JP4729099B2 - 半導体装置、温度センサ、及びこれを用いた電子機器 - Google Patents
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Description
本発明は、温度センサに関するものであり、特に、バイポーラトランジスタのベース・エミッタ間電圧が周囲温度に応じてほぼ直線的に変化する現象を利用したIC化温度センサに関するものである。
図2はIC化温度センサの一従来例を示す回路図である。本図に示すIC化温度センサ1’は、エミッタ面積の異なる2つのnpn型トランジスタQ1、Q2(ここでは面積比1:10)を有して成り、両トランジスタQ1、Q2におけるベース・エミッタ間電圧VBE1、VBE2の差電圧ΔVF(=VBE1−VBE2)に基づいて周囲温度Tの検出を行う構成である。
トランジスタQ1、Q2のコレクタは、それぞれ定電流源I1、I2を介して電源ラインに接続されており、両コレクタには定電流ic1、ic2が供給されている。また、トランジスタQ1のコレクタは、npn型トランジスタQ4のベースにも接続されている。トランジスタQ1、Q2のエミッタは互いに接続されており、その接続ノードは、定電流源I3を介してグランドに接続されている。トランジスタQ1のベースは、トランジスタQ4のエミッタに接続される一方で抵抗R1の一端にも接続されている。トランジスタQ2のベースは、抵抗R1の他端に接続される一方で、抵抗R2を介してグランドにも接続されている。トランジスタQ4のコレクタは、電源ラインに接続されている。
ここで、本図に示すIC化温度センサ1’は、トランジスタQ1のベースを出力端子Toutとし、該出力端子Toutから出力電圧Voutを得る構成である。従って、出力電圧Voutは、次の(1)式で表される値となる。
なお、上記(2)式中において、kはボルツマン定数、Tは周囲温度(絶対温度)、qは電子の電荷量、ic1、ic2はトランジスタQ1、Q2のコレクタ電流、VCE1、VCE2はトランジスタQ1、Q2のコレクタ・エミッタ間電圧、VAはトランジスタQ1、Q2のアーリ電圧、ISはトランジスタQ1、Q2のリーク電流、をそれぞれ表している。
上記(2)式から分かるように、エミッタ電流密度の異なる2つのトランジスタQ1、Q2各々のベース・エミッタ間電圧VBE1、VBE2の差電圧ΔVFは、周囲温度Tに応じた変動値となる。また、上記(1)式で表される相関関係に基づいて、IC化温度センサ1’の出力電圧Voutも、周囲温度Tに応じた変動値となる。
図3は周囲温度Tに対する差電圧ΔVF(或いは出力電圧Vout)の依存特性を示す相関図である。本図の横軸は周囲温度Tを示しており、縦軸は差電圧ΔVF(或いは出力電圧Vout)を示している。なお、トランジスタQ1、Q2のコレクタ電流ic1、ic2及びコレクタ・エミッタ間電圧VCE1、VCE2がそれぞれ互いに等しい場合、差電圧ΔVFは、次の(3)式で表されるように、周囲温度Tに比例した理想変動値となる(図中破線)。
確かに、上記構成から成るIC化温度センサ1’であれば、出力端子Toutで得られた出力電圧Voutに基づいて、周囲温度Tをある程度高精度に検出することができる。従って、様々な機器の温度検出手段として適用が可能である。
しかしながら、上記構成から成るIC化温度センサ1’では、トランジスタQ1、Q2のコレクタに流れる電流の変動の仕方が、トランジスタQ1とQ2とで異なっており、両トランジスタQ1、Q2のコレクタ電流比ic1/ic2及びコレクタ・エミッタ間電圧比VCE1/VCE2それぞれが周囲温度Tに応じて変動して誤差となるので、図3の実線で示すように、差電圧ΔVFが上記(3)式で表される理想直線から不規則に乖離してしまうといった課題を有していた。そのため、上記構成から成るIC化温度センサ1’は、周囲温度を高精度かつ高リニアリティに検知する必要のある電子機器(例えば、カーナビゲーションシステムに搭載されるハードディスクドライブ装置やDVDドライブ装置)の制御装置や駆動装置に用いる温度センサとして不適当な場合があった。
なお、従来は、上記誤差を軽減するため、両トランジスタQ1、Q2のベース電流を補正したり、トランジスタQ2側のエミッタ電流値を補正していたが、それらの補正では高精度を得るのに限界があった(例えば、特許文献1を参照)。
本発明は、上記の問題点に鑑み、周囲温度を高精度・高リニアリティに検出することが可能な温度センサを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明に係る半導体装置は、第一のトランジスタと、第一のトランジスタとエミッタ面積が異なる第二のトランジスタと、第一、第二のトランジスタのエミッタに接続され、入力される制御信号に応じて流れる電流値が決まる電流源と、第一のトランジスタのコレクタ電圧に応じて定まる第一の電圧を第一のトランジスタのベースへ供給する第一の電圧生成手段と、第一のトランジスタのコレクタ電圧に応じて定まる第二の電圧を第二のトランジスタのベースへ供給する第二の電圧生成手段と、第一のトランジスタのコレクタ電圧と第二のトランジスタのコレクタ電圧とに応じて定まる制御信号を電流源に供給する帰還回路と、を有して成る構成としている。
また、上記構成からなる半導体装置はさらに、第一の電圧生成手段と、第二の電圧生成手段の一部を共用している構成としている。
また、上記構成からなる半導体装置において、第一の電圧生成手段は第一のトランジスタのコレクタ電圧に応じて定まる電流が一端に供給される第一の抵抗と、第一の抵抗に直列接続される第二の抵抗で構成され、第一の抵抗と第二の抵抗との直列接続の両端電圧として第一の電圧を生成し、第二の電圧生成手段は第一の抵抗と前記第二の抵抗によって分圧される電圧を第二の電圧として出力する構成としている。
また、上記構成からなる半導体装置において、帰還回路は、第一のトランジスタのコレクタ電圧に応じて定まる第一の電流と、第二のトランジスタのコレクタ電圧に応じて定まる第二の電流とに基づいた電圧を制御信号として電流源に供給する構成としている。
また、上記構成からなる半導体装置は、第一のトランジスタのコレクタ電圧がベースに入力され、コレクタ電圧に応じて第一の電流を第一の電圧生成手段に供給する第三のトランジスタと、第二のトランジスタのコレクタ電圧がベースに入力され、第二のトランジスタのコレクタ電圧に応じて第二の電流を帰還回路に供給する第四のトランジスタと、を有して成る構成としている。
また、上記構成からなる半導体装置は、一端が第四のトランジスタと帰還回路との接続点に接続される第三の抵抗と、一端が第三の抵抗の他端に接続され、他端が基準電位と接続される第四の抵抗と、を有して成る構成としている。
また、上記構成からなる半導体装置は、第一の抵抗と第二の抵抗は第三の抵抗と第四の抵抗とそれぞれ同一の抵抗値であることを構成としている。
また、上記構成から成る半導体装置において、第一、第二、第三、第四の抵抗の抵抗値はトリミング調整が可能である構成としている。
また、上記構成から成る半導体装置において、電流源は、一方の端子が第一、第二のトランジスタのそれぞれのエミッタと接続され、制御端子には制御信号が入力される第五のトランジスタと、一端が前記第五のトランジスタのエミッタに接続され、他端が基準電位に接続される第五の抵抗とを有してなる構成としている。
上記したように、本発明に係る温度センサ及びこれを有する半導体装置であれば、トランジスタのコレクタ電流比及びコレクタ・エミッタ間電圧比の変動に伴う検出誤差が生じにくくなるため、周囲温度を高精度かつ高リニアリティに検知することが可能となる。従って、周囲温度を高精度かつ高リニアリティに検知する必要のある電子機器(例えばカーナビゲーションシステムに搭載されるハードディスクドライブ装置やDVDドライブ装置)の制御装置や駆動装置としてより一層の適用が可能となる。
また、本発明に係る温度センサをバンドギャップ回路と併用することにより、高精度バンドギャップ回路を形成することが可能となる。また、回路規模も比較的小さいため、アナログIPとしての流用も可能であり、多機能ICのサーマル回路(サーマルシャットダウン)等にも利用することができる。
図1は本発明に係るIC化温度センサの一実施形態を示す回路図である。本実施形態のIC化温度センサ1は、図2の従来構成に加えて、トランジスタQ1、Q2のコレクタ電圧VA、VBが同様の温度特性をもって変動するように、トランジスタQ1、Q2のコレクタ電圧VA、VB及びエミッタ電流ieを制御するための帰還回路REV1を設けた構成としている。よって、従来の
IC化温度センサ1’と同様の部分については、図2と同一符号を付すことで説明を省略し、以下では、本実施形態の特徴部分である帰還回路REV1の構成及び動作について重点を置いた説明を行うことにする。
IC化温度センサ1’と同様の部分については、図2と同一符号を付すことで説明を省略し、以下では、本実施形態の特徴部分である帰還回路REV1の構成及び動作について重点を置いた説明を行うことにする。
本図に示す通り、本実施形態の帰還回路REV1は、トランジスタQ4に対応して設けられたnpn型トランジスタQ5と、一対のカレントミラー回路を形成するpnp型トランジスタQ6、Q7と、同じく一対のカレントミラー回路を形成するnpn型トランジスタQ8、Q9と、電源投入時における帰還回路REV1の動作状態を決定する起動回路を形成するnpn型トランジスタQ10と、抵抗R4〜R8と、を有して成る。
トランジスタQ5のコレクタは、電源ラインに接続されている。トランジスタQ5のベースは、トランジスタQ2のコレクタに接続されている。トランジスタQ5のエミッタは、トランジスタQ7のエミッタに接続される一方、抵抗R4、R5を介してグランドにも接続されている。抵抗R4、R5は、抵抗R1、R2と同一の抵抗値を有する抵抗素子である。
トランジスタQ6のエミッタは、出力端子Toutに接続されている。トランジスタQ6、Q7のコレクタは、それぞれトランジスタQ8、Q9のコレクタに接続されている。トランジスタQ6、Q7のベースは、互いに接続されており、その接続ノードは、トランジスタQ6のコレクタに接続されている。
トランジスタQ8、Q9のエミッタは、それぞれ抵抗R6、R7を介して、グランドに接続されている。トランジスタQ8、Q9のベースは、互いに接続されており、その接続ノードは、トランジスタQ9のコレクタに接続されている。また、トランジスタQ8、Q9のベースは、定電流源I3を構成するnpn型トランジスタQ3のベースにも接続されている。トランジスタQ3のコレクタは、トランジスタQ1、Q2のエミッタにそれぞれ接続されている。トランジスタQ3のエミッタは、抵抗R3を介してグランドに接続されている。
トランジスタQ10のベースは、トランジスタQ6のコレクタ及びベースと、トランジスタQ8のコレクタとの接続ノードに接続されている。トランジスタQ10のコレクタは、電源ラインに接続されている。トランジスタQ10のエミッタは、抵抗R8を介してグランドに接続されている。
上記構成から成る帰還回路REV1において、トランジスタQ6のエミッタには、トランジスタQ1のコレクタ電圧VAに応じた電流i1が流れ、トランジスタQ7のエミッタには、トランジスタQ2のコレクタ電圧VBに応じた電流i2が流れる。ここで、周囲温度Tに応じてトランジスタQのコレクタ電圧VAが変動した場合には、まず、トランジスタQ6のエミッタ電流i1が変動し、それに追従してトランジスタQ7のエミッタ電流i2が変動することにより、トランジスタQ9、Q8の動作電圧が決定され、トランジスタQ3により、トランジスタQ1、Q2のエミッタ電流ieがそれぞれ決定される。その結果、本実施形態の帰還回路REV1では、電流i1と電流i2が一致するように、トランジスタQ2のコレクタ電圧VB及びトランジスタQ1、Q2のエミッタ電流ieが帰還制御(いわゆるコモンモード帰還制御)されることになる。
このような構成とすることにより、本実施形態のIC化温度センサ1では、トランジスタQ1、Q2のコレクタ電流比ic1/ic2及びコレクタ・エミッタ間電圧比VCE1/VCE2に誤差が生じにくくなるため、周囲温度Tを高精度かつ高リニアリティに検知することが可能となる。
なお、本実施形態のIC化温度センサ1において、トランジスタQ4とトランジスタQ5、トランジスタQ6とトランジスタQ7、トランジスタQ8とトランジスタQ9、及び抵抗R6と抵抗R7とは、それぞれ同じサイズ、同じ特性のものを用いるようにしている。従って、トランジスタQ1のコレクタ電圧VAは、出力電圧VoutとトランジスタQ4の動作電圧によって決まり、トランジスタQ2のコレクタ電圧VBは、出力電圧VoutとトランジスタQ5、Q6、Q7の各動作電圧によって決まるので、コレクタ電圧VA、VBはいずれも、従来に比べて電源変動の影響を受けにくいと言える。従って、本実施形態のIC化温度センサ1は、異なる電源電圧(例えば、3Vと5V)を印加された場合であっても、安定した温度検出を行うことが可能である。
また、本実施形態の帰還回路REV1には、トランジスタQ5のエミッタ電流をトランジスタQ7のエミッタへ流すための電流経路以外に、該エミッタ電流を抵抗R1、R2と同抵抗値の抵抗R4、R5を介してグランドに流すための電流経路が設けられている。このような電流経路を設けることにより、トランジスタQ6、Q7のエミッタに流れ込む電流i1、i2の誤差要因を排除することができるので、周囲温度Tをより高精度・高リニアリティに検出することが可能となる。もちろん、チップ規模縮小を重視する場合には該電流経路をなくせばよい。
さらに、本実施形態のIC化温度センサ1において、抵抗R1、R2及び抵抗R4、R5は、その抵抗値がレーザトリミング等によって調整可能な構成とされている。このような構成とすることにより、回路形成後でも、周囲温度Tに対する出力電圧Voutの依存特性を任意に調整することが可能となる。
なお、上記の実施形態では、より高精度になるように、帰還回路REV1として2段構成のカレントミラー回路を採用した場合を例に挙げて説明を行ったが、本発明の回路構成はこれに限定されるものではなく、上記の実施形態と同様の機能(トランジスタQ1、Q2のコレクタ電圧VA、VBが同様の温度特性をもって変動するように帰還制御する機能)を実現できるのであれば、従来に比べて精度向上を期待できる。
1 IC化温度センサ Q1〜Q5、Q8〜Q10 npn型トランジスタ Q6、Q7 pnp型トランジスタ I1〜I3 定電流源 R1〜R8 抵抗 Tout 出力端子 REV1 帰還回路
Claims (9)
- 第一のトランジスタと、前記第一のトランジスタとエミッタ面積が異なる第二のトランジスタと、
前記第一、第二のトランジスタのエミッタに接続され、入力される制御信号に応じて流れる電流値が決まる電流源と、前記第一のトランジスタのコレクタ電圧に応じて定まる第一の電圧を前記第一のトランジスタのベースへ供給する第一の電圧生成手段と、前記第一のトランジスタのコレクタ電圧に応じて定まる第二の電圧を前記第二のトランジスタのベースへ供給する第二の電圧生成手段と、前記第一のトランジスタのコレクタ電圧と前記第二のトランジスタのコレクタ電圧とに応じて定まる制御信号を前記電流源に供給する帰還回路と、を有することを特徴とする半導体装置。 - 前記第一の電圧生成手段と、前記第二の電圧生成手段は一部を共用していることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。
- 前記第一の電圧生成手段は前記第一のトランジスタのコレクタ電圧に応じて定まる電流が一端に供給される第一の抵抗と、前記第一の抵抗に直列接続される第二の抵抗で構成され、前記第一の抵抗と前記第二の抵抗との直列接続の両端電圧として第一の電圧を生成し、前記第二の電圧生成手段は前記第一の抵抗と前記第二の抵抗によって分圧される電圧を前記第二の電圧として出力することを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。
- 前記帰還回路は、前記第一のトランジスタのコレクタ電圧に応じて定まる第一の電流と、前記第二のトランジスタのコレクタ電圧に応じて定まる第二の電流とに基づいた電圧を制御信号として前記電流源に供給することを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の半導体装置。
- 前記第一のトランジスタのコレクタ電圧がベースに入力され、前記コレクタ電圧に応じて前記第一の電流を前記第一の電圧生成手段に供給する第三のトランジスタと、前記第二のトランジスタのコレクタ電圧がベースに入力され、前記第二のトランジスタのコレクタ電圧に応じて前記第二の電流を前記帰還回路に供給する第四のトランジスタと、を有することを特徴とする請求項4に記載の半導体装置。
- 一端が前記第四のトランジスタと前記帰還回路との接続点に接続される第三の抵抗と、
一端が前記第三の抵抗の他端に接続され、他端が基準電位と接続される第四の抵抗と、を更に有することを特徴とする請求項5に記載の半導体装置。
- 前記第一の抵抗と前記第二の抵抗は前記第三の抵抗と前記第四の抵抗とそれぞれ同一の抵抗値であることを特徴とする請求項6に記載の半導体装置。
- 前記第一、第二、第三、第四の抵抗の抵抗値はトリミング調整が可能であることを特徴とする請求項6または7に記載の半導体装置。
- 前記電流源は、一方の端子が前記第一、第二のトランジスタのそれぞれのエミッタと接続され、制御端子には前記制御信号が入力される第五のトランジスタと、一端が前記第五のトランジスタのエミッタに接続され、他端が基準電位に接続される第五の抵抗と、
からなる請求項5に記載の半導体装置。
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