JP4728189B2 - ネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置 - Google Patents

ネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置 Download PDF

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Description

本発明は、ネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置に関し、特に、ネットワーク中継装置のデータ転送処理の機能についてのマージンを試験するネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置に関する。
ルータ(IPルータ)の高速化、高集積化及び低電圧化が進み、マージンを確保した設計が困難になっている。このため、信号のノイズジッタに対するマージンの不足が、障害発生の原因となるおそれがある。マージン不足に起因した障害は、ルータが性能限界付近で動作している場合に顕在化する。そこで、試験対象のルータ(被試験ルータ)が性能限界のデータ量を転送する状態を作り出すことにより、データ転送処理の機能についてのマージンが十分確保されているか否かについての試験を行う必要がある。
例えば、図12(A)に示すように、試験パケットを生成し送信する試験装置102が、被試験ルータ101の外部に接続され、被試験ルータ101にパケットを連続して送信する。これにより、被試験ルータ101で中継された試験パケットが試験装置102により受信され、試験パケットが到達したかの検査やその内容の検査に用いられる。
ここで、図12(B)に示すように、被試験ルータ101と試験装置102との間を接続するインタフェース(例えば、イーサネット(登録商標)GbE)の転送性能の規格が、1Gbpsの転送性能であるとする。通常、被試験ルータ101の転送性能は、インタフェースの転送性能の規格1Gbpsを上回るようにマージンを考慮して、例えば1.2Gbpsに設計される。しかし、インタフェースの転送性能以上の試験パケットの送受信は不可能である。従って、この場合、マージンを考慮して設計されたルータについて、データ転送量の上限値に着目した試験を行うことは不可能である。
そこで、外部の試験装置102を用いずに、被試験ルータ101の内部において、試験を行うことが考えられる。この場合、図12(C)に示すように、被試験ルータ101を構成する複数の半導体装置(チップ)1041〜1044において試験パケットの生成、送信、受信及び検査が行われる。
一方、現在のルータでは、スイッチング容量が膨大な規模となっており、また、送受信経路が別々に実装されている(全二重通信可能な構造が採用されている)。このため、被試験ルータ101の内部において多数の試験パケットが同時に転送されている状態を作り出し、動作を検証する必要がある。そこで、例えば、試験対象のルータの内部において折返し機構の利用と試験パケットのTTL(Time to Live)値の設定を工夫することにより、一つの試験パケットが転送経路を複数回通過する状態を作り出し、転送負荷を向上することが知られている(特許文献1)。
特開2000−151701号公報
本発明者の検討によれば、前述のように、被試験ルータ101の内部において試験を行う場合、以下のような問題がある。
即ち、図12(C)に示すように、試験パケットの生成及び送信を行う試験処理プログラム1031が、半導体装置1041に設けられる。従って、半導体装置1041における試験用処理が追加され、その分だけ半導体装置1041のパケットの送信性能が低下する。試験パケットの受信及び検査を行う試験処理プログラム1032が設けられた半導体装置1044においても、同様に、パケットの受信性能が低下する。従って、データ転送量の上限値を満たす数の試験パケットを転送することが困難である。
また、被試験ルータ101において、通常、パケット転送経路は専用のハードウェアにより構成されているため、CPUがパケットを送信する速度(頻度又は送出間隔T1)より経路上の転送速度の方が速い。例えば、前述の特許文献1に記載の技術において、図12(D)に示すように、CPUの送出した試験パケットP1が、転送経路で例えば255回ループした後、CPUに戻るとする。しかし、CPUが試験パケットP2を送出する前に、試験パケットP1がCPUに戻ってくる可能性が高い。従って、試験パケットP1が転送経路でループしている間に、図12(D)に点線で示すように、次の試験パケットP2を送出することができない。このため、経路上を多数のパケットP1、P2、・・・が同時に転送されている状態を作り出すことが困難である。
本発明は、試験対象のネットワーク中継装置において容易に性能限界のデータ量を転送する状態を作り出すことにより、データ転送処理の機能についてのマージンを試験するネットワーク中継装置の試験方法を提供することを目的とする。
また、本発明は、試験対象のネットワーク中継装置において容易に性能限界のデータ量を転送する状態を作り出すことにより、データ転送処理の機能についてのマージンを試験するネットワーク中継装置を提供することを目的とする。
本発明のネットワーク中継装置の試験方法は、ネットワーク中継装置の送受信能力を試験するネットワーク中継装置の試験方法であって、前記ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と前記ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを各々複数備える前記ネットワーク中継装置において、転送経路をループ状に設定し、前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるTTL値を減算する少なくとも1個の回路部において、TTL値の減算を抑止し、前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも1個の回路部において、前記ルーティングテーブルにおける第1の受信経路から受信したデータの送信先を、前記第1の受信経路と対である第1の送信経路とは異なる送信経路であって、データの識別情報毎に定められた第2の送信経路に設定することにより、データが前記複数の受信経路のいずれかと前記複数の送信経路のいずれかとを組み合わせることにより前記識別情報毎に定められた前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように設定し、所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、前記周回させられたデータを検査する。
好ましくは、本発明の一実施態様において、前記転送経路が、当該ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と当該ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを、当該ネットワーク中継装置の内部において接続することにより、ループ状に設定される。
好ましくは、本発明の一実施態様において、前記転送経路が、当該ネットワーク中継装置の入力端子と出力端子とを接続ケーブルにより接続することにより、ループ状に設定される。
好ましくは、本発明の一実施態様において、前記転送経路上に存在し前記ルーティングテーブルを備える少なくとも1個の回路部において、当該回路部により受信されたデータが前記検査を行う回路部に送信されるように前記ルーティングテーブルを変更することにより、前記周回させられたデータを回収する。
本発明のネットワーク中継装置は、ネットワーク中継装置の送受信能力を試験することが可能なネットワーク中継装置であって、前記ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と前記ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを各々複数備える前記ネットワーク中継装置において、転送経路をループ状に設定するループ設定手段と、前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるTTL値を減算する少なくとも1個の回路部において、TTL値の減算を抑止するTTL設定手段と、前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも1個の回路部において、前記ルーティングテーブルにおける第1の受信経路から受信したデータの送信先を、前記第1の受信経路と対である第1の送信経路とは異なる送信経路であって、データの識別情報毎に定められた第2の送信経路に設定することにより、データが前記複数の受信経路のいずれかと前記複数の送信経路のいずれかとを組み合わせることにより前記識別情報毎に定められた前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように設定する設定手段と、所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、前記周回させられたデータを検査する試験処理手段とを備える。
本発明のネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置によれば、転送経路を複数の受信経路のいずれかと複数の送信経路のいずれかとを組み合わせることにより識別情報毎に定められたループ状に設定し、TTL値の減算を抑止し、ループ状に設定された転送経路上を所定の数のデータを周回させる。これにより、例えばパケットのようなデータが、ネットワーク中継装置内で複雑なスイッチングを含み網羅的に組み合せられた転送経路であってループ状に設定された転送経路上を周回し続ける状態を作り出すことができる。従って、ネットワーク中継装置において、転送経路が専用のハードウェアにより構成され極めて高速の転送速度であっても、CPUがパケットを送信する速度(送信する頻度又は時間間隔)に拘りなく、転送経路上のデータ転送量を制御することができる。この結果、転送されるデータが転送経路上に多く存在する状態を作り、データ転送処理の機能についてその性能限界の状態を作ることができる。従って、このような周回させられたデータを回収して検査することにより、ネットワーク中継装置の複雑なスイッチングを含む網羅的に組み合せられた転送経路におけるデータ転送処理の機能についてのマージン(データ転送マージン)不足に起因する障害を検出する試験(データ転送マージン試験)を行うことができる。
また、本発明の一実施態様によれば、転送経路が受信経路と送信経路とを当該ネットワーク中継装置の内部において接続することによりループ状に設定される。例えば、接続の手段として当該ネットワーク中継装置が備えるループバック経路を用いることができる。これにより、当該ネットワーク中継装置が備える機能を利用して、その内部で、データ転送処理の機能についてのマージンの試験を行うことができる。
また、本発明の一実施態様によれば、転送経路が入力端子と出力端子とを接続ケーブルにより接続することによりループ状に設定される。これにより、事実上、当該ネットワーク中継装置の内部で、データ転送処理の機能についてのマージンの試験を行うことができる。
また、本発明の一実施態様によれば、ルーティングテーブルを変更することにより周回させられたデータを回収する。これにより、当該ネットワーク中継装置が備える機能を利用して、データ転送処理の機能についてのマージンの試験を行うことができる。
図1は、本発明のルータ試験方法を実現するルータの構成の一例を示す構成図である。ルータ1は、ネットワーク(図示せず)に接続されるネットワーク中継装置(又は通信中継装置)であり、送受信の対象データであるパケット(IPパケット)を受信し、受信したパケットを当該パケットのヘッダに記述された宛先(送信先)に対して送信する機能(ルーティング機能)を備える。ルータ1は、試験対象のルータ(被試験ルータ)であって、データ転送マージン試験をその内部において実行する機能を備える。
ルータ1は、プロセッサ2、スイッチLSI(SWチップ)41、ネットワークプロセッサLSI(NPチップ)42、44及び46、送受信LSI(PHYチップ)43、45及び47を備える。また、ルータ1は、通信経路5及び5’、受信経路61、63及び65、送信経路62、64及び66、ループバック経路71〜73、複数の入出力端子81〜86を備える。例えば、入力端子81とこれに対応する出力端子82とでポート#0が構成される(他についても同じ)。
通信経路5及び5’は双方向の通信経路である。通信経路5は、SWチップ41内における通信経路であり、SWチップ41内において受信経路及び送信経路61〜66の間を接続する。通信経路5’は、通信経路5とプロセッサ2との間を接続する。受信経路61、63及び65は、付記した矢印で示す単一方向(受信方向)の通信経路であり、ルータ1が受信したパケットが転送される経路である。送信経路62、64及び66は、付記した矢印で示す単一方向(送信方向)の通信経路であり、ルータ1が送信すべきパケットが転送される経路である。
通信経路5(通信経路5’を除く)、受信経路61、63及び65、送信経路62、64及び66、ループバック経路71〜73が、ルータ1の内部における転送経路(データ転送経路又はパケット転送経路)を構成する。この明細書において転送経路とはこれらの全部又は一部を指す。SWチップ41、NPチップ42、44及び46、PHYチップ43、45及び47は、転送経路上に存在し、当該転送経路の一部を構成する。
プロセッサ2は、CPU及びメモリ(共に図示せず)からなり、データ転送マージン試験を行う試験処理部3を備える。プロセッサ2は、ルータ1において、転送経路から分離された位置に設けられる。この例では、試験処理部3は、プロセッサ2上で動作するファームウェア(試験処理プログラム)として設けられる。試験処理部3は、ルータ1に接続される保守用コンソール(図示せず)を通じて、起動されてデータ転送マージン試験処理を行い、その結果を保守用コンソールに通知する。なお、試験処理部3は、ファームウェア上の試験プログラムとして設ける以外に、専用のハードウェアとして設けるようにしても良い。
図2(A)はPHYチップ43の構成を示す。PHYチップ43は、入出力回路部(又は回線制御回路部)であり、ポート#0又は入出力端子81及び82の対に対応して設けられ、転送経路上の入力出力端子に最も近い位置(即ち、回線側)に設けられる。PHYチップ43は、対応する入出力端子対を介してのパケットの入力(受信)処理及び出力(送信)処理を行う。即ち、PHYチップ43はパケットを送信し受信する。PHYチップ43は、受信経路61と送信経路62を接続するループ制御部431を備える。ループ制御部431は、ループバック経路71と、そのスイッチSW1及びSW2(例えば、MOSFETからなる)とを含む。PHYチップ45及び47もPHYチップ43と同様の構成を備える。
PHYチップ43は、通常の動作時において、入力端子81で受信したパケットをNPチップ42へ送信し、また、NPチップ42から受信したパケットを出力端子82を介して所定の送信先へ送信する。この時、受信経路61及び送信経路62は、スイッチSW1及びSW2により、ループバック経路71とは切り離されている。
PHYチップ43は、試験処理時において、ループ状の転送経路を構成し、送信経路62から受信したパケットを、ループバック経路71を介して、受信経路61へ送信する。即ち、ループ制御部431がスイッチSW1及びSW2を切り替えることにより、受信経路61及び送信経路62とループバック経路71とが接続される。この時、受信経路61及び送信経路62は、入力端子81及び出力端子82との接続を切断される。これにより、送信経路62、ループバック経路71、受信経路61の順に、転送経路(の一部)が形成される。
このように、本発明においては、例えば送信経路62と受信経路61とをループバック経路71により接続する。従って、送信経路62と受信経路61とが、別々に(相互に独立に)実装されていなければならない(全二重通信可能でなければならない)。送信経路と受信経路の組(対)は、1又は複数設けられ、対応する経路同士を組み合わせることにより、前記ループ状に設定される。従って、ループ状の転送経路も1又は複数設けられる(設定される)。
図2(B)はNPチップ42の構成を示す。NPチップ42は、入出力回路部からのパケットを中継する中継回路部であり、ポート#0又はPHYチップ(入出力回路部)43に対応して設けられる。即ち、NPチップ42は、PHYチップ43及びSWチップ41から受信したパケットを解析し、これに基づいて当該パケットを編集して、SWチップ41又はPHYチップ43に送信する。NPチップ42は、ルーティングテーブル421、TTL抑止部422、パケット数カウンタ423を備える。NPチップ44及び46もNPチップ42と同様の構成を備える。
NPチップ42は、パケットの転送方向を定義するルーティングテーブル421に従って、所定の送信元(ポート)から受信したパケットを所定の送信先(ポート)へ送信する。ルーティングテーブル421は、パケット(の種類)毎に、当該パケットの送信元に応じてその送信先を予め定める(格納する)。
NPチップ42は、通常の動作時において、例えばパケットの受信の都度、当該TTL値を「1」だけ減算する。即ち、パケットは、ヘッダの所定の位置に記述されたTTL値を備え、NPチップ42を通過する都度にTTL値を減算される。TTL値が「0」となったパケットは当該NPチップ42において廃棄される。一方、NPチップ42は、試験処理時において、TTL抑止部422により、パケットのTTL値が減算(更新)されることを抑止する。これにより、パケットがTTL値の減算処理により廃棄されることを抑止することができる。TTL値の減算の抑止に代えて、パケット数カウンタ423が、NPチップ42を通過した(送信された及び受信された)パケット数をカウントする。
図3(A)はSWチップ41の構成を示す。SWチップ41は、スイッチ回路部であり、複数のNPチップ42、44及び46のいずれかから受信したパケットを複数のNPチップ42、44及び46のいずれかに送信する。SWチップ41は、複数のスイッチ(例えば、MOSFET)からなるSW制御部411を備え、パケットを所定の送信先へ送信する。SW制御部411を構成する複数のスイッチ及びその配線が、通信経路5を構成すると考えて良い。
SWチップ41は、パケットの宛先(送信先)に応じて、SW制御部411のスイッチを切り替えることにより、受信したパケットを所定の送信先へ送信する。また、SWチップ41は、試験処理の後処理において、SW制御部411のスイッチを切り替えることにより、受信したパケットを試験処理部3へ送信する。これにより、SWチップ41で受信されたパケット(試験パケット)は、試験処理部3に回収される。
図3(B)は試験処理部3の構成を示す。試験処理部3は、パケットの送受信におけるマージンを検証するために、被試験ルータ1の内部において、データ転送マージン試験を行う。データ転送マージン試験処理は、例えば、試験の前処理(試験モードの設定処理)、実際の試験処理(試験パケットの送受信処理)、試験の後処理(検査処理及び試験モードの解除処理)からなる。
試験処理部3は、ルーティングテーブル設定変更部(以下、単にテーブル設定部という)31、TTL設定部32、ループ設定部33を備える。テーブル設定部31は、パケットの転送方向を定義する。TTL設定部32は、TTL値を減算するNPチップ(回路部)42におけるTTL値の減算を抑止する。ループ設定部33は、ルータ1における転送経路をループ状に設定する。データ転送量上限値(以下、上限値と言う)limit を保持し、データ転送量len をカウントする。
試験処理部3によるデータ転送マージン試験処理の詳細について、図4〜図6及び図7(A)を参照して説明する。
この例において、試験処理部3は、図4に示すように、複数のループ状の転送経路を設定する。ここで、図5〜図6及び図7(A)は、説明の簡単化のために、SWチップ41、NPチップ42及びPHYチップ43により形成される1個のループ状の転送経路におけるデータ転送マージン試験について説明する。なお、試験処理部3は、実際には、後述する図9及び図10に示すように、これらの複数のループ状の転送経路を用いてデータ転送マージン試験を行う。
被試験ルータ1において、図5(A)に点線で示すように、受信経路61と送信経路62とは、これらにループバック経路71が接続されていないので、相互に接続されていない状態にある。
この状態で、試験処理部3が、試験の前処理として、転送経路をループ状に設定し、ルーティングテーブル421を設定し、TTL値の減算の抑止を設定する。
まず、試験処理部3は、ループ設定部33により、被試験ルータ1の内部において、被試験ルータ1における転送経路をループ状に設定する。即ち、ループ設定部33がループ制御部431にループの設定を指示する。この指示に従って、ループ制御部431がスイッチSW1及びSW2を切り替えて、受信経路61と送信経路62とをループバック経路71により接続することにより、転送経路がループ状に設定される。これにより、図5(B)に示すように、ルータ1の内部において、ループ状の転送経路(試験用経路)を形成することができる。
また、試験処理部3は、テーブル設定部31により、NPチップ42にルーティングテーブル421の設定(設定内容)を指示する。この指示に従って、NPチップ42がルーティングテーブル421を当該指示された内容に設定する。当該内容は、例えば、ポート#0(即ち、入力端子81又はPHYチップ43)から受信した試験パケットはポート#0(即ち、出力端子82又はPHYチップ43)へ送信するように設定される。これにより、試験パケットがループ状の転送経路を周回することが可能となる。
また、試験処理部3は、TTL設定部32により、TTL抑止部422に対してTTL値の減算の抑止を指示する。この指示に従って、TTL抑止部422がNPチップ42におけるTTL値の減算を抑止する(禁止する)。これにより、転送経路を周回する試験パケットが、周回の途中で廃棄されることを防止することができる。
更に、試験処理部3は、ルータ1に接続される保守用コンソールからの入力に従って、上限値limit を保持する。上限値limit は、NPチップ42等の処理性能、転送経路(バス)の転送性能、転送経路上のバッファメモリ(図示せず)の容量などのマージンを考慮して決定される。これにより、上限値limit を満たす(超える又は近い)数の試験パケットを転送経路に送信し、マージンについての適切な試験を行うことができる。
以上により、試験の前処理が完了する。これに続いて、試験パケットの送受信処理として、試験処理部3は、試験パケットを生成し、試験パケットをループ状の転送経路上に送信し、周回させられた試験パケットを受信(回収)する。
まず、試験処理部3は、試験パケットを生成する。生成される試験パケットの宛先(送信先)は、予め定められ、例えばポート#0とされる。試験パケットのパケット長は、予め定められ、検査のためにそのヘッダに記述される。試験パケットのデータの内容は、予め定められ、検査のためにメモリ(図示せず)に記録される。TTL値は、減算されないので、「1」以上であれば良い。
この後、試験処理部3は、上限値limit 及びデータ転送量len を用いることにより、所定の数の試験パケットをループ状の転送経路上に送信する。これにより、転送経路上を所定の数のパケットを周回させる。
まず、図5(C)に点線で示すように、試験処理部3が、通信経路5’を介して、試験パケットをSWチップ41に送信する。これを受信したSWチップ41は、試験パケットの宛先がポート#0であるので、これに対応する送信経路62を介して、試験パケットをNPチップ42に送信する。
このようにして送信された試験パケットは、NPチップ42のルーティングテーブル421に従って、図6(A)に点線で示すように、ループ状の転送経路を1周して、SWチップ41に戻る。
即ち、NPチップ42は、試験パケットを解析して、その宛先ポート#0を知り、試験パケットを送信経路62を介してポート#0に送信する。この時、TTL抑止部422が試験パケットのTTL値の減算を抑止し、(送信経路62用の)パケット数カウンタ423が送信したパケット数をカウントする。ポート#0(PHYチップ43)において、試験パケットは、ループバック経路71により強制的に折り返され、受信経路61を介してNPチップ42に送信される。NPチップ42は、試験パケットを解析して、試験パケットをポート#0から受信したことを知り、試験パケットの宛先をポート#0に編集して、当該試験パケットをポート#0に送信するために受信経路61を介してSWチップ41に送信する。この時も、TTL抑止部422が試験パケットのTTL値の減算を抑止し、(受信経路61用の)パケット数カウンタ423が受信したパケット数をカウントする。
この試験パケットを受信したSWチップ41は、試験パケットの宛先がポート#0であるので、図6(B)に点線で示すように、送信経路62を介して、試験パケットをNPチップ42に送信する。また、SWチップ41は、図6(B)に点線で示すように、試験処理部3から通信経路5’を介して受信した試験パケットもNPチップ42に送信する。
試験処理部3は、送信した試験パケットの数が上限値limit に達するまで、試験パケットを繰り返し送信する。この間、TTL値の減算を抑止しているので、試験パケットは廃棄されない。これにより、上限値limit に相当する数の試験パケットがループ状の転送経路を周回する。
試験処理部3は、上限値limit に相当する数(所定の数)の試験パケットを送出した後、図6(C)に点線で示すように、試験パケットの送出を停止して、所定時間が経過するのを待つ。この時点で、図6(C)に点線で示すように、上限値limit に相当する数の試験パケットがループ状の転送経路上を周回している。これにより、データ転送マージン試験が行われている。即ち、被試験ルータ1は実際の試験状態にある。
この実際の試験状態の間、試験処理部3は所定時間が経過するのを待つ待ち状態にある。従って、プロセッサ2は試験のための処理を殆ど実行しない(停止する)ので、プロセッサ2に対する試験の負荷は殆ど無い。これにより、被試験ルータ1の実際の運用状態(試験の負荷が無い状態)に近い状態で、試験を行うことができる。
また、試験パケットが周回し続けるため、転送経路上を転送されるデータ量は、試験パケットの「データ量」のみに依存し、試験パケットの「送信頻度(送信の間隔)」には依存しない。従って、上限値limit に相当する数の試験パケット(のデータ量)が送信されれば、被試験ルータ1の内部で性能限界のパケット転送を実施する状態になる。これにより、従来は困難であったインタフェースで規定されているデータ転送量以上の数の試験パケットを送信し、試験することができる。
更に、上限値limit に相当する数の試験パケットに着目した試験を実施することにより、被試験ルータ1の内部におけるデータ転送の性能の限界付近のマージンを検証することができる。従って、従来は困難であった設計検証、製造工程でのマージンに起因する障害を検出することができる。
図6(C)の状態で所定の時間が経過すると、試験処理部3は、テーブル設定部31によりルーティングテーブル421を変更し、周回させられた試験パケットを受信(回収)する。所定の時間とは、試験パケットの送信の停止からの時間、即ち、転送経路上を所定の数のパケットが周回する状態となってからの時間であり、最後に送信した試験パケットが転送経路を少なくとも1周するのに必要とする時間である。ルーティングテーブル421の変更による試験パケットの回収は、後処理と考えても良い。具体的には、テーブル設定部31がNPチップ42にルーティングテーブル421の設定(設定内容)を指示する。当該内容は、例えばポート#0から受信した試験パケットは試験処理部3が動作するプロセッサ2へ送信するように設定される。これにより、試験パケットをプロセッサ2へルーティングし、試験処理部3で受信することができる。
この設定変更により、SWチップ41は、図7(A)に示すように、NPチップ42から受信した試験パケットを試験処理部3に送信する。これに応じて、試験処理部3は、試験パケットを受信する。これにより、ループ状の転送経路上を周回していた試験パケットが、試験処理部3に回収される。
以上により、試験パケットの送受信処理が完了する。これに続いて、試験の後処理として、試験処理部3は、回収した試験パケットについての検査を行い、試験の結果を通知し、前処理により設定した試験モードを解除する。
まず、試験処理部3は、受信した試験パケットについて検査(確認)する。第1に、受信した試験パケットのパケット長が、そのヘッダに記述されているパケット長と同じであるか否かが検査される。第2に、受信した試験パケットの内容にデータ比較エラーが生じているか否かが検査される。第3に、最終的に送信した試験パケットの数と受信した試験パケットの数とが一致する(即ち、試験パケットの廃棄が発生していない)か否かが検査される。第4に、式(1)及び(2)により求まるパケット転送量が、被試験ルータ1の仕様に対して妥当な値である(スループットが妥当である)か否かが検査される。
即ち、式(1)は、ビットレート(bps:ビット/セコンド) を算出する式であり、パケット転送量(bps) =(転送経路上のパケット転送カウンタのカウント値)*(パケット長(bit)/試験時間(秒))である。式(2)は、パケットのスループット(pps:パケット/セコンド) を算出する式であり、パケット転送量(pps) =(転送経路上のパケット転送カウンタのカウント値)/(試験時間(秒))である。
また、試験処理部3は、被試験ルータ1に接続される保守用コンソールにその結果を通知する。なお、この通知に代えて、メモリに記録を格納するようにしても良い。
更に、試験処理部3は、前述の処理とは逆の処理により、ループ設定部33によりループの設定を解除し、TTL設定部32によりTTL値の減算の抑止の設定を解除し、テーブル設定部31によりルーティングテーブル421の設定を解除する。即ち、被試験ルータ1を図5(A)の状態とする。
なお、図7(B)に示すように、複数の回路部481〜488が、ループ状に設定された転送経路上に存在しても良い。即ち、被試験ルータ1において、ループ状に設定された転送経路上に存在する回路部は、SWチップ41、NPチップ42及びPHYチップ43の3個には限られない。
図7(B)の場合、ループバック経路は回路部481〜488のいずれかが予め備えれば良い。例えば、ループバック経路は、回路部481〜488の中で、被試験ルータ1の入力端子81と出力端子82とに接続された回路部481及び488に予め備えられる。同様に、SWチップ41に相当する回路部が、回路部481〜488の中で、試験処理部3に近接して設けられる回路部484及び485に予め備えられる。また、これら以外の転送経路上に存在する回路部482、483、486及び487は、図2(B)に示すNPチップ42と同様の構成を備える。なお、回路部484及び485が、NPチップ42と同様の構成を備え、パケット(試験パケット)をルーティングするようにしても良い。
図8は、本発明のルータ試験処理フローであり、被試験ルータ1において実行されるルータ試験処理の一例を示す。
試験処理部3が、オペレータの入力指示に従って、パラメータ"len" に初期値「0」を設定し、パラメータ"limit" にデータ転送量の上限値limit を設定し(ステップS1)、更に、オペレータの入力指示に従って、試験を開始する。
最初に、試験処理部3が試験の前処理を行う。即ち、ループ設定部33が、PHYチップ43のループ制御部431のループバック経路71を利用することにより、送信経路62と受信経路61とを接続して、ループ状の転送経路を設定する(ステップS2)。また、テーブル設定部31が、NPチップ42のルーティングテーブル421を設定することにより、試験パケットが装置内で周回するように設定する(ステップS3)。この時、TTL設定部32が、TTL抑止部422により、NPチップ42におけるTTLの減算を抑止するように設定する(ステップS4)。
この後、試験処理部3が、試験パケットの送信処理を開始する。この送信処理において、試験処理部3が、その時点での変数len に送信した試験パケットのデータ量を加算した値を変数len に設定し(ステップS5)、パラメータ"len" とパラメータ"limit" とを比較して、len ≧limit が成立するか否かを調べ(ステップS6)、成立しない場合、ステップS5を繰り返す。
成立する場合、試験処理部3が、試験パケットの送信処理を終了して、試験の終了待ち状態となり、その後、試験パケットの回収処理を開始する。即ち、試験処理部3が、前記len ≧limit の成立から一定時間が経過するのを待って(ステップS7)、ルーティングテーブル421を変更することにより、周回している試験パケットが試験処理部3(プロセッサ2)を宛先とするように設定する(ステップS8)。
この変更に応じて試験パケットが試験処理部3に送信されるので、試験処理部3は、試験パケットを受信して(ステップS9)、当該受信した試験パケットの内容を確認(検査)した後(ステップS10)、当該試験処理の後処理を行う(ステップS11)。
図9は、本発明のルータ試験方法の説明図であり、図9(A)は1個のループ状の転送経路を示し、図9(B)は図9(A)の転送経路におけるルーティングテーブル421の設定例を示す。この例は、被試験ルータ1において1個のループ状の転送経路が設定された例、即ち、被試験ルータ1の各ポート#0〜#2を1個の転送経路により接続した場合の例を示す。
試験処理部3が、送信先がポート#0で識別番号がID0である試験パケット(以下、パケットP(ID0)と言う)を生成し、SWチップ41へ送信する。SWチップ41はパケットP(ID0)をポート#0に対応するNPチップ42に送信する。NPチップ42は、パケットP(ID0)をポート#0を有するPHYチップ43に送信する。PHYチップ43において、ポート#0に達したパケットP(ID0)は、ループバック経路71により、ポート#0で受信されたパケットP(ID0)として、NPチップ42に送信される。
NPチップ42は、ポート#0(PHYチップ43)から受信したパケットP(ID0)を、ルーティングテーブル421に従ってSWチップ41へ送信する。ルーティングテーブル421は、図9(B)に示すように、ID0の試験パケットがポート#0から受信された場合、その送信先(転送先)をポート#1に送信することを指示している。従って、NPチップ42は、パケットP(ID0)のヘッダにおける送信先の記述をポート#1に設定する。なお、ルーティングテーブル421は、ポート#1及び#2から受信したパケットについても規定しているので、NPチップ42のみならず、NPチップ44及び46にも共通である。
同様にして、SWチップ41はパケットP(ID0)をポート#1に対応するNPチップ44に送信する。NPチップ44はパケットP(ID0)をポート#1に送信する。ポート#1に達したパケットP(ID0)は、NPチップ44に送信される。NPチップ44は、ポート#1から受信したパケットP(ID0)を、その送信先をポート#2に変更した上で、SWチップ41へ送信する。
更に、同様にして、パケットP(ID0)は、SWチップ41からNPチップ46を経由して、ポート#2に送信され、ポート#2からNPチップ46に送信される。NPチップ46は、パケットP(ID0)を、その送信先をポート#0に変更した上で、SWチップ41へ送信する。
以上により、パケットP(ID0)の転送経路は以下のようになる。即ち、パケットP(ID0)は、試験処理部3、ポート#0、ポート#1、ポート#2の順に送信される。この後、ポート#0に送信され、更に、ポート#0、ポート#1、ポート#2の順に送信され、これを繰り返す。
試験処理部3は、所定の個数(値limit に相当する数)のパケットP(ID0)を送信し続ける。パケットP(ID0)は、同一の識別番号ID0を有するので、以上と同様に転送経路上を周回する。この結果、所定の個数のパケットP(ID0)が、転送経路上を周回した後、回収される。これにより、被試験ルータ1の内部における転送経路についてのデータ転送マージン試験を行うことができる。
図10は、本発明のルータ試験方法の説明図であり、図10(A)は複数のループ状の転送経路を示し、図10(B)は図10(A)の転送経路におけるルーティングテーブル421の設定例を示す。この例は、被試験ルータ1において複数のループ状の転送経路が設定された例、即ち、被試験ルータ1の各ポート#0〜#2の網羅的な組合せを意識した転送経路の例を示す。
パケットP(ID0)は、図9の例と同様に、SWチップ41からNPチップ42を経由してポート#0へ送信され、ポート#0で折り返されることにより、NPチップ42に送信される。NPチップ42は、図10(B)に示すルーティングテーブル421に従って、ポート#0から受信したパケットP(ID0)を、その送信先をポート#0に設定した上で、SWチップ41へ送信する。以上により、パケットP(ID0)は、試験処理部3、ポート#0、・・・、ポート#0の順に送信され、これを繰り返す。
同様にして、パケットP(ID1)は、試験処理部3、ポート#1、・・・、ポート#1の順に送信され、これを繰り返す。また、パケットP(ID2)は、試験処理部3、ポート#2、・・・、ポート#2の順に送信され、これを繰り返す。
一方、パケットP(ID3)は、SWチップ41からポート#0へ送信され、ポート#0で折り返され、NPチップ42に送信される。NPチップ42は、ルーティングテーブル421に従って、ポート#0から受信したパケットP(ID3)を、その送信先をポート#1に設定した上で、SWチップ41へ送信する。以上により、パケットP(ID3)は、試験処理部3、ポート#0、ポート#1、・・・、ポート#0、ポート#1の順に送信され、これを繰り返す。
同様にして、パケットP(ID4)は、試験処理部3、ポート#1、ポート#2、・・・、ポート#1、ポート#2の順に送信され、これを繰り返す。また、パケットP(ID5)は、試験処理部3、ポート#0、ポート#2、・・・、ポート#0、ポート#2の順に送信され、これを繰り返す。
パケットP(ID0)〜P(ID5)の合計の数が所定の個数(値limit に相当する数)とされる。例えば、パケットP(ID0)、パケットP(ID1)及びパケットP(ID2)は(値limit )×(1/9)個とされ、パケットP(ID3)及びパケットP(ID4)及びパケットP(ID5)は(値limit )×(2/9)個とされる。
この結果、所定の個数のパケットP(ID0)〜P(ID5)が、転送経路上を周回した後、回収される。これにより、被試験ルータ1の内部における転送経路についてのデータ転送マージン試験を行うことができる。これに加えて、図10の例によれば、図9との比較から判るように、SWチップ41(又は通信経路5)におけるスイッチングが複雑であるので、これについてのデータ転送マージン試験を行うことができる。
図11は、本発明のルータ試験方法を実現する試験装置を備えるルータの構成の他の一例を示す構成図である。
この例は、当該ルータ1における対応する入力端子81及び出力端子82(即ち、同一のポート#0)等を接続ケーブル91等により接続することにより、転送経路をループ状に設定する例である。即ち、この例においては、ループバック経路71、72及び73に代えて、折返し用の接続ケーブル91、92及び93が用いられる。
例えば、被試験ルータ1のポート#0において、入力端子81と出力端子82との間が、外部の接続ケーブル91により相互に接続される。従って、この例では、接続ケーブル91により送信経路62と受信経路61とを接続することにより、ループ状の転送経路が形成される。入力端子83と出力端子84との間、及び、入力端子85と出力端子86との間についても、同様である。従って、複数のポート#0〜#2の各々が接続ケーブル91、92及び93により折り返すようにされる。これにより、ループバック経路71、72及び73を利用することなく、又は、ルータ1がループバック経路71、72及び73を備えていなくても、ループ状の転送経路を形成することができる。また、試験処理部3において、ループ設定部33を省略することができる。
なお、図11に示す複数のループ状の転送経路上において、図9に示すような1個のループ状の転送経路を設定しても、図10に示すような複数のループ状の転送経路を設定しても良い。
また、転送経路は、ループバック経路71又は接続ケーブル91等によらずに、ループ状に設定されるようにしても良い。例えば、転送経路が、転送経路上に存在する複数の回路部のいずれかにおいて、被試験ルータ1が受信したパケットが送信される経路である受信経路から受信したパケットを被試験ルータ1が送信するパケットが送信される経路である送信経路に送信することにより、ループ状に設定されるようにしても良い。
以上から判るように、本発明の実施形態の特徴が以下のように把握される。
(付記1)ネットワーク中継装置の送受信能力を試験するネットワーク中継装置の試験方法であって、
当該ネットワーク中継装置における転送経路をループ状に設定し、
前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるTTL値を減算する少なくとも1個の回路部において、TTL値の減算を抑止し、
前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも1個の回路部において、データが前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように前記ルーティングテーブルを設定し、
所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、
前記周回させられたデータを検査する
ことを特徴とするネットワーク中継装置の試験方法。
(付記2)前記転送経路が、当該ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と当該ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを、当該ネットワーク中継装置の内部において接続することにより、ループ状に設定される
ことを特徴とする付記1に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記3)前記受信経路と前記送信経路とが、当該ネットワーク中継装置が備えるループバック経路により接続される
ことを特徴とする付記2に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記4)前記ループバック経路は、前記転送経路上に存在する複数の回路部のいずれかが予め備える
ことを特徴とする付記3に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記5)前記ループバック経路は、前記転送経路上に存在する前記複数の回路部の中で、当該ネットワーク中継装置の入力端子と出力端子とに接続された回路部に予め備えられる
ことを特徴とする付記4に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記6)前記転送経路が、当該ネットワーク中継装置の入力端子と出力端子とを接続ケーブルにより接続することにより、ループ状に設定される
ことを特徴とする付記1に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記7)前記転送経路が、前記転送経路上に存在する複数の回路部のいずれかにおいて、当該ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路から受信したデータを当該ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路に送信することにより、ループ状に設定される
ことを特徴とする付記1に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記8)前記転送経路上に存在し前記ルーティングテーブルを備える少なくとも1個の回路部において、当該回路部により受信されたデータが前記検査を行う回路部に送信されるように前記ルーティングテーブルを変更することにより、前記周回させられたデータを回収する
ことを特徴とする付記1に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記9)前記転送経路上を前記所定の数のデータが周回させられる状態となってから所定の時間の経過後に、前記ルーティングテーブルが変更される
ことを特徴とする付記8に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記10)当該ネットワーク中継装置が、当該ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と当該ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを各々複数備え、
前記転送経路が、前記複数の受信経路のいずれかと前記複数の送信経路のいずれかとを組み合わせることにより、前記ループ状に設定される
ことを特徴とする付記1に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記11)前記転送経路が、1個のループ状の転送経路に設定される
ことを特徴とする付記10に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記12)前記転送経路が、複数のループ状の転送経路に設定される
ことを特徴とする付記10に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記13)当該ネットワーク中継装置がルータからなる
ことを特徴とする付記1に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
(付記14)当該ネットワーク中継装置の送受信能力を試験することが可能なネットワーク中継装置であって、
当該ネットワーク中継装置における転送経路をループ状に設定するループ設定手段と、
前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるTTL値を減算する少なくとも1個の回路部において、TTL値の減算を抑止するTTL設定手段と、
前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも1個の回路部において、データが前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように前記ルーティングテーブルを設定する設定手段と、
所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、前記周回させられたデータを検査する試験処理手段とを備える
ことを特徴とするネットワーク中継装置。
(付記15)当該ルータの送受信能力を試験することが可能なルータであって、
当該ルータにおける転送経路をループ状に設定するループ設定手段と、
前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるTTL値を減算する少なくとも1個の回路部において、TTL値の減算を抑止するTTL設定手段と、
前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも1個の回路部において、データが前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように前記ルーティングテーブルを設定する設定手段と、
所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、前記周回させられたデータを検査する試験処理手段とを備える
ことを特徴とするルータ。
以上、説明したように、本発明によれば、ルータのようなネットワーク中継装置の試験方法及びネットワーク中継装置において、例えばパケットのようなデータが転送経路上を周回し続ける状態を作り、データ転送処理の機能についてその性能限界の状態を作り出すことができる。これにより、当該ネットワーク中継装置が備える機能を利用して、事実上、その内部で、データ転送処理の機能についてのマージンの試験を行うことができる。従って、ネットワーク中継装置が、そのデータ転送処理の機能のマージン不足(信号のノイズジッタに対するマージン不足)に起因して、障害発生の原因となることを防止することができ、ネットワークの障害発生を未然に防止することができる。
本発明のルータの構成の一例を示す構成図である。 本発明のルータの構成の一例を示す構成図である。 本発明のルータの構成の一例を示す構成図である。 本発明のルータ試験方法の説明図である。 本発明のルータ試験方法の説明図である。 本発明のルータ試験方法の説明図である。 本発明のルータ試験方法の説明図である。 本発明のルータ試験処理フローである。 本発明のルータ試験方法の具体的な一例の説明図である。 本発明のルータ試験方法の具体的な他の一例の説明図である。 本発明のルータの構成の他の一例を示す構成図である。 本発明の背景となったルータ試験方法の説明図である。
符号の説明
1 ルータ(被試験ルータ)
2 プロセッサ
3 試験処理部
41 スイッチLSI(SWチップ)
42、44及び46 ネットワークプロセッサLSI(NPチップ)
43、45及び47 送受信LSI(PHYチップ)
5、5’ 通信経路
61、63及び65 受信経路
62、64及び66 送信経路
71〜73 ループバック経路
81〜86 入出力端子

Claims (5)

  1. ネットワーク中継装置の送受信能力を試験するネットワーク中継装置の試験方法であって、
    前記ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と前記ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを各々複数備える前記ネットワーク中継装置において、転送経路をループ状に設定し、
    前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるTTL値を減算する少なくとも1個の回路部において、TTL値の減算を抑止し、
    前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも1個の回路部において、前記ルーティングテーブルにおける第1の受信経路から受信したデータの送信先を、前記第1の受信経路と対である第1の送信経路とは異なる送信経路であって、データの識別情報毎に定められた第2の送信経路に設定することにより、データが前記複数の受信経路のいずれかと前記複数の送信経路のいずれかとを組み合わせることにより前記識別情報毎に定められた前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように設定し、
    所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、
    前記周回させられたデータを検査する
    ことを特徴とするネットワーク中継装置の試験方法。
  2. 前記転送経路が、前記ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と前記ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを、前記ネットワーク中継装置の内部において接続することにより、ループ状に設定される
    ことを特徴とする請求項1に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
  3. 前記転送経路が、前記ネットワーク中継装置の入力端子と出力端子とを接続ケーブルにより接続することにより、ループ状に設定される
    ことを特徴とする請求項1に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
  4. 前記転送経路上に存在し前記ルーティングテーブルを備える少なくとも1個の回路部において、前記回路部により受信されたデータが前記検査を行う回路部に送信されるように前記ルーティングテーブルを変更することにより、前記周回させられたデータを回収する
    ことを特徴とする請求項1に記載のネットワーク中継装置の試験方法。
  5. ネットワーク中継装置の送受信能力を試験することが可能なネットワーク中継装置であって、
    前記ネットワーク中継装置が受信したデータが送信される経路である受信経路と前記ネットワーク中継装置が送信するデータが送信される経路である送信経路とを各々複数備える前記ネットワーク中継装置において、転送経路をループ状に設定するループ設定手段と、
    前記転送経路上に存在し送信対象のデータが備えるTTL値を減算する少なくとも1個の回路部において、TTL値の減算を抑止するTTL設定手段と、
    前記転送経路上に存在しルーティングテーブルを備える少なくとも1個の回路部において、前記ルーティングテーブルにおける第1の受信経路から受信したデータの送信先を、前記第1の受信経路と対である第1の送信経路とは異なる送信経路であって、データの識別情報毎に定められた第2の送信経路に設定することにより、データが前記複数の受信経路のいずれかと前記複数の送信経路のいずれかとを組み合わせることにより前記識別情報毎に定められた前記ループ状に設定された転送経路に沿って順に送信されるように設定する設定手段と、
    所定の数のデータを前記ループ状に設定された転送経路上に送信することにより、前記ループ状に設定された転送経路上を前記所定の数のデータを周回させ、前記周回させられたデータを検査する試験処理手段とを備える
    ことを特徴とするネットワーク中継装置。
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