JP4781835B2 - Deposition equipment - Google Patents

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Description

本発明は、成膜装置に関するものである。   The present invention relates to a film forming apparatus.

被処理物の表面に成膜する装置としては、例えば蒸着装置が知られている。蒸着装置は、真空容器内において成膜材料を気化させ、拡散した成膜材料を被処理物の表面に付着させて成膜する。このような蒸着装置においては、生産効率上、真空容器の真空状態を維持したまま成膜作業を連続して行うことが好ましい。   As an apparatus for forming a film on the surface of an object to be processed, for example, a vapor deposition apparatus is known. The vapor deposition apparatus vaporizes the film forming material in the vacuum container and deposits the diffused film forming material on the surface of the object to be processed. In such a vapor deposition apparatus, it is preferable to continuously perform the film forming operation while maintaining the vacuum state of the vacuum vessel in terms of production efficiency.

特許文献1には、膜を所望のパターンに形成するためのマスクを、真空装置の真空状態を維持したまま交換可能にするための真空成膜装置が開示されている。図5は、この真空成膜装置の概略を示す図である。図5に示すように、真空成膜装置100は、真空槽101と、真空槽101内において左右方向に配置された搬送機構103と、真空槽101内の左右に設けられたマスクホルダ機構105及び106と、マスクホルダ機構105とマスクホルダ機構106との間に配置され、ルツボ107、電子銃108、及びシャッタ109を含む薄膜形成部110とを備える。   Patent Document 1 discloses a vacuum film forming apparatus for making it possible to replace a mask for forming a film in a desired pattern while maintaining the vacuum state of the vacuum apparatus. FIG. 5 is a diagram showing an outline of this vacuum film forming apparatus. As shown in FIG. 5, the vacuum film forming apparatus 100 includes a vacuum chamber 101, a transport mechanism 103 disposed in the left-right direction in the vacuum chamber 101, a mask holder mechanism 105 provided on the left and right in the vacuum chamber 101, and 106 and a thin film forming unit 110 that is disposed between the mask holder mechanism 105 and the mask holder mechanism 106 and includes a crucible 107, an electron gun 108, and a shutter 109.

更に、真空成膜装置100は、搬送機構103によって移動可能に支持された搬送トレイ111と、搬送トレイ111に吊持された基板ホルダ112と、基板ホルダ112に固定された電磁石113とを備える。そして、基板ホルダ112には、被処理物として基板が取り付けられている。マスクホルダ機構105及び106には、強磁性体からなり互いに異なるパターンを有するマスク115及び116が保持されている。   Further, the vacuum film forming apparatus 100 includes a transport tray 111 movably supported by the transport mechanism 103, a substrate holder 112 suspended from the transport tray 111, and an electromagnet 113 fixed to the substrate holder 112. A substrate is attached to the substrate holder 112 as an object to be processed. Mask holder mechanisms 105 and 106 hold masks 115 and 116 made of a ferromagnetic material and having different patterns.

真空成膜装置100の動作は次のとおりである。まず、基板ホルダ112を一方のマスクホルダ機構105の直上へ移動し、マスクホルダ機構105を上昇させてマスク115を基板面に密着させる。そして、電磁石113によってマスク115を基板面に吸着させながら、薄膜形成部110において成膜を行う。マスク交換の際には、マスク115をマスクホルダ機構105へ戻した後に、基板ホルダ112を他方のマスクホルダ機構106の直上へ移動する。そして、マスクホルダ機構106を上昇させてマスク116を基板面に密着させた後、電磁石113によってマスク116を基板面に吸着させながら、薄膜形成部110において再び成膜を行う。   The operation of the vacuum film forming apparatus 100 is as follows. First, the substrate holder 112 is moved immediately above one of the mask holder mechanisms 105, and the mask holder mechanism 105 is raised to bring the mask 115 into close contact with the substrate surface. Then, the thin film forming unit 110 forms a film while adhering the mask 115 to the substrate surface by the electromagnet 113. When replacing the mask, after the mask 115 is returned to the mask holder mechanism 105, the substrate holder 112 is moved directly above the other mask holder mechanism 106. Then, after the mask holder mechanism 106 is raised to bring the mask 116 into close contact with the substrate surface, the thin film forming unit 110 forms a film again while the electromagnet 113 attracts the mask 116 to the substrate surface.

特開平02−173261JP 02-173261 A

しかしながら、真空成膜装置100には、次の問題点がある。すなわち、真空成膜装置100においては、成膜の際、マスク115または116を電磁石113によって基板面に吸着させながら、基板(基板ホルダ112)を移動する必要がある。従って、可動機構である基板ホルダ112において、電磁石113へ励磁電流を供給するための機構(配線の取り回し等)が必要となり、装置が複雑化してしまう。また、電磁石113を使用することにより、磁場が発生し、これが膜性能に悪影響を及ぼすことがある。   However, the vacuum film forming apparatus 100 has the following problems. That is, in the vacuum film forming apparatus 100, it is necessary to move the substrate (substrate holder 112) while adhering the mask 115 or 116 to the substrate surface by the electromagnet 113 during film formation. Therefore, in the substrate holder 112 that is a movable mechanism, a mechanism for supplying an excitation current to the electromagnet 113 (such as wiring) is required, and the apparatus becomes complicated. Further, by using the electromagnet 113, a magnetic field is generated, which may adversely affect the film performance.

本発明は、上記した問題点を鑑みてなされたものであり、真空状態を維持したまま簡易な機構によってマスクを交換できる成膜装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above-described problems, and an object thereof is to provide a film forming apparatus in which a mask can be replaced by a simple mechanism while maintaining a vacuum state.

上記課題を解決するために、本発明による成膜装置は、成膜材料を拡散させて被処理物に付着させることにより成膜を行う成膜装置であって、被処理物を搭載するためのN個(N≧2)のキャリア、N個のキャリアそれぞれに搭載され被処理物の成膜面の一部を覆うN個のマスク、及びN個のキャリアそれぞれにおいてN個のマスクそれぞれを支持するN個のマスクホルダを収容しておくためのマスクストック室と、成膜材料を拡散させるための成膜室と、成膜室上に配置され、所定の搬送方向に延びており、その一端がマスクストック室に繋がっている搬送室と、搬送室内に設けられ、被処理物、マスク、及びマスクホルダを搭載したキャリアを搬送方向に搬送するための搬送機構と、被処理物をマスク、マスクホルダ、及びキャリアから分離して支持するための被処理物支持部とを備えることを特徴とする。   In order to solve the above problems, a film forming apparatus according to the present invention is a film forming apparatus that forms a film by diffusing a film forming material and adhering it to the object to be processed. N (N ≧ 2) carriers, N masks mounted on each of the N carriers and covering a part of the film formation surface of the object to be processed, and each of the N masks are supported by each of the N carriers. A mask stock chamber for storing N mask holders, a film forming chamber for diffusing film forming materials, and a film forming chamber disposed on the film forming chamber and extending in a predetermined transport direction. A transfer chamber connected to the mask stock chamber, a transfer mechanism provided in the transfer chamber for transferring the object to be processed, the mask, and the carrier carrying the mask holder in the transfer direction, and the object to be processed as a mask and mask holder And from career Characterized in that it comprises a treatment object supporting portion for supporting away.

上記した成膜装置の動作は、次のとおりである。まず、マスクストック室から一つのキャリア(以下、第1のキャリアという)が搬送機構によって搬送される。このとき、該第1のキャリアにはマスクホルダに支持されたマスクと、該マスク上に載置された被処理物とが搭載されている。第1のキャリアは、被処理物を搭載したまま成膜室上に搬送される。そして、マスクを介して被処理物の表面に膜が形成された後、第1のキャリアは被処理物支持部へ搬送される。被処理物支持部は、被処理物をマスク、マスクホルダ、及び第1のキャリアから分離して支持する。第1のキャリアはマスクストック室へ搬送され、再び収容される。続いて、マスクストック室から別のキャリア(以下、第2のキャリアという)が搬送機構によって被処理物支持部へ搬送される。被処理物支持部に支持されていた被処理物は、第2のキャリアに搭載されたマスク上に載置される。そして、被処理物を搭載したまま、第2のキャリアは成膜室上に搬送され、マスクを介して被処理物の表面に膜が形成される。以降、N個のキャリアをマスクストック室から順次取り出しつつ、これらのキャリア上に搭載されたマスクを用いて成膜を行う。   The operation of the film forming apparatus described above is as follows. First, one carrier (hereinafter referred to as a first carrier) is transported from the mask stock chamber by a transport mechanism. At this time, a mask supported by a mask holder and an object to be processed placed on the mask are mounted on the first carrier. The first carrier is transferred onto the film formation chamber with the object to be processed mounted thereon. And after a film | membrane is formed in the surface of a to-be-processed object through a mask, a 1st carrier is conveyed to a to-be-processed object support part. The workpiece support part separates and supports the workpiece from the mask, the mask holder, and the first carrier. The first carrier is transferred to the mask stock chamber and accommodated again. Subsequently, another carrier (hereinafter referred to as a second carrier) is transferred from the mask stock chamber to the workpiece support unit by the transfer mechanism. The to-be-processed object supported by the to-be-processed object support part is mounted on the mask mounted on the 2nd carrier. Then, the second carrier is transferred onto the film formation chamber while the workpiece is mounted, and a film is formed on the surface of the workpiece via the mask. Thereafter, while sequentially taking out N carriers from the mask stock chamber, film formation is performed using the masks mounted on these carriers.

上記した成膜装置においては、複数(N個)のキャリアそれぞれに複数のマスクを予め搭載し、マスクを交換する際にキャリアごと交換しているので、従来の成膜装置(図5参照)のようにマスクを保持するための電磁石113といった複雑な機構を必要とせず、磁場の影響も受けない。従って、上記した成膜装置によれば、真空状態を維持したまま簡易な機構によってマスクを交換できる。   In the above-described film forming apparatus, a plurality of masks are mounted in advance on each of a plurality (N) of carriers, and the carriers are replaced when the masks are replaced. Therefore, the conventional film forming apparatus (see FIG. 5) Thus, a complicated mechanism such as the electromagnet 113 for holding the mask is not required, and it is not affected by the magnetic field. Therefore, according to the film forming apparatus described above, the mask can be replaced by a simple mechanism while maintaining the vacuum state.

また、成膜装置は、搬送室の他端にゲートバルブを介して繋がるロードロック室を更に備え、被処理物支持部が、ロードロック室内に配置されていることを特徴としてもよい。このように、成膜装置が通常備えているロードロック室に被処理物支持部を配置することにより、成膜装置を小型に構成できる。   The film forming apparatus may further include a load lock chamber connected to the other end of the transfer chamber via a gate valve, and the object support portion may be arranged in the load lock chamber. As described above, the deposition apparatus can be made compact by disposing the workpiece support portion in the load lock chamber that is normally provided in the deposition apparatus.

また、成膜装置は、被処理物支持部が、被処理物を引っ掛けて支持するためのアームと、被処理物を下方から突き上げることにより該被処理物をマスク、マスクホルダ、及びキャリアから分離するための突き上げ部材とを有し、N個のキャリアそれぞれが、突き上げ部材を通過させるための貫通孔を有することを特徴としてもよい。この被処理物支持部においては、被処理物を搭載したキャリアが搬送されてくると、まず突き上げ部材がキャリアの貫通孔を通過して被処理物を突き上げる。そして、アームが被処理物を引っ掛け、被処理物を持ち上げる。その後、突き上げ部材が引っ込み、キャリアが搬送可能な状態となる。このような構成を有する被処理物支持部によって、真空容器内において被処理物をマスク、マスクホルダ、及びキャリアから好適に分離して支持することができる。また、この場合、N個のマスクホルダそれぞれが、突き上げ部材との干渉を回避するための切り欠きまたは孔を有することが好ましい。   Further, the film forming apparatus separates the object to be processed from the mask, the mask holder, and the carrier by the object supporting unit hooking and supporting the object to be processed and pushing the object to be processed from below. The N carriers each have a through-hole for allowing the push-up member to pass therethrough. In the workpiece support portion, when the carrier carrying the workpiece is conveyed, the push-up member first passes through the through-hole of the carrier and pushes up the workpiece. Then, the arm hooks the workpiece and lifts the workpiece. Thereafter, the push-up member is retracted and the carrier can be transported. By the workpiece support portion having such a configuration, the workpiece can be suitably separated and supported from the mask, the mask holder, and the carrier in the vacuum container. In this case, it is preferable that each of the N mask holders has a notch or a hole for avoiding interference with the push-up member.

また、成膜装置は、マスクストック室内に設けられ、N個のキャリアそれぞれを支持するためのN個のキャリア支持部を更に備え、N個のキャリア支持部が、上下方向に並設されるとともに上下方向に移動可能に設けられていることを特徴としてもよい。これにより、N個のキャリアをマスクストック室から効率的に送り出すことができる。   The film forming apparatus further includes N carrier support portions provided in the mask stock chamber for supporting each of the N carriers, and the N carrier support portions are arranged in parallel in the vertical direction. It may be characterized by being provided so as to be movable in the vertical direction. Thereby, N carriers can be efficiently sent out from the mask stock chamber.

本発明による成膜装置によれば、真空状態を維持したまま簡易な機構によってマスクを交換できる。   According to the film forming apparatus of the present invention, the mask can be replaced by a simple mechanism while maintaining the vacuum state.

以下、添付図面を参照しながら本発明による成膜装置の実施の形態を詳細に説明する。なお、図面の説明において同一の要素には同一の符号を付し、重複する説明を省略する。   Hereinafter, embodiments of a film forming apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the description of the drawings, the same elements are denoted by the same reference numerals, and redundant description is omitted.

図1は、本発明による成膜装置の一実施形態の構成を示す側面断面図である。本実施形態の成膜装置1は、いわゆるイオンプレーティング法に用いられるイオンプレーティング装置である。なお、図1には、説明を容易にする為にXYZ直交座標系も示されている。   FIG. 1 is a side sectional view showing a configuration of an embodiment of a film forming apparatus according to the present invention. The film forming apparatus 1 of the present embodiment is an ion plating apparatus used for a so-called ion plating method. In FIG. 1, an XYZ orthogonal coordinate system is also shown for ease of explanation.

本実施形態の成膜装置1は、被処理物14の表面に成膜を行うための装置であって、被処理物支持部2、搬送機構3、ハース機構4、プラズマ源5、補助陽極6、及び真空容器10を備える。   The film forming apparatus 1 of the present embodiment is an apparatus for forming a film on the surface of the object to be processed 14, and includes an object supporting part 2, a transport mechanism 3, a hearth mechanism 4, a plasma source 5, and an auxiliary anode 6. And a vacuum vessel 10.

真空容器10は、キャリア11(後述)を搬送するための搬送室10aと、成膜材料Ma(Ma)を拡散させるための成膜室10bと、キャリア11、マスクホルダ12、及びマスク13(後述)を収容しておくためのマスクストック室10cと、成膜室10bの真空状態を維持しつつ被処理物14を入れ替えるためのロードロック室10dとを有する。搬送室10aは、所定の搬送方向(図中の矢印A)に延びており、成膜室10b上に配置されている。本実施形態においては、搬送方向(矢印A)はX軸に沿って設定されている。そして、搬送室10aと成膜室10bとの境界部分には、シャッタ機構16が設けられている。また、成膜室10bは、導電性の材料からなり接地電位に接続されている。 The vacuum container 10 includes a transfer chamber 10a for transferring a carrier 11 (described later), a film formation chamber 10b for diffusing a film formation material Ma 1 (Ma 2 ), a carrier 11, a mask holder 12, and a mask 13. A mask stock chamber 10c for storing (described later) and a load lock chamber 10d for replacing the workpiece 14 while maintaining the vacuum state of the film forming chamber 10b. The transfer chamber 10a extends in a predetermined transfer direction (arrow A in the figure) and is disposed on the film forming chamber 10b. In the present embodiment, the transport direction (arrow A) is set along the X axis. A shutter mechanism 16 is provided at the boundary between the transfer chamber 10a and the film forming chamber 10b. The film forming chamber 10b is made of a conductive material and connected to the ground potential.

搬送室10a内には、搬送機構3が設けられている。搬送機構3は、被処理物14を搭載するキャリア11を移動させるための機構である。搬送機構3は、搬送室10a内に設置された複数の搬送ローラ31によって構成されている。搬送ローラ31は、搬送方向(矢印A)に沿って等間隔で並んでおり、キャリア11を支持しつつ搬送方向に搬送することができる。   A transport mechanism 3 is provided in the transport chamber 10a. The transport mechanism 3 is a mechanism for moving the carrier 11 on which the workpiece 14 is mounted. The transport mechanism 3 is composed of a plurality of transport rollers 31 installed in the transport chamber 10a. The transport rollers 31 are arranged at equal intervals along the transport direction (arrow A), and can be transported in the transport direction while supporting the carrier 11.

成膜室10bには、ハース機構4、プラズマ源5、及び補助陽極6が設けられている。プラズマ源5は、圧力勾配型であることが好ましく、その本体部分が成膜室10bの側壁に設けられている。プラズマ源5において生成されたプラズマPは、成膜室10bの側壁に設けられたプラズマ口から成膜室10b内へ出射される。プラズマPの出射方向は、プラズマ源5の出射口を囲むように設けられたステアリングコイル51によって制御される。   In the film forming chamber 10b, a hearth mechanism 4, a plasma source 5, and an auxiliary anode 6 are provided. The plasma source 5 is preferably a pressure gradient type, and its main body is provided on the side wall of the film forming chamber 10b. The plasma P generated in the plasma source 5 is emitted into the film forming chamber 10b from a plasma port provided on the side wall of the film forming chamber 10b. The emission direction of the plasma P is controlled by a steering coil 51 provided so as to surround the emission port of the plasma source 5.

ハース機構4は、二種類の成膜材料Ma,Maを保持するための機構である。ハース機構4は、成膜室10b内に設けられ、搬送機構3の下方(Z軸方向の負方向)に配置されている。ハース機構4は、プラズマ源5から出射されたプラズマPを成膜材料Ma,Maそれぞれへ導く複数のハース41a,41bを有する。すなわち、複数のハース41a,41bは、それぞれ成膜材料Ma,Maを保持する主陽極である。ハース41a,41bは、回転可能なテーブル42上の周方向に並置されており、一方のハース41a(または41b)がハース押上げ機構43によって上方の所定位置へ押し上げられることにより、成膜材料Ma(またはMa)が成膜に供される。ハース41a(または41b)は、ハース押上げ機構43によって押し上げられた状態で、接地電位である真空容器10に対して正電位に保たれ、プラズマPを吸引する。 The hearth mechanism 4 is a mechanism for holding two types of film forming materials Ma 1 and Ma 2 . The hearth mechanism 4 is provided in the film forming chamber 10b and is disposed below the transport mechanism 3 (in the negative direction in the Z-axis direction). The hearth mechanism 4 has a plurality of hearths 41 a and 41 b that guide the plasma P emitted from the plasma source 5 to the film forming materials Ma 1 and Ma 2, respectively. That is, the plurality of hearths 41a and 41b are main anodes that hold the film forming materials Ma 1 and Ma 2 , respectively. The hearths 41 a and 41 b are juxtaposed in the circumferential direction on the rotatable table 42, and one of the hearths 41 a (or 41 b) is pushed up to a predetermined position by the hearth pushing mechanism 43, whereby the film forming material Ma 1 (or Ma 2 ) is used for film formation. The hearth 41a (or 41b) is held at a positive potential with respect to the vacuum vessel 10 which is the ground potential while being pushed up by the hearth pushing mechanism 43, and sucks the plasma P.

成膜材料Ma,Maとしては、ITOなどの透明導電材料や、SiOなどの絶縁封止材料が例示される。成膜材料Ma(Ma)が絶縁性物質からなる場合、ハース41a(41b)にプラズマPが照射されると、プラズマPからの電流によってハース41a(41b)が加熱され、成膜材料Ma(Ma)の先端部分が蒸発する。また、成膜材料Ma(Ma)が導電性物質からなる場合、ハース41a(41b)にプラズマPが照射されると、プラズマPが成膜材料Ma(Ma)に直接入射し、成膜材料Ma(Ma)の先端部分が加熱されて蒸発する。蒸発した成膜材料Ma(Ma)は、プラズマPによってイオン化されてイオン化成膜材料粒子となる。イオン化成膜材料粒子は、成膜室10b内に拡散しながら成膜室10bの上方(Z軸正方向)へ移動し、搬送室10a内において被処理物14の表面に付着する。なお、成膜材料Ma(Ma)は、その先端部分が所定の位置を常に維持するように、ハース41a(41b)の下方から材料押上げ部材44によって押し出される。 Examples of the film forming materials Ma 1 and Ma 2 include a transparent conductive material such as ITO and an insulating sealing material such as SiO. When the film forming material Ma 1 (Ma 2 ) is made of an insulating material, when the hearth 41a (41b) is irradiated with the plasma P, the hearth 41a (41b) is heated by the current from the plasma P, and the film forming material Ma 1 (Ma 2 ) evaporates. Further, when the film forming material Ma 1 (Ma 2 ) is made of a conductive substance, when the plasma P is irradiated to the hearth 41a (41b), the plasma P directly enters the film forming material Ma 1 (Ma 2 ), The tip portion of the film forming material Ma 1 (Ma 2 ) is heated and evaporated. The evaporated film forming material Ma 1 (Ma 2 ) is ionized by the plasma P and becomes ionized film forming material particles. The ionized film forming material particles move upward (Z-axis positive direction) while being diffused into the film forming chamber 10b, and adhere to the surface of the object 14 to be processed in the transfer chamber 10a. The film-forming material Ma 1 (Ma 2 ) is pushed out by the material push-up member 44 from below the hearth 41a (41b) so that the tip portion always maintains a predetermined position.

補助陽極6は、プラズマPを誘導するための電磁石である。補助陽極6は、押し上げられたハース41a(41b)の周囲に配置されており、環状の容器、並びに該容器内に収容されたコイル及び永久磁石を有する。コイル及び永久磁石は、コイルに流れる電流量に応じて、ハース41a(41b)に入射するプラズマPの向きを制御する。   The auxiliary anode 6 is an electromagnet for inducing the plasma P. The auxiliary anode 6 is disposed around the raised hearth 41a (41b), and has an annular container, and a coil and a permanent magnet accommodated in the container. The coil and the permanent magnet control the direction of the plasma P incident on the hearth 41a (41b) according to the amount of current flowing through the coil.

マスクストック室10cは、搬送方向Aにおける搬送室10aの一端と繋がっている。マスクストック室10c内には、キャリア11の個数に応じて二つのキャリア支持部18が上下方向(Z軸方向)に並設されている。また、二つのキャリア支持部18は、マスクストック室10c内において上下方向に移動可能に設けられており、いずれかのキャリア支持部18のZ軸方向位置を搬送機構3のZ軸方向位置と一致させ得るしくみになっている。また、図1に示すように、各キャリア支持部18は、搬送機構3と同様の搬送ローラを有することが好ましい。   The mask stock chamber 10c is connected to one end of the transfer chamber 10a in the transfer direction A. In the mask stock chamber 10c, two carrier support portions 18 are arranged in parallel in the vertical direction (Z-axis direction) according to the number of carriers 11. The two carrier support portions 18 are provided so as to be movable in the vertical direction in the mask stock chamber 10 c, and the Z-axis direction position of one of the carrier support portions 18 matches the Z-axis direction position of the transport mechanism 3. It is a mechanism that can be allowed to. Further, as shown in FIG. 1, each carrier support portion 18 preferably has a conveyance roller similar to the conveyance mechanism 3.

二つのキャリア支持部18のそれぞれには、被処理物14を搭載するための二つのキャリア11それぞれが搭載される。また、二つのキャリア11には、被処理物14の成膜面の一部を覆うマスク13、及びマスク13を支持するためのマスクホルダ12からなる組が、それぞれ一組ずつ搭載される。なお、図1は、一方のキャリア支持部18上に搭載されていたキャリア11がキャリア支持部18から移動した後の状態を示している。   Two carriers 11 for mounting the object to be processed 14 are mounted on each of the two carrier support portions 18. Each of the two carriers 11 is mounted with a set of a mask 13 that covers a part of the film formation surface of the workpiece 14 and a mask holder 12 for supporting the mask 13. FIG. 1 shows a state after the carrier 11 mounted on one carrier support portion 18 has moved from the carrier support portion 18.

ここで、図2は、キャリア11、マスクホルダ12、マスク13、及び被処理物14の形状の一例を示す分解斜視図である。図2においては、矩形板状の被処理物14を例示している。なお、被処理物14としては、例えばガラス基板やプラスチック基板などの板状部材や、該板状部材の上に有機EL層などの機能素子層が形成された基板生産物が例示される。   Here, FIG. 2 is an exploded perspective view showing an example of the shapes of the carrier 11, the mask holder 12, the mask 13, and the workpiece 14. In FIG. 2, a rectangular plate-shaped workpiece 14 is illustrated. Examples of the workpiece 14 include a plate-like member such as a glass substrate or a plastic substrate, and a substrate product in which a functional element layer such as an organic EL layer is formed on the plate-like member.

図2を参照すると、キャリア11は、被処理物14の外形に応じた枠状に成形されており、枠内の側面11aに台座部分11bを有する。台座部分11bは、マスクホルダ12、マスク13、及び被処理物14を支持するための部分であり、互いに対向する台座部分11b同士の間隔はマスクホルダ12の外形寸法よりも小さく形成されている。また、キャリア11は、後述する被処理物支持部2の突き上げ部材21(図1参照)を通過させるための貫通孔11cを有する。貫通孔11cは、被処理物14の外形に応じた位置に形成されている。本実施形態では、貫通孔11cは、矩形状の被処理物14の四隅と重なる位置に形成されている。   Referring to FIG. 2, the carrier 11 is formed in a frame shape corresponding to the outer shape of the workpiece 14, and has a pedestal portion 11 b on a side surface 11 a in the frame. The pedestal portion 11 b is a portion for supporting the mask holder 12, the mask 13, and the workpiece 14, and the interval between the pedestal portions 11 b facing each other is formed smaller than the external dimensions of the mask holder 12. Further, the carrier 11 has a through hole 11c for allowing a push-up member 21 (see FIG. 1) of the workpiece support 2 described later to pass therethrough. The through hole 11c is formed at a position corresponding to the outer shape of the workpiece 14. In the present embodiment, the through holes 11 c are formed at positions that overlap the four corners of the rectangular workpiece 14.

マスクホルダ12は、マスク13の外形に応じた枠状に成形されており、枠内の側面12aに台座部分12bを有する。台座部分12bはマスク13を支持するための部分であり、互いに対向する台座部分12b同士の間隔はマスク13の外形寸法よりも小さく形成されている。また、マスクホルダ12は、後述する被処理物支持部2の突き上げ部材21(図1参照)との干渉を回避するための切り欠き部分12cを有する。切り欠き部分12cは、キャリア11の貫通孔11cの配置に応じて形成されている。本実施形態では、切り欠き部分12cは、矩形状の被処理物14の四隅に対応する位置に形成された貫通孔11cを避けるように面取り形状に形成されている。   The mask holder 12 is formed in a frame shape corresponding to the outer shape of the mask 13, and has a pedestal portion 12b on a side surface 12a in the frame. The pedestal portion 12 b is a portion for supporting the mask 13, and the interval between the pedestal portions 12 b facing each other is formed smaller than the external dimension of the mask 13. Further, the mask holder 12 has a notch portion 12c for avoiding interference with a push-up member 21 (see FIG. 1) of the workpiece support 2 described later. The cutout portion 12 c is formed according to the arrangement of the through holes 11 c of the carrier 11. In the present embodiment, the cutout portion 12 c is formed in a chamfered shape so as to avoid the through holes 11 c formed at positions corresponding to the four corners of the rectangular workpiece 14.

マスク13は、被処理物14の成膜面14aの一部を覆うことにより、膜を所望のパターンに形成するための部材である。マスク13は、被処理物14の外形に応じた板状に成形されており、所望のパターンに応じた開口13aを有する。なお、開口13aの形状は、図2に示した形状に限られるものではなく、任意の形状にできる。また、二つのキャリア11のそれぞれに搭載される二つのマスク13それぞれは、互いに異なるパターンを有する。すなわち、各マスク13のパターンは、成膜材料Ma及びMaそれぞれに応じた所望のパターンに形成されている。なお、マスク13は、従来の装置(図5参照)とは異なり、強磁性体に限らず様々な材料によって構成されることができる。 The mask 13 is a member for forming a film in a desired pattern by covering a part of the film formation surface 14a of the object 14 to be processed. The mask 13 is formed in a plate shape corresponding to the outer shape of the workpiece 14 and has openings 13a corresponding to a desired pattern. The shape of the opening 13a is not limited to the shape shown in FIG. 2, and can be any shape. Moreover, each of the two masks 13 mounted on each of the two carriers 11 has a different pattern. That is, the pattern of each mask 13 is formed in a desired pattern according to each of the film forming materials Ma 1 and Ma 2 . Note that, unlike the conventional apparatus (see FIG. 5), the mask 13 is not limited to a ferromagnetic material and can be made of various materials.

再び図1を参照する。ロードロック室10dは、搬送室10aの他端にゲートバルブ10eを介して繋がっており、搬送室10a及び成膜室10bとは独立して真空状態を制御できるしくみになっている。また、ロードロック室10dには、被処理物14を出し入れするためのゲートバルブ10fと、ロードロック室10d内に搬送されたキャリア11を支持するためのキャリア支持部15とが設けられている。図1に示すように、ゲートバルブ10eのZ軸方向位置(すなわち搬送機構3のZ軸方向位置)とゲートバルブ10fのZ軸方向位置とが異なる場合には、キャリア支持部15を上下方向(Z軸方向)に移動可能とすることにより、被処理物14を好適に出し入れできる。   Refer to FIG. 1 again. The load lock chamber 10d is connected to the other end of the transfer chamber 10a via a gate valve 10e, and has a mechanism capable of controlling the vacuum state independently of the transfer chamber 10a and the film forming chamber 10b. Further, the load lock chamber 10d is provided with a gate valve 10f for taking in and out the workpiece 14 and a carrier support portion 15 for supporting the carrier 11 conveyed into the load lock chamber 10d. As shown in FIG. 1, when the position of the gate valve 10e in the Z-axis direction (that is, the position of the transport mechanism 3 in the Z-axis direction) and the position of the gate valve 10f in the Z-axis direction differ, By enabling movement in the Z-axis direction), the workpiece 14 can be suitably put in and out.

また、ロードロック室10dには、被処理物支持部2が設けられている。被処理物支持部2は、真空容器10内において、被処理物14をキャリア11、マスクホルダ12、及びマスク13から分離して支持するための機構である。本実施形態の被処理物支持部2は、キャリア支持部15を貫通するように設けられた突き上げ部材21と、キャリア支持部15の上方(Z軸正方向)に配置されたアーム22とを有する。突き上げ部材21は、被処理物14を下方から突き上げることにより、被処理物14をマスク13、マスクホルダ12、及びキャリア11から分離することができる。また、アーム22は、被処理物14を引っ掛けて支持するための鉤部22aを下端に有しており、被処理物14に対して上方から接離可能に設けられている。   In addition, a workpiece support 2 is provided in the load lock chamber 10d. The workpiece support unit 2 is a mechanism for supporting the workpiece 14 separately from the carrier 11, the mask holder 12, and the mask 13 in the vacuum container 10. The workpiece support unit 2 of the present embodiment includes a push-up member 21 provided so as to penetrate the carrier support unit 15 and an arm 22 arranged above the carrier support unit 15 (Z-axis positive direction). . The push-up member 21 can separate the workpiece 14 from the mask 13, the mask holder 12, and the carrier 11 by pushing up the workpiece 14 from below. Further, the arm 22 has a flange 22a for hooking and supporting the workpiece 14 at the lower end, and is provided so as to be able to contact and separate from the workpiece 14 from above.

ここで、図3は、本実施形態の被処理物支持部2の詳細な構成例を示す斜視図である。図3を参照すると、被処理物支持部2は、4本の突き上げ部材21と、4本のアーム22とを有する。4本の突き上げ部材21は、キャリア11の貫通孔11cに対応してそれぞれ配置されており、キャリア11の下方から貫通孔11cを通過して被処理物14の四隅を突き上げる。なお、このとき、マスクホルダ12に切り欠き部分12c(図2参照)が形成されていることによって、マスクホルダ12と突き上げ部材21との干渉が回避される。   Here, FIG. 3 is a perspective view showing a detailed configuration example of the workpiece support 2 of the present embodiment. Referring to FIG. 3, the workpiece support 2 includes four push-up members 21 and four arms 22. The four push-up members 21 are respectively arranged corresponding to the through holes 11 c of the carrier 11, and pass through the through holes 11 c from below the carrier 11 to push up the four corners of the workpiece 14. At this time, the notch 12c (see FIG. 2) is formed in the mask holder 12, so that interference between the mask holder 12 and the push-up member 21 is avoided.

また、4本のアーム22は、被処理物14の四辺に対応してそれぞれ配置されている。4本のアーム22は、鉤部22aが被処理物14の下方に位置するまで降下したのち、回動して鉤部22aを被処理物14に引っ掛け、被処理物14を支持する。4本のアーム22は、鉤部22aを被処理物14に引っ掛けた状態で一斉に上昇することにより、被処理物14を上方へ持ち上げることができる。この後、4本の突き上げ部材21はキャリア11の下方へ引っ込み、キャリア11が搬送可能な状態となる。なお、被処理物14を上方へ持ち上げる方法としては、これ以外にも、例えば4本のアーム22が上下動せず、突き上げ部材21によって被処理物14が鉤部22aの高さまで持ち上げられた後、鉤部22aを被処理物14に引っ掛けるような構成でもよい。   Further, the four arms 22 are respectively arranged corresponding to the four sides of the workpiece 14. The four arms 22 are lowered until the collar portion 22 a is positioned below the workpiece 14, and then rotate to hook the collar portion 22 a on the workpiece 14 and support the workpiece 14. The four arms 22 can lift the workpiece 14 upward by lifting all the way together with the hook portion 22a hooked on the workpiece 14. Thereafter, the four push-up members 21 are retracted below the carrier 11 so that the carrier 11 can be transported. In addition, as a method of lifting the workpiece 14 upward, for example, after the four arms 22 do not move up and down and the workpiece 14 is lifted up to the height of the flange portion 22a by the push-up member 21, for example. A configuration in which the flange 22a is hooked on the workpiece 14 may be employed.

次に、図1を参照しながら、成膜装置1の動作について説明する。まず、成膜材料Ma,Maを装着したハース41a,41bをハース機構4へ配置するとともに、マスク13及びマスクホルダ12をそれぞれ搭載した二つのキャリア11をマスクストック室10cに収容する。このうち、一つのキャリア11上(マスク13上)には、被処理物14が搭載されている。そして、被処理物14を搭載したキャリア11は、マスクストック室10cから成膜室10b上へ搬送される。 Next, the operation of the film forming apparatus 1 will be described with reference to FIG. First, the hearths 41a and 41b on which the film forming materials Ma 1 and Ma 2 are mounted are arranged in the hearth mechanism 4, and the two carriers 11 on which the mask 13 and the mask holder 12 are mounted are accommodated in the mask stock chamber 10c. Among these, the workpiece 14 is mounted on one carrier 11 (on the mask 13). Then, the carrier 11 on which the workpiece 14 is mounted is transferred from the mask stock chamber 10c onto the film forming chamber 10b.

続いて、シャッタ機構16を開き、被処理物14の表面に成膜を行う。まず、接地電位にある真空容器10を挟んで、負電圧をプラズマ源5に、正電圧をハース41aに印加して放電を生じさせ、プラズマPを生成する。プラズマPは、補助陽極6に案内されてハース41aへ照射される。本実施形態では、キャリア11を搬送方向(矢印A)に搬送しつつ、このようにプラズマPをハース41aへ照射する。これにより、イオン化成膜粒子が発生し、被処理物14の表面に付着する。このとき、被処理物14の表面の一部はマスク13によって覆われているので、イオン化成膜粒子はマスク13に覆われていない被処理物14の表面に付着する。こうして、被処理物14の表面に、成膜材料Maからなり所望のパターンを有する膜が形成される。 Subsequently, the shutter mechanism 16 is opened, and film formation is performed on the surface of the workpiece 14. First, a negative voltage is applied to the plasma source 5 and a positive voltage is applied to the hearth 41a with the vacuum vessel 10 at the ground potential interposed therebetween, thereby generating a plasma P. The plasma P is guided to the auxiliary anode 6 and irradiated to the hearth 41a. In the present embodiment, the plasma P is irradiated onto the hearth 41a in this way while the carrier 11 is being conveyed in the conveyance direction (arrow A). Thereby, ionized film-forming particles are generated and adhere to the surface of the workpiece 14. At this time, since a part of the surface of the workpiece 14 is covered with the mask 13, the ionized film-forming particles adhere to the surface of the workpiece 14 not covered with the mask 13. Thus, a film made of the film forming material Ma 1 and having a desired pattern is formed on the surface of the object 14 to be processed.

被処理物14の表面に膜が形成された後、該被処理物14を搭載したキャリア11は被処理物支持部2へ搬送される。被処理物支持部2は、被処理物14をキャリア11、マスクホルダ12、及びマスク13から分離して支持する(図3参照)。この後、キャリア11はマスクストック室10cへ搬送され、再びマスクストック室10cに収容される。   After a film is formed on the surface of the workpiece 14, the carrier 11 on which the workpiece 14 is mounted is conveyed to the workpiece support unit 2. The workpiece support unit 2 supports the workpiece 14 separately from the carrier 11, the mask holder 12, and the mask 13 (see FIG. 3). Thereafter, the carrier 11 is transported to the mask stock chamber 10c and is again accommodated in the mask stock chamber 10c.

続いて、マスクストック室10c内の二つのキャリア支持部18が上方(または下方)に移動し、マスクストック室10cから別のキャリア11が排出される。このキャリア11は、搬送機構3によって被処理物支持部2へ搬送される。そして、被処理物支持部2に支持されていた被処理物14は、このキャリア11に搭載されたマスク13上に載置される。キャリア11は、被処理物14を搭載したまま成膜室10b上に搬送される。続いて、ハース41a(成膜材料Ma)がハース41b(成膜材料Ma)へ交換されたのち、上記と同様にして被処理物14の表面に膜が形成される。 Subsequently, the two carrier support portions 18 in the mask stock chamber 10c move upward (or downward), and another carrier 11 is discharged from the mask stock chamber 10c. The carrier 11 is transported to the workpiece support unit 2 by the transport mechanism 3. And the to-be-processed object 14 supported by the to-be-processed object support part 2 is mounted on the mask 13 mounted in this carrier 11. FIG. The carrier 11 is transferred onto the film forming chamber 10b with the workpiece 14 mounted thereon. Subsequently, after the hearth 41a (film forming material Ma 1 ) is replaced with the hearth 41b (film forming material Ma 2 ), a film is formed on the surface of the workpiece 14 in the same manner as described above.

本実施形態の成膜装置1による効果について説明する。成膜装置1においては、複数(本実施形態では二つ)のキャリア11それぞれにマスク13を予め搭載し、マスク13を交換する際にキャリア11ごと交換している。従って、従来の成膜装置のようにマスクを保持するための電磁石といった複雑な機構を必要とせず、磁場の影響も受けないので、本実施形態の成膜装置1によれば、真空状態を維持したまま簡易な機構によってマスク13を交換できる。   The effect by the film-forming apparatus 1 of this embodiment is demonstrated. In the film forming apparatus 1, a mask 13 is mounted in advance on each of a plurality (two in this embodiment) of carriers 11, and the carrier 11 is replaced when the mask 13 is replaced. Therefore, a complicated mechanism such as an electromagnet for holding the mask as in the conventional film forming apparatus is not required, and it is not affected by the magnetic field. Therefore, according to the film forming apparatus 1 of this embodiment, the vacuum state is maintained. The mask 13 can be exchanged by a simple mechanism.

また、本実施形態のように、搬送室10aの他端にゲートバルブ10eを介して繋がるロードロック室10dを真空容器10が有し、被処理物支持部2がロードロック室10d内に配置されていることが好ましい。このように、成膜装置が通常備えているロードロック室に被処理物支持部2を配置することにより、成膜装置1を小型に構成できる。もちろん、被処理物支持部2は、真空容器10内であれば様々な場所に配置されることができ、例えば搬送室10a内において搬送機構3に沿った位置に配置されてもよい。   Further, as in the present embodiment, the vacuum container 10 has a load lock chamber 10d connected to the other end of the transfer chamber 10a via a gate valve 10e, and the workpiece support portion 2 is disposed in the load lock chamber 10d. It is preferable. In this manner, the deposition apparatus 1 can be made compact by disposing the workpiece support unit 2 in the load lock chamber that is normally provided in the deposition apparatus. Of course, the workpiece support unit 2 can be arranged in various places as long as it is in the vacuum vessel 10, and may be arranged at a position along the transfer mechanism 3 in the transfer chamber 10a, for example.

また、本実施形態のように、被処理物支持部2は、突き上げ部材21及びアーム22を有することが好ましい。また、この場合、二つのキャリア11それぞれは、突き上げ部材21を通過させるための貫通孔11cを有することが好ましい。このような構成を有する被処理物支持部2によって、真空容器10内において被処理物14をキャリア11、マスクホルダ12、及びマスク13から好適に分離して支持することができる。また、この場合、二つのマスクホルダ12それぞれが、突き上げ部材21との干渉を回避するための切り欠き12c(図2参照)を有することが好ましい。   Moreover, it is preferable that the to-be-processed object support part 2 has the pushing-up member 21 and the arm 22 like this embodiment. In this case, each of the two carriers 11 preferably has a through hole 11c for allowing the push-up member 21 to pass therethrough. The object to be processed 14 can be suitably separated and supported from the carrier 11, the mask holder 12, and the mask 13 in the vacuum container 10 by the object support unit 2 having such a configuration. In this case, each of the two mask holders 12 preferably has a notch 12c (see FIG. 2) for avoiding interference with the push-up member 21.

ここで、図4(a)及び(b)は、突き上げ部材21との干渉を回避するためのマスクホルダの形状に関する他の例を示す図である。例えば、図4(a)に示すマスクホルダ72は、突き上げ部材21との干渉を回避するための切り欠きとして半円筒状の溝72aを有する。また、図4(b)に示すマスクホルダ73は、突き上げ部材21との干渉を回避するための孔(貫通孔)73aを有する。突き上げ部材21との干渉を回避するためのマスクホルダの形状は、これらのような切り欠きまたは孔であってもよく、或いは突き上げ部材21との干渉を回避できるのであれば他の形状であってもよい。   Here, FIGS. 4A and 4B are diagrams showing another example of the shape of the mask holder for avoiding interference with the push-up member 21. FIG. For example, the mask holder 72 shown in FIG. 4A has a semi-cylindrical groove 72 a as a notch for avoiding interference with the push-up member 21. 4B has a hole (through hole) 73a for avoiding interference with the push-up member 21. The mask holder 73 shown in FIG. The shape of the mask holder for avoiding interference with the push-up member 21 may be a notch or a hole as described above, or other shapes as long as interference with the push-up member 21 can be avoided. Also good.

また、本実施形態のように、成膜装置1は、キャリア11の個数に応じた数のキャリア支持部18をマスクストック室10c内に備えることが好ましい。また、キャリア支持部18は、上下方向に並設されるとともに上下方向に移動可能に設けられていることが好ましい。これにより、二つのキャリア11をマスクストック室10cから効率的に送り出すことができる。   Further, as in the present embodiment, the film forming apparatus 1 preferably includes the number of carrier support portions 18 corresponding to the number of carriers 11 in the mask stock chamber 10c. Moreover, it is preferable that the carrier support part 18 is provided in parallel with the up-down direction, and is movable in the up-down direction. Thereby, the two carriers 11 can be efficiently sent out from the mask stock chamber 10c.

なお、本実施形態では二種類のマスク13を用いる場合を示したが、本発明の成膜装置は、N個(Nは2以上の整数)のマスク交換に対して適用可能である。この場合、成膜装置1は、N個のキャリア11をマスクストック室10c内に収容し、該N個のキャリア11上にN個のマスクホルダ12及びN個のマスク13をそれぞれ搭載するとよい。また、成膜装置1は、N個のキャリア11を支持するためのN個のキャリア支持部18をマスクストック室10cに備えるとよい。   In the present embodiment, two types of masks 13 are used. However, the film forming apparatus of the present invention can be applied to N (N is an integer of 2 or more) mask replacement. In this case, the film forming apparatus 1 may accommodate N carriers 11 in the mask stock chamber 10 c and mount N mask holders 12 and N masks 13 on the N carriers 11. Further, the film forming apparatus 1 may include N carrier support portions 18 for supporting the N carriers 11 in the mask stock chamber 10c.

また、本実施形態では成膜装置1が二個のハース41a,41b及び二種類の成膜材料Ma,Maを備える(用いる)場合を示したが、本発明の成膜装置は、N個(Nは2以上の整数)のハースを備える構成が可能であり、N種類(Nは2以上の整数)の成膜材料を用いることができる。 In the present embodiment, the film forming apparatus 1 includes (uses) two hearths 41a and 41b and two kinds of film forming materials Ma 1 and Ma 2. However, the film forming apparatus of the present invention includes N A configuration including N (N is an integer of 2 or more) hearths is possible, and N types (N is an integer of 2 or more) of film forming materials can be used.

本発明による成膜装置は、上記した実施形態に限られるものではなく、他に様々な変形が可能である。例えば、上記実施形態では本発明の構成をイオンプレーティング装置に適用しているが、本発明の構成はこれ以外にも例えば真空蒸着装置やスパッタ装置などの様々な物理蒸着装置に適用できる。   The film forming apparatus according to the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various other modifications are possible. For example, in the above embodiment, the configuration of the present invention is applied to an ion plating apparatus. However, the configuration of the present invention can be applied to various physical vapor deposition apparatuses such as a vacuum vapor deposition apparatus and a sputtering apparatus.

本発明による成膜装置の一実施形態の構成を示す側面断面図である。It is side surface sectional drawing which shows the structure of one Embodiment of the film-forming apparatus by this invention. キャリア、マスクホルダ、マスク、及び被処理物の形状の一例を示す分解斜視図である。It is a disassembled perspective view which shows an example of the shape of a carrier, a mask holder, a mask, and a to-be-processed object. 被処理物支持部の詳細な構成例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the detailed structural example of a to-be-processed object support part. (a),(b)突き上げ部材との干渉を回避するためのマスクホルダの形状に関する他の例を示す図である。(A), (b) It is a figure which shows the other example regarding the shape of the mask holder for avoiding interference with a pushing-up member. 従来の真空成膜装置の概略を示す図である。It is a figure which shows the outline of the conventional vacuum film-forming apparatus.

符号の説明Explanation of symbols

1…成膜装置、2…被処理物支持部、3…搬送機構、4…ハース機構、5…プラズマ源、6…補助陽極、10…真空容器、10a…搬送室、10b…成膜室、10c…マスクストック室、10d…ロードロック室、10e…ゲートバルブ、11…キャリア、11c…貫通孔、12…マスクホルダ、12c…切り欠き部分、13…マスク、14…被処理物、15,18…キャリア支持部、21…突き上げ部材、22…アーム、22a…鉤部、41a,41b…ハース、Ma,Ma…成膜材料、P…プラズマ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Film-forming apparatus, 2 ... To-be-processed object support part, 3 ... Transfer mechanism, 4 ... Hearth mechanism, 5 ... Plasma source, 6 ... Auxiliary anode, 10 ... Vacuum container, 10a ... Transfer chamber, 10b ... Film-forming chamber, 10c ... Mask stock chamber, 10d ... Load lock chamber, 10e ... Gate valve, 11 ... Carrier, 11c ... Through-hole, 12 ... Mask holder, 12c ... Notch, 13 ... Mask, 14 ... Object to be processed, 15, 18 ... carrier support part, 21 ... push-up member, 22 ... arm, 22a ... collar part, 41a, 41b ... hearth, Ma 1 , Ma 2 ... film forming material, P ... plasma.

Claims (5)

成膜材料を拡散させて被処理物に付着させることにより成膜を行う成膜装置であって、
前記被処理物を搭載するためのN個(N≧2)のキャリア、前記N個のキャリアそれぞれに搭載され前記被処理物の成膜面の一部を覆うN個のマスク、及び前記N個のキャリアそれぞれにおいて前記N個のマスクそれぞれを支持するN個のマスクホルダを収容しておくためのマスクストック室と、
前記成膜材料を拡散させるための成膜室と、
前記成膜室上に配置され、所定の搬送方向に延びており、その一端が前記マスクストック室に繋がっている搬送室と、
前記搬送室内に設けられ、前記被処理物、前記マスク、及び前記マスクホルダを搭載した前記キャリアを前記搬送方向に搬送するための搬送機構と、
前記被処理物を前記マスク、前記マスクホルダ、及び前記キャリアから分離して支持するための被処理物支持部と
を備えることを特徴とする、成膜装置。
A film forming apparatus for forming a film by diffusing a film forming material and attaching it to an object to be processed,
N (N ≧ 2) carriers for mounting the object to be processed, N masks mounted on each of the N carriers and covering a part of the film forming surface of the object to be processed, and the N A mask stock chamber for storing N mask holders for supporting the N masks in each of the carriers,
A film forming chamber for diffusing the film forming material;
A transfer chamber disposed on the film forming chamber and extending in a predetermined transfer direction, one end of which is connected to the mask stock chamber; and
A transport mechanism provided in the transport chamber for transporting the workpiece, the mask, and the carrier carrying the mask holder in the transport direction;
A film processing apparatus, comprising: a processing object supporting portion for separating and supporting the processing object from the mask, the mask holder, and the carrier.
前記搬送室の他端にゲートバルブを介して繋がるロードロック室を更に備え、
前記被処理物支持部が、前記ロードロック室内に配置されていることを特徴とする、請求項1に記載の成膜装置。
A load lock chamber connected to the other end of the transfer chamber via a gate valve;
The film forming apparatus according to claim 1, wherein the object support portion is disposed in the load lock chamber.
前記被処理物支持部が、
前記被処理物を引っ掛けて支持するためのアームと、
前記被処理物を下方から突き上げることにより該被処理物を前記マスク、前記マスクホルダ、及び前記キャリアから分離するための突き上げ部材と
を有し、
前記N個のキャリアそれぞれが、前記突き上げ部材を通過させるための貫通孔を有することを特徴とする、請求項1または2に記載の成膜装置。
The workpiece support part is
An arm for hooking and supporting the workpiece;
A push-up member for separating the work piece from the mask, the mask holder, and the carrier by pushing up the work piece from below;
3. The film forming apparatus according to claim 1, wherein each of the N carriers has a through-hole for allowing the push-up member to pass therethrough.
前記N個のマスクホルダそれぞれが、前記突き上げ部材との干渉を回避するための切り欠きまたは孔を有することを特徴とする、請求項3に記載の成膜装置。   4. The film forming apparatus according to claim 3, wherein each of the N mask holders has a notch or a hole for avoiding interference with the push-up member. 前記マスクストック室内に設けられ、前記N個のキャリアそれぞれを支持するためのN個のキャリア支持部を更に備え、
前記N個のキャリア支持部が、上下方向に並設されるとともに上下方向に移動可能に設けられていることを特徴とする、請求項1〜4のいずれか一項に記載の成膜装置。
Provided in the mask stock chamber, further comprising N carrier support portions for supporting each of the N carriers;
5. The film forming apparatus according to claim 1, wherein the N carrier support portions are arranged in parallel in the vertical direction and are movable in the vertical direction.
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