JP4650084B2 - 受光デバイス測定装置および方法 - Google Patents
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ところが、半導体ウェハ状態の受光デバイスについて、その電気的特性(消費電流、暗電流等)を半導体ウェハ検査装置で測定し、電気的特性のみの良否を判定し、組立後の製品段階で受光特性を測定すると、電気的特性では良品と判定されたものが受光特性では不良品と判定されることがある。
このような、不良デバイスを組み立てることは、部材および工数のロスになるからコスト的に不利であり、また、開発段階の試作時には組立を待たなければ問題点が明確にならないことから、このことが開発期間を長くする要因となる。
本発明では、好適に、前記第1発光デバイスと前記第2発光デバイスは、所定レベル以下の違いを有するほぼ同一な特性を備えたものとして予め選出されたものである。
本発明では、予め特性がほぼ揃った第1および第2発光デバイスを選定して用いて発光させることができる。あるいは、これらの発光デバイスの発光特性を予め測定しておき、その結果により受光手段の出力を校正してもよい。
図1に、半導体ウェハ状態で受光デバイスを測定する受光デバイス測定装置の構成概略を示す。
図解した受光デバイス測定装置は、LSIテスタ1とプローバ装置5を有する。プローバ装置5内に、プローブを装備したプローブカード基板4、プローブカード基板4の多数のピンと電気的に接続されている測定回路が形成されているウェハ測定ボード2、ウェハ測定ボード2とプローブカード基板4とを接続するためのコンタクトリング8、および、ウェハ保持用のステージ7を備える。ステージ7に、被検査対象デバイス(以下、「DUT(Device Under Test)と称する」)を有する半導体ウェハ6が載置されている。LSIテスタ1とウェハ測定ボード2とは、インターフェースとしてのケーブル3aおよびコネクタ3bを介して電気的に接続されている。
ウェハ測定ボード2とプローブカード基板4間は、コンタクトリング8に形成されている複数のソケット(不図示)とピン4Aにて電気的に接続され、それらの固定はネジ4Bによって行われる。プローブカード基板4がウェハ測定ボード2と一体となっていない理由は、プローブの寿命を考慮し、プローブカード基板4を交換する必要があるからである。
なお、ウェハ測定ボード2には、DUTを測定するための測定回路を構成する部品として、リレー、コンデンサ、抵抗など様々な電気部品が実装されている。ウェハ測定ボード2の先端部のカードエッジ2Bは、LSIテスタと電気的に接続するために、コネクタ3b(図1参照)に差し込まれる部分である。
図3において、プローブカード基板4は、DUT10の電極パッド(不図示)に各々接触しているプローブ11と、プローブ11を保持し、これをプローブカード基板4に固定するためのプローブ保持台12とを備える。なお、図3において、図1および図2に示すウェハ測定ボード2、および、ウェハ測定ボード2とプローブカード基板4とを多数のピン4Aにより電気的に接続するためのコンタクトリング8は図示を省略している。
コンタクトリング8およびウェハ測定ボード2を介して行われる補助基板13とプローブカード基板4との固定は、図3では省略しているネジなどによって行われる。つまり、まず、図2に示し既に説明したように、ウェハ測定ボード2に固定されているコンタクトリング8に対して、ネジによりプローブカード基板4を固定する。つぎに、ウェハ測定ボード2に対して、別のネジ(不図示)によって補助基板13を固定する。このため、補助基板13とプローブカード基板4は何れも、ウェハ測定ボード2に対して取り外し可能となっている。
測定治具50は、DUT10の光源としてのLED(本発明の「第1発光デバイス」に相当、以下、「光源LED」という)15、光源LED15とほぼ同一特性を有するモニタ用のLED(本発明の「第2発光デバイス」に相当、以下、モニタLEDという)19、および、モニタLED19の光パワーをモニタするモニタ受光デバイス、たとえばフォトディテクタ(以下、モニタPDという)22を保持するためのものである。測定治具50は、補助基板13に多くの部材を固定することによって組み立てられている。
詳細は後述するが、測定治具50はプローブカード基板4等に対して着脱でき、これによって受光デバイス測定機能を、一般的なプローブカードに付加することを可能にしている。
モニタLED19の取り付け位置周囲に、LED配線基板17から立設した立設部20が設けられ、立設部20にモニタ用受光デバイスとしてのモニタPD22を保持するPD配線基板23が固定されている。
モニタPD22は、ウェハ状態のDUT10と同じ品種の受光デバイスを透明樹脂(もしくはガラス)によってパッケージングしたものであり、モニタLED19の光パワーをモニタするためにPD配線基板23の下面に実装されている。PD配線基板23は、モニタPD22の端子に接続する内部配線(不図示)を有し、当該内部配線からケーブル24bが引き出されて、これがコネクタ(不図示)を介して補助基板13に接続されている。なお、図3においては、モニタLED19ならびに光源LED15を保持するハウジングは図示していない。
本例では、これらケーブルのコネクタとしてはSMA(Subminiature A)コネクタを用いている。より詳細には、補助基板13にSMAオス側のコネクタ26と27が実装され、プローブカード基板4にSMAオス側のコネクタ41が実装されている。そして、コネクタ26には同軸ケーブル25が、コネクタ27には同軸ケーブル31が、コネクタ41には同軸ケーブル32が、各ケーブルの一端に設けられているSMAメス側のコネクタを介して接続されている。同軸ケーブル25,31,32の図示していない他端も同様に、それぞれSMAコネクタ対によってウェハ測定ボード2(不図示)に接続されている。
このうち同軸ケーブル25は、2個のLED(光源LED15とモニタLED19)を駆動する電流を供給するためのラインである。同軸ケーブル31は、モニタPD22の出力のためのラインである。また、同軸ケーブル32は、DUT10の出力のためのラインである。
遮光カバー30は、同軸ケーブル25,31のコネクタによって補助基板13に着脱可能になっている。
図4に示すように、遮光カバー30の開放面(下面)端部に、その側面に対して外側に突出するフリンジ部30Aを備えている。フリンジ部30Aの対抗する2箇所に耳部40aおよび40bが設けられている。耳部40aおよび40bは、それぞれSMAコネクタ(オス側)を通すための円形の穴を備える。
図5に示すように、耳部40aおよび40bは、それぞれ同軸ケーブル25,31に対応したSMAオス側のコネクタ26,27に通され、その上から、同軸ケーブル25,31のSMAメス側のコネクタ25A,31Aで締め付けられる。これにより、遮光カバー30および同軸ケーブル25,31を同時に、補助基板13に固定することができる。
この遮光カバー30の取り付け構造によって、遮光カバー30を外すと必ず同軸ケーブル25が補助基板13から離れて駆動電流がLEDに流れなくなり、発光が止まる。このため遮光カバー30を外した時、LEDの発光が停止することから、安全上好ましい。
また、補助基板13とウェハ測定ボード2(不図示)の接続に各種同軸ケーブル25,31,32を用い、また、電源供給ケーブル28にもコネクタを使用したが、そのことも必須ではない。たとえば、補助基板13とウェハ測定ボード2との接続を、両者を連結するコネクタとピンにより実現してもよい。
LSIテスタ1内に、定電流源51、AC信号源52およびその等価出力抵抗R1(たとえば50オーム)、出力リレースイッチS1、電圧源53,54,55,56、ならびに、AC/DCレベル測定用の電圧計57,58が装備されている。定電流源51と電圧源53,54,55,56の電圧値、および、AC信号源52の周波数と出力振幅レベルは、LSIテスタ1の仕様の範囲内において任意に設定できる。
このフォトダイオード70とその電流電圧変換回路71からなる回路ブロックのチャンネル数は、ここでは1チャンネルとしているが、光の放射角度が比較的広いタイプ(広指向性)のLEDを使用すれば複数チャンネル内蔵の受光デバイスにも対応できる。またフォトダイオード70単体の構成でも測定が可能で、その場合、電流電圧変換回路71は省略される。
差動アンプ72の出力はプローブ11からDUT10の外部に取り出され、さらに同軸ケーブル32および62を介してLSIテスタ1のAC/DCレベル測定用の電圧計57に接続されている。電源電圧Vccおよび基準電圧Veeは、それぞれプローブ11を介し、LSIテスタ1内の可変電圧源55,56から供給される。フォトダイオード70への入射光パワーは測定治具50内の光源LED15から付与される。
これら等価スイッチS2、抵抗R2、モニタLED19および光源LED15は、同軸ケーブル25のコネクタ対26,25Aと接地電圧との間に縦続接続されている。このため、モニタLED19と光源LED15には常に同じ駆動電流が供給される。
なお、この駆動電流の供給方法はモニタLED19と光源LED15とがほぼ同一の特性を有することを前提とするが、その特性差が無視できない場合は、モニタLED19と光源LED15の駆動電流を個別に制御して、発光パワーを揃える方法の採用も可能である。
差動アンプ72の出力はコネクタ対27,31Aを通って同軸ケーブル31および63を介してLSIテスタ1のAC/DCレベル測定用の電圧計58に接続されている。電源電圧Vccおよび基準電圧Veeは電源供給ケーブル28、コネクタ28A、ケーブル64を介し、LSIテスタ1内の可変電圧源53,54から供給される。フォトダイオード70への入射光パワーはモニタLED19から付与される。
高周波重畳回路61のDC入力と、LSIテスタ1内の源電圧Vddの供給線との間に定電流源51が接続されている。高周波重畳回路61のAC入力と、LSIテスタ1内の接地電圧の供給線との間に、出力リレースイッチS1、等価出力抵抗R1およびAC信号源52が接続されている。
高周波重畳回路61は、ノイズ除去用のコンデンサC1、DCカット用のカップリングコンデンサC2およびチョークコイルL1を有する。チョークコイルL1がDC入力ノードNaと出力ノードNcとの間に接続され、コンデンサC1がDC入力ノードNaと接地電圧との間に接続され、カップリングコンデンサC2がAC入力ノードNbと出力ノードNcとの間に接続されている。
モニタPD22を測定治具50に装着する前の事前準備として、モニタPD22に予め基準用の光パワーを入射し、このときの光パワーレベルも必要に応じ複数のレベルで変化しながら、そのDC出力データを繰り返し測定する。この測定結果から、モニタ受光デバイス22の受光感度特性、すなわち出力DC電圧と入射光パワーとの関係を求め、これを校正用として記録する。
同様に、高周波重畳された基準用光パワーを照射し、このときの周波数も必要に応じ複数の値で変化しながら、そのAC出力データを繰り返し測定する。この測定結果から、モニタLED19の周波数特性を求め、これを校正用として記録する。なお、モニタLED19と光源LED15の周波数特性が異なる場合は、その校正も行う。つまり、光源LED15の校正用データから、モニタLED19の周波数特性を校正した後、記録する。
ステップ1:モニタPD22を測定治具50に装着し、DUT10にプローブ11を接触させる。この状態で、所定の駆動電流を、LSIテスタ1から高周波重畳回路61およびウェハ測定ボード2の同軸ケーブル25を介して、モニタLED19と光源LED15に流す。
このとき出力リレースイッチS1はオフとしておく。このためAC信号源52からのAC信号は高周波重畳回路61に入力されず、駆動電流に対し高周波重畳が行われない。
これにより、モニタLED19と光源LED15に同一の駆動電流が流れる。このとき両LEDとして、ほぼ同じ特性のものが予め選定されているとすると、両LEDは、ほぼ同量の光パワーを出力し、DUT10とモニタPD22とにそれぞれ、ほぼ同量の光パワーが入射する。また、モニタLED19と光源LED15において、それらの動作電圧(アノードAとカソードK間の電圧)もほぼ同じであることから、互いに消費する電力も同等となる。したがって、モニタLED19と光源LED15では、温度上昇による光出力低下の割合も、たとえば約1%/℃程度で同じとなる。
この測定では、モニタPD22の振幅レベルに基づいて、上記ステップ2で求めた光出力パワーが適切なパワーとなるように定電流源51の駆動電流値を制御することが望ましい。
ステップ1:所定の駆動電流をLSIテスタ1の定電流源51から高周波重畳回路61に流す。また、出力リレースイッチS1をオンし、AC信号源52からAC信号を高周波重畳回路61に与え、そのAC信号を定電流源51から駆動電流に重畳させる。そして、AC信号が重畳された駆動電流を、ウェハ測定ボード2の同軸ケーブル25を介して、測定治具50内のモニタLED19と光源LED15に流す。この時、モニタLED19と光源LED15に同一の駆動電流が流れ、また、両者はほぼ同じ特性のものとして予め選定されている。このためDUT10とモニタPD22からは、ほぼ同量の高周波重畳された光出力が得られる。
この測定では、モニタPD22の振幅レベルに基づいて、上記ステップ2で求めた光出力パワーが適切なパワーとなるように定電流源51およびAC信号源52のDC及び/又はACの駆動電流値を制御することが望ましい。
また光源としてLEDの代わりに半導体レーザを使用することもできる。その場合、半導体レーザに供給する駆動電流を閾値以下に設定すれば、LED光となるので、上記測定方法がそのまま適用できる。
本実施形態が上記第1実施形態と異なる点は、検査対象を半導体ウェハではなく組立て品(チップをパッケージに収納した受光デバイス)としたことである。
図9を図3と比較すると明らかなように、この受光デバイス測定装置は、図3に示すプローブカード基板4を含むウェハ測定ボード2の機能を有し、DUT10がパッケージに収容された組み立て品を保持する検査治具90と、検査治具90上に補助基板13および測定治具50を保持するための保持台91とを備えている。この検査治具90は、図6に示すプローブカード基板4を含むウェハ測定ボード2の機能を全て合わせ持つものである。検査治具90と測定治具50と接続は、同軸ケーブル25,31および電源供給ケーブル28により達成されている。なお、図3に示す同軸ケーブル32の役割、すなわちDUT10と検査治具90との接続は、検査治具90内の内部配線(不図示)により達成されている。
図9と図3の比較において、上記以外の構成は前述した図3の場合と同じであり、同一符号を付して、その構成の説明を省略する。
図1に示す受光デバイス測定装置を本実施形態に適用する場合、ウェハ測定ボード2、プローブカード基板4、半導体ウェハ6、ステージ7およびコンタクトリング8は省略され、図9に示す検査治具90がコネクタ3bに差し込まれて用いられる。このため、プローバ装置5の構成を簡素化し、小型化することができる。
なお、具体的テスト方法の例については、第1実施形態と共通であることから、その説明は省略する。
第1に、モニタPD22により常時光パワーをモニタしているので、DUT10について精度の良い測定ができる。
第2に、レンズなど光学系部材を必要としないので、測定システムのローコスト化、小型化が可能である。
第3に、光源にLEDを使用しているので、測定システムのローコスト化が可能である。また、LEDの交換も容易であり、メンテナンス性も高い。
遮光カバー30を外した時、LEDが発光停止することから安全である。
遮光カバー30および補助基板13により、とくにモニタLED19に対する外来光を遮断することから、使用場所の環境により測定値が変化するのを防ぐことができる。光源LED15も完全に外光から遮断することが望ましい。
なお、本実施形態の受光デバイス測定装置および測定方法は、半導体ウェハの測定システムだけでなく、組み立て品の測定システムにも適用できる。また、光源LED15およびモニタLED19に代えて、半導体レーザでも使用できる。
Claims (8)
- 被検査対象の受光デバイスに光を出射する第1発光デバイスと、
前記第1発光デバイスと異なる向きに光を出射する第2発光デバイスと、
前記第2発光デバイスからの光を受光し、当該光の受光量に応じた出力を発生させる受光手段と、
前記受光手段へ照射する基準用光の電力を変化させて当該受光手段の入力電力と出力電力の関係を校正用の受光感度特性として取得し、前記第1発光デバイスと前記第2発光デバイスを同じ電流で定電流駆動したときに、前記受光手段の出力から得られる出力電力を前記校正用の受光感度特性と参照することで、前記受光デバイスに入射される光電力を求め、前記定電流駆動の電流値を変えながら前記受光デバイスの出力を複数回測定し、各測定の測定値を、前記求めた光電力に基づいて校正することによって前記受光デバイスの受光感度特性を求める測定手段と、
を有する受光デバイス測定装置。 - 前記測定手段は、前記受光手段の出力の振幅レベルに基づいて、前記受光デバイスに入射される前記光電力が測定に適切な電力となるように、定電流駆動の電流値を制御する
請求項1に記載の受光デバイス測定装置。 - 前記第1発光デバイスと前記第2発光デバイスは、所定レベル以下の違いを有するほぼ同一な特性を備えたものとして予め選出されたものである
請求項1または2に記載の受光デバイス測定装置。 - 前記測定手段は、前記第1発光デバイスおよび前記第2発光デバイスに供給する駆動電流にAC信号を重畳する高周波重畳回路を備え、AC信号の周波数を変更して前記受光デバイスの受光感度特性を測定することが可能である
請求項1に記載の受光デバイス測定装置。 - 前記測定手段は、高周波重畳された基準用光電力を高周波成分の周波数を変えながら前記受光手段に照射し、前記受光手段の交流出力を繰り返し測定し、当該測定の結果から前記受光手段の周波数特性を求め、該周波数特性を前記受光デバイスの受光感度特性の校正に用いる
請求項4に記載の受光デバイス測定装置。 - 前記第1発光デバイスと前記第2発光デバイスのうち、すくなくとも前記第2発光デバイスを覆う遮光カバーを有し、
前記遮光カバーを測定治具から取り外すことに連動して前記第1発光デバイスおよび前記第2発光デバイスへの電流供給が停止可能になっている
請求項1に記載の受光デバイス測定装置。 - 前記第1発光デバイスおよび前記第2発光デバイスに電流を供給するためのケーブルのコネクタが、前記遮光カバーが固定される基板に設けられ、かつ、当該コネクタが前記遮光カバーの固定手段を兼用する
請求項6に記載の受光デバイス測定装置。 - ほぼ同一な特性を有する第1発光デバイスと第2発光デバイスとを選出するステップと、
前記第2発光デバイスからの光を受光する受光手段に対し基準用光を照射し、当該基準用光の電力を変化させて当該受光手段の入力電力と出力電力の関係を校正用の受光感度特性として取得するステップと、
前記第1発光デバイスと前記第2発光デバイスとに同一な電流を流す定電流駆動を行うことにより、前記第1発光デバイスからの光を被検査対象の受光デバイスに照射し、前記第1発光デバイスからの光と異なる向きの前記第2発光デバイスからの光を前記受光手段に照射するステップと、
前記受光手段の出力から得られる出力電力を前記校正用の受光感度特性と参照することで、前記受光デバイスに入射される光電力を求めるステップと、
前記定電流駆動の電流値を変えながら前記受光デバイスの出力を複数回測定し、各測定の測定値を、前記求めた光電力に基づいて校正することによって前記受光デバイスの受光感度特性を求めるステップと、
を含む受光デバイス測定方法。
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