JP4760579B2 - 同一性判定プログラム - Google Patents
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Description
a) 検定試料の測定条件、及び前記同一性の判定条件を記載したメソッドを作成するメソッド作成機能と、
b) 前記メソッドに記載された測定条件に従って、分光分析装置を制御する測定制御機能と、
c) 前記分光分析装置から出力される測定データを基に前記検定試料の吸収スペクトルを生成するスペクトル生成機能と、
d) 前記検定試料の吸収スペクトルと予め記憶されている標準試料の吸収スペクトルの両者において、前記メソッドに記載された判定条件に従って、所定の波数位置付近のピークを検出すると共に所定の複数のピーク間の強度比を算出するピーク検出機能と、
e) 前記各ピークの波数位置及び強度比の値を前記検定試料と標準試料で比較することにより検定試料と標準試料の同一性を判定する判定機能と、
f) 該判定の結果を含むレポートを出力するレポート出力機能と、
をコンピュータに実現させることを特徴としている。
g) 前記スペクトル生成機能によって生成された検定試料のスペクトルと類似したパターンを有するスペクトルデータを複数の標準試料のスペクトルデータを格納したデータベースから抽出するデータベース検索機能、
をコンピュータに実現させるものであって、該データベース検索機能によって抽出されたスペクトルデータを上記ピーク検出機能における標準試料のスペクトルとして使用するものとすることが望ましい。
h) 複数の検定試料の測定順序及び各検定試料に適用するメソッドを記述した測定スケジュールを作成するスケジュール作成機能と、
i) 該測定スケジュールに従って、上記分光分析装置に付設されたオートサンプルチェンジャーを制御するサンプルチェンジャー制御機能と、
をコンピュータに実現させるものとすることがより望ましい。
11…中央制御部
12…メソッド作成部
13…測定制御部
14…スペクトル生成部
15…DB検索部
16…判定部
17…レポート作成部
18…記憶部
18…中央制御部
19…設定記憶部
20…参照データ記憶部
20a、20b…データベース
21…入力部
22…出力部
30…FTIR測定装置
41…測定パラメータ設定欄
42…対象データ指定欄
43…ピーク波数指定欄
Claims (4)
- 分光測定により得られるスペクトルのデータから検定試料と標準試料の同一性を判定するための同一性判定プログラムにおいて、
a) 検定試料の測定条件、及び前記同一性の判定条件を記載したメソッドを作成するメソッド作成機能と、
b) 前記メソッドに記載された測定条件に従って、分光分析装置を制御する測定制御機能と、
c) 前記分光分析装置から出力される測定データを基に前記検定試料の吸収スペクトルを生成するスペクトル生成機能と、
d) 前記検定試料の吸収スペクトルと予め記憶されている標準試料の吸収スペクトルの両者において、前記メソッドに記載された判定条件に従って、所定の波数位置付近のピークを検出すると共に所定の複数のピーク間の強度比を算出するピーク検出機能と、
e) 前記各ピークの波数位置及び強度比の値を前記検定試料と標準試料で比較することにより検定試料と標準試料の同一性を判定する判定機能と、
f) 該判定の結果を含むレポートを出力するレポート出力機能と、
をコンピュータに実現させるための同一性判定プログラム。 - 更に、
g) 前記スペクトル生成機能によって生成された検定試料のスペクトルと類似したパターンを有するスペクトルデータを複数の標準試料のスペクトルデータを格納したデータベースから抽出するデータベース検索機能、
をコンピュータに実現させるためのプログラムであって、
該データベース検索機能によって抽出されたスペクトルデータを上記ピーク検出機能における標準試料のスペクトルとして使用するものであることを特徴とする請求項1に記載の同一性判定プログラム。 - 更に、
h) 複数の検定試料の測定順序及び各検定試料に適用するメソッドを記述した測定スケジュールを作成するスケジュール作成機能と、
i) 該測定スケジュールに従って、上記分光分析装置に付設されたオートサンプルチェンジャーを制御するサンプルチェンジャー制御機能と、
をコンピュータに実現させるための請求項1又は2に記載の同一性判定プログラム。 - 日本薬局方の赤外吸収スペクトル測定法又は紫外可視吸光度測定法に基づく検定試料の判定に用いられるものであることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載の同一性判定プログラム。
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