JP4870516B2 - 配管検査方法及び配管検査支援装置 - Google Patents

配管検査方法及び配管検査支援装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4870516B2
JP4870516B2 JP2006283833A JP2006283833A JP4870516B2 JP 4870516 B2 JP4870516 B2 JP 4870516B2 JP 2006283833 A JP2006283833 A JP 2006283833A JP 2006283833 A JP2006283833 A JP 2006283833A JP 4870516 B2 JP4870516 B2 JP 4870516B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pipe
weld
welded portion
guide device
welding line
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2006283833A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008101978A (ja
Inventor
将裕 三木
尚幸 河野
基征 中村
誠 妹尾
和浩 木村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2006283833A priority Critical patent/JP4870516B2/ja
Publication of JP2008101978A publication Critical patent/JP2008101978A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4870516B2 publication Critical patent/JP4870516B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)

Description

本発明は、配管検査方法及び配管検査支援装置に係り、特に、配管の溶接部におけるき裂、ひび、欠陥を評価する超音波検査に適用するのに好適な配管検査方法及び配管検査支援装置に関するものである。
配管溶接部の供用中検査では、配管内面から発生するひびの検出が重要である。超音波検査は、配管の外面に設置した超音波探触から配管に向かって超音波を送信する。配管にひびが存在する場合には、ひびの角部で超音波が反射される。この反射された超音波をその超音波探触子で受信して、コーナーエコーとして検出することにより、配管におけるひびの有無の判定を行う。
オーステナイト系ステンレス鋼(例えばSUS304)の配管では、溶接部中心から約10mmの範囲でひびが発生する可能性が高いため、その範囲で重点的に超音波検査を行う。配管における溶接部の内面は、施工上、表面状態が均一でないため、その内面の凹凸及び溶接垂れ込みの部分で超音波が反射する。また、オーステナイト系ステンレス鋼の溶接部では、柱状晶組織を形成するため、その柱状晶から超音波が反射することがある。これらの超音波の反射信号とひびからの超音波の反射信号を識別するとき、反射信号源の位置と溶接部の中心位置との距離をひびの判断因子の一つとして使用する。
従来、溶接線中心位置を示す溶接線は、設計図面に基づいて、配管の外面にペンなどを用いて罫書いている。溶接線を罫書く時の基準点は、溶接線から所定距離離れた位置に設けられている。この基準点は、製造時に配管外面に複数点付される。溶接線の罫書きは、超音波検査を実施する度に行われる。直径が同じ直管同士を接合する場合は、溶接線は配管軸に直交した真円として定義できる。しかしながら、主配管に分岐管をT字状に突合せて接合する場合には、それらの溶接線は真円にならず曲線になる。そのため、設計図面に基づき形取りしたテンプレートを配管表面に設置し、テンプレートに沿ってペンを動かし、溶接線を描いている。
なお、母管と管台とを溶接する前にそれらの溶接部の肉盛り範囲を、罫書き針を用いて罫書く装置の一例が特許文献1に説明されている。この罫書き装置は、母管の上に配置した管台に接触するV字状の当接部に取り付けられた本体に垂直に罫書き針が設けられている。当接部を管台の周囲に移動させることによって母管に肉盛り範囲が罫書かれる。
特開平6−170586号公報
溶接時には溶接熱による変形や残留応力が生じるため、溶接線は設計時に想定した線からずれてしまう可能性がある。このような製造時に生じたずれに対しては、従来の罫書き手順では対応できない。また、製造時に付された基準点が複数あるため、基準点から遠い溶接位置では、溶接中心位置の目印がなく罫書き時に誤差が大きくなる可能性がある。そのため、従来の手順で罫書かれた溶接線は実際の溶接中心からずれてしまう可能性があり、溶接中心からずれて罫書かれたその溶接線に基づいて超音波検査を行う可能性がある。この場合には、反射信号源の位置と溶接部の中心位置の距離を誤って評価するため、ひびからの超音波の反射信号と、柱状晶組織あるいは配管内面からの反射信号を識別することが難しかった。
本発明の目的は、溶接部の中心位置を精度良く特定でき、配管溶接部の検査精度を向上できる配管検査方法及び配管検査支援装置を提供する。
上記した目的を達成する本発明の特徴は、第1配管と前記第1配管に突合せ溶接された第2配管のいずれか一方を取り囲むようにその一方に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる超音波探傷装置の超音波探触子から前記溶接部に超音波を入射させ、
前記超音波探触子で受信した反射信号に基づいて前記溶接部の中心位置を求め、
前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置のレーザ光発生装置からのレーザ光の照射位置を前記中心位置に合わせ、
前記照射位置を前記中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させることによって前記溶接部の外面に照射される前記レーザ光の軌跡を基に、前記溶接部の前記外面に溶接線を描き、
描かれた前記溶接線に基づいて前記超音波探触子による探傷を行うことにある。
溶接部に入射した超音波の反射信号に基づいて溶接部の中心位置を特定しているので、その中心位置をより精度良く特定することができる。レーザ光発生装置からのレーザ光の照射位置をその中心位置に合わせ、溶接線追跡装置をガイド装置に沿って移動させるので、溶接部の外面に照射されるレーザ光の軌跡を基に、溶接部の外面に溶接線を精度良く描くことができる。精度良く描かれた溶接線に基づいて超音波探傷が行われるので、配管検査の精度を著しく向上させることができる。
上記した目的は、第1配管と前記第1配管と交差する方向を向いて前記第1配管に溶接された第2配管に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる超音波探傷装置の超音波探触子から前記溶接部に超音波を入射させ、
前記超音波探触子で受信した反射信号に基づいて複数の前記溶接部の中心位置を求め、
前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置のレーザ光発生装置からのレーザ光の照射位置をそれぞれの前記中心位置に合わせ、
前記照射位置を前記それぞれの中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて前記溶接部の外面に照射される前記レーザ光の軌跡を基に、前記溶接部の外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて前記超音波探触子による探傷を行うことによっても達成できる。
本発明によれば、溶接部の中心位置を精度良く特定でき、溶接部の外面に溶接線を精度良く描くことができるので、配管溶接部の検査精度を著しく向上できる。
以下、本発明の実施例を図面に基づき説明する。
本発明の好適な一実施例である配管検査支援装置を、図1〜図7を用いて以下に説明する。まず、図3を用いて検査対象物の形状を説明する。本実施例における検査、すなわち、超音波検査を実施する検査対象物である配管は、主配管(母管)1及び主配管1に溶接されている管台(分岐管)2である。24は主配管1と管台2の溶接部である。分岐管(図示せず)が管台2に接続されている。この検査対象物は、一つの配管に、この配管と交差する方向を向いている他の配管を溶接した配管構造である。
この検査対象物の溶接部24に対する溶接線3を特定し、特定された溶接線3を追跡する配管検査支援装置23が、管台2に取り付けられる。この本実施例の配管検査支援装置23は、超音波探傷装置49、溶接線追跡装置50、溶接線特定装置51及びガイドレール(ガイド装置)10を備えている。ガイドレール10は管台2を取り囲むように管台2の外面に取り付けられる。超音波探傷装置49は、探触子旋回装置4、探触子移動装置6、超音波探触子21及び超音波信号処理装置8を有する。探触子旋回装置4は、ガイドレール10に周回可能に取り付けられる。ガイドレール10の下面に対して垂直方向(上下方向)に伸びる支持アーム5Aが、探触子旋回装置4に固定される。探触子旋回装置4は、ガイドレール10と噛み合って超音波探触子21をガイドレール10の周方向に移動させる第1旋回駆動装置(図示せず)を有する。探触子移動装置6が支持アーム5Aに移動可能に取り付けられ、水平方向に伸びる支持アーム5Bが探触子移動装置6に水平方向に移動可能に取り付けられる。探触子移動装置6は、支持アーム5Aと噛み合って探触子移動装置6を上下動させる上下駆動装置(図示せず)、及び支持アーム5Bと噛み合って支持アーム5Bを水平方向に移動させる水平駆動装置(図示せず)を有する。超音波探触子21が球面軸受けを介して支持アーム5Bに取り付けられる。
第1旋回駆動装置を有する探触子旋回装置4は、超音波探触子21を管台2の周方向に移動させる周方向移動装置(第1移動装置)である。上下駆動装置を有する探触子移動装置6は、超音波探触子21を管台の軸方向に移動させる軸方向移動装置(第2移動装置)である。探触子移動装置6に設けられた水平駆動装置、及び支持アーム5Bは、超音波探触子21を管台の半径方向に移動させる半径方向移動装置(第3移動装置)である。超音波信号処理装置8はケーブル7Aによって超音波探触子21に接続される。制御装置9は、ケーブル7Bによって超音波信号処理装置8に、ケーブル7Cによって探触子移動装置6の上下駆動装置及び水平駆動装置に、及びケーブル7Dによって探触子旋回装置4の第1旋回駆動装置に、それぞれ接続される。
超音波信号処理装置8は、以下に示す3つの機能を有する。第1の機能は超音波探触子21から超音波を送信させる励起指令を生成する処理機能である。超音波信号処理装置8での励起指令の生成は制御装置9から出力される超音波送信指令に基づいて行われる。第2の機能は超音波探触子21が受信した溶接部24からの超音波反射信号に基づいて溶接部24の中心位置を特定する処理機能である。第3の機能は超音波探触子21が受信した超音波反射信号を処理し検査対象物におけるひびの有無を評価する処理機能である。ちなみに、第1機能の処理を行っている超音波信号処理装置8は超音波送信制御装置である。第2機能の処理を行っている超音波信号処理装置8は溶接線特定装置51である。また、第3機能の処理を行っている超音波信号処理装置8はひび評価装置である。
溶接線追跡装置50は、レーザ源旋回装置11、レーザ光発生装置12、角度調整装置16及びロック装置14を備えている。レーザ源旋回装置11は、ガイドレール10と噛み合ってレーザ源であるレーザ光発生装置12をガイドレール10の周方向に移動させる第2旋回駆動装置(図示せず)を有する。球状をした角度調整装置16は、レーザ源旋回装置11に形成されたレーザ源挿入孔15内に回転可能に取り付けられる(図2参照)。角度調整装置16は、貫通孔17を形成する。細長いレーザ光発生装置12は、レーザ源挿入孔15及び貫通孔17を貫通しており、落下しないように角度調整装置16に取り付けられている。レーザ源挿入孔15の内径は、レーザ光発生装置12の傾斜角度が調節できるようにレーザ光発生装置12の外径よりも大きい。レーザ光発生装置12の傾斜角度を調節することによって、レーザ光の放出方向を変えることができる。ロック装置14は、レーザ源旋回装置11に取り付けられ、角度調整装置16に接触することによって角度調整装置16の動きを阻止する。本実施例において、ロック装置14は、具体的にはネジである。制御装置9は、ケーブル7Eによって、レーザ源旋回装置11の第2旋回駆動装置、及びレーザ光発生装置12にそれぞれ接続される。
上記した第1及び第2旋回駆動装置、上下駆動装置及び水平駆動装置は、例えば、モータ、このモータの回転軸に連結された減速機構及び減速機構の回転軸に取り付けられるピニオンを有する。
配管検査支援装置23を用いた上記した検査対象物に対する本実施例の配管検査方法である超音波検査方法を、詳細に説明する。この超音波検査方法は、図4に示す手順に基づいて行われる。すなわち、検査開始指令の出力(ステップ31)、非破壊検査(超音波検査)による溶接部中心の特定(ステップ32)、溶接線の追跡及び溶接線の配管表面への描画(ステップ33)、溶接線に沿った超音波検査(ステップ34)、ひびの判定(ステップ35)及び検査終了(ステップ36)がこの順次で実施される。
超音波検査を実施する前に、配管検査支援装置23を、検査対象物、すなわち、管台2が主配管1に溶接されている配管構造物に取り付ける。具体的には、ガイドレール10が、管台2を取り囲むようにこれに取り付けられる。探触子旋回装置4及びレーザ源旋回装置11はガイドレール10に取り付けられる。
検査開始指令の出力(ステップ31)について説明する。配管検査支援装置23の管台2への取り付けが完了した後、作業員は、入力装置(図示せず)から制御装置9に検査開始信号を入力する。検査開始信号を入力した制御装置9はケーブル7Dを通して探触子旋回装置4の第1旋回駆動装置に駆動指令を出力する。制御装置9は探触子移動装置6の上下駆動装置及び水平駆動装置にもそれぞれ駆動指令を出力する。第1旋回駆動装置の駆動により探触子旋回装置4はガイドレール10に沿って所定位置まで移動する。上下駆動装置によって探触子移動装置6が支持アーム5Aに沿って上下方向に移動される。支持アーム5Aは、探触子移動装置6のガイド装置である。水平駆動装置によって支持アーム5Bは水平駆動装置によって水平方向に移動される。これらの駆動装置の駆動よって、超音波探触子21は主配管1の外面上の所定位置(例えば、A(r,θ,z)の座標で示されるA点)に位置決めされる。ここで、rは管台2の軸心から半径方向の位置、θは管台2の周方向における基点からの角度、zは管台2の軸方向における位置である。その位置決めに必要となる位置情報(例えばA点の座標値)は上記の入力装置から制御装置9に入力される。上記の所定位置は、A(r,θ,z)の替りにA(x,y,z)の座標で与えてもよい。x及びyは、管台2の軸心に直交する平面内におけるx方向及びy方向での各位置である。
第1旋回駆動装置、上下駆動装置及び水平駆動装置には、それぞれエンコーダが設置されている。各エンコーダの出力が該当するケーブルを介して制御装置9に伝えられる。制御装置9は、各エンコーダの出力に基づいて超音波探触子21の位置を求め、超音波探触子21が所定位置に到達したとき、各駆動装置に停止指令を出力する。探触子旋回装置4、支持アーム5A及び支持アーム5Bの移動が停止される。制御装置9は、停止指令の出力と共に、ケーブル7Bを通して超音波信号処理装置8に超音波送信指令を出力する。超音波信号処理装置8は、第1機能の処理、すなわち、超音波送信指令に基づいて励起指令を生成する。超音波探触子21は、ケーブル7Aを通して入力した励起指令に基づいて超音波を主配管1に向かって送信する。
次に、超音波検査による溶接部の中心位置の特定(ステップ32)について説明する。この特定の処理は、第2機能の処理であり、超音波信号処理装置8で行われる。この処理に至るまでの前操作も含めて説明する。前述の超音波探触子21の位置決め走査も、その中心位置の特定の前操作である。
A(r,θ,z)付近での超音波探触子21の走査が行われる。すなわち、制御装置9は超音波送信指令を出力した後、探触子移動装置6の水平駆動装置に駆動指令を出力する。水平駆動装置の駆動により支持アーム5Bが移動され、超音波探触子21が、管台2の半径方向において、溶接部24の外面を横切るように移動する(例えば、図5に示す矢印25の方向)。超音波探触子21が移動している間、超音波探触子21から超音波22が送信され、図5に示すように、主配管1内に入射される。この超音波22は主配管1の内面等で反射して反射信号となって超音波探触子21で受信される。溶接部24、例えば、設計上の溶接線の近傍では垂直探傷を行う。溶接部24を横切って所定の位置に達したとき、制御装置9により水平駆動装置の駆動が停止され、超音波探触子21の走査が終了する。超音波信号処理装置8、すなわち、溶接線特定装置51は、超音波探触子21で受信した反射信号を入力し、この反射信号に基づいて主配管1の内面エコー感度41を求める(図5参照)。内面エコー感度41は、非溶接部で大きく溶接部24で低下する。この内面エコー感度の変化は溶接部24で超音波が減衰するために生じる。溶接線特定装置51は、主配管1の非溶接部での内面エコー強度41から所定感度以上低下している領域の中心を溶接部24の中心として特定する。この溶接部24の中心位置が溶接線3の位置である。溶接線特定装置51で得られた情報である、図5に示す内面エコー感度の情報及び溶接線3の位置情報は、ケーブル7Bを介して表示装置52に伝えられ、表示装置52に表示される。
溶接線3を追跡するためには、溶接部24の中心位置が少なくとも2点必要になる。このため、管台2の周囲でA(r,θ,z)とは異なるB(r,θ,z)の位置付近で超音波探触子21の走査を行い、上記のように、溶接中心の位置を特定する。B(r,θ,z)の位置は、管台2の軸心と直交してA(r,θ,z)を通る平面内ではなく、管台2の軸方向においてこの平面とずれた位置で、管台2の軸心と直交している他の平面内に存在する必要がある。このようなA点及びB点付近の二箇所で溶接線3の位置を特定する。これらの溶接線3の位置を、A1(r,θ,z)及びB1(r,θ,z)とする。二箇所で特定された溶接線3の位置情報(例えば、A1(r,θ,z)及びB1(r,θ,z))は、ケーブル7Bを介して表示装置52に出力され、表示装置52に表示される。
溶接線3を特定する他の方法を、図6を用いて説明する。超音波探触子21の替りに、多周波数超音波探触子26を用いる。多周波数超音波探触子26は異なる周波数帯域をもつ複数の振動子を並列に並べた構造を有する。溶接部24での減衰の度合いは、周波数の高い超音波22ほど大きくなる。多周波数超音波探触子26を、管台2の半径方向において溶接部24の外面に沿って走査する。設計上の溶接線の近傍で多周波数超音波探触子26を用いた垂直探傷を行い、2つの周波数帯域のそれぞれに対する内面エコー感度42及び43を溶接線特定装置51で得る。これらに対して周波数解析を行い、(低周波数の減衰率)/(高周波数の減衰率)が最小となる位置が、溶接部24の中心として特定される。本方法では、2つの周波数帯域を使っているため、2つのエコー感度の処理結果とその相関を求めることによって、超音波探触子21を単独で使用した垂直探傷法より精度良く溶接部24の中心位置を特定できる。この周波数解析を用いた方法は、複数の周波数成分を含むパルス圧縮チャープ波を送信できる超音波探触子を用いた場合でも実現できる。
溶接線の追跡及び溶接線の配管表面への描画(ステップ33)について説明する。作業員は、ロック装置14を緩め、手でレーザ光発生装置12の傾きを調整する。レーザ光発生装置12がレーザ源挿入孔15内で回転可能に設けられている角度調整装置16に取り付けられているため、レーザ光発生装置12の傾斜角を自由に調整できる。この傾斜角の調整は、溶接線追跡装置50がガイドレール10に沿って移動するとき、レーザ光発生装置12から放出されるレーザ光13が、2つの溶接部24の中心位置であるA1(r,θ,z)及びB1(r,θ,z)を照射するように行われる(図7(B)参照)。作業員は、A1点及びB1点の情報を表示装置52の画面から知ることができる。そのレーザ光13がそれらの溶接部24の中心位置を通るようにレーザ光発生装置12の傾斜角が調整されたとき、ロック装置14をロックして角度調整装置16が動かないように固定する。
レーザ光発生装置12の傾斜角の調整が終了した後、作業員が上記の入力装置から制御装置9に溶接線追跡開始信号を入力する。制御装置9は、溶接線追跡開始信号に基づいて追跡駆動指令を生成し、ケーブル7Eを介して第2旋回駆動装置にその追跡駆動指令を出力する。第2旋回駆動装置の駆動によって、レーザ源旋回装置11がガイドレール10に沿って移動する。これにより、レーザ光発生装置12がガイドレール10に沿って管台2の周囲を旋回する。旋回している間、管台2の軸方向における、レーザ光発生装置12の下端の位置は、変化しない。制御装置9は、前述の追跡駆動指令の出力と共に、レーザ放出指令を、ケーブル7Eを介してレーザ光発生装置12に出力する。その指令を入力したレーザ光発生装置12はレーザ光13を放出する。ガイドレール10に沿った溶接線追跡装置50の移動によって、主配管1の外面に管台2を取囲むレーザ光13の軌跡が描かれる。この軌跡は、図7(B)に示す一点鎖線のような曲線(楕円形の曲線)となる。この曲線は、管台2の軸方向において、管台2側から見た状態を示している。作業員は、主配管1の外面に照射されたレーザ光13の軌跡を手に持った罫書き針で追いながら、主配管1の外面に罫書き線を描いていく。この罫書き線で表された曲線(一転鎖線)が溶接線3を表している。罫書き針の替りにペンを用いて、レーザ光13の軌跡に基づいて溶接線3を描くこともできる。
異なる2点の溶接部24の中心位置(例えば、前述のA1点及びB1点)が、管台2の軸方向における異なる2つの位置でその軸心と直交する別々の2つの平面内に存在するように特定され、それらの中心位置を放出されたレーザ光13が通るようにレーザ光発生装置12の傾斜角を調節することによって、溶接線追跡装置50をガイドレール10に沿って移動させたとき、主配管1の外面に照射されたレーザ光13の軌跡は幾何学的に溶接線3と実質的に一致する。前述の例においては、図7(B)に示すように、位置A1と位置B1は管台2の周方向において90°ずれている。また、位置B1は溶接部24の中心位置のうちで最も高い位置であり(図1参照)、位置A1はそれらの中心位置のうちで最も低い位置である(図7(A)参照)。前述したように、レーザ光発生装置12の傾斜角を調節して固定することにより、放出されたレーザ光13は、管台2の半径方向において、管台2の軸心から最も離れた位置であるA1点(図7(A)、(B)参照)に、及びその軸心から最も近い位置であるB1点に、それぞれ照射される。A1点からB1点に至るレーザ光13の軌跡も、それぞれの位置で溶接部24の中心を通ることになる。
レーザ光発生装置12としては、低エネルギーまたは高エネルギーのレーザ光発生装置を用いることができる。高エネルギーのレーザ光発生装置を用いた場合には、照射されるレーザ光によって主配管1の外面に溶接線の焼印を付すことができる。しかしながら、レーザ光のエネルギーが高過ぎると、主配管1の外面に付される焼印の深さが深くなってしまう恐れがある。このため、高エネルギーのレーザ光発生装置を使用する場合には、主配管1に悪影響を与えないような高エネルギーのレベルを選択する必要がある。低エネルギーのレーザ光発生装置を使用する場合には、前述したように、罫書き針またはペンを用いてレーザ光の軌跡をなぞり、溶接線3を主配管1の外面に表示する。
溶接線に基づいた超音波検査の実施(ステップ34)について説明する。超音波探傷は、超音波探触子21を用いて行われる。この超音波探触子21は、配管検査支援装置23に設けられている超音波探触子21であってもよいし、これとは別の超音波探触子であってもよい。配管検査支援装置23に設けられている超音波探触子21を使用する場合には、超音波探傷装置49の支持アーム5Bから超音波探触子21を取り外す必要がある。作業員は手に持った超音波探触子21を主配管1の外面に描かれた溶接線3に基づいて走査し、溶接部24付近の超音波探傷を実施する。
この超音波探傷を実施するに際しては、他の作業員が前述の入力装置から制御装置9に超音波送信開始信号を入力する。前述したように、制御装置9から出力された超音波送信指令に基づいて、超音波信号処理装置8は励起指令を生成する。超音波探触子21は励起指令に基づいて超音波を送信する。主配管1への超音波の入射は、作業員が超音波探触子21を走査している間、行われる。主配管1からの超音波の反射信号は、超音波探触子21で受信され、ケーブル7Aを介して超音波信号処理装置8に入力される。超音波信号処理装置8は、その反射信号に基づいて主配管1の溶接部24付近にひび(またはき裂)が存在するか否かを評価する(前述した第3機能の処理)。この評価結果の情報は、表示装置52に表示される。溶接線3の全周にわたる超音波探傷が終了したとき、超音波探触子21からの超音波の送信が停止される。この送信の停止は超音波送信開始信号を前述の入力装置から制御手段9に作業員が入力することによって行われる。これによって、超音波検査が終了する(ステップ36)。
本実施例は、溶接部24を横切って超音波探触子21を走査し、溶接部24からの超音波の反射信号を用いて溶接部24の中心位置を特定するので、その中心位置をより精度良く特定することができる。本実施例は、プラントの据付け時における主配管1と管台2の溶接時に生じた設計で想定した溶接線からの微小なずれを検知できる。
本実施例は、管台2の軸方向における異なる位置で管台2の軸心と直交する別々の平面内にそれぞれ存在する異なる点(特定された異なる位置での溶接部24の中心位置)をレーザ光13が通るように、レーザ光発生装置12の傾斜角を調節する。このため、溶接線追跡装置50をガイドレール10に沿って移動させることにより、溶接線3となる、楕円状のレーザ光13の軌跡を、目で見えるように主配管1の外面に描くことができる。このため、作業員は、罫書き針等を用いて、容易にかつ精度良く主配管1の外面に溶接線3を描くことができる。レーザ光発生装置12の傾斜角を調節する角度調整装置16が溶接線追跡装置50に設置されているため、一つの配管の軸心と他の配管の軸心が交差する余殃に前者の配管に後者の配管が溶接されている場合に、それらの配管の溶接部の溶接線をより精度良くかつ簡単に描くことができる。
配管検査支援装置23を用いた本実施例の配管検査方法は、より精度の良い溶接線に基づいて配管溶接部に対し精度の良い超音波検査を実施できる。これにより、ひびからの反射信号と柱状晶組織または配管内面からの反射信号とを識別するとき、本実施例で得られた溶接線は、実際の溶接線と実質的に一致しているため、ひびの判定を精度良く行うことができ、ひびの誤検出を低減できる。上記の識別を行うとき、反射信号源の位置と溶接部中心位置との距離を判断因子の一つに用いている。しかしながら、本実施例で得られる溶接線は実際の溶接線と実質的に一致しているので、上記したようにひびの判定を精度良くできるのである。
レーザ光発生装置12の替りに図8(A),(B)に示すレーザ光発生装置12Aを用いることが可能である。レーザ光発生装置12Aは、図8(A)に示すように、先端にレーザ光13を放出する十字型状のレーザ放出口48を形成している。レーザ光13の放出口が円形をしているレーザ光発生装置12を備えた溶接線追跡装置50を管台2の周囲で旋回させたとき、管台2に対するレーザ光発生装置12の傾斜角度に応じて主配管1の外面に照射されたレーザ光13に対するその外面の見かけの曲率が異なる。このため、主配管1の外面上でのレーザ光13のスポット形状が楕円状になる。これは、主配管1の外径と管台2の外径の差が大きくなるほど顕著になる。楕円状になったスポットでは、レーザ光13が指示している位置がぼやけてしまい、レーザ光13が指す中心位置が不明確になる。しかし、レーザ光発生装置12Aを用いることによって、主配管1の外面に照射されたレーザ光13のスポット形状は十字型となり、そのスポットの中心位置を確認することは極めて容易になる。したがって、照射されたレーザ光23が指す中心位置を確実に特定できる。
本発明の他の実施例である配管検査支援装置を、図9を用いて以下に説明する。本実施例の配管検査支援装置23Aは、前述の配管検査支援装置23の溶接線追跡装置50を溶接線追跡装置50Aに替えた構成を有する。配管検査支援装置23Aは、溶接線追跡装置50A以外では配管検査支援装置23と同じ構成を有する。溶接線追跡装置50Aは、溶接線追跡装置50において、レーザ光発生装置12を罫書き針18に替えた構成を有する。本実施例では、溶接線追跡装置50Aがガイドレール10に沿って移動するとき、罫書き針18の先端が常に主配管1の外面に接触している必要がある。このため、罫書き針18は、レーザ源旋回装置11のレーザ源挿入孔15内に回転可能に取り付けられた角度調整装置16の貫通孔17内に挿入されているだけで、貫通孔17に沿って自重等で円滑に移動できる。罫書き針18の傾斜角の調整は、異なる2点(例えば、A1点及びB1点)を罫書き針18の先端が通るように、実施例1におけるレーザ光発生装置12のその調整と同様に行われる。レーザ源旋回装置11の管台2の周方向への移動に伴って、罫書き針18の先端が主配管1の外面において高い位置から低い位置に移動する場合には、罫書き針18は、その先端が主配管1の外面に接触するように、貫通孔17内で自重により下方に移動する。逆に、罫書き針18の先端が主配管1の外面において低い位置から高い位置に移動する場合には、罫書き針18は、その先端が主配管1の外面に接触しながら貫通孔17内で上方に向かって押し上げられるように移動する。レーザ源旋回装置11にコイルばねを設置し、このコイルばねによって罫書き針18の上端部を下方に向かって押圧する構成を採用してもよい。コイルばねは、罫書き針18の上方への移動を許容する。罫書き針18の替りにペンをレーザ源旋回装置11の角度調整装置16の貫通孔17内に挿入してもよい。溶接線3を描く罫書き針18及びペン等は溶接線描画装置である。
本実施例も、配管検査支援装置23Aを用いて、図3に示す検査対象物を対象に、図4に示す手順で配管検査方法を実施するので、実施例1で生じる効果を得ることができる。さらに、本実施例は、溶接線追跡装置50Aに罫書き針18を備えているので、実施例1のように、作業員が、レーザ光13の奇跡を追って罫書き針等で溶接線3を主配管1の外面に描く必要はない。
本発明の他の実施例である実施例3の配管検査支援装置を、以下に説明する。本実施例の配管検査支援装置は、実施例1の配管検査支援装置23において、超音波探触子21の替りに渦電流探触子44を用い(図10参照)、超音波信号処理装置8を渦電流信号処理装置にした構成を有する。本実施例も、図3に示す検査対象物を対象に、図4に示すフローに沿った手順で配管検査を実施する。
ステップ32において渦電流探触子で得られた渦電流信号を基に溶接部24の中心位置を特定する処理を、詳細に説明する。主配管1及び管台2はオーステナイト系ステンレス鋼であるSUS材によって構成される。このような検査対象物では、非溶接部は非磁性材であるが、溶接部は磁性を有する。渦電流探触子44を用いた本実施例の配管検査支援装置は、その特性を利用して溶接部24の中心位置を特定する。実施例1の超音波探触子21と同様に、渦電流探触子44を、主配管1の外面において溶接部24の外面を横切るように走査する。渦電流信号処理装置が、渦電流探触子44で得られた渦電流信号を処理することによって非溶接部及び溶接部のそれぞれの透磁率を求める。得られた透磁率45は図10のように変化する。非溶接部の透磁率45に対して所定の透磁率以上に増大している領域の中心が溶接部24の中心位置であり、溶接線3の位置である。本実施例のステップ34では、主配管1の外面に罫書かれた溶接線3に基づいて超音波探触子を走査して超音波探傷を行う。
本実施例も、実施例1で生じる効果を得ることができる。
本発明の他の実施例である実施例4の配管検査支援装置を、以下に説明する。本実施例の配管検査支援装置は、実施例1の配管検査支援装置23において、超音波探触子21の替りに磁性測定センサ46を用い(図11参照)、超音波信号処理装置8を磁性信号処理装置にした構成を有する。本実施例も、図3に示す検査対象物を対象に、図4に示すフローに沿った手順で配管検査を実施する。
ステップ32において、磁性測定センサ46で得られた、透磁率に比例する電圧信号を基に溶接部24の中心位置を特定する処理を、詳細に説明する。主配管1及び管台2は、実施例3と同様なSUS材によって構成され、非溶接部は非磁性材であるが、溶接部は磁性を有する。磁性測定センサ46を用いた本実施例の配管検査支援装置も、その特性を利用して溶接部24の中心位置を特定する。磁性測定センサ46を、主配管1の外面において溶接部24の外面を横切るように走査する。磁性信号処理装置が、磁性測定センサ46で得られた上記電圧信号を処理することによって非溶接部及び溶接部のそれぞれの透磁率を求める。得られた透磁率47は図11のように変化する。非溶接部の透磁率47対して所定の透磁率以上に増大している領域の中心が溶接部24の中心位置であり、溶接線3の位置である。本実施例のステップ34では、主配管1の外面に罫書かれた溶接線3に基づいて超音波探触子を走査して超音波探傷を行う。
本実施例も、実施例1で生じる効果を得ることができる。
本発明の他の実施例である配管検査支援装置を、図12を用いて以下に説明する。本実施例の配管検査支援装置23Bは、実施例1〜4の各配管検査支援装置で検査を行う検査対象物とは異なる形状の他の検査対象物、すなわち、共に直管であって互いに接合された主配管1Aと主配管1Bの溶接部を検査する装置である。
配管検査支援装置23Bは、超音波探傷装置49A、溶接線追跡装置50A、溶接線特定装置51及びガイドレール10を備える。ガイドレール10は主配管1A(または主配管1B)を取り囲んでその外面に取り付けられる。超音波探傷装置49Aは、探触子旋回装置4、探触子移動装置6、超音波探触子21及び超音波信号処理装置8を有する。探触子旋回装置4は、ガイドレール10に周回可能に取り付けられる。探触子旋回装置4に固定され、主配管1Aの軸方向に伸びる支持アーム5Aには、探触子移動装置6がその軸方向に移動可能に取り付けられる。探触子旋回装置4は第1旋回駆動装置(図示せず)を有し、探触子移動装置6は支持アーム5Aと噛み合って探触子移動装置6を上記軸方向に移動させる第1軸方向駆動装置(実施例1の上下駆動装置に相当)を有する。超音波探触子21が球面軸受けを介して探触子移動装置6に取り付けられる。制御装置9は、ケーブル7Cによって探触子移動装置6の第1軸方向駆動装置に接続される。他のケーブルの接続状態は実施例1と同じである。配管検査支援装置23Bは、実施例1で述べた第3移動装置を備えていない。
溶接線追跡装置50Bは、支持アーム5C、レーザ源旋回装置11A及びレーザ光発生装置12を備えている。支持アーム5Cはレーザ源旋回装置11Aに主配管の軸方向に移動可能に取り付けられる。レーザ源旋回装置11Aは、第2旋回駆動装置(図示せず)、及び支持アーム5Cと噛み合ってこれを上記軸方向に移動させる第2軸方向駆動装置(図示せず)を有する。レーザ光発生装置12が支持アーム5Cの先端部に取り付けられ、レーザ光発生装置12のレーザ光13の放出口が主配管に対向する。制御装置9は、ケーブル7Eによって第2旋回駆動装置及び第2軸方向駆動装置にそれぞれ接続される。溶接線追跡装置50Bは第2旋回駆動装置の駆動によってガイドレール10に沿って主配管の周囲を周回する。
配管検査支援装置23Bを用いた本実施例の配管検査方法である超音波検査方法でも、図4に示す手順、すなわちステップ31〜36の各手順が実行される。本実施例が対象とする検査対象物は2つの配管がそれぞれの端部が向き合って溶接された構成を有するものである。このため、ステップ32による溶接部の中心位置の特定は、主配管の周方向において少なくとも一箇所で行えばよい。スッテプ33においては、レーザ光発生装置12から放出されたレーザ光13が特定された一箇所のその中心位置を通るように、支持アーム5Cを第2軸方向駆動装置によって移動させ、レーザ光発生装置12の上記軸方向における位置決めがなされる。その後、レーザ源旋回装置11Aをガイドレール10に沿って移動させ、レーザ光13を放出しているレーザ光発生装置12を主配管の周囲で移動させる。主配管の外面を移動するレーザ光13の軌跡をなぞって、作業員が罫書き針またはペンによって溶接線3を主配管の外面に描く。ステップ34において、描かれた溶接線3に基づいて超音波探触子21を用いて超音波による配管検査が行われる。超音波探触子21の走査は、作業員が手で持って行う。なお、超音波探傷装置49Aをガイドレール10に沿って周回させ、超音波探触子21を溶接線3に基づいて移動させて行ってもよい。
本実施例は、溶接部24を横切って超音波探触子21を走査し、溶接部24からの超音波の反射信号を用いて溶接部24の中心位置を特定するので、その中心位置をより精度良く特定することができる。レーザ光発生装置12からのレーザ光13の照射位置をその中心位置に合わせ、溶接線追跡装置50Bをガイドレール10に沿って移動させるので、溶接部24の外面に照射されるレーザ光13の軌跡を溶接部24の外面に表すことができる。このため、作業員は、罫書き針またはペンで溶接部24の外面に溶接線3をより精度良く描くことができる。この溶接線3に基づいて超音波探触子21を動かすので、配管検査の精度を著しく向上させることができる。
実施例5において、実施例3と同様に、超音波探触子21の替りに渦電流探触子44を、超音波信号処理装置8の替りに渦電流信号処理装置を用いてもよい。この場合には、作業員が超音波探触子を持って配管の溶接線に沿った超音波探傷を行う。また、実施例5において、実施例4と同様に、超音波探触子21の替りに磁性測定センサ46を、超音波信号処理装置8の替りに磁性信号処理装置を用いてもよいこの場合も、作業員が超音波探触子を持って配管の溶接線に沿った超音波探傷を行う。
本発明の好適な一実施例である実施例1の配管検査支援装置の構成図である。 角度調整装置を備えた溶接線追跡装置の縦断面図である。 互いに接合された主配管と管台を示す説明図である。 図1に示す配管検査支援装置を用いて実施される配管検査方法の手順を示すフローチャートである。 図1に示す配管検査支援装置で実施される溶接部の中心位置を特定する概念の説明図である。 溶接部の中心位置を特定する他の概念の説明図である。 図1に示す溶接線追跡装置を用いた溶接線の追跡を本発明に係る実施形態にかかるレーザ光源発生装置固定にかかる説明図である。 レーザ光発生装置の他の実施例の構成を示し、(A)はレーザ光発生装置の側面図であり、(B)はレーザ光発生装置の先端の構成を示す説明図である。 本発明の他の実施例である実施例2の配管検査支援装置の構成図である。 渦電流検査により溶接部の中心位置を特定する概念の説明図である。 磁性測定により溶接部の中心位置を特定する概念の説明図である。 本発明の他の実施例である実施例5の配管検査支援装置の構成図である。
符号の説明
1,1A,1B…主配管、2…管台、3…溶接線、4…探触子旋回装置、5A,5B,5C…支持アーム、6…探触子移動装置、8…超音波信号処理装置、9…制御装置、10…ガイドレール、11,11A…レーザ源旋回装置、12,12A…レーザ光発生装置、13…レーザ光、14…ロック装置、15…レーザ源挿入孔、16…角度調整装置、18…罫書き針、21…超音波探触子、23,23A,23B…配管検査支援装置、24…溶接部、26…多周波数超音波探触子、44…渦電流探触子、46…磁性測定センサ、48…レーザ放出口、49,49A…超音波探傷装置、50,50A,50B…溶接線追跡装置、51…溶接線特定装置。

Claims (25)

  1. 第1配管と前記第1配管に突合せ溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第1配管及び前記第2配管のいずれか一方を取り囲むようにその一方に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる超音波探傷装置の超音波探触子から前記溶接部に超音波を入射させ、
    前記超音波探触子で受信した反射信号に基づいて前記溶接部の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置のレーザ光発生装置からのレーザ光の照射位置を前記中心位置に合わせ、
    前記照射位置を前記中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて前記溶接部の外面に照射される前記レーザ光の軌跡を基に、前記溶接部の前記外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて前記超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  2. 第1配管と前記第1配管に突合せ溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第1配管及び前記第2配管のいずれか一方を取り囲むようにその一方に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる渦電流探触子で得られた渦電流信号に基づいて前記溶接部の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置のレーザ光発生装置からのレーザ光の照射位置を前記中心位置に合わせ、
    前記照射位置を前記中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて前記溶接部の外面に照射される前記レーザ光の軌跡を基に、前記溶接部の前記外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  3. 第1配管と前記第1配管に突合せ溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第1配管及び前記第2配管のいずれか一方を取り囲むようにその一方に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる磁性測定装置で得られた磁性信号に基づいて前記溶接部の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置のレーザ光発生装置からのレーザ光の照射位置を前記中心位置に合わせ、
    前記照射位置を前記中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて前記溶接部の外面に照射される前記レーザ光の軌跡を基に、前記溶接部の前記外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  4. 第1配管と前記第1配管に突合せ溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第1配管及び前記第2配管のいずれか一方を取り囲むようにその一方に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる超音波探傷装置の超音波探触子から前記溶接部に超音波を入射させ、
    前記超音波探触子で受信した反射信号に基づいて前記溶接部の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置に設けられる溶接線描画装置の先端を前記中心位置に合わせ、
    前記先端を前記中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて、前記溶接線描画装置により前記溶接部の外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて前記超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  5. 第1配管と前記第1配管に突合せ溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第1配管及び前記第2配管のいずれか一方を取り囲むようにその一方に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる渦電流探触子で得られた渦電流信号に基づいて前記溶接部の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置に設けられる溶接線描画装置の先端を前記中心位置に合わせ、
    前記先端を前記中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて、前記溶接線描画装置により前記溶接部の外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管の検査方法。
  6. 第1配管と前記第1配管に突合せ溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第1配管及び前記第2配管のいずれか一方を取り囲むようにその一方に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる磁性測定装置で得られた磁性信号に基づいて前記溶接部の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置に設けられる溶接線描画装置の先端を前記中心位置に合わせ、
    前記先端を前記中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて、前記溶接線描画装置により前記溶接部の外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  7. 前記超音波探傷装置は、前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる第1移動装置、前記第1移動装置に設けられて前記配管の軸方向に移動する第2移動装置、及び前記第2移動装置に取り付けられる前記超音波探触子を有し、
    前記溶接部への超音波の入射は、前記超音波探触子を、前記第2移動装置によって前記溶接部を横切るように移動させることによって行われる請求項1ないし請求項6のいずれか1項に記載の配管検査方法。
  8. 前記溶接線追跡装置は、前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる第3移動装置、前記第3移動装置に設けられて前記配管の軸方向に移動する第4移動装置、及び前記第4移動装置に取り付けられる前記レーザ光発生装置を有し、
    前記照射位置の前記中心位置への位置合わせは、前記レーザ光発生装置を前記第4移動装置にて移動させることによって行われる請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載の配管検査方法。
  9. 前記溶接線追跡装置は、前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる第3移動装置、前記第3移動装置に設けられて前記配管の軸方向に移動する第4移動装置、及び前記第4移動装置に取り付けられる前記溶接線描画装置を有し、
    前記溶接線描画装置の先端の前記中心位置への位置合わせは、前記溶接線描画装置を前記第4移動装置にて移動させることによって行われる請求項4ないし請求項6のいずれか1項に記載の配管検査方法。
  10. 第1配管と前記第1配管と交差する方向を向いて前記第1配管に溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第2配管に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる超音波探傷装置の超音波探触子から前記溶接部に超音波を入射させ、
    前記超音波探触子で受信した反射信号に基づいて前記溶接部の複数の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置のレーザ光発生装置からのレーザ光の照射位置をそれぞれの前記中心位置に合わせ、
    前記照射位置を前記それぞれの中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて前記溶接部の外面に照射される前記レーザ光の軌跡を基に、前記溶接部の外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて前記超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  11. 第1配管と前記第1配管と交差する方向を向いて前記第1配管に溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第2配管に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる渦電流探触子で得られた渦電流信号に基づいて前記溶接部の複数の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置のレーザ光発生装置からのレーザ光の照射位置をそれぞれの前記中心位置に合わせ、
    前記照射位置を前記それぞれの中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて前記溶接部の外面に照射される前記レーザ光の軌跡を基に、前記溶接部の外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  12. 第1配管と前記第1配管と交差する方向を向いて前記第1配管に溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第2配管に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる磁性測定装置で得られた磁性信号に基づいて前記溶接部の複数の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置のレーザ光発生装置からのレーザ光の照射位置をそれぞれの前記中心位置に合わせ、
    前記照射位置を前記それぞれの中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて前記溶接部の外面に照射される前記レーザ光の軌跡を基に、前記溶接部の外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  13. 第1配管と前記第1配管と交差する方向を向いて前記第1配管に溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第2配管に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる超音波探傷装置の超音波探触子から前記溶接部に超音波を入射させ、
    前記超音波探触子で受信した反射信号に基づいて前記溶接部の複数の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置に設けられる溶接線描画装置の先端をそれぞれの前記中心位置に合わせ、
    前記先端を前記それぞれの中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて、前記溶接線描画装置により前記溶接部の外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて前記超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  14. 第1配管と前記第1配管と交差する方向を向いて前記第1配管に溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第2配管に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる渦電流探触子で得られた渦電流信号に基づいて前記溶接部の複数の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置に設けられる溶接線描画装置の先端をそれぞれの前記中心位置に合わせ、
    前記先端を前記それぞれの中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて、前記溶接線描画装置により前記溶接部の外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  15. 第1配管と前記第1配管と交差する方向を向いて前記第1配管に溶接された第2配管の溶接部の検査を行う配管検査方法において、
    前記第2配管に取り付けられたガイド装置に移動可能に取り付けられる磁性測定装置で得られた磁性信号に基づいて前記溶接部の複数の中心位置を求め、
    前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる溶接線追跡装置に設けられる溶接線描画装置の先端をそれぞれの前記中心位置に合わせ、
    前記先端を前記それぞれの中心位置に合わせた後、前記溶接線追跡装置を前記ガイド装置に沿って移動させて、前記溶接線描画装置により前記溶接部の外面に溶接線を描き、描かれた前記溶接線に基づいて超音波探触子による探傷を行うことを特徴とする配管検査方法。
  16. 前記超音波探傷装置は、前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる第1移動装置、前記第1移動装置に設けられて前記第2配管の軸方向に移動する第2移動装置、前記第2移動装置に設けられて前記第2配管の半径方向に移動する第3移動装置、及び前記第3移動装置に取り付けられる前記超音波探触子を有し、
    前記溶接部への超音波の入射は、前記超音波探触子を、前記第3移動装置によって前記溶接部を横切るように移動させることによって行われる請求項10ないし請求項15のいずれか1項に記載の配管検査方法。
  17. 前記溶接線追跡装置は、前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる第4移動装置、及び前記第4移動装置に回転可能に設けられて前記レーザ光発生装置が取り付けられる角度調整装置を有し、
    前記照射位置の前記それぞれの中心位置への位置合わせは、前記レーザ光発生装置の傾斜角を前記角度調整装置にて調整することによって行われる請求項10ないし請求項12のいずれか1項に記載の配管検査方法。
  18. 前記溶接線追跡装置は、前記ガイド装置に移動可能に取り付けられる第4移動装置、及び前記第4移動装置に回転可能に設けられて前記溶接線描画装置を保持する角度調整装置を有し、
    前記照射位置の前記それぞれの中心位置への位置合わせは、前記溶接線描画装置の傾斜角を前記角度調整装置にて調整することによって行われる請求項13ないし請求項15のいずれか1項に記載の配管検査方法。
  19. 前記溶接部の前記複数の中心位置は、前記第2配管の軸方向における異なる複数の位置のそれぞれで前記第2配管の軸心と直交する複数の平面内に別々に存在する位置である請求項10ないし請求項18のいずれか1項に記載の配管検査方法。
  20. 突合せ溶接された一対の配管の一方を取り囲むガイド装置と、ガイド装置に取り付けられてこのガイド装置に沿って移動され、超音波探触子を有する超音波探傷装置と、前記一対の配管の溶接部の外面に沿って前記溶接部を横切って移動する前記超音波探触子の受信信号を入力し、この受信信号に基づいて溶接部の中心位置を求める溶接線特定装置と、前記ガイド装置に取り付けられて前記ガイド装置に沿って移動され、レーザ光を前記溶接部の外面に照射するレーザ光発生装置を有する溶接線追跡装置とを備え、
    照射されるレーザ光が前記中心位置を通る溶接線の軌跡を前記溶接部の外面に表示することを特徴とする配管検査支援装置。
  21. 突合せ溶接された一対の配管の一方を取り囲むガイド装置と、ガイド装置に移動可能に取り付けられて超音波探触子を有する超音波探傷装置と、前記一対の配管の溶接部の外面に沿って前記溶接部を横切って移動する前記超音波探触子の受信信号を入力し、この受信信号に基づいて溶接部の中心位置を求める溶接線特定装置と、ガイド装置に移動可能に取り付けられて前記溶接部の外面に前記中心位置を通る溶接線を描く溶接線描画装置を有する溶接線追跡装置とを備えたことを特徴とする配管検査支援装置。
  22. 第1配管と前記第1配管と交差する方向を向いて前記第1配管に溶接された第2配管を取り囲むガイド装置と、ガイド装置に取り付けられてこのガイド装置に沿って移動され、超音波探触子を有する超音波探傷装置と、前記第1配管と前記第2配管の溶接部の外面に沿って前記溶接部を横切って移動する前記超音波探触子の受信信号を入力し、この受信信号に基づいて前記溶接部の中心位置を求める溶接線特定装置と、前記ガイド装置に取り付けられて前記ガイド装置に沿って移動され、レーザ光を前記溶接部の外面に照射するレーザ光発生装置を有する溶接線追跡装置とを備え、
    照射されるレーザ光が前記中心位置を通る溶接線の軌跡を前記溶接部の外面に表示することを特徴とする配管検査支援装置。
  23. 前記溶接線追跡装置は、回転可能に設けられて前記レーザ光発生装置が取り付けられる角度調整装置を有する請求項22に記載の配管検査支援装置。
  24. 第1配管と前記第1配管と交差する方向を向いて前記第1配管に溶接された第2配管を取り囲むガイド装置と、ガイド装置に移動可能に取り付けられて超音波探触子を有する超音波探傷装置と、前記第1配管と前記第2配管の溶接部の外面に沿って前記溶接部を横切って移動する前記超音波探触子の受信信号を入力し、この受信信号に基づいて前記溶接部の中心位置を求める溶接線特定装置と、ガイド装置に移動可能に取り付けられて前記溶接部の外面に前記中心位置を通る溶接線を描く溶接線描画装置を有する溶接線追跡装置とを備えたことを特徴とする配管検査支援装置。
  25. 前記溶接線追跡装置は、回転可能に設けられて前記溶接線描画装置を保持する角度調整装置を有する請求項24に記載の配管検査支援装置。
JP2006283833A 2006-10-18 2006-10-18 配管検査方法及び配管検査支援装置 Active JP4870516B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006283833A JP4870516B2 (ja) 2006-10-18 2006-10-18 配管検査方法及び配管検査支援装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006283833A JP4870516B2 (ja) 2006-10-18 2006-10-18 配管検査方法及び配管検査支援装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008101978A JP2008101978A (ja) 2008-05-01
JP4870516B2 true JP4870516B2 (ja) 2012-02-08

Family

ID=39436414

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006283833A Active JP4870516B2 (ja) 2006-10-18 2006-10-18 配管検査方法及び配管検査支援装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4870516B2 (ja)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5487468B2 (ja) * 2010-02-25 2014-05-07 日立Geニュークリア・エナジー株式会社 配管検査装置
KR101496020B1 (ko) 2013-08-08 2015-02-25 한국수력원자력 주식회사 검사로봇 정렬장치
CN105842346B (zh) * 2015-01-15 2019-02-22 华北电力科学研究院有限责任公司 管座检测扫查架和管座检测扫查装置
CN110987934A (zh) * 2019-12-31 2020-04-10 中国化学工程第三建设有限公司 工业管道管台焊缝外观检查记录装置
CN111721837B (zh) * 2020-07-01 2023-01-10 北京正诺科技有限公司 一种手持式管道焊缝无损检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008101978A (ja) 2008-05-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4839333B2 (ja) 超音波検査方法および超音波検査装置
US7966860B2 (en) Method for configuring an array of transducers in an ultrasonic test apparatus
CN111537612B (zh) 一种奥氏体不锈钢小径管焊接接头相控阵检测及评定方法
US5161413A (en) Apparatus and method for guided inspection of an object
CN101672829B (zh) 一种ω焊缝缺陷参数测量方法
KR101478465B1 (ko) 곡배관 용접부 초음파검사방법
JP2007187593A (ja) 配管検査装置及び配管検査方法
CN112763574B (zh) 一种用于铝合金薄板对焊接缝的相控阵超声检测方法
US20080037695A1 (en) Method and apparatus for ultrasonic inspection of reactor pressure vessel
JP5868198B2 (ja) 溶接部の超音波探傷装置及び超音波探傷方法
JP4870516B2 (ja) 配管検査方法及び配管検査支援装置
KR101921685B1 (ko) 결함 검출 장치 및 이를 이용한 결함 검출 방법
JP2007285813A (ja) 超音波探傷装置および超音波探傷方法
RU2629687C1 (ru) Автоматизированная установка ультразвукового контроля
JP2012145512A (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
JP3723555B2 (ja) 溶接部の超音波検査方法
CN116858933A (zh) 一种用相控阵超声检测不锈钢薄壁小径管焊缝质量的方法
JP2007198822A (ja) 車輪用軸受外輪の転走面焼入れ深さ測定方法
JP2009014513A (ja) 超音波探傷方法
JP4431926B2 (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
JP3442899B2 (ja) 基準欠陥探傷用治具および基準欠陥探傷用治具を用いた超音波探傷方法
JP6796658B2 (ja) 検査装置、検査ユニット及び検査方法
CN111896623A (zh) 铸锻件超声检测缺陷定位方法
JP3745628B2 (ja) 溶接部の検査方法及び超音波探傷装置
KR101658122B1 (ko) 초음파를 사용하여 측정된 용접부의 상태를 화면에 표시하는 방법 및 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20081010

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20111115

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111117

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4870516

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141125

Year of fee payment: 3