JP4775339B2 - Electronic component mounting system and electronic component mounting method - Google Patents

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Description

本発明は、電子部品を基板に実装する電子部品実装システムおよび電子部品実装方法に関するものである。   The present invention relates to an electronic component mounting system and an electronic component mounting method for mounting electronic components on a substrate.

電子部品を基板に実装する電子部品実装システムにおいては、半田印刷装置や電子部品実装装置などの複数の装置を直列に連結して構成された電子部品実装ラインに沿って基板を搬送し、上流側から搬入された基板に対して半田印刷や部品実装などの作業工程を順次実行することにより実装基板が製造される。電子部品実装ラインには検査装置が組み込まれており(例えば特許文献1参照)、各作業工程実行後の基板を対象として、所定の検査項目について作業結果の良否判定が行われる。これらの検査において不良判定がなされた基板は、電子部品実装ラインから取り出され、各基板の不良内容に応じて廃棄処分や不良修正作業などの不良処理の対象となる。   In an electronic component mounting system that mounts electronic components on a substrate, the substrate is transported along an electronic component mounting line configured by connecting a plurality of devices such as a solder printing device and an electronic component mounting device in series. A mounting substrate is manufactured by sequentially executing work processes such as solder printing and component mounting on the substrate carried in from the above. An inspection device is incorporated in the electronic component mounting line (see, for example, Patent Document 1), and the quality of the work result is determined for a predetermined inspection item for the substrate after execution of each work process. Substrates for which a defect is determined in these inspections are taken out from the electronic component mounting line, and are subjected to defect processing such as disposal and defect correction work according to the defect contents of each substrate.

このような不良処理は一般にマシンオペレータによって行われ、オペレータが目視判定することによって修正可能と判断された基板については、マシンオペレータの手作業によって修正作業が実行される。そして修正作業後の基板は、マシンオペレータの目視による良否判定の後に電子部品実装ラインに投入される。
特開2006−214820号公報
Such defect processing is generally performed by a machine operator, and a correction operation is executed manually by the machine operator for a substrate that is determined to be correctable by visual judgment by the operator. The board after the correction work is put into the electronic component mounting line after the machine operator visually determines the quality.
JP 2006-214820 A

しかしながら上述の特許文献例を含め従来の電子部品実装システムにおいては、次に述べるような問題点があった。前述のように実装ラインから取り出された不良基板の処置については、修正作業の内容や作業結果の良否判定を含めて、専らマシンオペレータの判断に委ねられていた。このためマシンオペレータの判断に誤りがあった場合には、不完全な修正作業が行われた結果なお不良部分を含む基板がそのまま後工程に送られる結果となっていた。このように従来の電子部品実装システムにおいては、検査によって不良と判定され実装ラインから取り出された基板については、品質保証の観点を踏まえた明確な処理方法が確立されておらず、電子部品実装ラインに投入された修正作業後の基板の品質は必ずしも保証されないという課題があった。   However, the conventional electronic component mounting system including the above-mentioned patent document examples has the following problems. As described above, the treatment of the defective board taken out from the mounting line is left to the judgment of the machine operator exclusively, including the contents of the correction work and the quality judgment of the work result. For this reason, when there is an error in the judgment of the machine operator, as a result of incomplete correction work, the substrate including the defective portion is still sent to the subsequent process as it is. As described above, in the conventional electronic component mounting system, a clear processing method based on a quality assurance viewpoint has not been established for a board that is determined to be defective by inspection and is taken out of the mounting line. There has been a problem that the quality of the substrate after the correction work put in is not necessarily guaranteed.

そこで本発明は、電子部品実装ラインに投入された修正作業後の基板の品質を保証することができる電子部品実装システムおよび電子部品実装方法を提供することを目的とする。   SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to provide an electronic component mounting system and an electronic component mounting method that can guarantee the quality of a board after correction work put into an electronic component mounting line.

本発明の電子部品実装システムは、複数の装置を直列に連結して構成された電子部品実装ラインに沿って基板を搬送し前記各装置によって複数の作業工程を順次実行することにより実装基板を製造する電子部品実装システムであって、前記複数の作業工程を実行するための複数の電子部品実装用装置および前記複数の作業工程のそれぞれについて作業結果を検査して不良修正作業の要否を判定する複数の検査装置と、前記検査装置において実行される検査項目と検査の対象となる作業項目との実行順序を示す検査プロセスデータを記憶するとともに、前記検査装置による判定結果を各基板の識別情報と関連付けて個別の基板ごとの検査履歴として記憶する記憶手段と、前記電子部品実装用装置および検査装置に設けられ上流側から搬送された基板に付与された前記識別情報を読み取って各基板を個別に識別する基板識別手段と、前記複数の検査装置の下流側に付設され前記基板を電子部品実装ラインから取り出すための基板取出ステーションと、前記複数の検査装置の上流側に付設され前記基板取出ステーションから取り出された後の基板を前記電子部品実装ラインに投入するための基板投入ステーションと、前記記憶手段から読み出された前記検査履歴および前記基板識別手段によって読み出された前記識別情報に基づいて当該基板が不良修正作業の対象となる要修正基板に該当するか否かを判定する修正要否判定手段と、前記要修正基板に該当すると判定されて前記電子部品実装ラインから取り出され前記不良修正作業が実行された後に前記電子部品実装ラインに投入された基板につき、当該基板が前記不良修正作業の作業内容に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを前記検査プロセスデータおよび前記検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定する搬送許否判定手段とを備えた。 The electronic component mounting system of the present invention manufactures a mounting substrate by transporting a substrate along an electronic component mounting line configured by connecting a plurality of devices in series and sequentially executing a plurality of work steps by the devices. An electronic component mounting system that performs a plurality of electronic component mounting apparatuses for executing the plurality of work processes and a work result for each of the plurality of work processes to determine whether or not a defect correction work is necessary. A plurality of inspection apparatuses, and inspection process data indicating the execution order of inspection items executed in the inspection apparatus and work items to be inspected are stored, and the determination result by the inspection apparatus is used as identification information of each substrate. Storage means for associating and storing as an inspection history for each individual board, and provided in the electronic component mounting apparatus and the inspection apparatus and conveyed from the upstream side Board identification means for individually identifying each board by reading the identification information given to the board; a board take-out station attached to the downstream side of the plurality of inspection devices for taking out the board from the electronic component mounting line; A substrate loading station for loading a substrate after being attached to the upstream side of the plurality of inspection devices and taken out from the substrate removal station into the electronic component mounting line; and the inspection history read from the storage means; Based on the identification information read by the substrate identifying means, a correction necessity determining means for determining whether or not the substrate corresponds to a correction required substrate to be subjected to defect correction work, and corresponds to the correction required substrate Then, it is determined that the substrate is taken out from the electronic component mounting line and the defect correction work is executed. The month, the substrate is determined on the basis of the inspection the inspection process data and the inspection history whether retesting is performed by the device corresponding to the work of the defect correction operation, the conveyance to the downstream of the substrate A conveyance permission / rejection determination unit for determining permission / rejection.

本発明の電子部品実装方法は、複数の装置を直列に連結して構成された電子部品実装ラインに沿って基板を搬送し前記各装置によって複数の作業工程を順次実行することにより実装基板を製造する電子部品実装方法であって、前記電子部品実装ラインは、前記複数の作業工程を実行するための複数の電子部品実装用装置および前記複数の作業工程のそれぞれについて作業結果を検査して不良修正作業の要否を判定する複数の検査装置と、前記検査装置において実行される検査項目と検査の対象となる作業項目との実行順序を示す検査プロセスデータを記憶するとともに、前記検査装置による判定結果を各基板の識別情報と関連付けて個別の基板ごとの検査履歴として記憶する記憶手段と、前記電子部品実装用装置および検査装置に設けられ上流側から搬送された基板に付与された前記識別情報を読み取って各基板を個別に識別する基板識別手段と、前記複数の検査装置の下流側に付設され前記基板を電子部品実装ラインから取り出すための基板取出ステーションと、前記複数の検査装置の上流側に付設され前記基板取出ステーションを経由して取り出された後の基板を前記電子部品実装ラインに投入するための基板投入ステーションとを備え、前記記憶手段から読み出された前記検査履歴および前記基板識別手段によって読み取られた前記識別情報に基づいて当該基板が不良修正作業の対象となる要修正基板に該当するか否かを判定する修正要否判定工程と、前記要修正基板に該当すると判定された基板を前記基板取出ステーションを経由して取り出す基板取出し工程と、取り出された基板を対象として前記不良修正作業を実行する不良修正作業工程と、前記不良修正作業が実行された後の基板を前記電子部品実装ラインに投入する基板投入工程と、前記電子部品実装ラインに投入された基板につき、当該基板が前記不良修正作業に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを前記検査プロセスデータおよび前記検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定する搬送許否判定工程とを含む。 The electronic component mounting method of the present invention manufactures a mounting substrate by transporting a substrate along an electronic component mounting line configured by connecting a plurality of devices in series and sequentially executing a plurality of work steps by the devices. In this electronic component mounting method, the electronic component mounting line inspects a work result for each of the plurality of electronic component mounting apparatuses for executing the plurality of work steps and the plurality of work steps, and corrects the defect. A plurality of inspection devices for determining whether work is necessary, inspection process data indicating the execution order of inspection items executed in the inspection device and work items to be inspected are stored, and a determination result by the inspection device Is stored in the electronic component mounting apparatus and the inspection apparatus. A board identification means for individually identifying each board by reading the identification information given to the board conveyed from the side, and for taking out the board from the electronic component mounting line attached to the downstream side of the plurality of inspection devices A substrate take-out station; and a substrate loading station for loading a substrate after being taken out via the substrate take-off station attached to the upstream side of the plurality of inspection devices into the electronic component mounting line, and A determination as to whether or not the correction is necessary based on the inspection history read from the means and the identification information read by the substrate identification means. And a substrate unloading step of unloading the substrate determined to be a substrate requiring correction via the substrate unloading station; A defect correction work process for performing the defect correction work on the target board, a board loading process for loading the board after the defect correction work is performed into the electronic component mounting line, and a loading into the electronic component mounting line And determining whether the substrate has been re-inspected by the inspection apparatus corresponding to the defect correction work based on the inspection process data and the inspection history, and A conveyance permission / rejection determination step for determining permission / rejection.

本発明によれば、検査により要修正と判定され電子部品実装ラインから取り出されて不良修正作業が行われ、電子部品実装ラインに再投入された基板につき、当該基板が不良修正作業に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定することにより、不良修正作業の作業内容に応じた検査が再実行されることを確保して、修正作業後の基板の品質を保証することができる。   According to the present invention, for a board that has been determined to be corrected by inspection and is taken out of the electronic component mounting line and subjected to defect correction work, and re-introduced into the electronic component mounting line, the board corresponds to the defect correction work. Whether or not re-inspection by the apparatus has been executed is determined based on the inspection history, and whether or not conveyance of the substrate to the downstream side is permitted is determined, whereby the inspection corresponding to the work content of the defect correction work is re-executed. This can ensure the quality of the substrate after the correction work.

次に本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。図1は本発明の一実施の形態の電子部品実装システムの構成説明図、図2は本発明の一実施の形態の電子部品実装システムに用いられる基板取出ステーション、基板投入ステーションの斜視図、図3は本発明の一実施の形態の電子部品実装システムの制御系の構成を示すブロック図、図4は本発明の一実施の形態の電子部品実装システムのホスト装置の記憶部および処理部の機能を示すブロック図、図5,図6は本発明の一実施の形態の電子部品実装システムによる電子部品実装方法のフロー図、図7は本発明の一実施の形態の電子部品実装方法における基板のオフライン修正処理のフロー図である。   Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is an explanatory diagram of the configuration of an electronic component mounting system according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a perspective view of a substrate take-out station and a substrate loading station used in the electronic component mounting system according to an embodiment of the present invention. 3 is a block diagram showing the configuration of the control system of the electronic component mounting system according to the embodiment of the present invention, and FIG. 4 shows the functions of the storage unit and processing unit of the host device of the electronic component mounting system according to the embodiment of the present invention. FIG. 5 and FIG. 6 are flowcharts of an electronic component mounting method by the electronic component mounting system according to the embodiment of the present invention. FIG. 7 is a circuit diagram of the substrate in the electronic component mounting method according to the embodiment of the present invention. It is a flowchart of an offline correction process.

まず図1を参照して、電子部品実装システムの構成について説明する。電子部品実装システムは、複数の装置を直列に連結して構成された電子部品実装ライン1に沿って基板を搬送し、各装置によって複数の作業工程を順次実行することにより実装基板を製造する機
能を有しており、電子部品実装ライン1を構成する各装置は、通信ネットワーク2を経由して相互に接続されるとともに、ホスト装置3によって統括して制御される。
First, the configuration of the electronic component mounting system will be described with reference to FIG. The electronic component mounting system has a function of transporting a substrate along an electronic component mounting line 1 configured by connecting a plurality of devices in series, and manufacturing a mounting substrate by sequentially executing a plurality of work steps by each device. The devices constituting the electronic component mounting line 1 are connected to each other via the communication network 2 and are controlled by the host device 3 in an integrated manner.

電子部品実装ライン1の構成を説明する。電子部品実装ライン1は、複数の作業工程を実行するための複数の作業装置(電子部品実装用装置)としての半田印刷装置M1、電子部品実装装置M3,M4、リフロー装置M6およびこれらの各作業装置の下流側に隣接して配置された印刷検査装置M2、実装検査装置M5および接合検査装置M7を備えている。印刷検査装置M2、実装検査装置M5および接合検査装置M7は、複数の作業工程、すなわち半田印刷工程、電子部品実装工程およびリフロー工程のそれぞれについて作業結果を検査して不良修正作業の要否を判定する機能を有している。   The configuration of the electronic component mounting line 1 will be described. The electronic component mounting line 1 includes a solder printing device M1, electronic component mounting devices M3 and M4, a reflow device M6 as a plurality of work devices (devices for mounting electronic components) for executing a plurality of work processes, and each of these operations. A printing inspection apparatus M2, a mounting inspection apparatus M5, and a bonding inspection apparatus M7 are provided adjacent to the downstream side of the apparatus. The print inspection apparatus M2, the mounting inspection apparatus M5, and the bonding inspection apparatus M7 inspect the work results for each of a plurality of work processes, that is, a solder printing process, an electronic component mounting process, and a reflow process, and determine whether or not a defect correction work is necessary. It has a function to do.

半田印刷装置M1の上流側には基板搬入部4が付設されており、基板搬入部4は上流側から供給される実装対象の基板8(図2(b)参照)を半田印刷装置M1に搬送する。印刷検査装置M2、実装検査装置M5、接合検査装置M7の上流側には、それぞれ基板受渡装置5A、5B、5Cが、また下流側にはそれぞれ基板受渡装置6A、6B、6Cが付設されている。基板受渡装置5A、5B、5C、基板受渡装置6A、6B、6Cはいずれも上流側と下流側に位置する各装置との間での基板8の受渡しを行う機能を有しており、後述するように、基板受渡装置6A、6B、6Cは、検査によって不良判定がなされた基板8をオフラインで修正するために電子部品実装ライン1から取り出す基板取り出しステーションとして用いられ、基板受渡装置5A、5B、5Cは、修正後の基板8を電子部品実装ライン1に再投入するための基板投入ステーションとして用いられる。   A board carry-in section 4 is attached on the upstream side of the solder printing apparatus M1, and the board carry-in section 4 transports the board 8 to be mounted (see FIG. 2B) supplied from the upstream side to the solder printing apparatus M1. To do. Substrate delivery devices 5A, 5B, and 5C are attached to the upstream side of the print inspection device M2, the mounting inspection device M5, and the bonding inspection device M7, respectively, and substrate delivery devices 6A, 6B, and 6C are attached to the downstream side, respectively. . Each of the substrate delivery devices 5A, 5B, 5C and the substrate delivery devices 6A, 6B, 6C has a function of delivering the substrate 8 between the upstream and downstream devices, which will be described later. As described above, the board delivery devices 6A, 6B, and 6C are used as a board take-out station for taking out from the electronic component mounting line 1 in order to correct the board 8 that has been determined to be defective by inspection offline, and the board delivery devices 5A, 5B, 5C is used as a board loading station for re-feeding the corrected board 8 into the electronic component mounting line 1.

すなわちこの電子部品実装システムは、複数の検査装置の下流側に付設され基板を電子部品実装ライン1から取り出すための基板取出ステーションと、複数の検査装置の上流側に付設され基板取出ステーションから取り出された後の基板を電子部品実装ライン1に投入するための基板投入ステーションとを備えた構成となっている。そして本実施の形態においては、基板取出ステーションおよび基板投入ステーションは、作業装置(電子部品実装用装置)と検査装置との間で基板の受け渡しを行う基板受渡装置に設けられている。   In other words, this electronic component mounting system is provided on the downstream side of a plurality of inspection apparatuses, and is provided on the upstream side of the plurality of inspection apparatuses and taken out from the substrate extraction station. And a substrate loading station for loading the subsequent substrate into the electronic component mounting line 1. In the present embodiment, the substrate take-out station and the substrate loading station are provided in the substrate delivery device that delivers the substrate between the working device (electronic component mounting device) and the inspection device.

なお基板取出ステーションおよび基板投入ステーションを基板受渡装置に設ける替わりに、作業装置や検査装置自体のカバー扉を開放することにより、オペレータが手動操作によって基板の出し入れを容易に行うことができる場合には、作業装置や検査装置自体に、基板取出ステーションおよび基板投入ステーションを兼務させることができる。この場合にはこれらの装置が、カバー扉がホスト装置3から指示された特定タイミングにおいてのみ開放可能となるような扉開閉制御機能を備えていることが条件となる。   In addition, instead of providing a substrate take-out station and a substrate loading station in the substrate delivery device, if the operator can easily put in and out the substrate by manual operation by opening the cover door of the work device or the inspection device itself In addition, the work apparatus and the inspection apparatus can be used as both a substrate take-out station and a substrate input station. In this case, it is a condition that these devices have a door opening / closing control function that allows the cover door to be opened only at a specific timing instructed from the host device 3.

半田印刷装置M1は、基板搬入部4を経由して供給された基板8に電子部品接合用の半田を印刷する作業を行う。印刷検査装置M2は、半田印刷装置M1による印刷作業後の基板8をカメラによって撮像し、撮像データを画像認識処理することにより、印刷作業の良否を判定する。印刷検査方法としては、カメラによって取得した画像を認識処理する方法の他、印刷後の半田の形状を3次元測定して良否判定する方法など、画像認識以外の方法を用いてもよい。   The solder printing apparatus M1 performs an operation of printing solder for joining electronic components on the board 8 supplied via the board carry-in unit 4. The print inspection apparatus M2 images the board 8 after the printing work by the solder printing apparatus M1 with a camera and performs image recognition processing on the imaged data to determine whether the printing work is good or bad. As a print inspection method, a method other than image recognition, such as a method of recognizing an image acquired by a camera or a method of determining pass / fail by measuring the shape of solder after printing three-dimensionally, may be used.

電子部品実装装置M3,M4、は、半田印刷装置M1によって半田が印刷され、印刷検査装置M2によって検査された後の基板8に電子部品を実装する作業を行う。実装検査装置M5は電子部品実装装置M3,M4、による部品実装作業後の基板8をカメラによって撮像し、撮像データを画像認識処理することにより、部品実装作業の良否を判定する。リフロー装置M6は、実装検査装置M5によって部品実装が良好と判定された基板8を所定温度で加熱することにより、基板8に印刷された半田を溶融固化させて電子部品を基板8に半田接合する。接合検査装置M7は半田接合後の基板8をカメラで撮像し、撮像データ
を画像認識処理することにより、半田接合状態の良否を判定する。
The electronic component mounting apparatuses M3 and M4 perform an operation of mounting the electronic components on the board 8 after the solder is printed by the solder printing apparatus M1 and inspected by the print inspection apparatus M2. The mounting inspection device M5 images the board 8 after the component mounting work by the electronic component mounting devices M3 and M4 with a camera, and determines whether the component mounting work is good or not by performing image recognition processing on the imaged data. The reflow device M6 heats the substrate 8 that has been determined to have good component mounting by the mounting inspection device M5 at a predetermined temperature, thereby melting and solidifying the solder printed on the substrate 8, and soldering the electronic component to the substrate 8. . The bonding inspection apparatus M7 images the substrate 8 after solder bonding with a camera and performs image recognition processing on the imaged data to determine whether the solder bonding state is good or bad.

半田印刷装置M1〜接合検査装置M7および基板受渡装置5A、5B、5C、基板受渡装置6A、6B,6Cには、それぞれバーコードリーダ7が設けられている。電子部品実装ライン1による実装対象となる各基板8には、基板の識別情報である基板IDが付与されたバーコードラベル9が貼付されており(図2(b)参照)、上流から搬送された各基板8のバーコードラベル9をバーコードリーダ7によって読み取ることにより、各基板8を個別に識別することができるようになっている。すなわちバーコードリーダ7は、電子部品実装用装置および検査装置に設けられ、上流側から搬送された基板に付与された前記識別情報を読み取って各基板を個別に識別する基板識別手段となっている。   Each of the solder printing device M1 to the bonding inspection device M7, the board delivery devices 5A, 5B, and 5C, and the board delivery devices 6A, 6B, and 6C is provided with a barcode reader 7. Each substrate 8 to be mounted by the electronic component mounting line 1 has a barcode label 9 attached with a substrate ID, which is substrate identification information (see FIG. 2B), and is conveyed from upstream. Each substrate 8 can be individually identified by reading the barcode label 9 of each substrate 8 with the barcode reader 7. That is, the bar code reader 7 is provided in the electronic component mounting apparatus and the inspection apparatus, and serves as a board identifying means for individually identifying each board by reading the identification information given to the board conveyed from the upstream side. .

なお基板8に貼着されたバーコードラベル9をバーコードリーダ7によって読み取る構成に替えて、各基板8にICタグなど電磁的手段によって情報を書き込み・読み出しが可能な記憶媒体を装着し、各装置にバーコードリーダ7に替えてタグリーダ・ライタを装着するようにしてもよい。この場合には、各装置に配置されたタグリーダ・ライタが、基板に付与された識別情報を読み取って各基板を個別に識別する基板識別手段となる。   Instead of the configuration in which the barcode label 9 attached to the substrate 8 is read by the barcode reader 7, a storage medium capable of writing / reading information by electromagnetic means such as an IC tag is attached to each substrate 8, A tag reader / writer may be attached to the apparatus in place of the barcode reader 7. In this case, the tag reader / writer arranged in each device serves as a substrate identifying means for individually identifying each substrate by reading the identification information given to the substrate.

次に図2を参照して、基板受渡装置5A、5B、5C、6A、6B,6Cの構造および機能について説明する。図2に示すように、基板受渡装置5A、5B、5C、6A、6B,6Cはいずれも同構造であり、支持ブラケット10によって支持された搬送フレーム11に、基板8をガイドして搬送するための搬送レール12を水平に配設した構成となっている。これらの装置が、電子部品実装ライン1を構成する各装置の間に介在した状態では、搬送レール12は各装置に設けられた基板搬送機構の搬送コンベアと連結された状態となり、搬送レール12を経由して上流側装置から下流側装置へ基板8が搬送され受け渡される。   Next, with reference to FIG. 2, the structure and function of the substrate delivery devices 5A, 5B, 5C, 6A, 6B, and 6C will be described. As shown in FIG. 2, the substrate delivery devices 5A, 5B, 5C, 6A, 6B, and 6C all have the same structure, and guide and transport the substrate 8 to the transport frame 11 supported by the support bracket 10. The transport rails 12 are horizontally arranged. When these devices are interposed between the devices constituting the electronic component mounting line 1, the transport rail 12 is connected to the transport conveyor of the substrate transport mechanism provided in each device, and the transport rail 12 is Then, the substrate 8 is transferred from the upstream device to the downstream device and transferred.

基板8には、図2(b)に示すように、各基板8を個別に識別するためのバーコードラベル9が設けられており、基板8が電子部品実装ライン1に沿って下流に搬送される過程において、各装置に設けられたバーコードリーダ7によってバーコードラベル9が読み取られ、これにより基板8は個別に識別されながら各装置の作業対象となる。この識別結果によって、当該基板8が検査によって不良と判定された不良基板など、電子部品実装ライン1から取り出される基板であると判明した場合には、ストッパ17を作動させることにより、基板8はその位置に停止し、取出しが可能となる。   As shown in FIG. 2 (b), the substrate 8 is provided with a bar code label 9 for individually identifying each substrate 8, and the substrate 8 is conveyed downstream along the electronic component mounting line 1. In the process, the barcode label 9 is read by the barcode reader 7 provided in each device, whereby the substrate 8 is identified as a work target of each device. If it is determined from this identification result that the board 8 is a board taken out from the electronic component mounting line 1 such as a defective board determined to be defective by inspection, the board 8 It stops at the position and can be taken out.

図2(a)に示すように、搬送レール12はカバー部材13によって覆われており、カバー部材13には基板8の出し入れを可能とする大きさの扉部材14が開閉自在に設けられている。扉部材14には係止部15が設けられており、カバー部材13には係止部15に対応する位置にロック機構16が設けられている。扉部材14が閉じられた状態では、係止部15は遠隔制御可能なロック機構16によって機械的に係止または電磁力によって固定されており、扉部材14はロックされて開放が禁止された状態にある。扉部材14を開放して基板8を出し入れする必要がある場合には、ホスト装置3から通信ネットワーク2を経由してロック機構16に扉開放許可指令を送信することにより、扉部材14の開放が可能な状態となる。   As shown in FIG. 2A, the transport rail 12 is covered with a cover member 13, and a door member 14 having a size that allows the substrate 8 to be taken in and out is provided on the cover member 13 so as to be freely opened and closed. . The door member 14 is provided with a locking portion 15, and the cover member 13 is provided with a lock mechanism 16 at a position corresponding to the locking portion 15. In a state in which the door member 14 is closed, the locking portion 15 is mechanically locked or locked by electromagnetic force by a lock mechanism 16 that can be remotely controlled, and the door member 14 is locked and is not allowed to be opened. It is in. When the door member 14 needs to be opened and the substrate 8 needs to be taken in and out, the door member 14 can be opened by transmitting a door opening permission command from the host device 3 to the lock mechanism 16 via the communication network 2. It becomes possible.

次に図3を参照して、電子部品実装システムの制御系の構成を説明する。図3において、ホスト装置3は記憶部31、処理部32を備えており、処理部32は通信部33を経由して、半田印刷装置M1、電子部品実装装置M3,M4、リフロー装置M6など基板8を対象として電子部品実装のための作業を実行する作業装置や、印刷検査装置M2、実装検査装置M5、接合検査装置M7などの検査装置、さらに基板投入ステーションとしての基板受渡装置5A、5B、5Cや基板取出ステーションとしての基板受渡装置6A、6B、
6Cと接続されている。
Next, the configuration of the control system of the electronic component mounting system will be described with reference to FIG. In FIG. 3, the host device 3 includes a storage unit 31 and a processing unit 32, and the processing unit 32 is connected to a substrate such as a solder printing device M <b> 1, electronic component mounting devices M <b> 3 and M <b> 4, and a reflow device M <b> 6 via a communication unit 33. 8, inspection devices such as a printing inspection device M2, a mounting inspection device M5, and a bonding inspection device M7, as well as substrate delivery devices 5A and 5B as substrate loading stations. Substrate delivery devices 6A and 6B as 5C and a substrate take-out station
6C is connected.

作業装置(半田印刷装置M1、電子部品実装装置M3,M4、リフロー装置M6)は、作業部20、基板搬送部21、読取部22、記憶部23、制御部24および通信部25を備えている。作業部20はそれぞれの装置種類に応じて、基板8を対象とした電子部品実装のための各種作業を実行する。すなわち半田印刷装置M1の作業部20は基板8に半田を印刷するためのスクリーン印刷作業を実行し、電子部品実装装置M3,M4の作業部20は半田印刷後の基板8に電子部品を実装する部品実装作業を実行する。そしてリフロー装置M6の作業部20は、電子部品実装後の基板8を加熱して、電子部品を基板に半田接合するためのリフロー作業を実行する。   The working device (solder printing device M1, electronic component mounting devices M3, M4, reflow device M6) includes a working unit 20, a board transport unit 21, a reading unit 22, a storage unit 23, a control unit 24, and a communication unit 25. . The work unit 20 performs various operations for mounting electronic components on the board 8 according to the type of each device. That is, the working unit 20 of the solder printing apparatus M1 performs screen printing work for printing solder on the substrate 8, and the working unit 20 of the electronic component mounting apparatuses M3 and M4 mounts electronic components on the substrate 8 after solder printing. Perform component mounting work. Then, the working unit 20 of the reflow apparatus M6 performs a reflow operation for heating the substrate 8 after mounting the electronic component and soldering the electronic component to the substrate.

基板搬送部21は、各作業装置において基板8を上流から下流へ搬送する基板搬送動作を行う。読取部22は、各作業装置に搬入された基板8に貼付されたバーコードラベル9をバーコードリーダ7によって読み取る処理を行う。記憶部23は各作業装置において作業動作を行うために必要な各種プログラムやデータを記憶する。制御部24は、記憶部23に記憶されたプログラムやデータに基づいて作業部20、基板搬送部21、読取部22の各部を制御する。通信部25は、ホスト装置3の通信部33と通信ネットワーク2を経由して接続されており、処理部32と制御部24との制御信号の授受を行う。   The substrate transport unit 21 performs a substrate transport operation for transporting the substrate 8 from upstream to downstream in each work apparatus. The reading unit 22 performs a process of reading the barcode label 9 attached to the substrate 8 carried into each working device by the barcode reader 7. The storage unit 23 stores various programs and data necessary for performing work operations in each work device. The control unit 24 controls each unit of the working unit 20, the substrate transport unit 21, and the reading unit 22 based on programs and data stored in the storage unit 23. The communication unit 25 is connected to the communication unit 33 of the host device 3 via the communication network 2, and exchanges control signals between the processing unit 32 and the control unit 24.

印刷検査装置M2、実装検査装置M5、接合検査装置M7は、計測部40、基板搬送部41、読取部42、記憶部43、制御部44および通信部45を備えている。計測部40はそれぞれの装置種類に応じて、基板8を対象とした検査のための計測処理を実行する。すなわち印刷検査装置M2の計測部40は半田印刷後の基板8を対象とした半田印刷検査のための計測処理を実行し、実装検査装置M5の計測部40は部品実装後の基板8を対象とした実装状態検査のための計測処理を実行する。そして接合検査装置M7の作業部20はリフロー作業後の基板8を対象とした半田接合状態検査のための計測処理を実行する。   The print inspection apparatus M2, the mounting inspection apparatus M5, and the bonding inspection apparatus M7 include a measurement unit 40, a board transport unit 41, a reading unit 42, a storage unit 43, a control unit 44, and a communication unit 45. The measurement unit 40 executes a measurement process for inspection on the substrate 8 according to each type of apparatus. That is, the measurement unit 40 of the print inspection apparatus M2 executes measurement processing for solder printing inspection on the board 8 after solder printing, and the measurement unit 40 of the mounting inspection apparatus M5 targets the board 8 after component mounting. The measurement process for mounting state inspection is executed. Then, the working unit 20 of the bonding inspection apparatus M7 executes a measurement process for the solder bonding state inspection on the substrate 8 after the reflow work.

基板搬送部41は、各装置において基板8を上流から下流へ搬送する基板搬送動作を行う。読取部42は、各検査装置に搬入された基板8に貼付されたバーコードラベル9をバーコードリーダ7によって読み取る処理を行う。記憶部43は各検査装置において作業動作を行うために必要な各種プログラムやデータを記憶する。制御部44は、記憶部43に記憶されたプログラムやデータに基づいて計測部40、基板搬送部41、読取部42の各部を制御する。通信部45は、ホスト装置3の通信部33と通信ネットワーク2を経由して接続されており、処理部32と制御部44との制御信号に授受を行う。   The substrate transport unit 41 performs a substrate transport operation for transporting the substrate 8 from upstream to downstream in each apparatus. The reading unit 42 performs a process of reading the barcode label 9 attached to the substrate 8 carried into each inspection apparatus by the barcode reader 7. The storage unit 43 stores various programs and data necessary for performing work operations in each inspection apparatus. The control unit 44 controls each unit of the measurement unit 40, the substrate transport unit 41, and the reading unit 42 based on programs and data stored in the storage unit 43. The communication unit 45 is connected to the communication unit 33 of the host device 3 via the communication network 2 and exchanges control signals between the processing unit 32 and the control unit 44.

基板受渡装置5A、5B、5Cは、扉開閉部50、基板搬送部51、読取部52、制御部54および通信部55を備えている。扉開閉部50はそれぞれの基板受渡装置に備えられた扉部材14の開閉許可のための動作を行う。基板搬送部51は、各基板受渡装置において基板8を上流から下流へ搬送する基板搬送動作を行う。読取部52は、各基板受渡装置に搬入された基板8に貼付されたバーコードラベル9をバーコードリーダ7によって読み取る処理を行う。制御部54は扉開閉部50、基板搬送部51、読取部52の各部を制御する。通信部55は、ホスト装置3の通信部33と通信ネットワーク2を経由して接続されており、処理部32と制御部54との制御信号に授受を行う。   The substrate delivery devices 5A, 5B, and 5C include a door opening / closing unit 50, a substrate transport unit 51, a reading unit 52, a control unit 54, and a communication unit 55. The door opening / closing part 50 performs an operation for permitting opening / closing of the door member 14 provided in each board delivery device. The substrate transport unit 51 performs a substrate transport operation for transporting the substrate 8 from upstream to downstream in each substrate delivery apparatus. The reading unit 52 performs a process of reading the barcode label 9 attached to the substrate 8 carried into each substrate delivery device by the barcode reader 7. The control unit 54 controls the door opening / closing unit 50, the substrate transfer unit 51, and the reading unit 52. The communication unit 55 is connected to the communication unit 33 of the host device 3 via the communication network 2, and exchanges control signals between the processing unit 32 and the control unit 54.

基板受渡装置6A、6B,6Cは、扉開閉部60、基板搬送部61、読取部62、制御部64および通信部65を備えている。扉開閉部60、基板搬送部61、読取部62、制御部64および通信部65は、基板受渡装置5A、5B、5Cの扉開閉部50、基板搬送部51、読取部52、制御部54および通信部55と同様の機能を有している。   Substrate delivery devices 6A, 6B, and 6C include a door opening / closing unit 60, a substrate transport unit 61, a reading unit 62, a control unit 64, and a communication unit 65. The door opening / closing unit 60, the substrate transporting unit 61, the reading unit 62, the control unit 64, and the communication unit 65 are the door opening / closing unit 50, the substrate transporting unit 51, the reading unit 52, the control unit 54, and the communication unit 65 of the substrate delivery devices 5A, 5B, 5C. It has the same function as the communication unit 55.

次に図4を参照して、ホスト装置3に備えられた記憶部31、処理部32の機能を説明する。記憶部31には、図4(a)に示すように、検査プロセス記憶部31a、検査履歴記憶部31bが設けられている。検査プロセス記憶部31aは、印刷検査装置M2、実装検査装置M5、接合検査装置M7において実行される検査作業のプロセス、すなわち良否判定の対象となる検査項目と検査の対象となる作業項目との実行順序を示すデータを記憶する。検査履歴記憶部31bは、各検査装置によって実行された検査の結果を各基板8の識別情報とリンクさせて検査履歴として記憶する。すなわち検査プロセス記憶部31aおよび検査履歴記憶部31bは、前記検査装置において実行される検査項目と検査の対象となる作業項目との実行順序を示す検査プロセスデータを記憶するとともに、検査装置による判定結果を各基板の識別情報と関連付けて個別の基板ごとの検査履歴として記憶する記憶手段となっている。 Next, functions of the storage unit 31 and the processing unit 32 provided in the host device 3 will be described with reference to FIG. As shown in FIG. 4A, the storage unit 31 is provided with an inspection process storage unit 31a and an inspection history storage unit 31b. The inspection process storage unit 31a performs the process of inspection work executed in the print inspection apparatus M2, the mounting inspection apparatus M5, and the bonding inspection apparatus M7, that is, the execution of the inspection items that are the targets of the pass / fail judgment and the work items that are the inspection targets. Data indicating the order is stored. The inspection history storage unit 31b stores the result of the inspection performed by each inspection apparatus as the inspection history by linking with the identification information of each substrate 8. That is, the inspection process storage unit 31a and the inspection history storage unit 31b store inspection process data indicating the execution order of inspection items executed in the inspection apparatus and work items to be inspected, and determination results by the inspection apparatus. Is stored as an inspection history for each individual substrate in association with the identification information of each substrate.

なお、ホスト装置3の記憶部31に個別の基板ごとの検査履歴を記憶させる替わりに、基板8に予めICタグなどデータの書き込み・読み出しが可能な記憶媒体を装着しておき、印刷検査装置M2、実装検査装置M5、接合検査装置M7に備えられたICタグリーダ・ライタによって、検査実行時に直接書き込むようにしてもよい。この場合には、各基板に装着されたICタグが、検査装置による判定結果を各基板の識別情報と関連付けて個別の基板ごとの検査履歴として記憶する記憶手段として機能する。   Instead of storing the inspection history for each individual substrate in the storage unit 31 of the host device 3, a storage medium capable of writing / reading data such as an IC tag is mounted on the substrate 8 in advance, and the print inspection device M2 is installed. Alternatively, the IC tag reader / writer provided in the mounting inspection apparatus M5 and the bonding inspection apparatus M7 may directly write data at the time of inspection execution. In this case, the IC tag attached to each substrate functions as a storage unit that stores the determination result by the inspection device as the inspection history for each individual substrate in association with the identification information of each substrate.

図4(b)に示すように、処理部32は、修正要否判定処理部32a、基板取出投入処理部32b、基板搬送制御処理部32cを備えている。修正要否判定処理部32aは、バーコードリーダ7によって読み取られたバーコードラベル9の基板IDと検査履歴記憶部31bに記憶された検査履歴とに基づいて、各基板8が不良の修正作業を必要とする要修正基板に該当するか否かを判定する処理を行う。すなわち、修正要否判定処理部32aは、記憶手段から読み出された検査履歴および基板識別手段によって読み出された識別情報に基づいて当該基板が不良修正作業の対象となる要修正基板に該当するか否かを判定する修正要否判定手段となっている。   As shown in FIG. 4B, the processing unit 32 includes a correction necessity determination processing unit 32a, a substrate take-out / input processing unit 32b, and a substrate transfer control processing unit 32c. Based on the substrate ID of the barcode label 9 read by the barcode reader 7 and the inspection history stored in the inspection history storage unit 31b, the correction necessity determination processing unit 32a performs a correction operation on each substrate 8 to correct a defect. A process of determining whether or not the board needs to be corrected is performed. That is, the correction necessity determination processing unit 32a corresponds to a correction required substrate on which the substrate is a target of defect correction work based on the inspection history read from the storage unit and the identification information read by the substrate identification unit. It is a correction necessity determination means for determining whether or not.

基板取出投入処理部32bは、要修正基板と判断された基板を基板受渡装置6A、6B,6Cのうちのいずれの基板取出ステーションを経由して電子部品実装ライン1から取り出し、基板受渡装置5A、5B、5Cのうちのいずれの基板投入ステーションを経由して電子部品実装ライン1に再投入するかを特定する処理を行う。この処理は、検査プロセス記憶部31aに記憶された検査プロセスデータおよび検査履歴記憶部31bに記憶された検査履歴とに基づいて実行される。   The board take-out / input processing unit 32b takes out the board determined to be a correction required board from the electronic component mounting line 1 via any board take-out station among the board delivery apparatuses 6A, 6B, 6C. A process of specifying which of the substrate loading stations 5B and 5C is to be recharged into the electronic component mounting line 1 is performed. This process is executed based on the inspection process data stored in the inspection process storage unit 31a and the inspection history stored in the inspection history storage unit 31b.

このように基板取出ステーションおよび基板投入ステーションが特定されることにより、特定された基板取出ステーションおよび基板投入ステーション以外では扉部材14がロックされたままとなって基板取出・基板投入が禁止される。したがって、基板取出投入処理部32bは、要修正基板に該当するとして電子部品実装ライン1から取り出され、不良修正作業が実行された後の基板を電子部品実装ライン1に投入する際に経由すべき基板投入ステーションを、検査履歴を参照して限定し、他の基板投入ステーションを経由しての当該基板の電子部品実装ライン1への投入を禁止する基板投入ステーション限定手段となっている。   By specifying the substrate take-out station and the substrate input station in this manner, the door member 14 remains locked except for the specified substrate take-out station and substrate input station, and substrate take-out / substrate input is prohibited. Therefore, the board removal / input processing unit 32b is taken out from the electronic component mounting line 1 as corresponding to the correction required board, and should be passed when the board after the defect correction work is executed is input to the electronic component mounting line 1. The board loading station is limited by referring to the inspection history, and is a board loading station limiting means for prohibiting loading of the board into the electronic component mounting line 1 via another board loading station.

基板搬送制御処理部32cは、オフラインで不良修正作業が実行された後に電子部品実装ライン1に再投入された基板8を下流に搬送するに際し、検査プロセス記憶部31aに記憶された検査プロセスデータおよび検査履歴記憶部31bに記憶された検査履歴とに基づいて、当該基板がオフラインで実行された不良修正作業に応じた再検査を経たものであるか否かを判定した上で、下流側への搬送を許可する処理を行う。すなわち、基板搬送制御処理部32cは、要修正基板に該当すると判定されて電子部品実装ラインから取り出され不良修正作業が実行された後に電子部品実装ラインに投入された基板につき、当該基板が不良修正作業の作業内容に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを検査プロセスデータおよび検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定する搬送許否判定手段となっている。 The board transfer control processing unit 32c performs inspection process data stored in the inspection process storage unit 31a and the board 8 re-introduced into the electronic component mounting line 1 after the defect correction work is performed offline. Based on the inspection history stored in the inspection history storage unit 31b, it is determined whether or not the substrate has undergone re-inspection according to the defect correction work performed offline, and then the downstream side Processing to permit transportation is performed. That is, the board conveyance control processing unit 32c determines that the board needs to be corrected, and for the board that is taken out from the electronic component mounting line and executed on the electronic component mounting line after the defect correction operation is performed, the board is corrected for defects. It becomes a transfer permission / non-permission determining means for determining whether re-inspection by the inspection apparatus corresponding to the work content of the work has been executed based on the inspection process data and the inspection history, and determining whether the substrate is transported downstream. ing.

次に、この電子部品実装システムによって実行される電子部品実装方法、すなわち電子部品実装ライン1に沿って基板を搬送し各装置によって複数の作業工程を順次実行することにより、実装基板を製造する電子部品実装方法について、図5,図6のフローに沿って説明する。まず上流側から基板搬入部4を経由して搬送された基板8は、半田印刷装置M1に投入される(ST1)。次いで、バーコードリーダ7によって基板8に付されたバーコードラベル9を読み取ることにより、各基板の識別情報である基板IDが読み取られる(ST2)。そして半田印刷装置M1によって基板8にはんだ印刷が実行される(ST3)。印刷後の基板8は基板受渡装置5Aを経由して印刷検査装置M2に搬入され、ここで同様に基板IDが読み取られる(ST4)。   Next, an electronic component mounting method executed by the electronic component mounting system, that is, an electronic for manufacturing a mounting substrate by transporting the substrate along the electronic component mounting line 1 and sequentially executing a plurality of work steps by each device. The component mounting method will be described along the flow of FIGS. First, the board 8 transported from the upstream side via the board carry-in section 4 is put into the solder printing apparatus M1 (ST1). Next, by reading the barcode label 9 attached to the substrate 8 by the barcode reader 7, the substrate ID which is identification information of each substrate is read (ST2). Then, solder printing is performed on the substrate 8 by the solder printing apparatus M1 (ST3). The printed substrate 8 is carried into the print inspection apparatus M2 via the substrate delivery device 5A, and the substrate ID is read in the same manner (ST4).

次いで印刷検査装置M2によってはんだ印刷が行われた後の基板8を対象として、はんだ印刷状態検査が実行され(ST5)、「はんだ正常」すなわち半田印刷状態が正常であるか否かが判定される(ST6)。ここで、正常でない場合には、後述するオフライン修正処理が実行され(ST7)、修正後の基板8は電子部品実装ライン1に再投入されて再度はんだ印刷状態検査が実行される。ここで再度「はんだ正常」でないと判定された場合には、オフライン修正処理が再度実行される。このようにして印刷検査装置M2によって実行された検査結果は上述の再検査の検査結果を含め、全て基板8の基板ID情報と関連付けられた検査履歴データとして、ホスト装置3の検査履歴記憶部31bに記憶される。   Next, a solder printing state inspection is performed on the board 8 after the solder printing is performed by the printing inspection apparatus M2 (ST5), and it is determined whether or not “solder is normal”, that is, the solder printing state is normal. (ST6). Here, if not normal, an offline correction process described later is executed (ST7), and the corrected board 8 is reintroduced into the electronic component mounting line 1 and the solder printing state inspection is executed again. If it is determined again that the “solder is normal”, the offline correction process is executed again. The inspection results executed by the print inspection apparatus M2 in this way, including the inspection results of the re-inspection described above, are all inspection history data associated with the substrate ID information of the substrate 8, and the inspection history storage unit 31b of the host device 3. Is remembered.

(ST6)にて「はんだ正常」であると判断された基板8は、検査履歴チェックの対象となる。基板受渡装置6Bに搬入された基板8はここで基板IDが読み取られ、この基板ID情報を検査履歴記憶部31bに記憶された検査履歴情報と照合することにより、「はんだ正常」の履歴があるか否かがチェックされる(ST9)。すなわち、検査履歴記憶部31bに当該基板IDの基板8について検査結果として「はんだ正常」が記録されているか否かが確認され、「はんだ正常」の履歴が確認できない場合には、不良修正後の再検査が実行されないなど何らかの不正常事態が発生したと判断してエラー報知する(ST10)。   The board 8 determined to be “normal solder” in (ST6) is subjected to an inspection history check. The board 8 carried into the board delivery device 6B is read here, and the board ID is read here. By checking this board ID information against the inspection history information stored in the inspection history storage section 31b, there is a history of “normal solder”. Is checked (ST9). That is, it is confirmed whether or not “normal solder” is recorded as the inspection result for the board 8 of the board ID in the inspection history storage unit 31b. It is determined that some kind of abnormal situation has occurred, such as the retest is not performed, and an error is notified (ST10).

すなわち、ここでは電子部品実装ライン1に再投入された基板につき、不良修正作業に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定するようにしている。(ST9)にて「はんだ正常」の履歴ありが確認された場合には、当該基板8の下流への搬送が許可されて基板受渡装置6Aを経由して電子部品実装装置M3,M4に順次搬入され、電子部品実装装置M3,M4によって基板8に部品実装作業が実行される(ST11)。部品実装作業後の基板8は、基板受渡装置5Bを経由して実装検査装置M5に搬入され、ここで同様に基板IDが読み取られる(ST12)。   That is, here, it is determined based on the inspection history whether or not the reinspection by the inspection apparatus corresponding to the defect correction work has been performed on the board re-introduced into the electronic component mounting line 1, and It is determined whether or not the conveyance is permitted. If it is confirmed in (ST9) that there is a history of “normal solder”, the downstream transfer of the board 8 is permitted and the board 8 is sequentially transferred to the electronic component mounting apparatuses M3 and M4 via the board delivery apparatus 6A. Then, a component mounting operation is performed on the substrate 8 by the electronic component mounting apparatuses M3 and M4 (ST11). The board 8 after the component mounting work is carried into the mounting inspection apparatus M5 via the board delivery apparatus 5B, and the board ID is similarly read here (ST12).

次いで電子部品実装装置M3,M4によって部品実装作業が行われた後の基板8を対象として、部品実装状態検査が実行され(ST13)、「実装正常」すなわち部品実装状態が正常であるか否かが判定される(ST14)。ここで、正常でない場合には、後述するオフライン修正処理が実行され(ST15)、修正後の基板8は電子部品実装ライン1に再投入されて、再度実装状態検査が実行される。ここで再度「実装正常」でないと判定された場合には、再度オフライン修正処理が実行され、このようにして実装検査装置M5によって実行された検査結果は、前述と同様に全て基板8の基板ID情報と関連付けられた検査履歴データとして、ホスト装置3の検査履歴記憶部31bに記憶される。   Next, the component mounting state inspection is executed for the board 8 after the component mounting operation is performed by the electronic component mounting apparatuses M3 and M4 (ST13), and whether “mounting is normal”, that is, whether or not the component mounting state is normal. Is determined (ST14). Here, if not normal, an offline correction process described later is executed (ST15), and the corrected board 8 is reintroduced into the electronic component mounting line 1 and the mounting state inspection is executed again. If it is determined again that the “mounting is normal”, the offline correction process is performed again, and all the inspection results executed by the mounting inspection apparatus M5 in this way are the board IDs of the boards 8 as described above. The inspection history data associated with the information is stored in the inspection history storage unit 31b of the host device 3.

(ST14)にて「実装正常」であると判断された基板8は、同様に検査履歴チェックの対象となる。基板受渡装置6Bに搬入された基板8はここで基板IDが読み取られ(S
T16)、この基板ID情報を検査履歴記憶部31bに記憶された検査履歴情報と照合することにより、「実装正常」の履歴があるか否かがチェックされる(ST17)。すなわち、検査履歴記憶部31bに当該基板IDの基板8について検査結果として「実装正常」が記録されているか否かが確認され、「実装正常」の履歴が確認できない場合には、何らかの不正常事態が発生したと判断してエラー報知する(ST18)。
The board 8 determined to be “normal mounting” in (ST14) is similarly subjected to an inspection history check. The substrate ID is read here for the substrate 8 carried into the substrate delivery device 6B (S
T16) By checking this board ID information against the inspection history information stored in the inspection history storage unit 31b, it is checked whether or not there is a “mounting normal” history (ST17). That is, it is confirmed whether or not “mounting normal” is recorded as the inspection result for the board 8 with the board ID in the inspection history storage unit 31b. An error notification is made (ST18).

すなわち、ここでも同様に、電子部品実装ライン1に再投入された基板につき、不良修正作業に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定するようにしている。(ST17)にて「実装正常」の履歴ありが確認された場合には、基板8は「6B」を経由してリフロー装置M6に搬入され、リフロー装置M6によってリフロー作業が実行される(ST19)。部品実装作業後の基板8は基板受渡装置5Cを経由して接合検査装置M7に搬入され、ここで同様に基板IDが読み取られる(ST20)。   That is, here again, it is determined based on the inspection history whether or not re-inspection by the inspection device corresponding to the defect correction work has been executed for the substrate re-introduced into the electronic component mounting line 1. Whether or not the downstream conveyance is permitted is determined. If it is confirmed in (ST17) that there is a history of “normal mounting”, the board 8 is carried into the reflow device M6 via “6B”, and the reflow operation is executed by the reflow device M6 (ST19). . The board 8 after the component mounting operation is carried into the bonding inspection apparatus M7 via the board delivery apparatus 5C, and the board ID is read in the same manner (ST20).

次いでリフロー装置M6によってリフロー作業が行われた後の基板8を対象として、部接合状態検査が実行され(ST21)、「接合正常」すなわちリフローによる半田接合状態が正常であるか否かが判定される(ST22)。ここで、正常でない場合には、後述するオフライン修正処理が実行され(ST23)、修正後の基板8は電子部品実装ライン1に再投入されて再度リフロー装置M6による接合状態検査が実行される。ここで再度「接合正常」でないと判定された場合には、再度オフライン修正処理が実行され、このようにして接合検査装置M7によって実行された検査結果は、前述と同様に全て基板8の基板ID情報と関連付けられた検査履歴データとしてホスト装置3の検査履歴記憶部31bに記憶される。   Next, a partial bonding state inspection is performed on the substrate 8 after the reflow operation is performed by the reflow apparatus M6 (ST21), and it is determined whether or not “bonding is normal”, that is, the solder bonding state by reflow is normal. (ST22). Here, if it is not normal, an offline correction process described later is executed (ST23), and the corrected substrate 8 is reintroduced into the electronic component mounting line 1 and the bonding state inspection by the reflow device M6 is executed again. If it is determined again that the “bonding is normal” again, the offline correction process is performed again, and all the inspection results executed by the bonding inspection apparatus M7 in this way are the substrate IDs of the substrates 8 as described above. It is stored in the inspection history storage unit 31b of the host device 3 as inspection history data associated with the information.

(ST22)にて「接合正常」であると判断された基板8は、同様に検査履歴チェックの対象となる。基板受渡装置6Cに搬入された基板8は、ここで基板IDが読み取られ(ST24)、この基板ID情報を検査履歴記憶部31bに記憶された検査履歴情報と照合することにより、「接合正常」の履歴があるか否かがチェックされる(ST15)。すなわち、検査履歴記憶部31bに当該基板IDの基板8について検査結果として「接合正常」が記録されているか否かが確認され、「接合正常」の履歴が確認できない場合には、何らかの不正常事態が発生したと判断してエラー報知する(ST26)。   The substrate 8 determined to be “bonding normal” in (ST22) is similarly subjected to an inspection history check. The board 8 carried into the board delivery device 6C is read here with the board ID (ST24), and this board ID information is checked against the inspection history information stored in the inspection history storage section 31b, thereby “joining normal”. It is checked whether or not there is a history (ST15). That is, it is confirmed whether or not “bonding normal” is recorded as the inspection result for the substrate 8 of the substrate ID in the inspection history storage unit 31b. Is determined to have occurred and an error is notified (ST26).

すなわち、ここでも同様に、電子部品実装ライン1に再投入された基板につき、不良修正作業に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定するようにしている。そして(ST25)にて「接合正常」の履歴があると確認された基板8は、基板受渡装置6Cを経由して下流側の後工程へ搬出される(ST27)。   That is, here again, it is determined based on the inspection history whether or not re-inspection by the inspection device corresponding to the defect correction work has been executed for the substrate re-introduced into the electronic component mounting line 1. Whether or not the downstream conveyance is permitted is determined. Then, the substrate 8 that has been confirmed as having a “joining normal” history in (ST25) is carried out to a downstream downstream process via the substrate delivery device 6C (ST27).

次に、図7を参照して、上述の(ST7)、(ST15)、(ST23)で実行されるオフライン修正処理について、図7を参照して説明する。このオフライン修正処理は、作業装置である半田印刷装置M1、電子部品実装装置M3,M4、リフロー装置M6によって電子部品実装用の作業が実行された基板8を、印刷検査装置M2、実装検査装置M5、接合検査装置M7によって検査した結果、修正が必要な要修正基板にであると判定された基板8を電子部品実装ライン1から取り出し、必要な修正作業を行った後に電子部品実装ライン1に再投入する際の処理を示すものである。   Next, with reference to FIG. 7, the offline correction process executed in the above (ST7), (ST15), and (ST23) will be described with reference to FIG. In this offline correction process, the board 8 on which the work for mounting the electronic component is performed by the solder printing device M1, the electronic component mounting devices M3 and M4, and the reflow device M6, which are working devices, is printed in the printing inspection device M2 and the mounting inspection device M5. As a result of inspection by the bonding inspection apparatus M7, the board 8 determined to be a correction-necessary board that needs to be corrected is taken out from the electronic component mounting line 1, and after the necessary correction work, the electronic component mounting line 1 is restored. This shows the processing when the input is performed.

印刷検査装置M2、実装検査装置M5、接合検査装置M7によって所定項目について検査が実行されると、これらの検査装置による検査結果は、検査履歴としてホスト装置3の検査履歴記憶部31bに記憶される。そして基板8が各検査装置の下流側に隣接して配置された基板受渡装置(基板取出ステーション)に搬入されると、修正要否判定処理部32
aは当該基板受渡装置のバーコードリーダ7による当該基板8の識別情報と検査履歴記憶部31bに記憶された検査履歴とを照合することにより、当該基板8が不良修正作業の対象となるか否かを判定する。すなわち、記憶手段である検査履歴記憶部31bから読み出された検査履歴および基板識別手段であるバーコードリーダ7によって読み取られた識別情報に基づいて、当該基板8が不良修正作業の対象となる要修正基板に該当するか否かを判定する(修正要否判定工程)。
When inspections are performed on predetermined items by the print inspection apparatus M2, the mounting inspection apparatus M5, and the bonding inspection apparatus M7, the inspection results by these inspection apparatuses are stored in the inspection history storage unit 31b of the host device 3 as an inspection history. . And if the board | substrate 8 is carried in into the board | substrate delivery apparatus (board | substrate taking-out station) arrange | positioned adjacent to the downstream of each inspection apparatus, the necessity determination process part 32 of a correction | amendment will be carried out.
a indicates whether or not the substrate 8 is subject to defect correction work by collating the identification information of the substrate 8 by the barcode reader 7 of the substrate delivery apparatus with the inspection history stored in the inspection history storage unit 31b. Determine whether. That is, based on the inspection history read from the inspection history storage unit 31b, which is a storage unit, and the identification information read by the barcode reader 7, which is a substrate identification unit, the board 8 is a target for defect correction work. It is determined whether or not the substrate is a correction board (correction necessity determination step).

この判定において、当該基板8が要修正基板に該当すると判定された場合には、基板取出投入処理部32bは、当該基板8を電子部品実装ライン1から取り出す際に経由すべき基板取出ステーションおよび修正作業後の基板8を投入する際に経由すべき基板投入ステーションを検査プロセス記憶部31aに記憶された検査プロセスデータを参照して特定し、該当する基板受渡装置に指令を送出する。すなわち、不良を検出した検査装置の下流の基板受渡装置を基板取出ステーションとして特定し、当該検査装置の上流の基板受渡装置を基板投入ステーションとして特定する。   In this determination, when it is determined that the board 8 corresponds to a correction-needed board, the board take-out / input processing unit 32b passes the board 8 when the board 8 is taken out from the electronic component mounting line 1 and the correction. A substrate loading station to be routed when loading the substrate 8 after work is specified with reference to the inspection process data stored in the inspection process storage unit 31a, and a command is sent to the corresponding substrate delivery apparatus. That is, the substrate delivery device downstream of the inspection apparatus that detected the defect is identified as the substrate take-out station, and the substrate delivery apparatus upstream of the inspection device is identified as the substrate input station.

このようにして基板取出投入処理部32bによって基板取出ステーションおよび基板投入ステーションを特定する処理が終わると、まず、ホスト装置3は特定された基板取出ステーションに対応する基板受渡装置に、扉開指令を送出する。これにより指令を受けた基板受渡装置においては、ロック機構16によるロックが解除されて(ST31)、扉部材14を開放して基板8を取り出すことが可能な状態となる。これとともに、信号灯などの報知手段によって要修正基板の取出しを促す旨の報知が行われる。   When the processing for specifying the substrate extraction station and the substrate input station is completed by the substrate extraction / input processing unit 32b in this way, first, the host device 3 issues a door opening command to the substrate delivery device corresponding to the specified substrate extraction station. Send it out. As a result, in the substrate delivery apparatus that has received the command, the lock mechanism 16 is unlocked (ST31), and the door member 14 is opened and the substrate 8 can be taken out. At the same time, a notification that prompts the user to take out the substrate requiring correction is performed by a notification means such as a signal lamp.

この報知を承けて、マシンオペレータは要修正基板に該当すると判定された基板を、特定された基板取出ステーションを経由して取出す(基板取出し工程)(ST32)。次いで、取り出された基板8を対象として、オフラインにて必要な不良修正作業をオフラインにて実行する(不良修正作業工程)(ST33)。例えばはんだ印刷状態が不良であると判定された基板を対象とする場合には、ディスペンサなどで半田を追加して塗布したり、正規位置よりはみ出して印刷された半田を除去する修正作業が実行される。   In response to this notification, the machine operator takes out the board determined to be a board requiring correction via the specified board take-out station (board take-out step) (ST32). Next, the defect correction work necessary offline is performed offline for the substrate 8 taken out (defect correction work process) (ST33). For example, when targeting a board that has been determined to have a poor solder printing state, a correction operation is performed to add and apply solder with a dispenser or the like, or to remove the printed solder that protrudes from the normal position. The

不良修正作業を実行した後マシンオペレータは、基板8を再び電子部品実装ラインに投入する(基板投入工程)。このとき、基板取出投入処理部32bによって特定され扉開指令が送出された基板投入ステーションのロック機構16によるロックが解除され(ST34)、基板投入ステーションの扉部材14が開状態となるとともに、信号灯などの報知手段によってこの基板投入ステーションを経由して当該基板を投入すべき旨が報知される。これにより、マシンオペレータは、基板取出投入処理部32bによって特定された基板投入ステーションを経由して、基板8を電子部品実装ライン1に再投入する(ST35)。再投入後の基板8は実行された修正作業の内容に応じた検査装置による検査工程を経て、下流側へ搬送される。このとき、特定された基板投入ステーション以外の基板受渡装置では扉部材14はロック状態のままであり、基板の投入が行えないようになっている。   After executing the defect correction work, the machine operator puts the board 8 into the electronic component mounting line again (board feeding process). At this time, the lock by the lock mechanism 16 of the substrate loading station, which is specified by the substrate removal loading processing unit 32b and the door opening command is sent, is released (ST34), and the door member 14 of the substrate loading station is opened, and the signal lamp A notification means that the substrate should be loaded via the substrate loading station. As a result, the machine operator re-injects the substrate 8 into the electronic component mounting line 1 via the substrate insertion station specified by the substrate removal / injection processing unit 32b (ST35). The substrate 8 after the re-input is transported to the downstream side through an inspection process by an inspection device according to the content of the correction work that has been performed. At this time, in the substrate delivery apparatus other than the specified substrate loading station, the door member 14 remains in a locked state, and the substrate cannot be loaded.

すなわち、基板投入工程において不良修正作業後の基板を投入する際に経由すべき基板投入ステーションを、検査履歴記憶部31bに記憶された検査履歴を参照して限定し、他の基板投入ステーションを経由しての当該基板の電子部品実装ラインへ1の投入を禁止する。これにより、投入された基板は必ず不良修正の作業内容に応じた検査装置を通過することとなり、作業内容に応じた検査の再実行が確保される。これとともに、基板搬送制御処理部32cは、電子部品実装ライン1に投入された基板につき、当該基板が不良修正作業に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを、検査プロセス記憶部31aに記憶された検査プロセスデータおよび検査履歴記憶部31bに記憶された検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定する(搬送許否判定工程)。これにより不良修正作業後に電子部品実装ライン1に再投入された基板8が再検査を経ないまま下流へ搬送される不具合を確実に防止することができる。 That is, the substrate loading station that should be passed through when loading a substrate after the defect correction work in the substrate loading process is limited with reference to the inspection history stored in the inspection history storage unit 31b, and the other substrate loading station is passed through. Then, 1 is prohibited from being input to the electronic component mounting line of the board. As a result, the loaded substrate always passes through the inspection device corresponding to the work content of the defect correction, and re-execution of the inspection according to the work content is ensured. At the same time, substrate transfer control unit 32c, per electronic component substrate that has been put into the mounting line 1, whether re-inspection by the inspection apparatus to which the substrate corresponding to the failure correction work is performed, the inspection process storage unit 31a Is determined based on the inspection process data stored in the inspection history and the inspection history stored in the inspection history storage unit 31b to determine whether or not the substrate is transported downstream (transport permission / rejection determination step). As a result, it is possible to reliably prevent the problem that the substrate 8 re-introduced into the electronic component mounting line 1 after the defect correction work is conveyed downstream without undergoing re-inspection.

なお検査によって判定された不良の種類や、対象となる基板の種類によっては、基板投入工程において当該基板を投入する際に経由すべき基板投入ステーションを、常に電子部品実装ライン1の最上流に位置する基板投入ステーション5Aに限定し、不良修正作業が実行された基板が必ず印刷検査装置M2を通過するようにしてもよい。すなわちはんだ印刷状態検査によって印刷の不良が検出され、はんだ印刷状態を改善するための修正作業が行われた基板のみならず、実装状態検査によって不良と判定され、電子部品の搭載位置や姿勢などの手直しを内容とする不良修正作業が実行された場合においても、修正作業後の基板が必ず印刷検査装置M2を通過するようにする。この場合には、検査履歴記憶部31bに記憶された検査履歴を参照して不良修正箇所を特定し、修正により未実装状態となった箇所のみについて検査を行うようにしてもよい。   Depending on the type of defect determined by the inspection and the type of target substrate, the substrate loading station to be passed through when loading the substrate in the substrate loading process is always positioned at the uppermost stream of the electronic component mounting line 1. The substrate may be limited to the substrate loading station 5A, and the substrate on which the defect correction work has been performed may always pass through the print inspection apparatus M2. In other words, not only the printed board is detected by the solder printing state inspection and the correction work for improving the solder printing state is performed, but also the mounting state inspection determines that it is defective, and the mounting position and posture of the electronic component Even when a defect correction operation including correction is performed, the substrate after the correction operation is sure to pass through the print inspection apparatus M2. In this case, a defect correction location may be identified with reference to the inspection history stored in the inspection history storage unit 31b, and only the location that has become unmounted due to the correction may be inspected.

これにより、不良修正作業において新たな不良を誘発したような場合、すなわち基板に実装された電子部品の搭載位置や姿勢などの手直しにおいて、マシンオペレータの不注意な取り扱いなどにより既に印刷された半田に部分的な型崩れなどの不良を生じた場合においても、新たに誘発された不良を印刷検査装置M2によって検出することができる。したがって、不良修正作業によって新たに生じた不良を有する基板がそのまま後工程に送られる不具合を有効に防止することができる。   As a result, when a new defect is induced in the defect correction work, that is, when the mounting position or posture of the electronic component mounted on the board is reworked, the solder that has already been printed due to careless handling by the machine operator, etc. Even when a defect such as partial loss of shape occurs, a newly induced defect can be detected by the print inspection apparatus M2. Therefore, it is possible to effectively prevent a problem that a substrate having a defect newly generated by the defect correction work is sent to a subsequent process as it is.

上記説明したように、本実施の形態に示す電子部品実装システムにおいては、検査により要修正と判定され電子部品実装ラインから取り出されて不良修正作業が行われた後の基板を電子部品実装ラインに投入する基板投入工程において、当該基板を再投入する際に経由すべき基板投入ステーションを検査履歴を参照して限定し、さらに電子部品実装ラインに再投入された基板につき、不良修正作業に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定することにより、不良修正作業の作業内容に応じた検査の再実行を確保して、修正作業後の基板の品質を保証することができる。   As described above, in the electronic component mounting system shown in the present embodiment, the board after being determined as requiring correction by inspection and taken out of the electronic component mounting line and subjected to defect correction work is used as the electronic component mounting line. In the board loading process, the board loading stations to be routed when re-loading the board are limited with reference to the inspection history, and the defect correction work is performed on the board re-loaded into the electronic component mounting line. Whether or not re-inspection by the inspection apparatus has been performed is determined based on the inspection history, and whether or not the substrate is conveyed downstream is determined, thereby performing re-execution according to the work content of the defect correction work. It is possible to ensure the quality of the substrate after the correction work.

なお上記実施の形態においては、不良修正作業後の基板を再投入する際に経由すべき基板投入ステーションの限定と、不良修正作業に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを検査履歴に基づいて判断して行われる当該基板の下流への搬送許否判定とを併せて実行する例を示しているが、いずれか一方のみを行うことによっても、修正作業後の基板の品質を保証することが可能である。但し、品質保証の万全を期すためには、上述の2つを併せて実行することが望ましい。   In the above embodiment, the inspection history shows the limitation of the substrate loading station that should be passed when re-loading the substrate after the defect correction work, and whether the re-inspection by the inspection device corresponding to the defect correction work has been executed. In this example, the determination as to whether or not the substrate is allowed to be conveyed downstream based on the determination is performed, but the quality of the substrate after the correction work is also guaranteed by performing only one of them. It is possible. However, in order to ensure quality assurance, it is desirable to execute the above two together.

本発明の電子部品実装システムおよび電子部品実装方法は、不良修正作業の作業内容に応じた検査が再実行されることを確保して、修正作業後の基板の品質を保証することができるという効果を有し、複数の装置を直列に連結して構成された電子部品実装ラインによって基板に電子部品を実装して実装基板を製造する分野において有用である。   The electronic component mounting system and the electronic component mounting method of the present invention can ensure that the inspection according to the work content of the defect correction work is re-executed, and can guarantee the quality of the board after the correction work. It is useful in the field of manufacturing a mounting substrate by mounting electronic components on a substrate by an electronic component mounting line configured by connecting a plurality of devices in series.

本発明の一実施の形態の電子部品実装システムの構成説明図Structure explanatory drawing of the electronic component mounting system of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の電子部品実装システムに用いられる基板取出ステーション、基板投入ステーションの斜視図BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a perspective view of a substrate take-out station and a substrate input station used in an electronic component mounting system according to an embodiment of the present invention. 本発明の一実施の形態の電子部品実装システムの制御系の構成を示すブロック図The block diagram which shows the structure of the control system of the electronic component mounting system of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の電子部品実装システムのホスト装置の記憶部および処理部の機能を示すブロック図The block diagram which shows the function of the memory | storage part and processing part of the host apparatus of the electronic component mounting system of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の電子部品実装システムによる電子部品実装方法のフロー図The flowchart of the electronic component mounting method by the electronic component mounting system of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の電子部品実装システムによる電子部品実装方法のフロー図The flowchart of the electronic component mounting method by the electronic component mounting system of one embodiment of this invention 本発明の一実施の形態の電子部品実装方法における基板のオフライン修正処理のフロー図The flowchart of the board | substrate offline correction process in the electronic component mounting method of one embodiment of this invention

符号の説明Explanation of symbols

1 電子部品実装ライン
2 通信ネットワーク
3 ホスト装置
5A、5B、5C 基板受渡装置(基板投入ステーション)
6A、6B、6C 基板受渡装置(基板取出ステーション)
7 バーコードリーダ
8 基板
9 バーコードラベル
M1 半田印刷装置
M2 印刷検査装置
M3,M4 電子部品実装装置
M5 実装検査装置
M6 リフロー装置
M7 接合検査装置
1 Electronic component mounting line 2 Communication network 3 Host device 5A, 5B, 5C Board delivery device (board loading station)
6A, 6B, 6C Substrate delivery device (substrate extraction station)
7 Bar code reader 8 Substrate 9 Bar code label M1 Solder printing device M2 Printing inspection device M3, M4 Electronic component mounting device M5 Mounting inspection device M6 Reflow device M7 Bonding inspection device

Claims (2)

複数の装置を直列に連結して構成された電子部品実装ラインに沿って基板を搬送し前記各装置によって複数の作業工程を順次実行することにより実装基板を製造する電子部品実装システムであって、
前記複数の作業工程を実行するための複数の電子部品実装用装置および前記複数の作業工程のそれぞれについて作業結果を検査して不良修正作業の要否を判定する複数の検査装置と、
前記検査装置において実行される検査項目と検査の対象となる作業項目との実行順序を示す検査プロセスデータを記憶するとともに、前記検査装置による判定結果を各基板の識別情報と関連付けて個別の基板ごとの検査履歴として記憶する記憶手段と、
前記電子部品実装用装置および検査装置に設けられ上流側から搬送された基板に付与された前記識別情報を読み取って各基板を個別に識別する基板識別手段と、
前記複数の検査装置の下流側に付設され前記基板を電子部品実装ラインから取り出すための基板取出ステーションと、
前記複数の検査装置の上流側に付設され前記基板取出ステーションから取り出された後の基板を前記電子部品実装ラインに投入するための基板投入ステーションと、
前記記憶手段から読み出された前記検査履歴および前記基板識別手段によって読み出された前記識別情報に基づいて当該基板が不良修正作業の対象となる要修正基板に該当するか否かを判定する修正要否判定手段と、
前記要修正基板に該当すると判定されて前記電子部品実装ラインから取り出され前記不良修正作業が実行された後に前記電子部品実装ラインに投入された基板につき、当該基板が前記不良修正作業の作業内容に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを前記検査プロセスデータおよび前記検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定する搬送許否判定手段とを備えたことを特徴とする電子部品実装システム。
An electronic component mounting system for manufacturing a mounting board by transporting a substrate along an electronic component mounting line configured by connecting a plurality of devices in series and sequentially executing a plurality of work steps by each of the devices,
A plurality of electronic component mounting apparatuses for executing the plurality of work processes, and a plurality of inspection apparatuses for inspecting a work result for each of the plurality of work processes to determine the necessity of defect correction work;
Stores inspection process data indicating the execution order of inspection items to be executed in the inspection apparatus and work items to be inspected, and associates determination results by the inspection apparatus with identification information of each substrate for each individual substrate Storage means for storing the inspection history of
Board identification means for individually identifying each board by reading the identification information provided to the board carried from the upstream side provided in the electronic component mounting apparatus and the inspection apparatus;
A board removal station attached to the downstream side of the plurality of inspection devices for taking out the board from the electronic component mounting line;
A substrate loading station for loading the substrate after being attached to the upstream side of the plurality of inspection apparatuses and taken out from the substrate removal station into the electronic component mounting line;
A correction for determining whether or not the board corresponds to a correction target board to be subjected to a defect correction work based on the inspection history read from the storage means and the identification information read by the board identification means. Necessity determination means;
For a board that is determined to be applicable to the board requiring correction and is taken out from the electronic component mounting line and loaded into the electronic component mounting line after the defect correction work has been executed, the board becomes the work content of the defect correction work. A transfer permission / rejection determination unit that determines whether or not re-inspection by a corresponding inspection apparatus has been executed based on the inspection process data and the inspection history, and determines whether or not the substrate can be transported downstream; Electronic component mounting system characterized by
複数の装置を直列に連結して構成された電子部品実装ラインに沿って基板を搬送し前記各装置によって複数の作業工程を順次実行することにより実装基板を製造する電子部品実装方法であって、
前記電子部品実装ラインは、前記複数の作業工程を実行するための複数の電子部品実装用装置および前記複数の作業工程のそれぞれについて作業結果を検査して不良修正作業の要否を判定する複数の検査装置と、前記検査装置において実行される検査項目と検査の対象となる作業項目との実行順序を示す検査プロセスデータを記憶するとともに、前記検査装置による判定結果を各基板の識別情報と関連付けて個別の基板ごとの検査履歴として記憶する記憶手段と、前記電子部品実装用装置および検査装置に設けられ上流側から搬送された基板に付与された前記識別情報を読み取って各基板を個別に識別する基板識別手段と、前記複数の検査装置の下流側に付設され前記基板を電子部品実装ラインから取り出すための基板取出ステーションと、前記複数の検査装置の上流側に付設され前記基板取出ステーションを経由して取り出された後の基板を前記電子部品実装ラインに投入するための基板投入ステーションとを備え、
前記記憶手段から読み出された前記検査履歴および前記基板識別手段によって読み取られた前記識別情報に基づいて当該基板が不良修正作業の対象となる要修正基板に該当するか否かを判定する修正要否判定工程と、
前記要修正基板に該当すると判定された基板を前記基板取出ステーションを経由して取り出す基板取出し工程と、
取り出された基板を対象として前記不良修正作業を実行する不良修正作業工程と、
前記不良修正作業が実行された後の基板を前記電子部品実装ラインに投入する基板投入工程と、
前記電子部品実装ラインに投入された基板につき、当該基板が前記不良修正作業に対応する検査装置による再検査が実行されたか否かを前記検査プロセスデータおよび前記検査履歴に基づいて判断して、当該基板の下流への搬送の許否を判定する搬送許否判定工程とを含むことを特徴とする電子部品実装方法。
An electronic component mounting method for manufacturing a mounting substrate by transporting a substrate along an electronic component mounting line configured by connecting a plurality of devices in series and sequentially executing a plurality of work steps by each of the devices,
The electronic component mounting line includes a plurality of electronic component mounting apparatuses for executing the plurality of work steps, and a plurality of determinations as to whether or not a defect correction work is necessary by inspecting a work result for each of the plurality of work steps. Stores inspection process data indicating the execution order of the inspection device and the inspection items executed in the inspection device and the work items to be inspected, and associates the determination result by the inspection device with the identification information of each substrate Storage means for storing the inspection history for each individual board, and the identification information given to the board conveyed from the upstream side provided in the electronic component mounting apparatus and the inspection apparatus is read to identify each board individually Board identification means; a board removal station attached to the downstream side of the plurality of inspection devices for taking out the board from the electronic component mounting line; The substrate after being attached to the serial upstream of the plurality of test devices was taken out through the substrate removal station and a substrate loading station for introducing the electronic component mounting line,
Based on the inspection history read from the storage unit and the identification information read by the substrate identification unit, it is necessary to determine whether or not the substrate corresponds to a correction required substrate to be subjected to defect correction work. A rejection determination step;
A substrate unloading step of taking out the substrate determined to correspond to the substrate requiring correction via the substrate unloading station;
A defect correction work step for performing the defect correction work on the substrate taken out;
A substrate loading step of loading the substrate after the defect correction operation is performed into the electronic component mounting line;
For the board put in the electronic component mounting line, it is determined based on the inspection process data and the inspection history whether the board has been re-inspected by the inspection apparatus corresponding to the defect correction work, An electronic component mounting method comprising: a transfer permission / rejection determination step of determining whether transfer of the substrate to the downstream side is permitted.
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