JP4831748B2 - 電子部品試験装置 - Google Patents

電子部品試験装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4831748B2
JP4831748B2 JP2006224976A JP2006224976A JP4831748B2 JP 4831748 B2 JP4831748 B2 JP 4831748B2 JP 2006224976 A JP2006224976 A JP 2006224976A JP 2006224976 A JP2006224976 A JP 2006224976A JP 4831748 B2 JP4831748 B2 JP 4831748B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
main body
shaft portion
notch
electronic component
fixing member
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006224976A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008050752A (ja
Inventor
隆 内藤
敦之 土井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Advantest Corp
Original Assignee
Advantest Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Advantest Corp filed Critical Advantest Corp
Priority to JP2006224976A priority Critical patent/JP4831748B2/ja
Publication of JP2008050752A publication Critical patent/JP2008050752A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4831748B2 publication Critical patent/JP4831748B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Description

本発明は、例えば半導体集積回路素子等の電子部品(以下、代表的にICデバイスとも称する。)のテストを行うための電子部品試験装置に関する。
ICデバイス等の電子部品を製造する際、半導体ウェハに造り込まれた状態やパッケージングされた完成品の状態において、バーンイン装置を用いてスクリーニングが行われたり、テスタを用いてICデバイスの電気的特性の試験が行われている。
ICデバイスのスクリーニングに用いられるバーンイン装置は、スクリーニング対象であるICデバイスに印加する電源電圧を生成するための電源ユニットや、その電源電圧をICデバイスに供給するための給電ユニット等の制御盤を多数備えている。同様に、ICデバイスのテストに用いられるテスタも、電源ユニットや給電ユニット等の多数の制御盤を備えている。
こうしたバーンイン装置やテスタの筐体の内部には、例えば、奥側に給電ユニットが収容され、手前側に電源ユニットが収容されている。この場合、電源ユニットは、筐体内部に回転可能に設けられた回転ベースに収められ、さらにその回転ベースの前には、筐体内部を開閉するための扉が設けられており、全ての制御盤を容易にメンテナンスすることが可能となっている。
つまり、電源ユニットをメンテナンスする場合には、扉を開き且つ回転ベースを閉じた状態で行われる。また、給電ユニットをメンテナンスする場合には、先ず扉を開き、さらに回転ベースも開いた状態で行われる。
給電ユニットをメンテナンスする場合、例えば筐体本体に設けられた金具にピンを挿入する等して回転ベースを筐体本体に対して相対的に固定することで、回転ベースを開いた状態に維持する。しかしながら、この金具は、回転ベースの回転軸心近傍で筐体本体に対して回転ベースを固定しており、しかも電源ユニットを収容している回転ベースの重量は非常に重くなっている。そのため、金具を固定したままの状態で誤って回転ベースを閉じてしまうと、金具自体や回転ベース或いは筐体本体が損傷するという問題があった。
また、上記のような金具を用いて回転ベースを筐体本体に固定する場合には、回転ベースの開いた状態を特定の角度でしか維持することができない。そのため、バーンイン装置やテスタが設置されているレイアウトの都合上、回転ベースを開けることができるスペースが制限されていても、所望する角度で回転ベースを開いた状態とすることができず、メンテナンスの作業性が著しく悪化する場合があった。
本発明は、ロック装置自体や回転ベース或いは電子部品試験装置の筐体本体が損傷することなく、しかも回転ベースを任意の角度で開いた状態を維持することが可能な電子部品試験装置を提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明によれば、被試験電子部品のテストを行うための電子部品試験装置であって、筐体と、一方の端部を中心として回転可能に前記筐体に支持されていると共に、前記筐体の内部に収容可能な回転ベースと、前記回転ベースの前方に設けられ、前記筐体の内部を開閉する扉と、前記回転ベースの他方の端部に設けられたロック装置と、を備えており、前記ロック装置は、前記回転ベースに取り付けられた本体部と、床面に当接可能な当接部を下端に有し、前記本体部に対して相対的に移動可能なシャフト部と、前記シャフト部の前記当接部を、前記本体部に接近する方向又は前記本体部から離遠する方向に付勢する第1の付勢手段と、前記本体部に対する前記シャフト部の相対移動を固定する固定手段と、を備えた電子部品試験装置が提供される(請求項1参照)。
本発明では、本体部に対してシャフト部を相対移動させて当接部を床面に当接させることにより電子部品試験装置の回転ベースを固定する。また、当接部を床面から離すことにより、電子部品試験装置の回転ベースの固定を解除する。このように本発明では、回転ベースを床面に対して直接固定するため、回転ベースの回転軸心から離れた位置にロック装置を取り付けることが可能となるので、ロックをした状態で回転ベースが回転することはなく、ロック装置自体や回転ベース或いは電子部品試験装置の筐体本体の損傷を防止することができる。
また、本発明では、回転ベースの回転を固定又は解除する際に、第1の付勢手段により当接部を本体部から離遠する方向或いは本体部に接近する方向に付勢するので、回転ベースの回転を容易に固定又は解除することができる。
なお、本発明における電子部品試験装置には、被試験電子部品の電気的特性の試験を行うためのテスタの他に、被試験電子部品のスクリーニングを行うバーンイン装置も含む。
上記発明においては特に限定されないが、前記固定手段は、前記シャフト部を挿入可能な貫通孔が形成された固定部材と、前記本体部と前記固定部材の間に介装され、前記本体部と前記固定部材の間を広げる方向に付勢している第2の付勢手段と、を有し、前記固定部材は、その一端で前記本体部に回動可能に設けられており、前記固定部材の貫通孔の内周面が前記シャフト部の側面に係合することにより、前記本体部に対する前記シャフト部の相対移動を固定することが好ましい(請求項2参照)。
上記発明においては特に限定されないが、前記固定手段は、前記本体部の軸方向に対して実質的に平行な方向に沿うように、前記本体部の側面に形成された第1の切欠部と、前記第1の切欠部に連続しており、前記第1の切欠部から折れ曲がっている第2の切欠部と、前記シャフト部から径方向に突出している突出部と、を有し、前記突出部は、前記第1の切欠部又は前記第2の切欠部に挿入されており、前記突出部が前記第1の切欠部から前記第2の切欠部に移動することにより、前記本体部に対する前記シャフト部の相対移動を固定することが好ましい(請求項3参照)。
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。
図1は本発明の実施形態に係るバーンイン装置を背面から見た斜視図、図2は図1のII-II線に沿った断面図、図3は本発明の第1実施形態に係るロック装置を示す断面図、図4は図3のロック装置のロックを解除している状態を示す断面図である。
本発明の実施形態におけるバーンイン装置は、ICデバイスに対して熱ストレスを印加しながら電源電圧を印加すると共に、当該ICデバイスの入力回路に実動作に近い信号を印加して、ICデバイスのスクリーニングを行う装置である。
このバーンイン装置の筐体1の内部には、図1及び図2に示すように、ICデバイスに印加する電源電圧を生成するための電源ユニット4が手前側に設けられ、その電源電圧をICデバイスに供給するための給電ユニット5が奥側に設けられている。
電源ユニット4は、筐体1に一方の端部を中心として回転可能に支持された回転ベース3に収められている。この回転ベース3の前には、筐体1に対して回転可能に支持された扉2が設けられている。そして、この扉2を開くと、筐体1の外部から電源ユニット4を臨むことが可能となっている。さらに回転ベース3を回転させて開くと、筐体1の外部から給電ユニット5を臨むことが可能となっている。
つまり、電源ユニット4をメンテナンスする場合には、扉2を開き且つ回転ベース3を閉じた状態とする。これに対し、給電ユニット5をメンテナンスする場合には、扉2を開き且つ回転ベース3も開いた状態とする。
因みに、扉2はバーンイン装置の裏側に位置しており、スクリーニング対象であるICデバイスは、バーンインボードに搭載された状態で、バーンイン装置の正面側からバーンインチャンバ内に投入される。
本実施形態では、図1及び図2に示すように、回転ベース3の他方の端部に、当該回転ベース3の回転を固定・解除するためのロック装置10Aが設けられている。なお、ロック装置10Aは、回転ベース3において回転軸心から離れている程、回転ベース3の回転をより確実にロックすることができ、回転ベース3において回転軸心から最も離れた端部に設けられていることが最も好ましい。
このロック装置10Aは、図3及び図4に示すように、本体部11、シャフト部12、当接部13、ペダル14、第1のコイルスプリング16、固定部材17及び第2のコイルスプリング19から構成されている。
本体部11は、略円筒形状の部材であり、例えば溶接等の手法により回転ベース3の下端部に接合されている。この本体部11は、第1のコイルスプリング16を収容可能な内部空間11aを有している。この内部空間11aは、上端において開口している上側開口部11bと、下端において開口している下側開口部11cと、を有している。これら開口部11b、11cは、シャフト部12を挿入可能な内径を有している。
シャフト部12は、例えば金属製の円柱部材から構成されており、開口部11b、11cを介して内部空間11aに挿入され、本体部11を貫通している。シャフト部12の略中央には、リング15がシャフト部12の径方向に向かって突出するように固定されている。このリング15と下側開口部11cの周縁の本体部11の内壁面との間に第1のコイルスプリング16が設けられている。この第1のコイルスプリング16は、リング15と下側開口部11cの周縁の本体部11の内壁面との間を押し広げる方向、即ち、当接部13を本体部11に近づける方向に付勢している。
シャフト部12は、その下端に当接部13が取り付けられていると共に、その上端にペダル14が取り付けられている。当接部13は、床面Fに対して横滑りを防止すると共に床面Fの損傷を防止するために、例えば円錐台形状を有するゴム製部材から構成されている。ペダル14は、逆円錐台形状を有しており、バーンイン装置をメンテナンスする作業員がペダル14を踏み易くなっている。
本体部11の上部には、例えば金属製の平板状部材から構成される固定部材17が傾斜して設けられている。この固定部材17は、一方の端部に設けられた回転軸18を中心として本体部11に対して回動自在となっている。
固定部材17の略中央には、略楕円状の貫通孔17aが形成されている。固定部材17と本体部11の上面との間には、第2のコイルスプリング19が介装されており、この第2のコイルスプリング19が固定部材17と本体部11の間を広げる方向に付勢している。
次に、本実施形態に係るロック装置10Aの作用について説明する。
このロック装置10により回転ベース3の回転をロックする場合には、先ず、バーンイン装置の扉2を開き、回転ベース3を所望の角度に開く。次いで、作業員がペダル14を踏むと、第1のコイルスプリング16及び第2のコイルスプリング17の弾性力を抗してシャフト部12が下方向に向かって移動して、当接部13が床面Fに当接する。図3に示すように、当接部13が床面Fに当接すると、第2のコイルスプリング17の付勢力により固定部材17が押し上げられ、固定部材17の貫通孔17aの内周面がシャフト部12の側面に係合する。これにより、当接部13が床面Fに当接した状態で、本体部11に対するシャフト部12の相対移動が固定されるので、ロック装置10Aにより回転ベース3の回転がロックされる。
これに対し、ロック装置10による回転ベース3のロックを解除する場合には、作業員が、固定部材17において回転軸18とは反対側の端部を踏む。これにより、図4に示すように、固定部材17の貫通孔17aの内周面とシャフト部12の側面との係合が解除され、第1のコイルスプリング16の付勢力でシャフト部12が押し上げられ、当接部13が床面Fから離れるので、ロック装置10Aによる回転ベース3のロックが解除される。
以上のように、本実施形態では、ロック装置10Aにより回転ベース3を床面Fに対して直接固定するため、回転ベース3の回転軸心から離れた位置にロック装置10Aを取り付けることができるので、ロック状態であっても回転ベース3が回転することはなく、ロック装置10A自体や回転ベース3或いはバーンイン装置の筐体1が損傷するのを防止することができる。
また、回転ベース3のロックを解除する際に、第1のコイルスプリング16により当接部13を本体部11に接近する方向に付勢するので、回転ベース3のロックを容易に解除することができる。
以下に、本発明の第2実施形態に係るロック装置について説明する。
図5Aは本発明の第2実施形態に係るロック装置を示す断面図、図5Bは図5Aに示すロック装置の正面図、図6Aは図5Aのロック装置のロックを解除している状態を示す断面図、図6Bは図6Aに示すロック装置の正面図である。
本発明の第2実施形態に係るロック装置10Bは、図5A〜図6Bに示すように、本体部11、シャフト部12、当接部13、第1のコイルスプリング16及びレバー20から構成されている。
本体部11は、回転ベース3の下端部に接合された略円筒形状の部材であり、第1のコイルスプリング16を収容可能な内部空間11aを有している。
本実施形態では、内側空間11aの上部に、上側開口部11bの代わりに、肩部11eを介して内径が小さくなっている凸部11dが形成されているのに対し、内部空間11aの下端には下側開口部11cが形成されている。内部空間11aの凸部11dは、シャフト部12が上下方向に沿って摺動可能な内径を有している。また、下側開口部11cは、シャフト部12を挿入可能な内径を有している。
さらに、本実施形態では、図5B及び図6Bに示すように、本体部11の側面に、略L型形状を有する切欠溝11fが形成されている。この切欠溝11fは、当該本体部11の軸方向に沿って延びている第1の切欠11gと、この第1の切欠11gに連続しており、第1の切欠11gから実質的に直角に折れ曲がって、本体部11の周方向に沿って延びている第2の切欠11hと、から構成されている。第1及び第2の切欠11g、11hは、いずれもレバー20を挿入可能な幅を有している。
シャフト部12は、下側開口部11cを介して本体部11の内部空間11aに挿入された金属製の円柱部材である。シャフト部12の下端には、例えば円錐台形状を有するゴム製の当接部13が取り付けられている。
また、シャフト部12の略中央には、レバー20がシャフト部12の径方向に向かって突出するように固定されている。このレバー20の先端は、切欠溝11fを介して外部に導出しており、第1及び第2の切欠11g、11h内をレバー20の先端が移動可能となっている。
レバー20と内部空間11aの肩部11eとの間に第1のコイルスプリング16が設けられている。この第1のコイルスプリング16は、レバー20と肩部11eとの間を押し広げる方向、即ち、当接部13を本体部11から離遠させる方向に付勢している。
次に、本実施形態に係るロック装置10Bの作用について説明する。
このロック装置10Bにより回転ベース3の回転をロックする場合には、先ず、バーンイン装置の扉2を開き、回転ベース3を所望の角度に開く。次いで、作業者が、第2の切欠11hに位置しているレバー20を本体部11の周方向に沿ってスライドさせて、第1の切欠11gにレバー20を移動させる。なお、第2の切欠11hにレバー20が位置している間は、シャフト部12の上下方向の移動は規制されているので、第1のコイルスプリング16がレバー20と肩部11eの間を押し広げることはない。
レバー20が第1の切欠11gに達すると、図5A及び図5Bに示すように、第1のコイルスプリング16がその弾性力によりレバー20と肩部11eの間を押し広げて、レバー20が第1の切欠11gに沿って移動し、当接部13が床面Fに当接し、この状態でさらに第1のコイルスプリング16が当接部13を下方向に向かって付勢することにより、回転ベース3の回転がロックされる。
これに対し、ロック装置10Bによる回転ベース3のロックを解除する場合には、図6A及び図6Bに示すように、作業者が第1のコイルスプリング16の弾性力を抗してレバー20を第1の切欠11gに沿って上昇させ、当接部13を床面Fから離遠させる。
次いで、作業者が第2の切欠11hに沿ってレバー20を本体部11の周方向に沿ってスライドさせると、シャフト部12の上下方向の移動が規制されるので、ロック装置10Bによる回転ベース3のロックを解除した状態が維持される。
以上のように、本実施形態では、ロック装置10Bにより回転ベース3を床面Fに対して直接固定するため、回転ベース3の回転軸心から離れた位置にロック装置10Bを取り付けることができるので、ロック状態でも回転ベース3が回転することはなく、ロック装置10B自体や回転ベース3或いはバーンイン装置の筐体1が損傷するのを防止することができる。
また、回転ベース3の回転をロックする際に、第1のコイルスプリング16により当接部13を本体部11から離遠する方向に付勢するので、回転ベース3の回転を容易にロックすることができる。
なお、以上説明した実施形態は、本発明の理解を容易にするために記載されたものであって、本発明を限定するために記載されたものではない。したがって、上記の実施形態に開示された各要素は、本発明の技術的範囲に属する全ての設計変更や均等物をも含む趣旨である。
例えば、上述の実施形態では、第1及び第2の付勢手段としてコイルスプリングを用いているが、本発明においては特に限定されず、例えば他の機械的なバネ、ゴム又はエラストマー等を用いても良い。
図1は、本発明の実施形態に係るバーンイン装置を背面から見た斜視図である。 図2は、図1のII-II線に沿った断面図である。 図3は、本発明の第1実施形態に係るロック装置を示す断面図である。 図4は、図3のロック装置のロックを解除している状態を示す断面図である。 図5Aは、本発明の第2実施形態に係るロック装置を示す断面図である。 図5Bは、図5Aに示すロック装置の正面図である。 図6Aは、図5Aのロック装置のロックを解除している状態を示す断面図である。 図6Bは、図6Aに示すロック装置の正面図である。
符号の説明
1…筐体
2…扉
3…回転ベース
4…電源ユニット
5…給電ユニット
10A、10B…ロック装置
11…本体部
11a…内部空間
11b…上側開口部
11c…下側開口部
11d…凸部
11e…肩部
11f…切欠溝
11g…第1の切欠
11h…第2の切欠
12…シャフト部
13…当接部
14…ペダル
15…リング
16…第1のコイルスプリング
17…ロック部材
17a…貫通孔
18…回転軸
19…第2のコイルスプリング
20…レバー
F…床

Claims (3)

  1. 被試験電子部品のテストを行うための電子部品試験装置であって、
    筐体と、
    一方の端部を中心として回転可能に前記筐体に支持されていると共に、前記筐体の内部に収容可能な回転ベースと、
    前記回転ベースの前方に設けられ、前記筐体の内部を開閉する扉と、
    前記回転ベースの他方の端部に設けられたロック装置と、を備えており、
    前記ロック装置は、
    前記回転ベースに取り付けられた本体部と、
    床面に当接可能な当接部を下端に有し、前記本体部に対して相対的に移動可能なシャフト部と、
    前記シャフト部の前記当接部を、前記本体部に接近する方向又は前記本体部から離遠する方向に付勢する第1の付勢手段と、
    前記本体部に対する前記シャフト部の相対移動を固定する固定手段と、を備えた電子部品試験装置
  2. 前記固定手段は、
    前記シャフト部を挿入可能な貫通孔が形成された固定部材と、
    前記本体部と前記固定部材の間に介装され、前記本体部と前記固定部材の間を広げる方向に付勢している第2の付勢手段と、を有し、
    前記固定部材は、その一端で前記本体部に回動可能に設けられており、
    前記固定部材の貫通孔の内周面が前記シャフト部の側面に係合することにより、前記本体部に対する前記シャフト部の相対移動を固定する請求項1記載の電子部品試験装置
  3. 前記固定手段は、
    前記本体部の軸方向に対して実質的に平行な方向に沿うように、前記本体部の側面に形成された第1の切欠部と、
    前記第1の切欠部に連続しており、前記第1の切欠部から折れ曲がっている第2の切欠部と、
    前記シャフト部から径方向に突出している突出部と、を有し、
    前記突出部は、前記第1の切欠部又は前記第2の切欠部に挿入されており、
    前記突出部が前記第1の切欠部から前記第2の切欠部に移動することにより、前記本体部に対する前記シャフト部の相対移動を固定する請求項1記載の電子部品試験装置
JP2006224976A 2006-08-22 2006-08-22 電子部品試験装置 Expired - Fee Related JP4831748B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006224976A JP4831748B2 (ja) 2006-08-22 2006-08-22 電子部品試験装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006224976A JP4831748B2 (ja) 2006-08-22 2006-08-22 電子部品試験装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008050752A JP2008050752A (ja) 2008-03-06
JP4831748B2 true JP4831748B2 (ja) 2011-12-07

Family

ID=39235067

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006224976A Expired - Fee Related JP4831748B2 (ja) 2006-08-22 2006-08-22 電子部品試験装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4831748B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5419436B2 (ja) * 2008-12-16 2014-02-19 株式会社Lixil シャッター装置のロック機構、及び、それを備えるシャッター装置
CN104389470B (zh) * 2014-11-14 2016-05-18 江苏省交通科学研究院股份有限公司 驻门装置
CN111207057B (zh) * 2020-01-16 2021-11-02 湖北气佬板节能技术有限公司 一种空压机用消音装置
CN114062863B (zh) * 2021-11-11 2023-07-04 国网四川省电力公司南充供电公司 一种便于安装的变压器局部放电监测装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2552725B1 (fr) * 1983-10-03 1986-09-19 Pomagalski Sa Procede et dispositif de controle du bon fonctionnement d'une installation de transport a cable aerien
JPS61124597A (ja) * 1984-11-20 1986-06-12 Furukawa Electric Co Ltd:The 銀被覆電気材料
JPS6338079A (ja) * 1986-07-31 1988-02-18 積水化学工業株式会社 ハンドカ−ト

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008050752A (ja) 2008-03-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7815456B2 (en) Semiconductor device socket
JP4831748B2 (ja) 電子部品試験装置
CN110121617B (zh) 电源盒装置
US6353329B1 (en) Integrated circuit test socket lid assembly
JP5135326B2 (ja) 電気的接続装置
US7567075B2 (en) Single latch manual actuator for testing microcircuits, and having a mechanical interlock for controlling opening and closing
JP6568589B2 (ja) 検査装置
US10184957B2 (en) Testing apparatus, holding assembly, and probe card carrier
JP2015204297A (ja) スイッチデバイスのトグル組合せ構成
JP6488281B2 (ja) 交換可能プローブヘッドの自動取り付け及び取り外し
TWI791703B (zh) 電氣零件用插座
JP6777458B2 (ja) 電気部品用ソケット
US10613137B2 (en) Probe head securing mechanism for probe assembly
KR20150124290A (ko) 차량의 전동식 스티어링 컬럼 락 장치의 내구 시험 장치
KR101488959B1 (ko) 호환 가능한 테스트용 소켓
TWI703777B (zh) 電氣部件用插座
KR20220108151A (ko) 드라이버 에어백 모듈 결합 조립체
KR20170070578A (ko) 차량의 푸쉬 락 스위치 장치
WO2012029445A1 (ja) グローブボックス装置
WO2019003819A1 (ja) マニュアルアクチュエータ
JP6533348B2 (ja) 着脱装置
JP4332537B2 (ja) 多方向入力装置
TWI716104B (zh) 測試治具
JP2019008672A (ja) 電子機器、電子機器用ドック及び電子システム
WO2018128168A1 (ja) 仮止め機構

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20090805

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110613

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110628

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110822

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110913

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110916

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140930

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140930

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees