JP4772382B2 - 任意波形発生器、試験装置、任意波形発生方法、及びプログラム - Google Patents
任意波形発生器、試験装置、任意波形発生方法、及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP4772382B2 JP4772382B2 JP2005161212A JP2005161212A JP4772382B2 JP 4772382 B2 JP4772382 B2 JP 4772382B2 JP 2005161212 A JP2005161212 A JP 2005161212A JP 2005161212 A JP2005161212 A JP 2005161212A JP 4772382 B2 JP4772382 B2 JP 4772382B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- arbitrary waveform
- pattern data
- waveform
- pattern
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
- H03M1/1071—Measuring or testing
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F1/00—Details not covered by groups G06F3/00 - G06F13/00 and G06F21/00
- G06F1/02—Digital function generators
- G06F1/03—Digital function generators working, at least partly, by table look-up
- G06F1/0321—Waveform generators, i.e. devices for generating periodical functions of time, e.g. direct digital synthesizers
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Description
Claims (7)
- 被試験デバイスを試験する試験装置において、前記被試験デバイスに入力する試験信号を生成する任意波形発生器であって、
前記任意波形のパターンを示すパターンデータを生成する波形パターン生成部と、
前記パターンデータに基づいて、前記任意波形を出力するデジタルアナログ変換部と、
前記パターンデータを微分した値に、前記デジタルアナログ変換部が出力する任意波形が通過する経路の時定数を乗算した値を、前記パターンデータに加算することにより、前記パターンデータを補正し、前記デジタルアナログ変換部に入力する補正処理部と
を備える任意波形発生器。 - 前記補正処理部は、
前記パターンデータを微分する微分処理部と、
前記微分処理部が出力するデータに、前記時定数を乗算する乗算部と、
前記パターンデータに、前記乗算部が出力するデータを加算し、前記デジタルアナログ変換部に入力する加算部と
を有する請求項1に記載の任意波形発生器。 - 前記波形パターン生成部が出力する前記パターンデータ、又は前記補正処理部において補正された前記パターンデータのいずれかを選択し、前記デジタルアナログ変換部に入力する選択部を更に備える
請求項1または2に記載の任意波形発生器。 - 前記デジタルアナログ変換部が出力する前記任意波形のノイズを除去する1次ローパスフィルタを更に備え、
前記任意波形が、前記1次ローパスフィルタを通過して出力される場合、前記補正処理部は、前記1次ローパスフィルタの時定数に基づいて前記パターンデータを補正し、前記選択部は、前記補正処理部において補正された前記パターンデータを選択する
請求項3に記載の任意波形発生器。 - 被試験デバイスを試験する試験装置であって、
前記被試験デバイスに入力する試験信号を生成する任意波形発生器と、
前記被試験デバイスが出力する出力信号に基づいて、前記被試験デバイスの良否を判定する判定器と
を備え、
前記任意波形発生器は、
前記任意波形のパターンを示すパターンデータを生成する波形パターン生成部と、
前記パターンデータに基づいて、前記任意波形を出力するデジタルアナログ変換部と、
前記パターンデータを微分した値に、前記デジタルアナログ変換部が出力する任意波形が通過する経路の時定数を乗算した値を、前記パターンデータに加算することにより、前記パターンデータを補正し、前記デジタルアナログ変換部に入力する補正処理部と
を有する試験装置。 - 被試験デバイスを試験する試験方法において、前記被試験デバイスに入力する試験信号を生成する任意波形発生方法であって、
前記任意波形のパターンを示すパターンデータを生成する波形パターン生成段階と、
前記パターンデータに基づいて、前記任意波形を出力するデジタルアナログ変換段階と、
前記パターンデータを微分した値に、前記デジタルアナログ変換段階において出力する任意波形が通過する経路の時定数を乗算した値を、前記パターンデータに加算することにより、前記パターンデータを補正し、前記デジタルアナログ変換段階に入力する補正処理段階と
を備える任意波形発生方法。 - コンピュータを、請求項1に記載の任意波形発生器における前記波形パターン生成部および前記補正処理部として機能させるためのプログラム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005161212A JP4772382B2 (ja) | 2005-06-01 | 2005-06-01 | 任意波形発生器、試験装置、任意波形発生方法、及びプログラム |
US11/443,684 US7348913B2 (en) | 2005-06-01 | 2006-05-31 | Arbitrary waveform generator, arbitrary waveform generate method, testing apparatus, and program |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005161212A JP4772382B2 (ja) | 2005-06-01 | 2005-06-01 | 任意波形発生器、試験装置、任意波形発生方法、及びプログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006337140A JP2006337140A (ja) | 2006-12-14 |
JP4772382B2 true JP4772382B2 (ja) | 2011-09-14 |
Family
ID=37493606
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005161212A Expired - Fee Related JP4772382B2 (ja) | 2005-06-01 | 2005-06-01 | 任意波形発生器、試験装置、任意波形発生方法、及びプログラム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7348913B2 (ja) |
JP (1) | JP4772382B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7538582B2 (en) * | 2005-10-28 | 2009-05-26 | Advantest Corporation | Driver circuit, test apparatus and adjusting method |
WO2008149675A1 (ja) * | 2007-06-05 | 2008-12-11 | Advantest Corporation | 波形発生装置、波形発生方法およびプログラム |
WO2009008458A1 (ja) | 2007-07-09 | 2009-01-15 | Advantest Corporation | 補正回路及び試験装置 |
JP2012124774A (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-28 | Advantest Corp | Ad変換装置およびda変換装置 |
US9503102B2 (en) * | 2014-08-29 | 2016-11-22 | Tektronix, Inc. | Synchronization for multiple arbitrary waveform generators |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW495616B (en) * | 1999-04-06 | 2002-07-21 | Advantest Corp | Test device and method for electrically testing electronic device |
-
2005
- 2005-06-01 JP JP2005161212A patent/JP4772382B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-05-31 US US11/443,684 patent/US7348913B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006337140A (ja) | 2006-12-14 |
US20060273943A1 (en) | 2006-12-07 |
US7348913B2 (en) | 2008-03-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8290032B2 (en) | Distortion identification apparatus, test system, recording medium and distortion identification method | |
US10020814B2 (en) | A/D converter circuit and semiconductor integrated circuit | |
US7218258B2 (en) | Method and system for mixed analog-digital automatic gain control | |
JP4772382B2 (ja) | 任意波形発生器、試験装置、任意波形発生方法、及びプログラム | |
KR100898914B1 (ko) | 파이프라인 아날로그-디지털 변환기 제어 방법 및 이를구현한 파이프라인 아날로그-디지털 변환기 | |
JP2002314416A (ja) | アシンメトリ補正回路およびそれを用いた情報再生装置 | |
US8358682B2 (en) | Signal processing apparatus, test system, distortion detecting apparatus, signal compensation apparatus, analytic signal generating apparatus, recording medium and analytic signal generating method | |
KR100260549B1 (ko) | 광 디스크 재생장치의 리드채널회로 | |
JP4451486B2 (ja) | アナログ/デジタル変換装置およびデジタル/アナログ変換装置 | |
JP2000106526A (ja) | アナログ―デジタル・コンバ―タのスプリアスを含まないダイナミック・レンジを拡張するための方法および装置 | |
JP5540586B2 (ja) | 信号処理回路、agc回路、および記録再生装置 | |
JP2000059218A (ja) | A/d変換装置 | |
KR20010075117A (ko) | 아날로그-디지털 변환기 | |
US8000047B2 (en) | Inspection apparatus and inspection method of magnetic disk or magnetic head | |
JP2006337139A (ja) | 波形発生器、波形整形器、及び試験装置 | |
JP3920557B2 (ja) | デグリッチ回路 | |
US20240137034A1 (en) | Time-interleaved adc skew correction | |
JP2009010519A (ja) | A/d変換回路、a/d変換方法及び半導体集積回路 | |
US6784654B2 (en) | Signal reproduction block | |
JP2001160755A (ja) | 信号振幅を決定する方法及び回路 | |
KR20080068742A (ko) | 방사원의 파워 제어 시스템 및 방법 | |
JP4053689B2 (ja) | Fm復調器 | |
US7154424B2 (en) | Digital equalization apparatus | |
KR100884000B1 (ko) | 광 디스크 장치에 있어서 결함 처리 장치 | |
JP3413793B2 (ja) | カスケードa/d変換器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080522 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101130 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101207 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110127 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110215 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110401 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110419 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110523 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110614 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110622 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140701 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140701 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |