JP4654408B2 - 検査装置、検査方法及びパターン基板の製造方法 - Google Patents
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Description
15 1/4波長板、16 対物レンズ、16a 対物レンズの第1の領域
16b 対物レンズの第2の領域、21 対物レンズ駆動機構、22 ペリクル
23 フォトマスク、24 ステージ、25 コントローラ、31 レンズ
32 光検出器、33 信号検出回路、41 ミラー、42 レンズ
43 2分割フォトダイオード、44 AFサーボ制御回路
Claims (13)
- 光源と、
前記光源から入射した入射光を集光して試料に入射させる対物レンズであって、前記入射光が当該対物レンズの半分の領域である第1の領域に入射するよう、前記入射光の光軸からずれて配置された対物レンズと、
前記第1の領域から前記試料に照射された光のうち、前記試料の表面で反射され、前記第1の領域に入射した反射光を、前記入射光と分岐する光分岐手段と、
共焦点光学系を介して、前記光分岐手段によって分岐された反射光を検出する光検出器と、
前記第1の領域から前記試料に照射された光のうち、前記試料の表面で反射され、前記対物レンズの前記第1の領域と異なる第2の領域に入射した反射光を検出して、前記試料の表面に焦点を合わせる自動焦点合わせ機構とを備え、
前記第2の領域を通過した前記反射光が前記光分岐手段に入射しないように、前記第2の領域を通過した前記反射光を前記第1の領域を通過した前記反射光から分岐することによって、前記光検出器に入射する反射光が、前記試料表面で反射して前記第2の領域に入射した反射光から分離されている検査装置。 - 前記試料を載置するステージをさらに備え、
前記ステージが移動可能に設けられている請求項1記載の検査装置。 - 前記光源からの光をライン状の光に変換して前記対物レンズに出射する光変換手段をさらに備え、
前記光検出器が前記試料表面と共役な結像関係に配置されたラインセンサであり、前記ラインセンサが前記ライン状の光に対応して配置されている請求項1又は2記載の検査装置。 - 光源と、
前記光源から入射した入射光を集光して試料に入射させる対物レンズであって、前記入射光が当該対物レンズの半分の領域である第1の領域に入射するよう、前記入射光の光軸からずれて配置された対物レンズと、
前記第1の領域から前記試料に照射された光のうち、前記試料の表面で反射され、前記第1の領域に入射した反射光を、前記入射光と分岐する光分岐手段と、
共焦点光学系を介して、前記光分岐手段によって分岐された反射光を検出する光検出器と、
前記第1の領域から前記試料に照射された光のうち、前記試料の表面で反射され、前記対物レンズの前記第1の領域と異なる第2の領域に入射した反射光を検出して、前記試料の表面に焦点を合わせる自動焦点合わせ機構と、
前記光源からの光をライン状の光に変換して前記対物レンズに出射する光変換手段と、を備え、
前記光検出器が前記試料表面と共役な結像関係に配置されたラインセンサであり、前記ラインセンサが前記ライン状の光に対応して配置されている検査装置。 - 前記ライン状の光と垂直な方向に前記試料を走査させることを特徴とする請求項3又は4記載の検査装置。
- 前記ライン状の光が前記第1の領域と前記第2の領域との境界線に対して垂直になっている請求項に3乃至5のいずれか1項に記載の検査装置。
- 共焦点光学系を介して、試料表面で反射した反射光を検出して前記試料の検査を行う検査方法であって、
光源からの光を前記光源からの光の光軸とずれて配置された対物レンズに入射させるステップであって、前記対物レンズの半分の領域である第1の領域に光を入射させるステップと、
前記対物レンズの第1の領域に入射した光を前記試料に照射させるステップと、
前記第1の領域から前記試料に照射された光のうち、前記試料の表面で前記第1の領域の方向に反射された反射光を、共焦点光学系を介して光検出器で検出するステップとを備え、
前記試料の表面で反射され、前記対物レンズの前記第1の領域と異なる第2の領域に入射した反射光を検出して、前記試料の表面が合焦点位置となるよう前記光源からの光を前記試料に照射し、
前記第2の領域を通過した前記反射光が前記光分岐手段に入射しないように、前記第2の領域を通過した前記反射光を前記第1の領域を通過した前記反射光から分岐することによって、前記光検出器で検出される反射光が、前記試料の表面で前記第2の領域の方向に反射した反射光から分岐されている検査方法。 - 前記試料を走査しながら前記反射光の検出を行う請求項7記載の検査方法。
- 前記光源からの光をライン状の光に変換して、前記対物レンズに出射するステップとをさらに備え、
前記反射光が前記ライン状の光に対応して配置されたラインセンサである前記光検出器により検出される請求項7又は8に記載の検査方法。 - 共焦点光学系を介して、試料表面で反射した反射光を検出して前記試料の検査を行う検査方法であって、
光源からの光をライン状の光に変換するステップと
ライン状の光を前記光源からの光の光軸とずれて配置された対物レンズに入射させるステップであって、前記対物レンズの半分の領域である第1の領域に光を入射させるステップと、
前記対物レンズの第1の領域に入射した光を前記試料に照射させるステップと、
前記第1の領域から前記試料に照射された光のうち、前記試料の表面で前記第1の領域の方向に反射された反射光を、共焦点光学系を介して検出するステップとを備え、
前記試料の表面で反射され、前記対物レンズの前記第1の領域と異なる第2の領域に入射した反射光を検出して、前記試料の表面が合焦点位置となるよう前記光源からの光を前記試料に照射し、
前記共焦点光学系を介して検出される前記反射光が前記ライン状の光に対応して配置されたラインセンサにより検出される検査方法。 - 前記試料を前記ライン状の光と垂直な方向に走査しながら前記反射光の検出を行うことを特徴とする請求項9又は10に記載の検査方法。
- 前記ライン状の光が前記第1の領域と前記第2の領域との境界線に対して垂直になっている請求項に9乃至11のいずれか1項に記載の検査方法。
- 請求項7乃至請求項12いずれか一項に記載の検査方法により、フォトマスクに装着されたペリクルを検査する検査ステップと、
前記検査ステップによって検査されたペリクルの異物を除去する異物除去ステップと、
前記異物除去ステップで異物を除去したペリクルが装着されたフォトマスクを介して基板を露光する露光ステップと、
前記露光された基板を現像する現像ステップを有するパターン基板の製造方法。
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