JP4803259B2 - 材料試験機 - Google Patents
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Description
(2)表示制御手段は、複数の計測点の測定データを、特定ポイントから吹き出した第1ボックス内に表示して共通グラフ上に重畳表示することができる。
(3)複数の計測点の測定データは、一例としてひずみとすることができる。
(4)表示制御手段は、表示装置に数値表示されている複数の計測点における測定データのいずれかが指定されると、その測定データの前後の測定データを記憶手段から読み出し、測定データによる部分グラフとして表示する。
(5)部分グラフを共通グラフに重畳して、第1ボックスからさらに吹き出された第2ボックス内に表示することができる。
(6)部分グラフで示される範囲を拡大する拡大手段をさらに備え、拡大手段で拡大が指示されると、第2ボックスを広げるとともに部分グラフの範囲を拡大して表示するようにしてもよい。
30:制御装置 31:データサンプリング部
32:表示データ生成部 33:認識部
34:読み出し部 30M:メモリ
50:表示装置 80:入力装置
TP:供試体
供試体TPを材料試験機本体10の上下つかみ具21,22間にセットした後、試験が開始されると、たとえば、予め定めたストロ−ク速度で供試体TPが変形するように制御装置30によりモータ16が駆動される。すなわち、ストロークフィードバック制御で試験が行われる。試験力フィードバック制御やひずみフィードバック制御で試験してもよい。
(1)表示装置80には、供試体TPを負荷する際のクロスヘッド15のストロークと試験力の関係を示すグラフを表示し、グラフ上で特定ポイントが指定されると、そのポイントに対応する各ひずみゲージで検出されたひずみを表示するようにした。したがって、複数のチャンネルの特定ポイントにおけるひずみの全データを表示することができる。その結果、グラフ表示指定をチャンネルごとに切換える操作や、X軸およびY軸の単位を指定する操作が不要となり、操作性が向上する。
(4)マウスのホイールを操作することにより、部分グラフで示されるひずみ−試験力グラフの表示範囲を拡大するようにした。したがって、簡単な操作で、ユーザが特定ポイント近傍について多くのデータを参考にすることができる。
(1)特定ポイントとして上降伏点を一例として説明したが、その他の特定ポイント、たとえば、下降伏点、破断点などをマウスで指定した場合も、同様な表示をすればよい。
(2)特定ポイントが指定された場合に表示する計測結果としてひずみを一例として説明したが、応力、変位などを数値表示してもよい。
(3)吹き出しボックスBX1内にひずみの数値を表示するようにしたが、それらの表示形式は問わない。
(7)本発明は、共通グラフとして計測結果を表示するものに限定されない。たとえば、ひずみ1についてひずみ−応力特性をグラフ表示し、そのグラフ上の任意の位置をポイントすると、ひずみ2についての計測結果を吹き出しボックス内に表示してもよい。また、吹き出しボックス内のひずみ2をポイントすると、ひずみ2のひずみ−応力特性をグラフ表示に切換えても良い。すなわち、一つの計測点のグラフを表示し、そのグラフ上で他の計測点を指定すると、当該指定した他の計測点について、一つの計測点のグラフに対応するグラフを表示するようにしてもよい。
Claims (7)
- 複数の計測点が設定された供試体に負荷を与える負荷装置と、
前記供試体を負荷する試験力を測定する第1の検出器と、
前記複数の計測点の前記負荷による変形に伴う変位、ひずみなどの物理量を前記測定データとしてそれぞれ検出する第2の検出器と、
前記供試体を負荷する際の前記負荷装置のストロークを測定する第3の検出器と、
前記第1の検出器で検出される試験力と、前記複数の第2の検出器で検出される前記測定データと、前記第3の検出器で検出されたストロークまたは前記測定データのサンプル時間との関係を記憶する記憶手段と、
計測結果を表示する表示装置と、
前記計測結果をグラフ表示し、そのグラフ上に指定したポイントについて、前記複数の計測点の測定データを表示する表示制御手段と、
前記ポイントを指定する指定手段とを備え、
前記表示制御手段は、前記第1の検出器で検出された試験力と、前記第3の検出器で検出した前記ストロークまたはサンプル時間との関係を共通グラフとして表示し、この共通グラフ上で前記指定手段により指定されたポイント近傍に、前記複数の第2の検出器でそれぞれ検出した前記測定データを前記記憶手段より読み出して数値表示することを特徴とする材料試験機。 - 請求項1の材料試験機において、
前記表示制御手段は、前記複数の計測点の測定データを、前記ポイントから吹き出した第1ボックス内に表示して前記共通グラフ上に重畳表示する。 - 請求項1乃至2のいずれか一項の材料試験機において、
前記複数の計測点の測定データはひずみである。 - 請求項1乃至3のいずれか一項の材料試験機において、
前記表示制御手段は、前記表示装置に数値表示されている前記複数の計測点における測定データのいずれかが指定されると、その測定データの前後の測定データを前記記憶手段から読み出し、前記測定データによる部分グラフとして表示する。 - 請求項4の材料試験機において、
前記表示制御手段は、前記部分グラフを前記共通グラフに重畳して、前記第1ボックスからさらに吹き出された第2ボックス内に表示する。 - 請求項5の材料試験機において、
前記部分グラフで示される範囲を拡大する拡大手段をさらに備え、
前記拡大手段で拡大が指示されると、前記第2ボックスを広げるとともに前記部分グラフの範囲を拡大して表示する。 - 請求項1の材料試験機において、
前記グラフは、一つの計測点のグラフであり、前記グラフ上で他の計測点を指定すると、当該指定した他の計測点について、前記一のグラフに対応するグラフを表示する。
Applications Claiming Priority (1)
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PCT/JP2006/326071 WO2008081505A1 (ja) | 2006-12-27 | 2006-12-27 | 材料試験機 |
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- 2006-12-27 JP JP2008551968A patent/JP4803259B2/ja active Active
- 2006-12-27 WO PCT/JP2006/326071 patent/WO2008081505A1/ja active Application Filing
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