JP4738752B2 - Inspection block - Google Patents

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Description

この発明は、ＬＣＤパネルなどを電気的に検査する際に用いられ、プローブと検査装置との間を電気的に配線接続する検査ブロックに関するものである。   The present invention relates to an inspection block that is used when an LCD panel or the like is electrically inspected and electrically connects a probe and an inspection device.

従来から、ＬＣＤパネルなどを検査する場合、ＬＣＤパネルの接続端子に導電性接触子（プローブ）を介して電気的に接触させ、さらに各プローブの他端に電気的に接続するコンタクトブロックを介してフラットケーブルなどに接続し、このフラットケーブルに接続された検査装置から各種のテスト信号などを与えてＬＣＤパネルの検査を行っていた。   Conventionally, when inspecting an LCD panel or the like, it is electrically connected to a connection terminal of the LCD panel via a conductive contact (probe) and further connected to the other end of each probe via a contact block. The LCD panel was inspected by connecting it to a flat cable or the like and giving various test signals from the inspection device connected to the flat cable.

たとえば、図８−１は、従来のコンタクトブロックを含む検査ユニットの一部の接続状態を示す断面図である。図８−１に示すように、ＬＣＤパネル１は、プローブブロック２を介してコンタクトブロック４に接続される。プローブブロック２は、ＬＣＤパネル１の周縁に設けられた図示しない各接続端子の配置態様に応じて配列された複数のプローブ３が絶縁プレート内に設けられる（特許文献１参照）。   For example, FIG. 8A is a cross-sectional view showing a connection state of a part of an inspection unit including a conventional contact block. As shown in FIG. 8A, the LCD panel 1 is connected to the contact block 4 via the probe block 2. In the probe block 2, a plurality of probes 3 arranged in accordance with the arrangement mode of each connection terminal (not shown) provided on the periphery of the LCD panel 1 are provided in an insulating plate (see Patent Document 1).

この各プローブ３の下部接触針３ａは、ＬＣＤパネル１の各接続端子に電気的に接触し、上部接触針３ｂは、コンタクトブロック４のプロービングランド４ａに電気的に接触する。コンタクトブロック４は、多層リジッド配線基板によって構成され、各プロービングランド４ａとフラットケーブル５，６のランド４ｂとの間が配線接続されている。この結果、ＬＣＤパネル１の各接続端子とフラットケーブル５，６の各配線とが電気的に接続されることになる。   The lower contact needle 3 a of each probe 3 is in electrical contact with each connection terminal of the LCD panel 1, and the upper contact needle 3 b is in electrical contact with the probe ground 4 a of the contact block 4. The contact block 4 is constituted by a multilayer rigid wiring board, and wiring connection is made between each probe ground 4a and the lands 4b of the flat cables 5 and 6. As a result, each connection terminal of the LCD panel 1 and each wiring of the flat cables 5 and 6 are electrically connected.

特許第３４４２１３７号明細書Japanese Patent No. 3442137 特開２００１−４６６２号公報JP 20014662 A

しかしながら、上述した多層リジッド配線基板で構成されたコンタクトブロックを用いると、多層基板であるがゆえに、スルーホールを設ける必要があり、このスルーホールの形成によってプロービングランド４ａの領域が減少し、プローブ３の上部接触針３ｂとの確実なコンタクトを保証できなくなるとともに、このスルーホールの存在によって各プロービングランド間の間隔縮小に限界が生じ、ＬＣＤパネルの狭ピッチ化および狭額縁化に対応したプロービングランド群の密集化が実現できないという問題点があった。   However, if the contact block composed of the above-mentioned multilayer rigid wiring board is used, since it is a multilayer board, it is necessary to provide a through hole. By forming this through hole, the area of the probe ground 4a is reduced, and the probe 3 Probing ground group corresponding to narrowing of pitch and narrowing of the LCD panel due to the fact that reliable contact with the upper contact needle 3b cannot be guaranteed, and the presence of this through hole limits the reduction of the spacing between the probing grounds. There was a problem that it could not be realized.

図８−２は、図８−１に示したプロービングランド４ａ近傍の配置状態を示す図であり、プロービングランド４群の密集化のために、コンタクトブロック４に設けられたスルーホール４ｃ−１，４ｃ−２のうち、スルーホール４ｃ−２は、プロービングランド４ａに直接形成されたスルーホールであり、このスルーホール４ｃ−２の存在によって、このスルーホール４ｃ−２が形成されたプロービングランド４ａの接触領域は、他のプロービングランド４ａの接触領域に比して小さいものとなる。この結果、上部接触針３ｂとの接触の確実性が減少することになる。   FIG. 8-2 is a diagram showing an arrangement state in the vicinity of the probing ground 4a shown in FIG. 8A, and through holes 4c-1, 4c-2, the through hole 4c-2 is a through hole directly formed in the probing ground 4a. Due to the presence of the through hole 4c-2, the through hole 4c-2 is formed in the probing ground 4a. The contact area is smaller than the contact area of the other probe ground 4a. As a result, the certainty of contact with the upper contact needle 3b is reduced.

また、図８−２に示すように、スルーホール４ｃ−２が存在する各プロービングランド４ａ間の間隔Ｙ２が、スルーホール４ｃ−２がないプロービングランド４ａとの間の間隔Ｙ１，Ｙ３に比して広くなる。したがって、このスルーホール４ｃ−２の存在によって各プロービングランド４ａ間の間隔を詰めた密集化が困難になり、近年におけるＬＣＤパネルの狭ピッチ化および狭額縁化に対応したプロービングランド４ａ群の密集化を実現することができず、また検査を行うことができても、この検査のための接触にかかる時間と労力がかかるという問題点があった。   Further, as shown in FIG. 8B, the distance Y2 between the probing grounds 4a where the through holes 4c-2 exist is smaller than the distances Y1 and Y3 between the probing grounds 4a where there is no through hole 4c-2. And become wider. Therefore, the presence of the through holes 4c-2 makes it difficult to close the spaces between the probe grounds 4a, and the density of the probe grounds 4a corresponding to the narrow pitch and the narrow frame of the LCD panel in recent years. However, even if the inspection can be performed, there is a problem that it takes time and labor to contact for the inspection.

さらに、上述した多層リジッド配線基板で構成されたコンタクトブロックを用いると、多層基板であるとともにスルーホールを設ける必要があるため、製造工程が複雑であり、製造にかかる時間と労力とがかかるという問題点があった。   Furthermore, when the contact block composed of the multilayer rigid wiring board described above is used, it is necessary to provide a through-hole as well as a multilayer board, so that the manufacturing process is complicated, and it takes time and labor for manufacturing. There was a point.

なお、上述したコンタクトブロック４は、図９に示すように、プロービングランド４ａのうち、上部２列のプロービングランドであるプロービングランドＣ１，Ｃ３，Ｃ５，Ｃ７，…をランド４ｂのうちの上部のランドＴ１，Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７，…にそれぞれ対応して配線接続し、プロービングランド４ａのうち、下部２列のプロービングランドであるプロービングランドＣ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８，…をランド４ｂのうちの下部のランドＴ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８，…にそれぞれ対応して配線接続している。   As shown in FIG. 9, the above-described contact block 4 has the upper two rows of probing grounds C1, C3, C5, C7,. .. Are connected to correspond to T1, T3, T5, T7,... And the lower two rows of the probing grounds C2, C4, C6, C8,. .. Are connected to correspond to the lands T2, T4, T6, T8,.

この発明は、上記に鑑みてなされたものであって、ＬＣＤパネルなどの検査対象の接続端子の密集化に対応したプロービングランドを形成できるとともに製造が容易な検査ブロックを提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above, and an object of the present invention is to provide an inspection block that can form a probe ground corresponding to the density of connection terminals to be inspected such as an LCD panel and can be easily manufactured. .

上述した課題を解決し、目的を達成するために、請求項１にかかる検査ブロックは、検査対象を電気的に接続する複数のプローブと検査装置との間を電気的に配線接続する検査ブロックであって、各プローブに電気的に接触する複数のプロービングランドと両端部に設けられ各プロービングランドに接続されるランド群とを有したフレキシブル配線基板を、保持材の周面に沿って折り曲げて固定し、前記フレキシブル配線基板の少なくとも一方の端部が前記検査装置まで延びるフラットケーブルを形成したことを特徴とする。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, an inspection block according to claim 1 is an inspection block that electrically connects a plurality of probes that electrically connect inspection targets and an inspection apparatus. A flexible wiring board having a plurality of probe grounds that are in electrical contact with each probe and a land group provided at both ends and connected to each probe ground is bent and fixed along the peripheral surface of the holding material. And the flat cable which the at least one edge part of the said flexible wiring board extended to the said test | inspection apparatus was formed.

また、請求項２にかかる検査ブロックは、上記の発明において、前記フレキシブル配線基板の一方の端部が前記検査装置まで延びるフラットケーブルを形成し、他方の端部のランド群には前記検査装置に接続されるフラットケーブルが接続されることを特徴とする。 According to a second aspect of the present invention, there is provided the inspection block according to the above invention, wherein one end of the flexible wiring board forms a flat cable extending to the inspection device, and the land group on the other end is connected to the inspection device. A flat cable to be connected is connected .

また、請求項３にかかる検査ブロックは、上記の発明において、前記フレキシブル配線基板は、展開状態において当該フレキシブル配線基板のフラットケーブル部分が当該フレキシブル配線基板平面内で曲げられていることを特徴とする。 The inspection block according to claim 3 is characterized in that, in the above invention, the flexible wiring board has a flat cable portion of the flexible wiring board bent in a plane of the flexible wiring board in the unfolded state. .

また、請求項４にかかる検査ブロックは、上記の発明において、前記フレキシブル配線基板は、前記保持材の周面に接着剤によって接着して固定することを特徴とする。 According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the inspection block according to the above invention, wherein the flexible wiring board is fixed to the peripheral surface of the holding material by an adhesive .

また、請求項５にかかる検査ブロックは、上記の発明において、前記フレキシブル配線基板は、液状樹脂の固化によって固定することを特徴とする。 The inspection block according to claim 5 is characterized in that, in the above invention, the flexible wiring board is fixed by solidification of a liquid resin.

また、請求項６にかかる検査ブロックは、上記の発明において、前記フレキシブル配線基板は、前記複数のプロービングランドが形成される幅が、各ランド群が形成される幅に比して小さいことを特徴とする。また、請求項７にかかる検査ブロックは、上記の発明において、前記複数のプロ−ビングランドは、前記フレキシブル配線基板の幅方向に千鳥状に配列されていることを特徴とする。 The inspection block according to claim 6 is characterized in that, in the above invention, the flexible wiring board has a width in which the plurality of probe grounds are formed smaller than a width in which each land group is formed. And The inspection block according to claim 7 is characterized in that, in the above invention, the plurality of probe grounds are arranged in a staggered pattern in the width direction of the flexible wiring board.

この発明にかかる検査ブロックは、各プローブに電気的に接触する複数のプロービングランドと両端部に設けられ各プロービングランドに接続されるランド群とを有したフレキシブル配線基板を、保持材の周面に沿って折り曲げて固定し、前記フレキシブル配線基板の少なくとも一方の端部が前記検査装置まで延びるフラットケーブルを形成したので、ＬＣＤパネルなどの検査対象の接続端子の密集化に対応したプロービングランドを形成できるとともに製造が容易な検査ブロックを実現することができるという効果を奏する。 The inspection block according to the present invention includes a flexible wiring board having a plurality of probe grounds that are in electrical contact with each probe and a land group provided at both ends and connected to each probe ground on the peripheral surface of the holding material. Since a flat cable in which at least one end of the flexible wiring board extends to the inspection device is formed, a probe ground corresponding to the density of connection terminals to be inspected such as an LCD panel can be formed. In addition, there is an effect that an inspection block that is easy to manufacture can be realized.

以下、この発明を実施するための最良の形態である検査ブロックについて説明する。なお、ここではＬＣＤパネルの検査に用いる検査ユニット内の検査ブロックであるコンタクトブロックについて説明する。この検査ユニットは、複数の検査ブロックがアレイ上に配置されたものである。   Hereinafter, an inspection block which is the best mode for carrying out the present invention will be described. Here, a contact block which is an inspection block in the inspection unit used for the inspection of the LCD panel will be described. This inspection unit has a plurality of inspection blocks arranged on an array.

（実施の形態１）
まず、実施の形態１にかかるコンタクトブロックについて説明する。図１は、この発明の実施の形態１であるコンタクトブロックを含む検査ユニットの一部の接続状態を示す断面図である。図１に示すように、ＬＣＤパネル１は、プローブブロック２を介し、検査ブロックとしてのコンタクトブロック１４に接続される。プローブブロック２は、ＬＣＤパネル１の周縁に設けられた図示しない各接続端子の配置態様に応じて配列された複数のプローブ３が絶縁プレート内に設けられる。 (Embodiment 1)
First, the contact block according to the first embodiment will be described. 1 is a cross-sectional view showing a connection state of a part of an inspection unit including a contact block according to Embodiment 1 of the present invention. As shown in FIG. 1, the LCD panel 1 is connected to a contact block 14 as an inspection block via a probe block 2. In the probe block 2, a plurality of probes 3 arranged in accordance with the arrangement mode of connection terminals (not shown) provided on the periphery of the LCD panel 1 are provided in an insulating plate.

この各プローブ３の下部接触針３ａは、ＬＣＤパネル１の各接続端子に電気的に接触し、上部接触針３ｂは、コンタクトブロック１４のプロービングランド７ａに電気的に接触する。コンタクトブロック１４は、フレキシブル配線基板７を有し、このフレキシブル配線基板７は、図２−１に示すように、各プロービングランド７ａと、フラットケーブル９，１０のランド７ｂを形成するランド群ＴＴ９，ＴＴ１０との間が、配線群Ｌ９，Ｌ１０によって配線接続されている。この結果、ＬＣＤパネル１の各接続端子とフラットケーブル９，１０とが電気的に接続され、フラットケーブル９，１０の図示しない接続先である検査装置に接続される。   The lower contact needle 3 a of each probe 3 is in electrical contact with each connection terminal of the LCD panel 1, and the upper contact needle 3 b is in electrical contact with the probe ground 7 a of the contact block 14. The contact block 14 includes a flexible wiring board 7, and the flexible wiring board 7 includes, as shown in FIG. 2A, a land group TT 9 that forms each probe ground 7 a and lands 7 b of the flat cables 9 and 10. Wiring is connected to TT10 by wiring groups L9 and L10. As a result, each connection terminal of the LCD panel 1 and the flat cables 9 and 10 are electrically connected to each other and connected to an inspection device which is a connection destination of the flat cables 9 and 10 (not shown).

ここで、図２−１〜図２−３を参照してコンタクトブロック１４の製造方法について説明する。図２−１は、フレキシブル配線基板７を展開した図である。図２−２は、フレキシブル配線基板７が、保持材としての絶縁物８に曲面を形成しつつ折り曲げられ、具体的には巻き付けられて固定された状態を示す図である。また、図２−３は、完成したコンタクトブロック１４の断面図である。   Here, a method for manufacturing the contact block 14 will be described with reference to FIGS. FIG. 2A is a developed view of the flexible wiring board 7. FIG. 2B is a diagram illustrating a state in which the flexible wiring board 7 is bent while forming a curved surface on the insulator 8 as a holding material, specifically wound and fixed. FIG. 2C is a cross-sectional view of the completed contact block 14.

まず、図２−１に示すフレキシブル配線基板７を製造する。このフレキシブル配線基板７は、帯状のフレキシブル配線基板であり、長手方向のほぼ中央に、上部接触針３ｂの位置に対応した複数のプロービングランド７ａが形成される。上述したように、長手方向の両端部には、ランド群ＴＴ９，ＴＴ１０が形成され、対応する各プロービングランド７ａとの間を配線群Ｌ９，Ｌ１０によって接続される。この場合、スルーホールなどを設ける必要がないので、各プロービングランド７ａの配置間隔を短くすることができ（Ｙ１＝Ｙ２＝Ｙ３）、長手方向におけるプロービングランド７ａが占める幅が小さくなり、密集化を促進することができる。また、スルーホールなどの存在によるランド領域も均一にすることができ、上部接触針３ｂとの接触を確実に行うことができる。   First, the flexible wiring board 7 shown in FIG. The flexible wiring board 7 is a belt-like flexible wiring board, and a plurality of probe grounds 7a corresponding to the positions of the upper contact needles 3b are formed at substantially the center in the longitudinal direction. As described above, land groups TT9 and TT10 are formed at both ends in the longitudinal direction, and connected to the corresponding probe grounds 7a by the wiring groups L9 and L10. In this case, since it is not necessary to provide a through hole or the like, the arrangement interval of each probing gland 7a can be shortened (Y1 = Y2 = Y3), the width occupied by the probing gland 7a in the longitudinal direction is reduced, and the density is increased. Can be promoted. Further, the land area due to the presence of the through hole or the like can be made uniform, and the contact with the upper contact needle 3b can be reliably performed.

このフレキシブル配線基板７は、図２−２に示すように、絶縁物８の周囲に巻き付けられ、接着剤８ａによって絶縁物８と接着され固定される。この場合、フレキシブル配線基板７の長手方向の長さは、絶縁物８の周囲長とほぼ同じであるが、やや短めに設定され、ランド群ＴＴ９，ＴＴ１０（ランド７ｂ）が接触しないようにする。また、プロービングランド７ａは、プローブ３の上部接触針３ｂが設けられる面に形成され、ランド群ＴＴ９，ＴＴ１０は、プロービングランド７ａとは反対の面に形成される。なお、絶縁物８の断面形状は矩形であるが、矩形の角に所定の曲率をもたせることが好ましい。これによって、フレキシブル配線基板７の巻き付けおよびその後使用状態による損傷を回避することができる。また、このコンタクトブロック１４は、ＬＣＤパネル用のものであり、図２−２に示すように、プロービングランド７ａの図上、上半分に位置するプロービングランドＣ１，Ｃ３，Ｃ５，Ｃ７，…は、ランド群ＴＴ９のランドＴ１，Ｔ３，Ｔ５，Ｔ７，…にそれぞれ接続され、プロービングランド７ａの図上、下半分に位置するプロービングランドＣ２，Ｃ４，Ｃ６，Ｃ８，…は、ランド群ＴＴ１０のランドＴ２，Ｔ４，Ｔ６，Ｔ８，…にそれぞれ接続される。なお、絶縁物８は、絶縁物に限らず、たとえば金属などを用いてもよい。   As shown in FIG. 2B, the flexible wiring board 7 is wound around the insulator 8, and is bonded and fixed to the insulator 8 with an adhesive 8a. In this case, the length of the flexible wiring board 7 in the longitudinal direction is substantially the same as the peripheral length of the insulator 8, but is set slightly shorter so that the land groups TT9 and TT10 (land 7b) do not come into contact with each other. The probing ground 7a is formed on the surface on which the upper contact needle 3b of the probe 3 is provided, and the land groups TT9 and TT10 are formed on the surface opposite to the probing ground 7a. In addition, although the cross-sectional shape of the insulator 8 is a rectangle, it is preferable to give a predetermined curvature to the corner of the rectangle. As a result, winding of the flexible wiring board 7 and subsequent damage due to use conditions can be avoided. The contact block 14 is for an LCD panel. As shown in FIG. 2B, the probing grounds C1, C3, C5, C7,. The probing grounds C2, C4, C6, C8,... Connected to the lands T1, T3, T5, T7,... Of the land group TT9 and located in the lower half in the figure of the probing ground 7a are the land T2 of the land group TT10. , T4, T6, T8,. The insulator 8 is not limited to an insulator, and for example, metal may be used.

その後、各ランド群ＴＴ９，ＴＴ１０にそれぞれ対応したフラットケーブル９，１０の一端が圧着接続され、このフラットケーブル９，１０の他端は、図示しない検査装置まで延びる長さを有している。   Thereafter, one ends of the flat cables 9 and 10 corresponding to the land groups TT9 and TT10 are crimped and connected, respectively, and the other ends of the flat cables 9 and 10 have a length extending to an inspection apparatus (not shown).

なお、図２−４に示すようなフレキシブル配線基板１７を用いてもよい。このフレキシブル配線基板１７は、プロービングランド７ａに対応するプロービングランド１７ａを有するが、幅方向におけるプロービングランド１７ａとランド群ＴＴ９，ＴＴ１０との間隔を同じにせず、ランド群ＴＴ９，ＴＴ１０の間隔をプロービングランド１７ａの間隔に比して広くしている。これによって、フラットケーブル９，１０やランド群ＴＴ９，ＴＴ１０の製造および接続が容易かつ確実に行うことができる。   In addition, you may use the flexible wiring board 17 as shown to FIGS. 2-4. The flexible wiring board 17 has a probing ground 17a corresponding to the probing ground 7a. However, the spacing between the probing ground 17a and the land groups TT9 and TT10 in the width direction is not the same, and the spacing between the land groups TT9 and TT10 is set to the probing ground. It is wider than the interval 17a. As a result, the flat cables 9, 10 and the land groups TT9, TT10 can be manufactured and connected easily and reliably.

また、上述した実施の形態１では、プロービングランド７ａとランド群ＴＴ９，ＴＴ１０との間の長さをほぼ同じとしたが、これに限らず、異なるようにしてもよい。この長さの決定は、プロービングランド７ａの配置位置とランド群ＴＴ９，ＴＴ１０の配置位置とによって行われる。   In the first embodiment described above, the length between the probe ground 7a and the land groups TT9 and TT10 is substantially the same. However, the length is not limited to this and may be different. The length is determined by the arrangement position of the probe ground 7a and the arrangement positions of the land groups TT9 and TT10.

この実施の形態１では、従来の多層リジッド配線基板に代えてフレキシブル配線基板７，１７を用いており、スルーホールなどの影響を受けないため、ＬＣＤパネルの狭ピッチ化および狭額縁化に対応して、プロービングランド７ａ，１７ａの集密化を容易に行うことができるとともに、確実なコンタクトをとることができる。   In the first embodiment, flexible wiring boards 7 and 17 are used in place of the conventional multilayer rigid wiring board and are not affected by through-holes, etc., so that the LCD panel has a narrow pitch and a narrow frame. Thus, the probing grounds 7a and 17a can be easily concentrated, and reliable contact can be made.

また、この実施の形態１では、多層リジッド配線基板に代えてフレキシブル配線基板７，１７を用いているので、コンタクトブロック１４の製造時間を短縮することができ、各種ＬＣＤパネルに対する検査ユニットを迅速に製造することができるとともに柔軟な対応をとることができる。たとえば、多層リジッド配線基板が５層である場合、フレキシブル配線基板は１層であるため、単純な製造時間比較を行っても、この実施の形態１では１／５の製造時間で製造することができる。   In the first embodiment, the flexible wiring boards 7 and 17 are used in place of the multilayer rigid wiring board. Therefore, the manufacturing time of the contact block 14 can be shortened, and an inspection unit for various LCD panels can be quickly provided. It can be manufactured and a flexible response can be taken. For example, when the multilayer rigid wiring board has five layers, the flexible wiring board has one layer. Therefore, even if a simple manufacturing time comparison is performed, the first embodiment can be manufactured with a manufacturing time of 1/5. it can.

（実施の形態２）
つぎに、この発明の実施の形態２について説明する。上述した実施の形態１では、フラットケーブル９，１０をランド７ｂに接続するようにしていたが、この実施の形態２では、少なくとも一方のランド７ｂに対する接続を行わないようにしている。 (Embodiment 2)
Next, a second embodiment of the present invention will be described. In the first embodiment described above, the flat cables 9 and 10 are connected to the land 7b. However, in the second embodiment, connection to at least one land 7b is not performed.

図３−１は、この発明の実施の形態２であるコンタクトブロックを含む検査ユニットの一部の接続状態を示す断面図である。また、図３−２は、図３−１に示したコンタクトブロックに用いたフレキシブル配線基板を展開した図である。このコンタクトブロック２４は、図３−２に示すように、プロービングランド７ａと一方のランド群ＴＴ９との長さを絶縁物８の周囲長とは関係なく延ばし、図示しない検査装置まで届く長さＬ１としている。一方、プロービングランド７ａと他方のランド群ＴＴ１０との長さＬ２は、実施の形態１と同じであり、このランド群ＴＴ１０は、プロービングランド７ａの裏面に形成される。   FIG. 3-1 is a cross-sectional view showing a partial connection state of an inspection unit including a contact block according to Embodiment 2 of the present invention. FIG. 3-2 is a developed view of the flexible wiring board used in the contact block shown in FIG. 3-1. As shown in FIG. 3-2, the contact block 24 extends the length of the probing gland 7a and one land group TT9 irrespective of the peripheral length of the insulator 8, and reaches a length L1 that reaches an inspection device (not shown). It is said. On the other hand, the length L2 between the probe ground 7a and the other land group TT10 is the same as that of the first embodiment, and the land group TT10 is formed on the back surface of the probe ground 7a.

図４は、この発明の実施の形態２であるコンタクトブロックの変形例を含む検査ユニットの一部の接続状態を示す断面図である。図４に示すように、このコンタクトブロック２４は、プロービングランド７ａと一方のランド群ＴＴ９との長さを実施の形態１と同じ長さＬ２にし、ランド群ＴＴ９は、プロービングランド７ａの裏面に形成される。一方、プロービングランド７ａと他方のランド群ＴＴ１０との長さを絶縁物８の周囲長とは関係なく延ばし、図示しない検査装置まで届く長さＬ１としている。このように図３−１，図３−２に示した関係と逆の関係とした構造としてもよい。   FIG. 4 is a sectional view showing a partial connection state of an inspection unit including a modification of the contact block according to the second embodiment of the present invention. As shown in FIG. 4, in this contact block 24, the length of the probing ground 7a and one land group TT9 is set to the same length L2 as in the first embodiment, and the land group TT9 is formed on the back surface of the probing ground 7a. Is done. On the other hand, the length of the probing gland 7a and the other land group TT10 is extended irrespective of the peripheral length of the insulator 8, and is set to a length L1 that reaches an inspection device (not shown). In this way, a structure opposite to the relationship shown in FIGS. 3-1 and 3-2 may be adopted.

図５−１は、この発明の実施の形態２であるコンタクトブロックの他の変形例を含む検査ユニットの一部の接続状態を示す断面図である。また、図５−２は、図５−１に示した
コンタクトブロックを展開した図である。このコンタクトブロック３４は、プロービングランド７ａとランド群ＴＴ９，ＴＴ１０との長さをともに絶縁物８の周囲長とは関係なく延ばし、図示しない検査装置まで届く長さＬ１，Ｌ１’としている。 FIG. 5-1 is a sectional view showing a partial connection state of an inspection unit including another modification of the contact block according to the second embodiment of the present invention. FIG. 5B is a developed view of the contact block shown in FIG. The contact block 34 extends the lengths of the probing gland 7a and the land groups TT9 and TT10 regardless of the peripheral length of the insulator 8, and has lengths L1 and L1 ′ that reach an inspection device (not shown).

この実施の形態２では、一方あるいは双方のプロービングランドとランド群との間の長さを絶縁物８の周囲長とは関係なく延ばして検査装置まで届く長さとしているので、接続箇所が少なくなり、部品点数も少なくなり、製造時間を一層短縮することができる。また、接続箇所が少なくなることから、コンタクトブロックの信頼性を向上させることができる。   In the second embodiment, since the length between one or both of the probe grounds and the land group is extended regardless of the peripheral length of the insulator 8 and reaches the inspection device, the number of connection points is reduced. In addition, the number of parts is reduced and the manufacturing time can be further shortened. Further, since the number of connection locations is reduced, the reliability of the contact block can be improved.

（実施の形態３）
つぎに、この発明の実施の形態３について説明する。上述した実施の形態１，２におけるフレキシブル配線基板７はいずれも、ほぼ直線的な帯状をなしていたが、この実施の形態３では、曲げを有した帯状のフレキシブル配線基板７とし、フラットケーブルの引き回しを柔軟に行えるようにしている。 (Embodiment 3)
Next, a third embodiment of the present invention will be described. Each of the flexible wiring boards 7 in the first and second embodiments described above has a substantially linear strip shape. However, in this third embodiment, the flexible wiring board 7 having a bend is formed as a flat cable. It is designed to be flexible.

図６−１は、この発明の実施の形態３であるコンタクトブロックに用いるフレキシブル配線基板の展開図である。また、図６−２は、図６−１に示したフレキシブル配線基板を用いたコンタクトブロックの利用形態を示す斜視図である。図６−１に示すように、フレキシブル配線基板４７は、直線状ではなく、長手方向の途中であってフレキシブル配線基板４７平面内において９０度に曲げられた形状を有する。このフレキシブル配線基板４７は、図５−１，図５−２で示したように、プロービングランドとランド群との間の長さが検査装置まで延びるものであり、絶縁物８の周囲においてフラットケーブルに接続されない。   FIG. 6-1 is a development view of the flexible wiring board used in the contact block according to the third embodiment of the present invention. FIG. 6B is a perspective view showing a usage form of the contact block using the flexible wiring board shown in FIG. 6A. As shown in FIG. 6A, the flexible wiring board 47 is not linear, but has a shape that is bent 90 degrees in the plane of the flexible wiring board 47 in the middle of the longitudinal direction. As shown in FIGS. 5A and 5B, the flexible wiring board 47 has a length between the probe ground and the land group that extends to the inspection device. Not connected to.

図６−１に示したフレキシブル配線基板４７をコンタクトブロック４４として組み立てると、図６−２に示すように、フレキシブル配線基板４７の曲げられた部分に対応した部分において、折り曲げを行うことによって配線方向を３次元的に変えることができる。図６−２に示すコンタクトブロック４４の場合、アジャスタ４０に設けられた調整ネジ４１の突起を回避して検査装置まで配線することができる。この結果、フレキシブル配線基板４７のフラットケーブルと同等の機能を有する部分を保護することができるとともに、調整ネジ４１自体の操作を損なうことがない。なお、アジャスタ４０とは、上述したコンタクトブロックおよびプローブブロックを保持するものであり、この組み合わせ形態が１つの検査ブロックとして機能し、これらがアレイ状に配置されて検査ユニットが形成される。   When the flexible wiring board 47 shown in FIG. 6A is assembled as the contact block 44, as shown in FIG. 6B, the wiring direction is obtained by bending the part corresponding to the bent part of the flexible wiring board 47. Can be changed three-dimensionally. In the case of the contact block 44 shown in FIG. 6B, it is possible to connect to the inspection apparatus while avoiding the protrusion of the adjustment screw 41 provided on the adjuster 40. As a result, a portion of the flexible wiring board 47 having the same function as that of the flat cable can be protected, and the operation of the adjusting screw 41 itself is not impaired. The adjuster 40 holds the above-described contact block and probe block, and this combined form functions as one inspection block, and these are arranged in an array to form an inspection unit.

（実施の形態４）
つぎに、この発明の実施の形態４について説明する。上述した実施の形態１〜３では、いずれのコンタクトブロックも絶縁物８の周囲にフレキシブル配線基板を巻き付けるものであったが、この実施の形態４では、絶縁物８の代わりに液状樹脂を用いて製造するようにしている。 (Embodiment 4)
Next, a fourth embodiment of the present invention will be described. In the first to third embodiments described above, any contact block is a flexible wiring board wound around the insulator 8. In the fourth embodiment, a liquid resin is used instead of the insulator 8. I try to manufacture.

図７は、この発明の実施の形態４であるコンタクトブロックの断面図を示す図である。図７において、このコンタクトブロック５４は、絶縁物８および接着剤８ａを用いない点を除けば、図１に示したコンタクトブロック４と同じ構成である。このコンタクトブロック５４は、最初にフレキシブル配線基板７を所定形状に保持し、その状態でフレキシブル配線基板７が形成する空間に液状樹脂１８を流し込み、その後液状樹脂を固化させるようにしている。この場合、液状樹脂１８が完全に固化する前にフレキシブル配線基板７の成形を行うようにしてもよい。特にプロービングランド７ａ側の面が平らになるようにするとよい。   FIG. 7 is a sectional view of a contact block according to the fourth embodiment of the present invention. In FIG. 7, the contact block 54 has the same configuration as the contact block 4 shown in FIG. 1 except that the insulator 8 and the adhesive 8a are not used. The contact block 54 first holds the flexible wiring board 7 in a predetermined shape, and in this state, the liquid resin 18 is poured into the space formed by the flexible wiring board 7 and then the liquid resin is solidified. In this case, the flexible wiring board 7 may be molded before the liquid resin 18 is completely solidified. In particular, the surface on the side of the probing gland 7a should be flat.

この発明の実施の形態１であるコンタクトブロックを含む検査ユニットの一部の接続状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the one part connection state of the test | inspection unit containing the contact block which is Embodiment 1 of this invention. 図１に示したフレキシブル配線基板を展開した図である。It is the figure which expand | deployed the flexible wiring board shown in FIG. フレキシブル配線基板が保持材としての金属に巻き付け固定された状態を示す図である。It is a figure which shows the state by which the flexible wiring board was wound and fixed to the metal as a holding material. 完成したコンタクトブロックの断面図である。It is sectional drawing of the completed contact block. フレキシブル配線基板の変形例を示す図である。It is a figure which shows the modification of a flexible wiring board. この発明の実施の形態２であるコンタクトブロックを含む検査ユニットの一部の接続状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the one part connection state of the test | inspection unit containing the contact block which is Embodiment 2 of this invention. 図３−１に示したコンタクトブロックに用いたフレキシブル配線基板を展開した図である。It is the figure which expand | deployed the flexible wiring board used for the contact block shown to FIGS. 3-1. この発明の実施の形態２であるコンタクトブロックの変形例を含む検査ユニットの一部の接続状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the one part connection state of the test | inspection unit containing the modification of the contact block which is Embodiment 2 of this invention. この発明の実施の形態２であるコンタクトブロックの他の変形例を含む検査ユニットの一部の接続状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the one part connection state of the test | inspection unit containing the other modification of the contact block which is Embodiment 2 of this invention. 図５−１に示したコンタクトブロックを展開した図である。It is the figure which expanded the contact block shown to FIGS. この発明の実施の形態３であるコンタクトブロックに用いるフレキシブル配線基板の展開図である。It is an expanded view of the flexible wiring board used for the contact block which is Embodiment 3 of this invention. 図６−１に示したフレキシブル配線基板を用いたコンタクトブロックの利用形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the utilization form of the contact block using the flexible wiring board shown to FIGS. この発明の実施の形態４であるコンタクトブロックの断面図を示す図である。It is a figure which shows sectional drawing of the contact block which is Embodiment 4 of this invention. 従来のコンタクトブロックを含む検査ユニットの一部の接続状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the one part connection state of the test | inspection unit containing the conventional contact block. 図８−１に示したプロービングランド近傍の配置状態を示す図である。It is a figure which shows the arrangement | positioning state of the probing ground vicinity shown to FIGS. プロービングランドとランドとの配線対応を示す図である。It is a figure which shows the wiring correspondence of a probe ground and a land.

符号の説明Explanation of symbols

１ ＬＣＤパネル
２ プローブブロック
３ プローブ
３ａ 下部接触針
３ｂ 上部接触針
７，１７，２７，３７，４７ フレキシブル配線基板
７ａ，１７ａ プロービングランド
７ｂ ランド
８ 絶縁物
８ａ 接着剤
９，１０ フラットケーブル
１４，２４，３４，４４，５４ コンタクトブロック
１８ 液状樹脂
４０ アジャスタ
４１ 調整ネジ
ＴＴ９，ＴＴ１０ ランド群
Ｌ９，Ｌ１０ 配線群 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 LCD panel 2 Probe block 3 Probe 3a Lower contact needle 3b Upper contact needle 7, 17, 27, 37, 47 Flexible wiring board 7a, 17a Probine ground 7b Land 8 Insulator 8a Adhesive 9,10 Flat cable 14, 24, 34, 44, 54 Contact block 18 Liquid resin 40 Adjuster 41 Adjustment screw TT9, TT10 Land group L9, L10 Wiring group

Claims (7)

検査対象を電気的に接続する複数のプローブと検査装置との間を電気的に配線接続する検査ブロックであって、
各プローブに電気的に接触する複数のプロービングランドと両端部に設けられ各プロービングランドに接続されるランド群とを有したフレキシブル配線基板を、保持材の周面に沿って折り曲げて固定し、前記フレキシブル配線基板の少なくとも一方の端部が前記検査装置まで延びるフラットケーブルを形成したことを特徴とする検査ブロック。 An inspection block for electrically connecting a plurality of probes and an inspection apparatus for electrically connecting inspection objects,
A flexible wiring board having a plurality of probe grounds in electrical contact with each probe and a land group provided at both ends and connected to each probe ground is bent and fixed along the peripheral surface of the holding material, An inspection block in which a flat cable is formed in which at least one end of a flexible wiring board extends to the inspection device. 前記フレキシブル配線基板の一方の端部が前記検査装置まで延びるフラットケーブルを形成し、他方の端部のランド群には前記検査装置に接続されるフラットケーブルが接続されることを特徴とする請求項１に記載の検査ブロック。 The flat cable connected to the said inspection apparatus is connected to the land group of one end of the said flexible wiring board which extends to the said inspection apparatus, and the land group of the other end is characterized by the above-mentioned. The inspection block according to 1. 前記フレキシブル配線基板は、展開状態において当該フレキシブル配線基板のフラットケーブル部分が当該フレキシブル配線基板平面内で曲げられていることを特徴とする請求項１又は２に記載の検査ブロック。 3. The inspection block according to claim 1, wherein the flexible wiring board has a flat cable portion of the flexible wiring board bent in a plane of the flexible wiring board in a developed state. 前記フレキシブル配線基板は、前記保持材の周面に接着剤によって接着して固定することを特徴とする請求項１〜３のいずれか一つに記載の検査ブロック。 The said flexible wiring board adhere | attaches and fixes to the surrounding surface of the said holding material with an adhesive agent, The inspection block as described in any one of Claims 1-3 characterized by the above-mentioned. 前記フレキシブル配線基板は、液状樹脂の固化によって固定することを特徴とする請求項１〜４のいずれか一つに記載の検査ブロック。 The flexible wiring board, test block according to any one of claims 1-4, characterized in that secured by solidification of the liquid resin. 前記フレキシブル配線基板は、前記複数のプロービングランドが形成される幅が、各ランド群が形成される幅に比して小さいことを特徴とする請求項１〜５のいずれか一つに記載の検査ブロック。 The flexible wiring board has a width which said plurality of probing lands are formed, the inspection according to any one of claims 1-5, characterized in that smaller than the width of each land group is formed block. 前記複数のプロ−ビングランドは、前記フレキシブル配線基板の幅方向に千鳥状に配列されていることを特徴とする請求項１〜６のいずれか１つに記載の検査ブロック。 Wherein the plurality of pro - bin ground, test block according to any one of claims 1-6, characterized in that it is arranged in a staggered manner in the width direction of the flexible wiring board.
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