JP4828871B2 - Back wiring board diagnostic method - Google Patents
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Description
本発明は，通信装置や情報処理装置を構成するボードを接続するコネクタを備え，ボード間の配線パターンを備えるバックワイヤリングボードの診断方式に関する。 The present invention relates to a diagnostic method for a back wiring board that includes a connector for connecting a board constituting a communication device or an information processing device and includes a wiring pattern between the boards.
プリント板パネル（またはパケット）を搭載したボードを各スロットに収納するバックワイヤリングボードにはボード間の配線のための端子間を接続するためのパターン配線が設けられているが，バックワイヤリングボードの空きスロットには，冷却風の整流を目的としてブランクパネル（プリント板を含まないパネル）を搭載しているが，パターン配線に問題が生じる場合があり，その解決が望まれている。 The back wiring board that houses boards with printed circuit board panels (or packets) in each slot is provided with pattern wiring to connect terminals for wiring between the boards. A blank panel (a panel that does not include a printed board) is mounted in the slot for the purpose of rectifying the cooling air, but there may be a problem with the pattern wiring.
図７，図８は従来技術を説明する図であって，図７は複数のボードで構成する装置の説明図を示し，図８は装置側面の断面図である。図中，８０は通信装置や情報処理装置を構成する装置，８１は装置の前面側から挿入されるプリント板パネルを搭載した複数のボード，８２は各ボードのプリント板の端子間を相互接続するための多数のピンと，ピン間を接続する配線パターンが設けられたバックワイヤリングボード，８３はバックワイヤリングボード８２の前面のピン，８４はバックワイヤリングボード８２の裏面のピンである。 FIG. 7 and FIG. 8 are diagrams for explaining the prior art. FIG. 7 is an explanatory view of an apparatus constituted by a plurality of boards, and FIG. 8 is a sectional view of the side of the apparatus. In the figure, 80 is a device constituting a communication device or an information processing device, 81 is a plurality of boards equipped with a printed board panel inserted from the front side of the device, and 82 is a connection between terminals of the printed board of each board. A back wiring board provided with a large number of pins and a wiring pattern for connecting the pins, 83 is a pin on the front surface of the back wiring board 82, and 84 is a pin on the back surface of the back wiring board 82.
図７に示すように多数のプリント板のボードを搭載するためのコネクタを備えたバックワイヤリングボードを含む装置では，各ボードに収容されたプリント板の電子回路から発生する熱による装置内部の温度上昇を抑制するため，装置の下部から吸収した空気を上部に送風することによりプリント板を冷却する機構（図示省略）が設けられている。一方，このような装置８０の全てのバックワイヤリングボードの全てのピンに対してプリント板の電子回路を含むボードが接続されてなく，空きになっている部分（空きスロット）がある。そのような空き部分があると内部を通る冷却風が抜けてしまい，冷却の目的を達成できない。そのため，図８に示すように冷却風の整流を目的としてプリント板を搭載せずコネクタも備えない空き用ボード８５を挿入したり，プリント板を搭載しないがバックワイヤリングボード８２のピンと接続するコネクタ８７を備えた空き用ボード８６を挿入する。
As shown in FIG. 7, in a device including a back wiring board having a connector for mounting a large number of printed board boards, the temperature inside the apparatus is increased by heat generated from the electronic circuit of the printed board housed in each board. In order to suppress this, a mechanism (not shown) for cooling the printed board by blowing air absorbed from the lower part of the apparatus to the upper part is provided. On the other hand, a board including an electronic circuit of a printed board is not connected to all pins of all back wiring boards of such an apparatus 80, and there is an empty part (empty slot). If there is such a vacant part, the cooling air passing through the inside will be lost and the purpose of cooling cannot be achieved. Therefore, as shown in FIG. 8, for the purpose of rectifying the cooling air, an empty board 85 which is not equipped with a printed board and does not have a connector is inserted, or a
このように風冷により装置内の温度上昇を抑制する場合，外部から吸い込む空気中に微細な異物が含まれ，その異物の中には金属を含む繊維片（床のカーペット等の素材として使用されている）が含まれており，そのような異物がバックワイヤリングボードのピンとピンの隙間に入って，ピンの間を短絡させたり，地絡（接地）させる場合がある。 In this way, when the temperature rise in the device is suppressed by air cooling, fine foreign matters are contained in the air sucked from the outside, and the foreign matter is used as a fiber piece containing metal (such as floor carpets). Such foreign matter may enter the gap between the pins of the back wiring board, causing a short circuit between the pins or a ground fault (grounding).
図８のＡ．は運用中の装置８０の未使用スロットに冷却風の整流を目的とした空き用ボード８５を装置８０内に搭載した場合であり，該当するスロットのバックワイヤリングボード８２の前面ピン８３の一部に異物８８ａが付着し，ボード裏面のピン８４の一部に異物８８ｂが付着するなどしてパターンショートが発生していた。
A. of FIG. Is a case where an empty board 85 for rectifying cooling air is mounted in an unused slot of the apparatus 80 in operation in the apparatus 80, and a part of the
また，図８のＢ．はプリント板を搭載しないでコネクタ８７を備えた空き用ボード８６を，バックワイヤリングボードのコネクタ８９と嵌合させて，装置８０に取付けた時の断面図であり，この場合もバックワイヤリングボード８２の裏面ピン８４の一部に異物８８ｃが付着する等により，パターンショートが発生する場合がある。
Further, B. of FIG. FIG. 6 is a cross-sectional view when a
複数のプリント板パッケージを搭載するコネクタを備え，配線に必要な端子間を配線パターンにより接続したバックワイヤリングボードの布線を装置の出荷前や，装置を運用する前に試験する従来の技術として，の布線試験方式として，バックワイヤリングボード上の試験される配線パターンのアドレスを指定するアドレス展開回路と，指定された配線パターンの一端から試験信号を送出し，他端から試験信号を受信するドライブ手段，レシーブ手段を持つテスト回路をそれぞれ備えたテストカードを，多数個バックワイヤリングボード上の所定の位置に装着し，バックワイヤリングボード上に各種信号線と試験用の配線パターンをディジーチェイン接続した布線を設け，外部の試験器から試験された配線パターンのアドレスを指定し，テスト回路が指定された配線パターンに試験信号を送出し，指定された配線パターンの他端へ試験信号が到達していることを各種信号線とディジーチェイン接続の布線を介して確認し，バックワイヤリングボードの配線パターンが正常に布線されているかを確認する技術が知られている（特許文献１参照）。
上記図８に示すように，装置を構成するバックワイヤリングボードのピンの間に金属性（導電性）の異物が付着した場合，バックワイヤリングボードのパターンショートや，パターン断線が生じた場合，これらを検知する手段がなく，装置の運用中は障害が潜在化し，運用ボードの増設作業時に初めて故障が表面化していたため増設作業自体にかなりの時間を要していた。また，この場合，バックワイヤリングボードに故障原因があるのか，増設した運用ボードに故障原因があるのかといった，故障切り分け時間にも多くの時間を要していた。 As shown in Fig. 8 above, if metallic (conductive) foreign matter adheres between the pins of the back wiring board that constitutes the device, or if a back wiring board pattern short circuit or pattern break occurs, There was no means to detect, and the failure became latent during the operation of the device, and since the failure surfaced for the first time when the operation board was added, the extension work itself took a considerable amount of time. In this case, it takes a lot of time to isolate the failure, such as whether the back wiring board has a cause of failure or whether the added operation board has a cause of failure.
また，上記特許文献１の技術は，通信装置等を構成するバックワイヤリングボードの布線試験のために，多数のテスト回路をバックワイヤリングボードの各位置（スロット）に装着して試験を行うものであり，通信装置や情報処理装置としての運用状態でバックワイヤリングボードのパターンショートやパターン断線の定期的な試験で検出することができない。 Moreover, the technique of the above-mentioned patent document 1 is a test in which a large number of test circuits are mounted in each position (slot) of the back wiring board for the wiring test of the back wiring board constituting the communication device or the like. Yes, it cannot be detected by periodic tests of pattern shorts and pattern breaks in the back wiring board in the operational state as a communication device or information processing device.
本発明は通信システムや情報処理システムを構成するバックワイヤリングボードを含む装置において，運用中にバックワイヤリングボードの試験を可能にすることができるバックワイヤリングボードの診断方式を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide a back wiring board diagnostic method capable of testing a back wiring board during operation in an apparatus including a back wiring board constituting a communication system or an information processing system.
図１は本発明の第１の原理構成を示し，この構成は親ボードと子ボード間のバックワイヤリングボードの布線の試験機能を備える。図中，１は通信システムや情報処理システムを構成するバックワイヤリングボードのスロットに挿入される複数のボードの中で他のボード（子ボードと呼ばれる）に対して電源制御や，各種の制御等を行う機能を持つボードとして知られた共通部運用ボード（制御ボードまたは親ボードとも呼ばれる），１０は外部からの指令を受け取って親ボードとして運用上の制御機能を備えた運用機能部，１１はバックワイヤリングボード試験部，１１ａはコマンド復号部，１１ｂは試験信号生成部，１１ｃは受信した試験信号が正常であるか否かを確認する試験信号確認部，１２はネットワーク側と接続するコネクタ，１３ａ，１３ｂはバックワイヤリングボードと接続するコネクタ，２はバックワイヤリングボード，２０，２１はバックワイヤリングボード２内の配線パターン，３−１，３−２はバックワイヤリングボード２の空きスロットに挿入されて試験信号を転送する構成を備える被試験ボード（スレーブ（Slave)ボードとも呼ばれる），３０は試験信号をコネクタ３１ａから受信すると，コネクタ３１ｂに送出する転送路により構成する試験信号転送手段，３１ａ，３１ｂはバックワイヤリングボード２と接続するコネクタ，４はネットワーク，５は試験の制御を行うコンピュータ装置等の指令装置である。
FIG. 1 shows a first principle configuration of the present invention, which has a function of testing the wiring of a back wiring board between a parent board and a child board. In the figure, reference numeral 1 designates power control and various controls for other boards (called child boards) among a plurality of boards inserted in the slots of the back wiring board constituting the communication system and the information processing system. Common part operation board known as a board having a function to perform (also called a control board or parent board), 10 is an operation function part that receives an external command and has an operation control function as a parent board, and 11 is a back Wiring board test unit, 11a is a command decoding unit, 11b is a test signal generation unit, 11c is a test signal confirmation unit for confirming whether the received test signal is normal, 12 is a connector connected to the network side, 13a, 13b is a connector connected to the back wiring board, 2 is a back wiring board, and 20 and 21 are back wiring boards. A wiring pattern in the
図２は本発明の第２の原理構成を示し，この第２の原理構成は子ボード同士の間を接続するバックワイヤリングボードの布線の試験を含む試験機能を備える。図中，１，１０，１２，１３ａ，１３ｂ，２，４，５は上記図１と同一の各符号と同じものであり，説明を省略する。図２の運用機能部１０の中の１４は子ボード間の布線の試験機能を備えたバックワイヤリングボード試験部，１４ａはコマンド復号部，１４ｂは対被試験ボードのコマンド送信インタフェース，１４ｃは対被試験ボードのコマンド受信インタフェースである。バックワイヤリングボード２の中の２２はボード間接続の配線パターンを表し，６−１，６−２はボード間の接続を備える被試験ボード，６ａは対共通部用ボードのコマンド受信インタフェース，６ｂは試験信号生成部，６ｃは試験信号確認部，６ｄは対共通部運用ボードのコマンド送信インタフェースである。
FIG. 2 shows a second principle configuration of the present invention, and this second principle configuration has a test function including a test of the wiring of the back wiring board connecting between the child boards. In the figure,
図１に示す本発明の第１の原理構成では，指令装置５からネットワーク４を介してバックワイヤリングボード２のスロットに挿入された共通部運用ボード１に対して試験を行うボードとコネクタを指定してバックワイヤリングボード２の試験を行うことを指示するコマンドを送信すると，運用機能部１０のバックワイヤリングボード試験部１１のコマンド復号部１１ａでコマンドを復号することで，試験の対象となるボードとコネクタを識別し，該当するボードと接続するコネクタ１３を選択し，試験信号生成部１１ｂを駆動することで，特定の信号パターンにより構成する試験信号を送出させる。この試験信号はコネクタ１３ａからバックワイヤリングボード２の配線パターン２０を通って対象となる被試験ボード（この説明では被試験ボード３−１とする）のコネクタ３１ａに達し，被試験ボード３−１内の試験信号転送手段３０を通って，コネクタ３１ｂからバックワイヤリングボード２の中の配線パターン２１を通って運用機能部１０のバックワイヤリングボード試験部１１に設けた試験信号確認部１１ｃで受け取って，特定のパターンであるか検出して正常性を確認することで，試験の対象となったバックワイヤリングボード２の指定された接続パターンが正常に形成されているかを識別することで，指定されたバックワイヤリングボードの配線パターンが正常か異常（ショートや断線が発生している）かを診断することができ，その試験結果はネットワーク４を介して指令装置５に通知される。
In the first principle configuration of the present invention shown in FIG. 1, a board and a connector to be tested are designated for the common unit operation board 1 inserted into the slot of the
試験信号生成部１１ｂから発生する試験信号はクロックに応じて決められた規則により変化する複数ビットからなる並列の信号パターンとし，その複数ビットの信号をバックワイヤリングボード２の配線パターン２０，被試験ボード３−１，バックワイヤリングボード２の配線パターン２１を介して転送し，試験信号確認部１１ｃにおいて受信し，受信した信号が決められた規則により変化するか確認することでチェックするようにしてもよい。
The test signal generated from the
図２に示す本発明の第２の原理構成において，指令装置５からネットワーク４を介して親ボードである共通部運用ボード（親ボード）１の運用機能部１０に子ボード（被試験ボード）間を接続するバックワイヤリングボード２のボード間接続の配線パターンを試験することを指示するコマンドを送信すると，バックワイヤリングボード試験部１４のコマンド復号部１４ａでコマンドを復号する。この復号により子ボード間接続の配線パターンの試験の指示であることを表す出力が対被試験ボードのコマンド送信インタフェース１４ｂへ供給されると，ここから被試験ボード６−１に子ボード間の配線パターンの試験を実行させる指令データを発生する。この指令データは，コネクタ１３ａ，バックワイヤリングボード２，コネクタ６０ａを介して被試験ボード６−１内の対共通部運用ボードからのコマンドを受信するコマンド受信インタフェース６ａで受信され，ここで子ボード間の試験の指令であることを検出すると，試験信号生成部６ｂを駆動する。これにより試験信号生成部６ｂから発生した試験信号はコネクタ６０ｂからバックワイヤリングボード２内のボード間接続の配線パターン２２を通って他の子ボードである被試験ボード６−２のコネクタ６０ｃを通って試験信号確認部６ｃで受信され，特定の試験信号のパターンであるか否かを検出して正常性を確認する。この確認結果は対共通部運用ボードへのコマンド送信インタフェース６ｄに供給されると，確認結果データがコネクタ６０ｄ，バックワイヤリングボード２，コネクタ１３ｂを通って共通部運用ボード１に送信され，対被試験ボードのコマンド受信インタフェース１４ｃで受信されて，ここからコネクタ１２，ネットワーク４を介して指令装置５に送信される。
In the second principle configuration of the present invention shown in FIG. 2, between the
通信装置や情報処理装置のバックワイヤリングボードに対して本発明による試験を定期的に行うことにより，運用中の装置のバックワイヤリングボードのパターンショート，パターン断線といった故障の発見が即座に可能となり，故障が潜在化することを防止することができる。 By regularly performing tests according to the present invention on back wiring boards of communication devices and information processing devices, it is possible to immediately detect failures such as pattern shorts and pattern breaks in back wiring boards of devices in operation. Can be prevented from becoming latent.
また，運用ボードを増設した場合，本発明により事前に故障診断の試験を行うことにより，現地で増設作業を行う前に増設可否を決定することが可能になり，バックワイヤリングボード故障時に増設を行うといった，無駄な作業時間自体を無くすことができる。更に，バックワイヤリングボードに故障原因があるのか，増設した運用ボードに故障原因があるのか，といった故障切り分け時間自体を無くすことができる。 In addition, when an operation board is added, it is possible to determine whether or not the expansion can be performed before performing the expansion work in the field by performing a failure diagnosis test in advance according to the present invention. Such a wasteful working time itself can be eliminated. Further, it is possible to eliminate the failure isolation time itself such as whether the back wiring board has a failure cause or the added operation board has a failure cause.
図３は実施例１の構成を示す図である。この実施例１は上記図１に示す第１の原理構成に対応する。図中，１，１０，１１，２及び３−１，３−２，４は上記図１の同一符号の各部と同じであり，５は指令装置であるが，この実施例ではパーソナルコンピュータ（ＰＣで表示）により構成される。共通部運用ボード１の運用機能部１０内に備えられたバックワイヤリングボード試験部１１において，１１０は制御部，１１０ａはコマンドデコーダ（図１の１１ａに対応），１１０ｂは試験信号制御部，１１０ｃは試験信号生成部（図１の１１ｂに対応），１１０ｄは試験信号制御部，１１０ｅは試験信号確認部（図１の１１ｃに対応），１１１は送信選択部，１１２は受信選択部，１１３，１１４はバッファである。１２はネットワーク（ＮＷ）４側と接続するコネクタ，３１０，３１１は空きスロットに挿入された被試験ボード（スレーブボード）３−１に設けられたバックワイヤリングボード２と接続するコネクタ，１３２，１３３は同じく空きスロットに挿入された被試験ボード（スレーブボード）３−２に設けられたバックワイヤリングボード２と接続するコネクタである。被試験ボード３−１，３−２にはそれぞれ転送パターン３０−１，３０−２（図１の試験信号転送手段３０に対応）が設けられている。指令装置５はパーソナルコンピュータ（ＰＣ）により構成される。
FIG. 3 is a diagram illustrating the configuration of the first embodiment. The first embodiment corresponds to the first principle configuration shown in FIG. In the figure,
図４は共通部運用ボードと被試験ボード及び運用ボードを搭載した状態を示す図である。この図には，通信装置または情報処理装置等の装置を構成する複数のボードが搭載されている様子を示し，この例では，ａ〜ｎの１４個のボードが各スロットに挿入され，この中のｇが共通部運用ボード（制御ボード）であり，ｃ，ｌ（エル）は被試験ボード（空きスロットに搭載されたスレーブボード）であり，その他のａ，ｂ，ｄ〜ｆ，ｈ〜ｋ，ｍ，ｎの合計１１個は装置を構成する電子回路を搭載した運用ボードである。 FIG. 4 is a diagram showing a state in which the common unit operation board, the board under test, and the operation board are mounted. This figure shows a state in which a plurality of boards constituting a device such as a communication device or an information processing device are mounted. In this example, 14 boards a to n are inserted into each slot, G is a common unit operation board (control board), c and l (l) are boards to be tested (slave boards mounted in empty slots), and other a, b, df, h to k , M, n are a total of 11 operation boards equipped with electronic circuits constituting the apparatus.
図３に示す実施例１の動作を説明すると，指令装置５からインターネット等のネットワーク４を介して通信装置または情報処理装置の共通部運用ボード１に対して配線パターンを指定した試験指示（コマンド）を送信する。この説明では，共通部運用ボード１と空きスロットの被試験ボード３−１を接続する配線パターンが指定されたものとする。試験指示（コマンド）は運用機能部１０に設けられたバックワイヤリングボード試験部１１のコマンドデコーダ１１０ａで復号され，試験の対象を含むバックワイヤリングボードの試験指示を含む指令であることが復号されると，試験信号生成部１１０ｃを駆動すると共に，試験の対象となる配線パターン（被試験ボード３−１と接続するバックワイヤリングボードの配線パターン）が解読されるので，試験信号制御部１１０ｂに対して試験の対象を指定する信号を送り，試験信号制御部１１０ｂはその信号を受けて送信選択部１１１を制御して，試験信号生成部１１０ｃから生成された試験信号を被試験ボード３−１と接続する配線パターンへ送出するよう選択させる。また，コマンドデコーダ１１０ａの解読結果の信号は試験信号制御部１１０ｄと試験信号確認部１１０ｅに供給され，試験信号制御部１１０ｄは解読結果により試験信号を受信する制御を行う受信選択部１１２に対して受信選択信号を送って，コネクタ１３１からバッファ１１３を通って受信される試験信号を選択するよう制御し，受信信号を試験信号確認部１１０ｅに供給させる。
The operation of the first embodiment shown in FIG. 3 will be described. A test instruction (command) specifying a wiring pattern from the
こうして，試験信号生成部１１０ｃから生成された試験信号は，送信選択部１１１，バッファ１１３からコネクタ１３０，バックワイヤリングボード２の配線パターン，被試験ボード３−１のコネクタ３１０，転送パターン３０−１，コネクタ３１１を通ってバックワイヤリングボード２の配線パターン，コネクタ１３１，バッファ１１３，受信選択部１１２，試験信号確認部１１０ｅに達する。この試験信号確認部１１０ｅで試験信号生成部１１０ｃから生成した正しい信号であるか否かの確認を行うと，確認結果は試験結果通知信号としてコネクタ１２を通ってネットワーク４を通って指令装置５へ送られる。
Thus, the test signal generated from the test
試験の対象となるバックワイヤリングボード２の配線パターンが，被試験ボード３−２と接続するものである場合，試験信号制御部１１０ｂにより送信選択部１１１の選択動作を切り替えて試験信号がバッファ１１４，コネクタ１３２，バックワイヤリングボード２，被試験ボード３−２のコネクタ３２０へ至る経路を通るようにし，被試験ボード３−２内を転送された試験信号はコネクタ３２１，バックワイヤリングボード２，コネクタ１３３等を通って試験信号確認部１１０ｅへ至る。
When the wiring pattern of the
図５は試験信号の具体例であり，図５に示す試験信号は図３の試験信号生成部１１０ｃから生成する試験信号の例である。この試験信号は，試験信号生成部がクロック信号とクロック信号の２進カウンタの出力を含む４ビットのダウンカウンタで構成されており，図４のａ．の試験信号１はクロック信号出力，ｂ．の試験信号２はクロック信号を２分周した信号出力，ｃ．の試験信号３は信号出力ｂを２分周した信号出力，ｄ．の試験信号４は信号出力ｃを更に２分周した信号出力である。このように，１クロック毎に規則的に変化する４ビットのパターンが試験信号生成部１１０ｃから発生して，４ビットの並列信号がバックワイヤリングボード２の配線パターン，被試験ボードで折り返し，バックワイヤリングボード２の配線パターンを通って試験信号確認部１１０ｅに入力する。この試験信号確認部１１０ｅにおいて，４ビットの信号がクロック信号に従って順番にダウンカウントを行うか確認することにより，バックワイヤリングボード２の配線パターンの正常性を確認することができる。
FIG. 5 is a specific example of the test signal, and the test signal shown in FIG. 5 is an example of the test signal generated from the
図６は実施例２の構成を示す図である。この実施例２は上記図２に示す第２の原理構成に対応する。図中，１，１０，１２，１４，２及び６−１，６−２，４，５は上記図２の同一符号の各部と同じであり，１３４〜１３９は共通部運用ボード１に設けられたバックワイヤリングボード２と接続するためのコネクタである。共通部運用ボード１の運用機能部１０内に備えられたバックワイヤリングボード試験部１４において，１４０は制御部である。制御部１４０内の，１４０ａはコマンドデコーダ（図２の１４ａに対応），１４０ｂは試験信号制御部，１４０ｃは試験信号生成部，１４０ｄは試験信号制御部，１４０ｅは試験信号確認部，１４１は送信選択部，１４２は受信選択部，１４３，１４４はバッファ，１４５はコマンド送信インタフェース（図２の１４ｂに対応），１４６はコマンド受信インタフェース（図２の１４ｃに対応）である。被試験ボード６−１，６−２において，６００，６０３，６０４及び６０７は子ボード間の配線パターンの試験を行う場合に使用するコネクタ，６０１と６０２は共通部運用ボード１と被試験ボード６−１の間を接続するバックワイヤリングボード２の配線パターンの試験を行うためのコネクタ，６０５と６０６は共通部運用ボード１と被試験ボード６−２の間を接続するバックワイヤリングボード２の配線パターンの試験を行うためのコネクタ，６１はコマンド受信インタフェース（図２の６ａに対応），６２は試験信号生成部（図２の６ｂに対応），６３は直並列変換部，６４は並直列変換部，６５は試験信号確認部（図２の６ｃ），６６はコマンド送信インタフェース（図２の６ｄに対応）である。
FIG. 6 is a diagram illustrating the configuration of the second embodiment. The second embodiment corresponds to the second principle configuration shown in FIG. In the figure, 1, 10, 12, 14, 2 and 6-1, 6-2, 4, and 5 are the same as the respective parts having the same reference numerals in FIG. 2, and 134 to 139 are provided on the common unit operation board 1. This is a connector for connecting to the
この実施例２の構成において，試験信号制御部１４０ｂ，試験信号生成部１４０ｃ，送信選択部１４１，バッファ１４３，コネクタ１３５，コネクタ６０１，６０２，コネクタ１３６，バッファ１４３，受信選択部１４２，試験信号制御部１４０ｄ，試験信号確認部１４０ｅの各部は上記図３に示す実施例１が備える共通部運用ボードと一つの被試験ボード（図６の６−１）の間を接続するバックワイヤリングボード２の配線パターンの試験を行う場合の構成に対応し，図６には共通部運用ボード１と被試験ボード６−２の間を接続するバックワイヤリングボード２の配線パターンの試験を行う場合の構成（図６の送信選択部１４１，バッファ１４４，コネクタ１３８，コネクタ６０５，６０６，コネクタ１３９，受信選択部１４２の経路を含む）も備えており，その他に子ボード間（被試験ボード間）の接続を行うバックワイヤリングボードの配線パターンを試験するための構成を備えるものであり，以下に説明する。
In the configuration of the second embodiment, the test signal control unit 140b, the test signal generation unit 140c, the
実施例２の構成における子ボード間の接続を行うバックワイヤリングボードの配線パターンの試験の動作を説明する。指令装置５からネットワーク４を介して被試験ボード６−１，６−２間の配線パターンを指定した試験指示（コマンド）を送信する。試験指示（コマンド）はバックワイヤリングボード試験部１１のコマンドデコーダ１４０ａで復号され，被試験ボード（子ボード）６−１，６−２間を接続するバックワイヤリングボードの配線パターンの試験指示を含む指令であることが解読されると，コマンド送信インタフェース１４５に直列の制御データが送られる。その制御データを受け取ったコマンド送信インタフェース１４５は，この直列の制御データを，クロック（ＣＬＫ），データ（ＤＡＴＡ），同期信号（ＳＹＮＣ）等の複数の並列信号に変換し，コネクタ１３４，バックワイヤリングボード２を経由して，被試験ボード６−１のコネクタ６００を通ってコマンド受信インタフェース６１で受信され，指令データから試験を実行するための制御信号を試験信号生成部６２に出力する。
The operation of the wiring pattern test of the back wiring board that performs connection between the child boards in the configuration of the second embodiment will be described. A test instruction (command) designating a wiring pattern between the boards under test 6-1 and 6-2 is transmitted from the
試験信号生成部６２から直列の試験信号が生成されると，直並列変換部６３で並列信号に変換され，コネクタ６０３からバックワイヤリングボード２内のボード間接続の配線パターン２２を通って被試験ボード６−２のコネクタ６０７を通って並直列変換部６４に達し，ここで直列信号に変換されて試験信号確認部６５で受信される。試験信号確認部６５で受信した試験信号が予め決められたパターン（または決められた規則で変化するパターン）であるかの確認をする。確認結果は試験結果通知のため制御データとしてコマンド送信インタフェース６６に供給され，ここで並列の制御信号に変換されコネクタ６０４からバックワイヤリングボード２を通って共通部運用ボード１のコネクタ１３７を通ってコマンド受信インタフェース１４６に送られる。このコマンド受信インタフェース１４６で試験結果を受信すると，これを試験信号確認部１４０ｅに供給し，試験信号確認部１４０ｅからコネクタ１２を介してネットワーク４に送信され，指令装置５で試験結果を受信することができる。
When a serial test signal is generated from the
図６に示す実施例２の構成により，被試験ボード６−１，６−２間を接続するバックワイヤリングボード２の中のボード間接続の配線パターン２２の正常性を試験することができると共に，上記実施例１に説明した被試験ボードと共通部運用ボードの間を接続するバックワイヤリングボード２のボード間接続の配線パターンの正常性を試験することができ，何れの試験を行うかは，外部からのコマンドを復号するコマンドデコーダ１４０ａの復号結果に応じて決まる。
With the configuration of the second embodiment shown in FIG. 6, it is possible to test the normality of the inter-board connection wiring pattern 22 in the
（付記１） 通信または情報処理の装置を構成する複数のボードとして，親ボードである共通部運用ボードと該親ボードにより制御される子ボードとを搭載したバックワイヤリングボードの診断方式において，前記バックワイヤリングボードの中の未使用スロットに，バックワイヤリングボードからの信号を受信するコネクタと，該コネクタからの信号を折り返す転送手段と，前記転送手段からの信号をバックワイヤリングボードに送信するコネクタとを備えた被試験ボードを搭載し，前記共通部運用ボードの運用機能部に，外部から入力される試験指令を復号するコマンド復号部と，前記コマンド復号部により試験指令を復号することにより駆動されて試験信号をバックワイヤリングボードに送出する試験信号生成部と，バックワイヤリングボードから送られてきた試験信号を受信して正常か否かを確認して確認結果を外部に出力する試験信号確認部とを含むバックワイヤリングボード試験部を備えることを特徴とするバックワイヤリングボードの診断方式。 (Additional remark 1) In the diagnostic system of the back wiring board which mounts the common part operation board which is a parent board, and the child board controlled by this parent board as a plurality of boards which constitute a communication or information processing apparatus, An unused slot in the wiring board includes a connector that receives a signal from the back wiring board, a transfer unit that folds back the signal from the connector, and a connector that transmits the signal from the transfer unit to the back wiring board. A command decoding unit that decodes a test command input from the outside to the operation function unit of the common unit operation board, and a test that is driven by decoding the test command by the command decoding unit. A test signal generator for sending signals to the back wiring board, and a back wiring A back wiring board having a back wiring board test section including a test signal confirmation section for receiving a test signal sent from the board and confirming whether the test signal is normal and outputting the confirmation result to the outside. Diagnostic method.
（付記２） 付記１において，前記バックワイヤリングボード試験部は，前記コマンド復号部の復号結果に応じて前記試験信号生成部から発生する試験信号を送出するバックワイヤリングボードへの経路を選択する送信選択部の制御を行う試験信号制御部と，前記バックワイヤリングボードからの試験信号を受け取る経路を選択して前記試験信号確認部に入力させる受信選択部の制御を行う試験信号制御部とを備えることを特徴とするバックワイヤリングボードの診断方式。 (Supplementary note 2) In Supplementary note 1, the back wiring board test unit selects a path to a back wiring board that sends out a test signal generated from the test signal generation unit according to a decoding result of the command decoding unit. A test signal control unit for controlling a test unit, and a test signal control unit for controlling a reception selection unit for selecting a path for receiving a test signal from the back wiring board and inputting the test signal to the test signal confirmation unit. A diagnostic method for the back wiring board.
（付記３） 通信または情報処理の装置を構成する複数のボードとして，親ボードである共通部運用ボードと該親ボードにより制御される子ボードとを搭載したバックワイヤリングボードの診断方式において，搭載された２つの未使用スロットのボード間を相互接続する配線パターンを含むバックワイヤリングボードの前記未使用スロットに２つの被試験ボードを挿入し，前記共通部運用ボードの運用機能部にバックワイヤリングボード試験部を設け，前記バックワイヤリングボード試験部は，外部から入力される試験指令を復号するコマンド復号部と，前記コマンド復号部でボード間の配線パターンの試験指令を復号することにより駆動されて試験の指令をバックワイヤリングボードに送出するコマンド送信インタフェースと，バックワイヤリングボードから送られてきた試験結果を表すコマンドを受信して外部に試験結果を送信するコマンド受信インタフェースとを備え，前記２つの被試験ボードの一方は，前記共通部運用ボードのコマンド送信インタフェースから送られた試験の指令を受信するコマンド受信インタフェースと，コマンド受信インタフェースの指示により駆動されてバックワイヤリングボードのボード間の配線パターンに試験信号を出力する試験信号生成部とを備え，被試験ボードの他方は，バックワイヤリングボードの前記ボード間の配線パターンからの試験信号を受信して正常か否かを確認して確認結果を出力する試験信号確認部と，前記試験信号確認部からの確認結果を受け取って，制御データとしてバックワイヤリングボードに出力するコマンド送信インタフェースとを備えることを特徴とするバックワイヤリングボードの診断方式。 (Additional remark 3) It is mounted in the diagnostic system of the back wiring board which mounts the common part operation board which is the parent board and the child board controlled by the parent board as a plurality of boards constituting the communication or information processing apparatus. Two test boards are inserted into the unused slots of the back wiring board including the wiring pattern for interconnecting the boards of the two unused slots, and the back wiring board test section is connected to the operation function section of the common section operation board. The back wiring board test unit is configured to decode a test command inputted from the outside, and a test command driven by decoding the test command of the wiring pattern between the boards by the command decoding unit. Command transmission interface to send back to the back wiring board, A command reception interface for receiving a command representing the test result sent from the ring board and transmitting the test result to the outside, and one of the two boards under test is connected to the command transmission interface of the common unit operation board. A command receiving interface for receiving a sent test command, and a test signal generating unit that is driven by a command receiving interface and outputs a test signal to a wiring pattern between boards of the back wiring board. The other is a test signal confirmation unit that receives a test signal from a wiring pattern between the boards of the back wiring board and confirms whether it is normal and outputs a confirmation result, and a confirmation result from the test signal confirmation unit. A command transmission interface that receives and outputs control data to the back wiring board. And a back wiring board diagnostic method.
（付記４） 付記１または付記３の何れかにおいて，前記試験信号生成部は，クロック信号に応じてカウントを行う複数ビットで構成するカウンタが規則的に変化するカウント値を並列な複数経路に送信し，前記試験信号確認部は前記カウント値が規則的に変化するかの確認をすることにより前記並列な複数経路の正常性を確認できることを特徴とするバックワイヤリングボードの診断方式。 (Supplementary note 4) In any one of Supplementary note 1 or Supplementary note 3, the test signal generation unit transmits a count value in which a counter composed of a plurality of bits for counting according to a clock signal changes regularly to a plurality of parallel paths. The test signal checking unit can check the normality of the parallel paths by checking whether the count value changes regularly.
（付記５） 付記１または付記３の何れかにおいて，前記バックワイヤリングボードの試験を指示するコマンドは，前記共通部運用ボードと接続したネットワークを通して指令装置から入力され，前記試験により得られた確認結果はネットワークを通して前記指令装置に出力されることを特徴とするバックワイヤリングボードの診断方式。 (Supplementary note 5) In either Supplementary note 1 or Supplementary note 3, the command for instructing the test of the back wiring board is input from the command device through the network connected to the common unit operation board, and the confirmation result obtained by the test Is output to the command device through a network.
（付記６） 付記３において，前記共通部運用ボードの運用機能部に試験信号生成部と，バックワイヤリングボードから送られてきた試験信号を受信して正常か否かを確認して確認結果を外部に出力する試験信号確認部とを設け，前記バックワイヤリングボードの中の未使用スロットに，バックワイヤリングボードからの信号を受信するコネクタと，該コネクタからの信号を折り返す転送手段と，前記転送手段からの信号をバックワイヤリングボードに送信するコネクタとを備えた被試験ボードを搭載し，前記バックワイヤリングボード試験部のコマンド復号部に外部から入力される試験指令を復号することにより，空きスロットに搭載された指定された被試験ボードと共通部運用ボードとの間の配線パターンの試験か，２つの被試験ボード間を接続するバックワイヤリングボード内の配線パターンの試験かを実行することを特徴とするバックワイヤリングボードの診断方式。 (Supplementary note 6) In Supplementary note 3, the test signal generator and the test signal sent from the back wiring board are received by the operation function part of the common part operation board to confirm whether or not the test signal is normal. A test signal confirming unit for outputting to the connector, a connector for receiving a signal from the back wiring board in an unused slot in the back wiring board, a transfer means for returning the signal from the connector, and the transfer means. The board to be tested is equipped with a connector that transmits the signal to the back wiring board, and is installed in the empty slot by decoding the test command input from the outside to the command decoding section of the back wiring board test section. Test the wiring pattern between the specified board under test and the common part operation board, or two boards under test Diagnostic method of the back wiring board, characterized in that by doing tests of the wiring pattern in the back wiring board for connecting.
１ 共通部運用ボード
１０ 運用機能部
１１ バックワイヤリングボード試験部
１１ａ コマンド復号部
１１ｂ 試験信号生成部
１１ｃ 試験信号確認部
１２ コネクタ
１３ａ，１３ｂ コネクタ
２ バックワイヤリングボード
２０，２１ 配線パターン
３−１，３−２ 被試験ボード（スレーブボード）
３０ 試験信号転送手段
３１ａ，３１ｂ コネクタ
４ ネットワーク
５ 指令装置
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Common
30 Test signal transfer means 31a, 31b Connector 4
Claims (2)
前記バックワイヤリングボードの中の未使用スロットに，バックワイヤリングボードからの信号を受信するコネクタと，該コネクタからの信号を折り返す転送手段と，前記転送手段からの信号をバックワイヤリングボードに送信するコネクタとを備えた被試験ボードを搭載し，
前記共通部運用ボードの運用機能部に，外部から入力される試験指令を復号するコマンド復号部と，前記コマンド復号部により試験指令を復号することにより駆動されて試験信号をバックワイヤリングボードに送出する試験信号生成部と，バックワイヤリングボードから送られてきた試験信号を受信して正常か否かを確認して確認結果を外部に出力する試験信号確認部とを含むバックワイヤリングボード試験部を備え，
前記バックワイヤリングボード試験部は，前記コマンド復号部の復号結果に応じて前記試験信号生成部から発生する試験信号を送出するバックワイヤリングボードへの経路を選択する送信選択部の制御を行う試験信号制御部と，前記バックワイヤリングボードからの試験信号を受け取る経路を選択して前記試験信号確認部に入力させる受信選択部の制御を行う試験信号制御部とを備えることを特徴とするバックワイヤリングボードの診断方式。 In the diagnosis method of the back wiring board, in which a plurality of boards constituting a communication or information processing apparatus are mounted with a common unit operation board as a parent board and a child board controlled by the parent board,
A connector for receiving a signal from the back wiring board in an unused slot in the back wiring board, a transfer means for turning back the signal from the connector, and a connector for transmitting the signal from the transfer means to the back wiring board; Equipped with a board under test with
A command decoding unit that decodes an externally input test command to the operation function unit of the common unit operation board, and a test signal that is driven by decoding the test command by the command decoding unit and sent to the back wiring board A back wiring board test section including a test signal generation section and a test signal confirmation section for receiving a test signal sent from the back wiring board and confirming whether the test signal is normal and outputting a confirmation result to the outside;
The back wiring board test unit is a test signal control unit that controls a transmission selection unit that selects a route to a back wiring board that transmits a test signal generated from the test signal generation unit according to a decoding result of the command decoding unit. And a test signal control unit that controls a reception selection unit that selects a path for receiving a test signal from the back wiring board and inputs the path to the test signal confirmation unit. method.
搭載された２つの未使用スロットのボード間を相互接続する配線パターンを含むバックワイヤリングボードの前記未使用スロットに２つの被試験ボードを挿入し，
前記共通部運用ボードの運用機能部にバックワイヤリングボード試験部を設け，
該バックワイヤリングボード試験部は，外部から入力される試験指令を復号するコマンド復号部と，前記コマンド復号部でボード間の配線パターンの試験指令を復号することにより駆動されて試験の指令をバックワイヤリングボードに送出するコマンド送信インタフェースと，バックワイヤリングボードから送られてきた試験結果を表すコマンドを受信して外部に試験結果を送信するコマンド受信インタフェースとを備え，
前記２つの被試験ボードの一方は，前記共通部運用ボードのコマンド送信インタフェースから送られた試験の指令を受信するコマンド受信インタフェースと，コマンド受信インタフェースの指示により駆動されてバックワイヤリングボードのボード間の配線パターンに試験信号を出力する試験信号生成部とを備え，
被試験ボードの他方は，バックワイヤリングボードの前記ボード間の配線パターンからの試験信号を受信して正常か否かを確認して確認結果を出力する試験信号確認部と，前記試験信号確認部からの確認結果を受け取って，制御データとしてバックワイヤリングボードに出力するコマンド送信インタフェースとを備えることを特徴とするバックワイヤリングボードの診断方式。 In the diagnosis method of the back wiring board, in which a plurality of boards constituting a communication or information processing apparatus are mounted with a common unit operation board as a parent board and a child board controlled by the parent board,
Insert two boards to be tested into the unused slots of the back wiring board including the wiring pattern for interconnecting the boards of the two unused slots mounted;
A back wiring board test part is provided in the operation function part of the common part operation board,
The back wiring board test unit is a command decoding unit that decodes a test command input from the outside, and the command decoding unit is driven by decoding a test command for a wiring pattern between boards, and the test command is back wired. A command transmission interface for sending to the board, and a command reception interface for receiving the command indicating the test result sent from the back wiring board and transmitting the test result to the outside.
One of the two boards under test is a command reception interface that receives a test command sent from the command transmission interface of the common unit operation board, and a board between the back wiring board and the board that is driven by the command reception interface. A test signal generator for outputting test signals to the wiring pattern,
The other of the boards under test includes a test signal confirmation unit that receives a test signal from the wiring pattern between the boards of the back wiring board, confirms whether the test signal is normal, and outputs a confirmation result. And a command transmission interface for receiving the confirmation result and outputting it as control data to the back wiring board .
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