JP4873100B2 - Surface inspection device - Google Patents

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Description

本発明は、検査対象物の表面欠陥を検査する装置に関するものであり、特に鋼板などの表面に発生する微小点状欠陥を検査するのに好適な表面検査装置に関するものである。   The present invention relates to an apparatus for inspecting a surface defect of an inspection object, and more particularly to a surface inspection apparatus suitable for inspecting a minute point defect generated on a surface of a steel plate or the like.

従来から、検査対象物の表面を検査あるいは観測するときに用いる照明として、検査対象物表面を均一に照射するために、リング照明が広く用いられている。しかしながら、リング照明を用いて検査対象物を照射すると、特に対象物表面の鏡面性が高い場合には、リング照明の光出射部が対象物表面に映り込んで輝度の不均一が生じ、微小点状欠陥が見えにくくなるという問題があった。   Conventionally, ring illumination has been widely used as illumination used when inspecting or observing the surface of an inspection object in order to uniformly irradiate the surface of the inspection object. However, when the object to be inspected is irradiated with ring illumination, especially when the surface of the object is highly specular, the light emission part of the ring illumination is reflected on the surface of the object, resulting in uneven brightness and small dots. There was a problem that it became difficult to see the defect.

この対策として、たとえば、特許文献1には、リング照明における光照射部と検査対象物との間に、光拡散板を挿入する技術が開示されている。また、特許文献2には、光出射部から出射される光を円周外向きに所定の角度を付けて配置し、内面を拡散反射面とした拡散反射フードをリング照明端面部に設ける技術が開示されている。   As a countermeasure, for example, Patent Document 1 discloses a technique of inserting a light diffusing plate between a light irradiation unit and an inspection object in ring illumination. Patent Document 2 discloses a technique in which light emitted from a light emitting portion is arranged at a predetermined angle outward in the circumference, and a diffuse reflection hood having an inner surface as a diffuse reflection surface is provided on the ring illumination end surface portion. It is disclosed.

具体的には、図18に示すようなリング照明装置100がある。このリング照明装置100では、ハレーションを回避するとともに輝度の不均一の発生を抑制するため、光出射部101の前方に光拡散板102を配置し、光出射部101から出た光を拡散させて検査対象物103表面に照射させていた。光出射部101から出た光は、拡散板102で拡散されて検査対象物103に照射され、その反射光101a、101b、101c、…がレンズ104を通してエリアセンサカメラ105に結像されるようになっている。   Specifically, there is a ring illumination device 100 as shown in FIG. In this ring illumination device 100, in order to avoid halation and suppress the occurrence of uneven brightness, a light diffusion plate 102 is disposed in front of the light emitting unit 101 to diffuse the light emitted from the light emitting unit 101. The surface of the inspection object 103 was irradiated. The light emitted from the light emitting unit 101 is diffused by the diffusion plate 102 and irradiated onto the inspection object 103, and the reflected light 101 a, 101 b, 101 c,... Is imaged on the area sensor camera 105 through the lens 104. It has become.

特開2007−57421号公報JP 2007-57421 A 特開平6−235821号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-235821 特許第3585214号公報Japanese Patent No. 3585214 特開2007−3243号公報Japanese Patent Laid-Open No. 2007-3243

しかしながら、図18に示した光拡散板102を備えた従来のリング照明装置100を用いると、金属のような微細凹凸構造を有する表面では明暗点の輝度パターンが発生してしまい、これが地合ノイズとなって欠陥検出のSN比を低下させる要因となる。その理由は、この反射光の中には、正反射光101aや、前方拡散反射光101b、および後方拡散反射光101cなどが含まれるからである。図19は、鋼板のような粗面103に光201を入射したときの光反射強度分布203を模式的に示した図である。光反射強度は正反射方向202で最大になる。図19からわかるように、正反射光101aや正反射近傍の反射光は、わずかな角度変動によって反射強度が大きく変動するため、検査対象物103が金属のような微細凹凸構造を有する表面では明暗点の輝度パターンが発生してしまい、これが地合ノイズとなって欠陥検出のSN比を低下させる要因となる。したがって、拡散されて照射される光の一部が正反射光成分となってエリアセンサカメラ105に入り、鋼板表面の微細凹凸に起因する地合ノイズ強度が高くなり、この地合ノイズ内に微小点状欠陥が埋もれ、地合ノイズと微小点状欠陥との分離が困難になる。   However, when the conventional ring illumination device 100 including the light diffusing plate 102 shown in FIG. 18 is used, a brightness pattern of bright and dark spots is generated on the surface having a fine concavo-convex structure such as metal. As a result, the SN ratio of defect detection is reduced. This is because the reflected light includes regular reflected light 101a, forward diffuse reflected light 101b, backward diffuse reflected light 101c, and the like. FIG. 19 is a diagram schematically showing a light reflection intensity distribution 203 when light 201 is incident on a rough surface 103 such as a steel plate. The light reflection intensity becomes maximum in the regular reflection direction 202. As can be seen from FIG. 19, since the reflection intensity of the regular reflection light 101a and the reflection light in the vicinity of the regular reflection greatly fluctuates due to slight angle fluctuations, the inspection object 103 has a bright and dark surface on the surface having a fine uneven structure such as metal. A luminance pattern of points is generated, which becomes ground noise and causes a decrease in the SN ratio of defect detection. Accordingly, part of the diffused and irradiated light enters the area sensor camera 105 as a specularly reflected light component, and the formation noise intensity due to the fine unevenness on the surface of the steel sheet is increased, and a minute amount is included in the formation noise. The point-like defects are buried, and it becomes difficult to separate the ground noise from the minute point-like defects.

すなわち、上記特許文献1および特許文献2に開示された技術では、ハレーションを抑止する効果はあるものの、検査対象物の表面状態あるいは検査対象物の材質によっては、微小点状欠陥がない場合であっても、地合ノイズによって微小点状欠陥があるという誤検出を発生させてしまう場合があった。   That is, although the techniques disclosed in Patent Document 1 and Patent Document 2 have the effect of suppressing halation, there are no minute point-like defects depending on the surface state of the inspection object or the material of the inspection object. However, there is a case where false detection that there is a minute point-like defect occurs due to formation noise.

本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、微小点状欠陥を精度良く検査できる表面検査装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide a surface inspection apparatus capable of inspecting minute point defects with high accuracy.

上記課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる表面検査装置は、リング状の光出射部と、該光出射部と検査対象物との間に、該光出射部と同心円状で、かつ、該光出射部の内径より径の小さい光学的な開口部を有する遮光板とを有したリング照明装置と、前記遮光板の開口部の中心線上に配置され、該開口部を介して前記検査対象物の表面を撮像する撮像部と、を備え、前記撮像部が撮像する前記検査対象物表面上の撮像領域には、前記光出射部から照射された光のうち前記遮光板の開口部縁部で回折した光のみが照射され、前記光出射部と前記検査対象物表面との間の距離は、前記対象物表面上の撮像領域内の平均輝度レベルが所定レベル以上で,かつ、該撮像領域内の輝度レベル差が所定範囲内となるように設定されることを特徴とする。   In order to solve the above-described problems and achieve the object, a surface inspection apparatus according to the present invention includes a ring-shaped light emitting portion and a concentric circle shape between the light emitting portion and the inspection object. And a ring illumination device having a light shielding plate having an optical opening having a diameter smaller than the inner diameter of the light emitting portion, and a center line of the opening of the light shielding plate, and through the opening An imaging unit that images the surface of the inspection object, and the imaging region on the surface of the inspection object that is captured by the imaging unit includes the light shielding plate of the light emitted from the light emitting unit. Only the light diffracted at the edge of the opening is irradiated, and the distance between the light emitting portion and the surface of the inspection object is such that the average luminance level in the imaging region on the object surface is a predetermined level or more, and The brightness level difference in the imaging area is set to be within a predetermined range. And features.

また、本発明にかかる表面検査装置は、上記の発明において、前記検査対象物は長手方向に沿って搬送される帯状材料であり、前記帯状材料固有に設定された連続性欠陥の連続発生長の最低長さ以下の一定長さを有する区間が搬送される間に、前記リング照明装置および前記撮像部を、前記帯状材料の全幅を少なくとも一往復させ、かつ、前記一定長さを有する区間が搬送される毎に同じ動作を繰り返すトラバース部を備え、前記帯状材料表面に発生する連続性欠陥を検査することを特徴とする。   Further, in the surface inspection apparatus according to the present invention, in the above invention, the inspection object is a strip-shaped material transported along a longitudinal direction, and a continuous generation length of a continuity defect set unique to the strip-shaped material. While the section having a certain length which is equal to or less than the minimum length is being conveyed, the ring illumination device and the imaging unit are reciprocated at least once in the entire width of the band-shaped material, and the section having the certain length is conveyed. A traverse portion that repeats the same operation each time is provided, and a continuity defect generated on the surface of the belt-shaped material is inspected.

また、本発明にかかる表面検査装置は、上記の発明において、前記帯状材料の搬送距離を検出する搬送距離検出部と、 前記搬送距離検出部で検出した搬送距離情報に基づいた前記トラバース部の往復動作と、前記撮像部が前記帯状材料を実質的に全幅に亘って撮像するように撮像タイミングを制御する撮像タイミング制御部と、を備えたことを特徴とする。   In the surface inspection apparatus according to the present invention, in the above invention, a reciprocation between the transport distance detection unit that detects the transport distance of the belt-shaped material and the traverse unit based on the transport distance information detected by the transport distance detection unit. And an imaging timing control unit that controls an imaging timing so that the imaging unit images the belt-like material substantially over the entire width.

また、本発明にかかる表面検査装置は、上記の発明において、前記帯状材料の長手方向に沿って互いに平行をなすように互いに隣接し、かつ、前記撮像部の幅方向視野とほぼ同じ長さの幅を持つ、複数の細長いトラック領域を設定した場合に、前記撮像部は、それぞれの前記トラック領域に属する互いに隣接する部分領域または前記長手方向に互いに離間する前記部分領域を撮像することを特徴とする。   Further, the surface inspection apparatus according to the present invention is the above-described invention, wherein the surface inspection apparatus is adjacent to each other so as to be parallel to each other along the longitudinal direction of the strip-shaped material, and has a length substantially the same as the visual field in the width direction of the imaging unit. When a plurality of elongated track areas having a width are set, the imaging unit images the adjacent partial areas belonging to the respective track areas or the partial areas spaced apart from each other in the longitudinal direction. To do.

また、本発明にかかる表面検査装置は、上記の発明において、前記撮像部で撮像した各画像内における欠陥有害度を数値データとして抽出する画像処理部と、前記画像処理部で抽出された前記各画像の欠陥数値データとその撮像位置に基づいて帯状材料表面の2次元欠陥発生状況を算出する欠陥分布算出部と、を備えることを特徴とする。   In the surface inspection apparatus according to the present invention, in the above invention, the image processing unit that extracts the defect harmfulness in each image captured by the imaging unit as numerical data, and the each extracted by the image processing unit. And a defect distribution calculating unit that calculates a two-dimensional defect occurrence state on the surface of the belt-shaped material based on the numerical defect data of the image and the imaging position thereof.

また、本発明にかかる表面検査装置は、上記の発明において、欠陥分布算出部で算出された欠陥分布状況を前記帯状材料表面の2次元展開図上に表示する欠陥マップ表示部をさらに備えることを特徴とする。   The surface inspection apparatus according to the present invention may further include a defect map display unit that displays the defect distribution status calculated by the defect distribution calculation unit on the two-dimensional development view of the surface of the belt-shaped material in the above invention. Features.

また、本発明にかかる表面検査装置は、上記の発明において、前記欠陥マップ表示部は、前記帯状材料表面を矩形のメッシュに分割し、各メッシュの欠陥有害度を表示色あるいは表示マークを変えて表示することを特徴とする。   In the surface inspection apparatus according to the present invention as set forth in the invention described above, the defect map display unit divides the surface of the belt-like material into rectangular meshes, and changes the display color or display mark of the defect harmfulness of each mesh. It is characterized by displaying.

また、本発明にかかる表面検査装置は、上記の発明において、前記検査対象物は鋼板であり、鋼板上の撮像領域内の微小点状欠陥を検査することを特徴とする。   In the surface inspection apparatus according to the present invention as set forth in the invention described above, the inspection object is a steel plate, and inspects minute spot-like defects in an imaging region on the steel plate.

また、本発明にかかる表面検査装置は、上記の発明において、前記帯状材料は酸洗鋼板であり、前記連続性欠陥がスケール残りであることを特徴とする。   In the surface inspection apparatus according to the present invention as set forth in the invention described above, the strip material is a pickled steel plate, and the continuity defect is a scale residue.

本発明によれば、リング状の光出射部と、該光出射部と検出対象物との間に、該光出射部と同心円状で、かつ、該光出射部の内径より径の小さい光学的な開口部を有する遮光板とを有したリング照明装置と、前記遮光板の開口部の中心線上に配置され、該開口部を介して前記検査対象物の表面を撮像する撮像部と、を備え、前記撮像部が撮像する前記検査対象物表面上の撮像領域には、前記光出射部から照射された光のうち前記遮光板の開口部縁部で回折した光のみが照射され、前記光出射部と前記検査対象物表面との間の距離は、前記検査対象物表面上の撮像領域内の平均輝度レベルが所定レベル以上で、かつ、検査撮像領域内の輝度レベル差が所定範囲内となるように設定されるため、撮像領域内の輝度が平坦化され、かつ、地合ノイズが抑制され、微小点状欠陥を精度よく検査することができる。   According to the present invention, an optical light that is concentric with the light emitting part and smaller in diameter than the inner diameter of the light emitting part between the ring-shaped light emitting part and the light emitting part and the detection target. A ring illuminating device having a light shielding plate having an opening, and an imaging unit that is disposed on a center line of the opening of the light shielding plate and images the surface of the inspection object through the opening. The imaging region on the surface of the inspection object to be imaged by the imaging unit is irradiated only with light diffracted at the edge of the opening of the light shielding plate among the light emitted from the light emitting unit, and the light emission The distance between the portion and the surface of the inspection object is such that the average luminance level in the imaging area on the surface of the inspection object is equal to or higher than a predetermined level, and the luminance level difference in the inspection imaging area is within a predetermined range. Therefore, the brightness in the imaging area is flattened and the ground noise is Is suppressed, a fine dot-like defects can be accurately inspected.

図1は、この発明の実施の形態1である表面検査装置の概要構成を示す断面模式図である。1 is a schematic sectional view showing a schematic configuration of a surface inspection apparatus according to Embodiment 1 of the present invention. 図2は、検査対象物である鋼板表面の照明光の分布と撮像部による撮像領域とを説明する説明図である。FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining the distribution of illumination light on the surface of the steel sheet, which is an inspection object, and the imaging region by the imaging unit. 図3は、リング照明装置の幾何学的配置を説明する説明図である。FIG. 3 is an explanatory diagram for explaining the geometric arrangement of the ring illumination device. 図4は、鋼板の表面と光出射部との距離を説明する説明図である。FIG. 4 is an explanatory diagram for explaining the distance between the surface of the steel plate and the light emitting portion. 図5は、鋼板の表面と光出射部との距離による、撮像領域内の輝度分布の変化を示す図である。FIG. 5 is a diagram illustrating a change in luminance distribution in the imaging region depending on the distance between the surface of the steel plate and the light emitting portion. 図6は、この発明の実施の形態2に係る表面検査装置の概略構成を示す模式図である。FIG. 6 is a schematic diagram showing a schematic configuration of a surface inspection apparatus according to Embodiment 2 of the present invention. 図7は、この発明の実施の形態2に係る表面検査装置の一例を示すブロック図である。FIG. 7 is a block diagram showing an example of a surface inspection apparatus according to Embodiment 2 of the present invention. 図8は、この発明の実施の形態2にかかる表面検査装置におけるトラバース部と帯状鋼板との関係を示し、トラバース方向で帯状鋼板を切断した状態を示す断面図である。FIG. 8: is sectional drawing which shows the relationship between the traverse part and strip steel plate in the surface inspection apparatus concerning Embodiment 2 of this invention, and shows the state which cut | disconnected the strip steel plate in the traverse direction. 図9は、帯状鋼板の表面に発生する連続性欠陥の発生形態の一例を示す平面図である。FIG. 9 is a plan view showing an example of the form of occurrence of continuity defects that occur on the surface of the strip steel plate. 図10は、搬送速度が低速に変化した領域で帯状鋼板表面の検査頻度が増加する状況を説明する平面図である。FIG. 10 is a plan view for explaining a situation in which the inspection frequency of the surface of the strip steel plate increases in a region where the conveyance speed has changed to a low speed. 図11は、帯状鋼板が所定距離ΔLだけ移動する間に撮像部の幅方向移動を完了させる場合を示し、搬送速度が低速に変化した領域で帯状鋼板表面の検査頻度が増加しないことを説明する帯状鋼板の平面図である。FIG. 11 shows a case where the movement of the imaging unit in the width direction is completed while the strip steel plate moves by a predetermined distance ΔL, and illustrates that the inspection frequency of the strip steel plate surface does not increase in a region where the conveyance speed has changed to a low speed. It is a top view of a strip steel plate. 図12は、図11の破線部分およびその近傍を拡大して、撮像領域を示した帯状鋼板の平面図である。FIG. 12 is a plan view of a strip-shaped steel plate showing an imaging region by enlarging the broken line portion and the vicinity thereof in FIG. 11. 図13は、帯状鋼板が所定距離ΔLだけ移動する間に、撮像部を幅方向に移動させながら撮像を行い、且つ幅方向に撮像しないで復帰させる実施の形態を示す平面図である。FIG. 13 is a plan view showing an embodiment in which imaging is performed while moving the imaging unit in the width direction while the belt-shaped steel plate is moved by a predetermined distance ΔL, and returning without imaging in the width direction. 図14は、鋼板が所定距離ΔLだけ移動する間に、撮像部を幅方向に移動させながら撮像を行い、且つ幅方向に撮像しないで復帰させる実施の形態において各トラック領域内を撮像する撮像領域同士が連続しない例を示す平面図である。FIG. 14 illustrates an imaging area in which each track area is imaged in an embodiment in which imaging is performed while moving the imaging unit in the width direction while the steel plate is moved by a predetermined distance ΔL, and returning without imaging in the width direction. It is a top view which shows the example which does not continue mutually. 図15は、本実施の形態2に係る表面検査装置によって算出した欠陥の発生分布状況を2次元マップ上に表示した例を示す平面図である。FIG. 15 is a plan view showing an example in which the occurrence distribution state of defects calculated by the surface inspection apparatus according to the second embodiment is displayed on a two-dimensional map. 図16は、この発明の実施例で用いたトラバース部の例であり、2つの検出ヘッドを幅方向に所定距離隔てて設置した例のトラバース方向で帯状鋼板を切断した状態を示す断面図である。FIG. 16 is an example of the traverse portion used in the embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view showing a state in which the strip steel plate is cut in the traverse direction of an example in which two detection heads are installed at a predetermined distance in the width direction. . 図17は、この発明の実施例によって算出した欠陥パラメータの大きさに応じて3段階に分けて欠陥マップのメッシュの濃淡を変えて表示した例を示す図である。FIG. 17 is a view showing an example in which the density of the mesh of the defect map is changed in three levels according to the size of the defect parameter calculated according to the embodiment of the present invention. 図18は、従来の光拡散板を備えたリング照明を使用した場合の説明図である。FIG. 18 is an explanatory diagram in the case of using a ring illumination provided with a conventional light diffusion plate. 図19は、鋼板のような粗面における光反射強度分布パターンを示す説明図であり、正反射光や正反射近傍の反射光がわずかな角度変動によって反射強度が大きく変動することを示す説明図である。FIG. 19 is an explanatory diagram showing a light reflection intensity distribution pattern on a rough surface such as a steel plate, and an explanatory diagram showing that the reflection intensity greatly fluctuates due to slight angle fluctuations of specular reflection light and reflected light near the specular reflection. It is.

以下、図面を参照して、本発明の実施の形態である表面検査装置について説明する。   Hereinafter, a surface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.

(実施の形態1)
この実施の形態1では、回折光の発生メカニズムを用いて検査対象物表面の微小点状欠陥を高精度で検査できるようにしている。図1は、この発明の実施の形態1である表面検査装置1の概要構成を示す断面模式図である。また、図2は、検出対象物である鋼板2の表面上の照明光の分布と撮像部4による撮像領域Aとを説明する説明図である。さらに、図3は、リング照明装置の幾何学的配置を説明する説明図である。
(Embodiment 1)
In the first embodiment, a minute dot defect on the surface of an inspection object can be inspected with high accuracy by using a generation mechanism of diffracted light. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view showing a schematic configuration of a surface inspection apparatus 1 according to Embodiment 1 of the present invention. FIG. 2 is an explanatory diagram for explaining the distribution of illumination light on the surface of the steel plate 2 that is the detection target and the imaging region A by the imaging unit 4. Furthermore, FIG. 3 is explanatory drawing explaining the geometric arrangement | positioning of a ring illuminating device.

図1に示すように、この表面検査装置1は、リング照明装置3と撮像部4と画像処理装置5とを有する。画像処理装置5は撮像部4に接続される。リング照明装置3は、リング状の光出射部3Aと遮光板3Bとを備える。また、撮像部4は、エリアセンサカメラ4Aとレンズ4Bとを備える。なお、遮光板3Bは、光出射部3Aと鋼板2との間に配置される。この光出射部3Aと遮光板3Bとは一体構成されたリング照明装置3としてもよい。さらに、リング照明装置3と撮像部4とは一体構成されてもよい。   As shown in FIG. 1, the surface inspection apparatus 1 includes a ring illumination device 3, an imaging unit 4, and an image processing device 5. The image processing device 5 is connected to the imaging unit 4. The ring illumination device 3 includes a ring-shaped light emitting portion 3A and a light shielding plate 3B. The imaging unit 4 includes an area sensor camera 4A and a lens 4B. The light shielding plate 3B is disposed between the light emitting portion 3A and the steel plate 2. The light emitting unit 3A and the light shielding plate 3B may be configured as a ring illumination device 3 integrally formed. Furthermore, the ring illumination device 3 and the imaging unit 4 may be integrally configured.

撮像部4は、その光軸C4が光出射部3Aの開口部の中心軸と一致するように、光出射部3Aの上方に配置されている。また、撮像部4のエリアセンサカメラ4Aは、鋼板2の表面で反射した回折光の反射光をレンズ4Bで結像するように設定されている。   The imaging unit 4 is disposed above the light emitting unit 3A so that the optical axis C4 coincides with the central axis of the opening of the light emitting unit 3A. Further, the area sensor camera 4A of the imaging unit 4 is set so that the reflected light of the diffracted light reflected by the surface of the steel plate 2 is imaged by the lens 4B.

遮光板3Bは、光出射部3Aの開口部の内径寸法より小さい径寸法の、円状の光学的な開口部を有する。遮光板3Bの開口部とリング状の光出射部3Aは、同心円状であり、同一の中心軸Cを有する。また、中心軸Cは、撮像部4の光軸C4と一致する。この遮光板3Bの材質としては、光学的に不透明なものであれば種類を問わないが、例えば表面を黒アルマイト処理したアルミ材などを用いることができる。   The light shielding plate 3B has a circular optical opening having a diameter smaller than the inner diameter of the opening of the light emitting portion 3A. The opening of the light shielding plate 3B and the ring-shaped light emitting portion 3A are concentric and have the same central axis C. Further, the center axis C coincides with the optical axis C4 of the imaging unit 4. The material of the light shielding plate 3B is not limited as long as it is optically opaque, but for example, an aluminum material whose surface is black anodized can be used.

図3に示すように、光出射部3Aから出た照明光は、所定の拡がり角をもって鋼板2表面に向けて照射されるが、その一部が遮光板3Bによって遮られる。遮光板3Bの設置条件としては、光出射部3Aから出た拡がりをもった光が、鋼板2の表面上の撮像領域A内に直接照射されないようにする。そして、遮光板3Bの内側縁部で回折した光が撮像領域Aに照射されるようにする。   As shown in FIG. 3, the illumination light emitted from the light emitting portion 3A is irradiated toward the surface of the steel plate 2 with a predetermined divergence angle, but a part of the illumination light is blocked by the light shielding plate 3B. As the installation condition of the light shielding plate 3 </ b> B, the spread light emitted from the light emitting unit 3 </ b> A is not directly irradiated into the imaging region A on the surface of the steel plate 2. Then, the imaging region A is irradiated with light diffracted at the inner edge of the light shielding plate 3B.

すなわち、図3において、次式を満たすように配置する。
H・tanθ−R>r
That is, in FIG. 3, it arrange | positions so that following Formula may be satisfy | filled.
H · tanθ-R> r

ここで、Rは、光出射部3Aの中心軸Cから光出射部3Aの光出射位置までの距離である。また、rは、光出射部3Aの中心軸Cから撮像領域Aの縁部までの距離である。Hは、光出射部3Aの光出射位置から鋼板2の表面までの距離を表す。θは、遮光板3Bによって遮られた直接光の光路方向と中心軸Cとのなす角である。   Here, R is the distance from the central axis C of the light emitting part 3A to the light emitting position of the light emitting part 3A. R is the distance from the central axis C of the light emitting portion 3A to the edge of the imaging region A. H represents the distance from the light emission position of the light emission part 3A to the surface of the steel plate 2. θ is an angle between the optical axis direction of the direct light blocked by the light shielding plate 3B and the central axis C.

次に、リング照明および遮光板3Bを用いる理由について述べる。照明としてリング状の照明を用いるのは、鋼板2の表面を全方位から対称的に照射することによって、鋼板2表面の微細な凹凸に起因する陰影を相殺するためである。特に酸洗鋼板のような表面性状の悪い検査対象物表面で微小な欠陥を検査する場合、地合ノイズを抑制する効果がある。また、遮光板3Bを設けるのは、図1および図2に示すように、リング照明装置3から出射される直接光の一部に含まれる正反射光成分が,鋼板2表面上の撮像領域A内に入らないようにするためである。すなわち、遮光板3Bに遮られずに鋼板2表面に照射される直接光照射領域B(図2のハッチング部)には、正反射成分が含まれるが、撮像領域Aを直接光照射領域Bの内側になるように設定することにより、撮像領域A内には遮光板3Bでの回折光のみが照射される。   Next, the reason for using the ring illumination and the light shielding plate 3B will be described. The reason why the ring-shaped illumination is used as the illumination is to cancel shadows caused by fine irregularities on the surface of the steel plate 2 by irradiating the surface of the steel plate 2 symmetrically from all directions. In particular, when a minute defect is inspected on the surface of an inspection object having a poor surface property such as a pickled steel sheet, there is an effect of suppressing formation noise. Further, as shown in FIGS. 1 and 2, the light shielding plate 3 </ b> B is provided so that the specularly reflected light component included in a part of the direct light emitted from the ring illumination device 3 is captured on the imaging region A on the surface of the steel plate 2. This is to prevent it from entering. That is, the direct light irradiation region B (hatched portion in FIG. 2) that is irradiated on the surface of the steel plate 2 without being shielded by the light shielding plate 3B includes a specular reflection component, but the imaging region A is compared with the direct light irradiation region B. By setting the inner side to be inside, only the diffracted light from the light shielding plate 3B is irradiated into the imaging region A.

この結果、遮光板3Bを設けたリング照明装置3を用いると、撮像部4は、撮像領域Aを撮像し、撮像部4が受光するのは、遮光板3Bで遮られた部分に生ずる回折光からの反射光だけになって、正反射光が撮像部4に結像されなくなる。したがって、鋼板2のような表面性状の悪い粗面であっても、地合ノイズを抑制して微小点状欠陥を高SN比で検出できるようになる。   As a result, when the ring illumination device 3 provided with the light shielding plate 3B is used, the imaging unit 4 images the imaging region A, and the imaging unit 4 receives the diffracted light generated in the portion blocked by the light shielding plate 3B. Only the reflected light from the light beam is reflected, and the regular reflected light is not imaged on the imaging unit 4. Therefore, even if it is a rough surface with poor surface properties such as the steel plate 2, formation noise can be suppressed and minute point defects can be detected with a high SN ratio.

ここで、図4および図5に示すように、撮像部4の光軸C4を中心とする撮像領域A内の輝度分布は、光出射部3Aから検査対象物2の表面までの距離Hによって変化する。図5(a)に示すように、距離Hが適正な所定値Dthよりも小さい場合、撮像領域Aの周辺に光出射部3Aからの直接光が映り込み、この周辺部分の輝度が極めて高くなる。一方、光軸C4近傍の輝度は低くなる。この結果、撮像領域A内の輝度差が大きくなって、輝度が不均一となり、精度の高い欠陥検査を行うことができない。   Here, as shown in FIGS. 4 and 5, the luminance distribution in the imaging region A centering on the optical axis C4 of the imaging unit 4 varies depending on the distance H from the light emitting unit 3A to the surface of the inspection object 2. To do. As shown in FIG. 5A, when the distance H is smaller than the appropriate predetermined value Dth, direct light from the light emitting portion 3A is reflected around the imaging region A, and the luminance of this peripheral portion becomes extremely high. . On the other hand, the brightness near the optical axis C4 is low. As a result, the luminance difference in the imaging area A becomes large, the luminance becomes non-uniform, and a highly accurate defect inspection cannot be performed.

一方、図5(c)に示すように、距離Hが適正な所定値Dthよりも大きい場合、撮像領域A内の輝度は均一となるが、撮像領域A内への回折光の強度が弱くなり、撮像領域A内の平均輝度レベルが低くなる。この結果、特に高光沢の鋼板表面などを検査する場合、極めて高輝度の照明が必要となり、検査装置の導入コストおよびランニングコストがともに高価となる。   On the other hand, as shown in FIG. 5C, when the distance H is larger than the appropriate predetermined value Dth, the luminance in the imaging region A becomes uniform, but the intensity of the diffracted light into the imaging region A becomes weak. The average luminance level in the imaging area A is lowered. As a result, particularly when inspecting the surface of a high-gloss steel sheet or the like, illumination with extremely high brightness is required, and both the introduction cost and running cost of the inspection apparatus are expensive.

そこで、図5(b)に示すように、距離Hを適正な所定値Dthとすることによって、輝度を高く維持しつつ、平坦な輝度分布を得ることができ、精度の高い表面検査を行うことができる。ここで、適正な所定値Dthは、リング照明装置3の寸法や出射指向性、さらには検査対象物表面の光反射特性によって変化するため、検査対象物に応じて予め所定値Dthを決定しておくことが好ましい。また、所定値Dthは、撮像領域A内の平均輝度レベルが所定レベル以上で、かつ、撮像領域A内の輝度レベル差が所定範囲内、たとえば±10%以内になるときの値として設定するのが好ましい。   Therefore, as shown in FIG. 5B, by setting the distance H to an appropriate predetermined value Dth, a flat luminance distribution can be obtained while maintaining a high luminance, and a highly accurate surface inspection is performed. Can do. Here, since the appropriate predetermined value Dth varies depending on the size and emission directivity of the ring illumination device 3 and the light reflection characteristics of the surface of the inspection object, the predetermined value Dth is determined in advance according to the inspection object. It is preferable to keep it. The predetermined value Dth is set as a value when the average luminance level in the imaging area A is equal to or higher than the predetermined level and the luminance level difference in the imaging area A is within a predetermined range, for example, within ± 10%. Is preferred.

なお、画像処理装置5での処理内容は、公知のものを使用することができる。たとえば、シェーディング補正などの前処理後に、2値化あるいは多値化処理により、所定しきい値レベルを超える画素を抽出し、画素連結処理、孤立点除去、ラベリング処理後、画像特徴量を計算して欠陥を抽出・判定すればよい。   Note that the processing contents in the image processing apparatus 5 can use known ones. For example, after pre-processing such as shading correction, pixels that exceed a predetermined threshold level are extracted by binarization or multi-value processing, and after image concatenation processing, isolated point removal, and labeling processing, image feature amounts are calculated. The defect may be extracted and determined.

また、ライン搬送される帯状材料の鋼板2を検査対象物とする場合、光出射部3Aの光源としては、帯状の鋼板2をブレなく撮像するため、キセノン・ストロボ光源などを用いることが好ましい。さらに、光出射部3Aとしては、LEDをドーナッツ状に配置したもの、あるいは、照明光源に連結した光ファイバー束をドーナッツ状に分配して構成したものなどを用いることができる。   Further, when the strip-shaped steel plate 2 conveyed in line is used as an inspection object, it is preferable to use a xenon / strobe light source or the like as the light source of the light emitting portion 3A in order to capture the strip-shaped steel plate 2 without blur. Further, as the light emitting portion 3A, a configuration in which LEDs are arranged in a donut shape, a configuration in which an optical fiber bundle connected to an illumination light source is distributed in a donut shape, or the like can be used.

この実施の形態1では、撮像領域Aに、光出射部3Aから照射された光のうち遮光板3Bの開口部縁部で回折した光のみが照射され、しかも光出射部3Aと検査対象物表面との間の距離Hは、撮像領域A内の平均輝度レベルが所定輝度レベル以上で、かつ、撮像領域A内の輝度レベル差が所定範囲内、たとえば±10%以内となるようして輝度分布を平坦化しているので、撮像領域A内で輝度の不均一がなくなり、微小点状欠陥を高精度で検査することができる。   In Embodiment 1, only the light diffracted at the opening edge of the light shielding plate 3B among the light emitted from the light emitting portion 3A is irradiated onto the imaging region A, and the light emitting portion 3A and the surface of the inspection object Is a luminance distribution such that the average luminance level in the imaging region A is equal to or greater than the predetermined luminance level, and the luminance level difference in the imaging region A is within a predetermined range, for example, within ± 10%. Is flattened, the brightness non-uniformity is eliminated in the imaging region A, and a minute dot-like defect can be inspected with high accuracy.

(実施の形態2)
この実施の形態では、上述したリング照明装置3および撮像部4を用いて、ライン搬送される帯状の鋼板(帯状鋼板)2表面上の搬送方向に連絡的に発生する微小欠陥を簡易な構成で検査する表面検査装置について説明する。
(Embodiment 2)
In this embodiment, by using the ring illumination device 3 and the imaging unit 4 described above, a minute defect that occurs in a conveying direction on the surface of a strip-shaped steel plate (band-shaped steel plate) 2 that is line-transferred is simplified. A surface inspection apparatus to be inspected will be described.

ところで、搬送ラインで搬送される帯状鋼板2aの表面に発生する連続性欠陥を検査する例としては、例えば、酸洗した鋼板の表面に発生するスケール残り欠陥を検査する工程がある。酸洗を行うラインでは、硫酸などの強酸を入れた液槽中に帯状鋼板2aを通過させて表面のスケール(FeO、Fe、Feなど)を除去している。このラインでは、鋼板の搬送速度が速過ぎる場合、あるいは、鋼板表面に所謂肌荒れが生じ、この肌荒れ部分にスケールが喰い込んだりする場合に表面にスケールが残ることが稀にある。 By the way, as an example of inspecting the continuity defect generated on the surface of the strip-shaped steel plate 2a conveyed by the conveyance line, for example, there is a step of inspecting a scale residual defect generated on the surface of the pickled steel plate. In the line where pickling is performed, scales (FeO, Fe 3 O 4 , Fe 2 O 3, etc.) on the surface are removed by passing the strip steel plate 2 a through a liquid tank containing a strong acid such as sulfuric acid. In this line, when the conveying speed of the steel sheet is too high, or when the surface of the steel sheet is so-called rough, the scale may rarely remain on the rough surface.

このようなスケール残り欠陥は、直径0.05〜0.3mm程度の微小点状欠陥が密集して形成されるものであり、帯状鋼板2aの搬送中に目視で認識することが困難である。このため、スケール残りの発生を表面検査装置によって自動検査することは、酸洗鋼板の表面品質保証上、極めて重要である。   Such scale remaining defects are formed by densely forming minute spot-like defects having a diameter of about 0.05 to 0.3 mm, and are difficult to visually recognize during the conveyance of the strip-shaped steel sheet 2a. For this reason, automatically inspecting the occurrence of the remaining scale with a surface inspection device is extremely important for ensuring the surface quality of the pickled steel sheet.

スケール残り欠陥の発生形態の特徴として、同一幅方向位置に、鋼板の搬送方向に沿って所定長さ以上連続的に発生するということがある。またスケール残り欠陥に限らず、帯状材料の表面に発生する連続性欠陥は、その製造ラインに固有な連続発生長の範囲が経験的に分かっていることが多い。本実施の形態2ではこのような連続性欠陥の検査に好適な検査装置に関するものである。   As a feature of the generation form of the remaining scale defect, it is generated continuously at a position in the same width direction over a predetermined length along the conveying direction of the steel plate. Further, not only the remaining scale defects but also the continuous defects generated on the surface of the belt-like material often have a empirically known range of continuous generation length inherent to the production line. The second embodiment relates to an inspection apparatus suitable for such continuity defect inspection.

従来の酸洗鋼板の製造ラインにおける表面検査装置としては、鋼板の幅方向(搬送方向と直交する方向)に沿って線状照明が配置され、鋼板に対向する位置に鋼板の幅方向に沿って全幅を隈なく検査できるように、数台から十数台のラインセンサカメラを鋼板の全幅に亘って設置した装置がよく知られている。この表面検査装置では、それぞれのラインセンサカメラで得られたカメラ出力信号を鋼板の搬送方向に連結し、画像処理によって表面欠陥部分を抽出している。   As a surface inspection apparatus in a conventional pickled steel plate production line, linear illumination is arranged along the width direction of the steel plate (direction orthogonal to the conveying direction), and along the width direction of the steel plate at a position facing the steel plate. An apparatus in which several to a dozen or so line sensor cameras are installed over the entire width of a steel plate is well known so that the entire width can be inspected. In this surface inspection apparatus, camera output signals obtained by the respective line sensor cameras are connected in the conveying direction of the steel sheet, and surface defect portions are extracted by image processing.

しかしながら、高速で搬送される酸洗鋼板表面上に発生する上記のような微小点状欠陥を検査する場合、ラインセンサカメラを用いた表面検査装置では、搬送方向のカメラ分解能が不足して、十分な欠陥検査性能が得られないという問題がある。例えば、直径0.05mmの点状欠陥を検出するには、カメラ分解能を概略0.025mm以下にする必要がある。しかし、通常使用される4096素子を用いたビデオレート40MHzのラインセンサカメラでは、搬送速度2m/秒の酸洗ラインでの搬送方向のカメラ分解能は約0.2mmに過ぎず、必要分解能に約1桁も不足する。   However, when inspecting the above minute spot defects generated on the surface of pickled steel sheet transported at high speed, the surface inspection apparatus using the line sensor camera has insufficient camera resolution in the transport direction, and is sufficient. There is a problem that a satisfactory defect inspection performance cannot be obtained. For example, in order to detect a point defect having a diameter of 0.05 mm, the camera resolution needs to be approximately 0.025 mm or less. However, in a line sensor camera with a video rate of 40 MHz using 4096 elements, which is normally used, the camera resolution in the transport direction on the pickling line with a transport speed of 2 m / sec is only about 0.2 mm, and the required resolution is about 1 There are not enough digits.

一方、搬送方向のカメラ分解能を向上させる手段としては、ストロボ照明などを用いて、高精細のエリアセンサカメラによって鋼板表面を静止画として撮像する装置が考えられる。しかし、このようなストロボ照明を用いた装置を搬送する帯状材料の検査に適用する場合、搬送方向の撮像タイミングをどのように制御するかが問題となる。例えば、特許文献3には、検査対象を一定速度で搬送し、等時間間隔でカメラ撮像を行うことにより、カメラの撮像視野が検査対象表面の搬送方向で一定になるようにした表面検査装置が開示されている。また、特許文献4には、等時間間隔でカメラ撮像を行うとともに、検査対象の搬送距離を常時計測して、各画像の撮像タイミング間に移動した搬送距離を求めると共に、各画像内でこの搬送距離に対応した一部分のみを有効領域とし、この領域のみの画像処理を行うようにした表面検査装置が開示されている。   On the other hand, as a means for improving the camera resolution in the transport direction, an apparatus that captures the steel plate surface as a still image using a high-definition area sensor camera using strobe illumination or the like can be considered. However, when the apparatus using the strobe illumination is applied to the inspection of the belt-shaped material to be transported, there is a problem of how to control the imaging timing in the transport direction. For example, Patent Document 3 discloses a surface inspection apparatus that transports an inspection target at a constant speed and performs camera imaging at equal time intervals so that the imaging field of view of the camera is constant in the transport direction of the surface of the inspection target. It is disclosed. In Patent Document 4, camera imaging is performed at equal time intervals, the conveyance distance of the inspection object is constantly measured, the conveyance distance moved between the imaging timings of each image is obtained, and this conveyance is performed in each image. There is disclosed a surface inspection apparatus in which only a part corresponding to a distance is an effective area and image processing is performed only on this area.

上記の特許文献3に開示された検査装置は、酸洗鋼板製造ラインのように搬送速度が絶えず変動するラインには適用できないものである。また、特許文献4に開示された装置では、各画像内で搬送速度に応じて画像処理する範囲を変化させるため、画像処理が複雑になって処理時間が長くなり、高速搬送ラインでリアルタイムの処理が困難である。また、特許文献3,4に開示された装置を含む従来の検査装置でスケール残り欠陥を検査する場合の課題としては、以下の(1)および(2)に説明するようなものがある。   The inspection apparatus disclosed in the above-mentioned Patent Document 3 cannot be applied to a line in which the conveyance speed constantly changes, such as a pickled steel plate production line. Further, in the apparatus disclosed in Patent Document 4, since the image processing range is changed in each image according to the conveyance speed, the image processing becomes complicated and the processing time becomes long, and real-time processing is performed on the high-speed conveyance line. Is difficult. Further, problems in the case of inspecting a scale remaining defect with a conventional inspection apparatus including the apparatuses disclosed in Patent Documents 3 and 4 include those described in the following (1) and (2).

(1)帯状材料の幅方向のカメラ分解能を微細な点状欠陥サイズの半分以下とする必要があるため、幅方向に多数のカメラを設置しなければならず、検査装置が非常に高価となり、またカメラの調整や保守に多大の労力を要する。 (1) Since it is necessary to set the camera resolution in the width direction of the band-shaped material to half or less of the fine point defect size, a large number of cameras must be installed in the width direction, and the inspection apparatus becomes very expensive. Also, a great deal of labor is required for camera adjustment and maintenance.

(2)微小な点状欠陥が群生して形成されるスケール残り欠陥の場合、個々の点状欠陥の寸法、輝度、形状などの特徴量を逐一計算して処理すると、画像処理に莫大な負荷がかかり、リアルタイムの処理が困難になる。 (2) In the case of a scale remaining defect formed by a cluster of minute point-like defects, if the amount of features such as the size, brightness, and shape of each point-like defect are calculated and processed one by one, a huge load is imposed on image processing. And real-time processing becomes difficult.

そこで、この実施の形態2では、微小点状欠陥を精度良く検査することができ、微小点状欠陥が群生して形成されるスケール残り欠陥のような検査対象でも、搬送方向に連続的に発生するという特徴を利用して、簡易な構成で、かつリアルタイムで処理可能な表面検査装置を得るようにしている。   Therefore, in the second embodiment, minute spot-like defects can be inspected with high precision, and even an inspection target such as a scale remaining defect formed by clustering minute spot-like defects is continuously generated in the transport direction. By utilizing this feature, a surface inspection apparatus capable of processing in real time with a simple configuration is obtained.

図6は、この発明の実施の形態2に係る表面検査装置の概略構成を示す模式図である。また、図7は、この表面検査装置の一例を示すブロック図である。この実施の形態2は、酸洗鋼板の製造ラインで搬送される帯状鋼板2aに対する表面検査装置として説明する。   FIG. 6 is a schematic diagram showing a schematic configuration of a surface inspection apparatus according to Embodiment 2 of the present invention. FIG. 7 is a block diagram showing an example of this surface inspection apparatus. This Embodiment 2 demonstrates as a surface inspection apparatus with respect to the strip | belt-shaped steel plate 2a conveyed with the production line of a pickled steel plate.

[表面検査装置の概略構成]
図6に示すように、表面検査装置11は、搬送される帯状鋼板2aの表面を、実施の形態1で説明した、遮光板を装備したリング照明装置3および撮像部4によって撮像する。リング照明装置3および撮像部4は検出ヘッド1aの中に固定して配置されている。また、表面検査装置11は、この検出ヘッド1aを帯状鋼板2aの幅方向に移動させるトラバース部6と、画像処理部7と、搬送距離検出部8と、撮像タイミング制御部9と、欠陥分布算出部10と、欠陥マップ表示部12と、を備える。
[Schematic configuration of surface inspection equipment]
As shown in FIG. 6, the surface inspection apparatus 11 images the surface of the strip-shaped steel plate 2a to be conveyed by the ring illumination device 3 and the imaging unit 4 equipped with the light shielding plate described in the first embodiment. The ring illumination device 3 and the imaging unit 4 are fixedly arranged in the detection head 1a. Further, the surface inspection apparatus 11 includes a traverse unit 6 that moves the detection head 1a in the width direction of the strip steel plate 2a, an image processing unit 7, a transport distance detection unit 8, an imaging timing control unit 9, and a defect distribution calculation. Unit 10 and defect map display unit 12.

[検出ヘッド]
検出ヘッド1aは、実施の形態1に示したリング照明3と撮像部4を搭載するものである。なお、撮像部4は、高精細なエリアセンサカメラを用いることにより、酸洗鋼板のスケール残り検査のように、高速搬送ラインにおいても微小点状欠陥を検出することが可能となる。撮像部4は、検査対象とする欠陥の最小サイズのおよそ半分以下の分解能を有するものを用いることが好ましい。
[Detection head]
The detection head 1a is mounted with the ring illumination 3 and the imaging unit 4 described in the first embodiment. In addition, the imaging part 4 can detect a minute point-like defect also in a high-speed conveyance line like the scale remaining inspection of a pickled steel plate by using a high-definition area sensor camera. It is preferable that the imaging unit 4 has a resolution that is approximately half or less than the minimum size of the defect to be inspected.

この撮像部4は、帯状鋼板2aにおける鋼板固有に設定された連続性欠陥の連続発生長の最低長さ以下の一定長さを有する区間が搬送される間に、帯状鋼板2aの全幅を少なくとも一往復すると共に、その間に帯状鋼板2aを実質的に全幅に亘って撮像するように設定されている。   The imaging unit 4 has at least one full width of the strip steel plate 2a while a section having a constant length equal to or less than the minimum continuous length of continuous defects set in the strip steel plate 2a is conveyed. While reciprocating, it sets so that the strip | belt-shaped steel plate 2a may be imaged over the full width in the meantime.

[トラバース部]
図8に示すように、トラバース部6は、検出ヘッド1aに設けられたリング照明装置3および撮像部4を帯状鋼板2aの幅方向(トラバース方向)Yに沿って往復移動させる機能を持つ。具体的には、トラバース部6は、帯状鋼板2aを搬送するラインを幅方向Yに跨ぐように架設されたガイドレール61と、このガイドレール61を走行する検出ヘッド1aを帯状鋼板2aの幅方向Yに往復駆動させる油圧シリンダ62と、を備えて構成されている。
[Traverse part]
As shown in FIG. 8, the traverse unit 6 has a function of reciprocating the ring illumination device 3 and the imaging unit 4 provided in the detection head 1a along the width direction (traverse direction) Y of the strip steel plate 2a. Specifically, the traverse portion 6 includes a guide rail 61 installed so as to straddle a line conveying the strip-shaped steel plate 2a in the width direction Y, and a detection head 1a traveling on the guide rail 61 in the width direction of the strip-shaped steel plate 2a. And a hydraulic cylinder 62 that reciprocates in Y direction.

図6に示すように、トラバース部6では、撮像タイミング制御部9からの制御信号により駆動を行う。そして、図8に示すように、トラバース部6は、撮像部4の光軸(破線で示す)が帯状鋼板2aを完全に横断するように、帯状鋼板2aの幅寸法wよりも長い検査範囲寸法Wのストロークで検出ヘッド1aを往復駆動するようになっている。なお、この検査範囲寸法Wは、ライン搬送される帯状鋼板2aの蛇行代も含むことが好ましい。   As shown in FIG. 6, the traverse unit 6 is driven by a control signal from the imaging timing control unit 9. And as shown in FIG. 8, the traverse part 6 has an inspection range dimension longer than the width dimension w of the strip steel plate 2a so that the optical axis (shown by a broken line) of the imaging unit 4 completely traverses the strip steel plate 2a. The detection head 1a is driven to reciprocate with a W stroke. In addition, it is preferable that this inspection range dimension W also includes the meandering allowance of the strip | belt-shaped steel plate 2a conveyed in a line.

このトラバース部6は、帯状鋼板2aに固有に設定された連続性欠陥Dの連続発生長DLの最低長さd(図9参照)以下の一定長さを有する区間が搬送される間に、検出ヘッド1aを、ストロークW分だけ一往復させ、且つ一定長さを有する区間が搬送される毎に同じ動作を繰り返すように設定されている。   The traverse portion 6 is detected while a section having a constant length equal to or shorter than the minimum length d (see FIG. 9) of the continuous occurrence length DL of the continuity defect D that is uniquely set in the strip-shaped steel plate 2a is conveyed. The head 1a is set to repeat the same operation each time the head 1a is reciprocated by the stroke W and a section having a certain length is conveyed.

[搬送距離検出部]
搬送距離検出部8は、帯状鋼板2aの搬送距離を検知するものであり、帯状鋼板2aの搬送距離情報を撮像タイミング制御部9に出力する。搬送距離検出部8としては、公知のロータリーエンコーダなどを用いることができる。
[Conveyance distance detector]
The transport distance detection unit 8 detects the transport distance of the strip steel plate 2 a and outputs the transport distance information of the strip steel plate 2 a to the imaging timing control unit 9. A known rotary encoder or the like can be used as the transport distance detection unit 8.

[撮像タイミング制御部]
図7に示すように、撮像タイミング制御部9は、搬送方向撮像タイミング制御部91と、幅方向タイミング制御部92と、撮像位置記憶部93を備えている。
[Imaging timing controller]
As illustrated in FIG. 7, the imaging timing control unit 9 includes a conveyance direction imaging timing control unit 91, a width direction timing control unit 92, and an imaging position storage unit 93.

撮像タイミング制御部9全体としては、搬送距離検出部8から帯状鋼板2aの搬送距離情報が搬送方向撮像タイミング制御部91に入力され、またトラバース部6から撮像部4の幅方向位置情報が幅方向撮像タイミング制御部92にそれぞれ入力される。この撮像タイミング制御部9は、これらの入力に同期して、搬送距離およびトラバース(幅方向Yの横断)距離に同期した撮像トリガ信号を撮像部4に出力する。この詳細については後述する。また撮像位置記憶部93は、各画像の帯状鋼板2a上での撮像位置を記憶し、欠陥分布算出部10に出力する。   As the imaging timing control unit 9 as a whole, the conveyance distance information of the strip steel plate 2a is input from the conveyance distance detection unit 8 to the conveyance direction imaging timing control unit 91, and the width direction position information of the imaging unit 4 from the traverse unit 6 is the width direction. Each is input to the imaging timing control unit 92. The imaging timing control unit 9 outputs to the imaging unit 4 an imaging trigger signal that is synchronized with the conveyance distance and the traverse (crossing in the width direction Y) in synchronization with these inputs. Details of this will be described later. In addition, the imaging position storage unit 93 stores the imaging position of each image on the strip steel plate 2 a and outputs it to the defect distribution calculation unit 10.

[画像処理部]
図7に示すように、画像処理部7は、撮像部4から画像データが入力される画像入力部71と、画像データ記憶部72と、欠陥抽出部73と、欠陥パラメータ算出部74と、を備えている。
[Image processing unit]
As illustrated in FIG. 7, the image processing unit 7 includes an image input unit 71 to which image data is input from the imaging unit 4, an image data storage unit 72, a defect extraction unit 73, and a defect parameter calculation unit 74. I have.

具体的には、画像処理部7では、撮像部4から撮像画像データが画像入力部71に入力される。画像入力部71に入力された撮像画像データは、画像データ記憶部72に記憶される。欠陥抽出部73では、画像データ記憶部72に記憶された撮像画像データの画像内から欠陥を抽出し、欠陥パラメータ算出部74で欠陥有害度を反映した欠陥パラメータを算出して、欠陥分布算出部10に出力する。   Specifically, in the image processing unit 7, captured image data is input from the imaging unit 4 to the image input unit 71. The captured image data input to the image input unit 71 is stored in the image data storage unit 72. The defect extraction unit 73 extracts defects from the captured image data stored in the image data storage unit 72, calculates defect parameters that reflect the hazard degree of defects in the defect parameter calculation unit 74, and calculates a defect distribution calculation unit. 10 is output.

ここで、欠陥の抽出は、周知の方法、すなわち、例えばシェーディング補正などの前処理を行った後、所定のしきい値を超える画素を欠陥部として抽出する方法などを用いることができる。欠陥パラメータの算出は、各画像毎に欠陥の有害度を数値データとして表すためのものである。この数値データとしては、例えば、画像内の平均輝度、しきい値を超えた画素数、あるいはしきい値を超えた画素を画像輝度で重み付けした画素数などの中から、欠陥の有害度と相関の高いものを選択するようにする。なお、リアルタイムで、あるいは事後で画像を確認できるように、画像処理手段7には画像データ記憶部72を設け、撮像した全画像、あるいはその中の欠陥のある画像を記憶できるようにするのが好ましい。   Here, for the defect extraction, a well-known method, for example, a method of extracting a pixel exceeding a predetermined threshold value as a defective portion after performing preprocessing such as shading correction can be used. The calculation of the defect parameter is for representing the harmfulness of the defect as numerical data for each image. This numerical data includes, for example, the average luminance in the image, the number of pixels exceeding the threshold value, or the number of pixels weighted by the image luminance that exceeds the threshold value, and the correlation with the harmfulness of the defect. Try to choose the one with the highest. Note that the image processing means 7 is provided with an image data storage unit 72 so that images can be confirmed in real time or later so that all captured images or defective images can be stored. preferable.

この実施の形態2では、個々の欠陥ではなく、各画像に対してその有害度を数値パラメータとして評価するようにしたことにより、特にスケール残りのように微小な点状欠陥が群生して形成される連続性欠陥の有害度の評価には極めて有効である。また、スケール残りのような連続性欠陥に対して、従来装置のように個々の点状欠陥の特徴量を評価しようとすると、画像処理部に膨大な負荷がかかり検査装置を安定して稼動することができなくなる。また、スケール残りでは、微小な点状欠陥の発生密集度が高いほど有害度が増すため、個々の欠陥に対して評価するよりも、画像全体に対して面で評価するようにした方が的確な欠陥有害度の評価が可能になる。   In the second embodiment, since the degree of harmfulness is evaluated as a numerical parameter for each image, not for each individual defect, minute dot-like defects are formed in a cluster, particularly like the remainder of the scale. It is extremely effective in evaluating the hazard level of continuous defects. In addition, when trying to evaluate the feature amount of each point-like defect with respect to continuity defects such as the remaining scale, a huge load is applied to the image processing unit and the inspection apparatus is stably operated. I can't do that. In addition, since the degree of harm increases as the density of minute point-like defects increases with the scale remaining, it is more appropriate to evaluate the entire image rather than evaluating each individual defect. It is possible to evaluate the degree of defect toxicity.

[欠陥分布算出部]
図6および図7に示すように、欠陥分布算出部10には、採取した各画像に対して、欠陥有害度を表す欠陥パラメータを画像処理部7から、また画像を採取した鋼板2上の搬送方向Xおよび幅方向Y位置を撮像タイミング制御部9からそれぞれ入力される。欠陥分布算出部10は、これらの情報から、帯状鋼板2a表面の2次元欠陥発生状況を算出する。
[Defect distribution calculator]
As shown in FIG. 6 and FIG. 7, the defect distribution calculation unit 10 conveys defect parameters indicating the degree of defect harm from the image processing unit 7 to the collected images and on the steel plate 2 from which the images are collected. The direction X and the width direction Y position are respectively input from the imaging timing control unit 9. The defect distribution calculation unit 10 calculates the two-dimensional defect occurrence state on the surface of the strip steel plate 2a from these pieces of information.

[欠陥マップ表示部]
欠陥マップ表示部12は、欠陥分布算出部10で算出された欠陥分布状況を、帯状鋼板2a表面の2次元展開図上に表示する。
[Defect map display area]
The defect map display unit 12 displays the defect distribution status calculated by the defect distribution calculation unit 10 on a two-dimensional development view of the surface of the strip steel plate 2a.

[撮像部の撮像タイミング]
次に、撮像部4の撮像タイミングについて説明する。スケール残りなどの連続性欠陥Dは、(1)幅方向の発生位置は局所的になる場合や全幅に亘る場合があること、(2)図9に示すように、搬送方向の発生位置は、帯状鋼板2aの搬送方向に所定長さd以上、すなわち帯状鋼板2a固有に設定された連続性欠陥の連続発生長DLの最低長さ以上、連続的に発生するという特性を有する。
[Imaging timing of the imaging unit]
Next, the imaging timing of the imaging unit 4 will be described. Continuity defects D such as scale residue, (1) the occurrence position in the width direction may be local or across the entire width, (2) as shown in FIG. It has a characteristic that it continuously occurs in the transport direction of the strip steel plate 2a for a predetermined length d or more, that is, for a continuous length of at least the continuous generation length DL of the continuity defect set unique to the strip steel plate 2a.

この発明は、この知見に基づいて、連続性欠陥Dの最低長さd以下のピッチで、帯状鋼板2a表面の実質的に全幅方向を隈なく検査すれば、搬送方向で検査が途切れても、実質上、帯状鋼板2aの全長全幅に亘ってスケール残り(連続性欠陥D)の検査ができることに着目した。しかも、この発明は、撮像部4を幅方向に横断(トラバース)する装置構成にしたことによって、カメラの台数の削減を図ったものである。   Based on this finding, the present invention is based on this knowledge, if the inspection is substantially interrupted in the conveying direction if the entire width direction of the surface of the strip steel plate 2a is inspected with a pitch equal to or less than the minimum length d of the continuous defect D, Attention was paid to the fact that the remaining scale (continuity defect D) can be inspected over the entire length of the strip steel plate 2a. In addition, the present invention is intended to reduce the number of cameras by adopting an apparatus configuration that traverses the imaging unit 4 in the width direction.

すなわち、帯状鋼板2aにおける、連続性欠陥Dの連続発生長DLの最低長さd以下の一定長さを有する区間が搬送される間に、撮像部4を、一定長さを有する区間内で撮像された部分領域全体が、実質的に帯状鋼板2aの全幅に亘り、一定長さを有する区間同士は、相対的に撮像位置が一定長さのピッチで対応するようにする。   That is, the imaging unit 4 is imaged in the section having the constant length while the section having the constant length equal to or less than the minimum length d of the continuous occurrence length DL of the continuity defect D in the strip-shaped steel plate 2a is conveyed. The entire partial area is substantially the entire width of the strip-shaped steel plate 2a, and the sections having a certain length are relatively arranged so that the imaging positions correspond with a pitch having a certain length.

なお、例えば撮像部4を一定速度で幅方向に横断させて検査すると、図10に示すように、搬送速度が低速に変化した領域(搬送速度低下部分E)で、搬送方向Xの検査頻度が増加する。この結果、この低速部分では、必要以上に過剰な画像採取を行うことになり、検査装置に無用な負荷をかけ、画像メモリを浪費することになる。また、搬送方向Xの検査頻度が搬送速度に応じて変化するので、鋼板2全体のスケール残り発生分布を搬送方向Xに均一に評価することが困難となる。   For example, when the imaging unit 4 is inspected by traversing in the width direction at a constant speed, as shown in FIG. 10, the inspection frequency in the transport direction X is in an area where the transport speed has changed to a low speed (transport speed decrease portion E). To increase. As a result, in this low-speed portion, excessive image acquisition is performed more than necessary, and an unnecessary load is applied to the inspection apparatus, and the image memory is wasted. In addition, since the inspection frequency in the transport direction X changes according to the transport speed, it is difficult to uniformly evaluate the distribution of residual scale generation in the entire steel plate 2 in the transport direction X.

さらに、操業の異常などによって、帯状鋼板2aの搬送速度が極めて遅くなったり、帯状鋼板2aが一時的に停止したりした場合、帯状鋼板2a表面の同一箇所を重複して検査することになり、同一の欠陥を重複してカウントする不具合が発生する。   Furthermore, when the conveyance speed of the strip steel plate 2a becomes extremely slow due to abnormal operation, or when the strip steel plate 2a is temporarily stopped, the same portion of the surface of the strip steel plate 2a will be inspected repeatedly. There is a problem that the same defect is counted repeatedly.

そこで、図11に示すように、帯状鋼板2aが所定距離ΔLだけ移動する度に撮像部4の幅方向の横断を開始し、帯状鋼板2a全幅を1回だけ検査するようにした。この結果、搬送速度が低速になったり、停止したりした場合でも、搬送方向の検査頻度を一定に保つことが可能になる。なお、図11に示す例では、撮像部4を帯状鋼板2aの幅方向の一方側から他方側へ実質的に全幅に亘って撮像するように移動させ、且つ幅方向の他方側から一方側へ撮像するように移動させて一方側へ復帰する往復動作を、連続性欠陥Dの最低長さdの搬送長さの間に3回行うようにした例である。   Therefore, as shown in FIG. 11, every time the strip-shaped steel plate 2a moves by a predetermined distance ΔL, crossing in the width direction of the imaging unit 4 is started, and the entire width of the strip-shaped steel plate 2a is inspected only once. As a result, it is possible to keep the inspection frequency in the conveyance direction constant even when the conveyance speed becomes low or stops. In the example shown in FIG. 11, the imaging unit 4 is moved from one side in the width direction of the strip-shaped steel plate 2 a to the other side so as to capture substantially the entire width, and from the other side in the width direction to one side. In this example, the reciprocating operation of moving to take an image and returning to one side is performed three times during the conveyance length of the minimum length d of the continuity defect D.

この実施の形態2では、帯状鋼板2aの連続性欠陥Dの連続発生長DLの最低長さd以下の一定長さ搬送される間に、撮像部4を、帯状鋼板2aを実質的に全幅に亘って撮像するように移動させ、少なくとも一往復させればよい。このような動作を繰り返すことで、連続性欠陥Dの連続発生長DLの最低長さd以下の搬送ピッチで検査が行われるため、最低長さd以上の連続性欠陥Dは実質的に全幅の検査でいずれかの撮像領域で確実に検出できるようになっている。   In the second embodiment, the image pickup unit 4 is made substantially full width while being transported for a certain length not more than the minimum length d of the continuous generation length DL of the continuity defect D of the strip steel plate 2a. The image may be moved so as to be imaged over at least one reciprocation. By repeating such an operation, the inspection is performed at a conveyance pitch that is equal to or less than the minimum length d of the continuous generation length DL of the continuity defect D. Therefore, the continuity defect D that is equal to or greater than the minimum length d is substantially full width. It is possible to reliably detect in any imaging region in the inspection.

図12は、図11の破線部分を拡大したものである。図中の四角は撮像部4の撮像領域(部分領域)Aを示している。撮像タイミング制御部9は、搬送距離検出部8から帯状鋼板2aが距離ΔLだけ搬送される毎に信号を受信し、トラバース部6に撮像部4のトラバースの開始信号を出力する。トラバース部6は、この信号を受けると、撮像部4の幅方向Yトラバースを開始するとともに、所定距離ΔWだけトラバースする毎に、撮像部4に撮像開始信号を出力する。なお、図12に示すt1〜tNは、帯状鋼板2aの搬送方向Xに沿って互いに平行をなすように互いに隣接し、且つ撮像部4の幅方向視野とほぼ同じ長さの幅ΔWを持つ、複数の細長いトラック領域を便宜的に設定している。図12に示す例では、これらトラック領域t1〜tN内の部分領域Aは、互いに幅方向に連続している。   FIG. 12 is an enlarged view of the broken line portion of FIG. Squares in the figure indicate an imaging region (partial region) A of the imaging unit 4. The imaging timing control unit 9 receives a signal every time the strip steel plate 2 a is conveyed by the distance ΔL from the conveyance distance detection unit 8, and outputs a traverse start signal of the imaging unit 4 to the traverse unit 6. When the traverse unit 6 receives this signal, the traverse unit 6 starts the Y-traverse in the width direction of the imaging unit 4 and outputs an imaging start signal to the imaging unit 4 every time it traverses the predetermined distance ΔW. T1 to tN shown in FIG. 12 are adjacent to each other so as to be parallel to each other along the conveyance direction X of the strip-shaped steel plate 2a, and have a width ΔW having substantially the same length as the width direction visual field of the imaging unit 4. A plurality of elongate track areas are set for convenience. In the example shown in FIG. 12, the partial areas A in the track areas t1 to tN are continuous in the width direction.

そして、トラバース部6は、撮像部4による画像採取が帯状鋼板2a全幅を撮像し終えたら、トラバースを停止し、撮像タイミング制御部9から次のトラバース開始信号が来るまで待機する。この間、撮像部4は帯状鋼板2aの全幅に亘る画像G11、G12、・・・、G1Nを採取する。トラバース部6は、次のトラバース開始信号が来たら、再びトラバースを開始し、トラバース距離に応じて撮像部4に撮像開始信号を出力する。この結果、撮像部4は画像G2N、G2N−1、・・・、G21を採取する。   Then, when the image capturing by the imaging unit 4 finishes capturing the entire width of the strip steel plate 2a, the traverse unit 6 stops the traverse and waits until the next traverse start signal comes from the imaging timing control unit 9. During this time, the imaging unit 4 collects images G11, G12,..., G1N over the entire width of the strip steel plate 2a. When the next traverse start signal is received, the traverse unit 6 starts the traverse again, and outputs an imaging start signal to the imaging unit 4 according to the traverse distance. As a result, the imaging unit 4 collects images G2N, G2N-1, ..., G21.

以上、撮像部4でトラバースの往路および復路に各1回全幅を検査する場合を説明したが、図13に示すように、往路で検査後、復路のトラバース中は非検査(非撮像)とするような構成にしてもよい。さらに、トラバース速度がほぼ一定とみなせる場合には、幅方向へ距離Δwだけトラバースする時間に相当する時間間隔で、撮像部4を連続撮像するようにして、各画像採取の撮像開始信号を省略するようにしてもよい。   As described above, the case where the imaging unit 4 inspects the full width once in each of the forward and backward traverses has been described. However, as shown in FIG. Such a configuration may be adopted. Further, when the traverse speed can be regarded as substantially constant, the imaging unit 4 is continuously imaged at a time interval corresponding to the time to traverse the distance Δw in the width direction, and the imaging start signal for each image acquisition is omitted. You may do it.

トラバース速度の上限値は、幅方向に検査洩れが生じないような速度になるが、これは、撮像部4の幅方向視野長さと撮像部4の最大許容繰り返し撮像レートによって決定される。なお、図12に示すように、部分領域Aが幅方向で隣接するトラック領域とわずかに重なることが好ましい。また、トラバース速度の下限値は、トラバースのストロークと最大搬送速度、および検査対象とする連続性欠陥Dの連続発生長DLの最小長さdによって決定される。すなわち、例えば図11の場合は、3往復の動作を撮像部4が行い、6・ΔL≦dとなるように設定されている。また、図13に示したようなストロークを行う場合には、ΔL≦dとなるように設定してもよい。換言すれば、帯状鋼板2aが、帯状鋼板2aに固有に設定された連続性欠陥Dの連続発生長DLの最低長さdより短い距離搬送される間に、撮像部4を少なくとも1回、帯状鋼板2aの全幅に亘って移動するように設定すればよい。   The upper limit value of the traverse speed is a speed at which no inspection omission occurs in the width direction, and this is determined by the width-direction visual field length of the imaging unit 4 and the maximum allowable repeated imaging rate of the imaging unit 4. As shown in FIG. 12, it is preferable that the partial area A slightly overlaps the adjacent track area in the width direction. The lower limit value of the traverse speed is determined by the traverse stroke and the maximum transport speed, and the minimum length d of the continuous occurrence length DL of the continuity defect D to be inspected. That is, for example, in the case of FIG. 11, the imaging unit 4 performs three reciprocating operations, and is set such that 6 · ΔL ≦ d. Further, when a stroke as shown in FIG. 13 is performed, it may be set such that ΔL ≦ d. In other words, while the belt-shaped steel plate 2a is transported by a distance shorter than the minimum length d of the continuous generation length DL of the continuity defect D that is inherently set in the belt-shaped steel plate 2a, the imaging unit 4 is strip-shaped at least once. What is necessary is just to set so that it may move over the full width of the steel plate 2a.

なお、図12および図13に示した例では、部分領域Aが連続する例であるが、図14に示すように、互いに隣接するトラック領域t同士の部分領域Aが搬送方向(長手方向)に連続していなくてもよい。この場合も、隣接するそれぞれのトラック領域t内に一回は部分領域Aが位置するため、実質的に全幅に亘って撮像を行うことができ、連続性欠陥Dを確実に検出することができる。なお、図14に示すΔLtは、撮像部4が帯状鋼板2aの一方側から他方側へトラバースする間に帯状鋼板2aが進む距離であり、ΔLrは撮像部4が他方側から一方側へ復帰するまでに帯状鋼板2aが進む距離である。このΔLtとΔLrとを加えたΔLを連続性欠陥Dの最低長さd以下の長さ設定すればよい。   In the example shown in FIGS. 12 and 13, the partial areas A are continuous. However, as shown in FIG. 14, the partial areas A between the adjacent track areas t are in the transport direction (longitudinal direction). It does not have to be continuous. Also in this case, since the partial area A is positioned once in each adjacent track area t, imaging can be performed over substantially the entire width, and the continuity defect D can be reliably detected. . Note that ΔLt shown in FIG. 14 is the distance traveled by the strip steel plate 2a while the imaging unit 4 traverses from one side of the strip steel plate 2a to the other side, and ΔLr is the return of the imaging unit 4 from the other side to the one side. This is the distance traveled by the strip steel plate 2a. ΔL obtained by adding ΔLt and ΔLr may be set to a length equal to or less than the minimum length d of the continuity defect D.

なお、トラバースのストローク長さは、無駄な画像採取を削減するため、検査対象となる帯状鋼板2aの板幅変化に応じて可変とすることができるが、簡易的には、帯状鋼板2aの板幅に依らずに一定長さとしてもよい。この場合、ストローク長さは想定される帯状鋼板2a板幅の最大値に蛇行代を加えた長さとする。   The stroke length of the traverse can be made variable according to the change in the plate width of the strip steel plate 2a to be inspected in order to reduce useless image collection. It may be a fixed length regardless of the width. In this case, the stroke length is a length obtained by adding a meandering margin to the maximum value of the assumed strip-shaped steel plate 2a width.

上記のように撮像タイミングを制御することによって、画像処理部7は各画像に対して同じルーチン処理を施せばよいので、画像処理が単純になり、高速搬送ラインにおいても検査システムに過大な負荷がかからないため、安定した信頼性の高い検査を行えるようになる。   By controlling the imaging timing as described above, the image processing unit 7 only needs to perform the same routine processing on each image, which simplifies image processing and places an excessive load on the inspection system even in the high-speed conveyance line. Therefore, stable and highly reliable inspection can be performed.

[欠陥分布算出と欠陥マップの具体例]
次に、欠陥分布算出と欠陥マップ表示の具体例について述べる。欠陥分布算出部10は、図12に示す画像G11、G12、・・・、G1N;G2N、G2N−1、・・・、G21;G31、G32、・・・、G3N;・・・のそれぞれに対し、1つの欠陥パラメータを算出して割り当てる。この結果、帯状鋼板2a表面上の幅方向Yおよび搬送方向Xの欠陥発生分布が、欠陥パラメータの数値の大小として定量的に把握可能となる。欠陥マップ表示部12は、この発生分布状況を図15に示す表示例のように、2次元マップ上に表示する。
[Specific examples of defect distribution calculation and defect map]
Next, specific examples of defect distribution calculation and defect map display will be described. .., G1N; G2N, G2N-1,..., G21; G31, G32,..., G3N; On the other hand, one defect parameter is calculated and assigned. As a result, the defect occurrence distribution in the width direction Y and the conveyance direction X on the surface of the strip-shaped steel plate 2a can be quantitatively grasped as the numerical value of the defect parameter. The defect map display unit 12 displays the occurrence distribution state on a two-dimensional map as in the display example shown in FIG.

図15の表示例では、実際には帯状鋼板2a表面上をジグザグ走査して得られた画像の座標位置を見やすいように碁盤目状に表示してある。一番左の列は画像G1i(i=1、2、…N)の、また2番目の列は画像G2i(i=1、2、…N)の欠陥情報を示しており、黒く塗りつぶしたメッシュは欠陥パラメータが所定のしきい値Th1より大きいこと、斜線を引いたメッシュは欠陥パラメータが所定のしきい値Th2(Th2<Th1)より大きく、Th1より小さいことを示している。   In the display example of FIG. 15, the display is actually performed in a grid pattern so that the coordinate position of an image obtained by zigzag scanning on the surface of the strip steel plate 2 a can be easily seen. The leftmost column shows the defect information of the image G1i (i = 1, 2,... N), and the second column shows the defect information of the image G2i (i = 1, 2,... N). Indicates that the defect parameter is larger than the predetermined threshold value Th1, and the hatched mesh indicates that the defect parameter is larger than the predetermined threshold value Th2 (Th2 <Th1) and smaller than Th1.

このように帯状鋼板2aの表面を矩形のメッシュに区切り、各メッシュの色やパターンを欠陥パラメータの範囲に応じて塗り分けることにより、連続性欠陥Dの発生分布が一目瞭然に把握できるようになる。マップの表示にあたっては、グレイスケールの濃淡や、カラーの色での塗り分け、あるいは表示マークによって示すようにしてもよい。表示マークで示す場合は、例えば、非常に有害なメッシュを「×」、中程度に有害なメッシュを「△」、軽度に有害なメッシュを「○」、無害なメッシュは空欄にするなどの表記を行えばよい。   Thus, by dividing the surface of the strip-shaped steel plate 2a into rectangular meshes and coating the color and pattern of each mesh according to the range of the defect parameter, the distribution of the continuity defect D can be grasped at a glance. When the map is displayed, the map may be indicated by gray scale shading, color separation by color, or display mark. Indications such as “X” for extremely harmful meshes, “△” for moderately harmful meshes, “○” for mildly harmful meshes, and blank for harmless meshes. Can be done.

上記したメッシュの寸法は、必ずしも画像のサイズ(カメラ視野のサイズ)に一致させる必要はなく、例えば、搬送方向2画像分と幅方向3画像分を一緒にして1つのメッシュに割り当てるようにしてもよい。この場合、図15のメッシュサイズは、ΔX=2ΔL、ΔY=3ΔWとなる。複数の画像を1つのメッシュに割り当てる処理は、欠陥分布算出部10によって行う。この場合、たとえば、該当する複数画像の欠陥パラメータの平均値あるいは最大値などをメッシュの欠陥有害度として算出するようにする。   The mesh dimensions described above do not necessarily need to match the image size (camera field of view size). For example, two images in the transport direction and three images in the width direction may be assigned to one mesh. Good. In this case, the mesh sizes in FIG. 15 are ΔX = 2ΔL and ΔY = 3ΔW. The process of assigning a plurality of images to one mesh is performed by the defect distribution calculation unit 10. In this case, for example, the average value or the maximum value of the defect parameters of the corresponding plurality of images is calculated as the defect defect degree of the mesh.

以上、この発明の実施の形態2について説明したが、この実施の形態2によれば、搬送距離検出部8で検出した搬送距離情報および撮像部4の幅方向位置情報に基づいて撮像部4が帯状鋼板2aに対して実質的に全幅に亘って部分領域を撮像するように撮像タイミングを制御するようにしたため、搬送速度が変化しても帯状鋼板2a表面を一定の距離間隔で検査でき、搬送方向に連続発生する連続性欠陥Dを洩れなく検査することが可能である。この際、複雑な画像処理が不要であると共に、過分な領域を撮像する必要がないため、画像処理に負荷がかからず、高速搬送ラインにおいてもリアルタイムで信頼性の高い検査を行えるようになる。   As described above, the second embodiment of the present invention has been described. According to the second embodiment, the imaging unit 4 is based on the conveyance distance information detected by the conveyance distance detection unit 8 and the width direction position information of the imaging unit 4. Since the imaging timing is controlled so that a partial region is imaged over the entire width of the strip steel plate 2a, the surface of the strip steel plate 2a can be inspected at a constant distance even if the transport speed changes, and the transport It is possible to inspect the continuity defect D continuously generated in the direction without omission. At this time, complicated image processing is not necessary, and it is not necessary to image an excessive area, so that image processing is not burdened, and high-speed and highly reliable inspection can be performed even on a high-speed conveyance line. .

また、この実施の形態2では、トラバース部6で高精細な撮像部4を帯状鋼板2aの幅方向Yに移動させることにより、使用カメラ台数を削減することができる。上記の実施の形態2では、撮像部4を1台にすることができる。   In the second embodiment, the number of cameras used can be reduced by moving the high-definition imaging unit 4 in the width direction Y of the strip steel plate 2a by the traverse unit 6. In the second embodiment, the number of the imaging unit 4 can be made one.

また、上記の実施の形態2に係る表面検査装置11によれば、個々の欠陥ではなく、各撮像画像から抽出した数値パラメータによって欠陥の有害度を判定するようにしたので、微小欠陥が群生して形成されるような連続性欠陥を検査する場合、画像処理の負荷が少なくてすみ、高速で安定した画像処理が可能になる。   Further, according to the surface inspection apparatus 11 according to the second embodiment, since the harmfulness of the defect is determined not by individual defects but by numerical parameters extracted from each captured image, micro defects are clustered. When inspecting a continuity defect that is formed in such a manner, the load of image processing can be reduced, and high-speed and stable image processing becomes possible.

さらに、上記の実施の形態2に係る表面検査装置11によれば、遮光部3Bによって生成される回折光の、帯状鋼板2aの撮像領域内での反射光が撮像部4に入射するように設定されたリング照明装置3を備えることにより、検査対象物表面からの明暗点の輝度パターンの発生を防止でき、地合ノイズを抑止して微小点状欠陥を精度よく検査できる。なお検査対象によっては、検出ヘッド1aは、実施の形態1に示した回折光を用いるものに限らず、通常の拡散照明光を照射するものとすることもできる。   Furthermore, according to the surface inspection apparatus 11 according to the above-described second embodiment, the diffracted light generated by the light shielding unit 3B is set so that the reflected light in the imaging region of the strip steel plate 2a enters the imaging unit 4. By providing the ring illumination device 3 that has been made, it is possible to prevent the generation of brightness patterns of bright and dark spots from the surface of the object to be inspected, and it is possible to accurately inspect minute spot-like defects by suppressing formation noise. Depending on the inspection target, the detection head 1a is not limited to the one that uses the diffracted light shown in the first embodiment, but can also emit normal diffuse illumination light.

なお、リング照明装置3は、図8に示したように、撮像部4と一体化させてトラバースするため、軽量な小型照明を用いることが望ましい。   As shown in FIG. 8, the ring illumination device 3 is traversed by being integrated with the imaging unit 4, and thus it is desirable to use a light and small illumination.

(その他の実施の形態)
以上、この発明の実施の形態1,2について説明したが、上記の実施の形態の開示の一部をなす論述および図面はこの発明を限定するものであると理解するべきではない。この開示から当業者には様々な代替実施の形態、実施例および運用技術が明らかとなろう。
(Other embodiments)
As mentioned above, although Embodiment 1 and 2 of this invention were demonstrated, it should not be understood that the description and drawing which make a part of disclosure of said embodiment limit this invention. From this disclosure, various alternative embodiments, examples and operational techniques will be apparent to those skilled in the art.

例えば、上記の実施の形態では、本発明を酸洗鋼板のスケール残り欠陥の検査に適用する場合について述べたが、本発明の検査対象はこれに限定されるものではなく、冷延鋼板や表面処理鋼板などの他の鋼板、あるいはアルミなどの非鉄金属や紙、フィルム、プラスチックなどの製造ラインにも適用することができる。また、スリ疵や周期性疵など、搬送方向に連続的に発生する特性をもつ他の表面欠陥の検査にも適用することができる。   For example, in the above embodiment, the case where the present invention is applied to the inspection of the remaining scale defect of the pickled steel sheet is described, but the inspection object of the present invention is not limited to this, and the cold rolled steel sheet or the surface The present invention can also be applied to other steel plates such as treated steel plates, or production lines such as non-ferrous metals such as aluminum, paper, films, and plastics. In addition, the present invention can also be applied to inspection of other surface defects having characteristics that occur continuously in the conveying direction, such as a thread and a periodic defect.

また、上記の実施の形態では、帯状鋼板2aにおける、連続性欠陥Dの連続発生長DLの最低長dさ以下の一定長さを有する区間が、搬送される間に、撮像部4が、幅方向の一方側から他方側へまたは他方側から一方側へトラバースする際に撮像を連続的に行う構成としたが、例えば往路で幅方向の半分を撮像し、復路で他の半分を撮像して、撮像された部分領域全体で実質的に全幅に亘って撮像されていればよい。   Moreover, in said embodiment, while the area which has the fixed length below the minimum length d of the continuous generation length DL of the continuous defect D in the strip | belt-shaped steel plate 2a is conveyed, the imaging part 4 has width | variety. The image is continuously captured when traversing from one side of the direction to the other side or from the other side to the one side. For example, half of the width direction is imaged on the forward path and the other half is imaged on the return path. It suffices if the entire captured partial area is imaged over substantially the entire width.

また、上記の実施の形態では、リング照明装置3の光源としてキセノン・ストロボ光源などを用いたが、この他に、光出射部3AとしてLEDを用いてもよい。   In the above-described embodiment, a xenon / strobe light source or the like is used as the light source of the ring illumination device 3, but an LED may be used as the light emitting unit 3A.

さらに、上記の実施の形態では、トラバース部6がガイドレール61と油圧シリンダ62を備え、油圧シリンダで検出ヘッド1aを幅方向に駆動するようにしたが、実質的に撮像部4およびリング照明装置3を同期して幅方向に移動させる構成であれば、これに限定されるものではない。   Furthermore, in the above embodiment, the traverse unit 6 includes the guide rail 61 and the hydraulic cylinder 62, and the detection head 1a is driven in the width direction by the hydraulic cylinder. However, the imaging unit 4 and the ring illumination device are substantially used. If it is the structure which moves 3 in the width direction synchronizing, it will not be limited to this.

(実施例)
以下、本発明を酸洗鋼板のスケール残り検査に適用した実施例について述べる。この実施例では、分解能0.03mmのエリアセンサカメラ4とリング照明装置3を検出ヘッド1aに固定し、図16に示すように、2つの検出ヘッド1aを幅方向840mm隔てて設置した装置を用いた。ガイドレール61により、2つの検出ヘッド1aを同時に幅方向に840mmトラバースするようにした。これにより、最大板幅1600mmの酸洗鋼板である帯状鋼板2aの全幅を検査できるようにした。リング照明装置3の光出射部(図示省略する)の前面には光出射部よりわずかに径の小さな開口部を有するリング状の遮光板(図示省略する)を設置した。図3に示した幾何学的な配置条件としては、R=38mm、r=21mm、H=100mm、θ=35°である。
(Example)
Hereinafter, an embodiment in which the present invention is applied to a scale remaining inspection of a pickled steel sheet will be described. In this embodiment, an area sensor camera 4 having a resolution of 0.03 mm and a ring illumination device 3 are fixed to the detection head 1a, and as shown in FIG. 16, two detection heads 1a are installed with a width direction of 840mm apart. It was. With the guide rail 61, the two detection heads 1a are simultaneously traversed in the width direction by 840 mm. Thereby, it was made possible to inspect the full width of the strip steel plate 2a which is a pickled steel plate having a maximum plate width of 1600 mm. A ring-shaped light-shielding plate (not shown) having an opening having a slightly smaller diameter than the light emitting part was installed on the front surface of the light emitting part (not shown) of the ring illumination device 3. The geometrical arrangement conditions shown in FIG. 3 are R = 38 mm, r = 21 mm, H = 100 mm, and θ = 35 °.

搬送距離検出部8としては、ロータリーエンコーダを用いた、画像処理部7、欠陥分布算出部10、撮像タイミング制御部9はすべて、画像キャプチャーボード、ディジタル入出力ボード、エンコーダボードを搭載したパソコンで行った。欠陥マップ表示部12としては大型液晶モニターを用いた。   As the transport distance detection unit 8, the image processing unit 7, the defect distribution calculation unit 10, and the imaging timing control unit 9 using a rotary encoder are all performed by a personal computer equipped with an image capture board, a digital input / output board, and an encoder board. It was. A large liquid crystal monitor was used as the defect map display unit 12.

帯状鋼板2aが10m搬送される毎に、撮像部4を1回トラバースするようにした。これはスケール残り欠陥Dが搬送方向に30m以上連続して発生する知見に基づいている。   The imaging unit 4 is traversed once every time the belt-shaped steel plate 2a is transported by 10 m. This is based on the knowledge that the scale remaining defect D is continuously generated in the transport direction by 30 m or more.

検査結果は、欠陥パラメータの大きさに応じて3段階に分けて欠陥マップのメッシュの濃淡を変えて表示するようにした。本実施例による検査結果例を図17に示す。図17により、搬送方向Xおよび幅方向Yのスケール残りの発生分布が明瞭にわかることが確認された。   The inspection results are divided into three levels according to the size of the defect parameter and displayed by changing the density of the defect map mesh. An example of the inspection result according to this embodiment is shown in FIG. It was confirmed from FIG. 17 that the generation distribution of the remaining scale in the transport direction X and the width direction Y can be clearly seen.

このように、帯状鋼板2a表面の2次元マップ上に数値パラメータに対応した色あるいはマークで表示するようにしたので、材料表面の欠陥発生分布が一目で定量的に把握できるようになり、欠陥発生時の対処が迅速かつ的確に行えるようになる。   In this way, since the color or mark corresponding to the numerical parameter is displayed on the two-dimensional map of the surface of the strip steel plate 2a, the defect occurrence distribution on the material surface can be grasped quantitatively at a glance, and the defect occurrence Time can be dealt with quickly and accurately.

1,11 表面検査装置
1a 検出ヘッド
2 鋼板
2a 帯状鋼板
3 リング照明装置
3A 光出射部
3B 遮光板
4 撮像部
4A エリアセンサカメラ
4B レンズ
6 トラバース部
7 画像処理部
8 搬送距離検出部
9 撮像タイミング制御部
10 欠陥分布算出部
12 欠陥マップ表示部
61 ガイドレール
62 油圧シリンダ
71 画像入力部
72 画像データ記憶部
73 欠陥抽出部
74 欠陥パラメータ算出部
91 搬送方向撮像タイミング制御部
92 幅方向撮像タイミング制御部
93 撮像位置記憶部
A 撮像領域(部分領域)
B 直接光照射領域
C リング照明装置の中心軸
C4 撮像部の光軸
D 連続性欠陥
H 距離
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,11 Surface inspection apparatus 1a Detection head 2 Steel plate 2a Strip | belt-shaped steel plate 3 Ring illumination apparatus 3A Light-emitting part 3B Light-shielding plate 4 Imaging part 4A Area sensor camera 4B Lens 6 Traverse part 7 Image processing part 8 Conveyance distance detection part 9 Imaging timing control Unit 10 Defect distribution calculation unit 12 Defect map display unit 61 Guide rail 62 Hydraulic cylinder 71 Image input unit 72 Image data storage unit 73 Defect extraction unit 74 Defect parameter calculation unit 91 Transport direction imaging timing control unit 92 Width direction imaging timing control unit 93 Imaging position storage unit A Imaging area (partial area)
B Direct light irradiation area C Center axis of ring illumination device C4 Optical axis of imaging unit D Continuity defect H Distance

Claims (9)

リング状の光出射部と、該光出射部と検査対象物との間に、該光出射部と同心円状で、かつ、該光出射部の内径より径の小さい光学的な開口部を有する遮光板とを有したリング照明装置と、
前記遮光板の開口部の中心線上に配置され、該開口部を介して前記検査対象物の表面を撮像する撮像部と、
を備え、
前記撮像部が撮像する前記検査対象物表面上の撮像領域には、前記光出射部から照射された光のうち前記遮光板の開口部縁部で回折した光のみが照射され、前記光出射部と前記検査対象物表面との間の距離は、前記対象物表面上の撮像領域内の平均輝度レベルが所定レベル以上で、かつ、該撮像領域内の輝度レベル差が所定範囲内となるように設定されることを特徴とする表面検査装置。
A light shielding part having a ring-shaped light emitting part and an optical opening concentrically with the light emitting part and having a diameter smaller than the inner diameter of the light emitting part between the light emitting part and the inspection object A ring illumination device having a plate;
An imaging unit that is disposed on the center line of the opening of the light shielding plate and images the surface of the inspection object through the opening;
With
The imaging region on the surface of the inspection object imaged by the imaging unit is irradiated only with light diffracted at the edge of the opening of the light shielding plate out of the light emitted from the light emitting unit, and the light emitting unit And the surface of the object to be inspected so that the average luminance level in the imaging region on the surface of the object is not less than a predetermined level and the difference in luminance level in the imaging region is within the predetermined range. A surface inspection apparatus characterized by being set.
前記検査対象物は長手方向に沿って搬送される帯状材料であり、
前記帯状材料固有に設定された連続性欠陥の連続発生長の最低長さ以下の一定長さを有する区間が搬送される間に、前記リング照明装置および前記撮像部を、前記帯状材料の全幅を少なくとも一往復させ、かつ、前記一定長さを有する区間が搬送される毎に同じ動作を繰り返すトラバース部を備え、
該帯状材料表面に発生する連続性欠陥を検査することを特徴とする請求項1に記載の表面検査装置。
The inspection object is a band-shaped material conveyed along the longitudinal direction,
While the section having a certain length that is equal to or less than the minimum continuous occurrence length of the continuous defect set in the band-shaped material is conveyed, the ring illumination device and the imaging unit are set to have the full width of the band-shaped material. A traverse unit that reciprocates at least once and repeats the same operation every time the section having the predetermined length is conveyed,
The surface inspection apparatus according to claim 1, wherein continuity defects generated on the surface of the belt-shaped material are inspected.
前記帯状材料の搬送距離を検出する搬送距離検出部と、
前記搬送距離検出部で検出した搬送距離情報に基づいた前記トラバース部の往復動作と、前記撮像部が前記帯状材料を実質的に全幅に亘って撮像するように撮像タイミングを制御する撮像タイミング制御部と、
を備えたことを特徴とする請求項2に記載の表面検査装置。
A transport distance detector for detecting the transport distance of the belt-shaped material;
The reciprocating operation of the traverse unit based on the conveyance distance information detected by the conveyance distance detection unit, and an imaging timing control unit that controls the imaging timing so that the imaging unit images the belt-like material substantially over the entire width. When,
The surface inspection apparatus according to claim 2, further comprising:
前記帯状材料の長手方向に沿って互いに平行をなすように互いに隣接し、かつ、前記撮像部の幅方向視野とほぼ同じ長さの幅を持つ、複数の細長いトラック領域を設定した場合に、前記撮像部は、それぞれの前記トラック領域に属する互いに隣接する部分領域または前記長手方向に互いに離間する前記部分領域を撮像することを特徴とする請求項2または3に記載の表面検査装置。   When a plurality of elongate track regions are set adjacent to each other so as to be parallel to each other along the longitudinal direction of the strip-shaped material and having a width of approximately the same length as the visual field in the width direction of the imaging unit, The surface inspection apparatus according to claim 2, wherein the imaging unit images the adjacent partial areas belonging to the respective track areas or the partial areas separated from each other in the longitudinal direction. 前記撮像部で撮像した各画像内における欠陥有害度を数値データとして抽出する画像処理部と、
前記画像処理部で抽出された前記各画像の欠陥数値データとその撮像位置に基づいて帯状材料表面の2次元欠陥発生状況を算出する欠陥分布算出部と、
を備えることを特徴とする請求項2〜4のいずれか一つに記載の表面検査装置。
An image processing unit that extracts the degree of harmfulness of defects in each image captured by the imaging unit as numerical data; and
A defect distribution calculating unit that calculates the two-dimensional defect occurrence status of the surface of the belt-like material based on the defect numerical data of each image extracted by the image processing unit and its imaging position;
The surface inspection apparatus according to any one of claims 2 to 4, further comprising:
欠陥分布算出部で算出された欠陥分布状況を前記帯状材料表面の2次元展開図上に表示する欠陥マップ表示部をさらに備えることを特徴とする請求項5に記載の表面検査装置。   The surface inspection apparatus according to claim 5, further comprising a defect map display unit that displays the defect distribution status calculated by the defect distribution calculation unit on a two-dimensional development view of the surface of the band-shaped material. 前記欠陥マップ表示部は、前記帯状材料表面を矩形のメッシュに分割し、各メッシュの欠陥有害度を表示色あるいは表示マークを変えて表示することを特徴とする請求項6に記載の表面検査装置。   The surface inspection apparatus according to claim 6, wherein the defect map display unit divides the surface of the belt-like material into rectangular meshes, and displays the defect harmfulness of each mesh by changing a display color or a display mark. . 前記検査対象物は、鋼板であり、該鋼板上の撮像領域内の微小点状欠陥を検査することを特徴とする請求項1〜7のいずれか一つに記載の表面検査装置。   The surface inspection apparatus according to claim 1, wherein the inspection object is a steel plate, and inspects minute point-like defects in an imaging region on the steel plate. 前記帯状材料は酸洗鋼板であり、前記連続性欠陥がスケール残りであることを特徴とする請求項2〜7のいずれか一つに記載の表面検査装置。   The surface inspection apparatus according to claim 2, wherein the belt-shaped material is a pickled steel sheet, and the continuity defect is a scale residue.
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105136810A (en) * 2015-08-27 2015-12-09 张小磊 Steel plate defect detecting platform based on high-strength lighting
DE102016009237A1 (en) * 2016-07-28 2018-02-01 Franz Kessler Gmbh Spindle arrangement for a machine tool with an optical element and optical element, in particular for such a spindle arrangement
JP6627689B2 (en) * 2016-08-17 2020-01-08 Jfeスチール株式会社 Metal strip surface inspection method
JP2018059772A (en) * 2016-10-04 2018-04-12 オムロン株式会社 Sheet inspection device
CN109781743A (en) * 2017-11-14 2019-05-21 鹤立精工股份有限公司 Optical detecting method
TWI689723B (en) * 2019-02-01 2020-04-01 中國鋼鐵股份有限公司 Method for extracting dent on surface of object
CN110346381B (en) * 2019-08-12 2022-03-08 衡阳师范学院 Optical element damage testing method and device
CN112730419B (en) * 2019-10-14 2024-01-09 富泰华工业(深圳)有限公司 Appearance flaw detection device
CN112730420B (en) * 2019-10-14 2024-02-20 富泰华工业(深圳)有限公司 Appearance flaw detection workstation
CN112718881A (en) * 2019-10-28 2021-04-30 南京智欧智能技术研究院有限公司 Method and device for detecting surface defects of hot-rolled steel material
CN111307825B (en) * 2020-04-08 2023-05-02 山东交通学院 Method for detecting pit defects on surface of wood board
JP7471533B2 (en) 2022-03-03 2024-04-19 三菱電機株式会社 Appearance inspection device and appearance inspection method

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3590162B2 (en) * 1995-10-16 2004-11-17 アピックヤマダ株式会社 Lead frame inspection equipment
CN100520376C (en) * 2003-10-21 2009-07-29 大发工业株式会社 Surface inspecting method and system for finding imperfection
WO2005119227A1 (en) * 2004-06-04 2005-12-15 Tokyo Seimitsu Co., Ltd. Semiconductor appearance inspecting device and illuminating method
JP4673733B2 (en) * 2005-12-02 2011-04-20 新日本製鐵株式会社 Surface inspection apparatus and surface inspection method
US7458318B2 (en) * 2006-02-01 2008-12-02 Speedline Technologies, Inc. Off-axis illumination assembly and method
CN101614679B (en) * 2008-06-27 2011-06-22 上海纺印印刷包装有限公司 Quality detection device for concave-convex printed product

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