JP4644595B2 - Display evaluation apparatus, evaluation method, and program - Google Patents
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Description
本発明は、液晶などのディスプレイのムラを評価する評価装置、評価方法及びプログラムに関し、特にディスプレイの見込み角に起因する輝度変化の問題に依存することなくムラの定量化を行う技術の改善に関する。 The present invention relates to an evaluation apparatus, an evaluation method, and a program for evaluating unevenness of a display such as a liquid crystal, and more particularly to improvement of a technique for quantifying unevenness without depending on a problem of a luminance change caused by the expected angle of display.
従来、ディスプレイのムラを評価する際に、図7に示すように、ディスプレイを撮影して画像化し、画像処理によりムラを定量化することが行われている。 Conventionally, when evaluating unevenness of a display, as shown in FIG. 7, the display is photographed and imaged, and the unevenness is quantified by image processing.
ところで、ムラによっては、ある特定の観視角度から観察した場合にムラが視認されやすくなるが、このような場合は画面の位置によって光の漏れ具合が異なり、単純に画像処理にかけてもムラを正確に定量化出来ないことがあった。具体的には、図7に示すように、ムラを測定する際には、測定点PをディスプレイDの面に対して垂直方向より傾斜した方向から該ディスプレイD上の撮像位置を測定すると、測定点Pに近い撮像位置a1と遠い撮像位置a2とが存在する。このとき、測定点Pから測定した状態で、撮像位置a1と撮像位置a2とでは、光の漏れ具合が異なって測定されるため、正確な定量化を行うことができない要因となる点で改善の余地があった。 By the way, depending on the unevenness, the unevenness is easily seen when observed from a specific viewing angle. In such a case, the light leakage varies depending on the position of the screen, and the unevenness is accurately detected even when the image processing is simply performed. In some cases, it could not be quantified. Specifically, as shown in FIG. 7, when measuring the unevenness, the measurement position P is measured by measuring the imaging position on the display D from the direction inclined from the direction perpendicular to the surface of the display D. There is an imaging position a1 near the point P and an imaging position a2 far away. At this time, in the state measured from the measurement point P, the image pickup position a1 and the image pickup position a2 are measured with different light leaks, and this is an improvement in that it cannot be accurately quantified. There was room.
そこで、従来では、空間周波数処理などで輝度勾配を除去することが行われているが、ムラ自身を低減してしまうという弊害があった。 Therefore, conventionally, the luminance gradient is removed by spatial frequency processing or the like, but there is a disadvantage that unevenness itself is reduced.
本発明は、上記事情に鑑みてなされたもので、その目的は、ディスプレイの見込み角に起因する輝度変化の問題に依存することなくムラの定量化を行うことができるディスプレイの評価装置、評価方法及びプログラムを提供することにある。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object of the present invention is to provide a display evaluation apparatus and an evaluation method capable of quantifying unevenness without depending on the problem of luminance change caused by the expected angle of display. And providing a program.
本発明の上記目的は、下記構成によって達成される。
(1)ディスプレイのムラを定量化する評価装置であって、
複数の撮像位置ごとに前記ディスプレイの一部の画像を撮像する撮像部を備え、
前記撮像部によって撮像された、前記ディスプレイの前記撮像位置ごとの撮像領域における前記画像情報を補間演算する手段と、前記ディスプレイの被測定面の角度を変更可能なディスプレイ回動機構と、該ディスプレイを一定の方向から測定した際の輝度画像を生成し、前記輝度画像よりムラの定量化を実施する手段とを備えていることを特徴とする評価装置。
(2)ディスプレイのムラを定量化する評価方法であって、
複数の撮像位置ごとに前記ディスプレイの一部の画像を撮像部によって、前記ディスプレイの被測定面の角度を変更することで前記撮像部の撮像方向を変えて撮像し、
前記撮像部によって撮像された、前記ディスプレイの前記撮像位置ごとの撮像領域における前記画像情報を補間演算することで、該ディスプレイを一定の方向から測定した際の輝度画像を生成し、前記輝度画像よりムラの定量化することを特徴とする評価方法。
The above object of the present invention is achieved by the following configurations.
(1) An evaluation device for quantifying display unevenness,
An imaging unit that captures a partial image of the display for each of a plurality of imaging positions,
Means for interpolating the image information in the imaging area for each imaging position of the display imaged by the imaging unit, a display rotation mechanism capable of changing the angle of the surface to be measured of the display, and the display An evaluation apparatus comprising: means for generating a luminance image when measured from a certain direction and quantifying unevenness from the luminance image.
(2) An evaluation method for quantifying display unevenness,
A part of the image of the display is imaged by changing the imaging direction of the imaging unit by changing the angle of the measured surface of the display by the imaging unit for each of a plurality of imaging positions,
A luminance image when the display is measured from a certain direction is generated by interpolating the image information in the imaging region for each imaging position of the display captured by the imaging unit, and from the luminance image An evaluation method characterized by quantifying unevenness.
本発明は、評価対象であるのディスプレイを撮像部によって複数の撮像位置において撮像し、撮像位置ごとに画像情報を取得している。そして、得られた撮像位置ごとの画像情報を補間演算することで、特定の撮像位置のみからディスプレイを測定した際に従来問題となっていた、該ディスプレイの位置の相違に起因した輝度のばらつきの影響を抑えることができる。すると、補間演算した後で得られる、一定の方向から測定した際の輝度画像を評価することで、輝度のばらつきを考慮しつつ、より一層正確にムラを定量化することができる。 In the present invention, a display which is an evaluation target is imaged at a plurality of imaging positions by an imaging unit, and image information is acquired for each imaging position. Then, by interpolating the obtained image information for each imaging position, luminance variation due to the difference in the position of the display, which has been a problem in the past when measuring the display from only a specific imaging position, The influence can be suppressed. Then, by evaluating the luminance image obtained after the interpolation calculation and measured from a certain direction, the unevenness can be more accurately quantified while taking the luminance variation into consideration.
また、撮像部をディスプレイの被測定面に対して平行に移動制御すると、被測定面と平行な2次元平面上に複数の撮像位置が定められ、各撮像位置において撮像部によりディスプレイの一部を撮像することができる。すると、各撮像位置に対応する画像情報を該撮像位置ごとに取得することで、ディスプレイ全体を撮像領域に納めることができ、これら複数の画像情報を補間演算することで、ディスプレイ上の位置で、重複した撮像による画像情報の偏りが生じることや撮像できない部位が生じることを防止することができる。 Further, when the imaging unit is controlled to move parallel to the surface to be measured, a plurality of imaging positions are determined on a two-dimensional plane parallel to the surface to be measured, and a part of the display is moved by the imaging unit at each imaging position. An image can be taken. Then, by acquiring the image information corresponding to each imaging position for each imaging position, the entire display can be stored in the imaging area, and by interpolating these multiple pieces of image information, at the position on the display, It is possible to prevent occurrence of bias in image information due to overlapping imaging and occurrence of a part that cannot be imaged.
さらに、ディスプレイの被測定面の角度を変更可能とすると、測定時に、ディスプレイの角度を変えつつ、複数の撮像位置で画像情報を取得することができる。取得された複数の画像情報を補間演算することで、撮像部と撮像位置との見込み角に応じた輝度のばらつきの影響を考慮でき、ディスプレイのムラをより正確に定量化することができる。 Furthermore, if the angle of the surface to be measured of the display can be changed, image information can be acquired at a plurality of imaging positions while changing the angle of the display during measurement. By interpolating the acquired plurality of pieces of image information, it is possible to take into account the influence of luminance variation according to the expected angle between the imaging unit and the imaging position, and to more accurately quantify display unevenness.
本発明によれば、ディスプレイの見込み角に起因する輝度変化の問題に依存することなくムラの定量化を行うことができるディスプレイの評価装置、評価方法及びプログラムを提供できる。 ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the display evaluation apparatus, the evaluation method, and program which can quantify nonuniformity can be provided, without depending on the problem of the brightness change resulting from the prospective angle | corner of a display.
以下、本発明の実施形態を図面に基づいて詳しく説明する。
図1は、本発明にかかるディスプレイの評価装置の第1実施形態の構成を説明する図である。図2は、図1の評価装置を上方からみた状態を説明する図である。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
FIG. 1 is a diagram for explaining the configuration of a first embodiment of a display evaluation apparatus according to the present invention. FIG. 2 is a diagram for explaining a state of the evaluation device of FIG. 1 as viewed from above.
ディスプレイの評価装置10は、評価対象であるディスプレイ11の被測定面を撮像する撮像部21を備えている。撮像部21は、任意の撮像位置において、ディスプレイ11の被測定面の一部を撮像領域として撮像可能な機能を有し、CCDカメラなどを使用することができる。撮像部21は、複数の撮像位置ごとに撮像することで、ディスプレイ11の被測定面の全体を撮像することができる。
The
ディスプレイ11は、図示しない支持台、壁、ステージ上に固定されている。
The
評価装置10は、撮像部21をディスプレイ11の被測定面に対して平行に移動制御できる撮像位置調整機構を備えている。
評価装置10の現像位置調整機構は、撮像部21をディスプレイ11に対して横方向(図1中矢印x方向)に案内する第1シャフト12と、該第1シャフト12の軸方向に可動に取り付けられ、撮像部21を固定可能な第1クランプ13と、第1シャフト12の一方の端部に固定された第2クランプ15と、該第2クランプ15を支持し、且つ、ディスプレイ11に対して縦方向(図1中矢印y方向)に案内する第2シャフト14と、を備えている。第2シャフト14の下方端部(図1中の下側端部)は、台座などで固定されている。
The
The developing position adjusting mechanism of the
第1シャフト12と第2シャフト14には、それぞれ、第1クランプ13と第2クランプ15との位置やその移動量を目視可能なように目盛りやマーカなどのインジケータが付されていてもよい。
Indicators such as scales and markers may be attached to the
第1クランプ13及び第2クランプ15は、転がり玉軸受を備えたライナーガイドを使用してもよい。また、第1クランプ13及び第2クランプ15は、評価を行う作業者が手指で動かす構成であってもよく、駆動部によってそれぞれ軸方向に移動させる構成としてもよい。
The
本実施形態では、図2に示すように、撮像部21が、ディスプレイ11の被測定面に対して平行移動するように設定されている。
In the present embodiment, as shown in FIG. 2, the
測定時には、撮像部21が、第1クランプ13を第1シャフト12の軸方向に移動させることで、ディスプレイ11に対するx方向の位置を調整でき、また、第2クランプ15を第2シャフト14の軸方向に移動させることで、ディスプレイ11に対するy方向の位置を調整できる。
At the time of measurement, the
次に、評価装置10の制御系について説明する。
評価装置10は、撮像部21に撮像を実行するための指示を与えるとともに、撮像部21によって得られた画像情報を取得する撮像制御部32を備えている。また、評価装置10は、撮像制御部32から複数の画像情報を取得し、これら複数の画像情報に基づいて補間演算を行う補間演算部34と、補間演算部34で演算された値に基づいて一定の方向から測定した際と同質の輝度画像を生成する画像生成部36とを、備えている。撮像制御部32,補間演算部34,及び画像生成部36のうち、全部又は複数がパーソナルコンピュータなどの演算処理部で実行される構成としてもよい。
Next, the control system of the
The
図3は、ディスプレイと該ディスプレイを撮像する撮像部の撮像位置との関係を説明する図である。なお、図3は、ディスプレイ11の被測定面を正面視した状態を示している。また、図3中において数字を丸で囲んだ位置が撮像部の撮像位置を示している。
FIG. 3 is a diagram illustrating the relationship between the display and the imaging position of the imaging unit that images the display. FIG. 3 shows a state in which the surface to be measured of the
本実施形態においては、複数の撮像位置Tが、ディスプレイ11の被測定面に対して平行な2次元平面において縦方向及び横方向ともに等間隔に正方格子状になるように設定されている。撮像位置に付された数字の順に、撮像部の位置を撮像位置調整機構によって調整し、各撮像位置ごとに撮像を行うことで、各撮像位置に対応する撮像領域の画像情報をそれぞれ取得する。
In the present embodiment, the plurality of imaging positions T are set to form a square lattice at equal intervals in the vertical direction and the horizontal direction on a two-dimensional plane parallel to the surface to be measured of the
具体的には、最初、撮像位置Tのうち1で示す位置に撮像部を移動し、撮像を行うことで、1の撮像位置に対応する撮像領域の画像情報を得る。その後、2の撮像位置に撮像部を移動し、撮像を行うことで、2の撮像位置に対応する撮像領域の画像情報を得る。同様に撮像位置Tの3〜25について、同様の操作を行うことで、複数(図3においては25個)の画像情報を取得できる。
Specifically, first, the imaging unit is moved to a position indicated by 1 in the imaging position T and imaging is performed, thereby obtaining image information of the imaging area corresponding to the one imaging position. Thereafter, the image pickup unit is moved to the second image pickup position and image pickup is performed to obtain image information of the image pickup region corresponding to the second image pickup position. Similarly, a plurality of image information (25 pieces in FIG. 3) can be acquired by performing the same operation on the
本実施形態において、撮像位置Tを被測定面に対して正方格子状に設定したが、縦方向と横方向との間隔が異なっていてもよい。しかし、本実施形態のように、撮像位置Tを被測定面に対して正方格子状に設定することで、後述する補間演算の処理負担を軽減することができる。また、撮像位置Tの数は特に限定されず、撮像部とディスプレイとの距離h(図3参照)や撮像部の撮像領域に応じて適宜設定することができる。撮像位置Tの数及びその位置がx−y座標上の位置情報として、撮像制御部32や補間演算部34やその他の記憶部に予め入力されていてもよい。
In the present embodiment, the imaging position T is set in a square lattice shape with respect to the surface to be measured, but the interval between the vertical direction and the horizontal direction may be different. However, by setting the imaging position T in a square lattice pattern with respect to the surface to be measured as in the present embodiment, it is possible to reduce the processing load of the interpolation calculation described later. In addition, the number of imaging positions T is not particularly limited, and can be set as appropriate according to the distance h (see FIG. 3) between the imaging unit and the display and the imaging region of the imaging unit. The number of imaging positions T and the positions thereof may be input in advance to the
次に、図面を参照して、本実施形態の評価装置を使用した評価方法の手順を説明する。図4は、第1実施形態の評価装置を使用した評価方法の手順を示すフローチャートである。なお、以下に説明する評価方法の手順において、すでに説明した部材などと同等な構成・作用を有する部材等については、図中に同一符号又は相当符号を付すことにより、説明を簡略化或いは省略する。 Next, the procedure of an evaluation method using the evaluation apparatus of this embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 4 is a flowchart showing a procedure of an evaluation method using the evaluation apparatus of the first embodiment. In the procedure of the evaluation method described below, members having the same configuration / action as those already described are denoted by the same or corresponding reference numerals in the drawing, and the description is simplified or omitted. .
最初に、所定の位置にディスプレイ11を固定する。そして、図1,3に示すように、撮像部21をディスプレイ11の被測定面に対して平行な2次元平面上に定められた撮像位置Tの1つに撮像部21を移動し、固定する(ステップS11)。
First, the
撮像部21の位置を固定した後、撮像制御部32より撮像を実行する信号を送信し、固定された撮像部21の位置における、ディスプレイ11上の撮像領域を撮像する(ステップS12)。
After fixing the position of the
撮像後、他に撮像を実行していない撮像位置Tがあるか判別し(ステップS13)、撮像を実行していない撮像位置Tがある場合には、ステップS11に進み、撮像を実行していない撮像位置Tへ撮像部を移動し、その後、同様に撮像を実行する(ステップS12)。 After imaging, it is determined whether there is another imaging position T where imaging has not been performed (step S13). If there is an imaging position T where imaging has not been performed, the process proceeds to step S11 and imaging has not been performed. The imaging unit is moved to the imaging position T, and then imaging is performed in the same manner (step S12).
他に撮像を実行していない撮像位置Tがないと判別した場合には、補間演算を実行するステップ(ステップ14)へ進む。補間演算を実行するステップでは、複数の撮像位置Tごとに撮像されたディスプレイ11の画像情報に基づいて、補間演算を行う。補間演算の手法を図3を例にして説明する。ここで、ディスプレイ11の被測定面の撮影位置1〜25に対応する各点を、全てその撮影位置ごとに垂直方向から見た場合の画像とする。ここで、例えば、A点は、撮影位置7,8,12,13の各方向から撮像された輝度値の情報があり、これら4点の値から二次元補間により垂直方向から見た際の輝度値を算出することが可能である。さらに、周囲の測定位置1,2,3,4,6,9,11,14,16,17,18,19まで含めて二次元の非線形補間を実施することで、より正確な補間値を算出することが可能である。
If it is determined that there is no other imaging position T where imaging has not been performed, the process proceeds to a step (step 14) in which interpolation calculation is performed. In the step of executing the interpolation calculation, the interpolation calculation is performed based on the image information of the
補間演算によって得られた値に基づいて、画像生成部36で輝度画像を生成する。そして、該ディスプレイを一定の方向から測定した際と同質の輝度画像を生成し、この輝度画像に基づいてムラの定量評価尺度を計算することで、評価値を算出することができる(ステップS15)。定量評価尺度を計算する手法は特に限定されないが、例えば、特開2002−257679号公報の手法を適用することができる。
Based on the value obtained by the interpolation calculation, the
本実施形態の評価装置10及び評価方法は、評価対象であるのディスプレイ11を撮像部21によって複数の撮像位置Tにおいて撮像し、撮像位置Tごとに画像情報を取得している。そして、得られた撮像位置ごとの画像情報を補間演算することで、特定の撮像位置のみからディスプレイ11を測定した際に従来問題となっていた、該ディスプレイ11の位置の相違に起因した輝度のばらつきの影響を抑えることができる。すると、補間演算した後で得られる、一定の方向から測定した際の輝度画像を評価することで、輝度のばらつきを考慮しつつ、より一層正確にムラを定量化することができる。
In the
また、本実施形態のように、撮像部21をディスプレイ11の被測定面に対して平行に移動制御すると、被測定面と平行な2次元平面上に複数の撮像位置Tが定められ、各撮像位置Tにおいて撮像部21によりディスプレイ11の一部を撮像することができる。すると、各撮像位置Tに対応する画像情報を該撮像位置ごとに取得することで、ディスプレイ11全体を撮像領域に納めることができ、これら複数の画像情報を補間演算することで、ディスプレイ11上の位置で、重複した撮像による画像情報の偏りが生じることや撮像できない部位が生じることを防止することができる。
Further, when the
さらに、上記評価方法の手順を有するプログラムとしてもよい。具体的に、プログラムは、複数の撮像位置Tごとにディスプレイ11の一部の画像を撮像部21によって撮像し、撮像部21によって撮像された、ディスプレイ11の撮像位置Tごとの撮像領域における画像情報を補間演算するステップと、該ディスプレイが一定の方向から測定した際の輝度画像を生成するステップと、輝度画像よりムラの定量化するステップとを有している。このようなプログラムによれば、処理装置によって実行することで、該処理装置に接続された制御装置によってムラの定量化を行うことができる。
Furthermore, it is good also as a program which has the procedure of the said evaluation method. Specifically, the program captures a part of the image of the
次に、本発明にかかる評価装置の第2実施形態の構成を説明する。
図5は、第2実施形態の評価装置の構成を示す図である。なお、以下に説明する実施形態において、すでに説明した部材などと同等な構成・作用を有する部材等については、図中に同一符号又は相当符号を付すことにより、説明を簡略化或いは省略する。
Next, the structure of 2nd Embodiment of the evaluation apparatus concerning this invention is demonstrated.
FIG. 5 is a diagram illustrating the configuration of the evaluation apparatus according to the second embodiment. In the embodiments described below, members and the like having the same configuration / action as those already described are denoted by the same or corresponding reference numerals in the drawings, and the description thereof is simplified or omitted.
本実施形態の評価装置20は、ディスプレイ31が被測定面の角度を撮像部21に対して変更可能なディスプレイ回動機構を備えた構成である。具体的には、ディスプレイ31は、略長方形を有するフレーム部24と、該フレーム部24に設けられた一対の軸23に一点鎖線で示す軸線C2を回転軸として回転可能に取付けられている。また、フレーム部24の下辺部分には軸22が設けられており、図示しない回転駆動部によって、軸線C1を回転軸として回転可能に支持されている。このように、軸22,23,フレーム部24が、ディスプレイ31の被測定面を上下及び左右向きとなるように所定の角度で傾けることができるディスプレイ回動機構を構成している。
In the
ディスプレイ31は、評価を行う作業者が手指で角度を変更する構成であってもよく、または、図示しない駆動部によって回転支持部材に駆動力を供給し、所望の角度となるようにディスプレイ31を回動させる構成としてもよい。
The
評価装置20は、上記第1実施形態の評価装置10と同様の制御系を備えており、すなわち、撮像部21の画像情報を取得する撮像制御部32と、撮像制御部32から複数の画像情報を取得し、これら複数の画像情報に基づいて補間演算を行う補間演算部34と、補間演算部34で演算された値に基づいて一定の方向から測定した際と同質の輝度画像を生成する画像生成部36とを、備えている。撮像制御部32,補間演算部34,及び画像生成部36の機能は上記第1実施形態の評価装置10と同じとすることができる。
The
評価装置20は、撮像部21を所定の位置に固定した状態で、該撮像部21から、任意の角度に被測定部が設定されたディスプレイ31に向って、2次元平面上に定められた複数の撮像位置で撮像を行う。本実施形態では、複数の撮像位置を定義する2次元平面は、ディスプレイ31の被測定面に対して変更される。これら複数の撮像位置は、上記第1実施形態と同様に配置することができ、撮像位置同士の縦方向及び横方向ともに等間隔に正方格子状に設定されていてもよく、縦方向と横方向との間隔が異なっていてもよい。しかし、撮像位置を被測定面に対して正方格子状に設定することで、後述する補間演算の処理負担を軽減することができる。撮像位置の数は特に限定されず、撮像部21とディスプレイ20との距離や撮像部21の撮像領域に応じて適宜設定することができる。
The
評価装置20によってディスプレイ31の評価を行う際は、ディスプレイ31の被測定面をディスプレイ回動機構によって調整し、複数の撮像位置ごとに撮像を行うことで、ディスプレイ31の被測定面の角度ごとに、各撮像位置に対応する撮像領域の画像情報を取得する。
When evaluating the
次に、図面を参照して、本実施形態の評価装置を使用した評価方法の手順を説明する。図6は、第2実施形態の評価装置20を使用した評価方法の手順を示すフローチャートである。なお、以下に説明する評価方法の手順において、すでに説明した部材などと同等な構成・作用を有する部材等については、図中に同一符号又は相当符号を付すことにより、説明を簡略化或いは省略する。
Next, the procedure of an evaluation method using the evaluation apparatus of this embodiment will be described with reference to the drawings. FIG. 6 is a flowchart showing the procedure of the evaluation method using the
最初に、ディスプレイ31の被測定面を所定の角度に設定する(ステップS21)。そして、図5に示すように、撮像部21によって、2次元平面上に定められた複数の撮像位置Tごとに撮像を実行する(ステップS22)。
First, the measurement target surface of the
撮像後、他に撮像を実行していない撮像位置Tがあるか判別し(ステップS23)、撮像を実行していない撮像位置Tがある場合には、ステップS24に進み、撮像を実行していない撮像位置Tへ撮像部21を設定し、その後、同様に撮像を実行する(ステップS22)。
After imaging, it is determined whether there is another imaging position T where imaging has not been performed (step S23). If there is an imaging position T where imaging has not been performed, the process proceeds to step S24, and imaging has not been performed. The
他に撮像を実行していない撮像位置Tがないと判別した場合には、ステップS25に進み、ディスプレイの被測定面の角度を、評価で必要となる角度の範囲全てで撮像を終了しているかを判別する(ステップS23)。評価で必要となる角度の範囲において、撮像を行っていない角度がある場合には、ステップS21に進み、同様にディスプレイの角度をディスプレイ回動機構によって調整し(ステップS21)、撮像を行う(ステップ22)。 If it is determined that there is no other imaging position T where imaging has not been performed, the process proceeds to step S25, and the imaging of the surface to be measured of the display has been completed within the entire range of angles required for evaluation. Is determined (step S23). If there is an angle where imaging is not performed within the range of angles required for evaluation, the process proceeds to step S21, and the display angle is similarly adjusted by the display rotation mechanism (step S21), and imaging is performed (step). 22).
評価で必要となる角度の範囲全てで撮像を終了している場合には、補間演算を実行するステップ(ステップ26)へ進む。補間演算を実行するステップでは、被測定面が所定の角度ごとに、複数の撮像位置Tで撮像されたディスプレイ31の画像情報に基づいて、補間演算を行う。補間演算としては、上記第1実施形態と同様の処理を行う。
If the imaging has been completed in the entire range of angles required for the evaluation, the process proceeds to a step (step 26) for executing an interpolation calculation. In the step of executing the interpolation calculation, the calculation is performed based on the image information of the
そして、上記第1実施形態と同様に、補間演算によって得られた値に基づいて、画像生成部36で輝度画像を生成する。そして、該ディスプレイを一定の方向から測定した際と同質の輝度画像を生成し、この輝度画像に基づいてムラの定量評価尺度を計算することで、評価値を算出することができる(ステップS27)。定量評価尺度を計算する手法は特に限定されず、例えば、特開2002−257679号公報の手法を適用することができる。
Then, similarly to the first embodiment, the
本実施形態の評価装置及び評価方法によれば、上記第1実施形態と同様に、ディスプレイを一定の方向から測定した際と同質の輝度画像を評価することで、輝度のばらつきを考慮しつつ、より一層正確にムラを定量化することができる。 According to the evaluation apparatus and the evaluation method of the present embodiment, in the same manner as in the first embodiment, by evaluating a luminance image of the same quality as when the display was measured from a certain direction, while taking into account variations in luminance, Unevenness can be quantified more accurately.
また、ディスプレイ31の被測定面の角度を変更可能とすると、測定時に、ディスプレイ31の角度を変えつつ、複数の撮像位置Tで画像情報を取得することができる。取得された複数の画像情報を補間演算することで、撮像部31と撮像位置Tとの見込み角に応じた輝度のばらつきの影響を考慮でき、ディスプレイ31のムラをより正確に定量化することができる。
Further, if the angle of the measurement target surface of the
さらに、第1実施形態と同様に、上記評価方法の手順を有するプログラムとしてもよい。このようなプログラムによれば、処理装置によって実行することで、該処理装置に接続された制御装置によってムラの定量化を行うことができる。 Furthermore, it is good also as a program which has the procedure of the said evaluation method similarly to 1st Embodiment. According to such a program, the unevenness can be quantified by the control device connected to the processing device by being executed by the processing device.
10,20 評価装置
11,31 ディスプレイ
21 撮像部
32 撮像制御部
34 補間演算部
36 画像生成部
10, 20
Claims (2)
複数の撮像位置ごとに前記ディスプレイの一部の画像を撮像する撮像部を備え、
前記撮像部によって撮像された、前記ディスプレイの前記撮像位置ごとの撮像領域における前記画像情報を補間演算する手段と、前記ディスプレイの被測定面の角度を変更可能なディスプレイ回動機構と、該ディスプレイを一定の方向から測定した際の輝度画像を生成し、前記輝度画像よりムラの定量化を実施する手段とを備えていることを特徴とする評価装置。 An evaluation device for quantifying display unevenness,
An imaging unit that captures a part of the image of the display for each of a plurality of imaging positions;
Means for interpolating the image information in the imaging area for each imaging position of the display imaged by the imaging unit, a display rotation mechanism capable of changing the angle of the surface to be measured of the display, and the display An evaluation apparatus comprising: means for generating a luminance image when measured from a certain direction and quantifying unevenness from the luminance image.
複数の撮像位置ごとに前記ディスプレイの一部の画像を撮像部によって、前記ディスプレイの被測定面の角度を変更することで前記撮像部の撮像方向を変えて撮像し、 A part of the image of the display is imaged by changing the imaging direction of the imaging unit by changing the angle of the measured surface of the display by the imaging unit for each of a plurality of imaging positions,
前記撮像部によって撮像された、前記ディスプレイの前記撮像位置ごとの撮像領域における前記画像情報を補間演算することで、該ディスプレイを一定の方向から測定した際の輝度画像を生成し、前記輝度画像よりムラの定量化することを特徴とする評価方法。 A luminance image when the display is measured from a certain direction is generated by performing interpolation calculation on the image information in the imaging region for each imaging position of the display, which is captured by the imaging unit, and from the luminance image An evaluation method characterized by quantifying unevenness.
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Citations (5)
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---|---|---|---|---|
JP2002257679A (en) * | 2001-02-23 | 2002-09-11 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Method of obtaining luminance information, image quality evaluating method, device of obtaining luminance information of display apparatus and image quality evaluating method of the display apparatus |
JP2003172667A (en) * | 2001-12-05 | 2003-06-20 | Hiroshi Iseda | Apparatus for measuring photoconductor luminance pattern |
WO2003071794A1 (en) * | 2002-02-19 | 2003-08-28 | Olympus Corporation | Image correction data calculation method, image correction data calculation device, and projection system |
JP2004186789A (en) * | 2002-11-29 | 2004-07-02 | Mitsubishi Electric Corp | Image evaluation apparatus |
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Patent Citations (5)
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---|---|---|---|---|
JP2002257679A (en) * | 2001-02-23 | 2002-09-11 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | Method of obtaining luminance information, image quality evaluating method, device of obtaining luminance information of display apparatus and image quality evaluating method of the display apparatus |
JP2003172667A (en) * | 2001-12-05 | 2003-06-20 | Hiroshi Iseda | Apparatus for measuring photoconductor luminance pattern |
WO2003071794A1 (en) * | 2002-02-19 | 2003-08-28 | Olympus Corporation | Image correction data calculation method, image correction data calculation device, and projection system |
JP2004186789A (en) * | 2002-11-29 | 2004-07-02 | Mitsubishi Electric Corp | Image evaluation apparatus |
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