JP4827190B2 - 粉体の比表面積測定用サンプルの形成装置 - Google Patents
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Description
上記式中のQ/tは気体の透過量(cm3/sec)であり、kKはコゼニーの乗数で実験的に5と定められており、気体が空気の場合にはηは1.82×10-5Pa・sであって、Wは粉体の質量(g)である。Q/tを測定することで粉体の比表面積Swが求められる。
式中のSは試料(測定対象の粉体)の比表面積、ρは試料の密度、tは試料の気体透過時間、εは試料の空隙率、Vは試料ベッドの体積、Mは試料の質量であり、S0、ρ0、t0、ε0はそれぞれ校正用標準試料の比表面積、密度、気体透過時間および空隙率である。
上記の粉体層の形成操作は、個人差が生じやすく、また、測定頻度が少ない場合には測定者の負担にはならないが、測定頻度が多い場合には測定用セルの準備は測定者にとって大きな負担となっている。しかし、第1および第3の装置で使用する測定用セルを用い、これらの装置におけるエアシリンダーを用いたプランジャーによる加圧でベッドを形成することでJIS法の上記の問題点は解消される。
第1および第3の装置では、測定用セルに充填された粉体をエアシリンダーを用いたプランジャーで圧密してサンプルを形成するが、その際の粉体中の気体抜きについては全く触れていない。これらの装置では測定用セルのフィルターとして気体透過性の焼結金属などからなるフィルターを用いていることから、気体の一部はフィルターから排出されるが、これだけでは不充分であり、他の気体抜きを講じる必要がある。
1.上部が開放されている円筒状の粉体充填室(1)と、該充填室の底部を構成するフィルター(2)とからなる粉体の比表面積測定用サンプル層形成用セル(A)と、上記粉体充填室(1)内に充填された粉体(12)の圧密化手段(B)とからなり、上記フィルター(2)が気体を透過させるが粉体を透過させないフィルターであり、該フィルター(2)が充填室(1)の下方から挿入され、円環状の抑え具(9)により充填室の底部に保持され、フィルター固定ネジ(10)によって固定し、上記円環状の抑え具(9)と上記固定ネジ(10)の着脱によって、上記フィルター(2)が交換可能となっており、上記粉体の圧密化手段(B)が、その加圧面(3)の少なくとも一部に粉体中の気体をセル外に排気するための通気孔(4)を有するプランジャー(5)をピストン(6)先端に設置したピストンシリンダー(7)であり、該通気孔(4)の開口部には、気体は通過させるが粉体は通過させないフィルター(8)が設けられており、該フィルター(8)は、プランジャー(5)の加圧面(3)に通気孔(4)に連結している凹部(11)に嵌め込まれ、プランジャー(5)の加圧面(3)とフィルター(8)の面とが面一になるように構成されていることを特徴とする粉体の比表面積測定用サンプルの形成装置を提供する。
本発明の測定用セル内での円柱状サンプルの形成装置および方法は、円柱状サンプル内に気体を透過させ、コゼニー−カーマンの式に基づいた前記の式(1)または(2)から粉体の比表面積を測定する前記特許文献1〜3に記載の装置およびその他のいずれの粉体の比表面積測定装置にも適用が可能である。
B:圧密化手段
1:粉体充填室
2:フィルター
3:加圧面
4:通気孔
5:プランジャー
6:ピストン
7:ピストンシリンダー
8:フィルター
Claims (2)
- 上部が開放されている円筒状の粉体充填室(1)と、該充填室の底部を構成するフィルター(2)とからなる粉体の比表面積測定用サンプル層形成用セル(A)と、上記粉体充填室(1)内に充填された粉体(12)の圧密化手段(B)とからなり、上記フィルター(2)が気体を透過させるが粉体を透過させないフィルターであり、該フィルター(2)が充填室(1)の下方から挿入され、円環状の抑え具(9)により充填室の底部に保持され、フィルター固定ネジ(10)によって固定し、上記円環状の抑え具(9)と上記固定ネジ(10)の着脱によって、上記フィルター(2)が交換可能となっており、上記粉体の圧密化手段(B)が、その加圧面(3)の少なくとも一部に粉体中の気体をセル外に排気するための通気孔(4)を有するプランジャー(5)をピストン(6)先端に設置したピストンシリンダー(7)であり、該通気孔(4)の開口部には、気体は通過させるが粉体は通過させないフィルター(8)が設けられており、該フィルター(8)は、プランジャー(5)の加圧面(3)に通気孔(4)に連結している凹部(11)に嵌め込まれ、プランジャー(5)の加圧面(3)とフィルター(8)の面とが面一になるように構成されていることを特徴とする粉体の比表面積測定用サンプルの形成装置。
- 少なくとも請求項1に記載の粉体の比表面積測定用サンプルの形成装置(a)と、粉体の比表面積を測定する装置(b)とを有することを特徴とする粉体の比表面積測定装置。
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