向状態を保つことができる。すなわち、配向膜は、液晶性分子を配向させるため位相差板の製造においては必須であるが、製造された位相差板においては必須ではない。配向膜を透明支持体と光学異方性層との間に設ける場合は、さらに下塗り層(接着層)を透明支持体と配向膜との間に設けてもよい。
前記第1位相差領域を支持体上に形成してもよい。支持体は透明であるのが好ましく、具体的には、光透過率が80%以上であるのが好ましい。支持体は、波長分散が小さいのが好ましく、具体的には、Re400/Re700の比が1.2未満であることが好ましい。中でも、ポリマーフィルムが好ましい。例えば、後述する第2位相差領域である分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である置換基を含むセルロースアシレートを含むフィルムを支持体として用い、その上に、第1位相差領域である光学異方性層を形成してもよい。支持体の光学異方性は小さいのが好ましく、面内レターデーション(Re)が20nm以下であることが好ましく、10nm以下であることがさらに好ましく、5nm以下であることが最も好ましい。
本発明において、第2位相差領域は、厚み方向のレターデーションRthが−200nm〜−50nmであり、−180〜−60nmであるのが好ましく、−150〜−70nmであるのがより好ましい。また、前記第2位相差領域の面内のレターデーションReは、50nm以下であり、0〜30nmであるのが好ましく、0〜10nmであるのがより好ましい。
本発明に用いるセルロース誘導体の置換基の末端間距離及び分極率異方性はGaussian03(Revision B.03、米ガウシアン社ソフトウェア)を用いて計算した。末端間距離はB3LYP/6−31G*レベルの計算で構造最適化した後、最も離れた原子間の距離として算出した。分極率異方性はB3LYP/6−31G*レベルで最適化された構造を用いて、3LYP/6−311+G**レベルで分極率を計算し、得られた分極率テンソルを対角化した後、対角成分より算出した。本発明における置換基の末端間距離および分極率異方性の計算においては、セルロース誘導体の構成単位であるβ−グルコース環上の水酸基に連結する置換基を、水酸基の酸素原子を含む部分構造にて計算して求めた。
数式(1):Δα=αx−(αy+αz)/2
(式中、αx、αy、αzは分極率テンソルを対角化後に得られる固有値であり、αx≧αy≧αzである。)
上記アラルキル基の炭素原子数は、7乃至20であることが好ましく、7乃至12であることがさらに好ましい。アラルキル基の例には、ベンジル、フェネチルおよびナフチルメチルが含まれる。上記アルコキシカルボニル基の炭素原子数は、1乃至20であることが好ましく、2乃至12であることがさらに好ましい。アルコキシカルボニル基の例には、メトキシカルボニルが含まれる。上記アリールオキシカルボニル基の炭素原子数は、7乃至20であることが好ましく、7乃至12であることがさらに好ましい。アリールオキシカルボニル基の例には、フェノキシカルボニルが含まれる。上記アラルキルオキシカルボニル基の炭素原子数は、8乃至20であることが好ましく、8乃至12であることがさらに好ましい。アラルキルオキシカルボニル基の例には、ベンジルオキシカルボニルが含まれる。上記カルバモイル基の炭素原子数は、1乃至20であることが好ましく、1乃至12であることがさらに好ましい。カルバモイル基の例には、(無置換)カルバモイルおよびN−メチルカルバモイルが含まれる。上記スルファモイル基の炭素原子数は、20以下であることが好ましく、12以下であることがさらに好ましい。スルファモイル基の例には、(無置換)スルファモイルおよびN−メチルスルファモイルが含まれる。上記アシルオキシ基の炭素原子数は、1乃至20であることが好ましく、2乃至12であることがさらに好ましい。アシルオキシ基の例には、アセトキシおよびベンゾイルオキシが含まれる。
本発明において、芳香族アシル基の置換度はセルロース脂肪酸モノエステルの場合、残存する水酸基に対して2.0以下、好ましくは0.1〜2.0、さらに好ましくは0.1〜1.0である。また、セルロース脂肪酸ジエステル(二酢酸セルロース)の場合、残存する水酸基に対して1.0以下、好ましくは0.1〜1.0である。また、セルロースアシレートの総置換度PAは2.4〜3であるのが好ましい。
本発明に用いるセルロースアシレートフィルムを作製するにあたっては、上述のようにフィルム中のセルロースアシレートが面内および膜厚方向に配向するのを抑制して光学異方性を低下させる化合物のうち、オクタノール−水分配係数(logP値)が0ないし7である化合物が好ましい。logP値が7以下である化合物は、セルロースアシレートとの相溶性に優れ、フィルムの白濁や粉吹きを生じにくい。また、logP値が0以上である化合物は親水性が適切であり、セルロースアセテートフィルムの耐水性を向上させる。logP値としてさらに好ましい範囲は1ないし6であり、特に好ましい範囲は1.5ないし5である。
オクタノール−水分配係数(logP値)の測定は、JIS日本工業規格Z7260−107(2000)に記載のフラスコ浸とう法により実施することができる。また、オクタノール−水分配係数(logP値)は実測に代わって、計算化学的手法あるいは経験的方法により見積もることも可能である。計算方法としては、Crippen’s fragmentation法(J.Chem.Inf.Comput.Sci.,27,21(1987).)、Viswanadhan’s fragmentation法(J.Chem.Inf.Comput.Sci.,29,163(1989).)、Broto’s fragmentation法(Eur.J.Med.Chem.−Chim.Theor.,19,71(1984).)などが好ましく用いられるが、Crippen’s fragmentation法(J.Chem.Inf.Comput.Sci.,27,21(1987).)がより好ましい。ある化合物のlogPの値が測定方法あるいは計算方法により異なる場合に、該化合物が本発明の範囲内であるかどうかは、Crippen’s fragmentation法により判断することが好ましい。
Rthを低下させる化合物は、好ましくは、25℃で液体であるか、融点が25〜250℃の固体であり、さらに好ましくは、25℃で液体であるか、融点が25〜200℃の固体である。また光学異方性を低下させる化合物は、セルロースアシレートフィルム作製のドープ流延、乾燥の過程で揮散しないことが好ましい。
Rthを低下させる化合物は、単独で用いても、2種以上化合物を任意の比で混合して用いてもよい。
光学異方性を低下させる化合物を添加する時期はドープ作製工程中の何れであってもよく、ドープ調製工程の最後に行ってもよい。
本発明に好ましく用いられる波長分散調整剤の具体例としては、例えばベンゾトリアゾール系化合物、ベンゾフェノン系化合物、シアノ基を含む化合物、オキシベンゾフェノン系化合物、サリチル酸エステル系化合物、ニッケル錯塩系化合物などが挙げられるが、本発明はこれら化合物だけに限定されるものではない。
であり、より好ましくは5ないし6員の含窒素芳香族ヘテロ環であり、例えば、イミダゾール、ピラゾール、トリアゾール、テトラゾール、チアゾール、オキサゾール、セレナゾール、ベンゾトリアゾール、ベンゾチアゾール、ベンズオキサゾール、ベンゾセレナゾール、チアジアゾール、オキサジアゾール、ナフトチアゾール、ナフトオキサゾール、アザベンズイミダゾール、プリン、ピリジン、ピラジン、ピリミジン、ピリダジン、トリアジン、トリアザインデン、テトラザインデン等があげられ、更に好ましくは、5員の含窒素芳香族ヘテロ環であり、具体的にはイミダゾール、ピラゾール、トリアゾール、テトラゾール、チアゾール、オキサゾール、ベンゾトリアゾール、ベンゾチアゾール、ベンズオキサゾール、チアジアゾール、オキサジアゾールが好ましく、特に好ましくは、ベンゾトリアゾールである。
Q1で表される含窒素芳香族ヘテロ環は更に置換基を有してもよく、置換基としては後述の置換基Tが適用できる。また、置換基が複数ある場合にはそれぞれが縮環して更に環を形成してもよい。
芳香族炭化水素環として好ましくは(好ましくは炭素数6〜30の単環または二環の芳香族炭化水素環(例えばベンゼン環、ナフタレン環などが挙げられる。)であり、より好ましくは炭素数6〜20の芳香族炭化水素環、更に好ましくは炭素数6〜12の芳香族炭化水素環である。)更に好ましくはベンゼン環である。
芳香族ヘテロ環として好ましくは窒素原子あるいは硫黄原子を含む芳香族ヘテロ環である。ヘテロ環の具体例としては、例えば、チオフェン、イミダゾール、ピラゾール、ピリジン、ピラジン、ピリダジン、トリアゾール、トリアジン、インドール、インダゾール、プリン、チアゾリン、チアゾール、チアジアゾール、オキサゾリン、オキサゾール、オキサジアゾール、キノリン、イソキノリン、フタラジン、ナフチリジン、キノキサリン、キナゾリン、シンノリン、プテリジン、アクリジン、フェナントロリン、フェナジン、テトラゾール、ベンズイミダゾール、ベンズオキサゾール、ベンズチアゾール、ベンゾトリアゾール、テトラザインデンなどが挙げられる。芳香族ヘテロ環として好ましくは、ピリジン、トリアジン、キノリンである。
Q2であらわされる芳香族環として好ましくは芳香族炭化水素環であり、より好ましくはナフタレン環、ベンゼン環であり、特に好ましくはベンゼン環である。Q2は更に置換基を有してもよく、後述の置換基Tが好ましい。
一般式(101−A)
R1およびR3として好ましくは水素原子、アルキル基、アルケニル基、アルキニル基、アリール基、置換または無置換のアミノ基、アルコキシ基、アリールオキシ基、ヒドロキシ基、ハロゲン原子であり、より好ましくは水素原子、アルキル基、アリール基、アルキルオキシ基、アリールオキシ基、ハロゲン原子であり、更に好ましくは水素原子、炭素1〜12アルキル基であり、特に好ましくは炭素数1〜12のアルキル基(好ましくは炭素数4〜12)である。
一般式(101−B)
一般式(102)
Q1およびQ2で表される芳香族炭化水素環として好ましくは(好ましくは炭素数6〜30の単環または二環の芳香族炭化水素環(例えばベンゼン環、ナフタレン環などが挙げられる。)であり、より好ましくは炭素数6〜20の芳香族炭化水素環、更に好ましくは炭素数6〜12の芳香族炭化水素環である。)更に好ましくはベンゼン環である。
Q1およびQ2で表される芳香族ヘテロ環として好ましくは酸素原子、窒素原子あるいは硫黄原子のどれかひとつを少なくとも1つ含む芳香族ヘテロ環である。ヘテロ環の具体例としては、例えば、フラン、ピロール、チオフェン、イミダゾール、ピラゾール、ピリジン、ピラジン、ピリダジン、トリアゾール、トリアジン、インドール、インダゾール、プリン、チアゾリン、チアゾール、チアジアゾール、オキサゾリン、オキサゾール、オキサジアゾール、キノリン、イソキノリン、フタラジン、ナフチリジン、キノキサリン、キナゾリン、シンノリン、プテリジン、アクリジン、フェナントロリン、フェナジン、テトラゾール、ベンズイミダゾール、ベンズオキサゾール、ベンズチアゾール、ベンゾトリアゾール、テトラザインデンなどが挙げられる。芳香族ヘテロ環として好ましくは、ピリジン、トリアジン、キノリンである。
Q1およびQ2であらわされる芳香族環として好ましくは芳香族炭化水素環であり、より好ましくは炭素数6〜10の芳香族炭化水素環であり、更に好ましくは置換または無置換のベンゼン環である。
Q1およびQ2は更に置換基を有してもよく、後述の置換基Tが好ましいが、置換基にカルボン酸やスルホン酸、4級アンモニウム塩を含むことはない。また、可能な場合には置換基同士が連結して環構造を形成してもよい。
一般式(102−A)
一般式(102−B)
R10として好ましくは置換または無置換のアルキル基であり、より好ましくは炭素数5〜20の置換または無置換のアルキル基であり、更に好ましくは炭素数5〜12の置換または無置換のアルキル基(n−ヘキシル基、2−エチルヘキシル基、n−オクチル基、n−デシル基、n-ドデシル基、ベンジル基、などが挙げられる。)であり、特に好ましくは、炭素数6〜12の置換または無置換のアルキル基(2−エチルヘキシル基、n−オクチル基、n−デシル基、n−ドデシル基、ベンジル基)である。
以下に一般式(102)で表される化合物の具体例を挙げるが、本発明は下記具体例に何ら限定されるものではない。
一般式(103)
Q1およびQ2は更に置換基を有してもよく、後述の置換基Tが好ましい。置換基Tとしては例えばアルキル基(好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜12、特に好ましくは炭素数1〜8であり、例えばメチル、エチル、iso−プロピル、tert−ブチル、n−オクチル、n−デシル、n−ヘキサデシル、シクロプロピル、シクロペンチル、シクロヘキシルなどが挙げられる。)、アルケニル基(好ましくは炭素数2〜20、より好ましくは炭素数2〜12、特に好ましくは炭素数2〜8であり、例えばビニル、アリル、2−ブテニル、3−ペンテニルなどが挙げられる。)、アルキニル基(好ましくは炭素数2〜20、より好ましくは炭素数2〜12、特に好ましくは炭素数2〜8であり、例えばプロパルギル、3−ペンチニルなどが挙げられる。)、アリール基(好ましくは炭素数6〜30、より好ましくは炭素数6〜20、特に好ましくは炭素数6〜12であり、例えばフェニル、p−メチルフェニル、ナフチルなどが挙げられる。)、置換又は未置換のアミノ基(好ましくは炭素数0〜20、より好ましくは炭素数0〜10、特に好ましくは炭素数0〜6であり、例えばアミノ、メチルアミノ、ジメチルアミノ、ジエチルアミノ、ジベンジルアミノなどが挙げられる。)、アルコキシ基(好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜12、特に好ましくは炭素数1〜8であり、例えばメトキシ、エトキシ、ブトキシなどが挙げられる。)、アリールオキシ基(好ましくは炭素数6〜20、より好ましくは炭素数6〜16、特に好ましくは炭素数6〜12であり、例えばフェニルオキシ、2−ナフチルオキシなどが挙げられる。)、アシル基(好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜16、特に好ましくは炭素数1〜12であり、例えばアセチル、ベンゾイル、ホルミル、ピバロイルなどが挙げられる。)、アルコキシカルボニル基(好ましくは炭素数2〜20、より好ましくは炭素数2〜16、特に好ましくは炭素数2〜12であり、例えばメトキシカルボニル、エトキシカルボニルなどが挙げられる。)、アリールオキシカルボニル基(好ましくは炭素数7〜20、より好ましくは炭素数7〜16、特に好ましくは炭素数7〜10であり、例えばフェニルオキシカルボニルなどが挙げられる。)、アシルオキシ基(好ましくは炭素数2〜20、より好ましくは炭素数2〜16、特に好ましくは炭素数2〜10であり、例えばアセトキシ、ベンゾイルオキシなどが挙げられる。)、アシルアミノ基(好ましくは炭素数2〜20、より好ましくは炭素数2〜16、特に好ましくは炭素数2〜10であり、例えばアセチルアミノ、ベンゾイルアミノなどが挙げられる。)、アルコキシカルボニルアミノ基(好ましくは炭素数2〜20、より好ましくは炭素数2〜16、特に好ましくは炭素数2〜12であり、例えばメトキシカルボニルアミノなどが挙げられる。)、アリールオキシカルボニルアミノ基(好ましくは炭素数7〜20、より好ましくは炭素数7〜16、特に好ましくは炭素数7〜12であり、例えばフェニルオキシカルボニルアミノなどが挙げられる。)、スルホニルアミノ基(好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜16、特に好ましくは炭素数1〜12であり、例えばメタンスルホニルアミノ、ベンゼンスルホニルアミノなどが挙げられる。)、スルファモイル基(好ましくは炭素数0〜20、より好ましくは炭素数0〜16、特に好ましくは炭素数0〜12であり、例えばスルファモイル、メチルスルファモイル、ジメチルスルファモイル、フェニルスルファモイルなどが挙げられる。)、カルバモイル基(好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜16、特に好ましくは炭素数1〜12であり、例えばカルバモイル、メチルカルバモイル、ジエチルカルバモイル、フェニルカルバモイルなどが挙げられる。)、アルキルチオ基(好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜16、特に好ましくは炭素数1〜12であり、例えばメチルチオ、エチルチオなどが挙げられる。)、アリールチオ基(好ましくは炭素数6〜20、より好ましくは炭素数6〜16、特に好ましくは炭素数6〜12であり、例えばフェニルチオなどが挙げられる。)、スルホニル基(好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜16、特に好ましくは炭素数1〜12であり、例えばメシル、トシルなどが挙げられる。)、スルフィニル基(好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜16、特に好ましくは炭素数1〜12であり、例えばメタンスルフィニル、ベンゼンスルフィニルなどが挙げられる。)、ウレイド基(好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜16、特に好ましくは炭素数1〜12であり、例えばウレイド、メチルウレイド、フェニルウレイドなどが挙げられる。)、リン酸アミド基(好ましくは炭素数1〜20、より好ましくは炭素数1〜16、特に好ましくは炭素数1〜12であり、例えばジエチルリン酸アミド、フェニルリン酸アミドなどが挙げられる。)、ヒドロキシ基、メルカプト基、ハロゲン原子(例えばフッ素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子)、シアノ基、スルホ基、カルボキシル基、ニトロ基、ヒドロキサム酸基、スルフィノ基、ヒドラジノ基、イミノ基、ヘテロ環基(好ましくは炭素数1〜30、より好ましくは1〜12であり、ヘテロ原子としては、例えば窒素原子、酸素原子、硫黄原子、具体的には例えばイミダゾリル、ピリジル、キノリル、フリル、ピペリジル、モルホリノ、ベンゾオキサゾリル、ベンズイミダゾリル、ベンズチアゾリルなどが挙げられる。)、シリル基(好ましくは、炭素数3〜40、より好ましくは炭素数3〜30、特に好ましくは、炭素数3〜24であり、例えば、トリメチルシリル、トリフェニルシリルなどが挙げられる)などが挙げられる。これらの置換基は更に置換されてもよい。また、置換基が二つ以上ある場合は、同じでも異なってもよい。また、可能な場合には互いに連結して環を形成してもよい。
一般式(103-A)
一般式(103-B)
一般式(103-C)
なお、前述した様に、分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である置換基を含むセルロースアシレートを含むフィルムのみで前記第2位相差領域に要求される光学特性を満たすこともできるが、本発明には、前記第2位相差領域が、他の複屈折性フィルムや位相差膜を含む態様も含まれる。
偏光膜用保護膜としては、可視光領域に吸収が無く、光透過率が80%以上であり、複屈折性に基づくレターデーションが小さいものが好ましい。具体的には、面内のレターデーションReが0〜30nmが好ましく、0〜15nmがより好ましく、0〜5nmが最も好ましい。さらに、厚み方向のレターデーションRthは−40nm〜40nmであることが好ましく、−20nm〜20nmがより好ましく、−10nm〜10nmであることが最も好ましい。この特性を有するフィルムであれば好適に用いることができるが、偏光膜の耐久性の観点からはセルロースアシレートやノルボルネン系のフィルムがより好ましい。セルロースアシレートフィルムのRthを小さくする方法として、特開平11−246704号公報、特開2001−247717号公報、特願2003−379975号明細書に記載の方法などが挙げられる。また、セルロースアシレートフィルムの厚みを小さくすることによっても、Rthを小さくすることができる。第1及び第2偏光膜用保護膜としてのセルロースシレートフィルムの厚みは10〜100μmであることが好ましく、10〜60μmであるのがより好ましく、20〜45μmであることがさらに好ましい。
本発明は、偏光膜と光学補償機能を有する第1及び第2位相差膜が一体化されて作製された、偏光板一体型補償フィルムに関する。本発明の偏光板一体型光学補償フィルムを用いることで、より簡易な構成で、液晶表示装置の視野角特性を改善できる。また、本発明の偏光板一体型光学補償フィルムは、ロールツーロールで長尺状に作製し、その後所望の大きさに裁断して、液晶表示装置に組み込むことができるので、簡易な工程で作製可能であり、液晶表示装置の生産性の改善にも寄与する。
一枚のガラス基板上に、図1に示す様に、隣接する電極間の距離が20μmとなるように電極(図1中2及び3)を配設し、その上にポリイミド膜を配向膜として設け、ラビング処理を行った。図1中に示す方向4に、ラビング処理を行った。別に用意した一枚のガラス基板の一方の表面にポリイミド膜を設け、ラビング処理を行って配向膜とした。二枚のガラス基板を、配向膜同士を対向させて、基板の間隔(ギャップ;d)を3.9μmとし、二枚のガラス基板のラビング方向が反平行となるようにして重ねて貼り合わせ、次いで屈折率異方性(Δn)が0.0769及び誘電率異方性(Δε)が正の4.5であるネマティック液晶組成物を封入した。液晶層のd・Δnの値は300nmであった。
ITO電極付ガラス基板上ポリイミド膜を配向膜として設け、ラビング処理を行なった。この基板を2枚製作し、配向膜同士を対向させて、基板の間隔(ギャップ;d)を1.9μmとし、二枚のガラス基板のラビング方向が平行となるようにして重ねて貼り合わ、次いで屈折率異方性(Δn)が0.15及び自発分極(Ps)が12nCcm-2である強誘電性液晶組成物を封入した。液晶層のd・Δnの値は280nmであった。
ポリカーボネートのペレットをメチレンクロライドに溶解し、金属製のバンド上に流延し、続いて乾燥することにより厚さ80μmのポリカーボネートフィルムを得た。ポリカーボネートフィルムを170℃の温度条件で横一軸テンター延伸機を用いて幅方向に3.5%、及び4.5%の一軸延伸を行い、それぞれ長さ500mの第1位相差領域1、及び第1位相差領域2を得た。さらにこの厚さ80μmのポリカーボネートフィルムを、170℃の温度条件で長手方向に3.5%、幅方向に1%の二軸延伸を行い、長さ500mの第1位相差領域3を得た。続いてこの厚さ80μmのポリカーボネートフィルムを、170℃の温度条件で長手方向に及び4.5%の一軸延伸を行い、長さ500mの第1位相差領域4を得た。さらに、厚さ100μmのロール状のノルボルネン系ポリマーフィルム(アートン、JSR(株)製)を長手方向に、温度180℃で連続的に延伸し、長さ500mの第1位相差領域5を得た。
市販のノルボルネン系フィルム(商品名「ゼオノア」、日本ゼオン(株)製)を170℃の温度条件で横一軸テンター延伸機を用いて幅方向に1.25倍の延伸処理を行った後に、クリップ保持部分を切り落として巻き取り、第1位相差領域7を得た。
市販のノルボルネン系フィルム(商品名「アートン」、JSR(株)製)フィルムを横一軸テンター延伸機を用いて、145℃の温度条件で幅方向に1.27倍の延伸処理を行った。このときフィルムの搬送テンションを調整して長さ方向には3%収縮するようにした。延伸処理後に、クリップ保持部分を切り落として巻き取り、第1位相差領域8を得た。
特開2005−352138の実施例に記載されたセルロースアシレートフィルムS6と同様の方法で作製し、第1位相差領域9を得た。
下記に従い、ロール状の第2位相差領域A〜Eを作製した。
(セルロースアシレートの調製)
表1に記載のアシル基の種類、置換度の異なるセルロースアシレートを下記の方法により合成した。分極率異方性Δαは上述の方法にしたがって測定した。本発明のセルロースアシレートは、アルドリッチ社製セルロースアセテート(アセチル置換度2.45)もしくはダイセル社製セルロースアセテート(アセチル置換度2.41(商品名:L−70)、2.14(商品名:LM−80))を出発原料として、対応する酸クロリドとの反応により得ることができる。
メカニカルスターラー、温度計、冷却管、滴下ロートをつけた1Lの三ツ口フラスコにアサロン酸(2,4,5−トリメトキシ安息香酸)106.1g、トルエン400mlを量り取り、80℃で攪拌した。ここに40.1mLの塩化チオニルをゆっくりと滴下し、添加後さらに80℃にて2時間攪拌した。反応後、アスピレーターを用いて反応溶媒を溜去すると白色固体が得られた。得られた白色固体にヘキサン300mlを加えて激しく攪拌・分散し、吸引ろ過により白色固体をろ別し、さらに大量のヘキサンで3回洗浄を行った。得られた白色固体を60℃で4時間真空乾燥することにより目的のアサロン酸クロリドを白色粉体として得た。(115.3g、収率99%)
メカニカルスターラー、温度計、冷却管、滴下ロートをつけた1Lの三ツ口フラスコにアルドリッチ社製セルロースアセテート(アセチル置換度2.45)40g、ピリジン46.0ml、塩化メチレン300mlを量り取り、室温で攪拌した。ここに合成例1のアサロン酸クロリド84.0gを数回に分割して粉体添加し、添加後さらに室温にて6時間攪拌した。反応後、反応溶液をメタノール4Lへ激しく攪拌しながら投入すると、白桃色固体が析出した。白桃色固体を吸引ろ過によりろ別し、大量のメタノールで3回洗浄を行った。得られた白桃色固体を60℃で終夜乾燥した後、90℃で6時間真空乾燥することにより目的の化合物を白桃色粉体として得た。得られたサンプルについて、置換度の測定はC13−NMRにおけるアシル基中のカルボニル炭素のピーク強度から置換度を求めた。
メカニカルスターラー、温度計、冷却管、滴下ロートをつけた1Lの三ツ口フラスコにアルドリッチ社製セルロースアセテート(アセチル置換度2.45)40g、ピリジン46.0ml、塩化メチレン300mlを量り取り、室温で攪拌した。ここに62.4mLのベンゾイルクロリドをゆっくりと滴下し、添加後さらに室温にて6時間攪拌した。反応後、反応溶液をメタノール4Lへ激しく攪拌しながら投入すると、白色固体が析出した。白色固体を吸引ろ過によりろ別し、大量のメタノールで3回洗浄を行った。得られた白色固体を60℃で終夜乾燥した後、90℃で6時間真空乾燥することにより目的の化合物を白色粉体として得た。合成例2と同様にして置換度を求めた。
メカニカルスターラー、温度計、冷却管、滴下ロートをつけた1Lの三ツ口フラスコにダイセル社製セルロースアセテート(アセチル置換度2.41)40g、ピリジン46.0ml、塩化メチレン300mlを量り取り、室温で攪拌した。ここに62.4mLのベンゾイルクロリドをゆっくりと滴下し、添加後さらに室温にて4時間攪拌した。反応後、反応溶液をメタノール4Lへ激しく攪拌しながら投入すると、白色固体が析出した。白色固体を吸引ろ過によりろ別し、大量のメタノールで3回洗浄を行った。得られた白色固体を60℃で終夜乾燥した後、90℃で6時間真空乾燥することにより目的の化合物を白色粉体として得た。
ベンゾイルクロリドを添加後の攪拌時間を長くしたこと以外は合成例4と同様にしてセルロースアシレート4を白色粉体として得た。
合成例2のセルロースアシレート1を120℃で2時間乾燥させた後、下記に記載の組成物をミキシングタンクに投入し、加熱しながら攪拌して各成分を溶解し、セルロースアシレート溶液を調製した。
メチレンクロライド 261質量部
メタノール 39質量部
トリフェニルホスフェート 5.9質量部
ビフェニルジフェニルホスフェート 5.9質量部
セルロースアシレート1 100質量部
2酸化ケイ素微粒子 0.25質量部
=====================================
なお、攪拌には、15m/sec(剪断応力5×104kgf/m/sec2)の周速で攪拌するディゾルバータイプの偏芯攪拌軸および中心軸にアンカー翼を有して周速1m/sec(剪断応力1×104kgf/m/sec2)で攪拌する攪拌軸を用いた。膨潤は、高速攪拌軸を停止し、アンカー翼を有する攪拌軸の周速を0.5m/secとして実施した。
このようにして得られたセルロースアシレート溶液を、絶対濾過精度0.01mmの濾紙(#63、東洋濾紙(株)製)で濾過し、さらに絶対濾過精度2.5μmの濾紙(FH025、ポール社製)にて濾過してセルロースアシレート溶液を得た。
流延部から50cm手前で、流延して回転してきたセルロースアシレートフィルムをバンドから剥ぎ取り、テンターでフィルム両端を把持した。フィルム幅を徐々に狭めながら110℃のテンター部を搬送し、フィルムを把持した時の幅の98%になるようにしてテンターから離脱させた。フィルム両端のクリップ跡部分を切り取った後、複数のパスロールからなる135℃〜140℃の乾燥部にフィルムを通して残留溶媒量が0.2%以下になるように乾燥させた。このようにして長尺状で膜厚90μmの第2位相差領域Aを得た。
得られた第2位相差領域Aについて、自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器(株)社製)を用いて、レターデーションの光入射角度依存性を測定し、光学特性を算出した。結果を表2に示した。
合成例3のセルロースアシレート2を120℃で2時間乾燥させた後、下記に記載の組成物をミキシングタンクに投入し、加熱しながら攪拌して各成分を溶解し、セルロースアセテート溶液を調製した。素材投入、攪拌は第2位相差領域Aの作製と同様に行った。
メチレンクロライド 285質量部
メタノール 15質量部
トリフェニルホスフェート 7.0質量部
ビフェニルジフェニルホスフェート 3.5質量部
セルロースアシレート2 100質量部
2酸化ケイ素微粒子 0.25質量部
=====================================
第2位相差領域Bで作製したセルロースアシレート溶液を30℃に加温し、完成膜厚を65μmにしたこと以外は第2位相差領域Bと同様にして第2位相差領域Cを作製した。得られた第2位相差領域Cについて自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器(株)社製)を用いて、レターデーションの光入射角度依存性を測定し、光学特性を算出した。結果を表2に示した。
合成例4のセルロースアシレート3を120℃で2時間乾燥させた後、下記に記載の組成物をミキシングタンクに投入し、加熱しながら攪拌して各成分を溶解し、セルロースアセテート溶液を調製した。素材投入、攪拌は第2位相差領域Aの作製と同様に行った。
メチレンクロライド 261質量部
メタノール 39質量部
下記に示す化合物 12.0質量部
セルロースアシレート3 100質量部
2酸化ケイ素微粒子 0.25質量部
=====================================
合成例4のセルロースアシレート3を120℃で2時間乾燥させた後、下記に記載の組成物をミキシングタンクに投入し、加熱しながら攪拌して各成分を溶解し、セルロースアセテート溶液を調製した。素材投入、攪拌は第2位相差領域Aの作製と同様に行った。
メチレンクロライド 285質量部
メタノール 15質量部
エチルフタリルエチルグリコレート 2.4質量部
トリフェニルホスフェート 9.0質量部
ビフェニルジフェニルホスフェート 5.9質量部
セルロースアシレート3 100質量部
2酸化ケイ素微粒子 0.25質量部
=====================================
流延部から50cm手前で、流延して回転してきたセルロースアシレートフィルムをバンドから剥ぎ取り、テンターでフィルム両端を把持した。フィルム幅を一定に保持しながら、110℃のテンター部を搬送した。テンターから離脱し、フィルム両端のクリップ跡部分を切り取った後、複数のパスロールからなる135℃〜145℃の乾燥部にフィルムを通して残留溶媒量が0.1%以下になるように乾燥させた。乾燥後に巻き芯に巻きつけ、長尺状で膜厚80μmの第2位相差領域Eを得た。
自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器(株)社製)を用いて、レターデーションの光入射角度依存性を測定し、光学特性を算出した。結果を表2に示した。
合成例5のセルロースアシレート4を120℃で2時間乾燥させた後、下記に記載に記載の組成物をミキシングタンクに投入し、攪拌して溶解し、セルロースアシレート溶液を調製した。
メチレンクロライド 335質量部
トリフェニルホスフェート 7.9質量部
ビフェニルジフェニルホスフェート 3.8質量部
セルロースアシレート4 100質量部
2酸化ケイ素微粒子 0.25質量部
=====================================
流延部から50cm手前で、流延して回転してきたセルロースアシレートフィルムをバンドから剥ぎ取り、テンターでフィルム両端を把持した。フィルム幅を1.03倍になるようにテンターパターンを調整し、110℃のテンター部を搬送した。テンターから離脱し、フィルム両端のクリップ跡部分を切り取った後、複数のパスロールからなる135℃〜145℃の乾燥部にフィルムを通して残留溶媒量が0.1%以下になるように乾燥させた。乾燥後に巻き芯に巻きつけ、長尺状で膜厚115μmの第2位相差領域Fを得た。
自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器(株)社製)を用いて、レターデーションの光入射角度依存性を測定し、光学特性を算出した。結果を表2に示した。
完成厚みを70μmとし、テンター保持後にフィルム幅を一定になるように調整したこと以外は第2位相差領域Eと同様にして作製し長尺状の第2位相差領域Gを得た。
自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器(株)社製)を用いて、レターデーションの光入射角度依存性を測定し、光学特性を算出した。結果を表2に示した。
合成例5のセルロースアシレート4を120℃で2時間乾燥させた後、下記に記載に記載の組成物をミキシングタンクに投入し、攪拌して溶解し、セルロースアシレート溶液を調製した。
メチレンクロライド 291質量部
メタノール 44質量部
セルロースアシレート4 100質量部
2酸化ケイ素微粒子 0.25質量部
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流延部から50cm手前で、流延して回転してきたセルロースアシレートフィルムをバンドから剥ぎ取り、テンターでフィルム両端を把持した。フィルム幅を一定に保持しながら、110℃のテンター部を搬送した。テンターから離脱し、フィルム両端のクリップ跡部分を切り取った後、複数のパスロールからなる135℃〜145℃の乾燥部にフィルムを通して残留溶媒量が0.1%以下になるように乾燥させた。乾燥後に巻き芯に巻きつけ、長尺状で膜厚80μmの第2位相差領域Gを得た。
自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器(株)社製)を用いて、レターデーションの光入射角度依存性を測定し、光学特性を算出した。結果を表2に示した。
完成厚みを50μmとしたこと以外は第2位相差領域Hと同様にして作製し長尺状の第2位相差領域Iを得た。
自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器(株)社製)を用いて、レターデーションの光入射角度依存性を測定し、光学特性を算出した。結果を表2に示した。
完成厚みを167μmとしたこと以外は第2位相差領域Hと同様にして作製し長尺状の第2位相差領域Iを得た。
自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器(株)社製)を用いて、レターデーションの光入射角度依存性を測定し、光学特性を算出した。結果を表2に示した。
合成例5のセルロースアシレート4を120℃で2時間乾燥させた後、下記に記載に記載の組成物をミキシングタンクに投入し、攪拌して溶解し、セルロースアシレート溶液を調製した。
メチレンクロライド 308質量部
メタノール 27質量部
トリフェニルホスフェート 3.8質量部
ビフェニルジフェニルホスフェート 1.9質量部
セルロースアシレート4 100質量部
2酸化ケイ素微粒子 0.25質量部
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自動複屈折率計(KOBRA−21ADH、王子計測機器(株)社製)を用いて、レターデーションの光入射角度依存性を測定し、光学特性を算出した。結果を表2に示した。
合成例4のセルロースアシレート3を120℃で2時間乾燥させた後、下記に記載の組成物をミキシングタンクに投入し、加熱しながら攪拌して各成分を溶解し、セルロースアセテート溶液を調製した。素材投入、攪拌は第2位相差領域Aの作製と同様に行った。
メチレンクロライド 285質量部
メタノール 15質量部
トリフェニルホスフェート 10.0質量部
ビフェニルジフェニルホスフェート 5.0質量部
セルロースアシレート2 100質量部
2酸化ケイ素微粒子 0.25質量部
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ヨウ素水溶液中で連続して染色した厚さ80μmのロール状ポリビニルアルコールフィルムを搬送方向に5倍延伸し、乾燥して長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面に、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックTFY80UF、富士写真フイルム(株)製)を、もう一方の面に、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックT40UZ、富士写真フイルム(株)製、厚さ40μm、Re=1nm、Rth=35nm)を、ポリビニルアルコール系接着剤を用いて連続して貼り合わせた。さらに前述の第1位相差領域1を接着剤を用いて、T40UZの上に連続して貼り合わせた。続いて、この第1位相差領域1側に前述の第2位相差領域Cを接着剤を用いて連続して貼り合わせて長さ500mの長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム1を作製した。偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であり、第1位相差領域1の遅相軸はフィルム長手方向に対して直交していた。
このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム1の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板1を10枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になる(第1位相差領域1の遅相軸と直交する)ように行った。
上述と同様にして長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面に、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックTD80UF、富士写真フイルム(株)製)を、もう一方の面に、ケン化処理した上述の第2位相差領域Eを、ポリビニルアルコール系接着剤を用いて連続して貼り合わせた。さらに前述の第1位相差領域2を接着剤を用いて、第2位相差領域Eの上に連続して貼り合わせた。続いて、この第1位相差領域2側に前述のフィルムA(第2位相差領域)を接着剤を用いて連続して貼り合わせて長さ500mの長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム2を作製した。偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であり、第1位相差領域2の遅相軸はフィルム長手方向に対して直交していた。
このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム2の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板2を10枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
上述と同様にして長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の両面に、ケン化処理したフジタックTD80UFを用いて連続して貼り合わせた。さらに前述の第1位相差領域3を接着剤を用いてフジタックTD80UFの上に連続して貼り合わせた。続いて、この第1位相差領域3側に第2位相差領域Aと第2位相差領域Bを接着剤を用いて連続して貼り合わせて長さ500mの長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム3を作製した。偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であり、第一位相差領域の遅相軸はフィルム長手方向に対して直交していた。なお、AとBのReおよびRthの光学特性には加成性が認められ、フィルムAとBの積層体のReは−3nmであり、Rthは−150nmであると推定される。
このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム3の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板3を10枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
上述と同様にして長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面に、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックTD80UF、富士写真フイルム(株)製)を、もう一方の面に第2位相差領域Bと第2位相差領域Dを用いて連続して貼り合わせた。さらに前述の第1位相差領域5を接着剤を用いて第2位相差領域Dの上に連続して貼り合わせて長さ500mの長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム4を作製した。偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であり、第1位相差領域5の遅相軸はフィルム長手方向に対して平行であった。なお、第2位相差領域Bと第2位相差領域DのReおよびRthの光学特性には加成性が認められ、BとDの積層体のReは0nmであり、Rthは−97nmであると推定される。
このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム4の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板4を10枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
上述と同様にして長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面に、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックTD80UF、富士写真フイルム(株)製)を、もう一方の面に第2位相差領域Aを用いて連続して貼り合わせた。さらに前述の第1位相差領域4を接着剤を用いて第2位相差領域Aの上に連続して貼り合わせて長さ500mの長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム5を作製した。偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であり、第1位相差領域4の遅相軸はフィルム長手方向に対して平行であった。
このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム5の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板5を20枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
(第1位相差領域6の形成)
上記フィルムAの表面をケン化後、このフィルムを搬送しながら、フィルム上に下記の組成の配向膜塗布液をワイヤーバーコーターで20ml/m2塗布した。60℃の温風で60秒、さらに100℃の温風で120秒乾燥し、膜を形成した。次に、形成した膜にフィルムの長手方向と平行の方向にラビング処理を施して配向膜を形成した。
配向膜塗布液の組成
下記の変性ポリビニルアルコール 10質量部
水 371質量部
メタノール 119質量部
グルタルアルデヒド 0.5質量部
―――――――――――――――――――――――――――――――――
下記の棒状液晶化合物 38.4質量%
下記の増感剤 0.38質量%
下記の光重合開始剤 1.15質量%
下記の空気界面水平配向剤 0.06質量%
メチルエチルケトン 60.0質量%
―――――――――――――――――――――――――――――――――
上述と同様にして長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面に、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックTD80UF、富士写真フイルム(株)製)を、もう一方の面にこの第1位相差領域6を形成した第2位相差領域Aを、第2位相差領域Aと偏光膜が接するようにして連続して貼り合わせて長さ500mの長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム6を作製した。偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であり、第1位相差領域の遅相軸はフィルム長手方向に対して平行であった。
このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム6の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板6を10枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
幅を650mmにしたこと以外は上述と同様にして長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面に、裁断して680mm幅とし、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックTF80UL、富士写真フイルム(株)製)、もう一方の面に第2位相差領域Fを水溶性接着剤を用いて貼り合せて乾燥させた。
さらに第1位相差領域8を接着剤を用いて第2位相差領域Fの上に連続して貼り合わせて長さ500mの長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム7を作製した。偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であり、第1位相差領域8の遅相軸はフィルム長手方向に対して平行であった。
このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム7の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板7を10枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
第2位相差領域Fの代わりに第2位相差領域Gを用い、第1位相差領域8の代わりに第1位相差領域5を用いたこと以外は偏光板一体型光学補償フィルム7と同様にして偏光板一体型光学補償フィルム8を作製した。このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム8の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板7を10枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
第2位相差領域Fの代わりに第2位相差領域Hを用いたこと以外は偏光板一体型光学補償フィルム7と同様にして偏光板一体型光学補償フィルム9を作製した。このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム9の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板7を10枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
偏光板一体型光学補償フィルム7と同様にして長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面に、裁断して680mm幅とし、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックTFY80UL、富士写真フイルム(株)製)、もう一方の面に第2位相差領域Iを水溶性接着剤を用いて貼り合せて乾燥させた。
さらに市販の位相差フィルム(ピュアエースWRF 帝人(株)製)を接着剤を用いて第2位相差領域Iの上に連続して貼り合わせて長さ500mの長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム10を作製した。偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であり、第1位相差領域8の遅相軸はフィルム長手方向に対して平行であった。
偏光板一体型光学補償フィルム7と同様にして長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面に、裁断して680mm幅とし、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックTFY80UL、富士写真フイルム(株)製)、もう一方の面に第2位相差領域Jを水溶性接着剤を用いて貼り合せて乾燥させた。
さらに680mm幅に裁断し、けん化処理を施した第1位相差領域9を水溶性接着剤を用いて第2位相差領域Jの偏光子と反対側の面に貼り合せて乾燥させて長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム11を作製した。偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であり、第1位相差領域8の遅相軸はフィルム長手方向に対して平行であった。
第2位相差領域Fの代わりに第2位相差領域Kを用い、第1位相差領域8の代わりに第1位相差領域7を用いたこと以外は偏光板一体型光学補償フィルム7と同様にして偏光板一体型光学補償フィルム12を作製した。このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム8の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板7を10枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
偏光板一体型光学補償フィルム1と同様にして長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面にけん化処理を施したセルロースアセテートフィルム(TF80UL、富士写真フイルム(株)製)、他方の面に第2位相差領域Dを水溶性粘着剤を用いて貼り合せ、偏光板一体型光学補償フィルム13を得た。
第2位相差領域Fの代わりに第2位相差領域Lを用いたこと以外は偏光板一体型光学補償フィルム7と同様にして偏光板一体型光学補償フィルム8を作製した。このロール状の偏光板一体型光学補償フィルム8の任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの積層偏光板7を10枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
ヨウ素水溶液中で連続して染色した厚さ80μmのロール状ポリビニルアルコールフィルムを搬送方向に5倍延伸し、乾燥して長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の両面に、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックT40UZ、富士写真フイルム(株)製、厚さ40μm、Re=1nm、Rth=35nm)を、ポリビニルアルコール系接着剤を用いて連続して貼り合わせ、長さ500mの偏光板Aを作製した。
偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であった。
このロール状偏光板Aの任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの偏光板Aを20枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
ヨウ素水溶液中で連続して染色した厚さ80μmのロール状ポリビニルアルコールフィルムを搬送方向に5倍延伸し、乾燥して長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面に、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックTD80UF、富士写真フイルム(株)製)を、もう一方の面にフィルムEとを、ポリビニルアルコール系接着剤を用いて連続して貼り合わせ、長さ500mの偏光板Bを作製した。偏光膜の吸収軸はフィルム長手方向に対して平行であった。
このロール状偏光板Bの任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの偏光板Aを50枚得た。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。
<液晶表示装置1の作製>
作製したIPSモード液晶セルの一方に、上記作製した積層偏光板1をその吸収軸を液晶セルのラビング方向(黒表示時の液晶分子の遅相軸方向)に直交に、即ち透過軸を黒表示時の液晶分子の遅相軸方向に平行に、第2位相差領域が液晶セル側になるように貼り付けた。続いて、液晶セルのもう一方の側に上記作製した偏光板Aをクロスニコルの配置で貼り付け、液晶表示装置1を作製した。
さらに作製した液晶表示装置の漏れ光を測定した。測定はまず、暗室内に設置されたシャーカステン上に、偏光板を貼り合わせない状態で上記IPSモード液晶セルを置き、液晶セルのラビング方向を基準として左方向に45度の方位で、且つ液晶セル法線方向から方向60°の方向に1m離れたところに設置された輝度計で輝度1を測定した。
次いで、上記と同じシャーカステン上に上記液晶表示装置1を同様に配置して、暗表示の状態で同様に輝度2を測定し、これを輝度1に対する100分率で表したものを漏れ光とした。測定した漏れ光の、良品10台の平均値は0.09%であった。
<液晶表示装置2の作製>
作製したIPSモード液晶セルの一方に、上記作製した積層偏光板2をその吸収軸を液晶セルのラビング方向(黒表示時の液晶分子の遅相軸方向)に直交に、第2位相差領域が液晶セル側になるように貼り付けた。続いて、液晶セルのもう一方の側に上記作製した偏光板Bをクロスニコルの配置で貼り付け、液晶表示装置2を作製した。
上記液晶表示装置2を10台作製した。10台の液晶表示装置2のうちの不良品の発生台数は0台であった。さらに、実施例1と同様な方法で漏れ光を測定したところ、良品10台の平均値は0.06%であった。
<液晶表示装置3の作製>
作製したIPSモード液晶セルの一方に、上記作製した積層偏光板3をその吸収軸を液晶セルのラビング方向(黒表示時の液晶分子の遅相軸方向)に直交に、第2位相差領域が液晶セル側になるように貼り付けた。続いて、液晶セルのもう一方の側に上記作製した偏光板Bをクロスニコルの配置で貼り付け、液晶表示装置3を作製した。
上記液晶表示装置3を10台作製した。10台の液晶表示装置3のうち、不良品の発生台数は0台であった。さらに、実施例1と同様な方法で漏れ光を測定したところ、良品1
0台の平均値は0.06%であった。
<液晶表示装置4の作製>
作製したIPSモード液晶セルの一方に、上記作製した積層偏光板4をその吸収軸を液晶セルのラビング方向(黒表示時の液晶分子の遅相軸方向)に直交に、第1位相差領域が液晶セル側になるように貼り付けた。続いて、液晶セルのもう一方の側に上記作製した偏光板Aをクロスニコルの配置で貼り付け、液晶表示装置4を作製した。
上記液晶表示装置4を10台作製した。10台の液晶表示装置4のうちの不良品の発生台数は0台であった。さらに、実施例1と同様な方法で漏れ光を測定したところ、良品1
0台の平均値は0.12%であった。
<液晶表示装置5の作製>
作製したIPSモード液晶セルの一方に、上記作製した積層偏光板5をその吸収軸を液晶セルのラビング方向(黒表示時の液晶分子の遅相軸方向)に直交に、第1位相差領域が液晶セル側になるように貼り付けた。続いて、液晶セルのもう一方の側に上記作製した偏光板Bをクロスニコルの配置で貼り付け、液晶表示装置5を作製した。
上記液晶表示装置5を10台作製した。10台の液晶表示装置5のうちの不良品の発生台数は0台であった。さらに、実施例1と同様な方法で漏れ光を測定したところ、良品10台の平均値は0.05%であった。
<液晶表示装置6の作製>
作製した強誘電性液晶セルの一方に、上記作製した積層偏光板5をその吸収軸が液晶セルの液晶セルに直流電圧10Vを印加した場合の液晶分子の遅相軸と平行になるように(黒表示時の液晶分子の遅相軸方向に直交するように)、且つ第1位相差領域が液晶セル側になるように貼り付けた。続いて、液晶セルのもう一方の側に上記作製した偏光板Bをクロスニコルの配置で貼り付け、液晶表示装置6を作製した。
上記液晶表示装置6を10台作製した。10台の液晶表示装置6のうちの不良品の発生台数は0台であった。さらに、実施例1と同様な方法で漏れ光を測定したところ、良品10台の平均値は0.06%であった。
<液晶表示装置7の作製>
作製したIPSモード液晶セルの一方に、上記作製した積層偏光板6をその吸収軸を液晶セルのラビング方向(黒表示時の液晶分子の遅相軸方向)に直交に、第1位相差領域が液晶セル側になるように貼り付けた。続いて、液晶セルのもう一方の側に上記作製した偏光板Bをクロスニコルの配置で貼り付け、液晶表示装置7を作製した。
上記液晶表示装置7を10台作製した。10台の液晶表示装置7のうちの不良品の発生台数は0台であった。さらに、実施例1と同様な方法で漏れ光を測定したところ、良品10台の平均値は0.05%であった。
<積層偏光板7の作製>
上記作製したロール状の第1位相差領域6を形成したフィルムAの任意の部分から裁断し、20cm×20cmの大きさの位相差板16Aを10枚得た。なお、裁断は一方の辺が第1位相差領域6の遅相軸と平行になるように行った。
続いて、ヨウ素水溶液中で連続して染色した厚さ80μmのロール状ポリビニルアルコールフィルムを搬送方向に5倍延伸し、乾燥して長さ500mの偏光膜を得た。この偏光膜の一方の面に、ケン化処理したセルローストリアセテートフィルム(フジタックTD80UF、富士写真フイルム(株)製)を貼合して、20cm×20cmの大きさに10枚裁断した。なお、裁断は一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように行った。位相差板16Aの遅相軸と偏光板の吸収軸が平行になるように、フィルムA側が偏光膜側になるようにして位相差板16Aと偏光板を貼り合せ、積層偏光板7とし、これを10枚作製した。
<液晶表示装置8の作製>
作製したIPSモード液晶セルの一方に、上記作製した積層偏光板7をその吸収軸が液晶セルのラビング方向(黒表示時の液晶分子の遅相軸方向)と直交するように、第1位相差領域が液晶セル側になるように貼り付けた。続いて、液晶セルのもう一方の側に上記作製した偏光板Bをクロスニコルの配置で貼り付け、液晶表示装置8を作製した。
上記液晶表示装置8を10台作製し、実施例1と同様にして調べた不良品の発生台数は3台であった。さらに、左斜め方向60°方向での漏れ光を測定したところ、良品7台の平均値は0.11%であった。この結果から、一旦長尺状の偏光板一体型光学補償フィルムとし、その後、裁断して作製したほうが、偏光板と位相差板とを各々裁断した後、積層して作製するよりも、不良品の発生が極めて少ないことがわかった。
<液晶表示装置9の作製>
実施例1と同様に作製したIPSモード液晶セルの両方に、20cm×20cmの大きさで、一方の辺が偏光膜の吸収軸と平行になるように裁断した市販の偏光板(HLC2−5618、(株)サンリッツ製)をクロスニコルの配置で貼り付け、液晶表示装置9を作製した。
上記液晶表示装置9を10台作製し、実施例1と同様にして調べた不良品の発生台数は0台であった。さらに、実施例1と同様な方法で漏れ光を測定したところ、良品10台の平均値は0.55%であった。
<液晶表示装置10の作製>
市販のIPS液晶表示装置(37Z1000 東芝(株)製)のパネルのフロント側の偏光板を剥離し、上記で作製した偏光板一体型光学補償フィルム7を位相差領域が液晶セル側になるように粘着シートを用いて貼り合せた。本発明で作製した偏光板の吸収軸は、剥離した製品の偏光板の吸収軸の方向と合わせた。また、貼り合わせた後、50℃5気圧でオートクレーブ処理を施しIPS液晶セルを用いた液晶表示装置10を作製した。
上記液晶表示装置10を10台作製した。10台の液晶表示装置10のうちの不良品の発生台数は0台であった。さらに、実施例1と同様な方法で漏れ光を測定したところ、良品10台の平均値は0.05%であった。
<液晶表示装置11〜15の作製>
偏光板一体型光学補償フィルム7の代わりに偏光板一体型光学補償フィルム8〜12を用いたこと以外は液晶表示装置10と同様にして液晶表示装置11〜15を作製した。液晶表示装置10の評価と同様にして不良品の発生台数を調べたところ、発生台数はいずれも0台であった。またモレ光を測定したところ、液晶表示装置11、13は0.04%、液晶表示装置12、15は0.05%、液晶表示装置14は0.06%であった。
<液晶表示装置16の作製>
市販のIPS液晶表示装置(37Z1000 東芝(株)製)のパネルのリア側の偏光板を剥離し、上記で作製した偏光板一体型光学補償フィルム13を位相差領域が液晶セル側になるように粘着シートを用いて貼り合せた。本発明で作製した偏光板の吸収軸は、剥離した製品の偏光板の吸収軸の方向と合わせた。また、貼り合わせた後、50℃5気圧でオートクレーブ処理を施しIPS液晶セルを用いた液晶表示装置16を作製した。
上記液晶表示装置16を10台作製した。10台の液晶表示装置10のうちの不良品の発生台数は0台であった。さらに、実施例1と同様な方法で漏れ光を測定したところ、良品10台の平均値は0.07%であった。
<液晶表示装置17の作製>
偏光板一体型光学補償フィルム7の代わりに偏光板一体型光学補償フィルム14を用いたこと以外は液晶表示装置10と同様にして液晶表示装置17を作製した。液晶表示装置10の評価と同様にして不良品の発生台数を調べたところ、発生台数は1台であった。またモレ光を測定したところ0.49%であった。
2 画素電極
3 表示電極
4 配向膜のラビング方向
5a、5b 電圧無印加または低印加状態での液晶分子の配向方向
6a、6b 電圧印加状態での液晶分子の配向方向
7a,7b、19a,19b 偏光膜用保護膜
8、20 偏光膜
9、21 偏光膜の偏光透過軸
10 第1位相差領域
11 第1位相差領域の遅相軸
12 第2位相差領域
13、17 基板
14、18 ラビング処理方向
15 液晶層
16 液晶層の遅相軸方向
Claims (18)
- 少なくとも、(A)長手方向に平行な吸収軸を有する長尺状の偏光膜、(B)下記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である芳香族アシル基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、厚み方向のレターデーションRthが−300nm〜−40nmで、面内のレターデーションReが50nm以下であり、且つ光学軸がフィルム面内に含まれない長尺状の第2位相差膜、及び前記偏光膜と前記第2位相差膜との間に、(C)長手方向に実質的に直交する遅相軸を有する長尺状の第1位相差膜を有する長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム。
式(1) : Δα=αx−(αy+αz)/2
(式中、αx、αy、αzは分極率テンソルを対角化後に得られる固有値であり、αx≧αy≧αzを満足する) - 少なくとも、(A)長手方向に平行な吸収軸を有する長尺状の偏光膜、(B)下記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である芳香族アシル基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、厚み方向のレターデーションRthが−300nm〜−40nmで、面内のレターデーションReが50nm以下であり、且つ光学軸がフィルム面内に含まれない長尺状の第2位相差膜、及び(C)長手方向に実質的に平行な遅相軸を有する長尺状の第1位相差膜を、前記偏光膜、前記第2位相差膜及び第1位相差膜の順で配置した長尺状の偏光板一体型光学補償フィルム。
式(1) : Δα=αx−(αy+αz)/2
(式中、αx、αy、αzは分極率テンソルを対角化後に得られる固有値であり、αx≧αy≧αzを満足する) - 前記第1位相差膜のReが60nm〜200nmであり、第1位相差膜のNz=Rth/Re+0.5で定義されるNz値が0.8を超え1.5以下である請求項1又は2に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
- 少なくとも、第1偏光膜と、第1位相差領域と、第2位相差領域と、液晶層及び該液晶層を挟持する一対の基板を含む液晶セルと、第2偏光膜とを含み、黒表示時に該液晶層の液晶分子が前記一対の基板の表面に対して平行に配向する液晶表示装置であって、前記第2位相差領域の厚み方向のレターデーションRthが−300nm〜−40nmで、前記第1位相差領域は、面内のレターデーションReが60nm〜200nmで、Nz=Rth/Re+0.5で定義される第1位相差領域のNz値が0.8を超え1.5以下で、且つ面内のレターデーションReが50nm以下であって、前記第2位相差領域は、下記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である芳香族アシル基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、且つ前記第1偏光膜の透過軸が、黒表示時の液晶分子の遅相軸方向に平行である液晶表示装置。
式(1) : Δα=αx−(αy+αz)/2
(式中、αx、αy、αzは分極率テンソルを対角化後に得られる固有値であり、αx≧αy≧αzを満足する) - 前記第1偏光膜、第1位相差領域、第2位相差領域及び液晶セルが、この順序で配置され、且つ前記第1位相差領域の遅相軸が、第1偏光膜の透過軸に平行である請求項4に記載の液晶表示装置。
- 前記第1偏光膜、第2位相差領域、第1位相差領域及び液晶セルが、この順序で配置され、且つ第1位相差領域の遅相軸が、第1偏光膜の透過軸に直交である請求項4に記載の液晶表示装置。
- 前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち少なくとも液晶層に近い側の保護膜の厚み方向のレターデーションRthが−40nm〜40nmである請求項4〜6のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち少なくとも液晶層に近い側の保護膜の厚み方向のレターデーションRthが−20nm〜20nmである請求項4〜7のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち少なくとも液晶層に近い側の保護膜の厚みが60μm以下である請求項4〜8のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記第1偏光膜及び第2偏光膜の少なくとも一方を挟んで配置された一対の保護膜を有し、該一対の保護膜のうち液晶層に近い側の保護膜がセルロースアシレートフィルム又はノルボルネン系フィルムである請求項4〜9のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記第1位相差領域又は前記第2位相差領域が前記第1偏光膜に隣接してなる請求項4〜10のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記液晶セルの一対の基板のうち視認側と反対側の基板により近い位置に、他の膜を介することなく前記第1位相差領域及び前記第2位相差領域が配置されている請求項4〜11のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記セルロースアシレートフィルムが延伸処理されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
- 前記セルロースアシレートフィルムのアシル基の総置換度PAが2.4以上3.0以下であり、芳香族アシル基の置換度が0.1以上1.0以下であることを特徴とする請求項1、2、3、又は13に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
- Rthを低下させる化合物を少なくとも1種、セルロースアシレート固形分に対して0.01〜30質量%含むことを特徴とする請求項1、2、3、13、又は14に記載の偏光板一体型光学補償フィルム。
- 前記第2位相差領域は、前記式(1)で表される分極率異方性Δαが2.5×10−24cm 3 以上である芳香族アシル基を含むセルロースアシレートフィルムを含み、前記セルロースアシレートフィルムが延伸処理されていることを特徴とする請求項4〜12のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
- 前記セルロースアシレートフィルムのアシル基の総置換度PAが2.4以上3.0以下であり、芳香族アシル基の置換度が0.1以上1.0以下であることを特徴とする請求項4〜12、16のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
- Rthを低下させる化合物を少なくとも1種、セルロースアシレート固形分に対して0.01〜30質量%含むことを特徴とする請求項4〜12、16、17のいずれか一項に記載の液晶表示装置。
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