JP4686240B2 - フィルタの製造方法及びこのフィルタを使用した検査方法 - Google Patents
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Description
(2)半導体デバイスの回路セル、配線セル等の検査対象物において、隣同士に配置された検査対象物を比較しながら走査し、双方の違いを外観検査する方法
ところが、高集積化が進み、配線のラインアンドスペースが微細化され、配線の形状が複雑化されるに従って、誤検査マージンが取りにくくなる。このため、誤検査、検査漏れ等が生じやすく、外観検査の検査精度が低下する恐れがあった。
(1)金、銀、銅、パラジウム、ニッケル、アルミニウムのいずれか1つの金属粒子
(2)前記金属粒子の2以上を合金化した合金粒子
(3)銅、錫、タングステン、チタンのいずれかの金属酸化物粒子
(4)前記金属粒子、合金粒子、金属酸化物粒子の2以上を複合化した複合粒子
[検査装置の構成]
図2に示すように、本発明の第1の実施の形態に係る二次元フーリエ変換フィルタを使用した外観検査装置(欠陥検査装置)1は、検査対象物2を保持するテーブル11と、検査光源12と、検査対象物2の表面上の基準パターンや欠陥を撮像若しくは観測するためのカメラ13と、このカメラ13に接続されたコンピュータ15と、光学系16と、この光学系16内に装填されるフィルタ3とを備えている。光学系16は、検査光源12から検査対象物2までの間に順次配設された光学レンズ161、162、光学プリズム163及び対物レンズ164と、光学プリズム163からカメラ13までの間に順次配設された光学レンズ165及び166とを備えている。
図1及び図3に示すように、フィルタ3は、検査対象物2の「良品(欠陥が存在しない)」の基準パターン(下地情報)に基づき作成され、実際の検査対象となる検査対象物2の基準パターンをキャンセルし、欠陥パターンを強調することができる、二次元フーリエ変換フィルタ若しくは紫外線カットフィルタである。必ずしもこの形状に限定されるものではないが、フィルタ3は、円盤形状の透明基板31と、その表面上に配設され、欠陥パターンを強調することができる平面形状において形成された遮光膜32とを備えている。
(2)金属粒子の少なくとも2以上を合金化した合金粒子
(3)銅、錫(Sn)、タングステン(W)、チタン(Ti)のいずれかの金属酸化物粒子
(4)金属粒子、合金粒子、金属酸化物粒子のいずれか2以上を複合化した複合粒子
[フィルタの製造方法及び外観検査方法]
次に、フィルタ3の製造方法及びフィルタ3を使用した外観検査方法を、図1を使用して説明する。
本発明の第2の実施の形態は、第1の実施の形態に係るフィルタ3の製造方法の別の例、より詳細にはフィルタ3の遮光膜32の輪郭とその内部とを別々の工程において形成する方法を説明するものである。
Claims (4)
- 溶媒に50wt%〜80wt%の範囲内において平均粒子径が1nm〜1000nmの範囲内の下記(1)乃至(4)のいずれかの遮光粒子を分散する工程と、
(1)金、銀、銅、パラジウム、ニッケル、アルミニウムのいずれか1つの金属粒子
(2)前記金属粒子の2以上を合金化した合金粒子
(3)銅、錫、タングステン、チタンのいずれかの金属酸化物粒子
(4)前記金属粒子、合金粒子、金属酸化物粒子の2以上を複合化した複合粒子
前記溶媒により表面がコーティングされた前記遮光粒子を透明基板上にインクジェット装置により噴射し、前記遮光粒子を成膜した遮光膜を形成する工程と、
を備えたことを特徴とするフィルタの製造方法。 - 前記透明基板上に遮光膜を形成する工程は、二次元フーリエ変換フィルタ、紫外線カットフィルタ、レチクルのいずれかを製作する透明基板上に遮光膜を形成する工程であることを特徴とする請求項1に記載のフィルタの製造方法。
- 溶媒に50wt%〜80wt%の範囲内において平均粒子径が1nm〜1000nmの範囲内の下記(1)乃至(4)のいずれかの遮光粒子を分散する工程と、
(1)金、銀、銅、パラジウム、ニッケル、アルミニウムのいずれか1つの金属粒子
(2)前記金属粒子の2以上を合金化した合金粒子
(3)銅、錫、タングステン、チタンのいずれかの金属酸化物粒子
(4)前記金属粒子、合金粒子、金属酸化物粒子の2以上を複合化した複合粒子
前記溶媒により表面がコーティングされた前記遮光粒子を透明基板上の遮光領域の輪郭に沿ってインクジェット装置により噴射し、遮光膜の輪郭を形成する工程と、
前記溶媒により表面がコーティングされた前記遮光粒子を前記透明基板上の前記遮光領域の輪郭内に前記インクジェット装置により噴射し、前記遮光粒子を成膜した遮光膜を形成する工程と、
を備えたことを特徴とするフィルタの製造方法。 - 検査対象物の基準パターン情報を抽出する工程と、
前記基準パターン情報に基づき、この基準パターン情報をキャンセリングする二次元フーリエ変換フィルタを形成する工程と、
前記二次元フーリエ変換フィルタを使用し、前記検査対象物の基準パターン以外の欠陥パターンを検査する工程と、を備え、
前記二次元フーリエ変換フィルタを形成する工程は、
溶媒に50wt%〜80wt%の範囲内において平均粒子径が1nm〜1000nmの範囲内の下記(1)乃至(4)のいずれかの遮光粒子を分散する工程と、
(1)金、銀、銅、パラジウム、ニッケル、アルミニウムのいずれか1つの金属粒子
(2)前記金属粒子の2以上を合金化した合金粒子
(3)銅、錫、タングステン、チタンのいずれかの金属酸化物粒子
(4)前記金属粒子、合金粒子、金属酸化物粒子の2以上を複合化した複合粒子
前記溶媒により表面がコーティングされた前記遮光粒子を前記基準パターン情報に基づき透明基板上にインクジェット装置により噴射し、前記遮光粒子を成膜した遮光膜を形成する工程と、
を備えたことを特徴とする二次元フーリエ変換フィルタを使用した検査方法。
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