JP4873441B2 - 高エネルギー粒子発生方法及び高エネルギー粒子発生装置 - Google Patents

高エネルギー粒子発生方法及び高エネルギー粒子発生装置 Download PDF

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本発明は、レーザー光線を利用した高エネルギー粒子の発生方法及び高エネルギー粒子発生装置に関する。
現在、超短パルス高強度レーザーのレーザー光線を金属箔やプラスチックフィルム等の試料の表面に瞬間的に集光することで高エネルギー粒子を容易に生成できることが知られており、それによって得られた高エネルギー粒子を利用した材料劣化診断、レーザー核融合、癌治療などへの応用が期待されている。しかし、これらへの応用を考慮すると、レーザー装置自体を小型化することができる低エネルギーレーザー光線などを用いて、効率よく高エネルギー粒子が得られるようにする必要がある。
低エネルギーレーザー光線から高エネルギー粒子を得るためには、レーザー光線の焦点距離の短い集光ミラーを用いて、できるだけレーザー光線を小さく絞り、そのエネルギー密度を高める技術が重要となる。そのような技術の一つとして、例えば、特許文献1に示される高エネルギー粒子発生装置が知られている。しかし、このような高エネルギー粒子発生装置は単にレーザー光線を集光させて高エネルギー粒子を発生させるものであり、どのように集光させたレーザー光線を用いれば効率よく最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させることができるかが不明であるという問題があった(特許文献1参照)。
特開2004−191124号公報(図1)
本発明は、このような事情に鑑み、集光ミラーにレーザー光線を入射させる際に用いる可変形鏡の形状を最適化することによって、高エネルギー粒子を発生させるようにレーザー光線を集光させることができる高エネルギー粒子発生方法及び高エネルギー粒子発生装置を提供することを課題とする。
前記課題を解決するための本発明の第1の態様は、レーザー光線を反射させる鏡面と当該鏡面に接続される複数のアクチュエータとを具備すると共に当該アクチュエータに電圧を印加することより前記鏡面の形状が変形する可変形鏡と、前記レーザー光線を集光する集光手段により集光させられた前記レーザー光線により電離可能な試料と、前記レーザー光線により前記試料から発生した高エネルギー粒子を検出する固体飛跡検出手段とが真空容器内に設けられた高エネルギー粒子発生装置を用いて高エネルギー粒子を発生させる高エネルギー粒子発生方法において、前記固体飛跡検出手段がマイクロチャンネルプレートであり、当該固体飛跡検出手段により検出されたデータに基づいて最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させるように遺伝的アルゴリズムを用いて前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせを最適化することを特徴とする高エネルギー粒子発生方法にある。
かかる第1の態様では、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を生成するようなレーザー光線を反射させることができるように可変形鏡の鏡面の形状を最適化することができる。
本発明の第2の態様は、第1の態様において、前記遺伝的アルゴリズムは、前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせから前記鏡面の形状を特定する染色体を複数生成する第1の生成工程と、前記染色体に対応した前記高エネルギー粒子発生装置を用いて発生させた高エネルギー粒子を前記固体飛跡検出手段によって検出する検出工程と、
前記固体飛跡検出手段により検出された前記高エネルギー粒子のエネルギーに基づいて前記染色体を評価することにより、前記染色体に対しランクを付与する付与工程と、前記ランクが付与された染色体が収束条件を満たしているか否かを判定する判定工程と、前記ランクが付与された染色体に対し、前記付与されたランクに基づいて前記遺伝的アルゴリズムによる遺伝子操作を行ない、これにより新たな世代の染色体を生成する第2の生成工程とを具備し、まず前記第1の生成工程により生成される染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を順に実行し、前記判定工程により前記染色体が収束条件を満たさないと判定された場合に、以後収束条件を満たすと判定されるまで、前記第2の生成工程により生成される新たな世代の染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を繰り返し実行することを特徴とする高エネルギー粒子発生方法にある。
かかる第2の態様では、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を生成するようなレーザー光線を反射させることができるように可変形鏡の鏡面の形状をより容易に最適化することができる。
本発明の第3の態様は、レーザー光線を反射させる鏡面と当該鏡面に接続される複数のアクチュエータとを具備すると共に当該アクチュエータに電圧を印加することより前記鏡面の形状が変形する可変形鏡と、前記レーザー光線を集光する集光手段により集光させられた前記レーザー光線により電離可能な試料と、前記レーザー光線により前記試料から発生した高エネルギー粒子を検出するCR39と、前記高エネルギー粒子が発生した際に生ずるX線を測定するシンチレーション検出器又はX線フォトダイオードとが真空容器内に設けられた高エネルギー粒子発生装置を用いて高エネルギー粒子を発生させる高エネルギー粒子発生方法において、
前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードにより測定されたデータに基づいて最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させるように遺伝的アルゴリズムを用いて前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせを最適化することを特徴とする高エネルギー粒子発生方法にある。
かかる第3の態様では、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を生成するようなレーザー光線を反射させることができるように可変形鏡の鏡面の形状を最適化することができる。
本発明の第4の態様は、第3の態様において、前記遺伝的アルゴリズムは、前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせから前記鏡面の形状を特定する染色体を複数生成する第1の生成工程と、前記染色体に対応した前記高エネルギー粒子発生装置を用いて発生させた高エネルギー粒子を前記固体飛跡検出手段によって検出する検出工程と、前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードにより測定される電圧のピークピーク値を評価することにより、前記染色体に対しランクを付与する付与工程と、前記ランクが付与された染色体が収束条件を満たしているか否かを判定する判定工程と、前記ランクが付与された染色体に対し、前記付与されたランクに基づいて前記遺伝的アルゴリズムによる遺伝子操作を行ない、これにより新たな世代の染色体を生成する第2の生成工程とを具備し、まず前記第1の生成工程により生成される染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を順に実行し、前記判定工程により前記染色体が収束条件を満たさないと判定された場合に、以後収束条件を満たすと判定されるまで、前記第2の生成工程により生成される新たな世代の染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を繰り返し実行することを特徴とする高エネルギー粒子発生方法にある。
かかる第4の態様では、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を生成するようなレーザー光線を反射させることができるように可変形鏡の鏡面の形状をより容易に最適化することができる。
本発明の第5の態様は、レーザー光線を反射させる鏡面と当該鏡面に接続される複数のアクチュエータとを具備すると共に当該アクチュエータに電圧を印加することより前記鏡面の形状が変形する可変形鏡と、当該可変形鏡によって反射された前記レーザー光線を反射することによって集光させる軸外し放物面鏡と、当該軸外し放物面鏡により集光させられた前記レーザー光線により電離可能な試料と、前記レーザー光線により前記試料から発生した高エネルギー粒子を検出する固体飛跡検出手段とが真空容器内に設けられた高エネルギー粒子発生装置であって、前記固体飛跡検出手段がマイクロチャンネルプレートであり、前記複数のアクチュエータと前記固体飛跡検出手段とに接続されると共に前記固体飛跡検出手段により検出されたデータに基づいて前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせを遺伝的アルゴリズムを用いて最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させるように最適化する遺伝的アルゴリズム最適化手段を具備することを特徴とする高エネルギー粒子発生装置にある。
かかる第5の態様では、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を生成するようなレーザー光線を反射させることができるように可変形鏡の鏡面の形状を最適化した高エネルギー粒子発生装置を提供することができる。
本発明の第の態様は、レーザー光線を反射させる鏡面と当該鏡面に接続される複数のアクチュエータとを具備すると共に当該アクチュエータに電圧を印加することより前記鏡面の形状が変形する可変形鏡と、当該可変形鏡によって反射された前記レーザー光線を反射することによって集光させる軸外し放物面鏡と、当該軸外し放物面鏡により集光させられた前記レーザー光線により電離可能な試料と、前記レーザー光線により前記試料から発生した高エネルギー粒子を検出するCR39と、前記高エネルギー粒子が発生した際に生ずるX線を測定するシンチレーション検出器又はX線フォトダイオードとが真空容器内に設けられた高エネルギー粒子発生装置であって、前記複数のアクチュエータと前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードとに接続されると共に前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードに測定されたデータに基づいて前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせを遺伝的アルゴリズムに基づいて決定する遺伝的アルゴリズム最適化手段を具備することを特徴とする高エネルギー粒子発生装置にある。
かかる第の態様では、リアルタイムで、シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードによって高エネルギー粒子を検出できると共に最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を生成するようなレーザー光線を反射させることができるように可変形鏡の鏡面の形状を最適化した高エネルギー粒子発生装置を提供することができ、さらにCR39により発生する高エネルギー粒子をより正確に検出することができる。
本発明の第の態様は、第の態様において、前記遺伝的アルゴリズム最適化手段が、
前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせから前記鏡面の形状を特定する染色体を複数生成する第1の生成工程と、前記染色体に対応した前記高エネルギー粒子発生装置を用いて発生させた高エネルギー粒子を前記固体飛跡検出手段によって検出する検出工程と、前記固体飛跡検出手段により検出された前記高エネルギー粒子のエネルギーに基づいて前記染色体を評価することにより、前記染色体に対しランクを付与する付与工程と、前記ランクが付与された染色体が収束条件を満たしているか否かを判定する判定工程と、前記ランクが付与された染色体に対し、前記付与されたランクに基づいて前記遺伝的アルゴリズムによる遺伝子操作を行ない、これにより新たな世代の染色体を生成する第2の生成工程とを具備し、まず前記第1の生成工程により生成される染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を順に実行し、前記判定工程により前記染色体が収束条件を満たさないと判定された場合に、以後収束条件を満たすと判定されるまで、前記第2の生成工程により生成される新たな世代の染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を繰り返し実行することを特徴とする高エネルギー粒子発生装置にある。
かかる第の態様では、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を生成するようなレーザー光線を反射させることができるように可変形鏡の鏡面の形状をより容易に最適化できる高エネルギー粒子発生装置を提供することができる。
本発明の第の態様は、第の態様において、前記遺伝的アルゴリズム最適化手段が、前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせから前記鏡面の形状を特定する染色体を複数生成する第1の生成工程と、前記染色体に対応した前記高エネルギー粒子発生装置を用いて発生させた高エネルギー粒子を前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードによって検出する検出工程と、前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードにより測定される電圧のピークピーク値を評価することにより、前記染色体に対しランクを付与する付与工程と、前記ランクが付与された染色体が収束条件を満たしているか否かを判定する判定工程と、前記ランクが付与された染色体に対し、前記付与されたランクに基づいて前記遺伝的アルゴリズムによる遺伝子操作を行ない、これにより新たな世代の染色体を生成する第2の生成工程とを備え、まず前記第1の生成工程により生成される染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を順に実行し、前記判定工程により前記染色体が収束条件を満たさないと判定された場合に、以後収束条件を満たすと判定されるまで、前記第2の生成工程により生成される新たな世代の染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を繰り返し実行することを特徴とする高エネルギー粒子発生装置にある。
かかる第の態様では、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を生成するようなレーザー光線を反射させることができるように可変形鏡の鏡面の形状をより容易に最適化できる高エネルギー粒子発生装置を提供することができる。
本発明の第の態様は、第5〜8の何れかの態様において、前記試料が巻き取り可能なテープ状の形状を有し、前記真空容器内に前記試料を巻き取る試料巻き取り手段をさらに設けることを特徴とする高エネルギー粒子発生装置にある。
かかる第の態様では、レーザー光線を照射して高エネルギー粒子を発生させた後、試料を所定の距離だけ巻き取ることで試料の別の部分にレーザー光線を照射させることができるので、連続して高エネルギー粒子を発生させることができる。
本発明の第10の態様は、第5〜9の何れかの態様において、前記各アクチュエータが複数の部材からなり、前記鏡面に接続された前記部材を着脱できることを特徴とする高エネルギー粒子発生装置にある。
かかる第10の態様では、鏡面が損傷などした場合には、鏡面とその鏡面に接続された部材とを交換することにより、アクチュエータを交換することなく、鏡面を交換することができる。
本発明の第11の態様は、第5〜10の何れかの態様において、前記真空容器内に前記試料に付着した水分及び油分を除去する水分等除去手段をさらに設けることを特徴とする高エネルギー粒子発生装置にある。
かかる第11の態様では、試料に水分や油分などが付着していると高エネルギープロトンが発生するので、プロトン以外の高エネルギー粒子を発生させたい場合には、水分等除去手段によってそれらを除去することにより高エネルギープロトンの発生を防止することができる。
本発明の第12の態様は、第5〜11の何れかの態様において、前記レーザー光線が超短パルスレーザー光線又はフェムト秒レーザー光線であることを特徴とする高エネルギー粒子発生装置にある。
かかる第12の態様では、より低エネルギーのレーザー光線から高エネルギー粒子を発生させることができる。
本発明の第13の態様は、第12の態様において、前記超短パルスレーザー光線又はフェムト秒レーザー光線のパルスの形状及びエネルギーと、前記試料とに対して、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させるように前記超短パルスレーザー光線又はフェムト秒レーザー光線の集光径を最適化することを特徴とする高エネルギー粒子発生装置にある。
かかる第13の態様では、超短パルスレーザー光線又はフェムト秒レーザー光線のパルスの形状及びエネルギーと、前記試料とに対して、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させるようにパルスレーザー光線の集光径を最適化することができる。
本発明は、集光ミラーにレーザー光線を入射させる際に用いる可変形鏡の鏡面の形状を最適化することによって、高エネルギー粒子を発生させるようにレーザー光線を集光させることができる高エネルギー粒子発生方法及び高エネルギー粒子発生装置を提供することができる。
以下、図面を用いて本発明を実施するための最良の形態について説明する。なお、本実施形態の説明は例示であり、本発明の構成は以下の説明に限定されない。
(実施形態1)
図1は、本発明の実施形態1に係る高エネルギー粒子発生装置の概略図である。図1に示すように、本発明に係る高エネルギー粒子発生装置1は、パルス状のレーザー光線11を発生させるレーザー光線発振手段10と、レーザー光線11を反射する鏡面21の形状を鏡面21に接続された複数のアクチュエータ22に電圧を印加することによって変化させることができる可変形鏡(deformable mirror)20と、レーザー光線11を反射させることによって集光させる集光手段である軸外し放物面鏡(off−axis paraboloid)30と、レーザー光線11の照射により電離すると共に高エネルギー粒子を発生させるテープ状の試料40と、レーザー光線11を照射するごとに試料40を巻き取ってレーザー光線11が当たる部分をずらすことができる試料巻き取り手段41と、レーザー光線11によって発生した高エネルギー粒子を検出する固体飛跡検出手段である固体飛跡検出器(plastic nuclear track detector)50と、発生した高エネルギー粒子が有するエネルギーを測定することができる薄膜52と、複数のアクチュエータ22に印加する電圧の組み合わせを遺伝的アルゴリズムに基づいて最適化する遺伝的アルゴリズム最適化手段70とを具備し、レーザー光線発振手段10及び遺伝的アルゴリズム最適化手段70以外が真空容器である真空チャンバ60の中に設けられたものである。そして、この高エネルギー粒子発生装置1は、固体飛跡検出器50から得られたデータに基づいて、可変形鏡20の鏡面21が高エネルギー粒子を発生させる最適な鏡面21を形成するように、遺伝的アルゴリズムを用いて各アクチュエータ22に印加する電圧の組み合わせを最適化するものである。
可変形鏡20は、レーザー光線11を反射する鏡面21を変形させることができるものであれば特に限定されない。例えば図2に示すように、レーザー光線を反射する鏡面21と、鏡面21に接続される複数のアクチュエータ22とからなり、各アクチュエータ22に印加する電圧を変化させることで各アクチュエータ22を伸縮させ、鏡面21の形状を変化させることができるものなどが挙げられる。この可変形鏡20は、鏡面21と9本のアクチュエータ22とからなり、アクチュエータ22にねじ止めされるロッド23とそのロッド23の一端に塗布されるエポキシド樹脂24とを介して鏡面21とアクチュエータ22とが接続されている。このような構成とすることにより、鏡面21が損傷などした場合には、アクチュエータ22からロッド23と共にそれに接続される鏡面21を取り外した後、新たなロッド23と共にそれに接続される新たな鏡面21を取り付けることができるので、アクチュエータ22を交換することなく鏡面21を交換することができる。
図3は、図2の可変形鏡20をA方向から見た際の概略図である。ここで、鏡面21の各辺の両端、その中間点及び鏡面21の中心にあり、番号(A1〜A9)が付されている点線の円は、鏡面21と各アクチュエータ22とが接続されている位置を示す。このように鏡面21に接続される各アクチュエータ22に印加される電圧を変化させることにより、各アクチュエータ22が伸縮して可変形鏡20の鏡面21の形状を変化させることができる。アクチュエータ22は、印加される電圧によって鏡面21を変形させることができるものであれば限定されないが、例えばPb−Mg−Nbセラミック又は多結晶体で構成されているものなどが挙げられる。また、鏡面21は、使用するレーザー光線11を反射できるものであれば材質や形状は特に限定されないが、例えば金蒸着ミラー又は誘電体多層膜ミラーなどが挙げられる。
遺伝的アルゴリズム最適化手段70は、固体飛跡検出器50から得られたデータに基づいて、可変形鏡20の鏡面21が高エネルギー粒子を発生させる最適な鏡面21を形成するように、遺伝的アルゴリズムを用いて各アクチュエータ22に印加する電圧の組み合わせを最適化するように機能するものであれば特に限定されず、例えば一般的なパーソナルコンピュータなどであってもよい。なお、本実施形態では、遺伝的アルゴリズム最適化手段70は真空チャンバ60の外に設けられているが、真空チャンバ60の中に設けられてもよい。
軸外し放物面鏡30は、使用するレーザー光線11を集光できるものであれば材質や形状などは特に限定されないが、例えば鏡面21と同様に金蒸着ミラー又は誘電体多層膜ミラーなどが挙げられる。
試料40としては、レーザー光線11により目的とする高エネルギー粒子を生成させることができるものであれば材質は特に限定されず、金属やプラスチックなどであってもよい。試料40にプラスチックを用いると、プラスチックを構成するH、C、N、Oなどの高エネルギー粒子を生成させることができ、試料40にCu金属膜を用いるとCuの高エネルギー粒子を生成することができる。また、試料40の形状についてもレーザー光線11により目的とする高エネルギー粒子を生成させることができるものであれば特に限定されないが、より高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を得ることができるように、より薄いテープ状の形状を有する方が好ましい。試料40としては、具体的には、高エネルギープロトンを発生させるための厚さ7.5μmのポリイミドテープや高エネルギーのCuを発生させるためのCu金属膜などが挙げられる。ポリイミドテープのようなプラスチックからなる試料40はそれ自体にプロトンを含んでいるので、高エネルギープロトンを発生させるのに好ましい。
試料巻き取り手段41は、試料40を破損させることなく巻き取ることができるものであれば特に限定されない。試料巻き取り手段41を用いると、レーザー光線11を照射して高エネルギー粒子を発生させた後、試料40を所定の距離だけ巻き取ることにより試料40の別の部分にレーザー光線11を照射させることができるので、連続して高エネルギー粒子を発生させることができる。
固体飛跡検出器50は、発生した高エネルギー粒子を検出できるものであれば特に限定されない。固体飛跡検出器50としては、具体的には、例えば、マイクロチャンネルプレート(MCP)やCR39(長瀬ランダウア株式会社製)などが挙げられる。固体飛跡検出器50としてMCPを用いた場合には、リアルタイムに高エネルギー粒子を検出することができる。また、固体飛跡検出器50としてCR39を用いた場合には、高エネルギー粒子をより正確に検出することができる。また、図4に示すように、例えば固体飛跡検出器50であるCR39と、シンチレーション検出器又はX線フォトダイオード(XPD)51とを併用して高エネルギー粒子を検出してもよい。例えばCR39とXPD51とを併用することにより、リアルタイムでXPD51により高エネルギー粒子を検出できると共に最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を生成するようなレーザー光線を反射させることができるように可変形鏡の鏡面21の形状を最適化することができ、さらにCR39により発生する高エネルギー粒子をより正確に検出することができる。
薄膜52は、所定のエネルギー以上のエネルギーを有する粒子でないと通過することができないという機能を有するものであれば、その形状、大きさ及び材質は特に限定されない。このような薄膜52を固体飛跡検出器50と試料40との間に設けることにより、所定のエネルギー以上のエネルギーを有する粒子のみを固体飛跡検出器50で測定することができ、測定された粒子は所定のエネルギー以上のエネルギーを有することが分かる。具体的には、例えば固体飛跡検出器50としてCR39を、薄膜52として厚さが5〜10μmのCuフィルターを用いた場合には、CR39により検出された粒子は0.8〜1.3MeVのエネルギーを有することになる。なお、発生した高エネルギー粒子が有するエネルギーは、高エネルギー粒子の衝突によってCR39に生じた孔を検査することにより求めてもよい。この場合には、薄膜52であるCuフィルターを省略することができる。
真空チャンバ60は、内部の気圧が低下しても破損や形状変化が起こらないものであれば特に限定されないが、内部を10−6Torr以下に減圧できるものが好ましい。
レーザー光線発振手段10は、パルス状のレーザー光線、特に超短パルスレーザー光線又はフェムト秒レーザー光線を照射できるものであれば限定されないが、具体的には、例えばパルス幅80fsで30mJのエネルギーを有するレーザー光線を照射できるチタンサファイアレーザー装置などが挙げられる。
次に、図4に示す高エネルギー粒子発生装置1Aにおいて、固体飛跡検出器50から得られる高エネルギー粒子のデータに基づいて、遺伝的アルゴリズムを用いて可変形鏡20の鏡面21が高エネルギー粒子を発生させる最適な鏡面21を形成するように各アクチュエータ22に印加する電圧の組み合わせを最適化する方法について説明する。
本実施形態で用いる遺伝的アルゴリズムとは、生物が淘汰、染色体の交配あるいは突然変異を繰り返しながら環境適応性を上げ進化していることを数学的に模した最適化手法の一つである。
その概略は、数学的な最適化の対象とする系を決定する変数に初期値を設定しておき、最適化の目的とし、その変数から計算される評価関数を評価しつつ、変数を改善してゆくものである。遺伝的アルゴリズムでは、最適化の対象とする系を決定する変数を数列(数列を染色体、数列の一部を遺伝子という)に表し、これにより定まる系を1個体として複数の個体からなる個体群(世代)を発生させ、その数列から計算される評価関数より適応度を評価し、適応度の低い個体を減らし、その分、適応度の高い個体を増やし(淘汰)、続いて個体群より幾組かの2個体を確率的に選択し、2個体それぞれに対応した数列の一部同士を入れ替える操作(交配)を行い、あるいはその後、個体群よりいくつかの個体を確率的に選択し、その各個体に対応した数列の一部を他の数値に置き換える操作(突然変異)を行なう。
これらの操作を繰り返し続けて個体群を更新(世代の交代)してゆくと、個体群の中で適応度の高い個体の占める割合が次第に高くなってくる。そこで、適応度の高い個体の占める割合が、予め設定した限界割合を超えた場合や所定の世代数を経過した場合などを計算の終了判定条件とすることによって、最適解を得ることができる。
遺伝的アルゴリズムを用いて最適化する方法は、最適化する変数や評価関数を離散的に定義することができ、感度解析が不要であり、また局部的最適解の多い問題に対して大域的な最適解に到達する可能性を有するなど、最適化の信頼性が高いという性質を有する。
本実施形態では、各アクチュエータ22に印加する電圧を16段階に設定し、その電圧の番号を2進数で表現して遺伝子とし、その遺伝子をアクチュエータ22の番号順に並べて染色体とする。具体的には、図5に示すように、一つの枠の中に記載されている「0」又は「1」を組み合わせた4つの数値で表現される数列からなる遺伝子を、アクチュエータ22の番号順(A1〜A9)に9つ並べて一つの染色体とする。ここで、枠の上に記載されている「A1」などはその遺伝子を有するアクチュエータ22を示す。また、枠の中の数列は、本実施形態に係る各アクチュエータ22に印加できる0から最大電圧の間を16段階に設定すると共に印加する電圧が低い方から順に番号を付与し、各アクチュエータ22に印加するその電圧の番号を2進数で表示したものである。例えば、A1の「0011」はA1のアクチュエータ22に下から4番目の電圧を印加することを表している。したがって、図5に示される染色体によって、各アクチュエータ22に印加する電圧の組み合わせを示すことができる。そして、このような染色体に対して遺伝子操作、すなわち交配、突然変異及び淘汰を行なうことになる。
次に、本実施形態に係る染色体の交配について説明する。本実施形態での交配とは、染色体の一部を交換することである。染色体を交配させるために、図6に示すように、2つの染色体X及びYを選択し、それらをランダムに選んだ同じ場所DでX及びYをX1、X2及びY1、Y2に分割する。そして、X2とY2とを交換することによって、図7に示すような新たな染色体X’、Y’を作成する。このようにして、染色体の交配を行うことができる。
さらに、本実施形態に係る染色体の突然変異について説明する。本実施形態での突然変異とは、染色体内のすべての数値に対して所定の確率で数値の変更を行なうことである。ここで、数値の変更とは、数値が「0」のときは「1」に、数値が「1」のときは「0」に変更することである。具体的には、図8に示すように、染色体Z内の各数値について突然変異の有無を判断し、数値Wが突然変異を起こすと判断された場合には、図9に示すように、染色体Zの数値Wの「1」を「0」に変更した新たな染色体Z’を作成する。このようにして、染色体の突然変異を行なうことができる。
次に、本実施形態に係る染色体の淘汰について説明する。本実施形態での淘汰とは、染色体が次の世代の染色体の親として選択されなくなることである。具体的には、まず、後述する評価関数を用いて複数の染色体についてランク付けを行い、そのランクに応じてランクが高い染色体は次の世代の親として選択される確率を高くし、ランクが低くなるにつれて選択される確率を低くする。そして、乱数を発生させ、その乱数に基づいて親となる染色体を選択する。すると、ランクが高い染色体が次の世代の染色体の親として選択されることが多くなり、ランクが低い染色体が次の世代の染色体の親として選択されることが少なくなるので、1つ又は複数の染色体が次の染色体の親として選択されなくなる。このようにして、染色体の淘汰を行うことができる。なお、本実施形態では、最もランクの低い染色体であっても選択される確率を0%としないので最もランクの低い染色体が淘汰されなくてもよく、また最もランクの高い染色体が次の世代の親として選択されなくてもよい。さらに、親として選択される染色体としては、同一のものが何度選択されてもよい。
次に、図4に示す本実施形態における高エネルギー粒子発生装置1Aの評価関数を説明する。本実施態様では、レーザー光線11を試料40に照射すると、レーザー光線11の電界等によって試料40の一部が電離して、電子や正イオン(原子核)等の荷電粒子が加速されると共にX線が放射される。その際に発生したX線をXPD51を用いて測定すると、図10に示すような測定結果を得ることができる。本実施形態では、図10に示すように、XPD51により測定された電圧のピークピーク値d(peak−to−valley voltage)を評価関数として用い、dを最大とするものを最適解とする。
次に、図11を参照して、図4に示す高エネルギー粒子発生装置1Aを用いた高エネルギー粒子発生方法の最適化手順を具体的に説明する。まず、15個の染色体を作成する(S1)。ここで作成される染色体は、すべての遺伝子又はその一部が重複していても、染色体が「1」のみ、又は「0」のみで表現されていてもよい。何度も世代を重ねることによって、染色体が変化していくからである。
次に、各染色体に対して、その染色体の遺伝子に対応する電圧を各アクチュエータ22に印加して可変形鏡20の鏡面21の形状を変形させ、そのときの高エネルギー粒子発生装置1にレーザー光線11を入射させて、高エネルギー粒子を発生させる(S2)。そして、その際にXPD51によって測定された電圧のピークピーク値dを算出する(S3)。すべての染色体に対してdを算出すると、そのdに基づいて、dの値が大きい順にランク付けを行なう(S4)。
次に、世代数が所定の世代数に達したか否かの判断を行なう(S5)。そして、所定の世代数、例えば世代数が100に達した場合には、この最適化を終了することになるが、その世代数に達していない場合には、以下に示すように、ランク付けされた15個の染色体の中で、最も大きなdを示した染色体をエリート染色体として保存しつつ、その他の染色体について以下に示す遺伝子操作を行なう(S6)。
まず、染色体の淘汰を行なう。具体的には、15個の染色体の中から次の世代の染色体の親となる染色体を14個選択し、選択した順に1〜14の番号を付与する。次に、その選択された染色体を順番に組み合わせて交配を行なう。具体的には、(1,2)、(3,4)、(5,6)、(7,8)、(9,10)、(11,12)、(13,14)という組み合わせを作成し、その組み合わせの染色体同士を交配させて14個の新たな世代の染色体を作成する。さらに、その新たに作成したすべての染色体に対して突然変異の操作を行なう。そして、このような遺伝子操作を行なった染色体と遺伝子操作を行なわなかったエリート染色体とを合せて、15個の新たな世代の染色体とする。
これらの遺伝子操作を決められた世代数繰り返し、最も大きなdを示す染色体を求めることによって、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させることができるような可変形鏡20の各アクチュエータ22に印加する電圧の組み合わせを求めることができる。ここで、その電圧の組み合わせを用いた高エネルギー粒子発生装置1によって発生した高エネルギー粒子が有するエネルギーについては、CR39と試料40との間に薄膜52として前述したCuフィルター設けて高エネルギー粒子を発生させ、そのCuフィルターを解析することより求めることができる。
以上、説明したように、本発明によれば、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を生成するようなレーザー光線11を反射させることができるように可変形鏡20の鏡面21の形状を最適化することができる。
(他の実施形態)
実施形態1の高エネルギー粒子発生装置1の真空チャンバ60の内に、標的に付着した水分及び油分などを除去する水分等除去手段をさらに設けてもよい。水分等除去手段によって、標的に付着した水分及び油分などを除去することができるので、水分及び油分などの存在によって発生する高エネルギープロトンの発生を防止することができる。
以下では、軸外し放物面鏡30とポリイミドフィルムとの間の焦点距離が5cmとした場合の図4に示す高エネルギー粒子発生装置1Aにおいて、レーザー光線発振手段10としてパルス幅80fsで30mJのエネルギーを有するレーザー光線11を照射できるチタンサファイアレーザー装置を、試料40として厚さ7.5μmのポリイミドフィルムを、固体飛跡検出器50としてCR39を用いて高エネルギープロトンを発生させた。また、高エネルギー粒子発生装置1Aにおいて発生する高エネルギー粒子が有するエネルギーについては、ポリイミドフィルムとCR39との間に薄膜52として前述した5〜10μmのCuフィルターを設けることによって測定した。
なお、本実施例では、1世代の染色体数を15個、計算を終了する染色体の世代数を100とし、突然変異が発生する確率を3%とした。また、染色体の淘汰の際に用いられる各染色体が選択される確率P(P1、P2、・・・P15)については、各染色体のピークピーク値d(d1、d2、・・・d15)を各染色体のピークピーク値の合計S=(d1+d2+・・・d15)で割ったもの、すなわち、P1=d1/S、P2=d2/S、・・・、P15=d15/Sとした。これらの値を用いて、前述した遺伝的アルゴリズムに従い最も高エネルギー粒子を発生させるような各アクチュエータ22に印加する電圧の組み合わせを求めた。
図12に、本実施例の高エネルギー粒子発生装置1Aにおいて最も大きなdを示した際の可変形鏡20の各アクチュエータ22に印加した電圧の組み合わせを示す。
レーザー光線11の集光径を計測するためには、集光位置近傍ミリメートル付近に対物レンズを設置して、集光プロファイルの拡大イメージをCCDカメラの撮像面に像転送する光学系が用いられる。エネルギー30mJ、パルス幅80fsのレーザー光線を2μmまで集光すると、その超高強度レーザー電場によって対物レンズが破壊され、直接計測ができないので、まず本実施例の高エネルギー粒子発生装置1Aにおいて、初期調整段階として対物レンズが破壊されない程度までエネルギーを小さくした(マイクロジュール以下)レーザー光線11を入射させて集光径を測定し、集光径が理論回折限界である2μmであることを確認した後、対物レンズを取り外し、次に集光位置に設置したポリイミドフィルムに対して、30mJのエネルギーを有するレーザー光線11を入射させた。この場合に発生したプロトンの最大エネルギーは0.8MeV以下であった。一方、最も大きなdを示した可変形鏡20の鏡面21の形状を用いて30mJのエネルギーを有するレーザー光線11をポリイミドフィルムに入射させた場合に発生したプロトンの最大エネルギーは1.1±0.3MeVであったが、集光位置に設置したポリイミドフィルムを取り外し、対物レンズを設置した後、再度レーザー光線11のエネルギーを小さくした条件で集光径を測定したところ、3μmであった。
本実施例の高エネルギー粒子発生装置1Aにおいては、レーザー光線11のエネルギーを大きく変化させるには、レーザー増幅器の利得を変化させる必要があるが、増幅器の熱レンズ効果は利得に応じて複雑に変化する可能性がある。従って、集光径を計測しているときのレーザービームの波面と高エネルギー粒子を発生させているときのレーザービームの波面は異なる可能性があり、本発明による調整方法が有効であることが認められる。
このことより、本実施例の高エネルギー粒子発生装置1Aにおいて、対物レンズが破壊されない程度までエネルギーを小さくした(マイクロジュール以下)レーザー光線11の集光径を理論回析限界である2μmになるように最適化した可変形鏡20の鏡面21の形状を用いて、30mJのレーザー光線11を入射させても、最も高エネルギーを有する高エネルギー粒子は発生しなかったが、本発明の高エネルギー粒子発生方法で最も大きなdを示すように最適化した可変形鏡20の鏡面21の形状を用いると、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子が発生し、XPD51により測定されたdを頼りに遺伝的アルゴリズム(GA)を用いて最適解を探索する本発明の高エネルギー粒子発生方法が有効であることが分かった。
本発明の実施形態1に係る高エネルギー粒子発生装置の一例の概略図である。 本発明の実施形態1に係る可変形鏡の概略図である。 本発明の実施形態1に係る可変形鏡の鏡面の概略図である。 本発明の実施形態1に係る高エネルギー粒子発生装置の一例の概略図である。 本発明の実施形態1に係る染色体の概略図である。 本発明の実施形態1に係る交配前の染色体の概略図である。 本発明の実施形態1に係る交配後の染色体の概略図である。 本発明の実施形態1に係る突然変異前の染色体の概略図である。 本発明の実施形態1に係る突然変異後の染色体の概略図である。 本発明の実施形態1に係るXPDに測定された電圧と時間との関係を示すグラフである。 本発明の実施形態1に係る高エネルギー粒子発生装置の一例を用いた高エネルギー粒子発生方法の最適化手順を示すフローチャートである。 本発明の実施例1に係る最適化された各アクチュエータに印加する電圧の組み合わせを示すグラフである。
符号の説明
1、1A 高エネルギー粒子発生装置
10 レーザー光線発振手段
11 レーザー光線
20 可変形鏡
21 鏡面
22 アクチュエータ
23 ロッド
24 エポキシド樹脂
30 軸外し放物面鏡
40 試料
41 試料巻き取り手段
50 固体飛跡検出器
51 X線フォトダイオード(XPD)
52 薄膜
60 真空チャンバ
70 遺伝的アルゴリズム最適化手段

Claims (13)

  1. レーザー光線を反射させる鏡面と当該鏡面に接続される複数のアクチュエータとを具備すると共に当該アクチュエータに電圧を印加することより前記鏡面の形状が変形する可変形鏡と、前記レーザー光線を集光する集光手段により集光させられた前記レーザー光線により電離可能な試料と、前記レーザー光線により前記試料から発生した高エネルギー粒子を検出する固体飛跡検出手段とが真空容器内に設けられた高エネルギー粒子発生装置を用いて高エネルギー粒子を発生させる高エネルギー粒子発生方法において、
    前記固体飛跡検出手段がマイクロチャンネルプレートであり、当該固体飛跡検出手段により検出されたデータに基づいて最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させるように遺伝的アルゴリズムを用いて前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせを最適化することを特徴とする高エネルギー粒子発生方法。
  2. 請求項1において、前記遺伝的アルゴリズムは、
    前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせから前記鏡面の形状を特定する染色体を複数生成する第1の生成工程と、
    前記染色体に対応した前記高エネルギー粒子発生装置を用いて発生させた高エネルギー粒子を前記固体飛跡検出手段によって検出する検出工程と、
    前記固体飛跡検出手段により検出された前記高エネルギー粒子のエネルギーに基づいて前記染色体を評価することにより、前記染色体に対しランクを付与する付与工程と、
    前記ランクが付与された染色体が収束条件を満たしているか否かを判定する判定工程と、
    前記ランクが付与された染色体に対し、前記付与されたランクに基づいて前記遺伝的アルゴリズムによる遺伝子操作を行ない、これにより新たな世代の染色体を生成する第2の生成工程とを具備し、
    まず前記第1の生成工程により生成される染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を順に実行し、
    前記判定工程により前記染色体が収束条件を満たさないと判定された場合に、以後収束条件を満たすと判定されるまで、前記第2の生成工程により生成される新たな世代の染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を繰り返し実行することを特徴とする高エネルギー粒子発生方法。
  3. レーザー光線を反射させる鏡面と当該鏡面に接続される複数のアクチュエータとを具備すると共に当該アクチュエータに電圧を印加することより前記鏡面の形状が変形する可変形鏡と、前記レーザー光線を集光する集光手段により集光させられた前記レーザー光線により電離可能な試料と、前記レーザー光線により前記試料から発生した高エネルギー粒子を検出するCR39と、前記高エネルギー粒子が発生した際に生ずるX線を測定するシンチレーション検出器又はX線フォトダイオードとが真空容器内に設けられた高エネルギー粒子発生装置を用いて高エネルギー粒子を発生させる高エネルギー粒子発生方法において、
    前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードにより測定されたデータに基づいて最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させるように遺伝的アルゴリズムを用いて前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせを最適化することを特徴とする高エネルギー粒子発生方法。
  4. 請求項3において、前記遺伝的アルゴリズムは、
    前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせから前記鏡面の形状を特定する染色体を複数生成する第1の生成工程と、
    前記染色体に対応した前記高エネルギー粒子発生装置を用いて発生させた高エネルギー粒子を前記固体飛跡検出手段によって検出する検出工程と、
    前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードにより測定される電圧のピークピーク値を評価することにより、前記染色体に対しランクを付与する付与工程と、
    前記ランクが付与された染色体が収束条件を満たしているか否かを判定する判定工程と、
    前記ランクが付与された染色体に対し、前記付与されたランクに基づいて前記遺伝的アルゴリズムによる遺伝子操作を行ない、これにより新たな世代の染色体を生成する第2の生成工程とを具備し、
    まず前記第1の生成工程により生成される染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を順に実行し、
    前記判定工程により前記染色体が収束条件を満たさないと判定された場合に、以後収束条件を満たすと判定されるまで、前記第2の生成工程により生成される新たな世代の染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を繰り返し実行することを特徴とする高エネルギー粒子発生方法。
  5. レーザー光線を反射させる鏡面と当該鏡面に接続される複数のアクチュエータとを具備すると共に当該アクチュエータに電圧を印加することより前記鏡面の形状が変形する可変形鏡と、当該可変形鏡によって反射された前記レーザー光線を反射することによって集光させる軸外し放物面鏡と、当該軸外し放物面鏡により集光させられた前記レーザー光線により電離可能な試料と、前記レーザー光線により前記試料から発生した高エネルギー粒子を検出する固体飛跡検出手段とが真空容器内に設けられた高エネルギー粒子発生装置であって、
    前記固体飛跡検出手段がマイクロチャンネルプレートであり、前記複数のアクチュエータと前記固体飛跡検出手段とに接続されると共に前記固体飛跡検出手段により検出されたデータに基づいて前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせを遺伝的アルゴリズムを用いて最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させるように最適化する遺伝的アルゴリズム最適化手段を具備することを特徴とする高エネルギー粒子発生装置。
  6. レーザー光線を反射させる鏡面と当該鏡面に接続される複数のアクチュエータとを具備すると共に当該アクチュエータに電圧を印加することより前記鏡面の形状が変形する可変形鏡と、当該可変形鏡によって反射された前記レーザー光線を反射することによって集光させる軸外し放物面鏡と、当該軸外し放物面鏡により集光させられた前記レーザー光線により電離可能な試料と、前記レーザー光線により前記試料から発生した高エネルギー粒子を検出するCR39と、前記高エネルギー粒子が発生した際に生ずるX線を測定するシンチレーション検出器又はX線フォトダイオードとが真空容器内に設けられた高エネルギー粒子発生装置であって、
    前記複数のアクチュエータと前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードとに接続されると共に前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードに測定されたデータに基づいて前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせを遺伝的アルゴリズムに基づいて決定する遺伝的アルゴリズム最適化手段を具備することを特徴とする高エネルギー粒子発生装置。
  7. 請求項において、前記遺伝的アルゴリズム最適化手段が、
    前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせから前記鏡面の形状を特定する染色体を複数生成する第1の生成工程と、
    前記染色体に対応した前記高エネルギー粒子発生装置を用いて発生させた高エネルギー粒子を前記固体飛跡検出手段によって検出する検出工程と、
    前記固体飛跡検出手段により検出された前記高エネルギー粒子のエネルギーに基づいて前記染色体を評価することにより、前記染色体に対しランクを付与する付与工程と、
    前記ランクが付与された染色体が収束条件を満たしているか否かを判定する判定工程と、
    前記ランクが付与された染色体に対し、前記付与されたランクに基づいて前記遺伝的アルゴリズムによる遺伝子操作を行ない、これにより新たな世代の染色体を生成する第2の生成工程とを具備し、
    まず前記第1の生成工程により生成される染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を順に実行し、
    前記判定工程により前記染色体が収束条件を満たさないと判定された場合に、以後収束条件を満たすと判定されるまで、前記第2の生成工程により生成される新たな世代の染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を繰り返し実行することを特徴とする高エネルギー粒子発生装置。
  8. 請求項において、前記遺伝的アルゴリズム最適化手段が、
    前記複数のアクチュエータに印加する電圧の組み合わせから前記鏡面の形状を特定する染色体を複数生成する第1の生成工程と、
    前記染色体に対応した前記高エネルギー粒子発生装置を用いて発生させた高エネルギー粒子を前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードによって検出する検出工程と、
    前記シンチレーション検出器又はX線フォトダイオードにより測定される電圧のピークピーク値を評価することにより、前記染色体に対しランクを付与する付与工程と、
    前記ランクが付与された染色体が収束条件を満たしているか否かを判定する判定工程と、
    前記ランクが付与された染色体に対し、前記付与されたランクに基づいて前記遺伝的アルゴリズムによる遺伝子操作を行ない、これにより新たな世代の染色体を生成する第2の生成工程とを備え、
    まず前記第1の生成工程により生成される染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を順に実行し、
    前記判定工程により前記染色体が収束条件を満たさないと判定された場合に、以後収束条件を満たすと判定されるまで、前記第2の生成工程により生成される新たな世代の染色体に対し、前記検出工程、前記付与工程及び前記判定工程を繰り返し実行することを特徴とする高エネルギー粒子発生装置。
  9. 請求項5〜8の何れかにおいて、前記試料が巻き取り可能なテープ状の形状を有し、前記真空容器内に前記試料を巻き取る試料巻き取り手段をさらに設けることを特徴とする高エネルギー粒子発生装置。
  10. 請求項5〜9の何れかにおいて、前記各アクチュエータが複数の部材からなり、前記鏡面に接続された前記部材を着脱できることを特徴とする高エネルギー粒子発生装置。
  11. 請求項5〜10の何れかにおいて、前記真空容器内に前記試料に付着した水分及び油分を除去する水分等除去手段をさらに設けることを特徴とする高エネルギー粒子発生装置。
  12. 請求項5〜11の何れかにおいて、前記レーザー光線が超短パルスレーザー光線又はフェムト秒レーザー光線であることを特徴とする高エネルギー粒子発生装置。
  13. 請求項12において、前記超短パルスレーザー光線又はフェムト秒レーザー光線のパルスの形状及びエネルギーと、前記試料とに対して、最も高いエネルギーを有する高エネルギー粒子を発生させるように前記超短パルスレーザー光線又はフェムト秒レーザー光線の集光径を最適化することを特徴とする高エネルギー粒子発生装置。
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