JP4874961B2 - 散乱放射線のための補正を有するx線検出器 - Google Patents
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Description
− フィルタ要素の後の位置における第2強度信号から補間信号を決定する段階であって、フィルタ要素は第1センサ要素の延長された照射方向の後に位置付けられている、段階と、
− 補間された強度信号から、照射方向において前に位置付けられている第1センサ要素の第1強度信号から及びフィルタ要素の縮小パラメータからその位置における散乱放射線の割合を計算する段階と、
− 先行する段階において計算された散乱放射線の割合から第2センサ要素についてフィルタ要素の後の散乱放射線の割合を決定する段階と、
− フィルタ要素の後の散乱放射線の計算された割合により第2強度信号を補正する段階と、
− 補正された第2強度信号に基づいて画像生成する段階と、
を有する方法に関する。
(a)I1=P1−SE1+S1−SE1の
(b)I2−int=α*P1−SE1+β*S1−SE1=P2−SE1+S2−SE1
ここで、P2−SE1=α*P1−SE1及びS2−SE1=β*S1−SE1であり、α及びβは既知の縮小パラメータである。全てのq個の第2センサ要素についての第2強度信号における散乱放射線S2−SE2の割合は、第1センサ要素の後の照射方向の延長上のフィルタ要素の後の全てのm個の位置についてのm個の計算された値S2−SE1(ボックス20)からの補間及び/又は外挿により決定される。m=1の特定の場合については、散乱放射線S2−SE2の割合を決定することは、データマトリクスS2−SE1−SE1の全ての残りのq個の値についてのS2−SE1の定数の転送を意味するとして理解される。散乱放射線の割合についてのデータマトリクスS2−SE1−SE2は、ここでは、全てのn個のセンサ要素についてのn個の値を有し(ボックス21)、それらの全てのn個のセンサ要素は、m=1の特定の場合には、全て同じである。画像計算のためのフィルタ要素の後の第2強度浸透の補正(ボックス22)は、データマトリクスI2−SE1−SE2(ボックス18)の対応するn個の値からデータマトリクスS2−SE1−SE2(ボックス21)のn個の値の減算を有する。画像は、このとき、補正されたn個の強度データI2′により生成される(ボックス23)。
Claims (8)
- 全放射線に対して照射方向を有する一次放射線の割合及び散乱放射線の割合を有するX線の強度を決定するX線検出器であって、
前記X線の前記強度における前記散乱放射線の前記割合を減少させるために備えられているフィルタ要素と、
前記フィルタ要素から前記X線が出てくる前に前記X線を第1強度信号に変換するために、前記フィルタ要素に固定された少なくとも1つの第1センサ要素と、
前記X線の第2強度信号への変換のために備えられ、照射方向の延長上に備えられている第2センサ要素と、
を有するX線検出器であり、
前記第1センサ要素は、前記第1センサ要素の後に位置付けられた第2センサ要素への信号導通結合のために備えられ、前記第2センサ要素は、前記第1強度信号を送信するために備えられている、
X線検出器。 - 請求項1に記載のX線検出器であって、グラスファイバー材料又はレンズ系が前記信号導通結合のために備えられている、X線検出器。
- 請求項1に記載のX線検出器であって、前記第1センサ要素は、前記フィルタ要素に反転できるように固定され、そして信号導通状態で前記第2センサ要素に反転できるように結合され、前記第2センサ要素は前記照射方向の延長上に前記第1センサ要素の後に位置付けられている、X線検出器。
- 請求項1に記載のX線検出器であって、前記第1センサ要素は変換層を有し、照射方向において見える前記変換層の表面は、前記フィルタ要素と同じレベルか又はそのレベルより前に位置付けられている、X線検出器。
- 請求項4に記載のX線検出器であって、前記変換層の前記表面はドーム形状の幾何学的構造である、X線検出器。
- 請求項4に記載のX線検出器であって、2つの第1センサ要素を有し、前記2つの第1センサ要素の表面ケースは異なる幾何学的構造により異なる、X線検出器。
- 請求項1乃至6の何れか一項に記載のX線検出器及び画像生成ユニットを有するX線装置であって、前記画像生成ユニットは、第1強度信号を用いて前記第2強度信号を補正するために備えられている、X線装置。
- 請求項7に記載のX線装置における画像生成で実施される方法であって、
前記フィルタ要素の後の位置における第2強度信号から補間強度信号を決定する段階であって、前記フィルタ要素は延長された照射方向において前記第1センサ要素の後に位置付けられている、段階と、
前記補間強度信号から、照射方向においてフィルタ要素の前に位置付けられている前記第1センサ要素の前記第1強度信号から及び前記フィルタ要素の縮小パラメータから、前記位置における前記散乱放射線の割合を計算する段階と、
先行する段階で計算された前記散乱放射線の前記割合から前記第2センサ要素について前記フィルタ要素の後の前記散乱放射線の前記割合を決定する段階と、
前記フィルタ要素の後の前記散乱放射線の前記計算された割合により前記第2強度信号を補正する段階と、
前記補正された第2強度信号により画像生成する段階と、
を有する方法。
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US10631815B2 (en) * | 2017-05-10 | 2020-04-28 | General Electric Company | Scatter correction technique for use with a radiation detector |
CN107833820A (zh) * | 2017-11-30 | 2018-03-23 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种新型单通道x射线二极管探测系统 |
CN108918559B (zh) * | 2018-07-28 | 2021-08-17 | 北京纳米维景科技有限公司 | 一种实现图像自校正的x射线图像探测器及其方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000023963A (ja) * | 1998-02-19 | 2000-01-25 | Advanced Optical Technol Inc | 二元エネルギ―x線撮像のための装置および方法 |
US6408049B1 (en) * | 1999-11-09 | 2002-06-18 | General Electric Company | Apparatus, methods, and computer programs for estimating and correcting scatter in digital radiographic and tomographic imaging |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4963746A (en) * | 1986-11-25 | 1990-10-16 | Picker International, Inc. | Split energy level radiation detection |
US5138167A (en) * | 1991-01-23 | 1992-08-11 | University Of Alabama - Birmingham | Split energy radiation detection |
US5263075A (en) * | 1992-01-13 | 1993-11-16 | Ion Track Instruments, Inc. | High angular resolution x-ray collimator |
US5550378A (en) * | 1993-04-05 | 1996-08-27 | Cardiac Mariners, Incorporated | X-ray detector |
US5648997A (en) | 1995-12-29 | 1997-07-15 | Advanced Optical Technologies, Inc. | Apparatus and method for removing scatter from an x-ray image |
US5668851A (en) * | 1996-06-21 | 1997-09-16 | Analogic Corporation | X-ray Tomography system with stabilized detector response |
US6285740B1 (en) * | 1999-10-13 | 2001-09-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy | Dual energy x-ray densitometry apparatus and method using single x-ray pulse |
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US6470072B1 (en) * | 2000-08-24 | 2002-10-22 | General Electric Company | X-ray anti-scatter grid |
GB0101121D0 (en) | 2001-01-16 | 2001-02-28 | Sensormetrics | Radiography apparatus and a radiation sensor for measuring a radiation dose |
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DE10136946A1 (de) * | 2001-07-28 | 2003-02-06 | Philips Corp Intellectual Pty | Streustrahlenraster für eine Röntgeneinrichtung |
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Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000023963A (ja) * | 1998-02-19 | 2000-01-25 | Advanced Optical Technol Inc | 二元エネルギ―x線撮像のための装置および方法 |
US6408049B1 (en) * | 1999-11-09 | 2002-06-18 | General Electric Company | Apparatus, methods, and computer programs for estimating and correcting scatter in digital radiographic and tomographic imaging |
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