JP4632142B2 - 2軸磁界センサ - Google Patents

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Description

本発明は磁気抵抗素子を用いた方位計、特に磁気抵抗素子にバイアス磁界を印加しながら方位を測定する2軸磁界センサに関するものである。
磁気抵抗素子を用いて方位を測定する磁界センサは、特許文献1に開示されている。平面基板上に形成された1個の略正方形の外観をした平面コイルとコイルの辺と所定の角度を持って交差する4個の磁気抵抗素子対からなっている。平面コイルに直流電流を流すことで、磁気抵抗素子を磁気的に十分に飽和させるリセット磁界と測定時に必要な適切な磁界(バイアス磁界)を印加することができる。この場合、リセット又はバイアス磁界はX方向、−X方向、Y方向、−Y方向の4方向に同じ大きさの磁界を同時に印加することができる。
また、特許文献2には、平面基板上に形成された2個の平面コイルと1組の磁気感知構造(この場合バーバーポール型磁気抵抗素子からなる抵抗ブリッジ)が開示されている。第一の平面コイルに直流電流を流しバーバーポール型磁気抵抗素子を磁気的に飽和させるリセット磁界を印加し、第二の平面コイルに直流電流を流し、外部磁界を打ち消す磁界をバーバーポール型磁気抵抗素子に印加することができる。
[特許文献1]日本特許3573100号(対応する米国特許6,55,007号(登録日2003年4月29日))
[特許文献2]特表2005−502888号(対応する米国特許6,717,403号(登録日2004年4月6日))
磁界センサで地磁気を計測し、方位を求めるときに方位誤差を与えるのが地磁気以外の外部磁界である。方位を検出するには、地磁気を2個の1軸磁界センサを直角に組合せるか2軸以上の磁界センサで計測し、各軸の計測値の比から磁界センサの基準方向と地磁気ベクトルとの角度を演算し方位角として出力する。このとき、地磁気以外に外部磁界が存在すると、磁界センサが計測する磁界は地磁気と外部磁界との合成磁界となり、演算した角度が正確な方位角を示さない。演算された方位は実方位からオフセットした状態であるので、オフセットを与える外部磁界を外部オフセット磁界と称する。以降、特に断りの無い限り外部オフセット磁界と言う。
鉄橋や鉄塔、鉄筋コンクリート製ビルディングなど、磁界センサの状態に関係なく定常的もしくは恒常的に存在する磁界は一見外部オフセット磁界に見られるが、この外部磁界は測定された地磁気に既に合成されているので、外部オフセット磁界と呼ばない。しかし、この外部磁界の影響を排除することは不可能である。
外部オフセット磁界は、磁界センサに対し同じ方向で一定の強度で印加される磁界である。例えば、磁界センサが実装されている回路基板上にある磁性体部品や、磁界センサが装着された自動車のボディなどで生じる。外部オフセット磁界は、何らかの方法でその外部オフセット磁界の影響を排除もしくは低減することができる。
外部オフセット磁界の影響を排除もしくは低減する方法として、予め磁界センサに印加される外部オフセット磁界を計測しておき、各軸の計測値の比を演算する前に外部オフセット磁界分を差し引くことで影響を排除することができる。また他の方法として、外部オフセット磁界そのものを打ち消す磁界を磁気抵抗素子近傍に印加して除くことができる。
外部オフセット磁界を計算で差し引くことは、比較的簡単な計算で実現できる。しかし、方位計に用いられるような弱磁界を計測する磁界センサは、高感度設計がなされているため、地磁気の5倍〜20倍程度の大きな外部オフセット磁界を計測する場合、計測精度が悪くなる。つまり、外部オフセット磁界の値を正確に測ることができない。不正確な外部オフセット磁界の値を用いて計算を行うと演算して求めた方位の精度が悪くなる。
外部オフセット磁界そのものを打ち消す磁界を磁気抵抗素子近傍に印加することは、磁界センサが検出する磁界が地磁気のような弱磁界の場合有効である。そのため、磁界センサを高感度設計とすることができる。
特許文献1では、1個の平面コイルで−X方向、X方向、−Y方向、Y方向の4方向に同じ大きさのリセット磁界又はバイアス磁界を磁気抵抗素子に印加することが出来るが、X軸、Y軸の両方向に同じ大きさの磁界を印加するので、外部オフセット磁界を打ち消す磁界を発生させることができない。
また、特許文献2では、リセット磁界用の第一の平面コイルと外部オフセット磁界を打ち消すための第二の平面コイルが設けられている。しかし、リセット磁界と外部オフセット磁界を打ち消す磁界の方向が直交しているため、2個の平面コイルは2層構造とせざるを得ず、磁気センサの構造が複雑となるだけでなく、製造工数も多くなる。また、特許文献2には明記されていないが、リセット磁界の方向と外部オフセット磁界を打ち消す磁界の方向とが共に同じ方向であるので、それは1軸の磁界センサであることは明白である。そのため、方位計としても用いる場合は、少なくともこの磁界センサを2個用い、互いに計測軸を直交させるように配置する必要があるため、方位計の寸法が大きくなる。
本発明の目的とするところは、磁気抵抗素子にリセット磁界とバイアス磁界とを印加するのに平面コイルを用いて、薄膜で平面コイルを構成することができて、厚さを極めて薄くかつ面積を小さくでき、外部オフセット磁界を打ち消す磁界を発生させる機能を有する2軸磁界センサを提供することである。
本発明の2軸磁界センサは、平行な2本の第一導体と、第一導体に垂直で平行な2本の第二導体とを有する平面コイルと、
2本の前記第一導体の一方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子と、2本の前記第一導体の他方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子とからなり、これら磁気抵抗素子の長手方向が互いに非平行で、これら磁気抵抗素子の2本の前記第一導体間にある端が互いに接続されている1対の第一磁気抵抗素子と、
2本の前記第一導体の前記他方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子と、2本の前記第一導体の前記一方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子とからなり、これら磁気抵抗素子の長手方向が互いに非平行で、これら磁気抵抗素子の2本の前記第一導体間にある端が互いに接続されている1対の第二磁気抵抗素子と、
2本の前記第二導体の一方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子と、2本の前記第二導体の他方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子とからなり、これら磁気抵抗素子の長手方向が互いに非平行で、これら磁気抵抗素子の2本の前記第二導体間にある端が互いに接続されている1対の第三磁気抵抗素子と、
2本の前記第二導体の前記他方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子と、2本の前記第二導体の前記一方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子とからなり、これら磁気抵抗素子の長手方向が互いに非平行で、これら磁気抵抗素子の2本の前記第二導体間にある端が互いに接続されている1対の第四磁気抵抗素子とを前記平面コイルに近接し平面コイルに平行な平面内に有する。2軸磁界センサは更に、第一導体の一方と交差している2個の磁気抵抗素子を飽和させる磁界をそれら磁気抵抗素子に印加する電流を第一導体の前記一方に流し、
第一導体の他方と交差している2個の磁気抵抗素子を反対方向に飽和させる磁界をそれら磁気抵抗素子に印加する電流を第一導体の前記他方に流し、
第二導体の一方と交差している2個の磁気抵抗素子を飽和させる磁界をそれら磁気抵抗素子に印加する電流を第二導体の前記一方に流し、
第二導体の他方と交差している2個の磁気抵抗素子を反対方向に飽和させる磁界をそれら磁気抵抗素子に印加する電流を第二導体の前記他方に流し、
その後、各磁気抵抗素子に加えられた飽和させる磁界に反対向きのある大きさのバイアス磁界と、外部オフセット磁界を打ち消す磁界との合計磁界をそれぞれの磁気抵抗素子に印加する電流を第一導体と第二導体それぞれに流すための直流電源を有する。更に、1対の第一磁気抵抗素子の2本の第一導体の外側にある端間と、1対の第二磁気抵抗素子の2本の第一導体の外側にある端間と、1対の第三磁気抵抗素子の2本の第二導体の外側にある端間と、1対の第四磁気抵抗素子の2本の第二導体の外側にある端間とに測定用直流電圧を印加する測定電源を有する。更に、前記測定用直流電圧を各磁気抵抗素子対に印加している間に、1対の第一磁気抵抗素子の前記接続された端から第一中間電位出力を取り出し、1対の第二磁気抵抗素子の前記接続された端から第二中間電位出力を取り出し、第一中間電位出力と第二中間電位出力との第一電位出力差を求め、1対の第三磁気抵抗素子の前記接続された端から第三中間電位出力を取り出し、1対の第四磁気抵抗素子の前記接続された端から第四中間電位出力を取り出し、第三中間電位出力と第四中間電位出力との第二電位出力差を求め、前記第一電位出力差と前記第二電位出力差から磁界方位を求める機器を有する。
本発明の前記2軸磁界センサで、各磁気抵抗素子の長手方向が導体と40度以上70度未満で交差していることが好ましい。
本発明の前記2軸磁界センサで、2本の第一導体の一方と2本の第二導体の他方とで直角三角形平面コイルの2辺を形成して直列に接続されて前記直流電源に接続されているとともに、
2本の第二導体の一方と2本の第一導体の他方とで他の直角三角形平面コイルの2辺を形成して直列に接続されて前記直流電源に接続されていることができる。前記2個の直角三角形平面コイルの斜辺にある導体同士が隣り合って設けられていることができる。
本発明の2軸磁界センサで、1対の第一磁気抵抗素子の一方と1対の第二磁気抵抗素子の他方とに交差している第一導体の一方と、第二導体の他方が1対の第三磁気抵抗素子の他方と交差している第二導体の前記他方の部分と、第二導体の一方が1対の第四磁気抵抗素子の他方と交差している第二導体の前記一方の部分とによって長方形平面コイルの三辺を形成して接続されて前記直流電源につながれており、
1対の第一磁気抵抗素子の他方と1対の第二磁気抵抗素子の一方とに交差している第一導体の他方と、第二導体の一方が1対の第三磁気抵抗素子の一方と交差している第二導体の前記一方の部分と、第二導体の他方が1対の第四磁気抵抗素子の一方と交差している第二導体の前記他方の部分とによって他の長方形平面コイルの三辺を形成して接続されて前記直流電源につながれており、
前記2個の長方形平面コイルの残りの辺にある導体同士が隣り合って設けられていることができる。
本発明では同一平面に複数個の略直角二等辺三角形状や略方形の平面コイルを形成することで、磁気抵抗素子にリセット磁界を印加した後、バイアス磁界印加と同時に外部オフセット磁界を打ち消して磁界(地磁気)を測定することが出来る。また、平面コイルは同一平面に形成するため、構造が簡単で、小型で低価格な磁界センサを作ることが出来る。更に本発明の2軸磁界センサによれば、方位計や電流センサ、その他の弱磁界センサとしても使用することができる。
図1は本発明の実施例1の2軸磁界センサを示す模式図である。 図2は抵抗と印加磁界強度との関係を示すグラフである。 図3は本発明の実施例1における印加磁界の説明図である。 図4は、図2のグラフを拡大して示すグラフである。 図5は、オフセット電流の測定を説明する図ある。 図6は本発明による実施例2の2軸磁界センサを示す模式図である。 図7は本発明による実施例3の2軸磁界センサを示す模式図である。 図8は本発明による実施例4の2軸磁界センサを示す模式図である。 図9は抵抗と印加磁界強度との関係を示す一般的なグラフである。 図10は抵抗と印加磁界強度との関係のヒステリシスを示すグラフである。
符号の説明
1,1a,1b,1c 平面コイル
1a′,1a″,1b′,1b″ 直角二等辺三角形平面コイル
1c′,1c″ 長方形平面コイル
11,12 第一導体
13,14 第二導体
2,3,4,5 磁気抵抗素子対
21,22,31,32,41,42,51,52 磁気抵抗素子
61,62,63,64 直流電源
70 測定電源
80 磁界方位を求める機器
90 制御器
以下本発明を図面を参照しながら実施例に基づいて詳細に説明する。説明を判り易くするため、同一の部品、部位には同じ符号を用いている。
本発明の実施例1の2軸磁界センサを模式図で図1に示す。実施例1の2軸磁界センサは、平面コイル1と、平面コイルに近接してその平面コイルに平行な平面内に設けられた4対の磁気抵抗素子2,3,4,5とを持っている。平面コイル1は平行な2本の第一導体11,12と、第一導体11,12に垂直で平行な2本の第二導体13,14とからなっている。4対の磁気抵抗素子は1対の第一磁気抵抗素子2、1対の第二磁気抵抗素子3、1対の第三磁気抵抗素子4、及び1対の第四磁気抵抗素子5とからなっている。1対の第一磁気抵抗素子2は、2本の第一導体11,12の一方(例えば、第一導体11)のみと交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子21と、他方(例えば、第一導体12)のみと交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子22とからなり、これら磁気抵抗素子21,22の長手方向が互いに非平行となっている。1対の第二磁気抵抗素子3は、2本の第一導体11,12の他方(例えば、第一導体12)のみと交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子31と、一方(例えば、第一導体11)のみと交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子32とからなり、これら磁気抵抗素子31,32の長手方向が互いに非平行となっている。1対の第三磁気抵抗素子4は、2本の第二導体13,14の一方(例えば、第二導体13)のみと交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子41と、他方(例えば、第二導体14)のみと交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子42とからなり、これら磁気抵抗素子41,42の長手方向が互いに非平行となっている。1対の第四磁気抵抗素子5は、2本の第二導体13,14の他方(例えば、第二導体14)のみと交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子51と、一方(例えば、第二導体13)のみと交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子52とからなり、これら磁気抵抗素子51,52の長手方向が互いに非平行となっている。各磁気抵抗素子の長手方向は導体と30度以上90度未満で交差し、好ましくは40度以上70度未満で交差するが、図1では45度での交差を示している。そして、各対の磁気抵抗素子は互いにその長手方向が直角となっている。
1対の第一磁気抵抗素子2にある磁気抵抗素子21と磁気抵抗素子22との、平行な2本の第一導体11,12間にある端が互いに接続されている。1対の第二磁気抵抗素子3にある磁気抵抗素子31と磁気抵抗素子32との、平行な2本の第一導体11,12間にある端が互いに接続されている。1対の第三磁気抵抗素子4にある磁気抵抗素子41と磁気抵抗素子42との、平行な2本の第二導体13,14間にある端が互いに接続されている。1対の第四磁気抵抗素子5にある磁気抵抗素子51と磁気抵抗素子52との、平行な2本の第二導体13,14間にある端が互いに接続されている。更に、第一導体11,12の一方と交差している2個の磁気抵抗素子21,32は互いに長手方向が非平行で、図1ではそれらの長手方向が直角となっている。第一導体11,12の他方と交差している2個の磁気抵抗素子31,22は互いに長手方向が非平行で、図1ではそれらの長手方向が直角となっている。第二導体13,14の一方と交差している2個の磁気抵抗素子41,52は互いに長手方向が非平行で、図1ではそれらの長手方向が直角となっている。第二導体13,14の他方と交差している2個の磁気抵抗素子51,42は互いに長手方向が非平行で、図1ではそれらの長手方向が直角となっている。
平面コイル1の2本の第一導体11,12の一方が直流電源61に接続され、他方が直流電源62に接続されている。また、2本の第二導体13,14の一方が直流電源63に接続され、他方が直流電源64に接続されている。第一導体11,12と第二導体13,14とのそれぞれが数10本の平行な導体からできており、第一導体11,12と第二導体13,14それぞれに各直流電源61,62,63,64から全体として時計廻りあるいは反時計廻りに直流電流を流したとき、これらの導体が平面コイル1として働き、4対の磁気抵抗素子が設けられている平面でコイルの内側から外に、あるいは外側から内に向いた直流磁界が生じ、磁気抵抗素子21〜52に直流磁界が印加される。図1で平面コイルの2本の第二導体13,14が延びている方向をX軸、2本の第一導体11,12が延びている方向をY軸とする直交座標を考える。平面コイル1に時計廻り電流Ia,Ic,Id,Ieを流すと、磁気抵抗素子21,32にX方向磁界が、磁気抵抗素子22,31に−X方向磁界が、磁気抵抗素子41,52にY方向磁界が、磁気抵抗素子42,51に−Y方向磁界が印加される。平面コイル1に反時計廻り電流−Ia,−Ic,−Id,−Ieを流すと、各磁気抵抗素子に先に述べた方向と反対向きの磁界が印加される。
直流電源61が一方の第一導体11に、第一導体11と交差している2個の磁気抵抗素子21,32をそれらの長手方向と直角な方向に飽和させる大きさの直流磁界(リセット直流磁界)を生じる大きさの直流電流(リセット直流電流)を流し、その後そのリセット直流磁界に反対向きのある大きさをしたバイアス磁界と、外部オフセット磁界を打ち消すだけの直流磁界との合計磁界をそれらの磁気抵抗素子21,32に印加する直流電流を流す。第一導体11に流しているリセット直流電流と反対向きに、直流電源62が他方の第一導体12に、第一導体12と交差している2個の磁気抵抗素子31,22をそれらの長手方向と直角な方向に飽和させる大きさの直流磁界(リセット直流磁界)を生じる大きさの直流電流(リセット直流電流)を流し、その後第一導体12によるリセット直流磁界に反対向きのある大きさをしたバイアス磁界と、外部オフセット磁界を打ち消すだけの直流磁界との合計磁界をそれらの磁気抵抗素子31,22に印加する直流電流を流す。一方の第一導体11に流すリセット直流電流と他方の第一導体12に流すリセット直流電流とは反対向きで、第一導体のそれぞれに交差している磁気抵抗素子に印加する飽和磁界の方向も反対、すなわちリセット直流磁界が2本の第一導体の内側から外に、あるいは外側から内に向くように、リセット直流電流を第一導体それぞれに流す。
直流電源63が一方の第二導体13に、第二導体13と交差している2個の磁気抵抗素子41,52をそれらの長手方向と直角な方向に飽和させる大きさの直流磁界(リセット直流磁界)を生じる大きさの直流電流(リセット直流電流)を流し、その後そのリセット直流磁界に反対向きのある大きさをしたバイアス磁界と、外部オフセット磁界を打ち消すだけの直流磁界との合計磁界をそれらの磁気抵抗素子41,52に印加する直流電流を流す。第二導体13に流すリセット直流電流は、2本の第一導体11,12に流したリセット直流電流による磁界が2本の第一導体11,12の内側から外に向いているときに、2本の第二導体13,14の内側から外に向いた磁界となる方向に流す。直流電源64が他方の第二導体14に、第二導体14と交差している2個の磁気抵抗素子51,42をそれらの長手方向と直角な方向に飽和させる大きさをした直流磁界(リセット直流磁界)を生じる大きさの直流電流(リセット直流電流)を、第二導体13に流しているリセット直流電流と反対向きに流し、その後第二導体14によるリセット直流磁界に反対向きのある大きさをしたバイアス磁界と、外部オフセット磁界を打ち消すだけの直流磁界との合計磁界をそれら磁気抵抗素子51,42に印加する直流電流を流す。一方の第二導体13に流すリセット直流電流と他方の第二導体14に流すリセット直流電流とは反対向きで、第二導体それぞれに交差している磁気抵抗素子に印加する飽和磁界の方向も反対、すなわちリセット直流磁界が2本の第二導体の内側から外に、あるいは外側から内に向くように、リセット直流電流を第二導体それぞれに流す。
直流電源61,62,63及び64によって磁気抵抗素子21,32,31,22,41,52,51及び42に、平面コイル1の内側から外に向いた、あるいは外側から内に向いた、リセット直流磁界が同時に印加された後、その直流磁界が(絶対値で)小さくなりリセット直流磁界と反対向きのある大きさをしたバイアス直流磁界と、外部オフセット磁界を打ち消すだけの直流磁界との合計磁界を各磁気抵抗素子に印加する直流電流を流す。続いて、直流電源61,62,63及び64によって磁気抵抗素子21,32,31,22,41,52,51及び42に、先程印加したリセット直流磁界と反対向きのリセット直流磁界が同時に印加された後、その直流磁界が(絶対値で)小さくなりリセット直流磁界と反対向きのある大きさをしたバイアス直流磁界と、外部オフセット磁界を打ち消すだけの直流磁界との合計磁界を各磁気抵抗素子に印加する直流電流を流す。
本発明の2軸磁界センサは更に測定電源70を持っており、測定電源は1対の第一磁気抵抗素子2の2本の第一導体11,12の外側にある端間と、1対の第二磁気抵抗素子3の2本の第一導体11,12の外側にある端間と、1対の第三磁気抵抗素子4の2本の第二導体13,14の外側にある端間と、1対の第四磁気抵抗素子5の2本の第二導体13,14の外側にある端間とに測定用直流電圧Vccを印加する。
本発明の2軸磁界センサは更に磁界方位を求める機器80を持つ。直流電源61,62,63,64で励磁された平面コイル1によって各磁気抵抗素子にバイアス磁界と、外部オフセット磁界を打ち消すだけの直流磁界との合計磁界を印加して、測定電源70が各対の磁気抵抗素子2,3,4,5に測定用直流電圧Vccを印加している間に、1対の第一磁気抵抗素子2の接続された端から第一中間電位出力を取り出し、1対の第二磁気抵抗素子3の接続された端から第二中間電位出力を取り出し、第一中間電位出力と第二中間電位出力との差を第一電位出力差として求める。また、1対の第三磁気抵抗素子4の接続された端から第三中間電位出力を取り出し、1対の第四磁気抵抗素子5の接続された端から第四中間電位出力を取り出し、第三中間電位出力と第四中間電位出力との差を第二電位出力差として求める。そして、第一電位出力差と第二電位出力差から磁界方位を求める。あるいは、平面コイル1の内側から外へ向いた、あるいは外側から内へ向いたリセット磁界を各磁気抵抗素子に印加した後に第一電位出力差と第二電位出力差とを求め、その後で前回印加したリセット磁界と反対向きにリセット磁界を各磁気抵抗素子に印加した後に第一電位出力差と第二電位出力差とを求め、その2つの第一電位出力差と2つの第二電位出力差を用いて、磁界方位を求めることができる。
制御器90は、各直流電源61,62,63,64を制御して、各直流電源から導体11,12,13,14に、正及び負のリセット直流電流と、バイアス磁界と外部オフセット磁界を打ち消す磁界との合計磁界を生じる直流電流とを流すことができる。外部オフセット磁界を打ち消す磁界に相当するオフセット電流(Ioffx,Ioffy)を予め求めて、そのオフセット電流を記憶しておき、各直流電源から各導体に流す直流電流の大きさを制御する。また、外部オフセット磁界を打ち消す磁界に相当するオフセット電流を求める際には、後で説明するように、任意の円弧上の3点に2軸磁界センサを置いたときに、各直流電源から各導体にリセット電流を流した後、磁気抵抗素子対の中間電位出力の差が零となるだけの大きさの電流を各導体に流して、その電流をそれら3点におけるリセット電流(Ioffxa,Ioffya),(Ioffxb,Ioffyb),(Ioffxc,Ioffyc)とする。3点におけるリセット電流から外部オフセット磁界を打ち消す磁界に相当するオフセット電流(Ioffx,Ioffy)を求める。
磁気抵抗素子が設けられている平面上で磁気抵抗素子に長手方向と直角方向に磁界Hを印加すると、磁気抵抗素子の長手方向に流れる電流に対する磁気抵抗素子の抵抗Rは図9のように印加した磁界の大きさに応じて減少し、その磁界の増減する向きに応じて図10のように抵抗Rと磁界Hの間にヒステリシスが生じる。
磁気抵抗素子が平面コイルの辺と45°で交差している場合は、磁気抵抗素子の長手方向と直角な方向に対して45°の方向に外部磁界が印加される。その場合、磁気抵抗素子は長手方向に形状磁気異方性があり、形状磁気異方性磁界と外部磁界の合成ベクトルが磁気抵抗素子に印加されたのと同じになる。そのために、磁気抵抗素子に外部磁界を印加したときの外部磁界Hと抵抗Rの関係は図2に示すグラフのようになる。図2では負方向に大きな磁界Hをかけておき、徐々にその磁界Hを正方向に増加させていったときの抵抗Rの変化を示している。正のある大きさの磁界が印加されているときに極小の抵抗を持つので、正のある大きさの磁界を印加しているときに、印加磁界の変化に対する抵抗の変化率が最も大きくなる。この抵抗と磁界との関係グラフは、正方向に大きな磁界をかけておいて、次第に印加磁界を小さくしていった場合には、磁界0の線に関して図2のグラフと対称のグラフとなる。
地磁気の水平成分の大きさをHeとして、その地磁気の水平成分HeのX軸となす角度をθとする。2軸磁界センサに影響のある地磁気以外の一様な磁界を外部オフセット磁界と呼ぶ。外部オフセット磁界のX軸成分をHoffx、Y軸成分をHoffyとして、地磁気方位の測定を説明する。まず、X軸の磁界の測定を説明する。磁気抵抗素子21に印加される磁界H21は、平面コイル1の一方の第一導体11に流す電流Iaによる磁界と、外部オフセット磁界のX軸成分Hoffxと、地磁気の水平成分HeのX軸成分との合計で、
H21=γ・Ia+Hoffx+He・cosθ
である。ここで、γは第一導体11の形状と、平面コイル1から磁気抵抗素子の平面までの距離によって決まる定数である。
第一導体11に図1で時計廻りに流す電流Iaは、2軸磁界センサが磁界を検出するのに最も適したバイアス磁界を磁気抵抗素子に印加するバイアス電流Ibと、外部オフセット磁界のX軸成分Hoffxを打ち消す磁界を磁気抵抗素子21に印加する電流−Ioffxとの和とする。
Ia=Ib−Ioffx
この状態での磁気抵抗素子周りの磁界を図3に示す。磁気抵抗素子21に印加される磁界H21は次の式となる。
H21=γ・Ia+Hoffx+He・cosθ
=γ・(Ib−Ioffx)+Hoffx+He・cosθ
ここで、−Ioffxは外部オフセット磁界のX軸成分Hoffxを打ち消す電流であるから、
Hoffx=γ・Ioffx
であり、磁界H21は、
H21=γ・Ib+He・cosθ
となる。
図4に、図2のグラフの要部を拡大して示す。バイアス直流磁界γ・Ibのみが磁気抵抗素子21にかかっている時の磁気抵抗素子21の抵抗はRbである。これに地磁気のX軸成分He・cosθが加わると、抵抗の磁界に対する変化率をβとすると、磁気抵抗素子21の抵抗はβ・He・cosθだけ減少するので、磁気抵抗素子21の抵抗R21は、
R21=Rb−β・He・cosθ
となる。
他方の第一導体12に図1で時計廻りに流す電流Icは、最適バイアス磁界を印加するバイアス電流Ibと外部オフセット磁界のX軸成分Hoffxを打ち消す磁界を磁気抵抗素子22に印加する電流Ioffxとの和とする。
Ic=Ib+Ioffx
この状態での磁気抵抗素子周りの磁界を図3に示す。
磁気抵抗素子22に印加される磁界H22は次の式となる。
H22=−γ・Ic+Hoffx+He・cosθ
=−γ・(Ib+Ioffx)+Hoffx+He・cosθ
=−γ・Ib+He・cosθ
となる。
この状態での磁気抵抗素子22の抵抗R22の特性は、図2と図4のグラフと対称になったグラフとなるため、
R22=Rb+β・He・cosθ
となる。
よって1対の第一磁気抵抗素子2の磁気抵抗素子21と磁気抵抗素子22の中間電位出力Vco2(+)は、
Vco2(+)=Vcc・[1/2+1/(2・Rb)・β・He・cosθ]
となる。
1対の第二磁気抵抗素子3の磁気抵抗素子32の抵抗R32は磁気抵抗素子21の抵抗R21と同じであり、磁気抵抗素子31の抵抗R31は磁気抵抗素子22の抵抗R22と同じである。よって第二磁気抵抗素子対3の磁気抵抗素子31と磁気抵抗素子32の中間電位出力Vco3(+)は、
Vco3(+)=Vcc・[1/2−1/(2・Rb)・β・He・cosθ]
となる。
第一磁気抵抗素子対2と第二磁気抵抗素子対3の接続されている端の中間電位出力の差を図1のVxとして取りだしているので、中間電位出力差Vx(+)は、
Vx(+)=Vco2(+)−Vco3(+)
=Vcc・〈[1/2+1/(2・Rb)・β・He・cosθ]−[1/2−1/(2・Rb)・β・He・cosθ]〉
=Vcc・1/Rb・β・He・cosθ
となる。
次に、2本の第一導体11,12に前述とは反対向きに直流電流を流して、磁気抵抗素子21,22,31,32が長手方向と直角な方向に飽和する大きさの直流磁界を磁気抵抗素子21,22,31,32に印加し、その直流電流とは反対向きで所定の大きさの直流電流を2本の第一導体11,12に流して磁気抵抗素子の長手方向と直角方向にバイアス直流磁界と、外部オフセット磁界を打ち消す磁界との合計磁界を印加している間に、前述と同様に1対の第一磁気抵抗素子の端間に測定用直流電圧Vccを印加して、接続されている端から中間電位出力を取り出す。このとき一方の第一導体11に流す電流Ia′は最適バイアス電流−Ibと外部オフセット磁界のX軸成分Hoffxを打ち消す磁界を磁気抵抗素子21に印加する電流−Ioffxとの和とする。
Ia′=−Ib−Ioffx
この状態で磁気抵抗素子21に印加される磁界H21′は、
H21′=γ・Ia′+Hoffx+He・cosθ
=−γ・(Ib+Ioffx)+Hoffx+He・cosθ
=−γ・Ib+He・cosθ
となる。
この場合の磁気抵抗素子21の抵抗R21′は、
R21′=Rb+β・He・cosθ
となる。
他方の第一導体12に流す電流Ic′は、最適バイアス電流−Ibと外部オフセット磁界のX軸成分Hoffxを打ち消す磁界を磁気抵抗素子22に印加する電流Ioffxとの和とする。
Ic′=−Ib+Ioffx
この状態で磁気抵抗素子22に印加される磁界H22′は、
H22′=−γ・Ic′+Hoffx+He・cosθ
=−γ・(−Ib+Ioffx)+Hoffx+He・cosθ
=γ・Ib+He・cosθ
となる。
この場合の磁気抵抗素子22の抵抗R22′は、
R22′=Rb−β・He・cosθ
となり、1対の第一磁気抵抗素子2の磁気抵抗素子21と磁気抵抗素子22の中間電位出力Vco2(−)は、
Vco2(−)=Vcc・[1/2−1/(2・Rb)・β・He・cosθ]
となる。
同様に1対の第二磁気抵抗素子3の磁気抵抗素子31と磁気抵抗素子32の中間電位出力Vco3(−)は、
Vco3(−)=Vcc・[1/2+1/(2・Rb)・β・He・cosθ]
となり、第一磁気抵抗素子対2と第二磁気抵抗素子対3との中間電位出力差Vx(−)は、
Vx(−)=Vco2(−)−Vco3(−)
=Vcc・〈[1/2−1/(2・Rb)・β・He・cosθ]−[1/2+1/(2・Rb)・β・He・cosθ]〉
=−Vcc・1/Rb・β・He・cosθ
となる。
これらの両中間電位出力差の差Vxを求めると、
Vx=Vx(+)−Vx(−)
=2Vcc・1/Rb・β・He・cosθ
となる。
上式から、X軸の出力値Vxは外部オフセット磁界のX軸成分Hoffxの影響を受けない。
次に、Y軸の磁界の測定について説明する。2本の第二導体13,14に図1で反時計廻りに直流電流を流して、磁気抵抗素子41,42,51,52が長手方向と直角な方向に飽和する大きさの直流磁界を磁気抵抗素子41,42,51,52に印加し、その直流電流とは反対向きで所定の大きさの直流電流をその2本の第二導体13,14に流して磁気抵抗素子の長手方向と直角な方向にバイアス直流磁界と外部オフセット磁界を打ち消す磁界との合計磁界を印加している間に、前述と同様に磁気抵抗素子対の端間に測定用直流電圧Vccを印加して、接続されている端から中間電位出力を取り出す。一方の第二導体13に流す電流Idは最適バイアス電流Ibと、外部オフセット磁界のY軸成分Hoffyを打ち消す磁界を磁気抵抗素子41に印加する電流−Ioffyとの和とする。
Id=Ib−Ioffy
この状態で磁気抵抗素子41に印加される磁界H41は、
H41=γ・Id+Hoffy+He・sinθ
=γ・(Ib−Ioffy)+Hoffy+He・sinθ
=γ・Ib+He・sinθ
となる。
この状態での磁気抵抗素子41の抵抗R41は、
R41=Rb−β・He・sinθ
となる。他方の第二導体14に図1で時計廻り方向に流す電流Ieは、最適バイアス電流Ibと、外部オフセット磁界のY軸成分Hoffyを打ち消す磁界を磁気抵抗素子42に印加する電流Ioffyの和とする。
Ie=Ib+Ioffy
この状態で磁気抵抗素子42に印加される磁界H42は、
H42=−γ・Ie+Hoffy+He・sinθ
=−γ・(Ib+Ioffy)+Hoffy+He・sinθ
=−γ・Ib+He・sinθ
となる。この状態での磁気抵抗素子42の抵抗R42は、
R42=Rb+β・He・sinθ
となる。
よって1対の第三磁気抵抗素子4の磁気抵抗素子41と磁気抵抗素子42の中間電位出力Vco4(+)は、
Vco4(+)=Vcc・[1/2+1/(2・Rb)・β・He・sinθ]
となる。
1対の第四磁気抵抗素子5の磁気抵抗素子52の抵抗R52は磁気抵抗素子41の抵抗R41と同じであり、磁気抵抗素子51の抵抗R51は磁気抵抗素子42の抵抗R42と同じである。よって第四磁気抵抗素子対5の磁気抵抗素子51と磁気抵抗素子対52の中間電位出力Vco5(+)は、
Vco5(+)=Vcc・[1/2−1/(2・Rb)・β・He・sinθ]
となる。
第三磁気抵抗素子対4と第四磁気抵抗素子対5の接続されている端の中間電位出力の間の差を図1のVyとして取り出しているので、中間電位出力差Vy(+)は、
Vy(+)=Vco4(+)−Vco5(+)
=Vcc・〈[1/2+1/(2・Rb)・β・He・sinθ]−[1/2−1/(2・Rb)・β・He・sinθ]〉
=Vcc・1/Rb・β・He・sinθ
となる。
次に、2本の第二導体13,14に前述とは反対向きに直流電流を流して、磁気抵抗素子41,42,52,52が長手方向と直角な方向に飽和する大きさの直流磁界を磁気抵抗素子41,42,52,52に印加し、その直流電流とは反対向きで所定の大きさの直流電流をその2本の第二導体13,14に流して磁気抵抗素子の長手方向と直角方向にバイアス直流磁界と、外部オフセット磁界を打ち消す磁界との合計磁界を印加している間に、上と同様に磁気抵抗素子対の端間に測定用直流電圧Vccを印加して、接続されている端から中間電位出力を取り出す。一方の第二導体13に流す電流Id′は最適バイアス電流−Ibと、外部オフセット磁界のY軸成分Hoffyを打ち消す磁界を磁気抵抗素子41に印加する電流−Ioffyとの和とする。
Id′=−Ib−Ioffy
この状態で磁気抵抗素子41に印加される磁界H41′は、
H41′=γ・Id′+Hoffy+He・sinθ
=γ・(−Ib−Ioffy)+Hoffy+He・sinθ
=−γ・Ib+He・sinθ
となる。
この状態での磁気抵抗素子41の抵抗R41′は、
R41′=Rb+β・He・sinθ
となる。
他方の第二導体14に流す電流Ie′は、最適バイアス電流−Ibと、外部オフセット磁界のY軸成分Hoffyを打ち消す磁界を磁気抵抗素子42に印加する電流Ioffyとの和とする。
Ie′=−Ib+Ioffy
この状態で磁気抵抗素子42に印加される磁界H42′は、
H42′=−γ・Ie′+Hoffy+He・sinθ
=−γ・(−Ib+Ioffy)+Hoffy+He・sinθ
=γ・Ib+He・sinθ
となる。
この場合の磁気抵抗素子42の抵抗R42′は、
R42′=Rb−β・He・sinθ
となる。
第三磁気抵抗素子対4の磁気抵抗素子41と磁気抵抗素子42の中間電位出力Vco4(−)は、
Vco4(−)=Vcc・[1/2−1/(2・Rb)・β・He・sinθ]
となる。
同様に第四磁気抵抗素子対5の磁気抵抗素子51と磁気抵抗素子52の中間電位出力Vco5(−)は、
Vco5(−)=Vcc・[1/2+1/(2・Rb)・β・He・sinθ]
となり、第三磁気抵抗素子対4と第四磁気抵抗素子対5の中間電位出力差Vy(−)は、
Vy(−)=Vco4(−)−Vco5(−)
=Vcc・〈[1/2−1/(2・Rb)・β・He・sinθ]−[1/2+1/(2・Rb)・β・He・sinθ]〉
=−Vcc・1/Rb・β・He・sinθ
となる。
これらの両中間電位出力差の差を求めると、
Vy=Vy(+)−Vy(−)
=2Vcc・1/Rb・β・He・sinθ
となる。
上式から、Y軸の出力値Vyは外部オフセット磁界のY軸成分Hoffyの影響を受けない。
前述した通り、
Vx=Vx(+)−Vx(−)
=2Vcc・1/Rb・β・He・cosθ
なので、地磁気の水平成分が軸となす角度θは、
θ=tan−1(Vy/Vx)
として求めることができる。
以上の説明の中で、2本の第一導体11,12と2本の第二導体13,14とのそれぞれにバイアス電流と外部オフセット磁界を打ち消す電流との和を流すことを述べた。ここで外部オフセット磁界を打ち消す電流の求め方について述べる。2軸磁界センサには一様な外部オフセット磁界と、2軸磁界センサの向きによって印加される方向が変わる地磁気とが印加されている。図5に示す平面上で、ある円弧上の3点a,b,cで円弧に沿った向きに2軸磁界センサを置いたときに、各点で2軸磁界センサには外部オフセット磁界ベクトルと各点での地磁気ベクトルとの合成ベクトルがかかっている。
2軸磁界センサのX軸方向とY軸方向との中間電位出力の差Vx,Vyが零になるように2本の第一導体11,12と2本の第二導体13,14とのそれぞれに直流電流を流すと、それらの直流電流それぞれが2軸磁界センサにかかっている磁界のX軸成分を打ち消す電流とY軸成分を打ち消す電流に相当する。円弧上の3点a,b,cに2軸磁界センサを置いたときに、2軸磁界センサからの出力を零にするために必要な電流をそれぞれ
a点:(Ioffxa,Ioffya),
b点:(Ioffxb,Ioffyb),
c点:(Ioffxc,Ioffyc)とすると、
これらは外部オフセット磁界を打ち消すのに必要なオフセット電流(Ioffx,Ioffy)と地磁気を打ち消すのに必要な電流との和である。外部オフセット磁界を打ち消すのに必要なオフセット電流は一定である。しかし、地磁気は一定の大きさであるが向きが違い、図5でX軸とY軸とをそれぞれ第一導体と第二導体に流す電流としたときに、原点から円弧の中心oまでがオフセット電流に相当し、oa,ob,ocが地磁気を打ち消す電流に相当する。a,b,cにおける地磁気は大きさが一定で向きが違うので、oa,ob,ocの長さが同じである。そこで、a,b,c3点の電流から円弧の中心oのオフセット電流を求めることが出来る。予め、円弧上の3点に円弧に沿った向きに2軸磁界センサを置いたときに、その出力を零とするのに必要な電流を測定して、その電流を使って次の簡単な計算によって外部オフセット磁界を打ち消すためのオフセット電流(Ioffx,Ioffy)を求めることが出来る。
Ioffx=(1/2)・〔(Ioffxa+Ioffy )・(Ioffyc−Ioffy)+(Ioffxb+Ioffyb)・(Ioffya−Ioffyc)+(Ioffxc+Ioffyc)・(Ioffyb−Ioffya)〕/〔Ioffxa・(Ioffyc−Ioffyb)+Ioffxb・(Ioffya−Ioffyc)+Ioffxc・(Ioffyb−Ioffya)〕
Ioffy=(1/2)・〔(Ioffxa+Ioffya)・(Ioffxc−Ioffxb)+(Ioffxb+Ioffyb)・(Ioffxa−Ioffxc)+(Ioffxc+Ioffyc)・(Ioffxb−Ioffxa)〕/〔Ioffya・(Ioffxc−Ioffxb)+Ioffyb・(Ioffxa−Ioffxc)+Ioffyc・(Ioffxb−Ioffxa)〕
これら説明から明らかなように、実施例1では、2本の第一導体とそれに垂直な2本の第二導体からなる平面コイルにバイアス直流電流と外部オフセット磁界を打ち消す磁界に相当するオフセット電流との和の電流を流すことで、磁気抵抗素子に外部オフセット磁界を打ち消し、結果として最適なバイアス磁界を印加しながら、磁気抵抗素子対の中間電位出力を求めることができる。
本発明の実施例2の2軸磁界センサを模式図で図6に示している。2軸磁界センサは、平面コイル1aと、平面コイル1aに近接して平面コイル1aに平行な平面内に設けられた4対の磁気抵抗素子2,3,4,5とを持っている。平面コイル1aは直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″からできており、直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″がその斜辺を対向させ、斜辺を対角線とする方形平面コイル状の外形を形成している。形成された方形平面コイル1aは、平行な2本の第一導体11,12と、第一導体11,12に垂直で平行な2本の第二導体13,14とを有する。4対の磁気抵抗素子と平面コイル1aの導体との位置関係は、実施例1と同じなので説明を省略する。
直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″は同一方向に数十回巻かれている。直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″はそれぞれ直流電源(図示せず)につながれていて、2個の直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″に同一方向の直流電流を流したとき、2個の直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″は1個の方形平面コイル1aとして働く。直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″の対向する斜辺(方形平面コイルとしてみた場合、対角線に当たる)には、逆方向に電流が流れるため電流により発生する直流磁界は打ち消し合い、磁気的には一つの方形コイルとなる。方形平面コイル1aと平行な磁気抵抗素子面には、コイルの内側から外に、あるいは外側から内に向いた直流磁界が生じ、磁気抵抗素子21〜52に直流磁界が印加される。図6で直角二等辺三角形平面コイル1a′の第二導体14と直角二等辺三角形平面コイル1a″の第二導体13とが延びている方向をX軸、直角二等辺三角形平面コイル1a′の第一導体11と直角二等辺三角形平面コイル1a″の第一導体12とが延びている方向をY軸とする直交座標を考える。直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″それぞれに時計廻り電流IaとIcを流すと磁気抵抗素子21と32にはX方向の磁界が、磁気抵抗素子22と31には−X方向の磁界が、磁気抵抗素子41と52にはY方向の磁界が、磁気抵抗素子42と51には−Y方向の磁界が印加される。直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″それぞれに反時計廻り電流−Iaと−Icを流すと、各磁気抵抗素子には先に述べた方向と反対方向の磁界が印加される。
各磁気抵抗素子は、次の様に結線されている。磁気抵抗素子対を構成している、方形コイルの内側に位置する2個の磁気抵抗素子の端同士が接続されていて、方形コイルの外側に位置する2個の磁気抵抗素子の端間には測定用直流電圧Vccが印加されている。
図6に示す2軸磁界センサを用いて外部オフセット磁界が存在する状態で方位を測定する場合について説明する。直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″にリセット電流を図6で反時計廻りに流して、磁気抵抗素子21〜52にリセット直流磁界を印加する。次にそのリセット電流と反対向き(図6で直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″に時計廻り)で所定の大きさの直流電流をその直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″それぞれに流して、磁気抵抗素子の長手方向と直角な方向にバイアス直流磁界と外部オフセット磁界を打ち消す磁界との合計磁界を印加している間に、磁気抵抗素子対の端間に測定用直流電圧Vccを印加して、接続されている端から中間電位出力を取り出す。
地磁気の水平成分の大きさをHeとして、その地磁気の水平成分HeのX軸となす角度をθとし、外部オフセット磁界のX軸成分をHoffx、Y軸成分をHoffyとする。実施例2の2軸磁界センサを用いて、実施例1で説明したオフセット電流を測定して求め、外部オフセット磁界のX軸成分Hoffx、Y軸成分Hoffyそれぞれを打ち消すのに必要な電流Ioffx,Ioffyを予め求める。
ここでまずX軸の磁界の測定を説明する。平面コイル1a′1a″に図6で時計廻りに流す電流Ia、Icは、2軸磁界センサが磁界を検出するのに最も適したバイアス磁界を磁気抵抗素子に印加するバイアス電流Ibと、外部オフセット磁界のX軸成分Hoffxを打ち消す磁界を磁気抵抗素子21、32、22、31に印加する電流−Ioffx又はIoffxとの和とする。
Ia=Ib−Ioffx
Ic=Ib+Ioffx
この状態での第一磁気抵抗素子対2の磁気抵抗素子21と磁気抵抗素子22との中間電位出力Vco2(+)は、
Vco2(+)=Vcc・[1/2+1/(2・Rb)・β・He・cosθ]
となる。
また、第二磁気抵抗素子対3の磁気抵抗素子31と磁気抵抗素子32との中間電位出力Vco3(+)は、
Vco3(+)=Vcc・[1/2−1/(2・Rb)・β・He・cosθ]
となる。
第一磁気抵抗素子対2と第二磁気抵抗素子対3の接続されている端の中間電位出力の差を図6のVxとして取りだしているので、中間電位出力差Vx(+)は、
Vx(+)=Vco2(+)−Vco3(+)
=Vcc・〈[1/2+1/(2・Rb)・β・He・cosθ]−[(1/2−1/(2・Rb)・β・He・cosθ)〉
=Vcc・1/Rb・β・He・cosθ
となる。
次に、直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″に前述とは反対向きに直流電流を流して、磁気抵抗素子21,32,22,31が長手方向と直角な方向に飽和する大きさの直流磁界を磁気抵抗素子21,32,22,31に印加し、その直流電流とは反対向きで所定の大きさの直流電流をその直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″に流して磁気抵抗素子の長手方向と直角方向にバイアス直流磁界と外部オフセット磁界を打ち消す磁界との合計磁界を印加している間に、前述と同様に磁気抵抗素子対の端間に測定用直流電圧Vccを印加して、接続されている端から中間電位出力を取り出す。
直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″に図6で反時計廻りに流す電流Ia′,Ic′は、2軸磁界センサが磁界を検出するのに最も適したバイアス磁界を磁気抵抗素子に印加するバイアス直流電流Ibと、外部オフセット磁界のX軸成分Hoffxを打ち消す磁界を磁気抵抗素子21、32、22、31に印加する電流−Ioffx又はIoffxとの和とする。
Ia′=−Ib−Ioffx
Ic′=−Ib+Ioffx
この状態での第一磁気抵抗素子対2の磁気抵抗素子21と磁気抵抗素子22の中間電位出力Vco2(−)は、
Vco2(−)=Vcc・[1/2−1/(2・Rb)・β・He・cosθ]
となる。
また、第二磁気抵抗素子対3の磁気抵抗素子31と磁気抵抗素子32の中間電位出力Vco3(−)は、
Vco3(−)=Vcc・[1/2+1/(2・Rb)・β・He・cosθ]
となる。
第一磁気抵抗素子対2と第二磁気抵抗素子対3の接続されている端の中間電位出力間の差を図6のVxとして取りだしているので、中間電位出力差Vx(−)は、
Vx(−)=Vco2(−)−Vco3(−)
=Vcc・〈[1/2−1/(2・Rb)・β・He・cosθ]−[1/2+1/(2・Rb)・β・He・cosθ]〉
=−Vcc・1/Rb・β・He・cosθ
となる。
つぎにY軸の磁界測定を説明する。直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″に図6で時計廻りに流す電流Ia,Icを、2軸磁界センサが磁界を検出するのに最も適したバイアス磁界を磁気抵抗素子に印加するバイアス電流Ibと、外部オフセット磁界のY軸成分Hoffyを打ち消す磁界を磁気抵抗素子41、52、42、51に印加する電流−Ioffy又はIoffyとの和とする。
Ia=Ib−Ioffy
Ic=Ib+Ioffy
この状態での第三磁気抵抗素子対4の磁気抵抗素子41と磁気抵抗素子42との中間電位出力Vco4(+)は
Vco4(+)=Vcc・[1/2+1/(2・Rb)・β・He・sinθ]
となる。同様に第四磁気抵抗素子対5の磁気抵抗素子51と磁気抵抗素子52との中間電位出力Vco5(+)は
Vco5(−)=Vcc・[1/2−1/(2・Rb)・β・He・sinθ]
となる。
第三磁気抵抗素子対4と第四磁気抵抗素子対5の接続されている端の中間電位出力の差を図6のVyとして取り出しているので、中間電位出力差Vy(+)は、
Vy(+)=Vco4(+)−Vco5(+)
=Vcc・〈[1/2+1/(2・Rb)・β・He・sinθ]−[1/2−1/(2・Rb)・β・He・sinθ]〉
=Vcc・1/Rb・β・He・sinθ
となる。
直角二等辺三角形平面コイル1a′,1a″に図6で反時計廻りに流す電流Ia′,Ic′は、2軸磁界センサが磁界を検出するのに最も適したバイアス磁界を磁気抵抗素子に印加するバイアス電流Ibと、外部オフセット磁界のY軸成分Hoffyを打ち消す磁界を磁気抵抗素子41、52、42、51に印加する電流−Ioffy又はIoffyとの和とする。
Ia′=−Ib−Ioffy
Ic′=−Ib+Ioffy
この状態での第三磁気抵抗素子対4の磁気抵抗素子41と磁気抵抗素子42との中間電位出力Vco4(−)は
Vco4(−)=Vcc・[1/2−1/(2・Rb)・β・He・sinθ]
となる。同様に第四磁気抵抗素子対5の磁気抵抗素子51と磁気抵抗素子52との中間電位出力Vco5(−)は
Vco5(−)=Vcc・[1/2+1/(2・Rb)・β・He・sinθ]
となる。
第三磁気抵抗素子対4と第四磁気抵抗素子対5の接続されている端の中間電位出力の差を図6のVyとして取り出しているので、中間電位出力差Vy(−)は、
Vy(−)=Vco4(−)−Vco5(−)
=Vcc・〈[1/2−1/(2・Rb)・β・He・sinθ]−[1/2+1/(2・Rb)・β・He・sinθ]〉
=−Vcc・1/Rb・β・He・sinθ
となる。
これらの両中間電位出力差をX方向、Y方向について差を求めると、
Vx=Vx(+)−Vx(−)
=2Vcc・1/Rb・β・He・cosθ
Vy=Vy(+)−Vy(−)
=2Vcc・1/Rb・β・He・sinθ
となり、地磁気の水平成分がX軸となす角度θは、
θ=tan−1(Vy/Vx)
として求めることが出来る。
上式から、X軸、Y軸の出力値Vx,Vyは外部オフセット磁界のX軸成分Hoffx、Y軸成分Hoffyの影響を受けない。
実施例2では、2個の平面コイルにそれぞれバイアス磁界と外部オフセット磁界を打ち消す磁界に相当する電流を流すことで、磁気抵抗素子に外部オフセット磁界を打ち消し、結果として最適なバイアス磁界を印加しながら、磁気抵抗素子対の中間電位出力を求めることが出来る。
2軸磁界センサを用いて外部オフセット磁界が存在する状態での方位の測定と磁界の計算は、実施例2の2個の直角二等辺三角形の斜辺を対向させて形成した方形平面コイルと、実施例3の直角頂点を対向させて形成した平面コイルでは、本質的に同じなので詳細を省略する。
本発明の実施例3による2軸磁界センサを模式図で図7に示している。磁気抵抗素子のある平面と、その平面に近接して平行に設けられた2個の直角二等辺三角形平面コイル1b′,1b″とを持っている。磁気抵抗素子の平面には磁気抵抗素子21,22,31,32,41,42,51,52が設けられている。
直角二等辺三角形平面コイル1b′と直角二等辺三角形平面コイル1b″は直角二等辺三角形の直角頂点を対向させ、互いに直角となった2辺を対角線とする平面コイル1bを形成し、形成された平面コイル1bは、平行な2本の第一導体11,12と平行な2本の第二導体13,14を持っている。磁気抵抗素子21と32とはその長手方向を30°以上90°未満で、好ましくは45°以上で90°未満、より好ましくは40°以上50°以下で、この実施例では45°で直角二等辺三角形平面コイル1b′の第一導体11と交差している。同様に、磁気抵抗素子22と31とは直角二等辺三角形平面コイル1b″の第一導体12と、磁気抵抗素子41と52とは直角二等辺三角形平面コイル1b″の第二導体13と、磁気抵抗素子42と51とは直角二等辺三角形平面コイル1b′の第二導体14と交差している。
直角二等辺三角形平面コイル1b′の第一導体11と交差している2個の磁気抵抗素子21、32、第二導体14と交差している2個の磁気抵抗素子42、51、直角二等辺三角形平面コイル1b″の第一導体12と交差している2個の磁気抵抗素子22、31、第二導体13と交差している2個の磁気抵抗素子41、52の長手方向は互いに非平行である。図7は、平面コイルの各導体と交差している2個の磁気抵抗素子が直交している状態を示している。また、平面コイル1bの平行な2本の第一導体11,12それぞれと交差している2個の磁気抵抗素子21と22とで第一磁気抵抗素子対2を構成している。第一磁気抵抗素子対2の磁気抵抗素子21と22の長手方向は非平行である。図7は、各磁気抵抗素子対を構成している2個の磁気抵抗素子が直交している状態を示している。同様に、平面コイル1bの平行な2本の導体それぞれと交差している2個の磁気抵抗素子31と32,41と42,51と52はそれぞれ磁気抵抗素子対3,4,5を構成している。これら磁気抵抗素子対の磁気抵抗素子の長手方向は非平行である。磁気抵抗素子対を構成している2個の磁気抵抗素子の端同士が接続されていて、各磁気抵抗素子対の端間には測定用直流電圧Vccが印加されている。
直角二等辺三角形平面コイル1b′、1b″は同一方向に数十回巻かれている。2個の直角二等辺三角形平面コイル1b′、1b″に同一方向の直流電流を流したとき、2個の直角二等辺三角形平面コイル1b′、1b″は平面コイル1bとして働く。直角二等辺三角形平面コイル1b′、1b″の斜辺が磁気抵抗素子から離れていて磁気抵抗素子に対する磁界の影響が小さいので磁気的には二つのL字形コイルが組み合わされていると見ることができる。平面コイルと平行な磁気抵抗素子面には、コイルの内側から外に、あるいは外から内側に向いた直流磁界が生じ、磁気抵抗素子21〜52に直流磁界が印加される。図7で直角二等辺三角形平面コイル1b′と1b″それぞれに時計廻りの電流IaとIcを流すと磁気抵抗素子21と32にはX方向の磁界が、磁気抵抗素子22と31には−X方向の磁界が、磁気抵抗素子41と52にはY方向の磁界が、磁気抵抗素子42と51には−Y方向の磁界が印加される。直角二等辺三角形平面コイル1b′,1b″それぞれに反時計廻りの電流−Iaと−Icを流すと、各磁気抵抗素子には先に述べた方向と反対方向の磁界が印加される。実施例3においても、実施例1で説明したのと同様に、外部オフセット磁界を打ち消すためのオフセット電流を予め求めておき、磁気抵抗素子にバイアス磁界を加えるときに外部オフセット磁界を打ち消す磁界を同時に加えて磁界方位を測定する。実施例3の2軸磁界センサは実施例1及び実施例2で述べた2軸磁界センサと同じ働きがある。
実施例4の2軸磁界センサを用いて外部オフセット磁界が存在する状態での方位の測定と磁界の計算は、上で述べた実施例におけるのと本質的に同じなので詳細を省略する。
本発明の実施例4による2軸磁界センサを模式図で図8に示している。磁気抵抗素子のある平面と、その平面に近接して平行に設けられた2個の長方形平面コイル1c′,1c″の長辺を並べた方形平面コイル1cを持っている。磁気抵抗素子の平面には磁気抵抗素子21,22,31,32,41,42,51,52が設けられている。
長方形平面コイル1c′と長方形平面コイル1c″はそれぞれの長辺を近接して方形の外形を形成し、形成された方形平面コイル1cは、互いに平行になっている導体11と12,13′と14′,13″と14″の3組を有している。磁気抵抗素子21と32はその長手方向を30°以上90°未満で、好ましくは45°以上で90°未満、より好ましくは40°以上50°以下で、この実施例では45°で長方形平面コイル1c′の導体11と交差している。同様に、磁気抵抗素子22と31は長方形平面コイル1c″の導体12と、磁気抵抗素子41は長方形平面コイル1c″の導体13″と、磁気抵抗素子42は長方形平面コイル1c′の導体14′と、磁気抵抗素子52は長方形平面コイル1c′の導体13′と、磁気抵抗素子51は長方形平面コイル1c″の導体14″と交差している。
図8に示すように、長方形平面コイル1c′の導体11と交差している磁気抵抗素子21と32、長方形平面コイル1c′の導体13′と交差している磁気抵抗素子52と長方形平面コイル1c″の導体13″と交差している磁気抵抗素子41、長方形平面コイル1c′の導体14′と交差している磁気抵抗素子42と長方形平面コイル1c″の導体14″と交差している磁気抵抗素子51、長方形平面コイル1c″の導体12と交差している磁気抵抗素子22と31は、磁気抵抗素子の長手方向が互いに非平行である。導体13′と交差している磁気抵抗素子52と導体14′と交差している磁気抵抗素子42とは、また導体13″と交差している磁気抵抗素子41と導体14″と交差している磁気抵抗素子51とは磁気抵抗素子の長手方向が平行である。
方形平面コイル1cの平行な導体とそれぞれの長手方向が交差している2個の磁気抵抗素子21と22とで第一磁気抵抗素子対2を構成した。第一磁気抵抗素子対2の磁気抵抗素子21と22の長手方向は非平行である。図8は、磁気抵抗素子対を構成している2個の磁気抵抗素子が直交している状態を示している。同様に、方形平面コイル1cの平行な導体とそれぞれの長手方向が交差している磁気抵抗素子31と32は第二磁気抵抗素子対3を構成しており、これら磁気抵抗素子の長手方向は非平行である。方形平面コイル1cの平行な導体とそれぞれの長手方向が交差している磁気抵抗素子41と42は第三磁気抵抗素子対4を、磁気抵抗素子51と52は第四磁気抵抗素子対5を構成している。各磁気抵抗素子対を構成している、方形平面コイル1cの内側に位置する2個の磁気抵抗素子の端同士が接続されていて、方形平面コイル1cの外側に位置する端間には測定用直流電圧Vccが印加されている。
長方形平面コイル1c′、1c″は同一方向に数十回巻かれている。2個の長方形平面コイル1c′、1c″に同一方向の直流電流を流したとき、2個の長方形平面コイル1c′、1c″は1個の方形平面コイル1cとして働く。長方形平面コイル1c′、1c″にある近接して並べられたコイル辺には逆方向に電流が流れるため、電流によって発生する直流磁界は打ち消し合い磁気的には一つの方形平面コイルと見ることができる。方形平面コイルに平行な磁気抵抗素子のある平面には、コイルの内側から外に、あるいは外から内側に向いた直流磁界が生じ、磁気抵抗素子21〜52に直流磁界が印加される。図8で長方形平面コイル1c′と1c″それぞれに時計廻り電流IaとIcを流すと磁気抵抗素子21と32にはX方向の磁界が、磁気抵抗素子22と31には−X方向の磁界が、磁気抵抗素子41と52にはY方向の磁界が、磁気抵抗素子42と51には−Y方向の磁界が印加される。長方形平面コイル1c′と1c″それぞれに反時計廻り電流−Iaと−Icを流すと、各磁気抵抗素子には先に述べた方向と反対方向の磁界が印加される。実施例4においても、実施例1で説明したように、外部オフセット磁界を打ち消すためのオフセット電流を予め求めておき、磁気抵抗素子にバイアス磁界を加えるときに外部オフセット磁界を打ち消すだけの磁界を同時に加えて、磁界方位を測定する。実施例4の2軸磁界センサにおいても実施例1及び実施例2で述べた2軸磁界センサと同様に磁界方位を測定することが出来る。
2個の長方形平面コイルを用いると、実施例2の2個の直角二等辺三角形平面コイルを用いた場合と、異なった磁気抵抗素子配置とする必要がある。実施例2では磁気抵抗素子41と52が一つのコイル辺と交差しているが、実施例4の磁気抵抗素子41と52は別のコイル辺と交差するためである。
本発明の2軸磁界センサは、地磁気のほかに一様な外部磁界が作用しているところでも、その一様な外部磁界の影響を打ち消して地磁気の方位あるいは磁界の方位を測定することができるので、方位を測定する上で有効な機器である。

Claims (5)

  1. 平行な2本の第一導体と、第一導体に垂直で平行な2本の第二導体とを有する平面コイルと、
    2本の前記第一導体の一方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子と、2本の前記第一導体の他方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子とからなり、これら磁気抵抗素子の長手方向が互いに非平行で、これら磁気抵抗素子の2本の前記第一導体間にある端が互いに接続されている1対の第一磁気抵抗素子と、
    2本の前記第一導体の前記他方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子と、2本の前記第一導体の前記一方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子とからなり、これら磁気抵抗素子の長手方向が互いに非平行で、これら磁気抵抗素子の2本の前記第一導体間にある端が互いに接続されている1対の第二磁気抵抗素子と、
    2本の前記第二導体の一方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子と、2本の前記第二導体の他方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子とからなり、これら磁気抵抗素子の長手方向が互いに非平行で、これら磁気抵抗素子の2本の前記第二導体間にある端が互いに接続されている1対の第三磁気抵抗素子と、
    2本の前記第二導体の前記他方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子と、2本の前記第二導体の前記一方のみと30度以上90度未満で交差している長手方向を持つ磁気抵抗素子とからなり、これら磁気抵抗素子の長手方向が互いに非平行で、これら磁気抵抗素子の2本の前記第二導体間にある端が互いに接続されている1対の第四磁気抵抗素子とを前記平面コイルに近接し平面コイルに平行な平面内に有し、
    第一導体の一方と交差している2個の磁気抵抗素子を飽和させる磁界をそれら磁気抵抗素子に印加する電流を第一導体の前記一方に流し、
    第一導体の他方と交差している2個の磁気抵抗素子を反対方向に飽和させる磁界をそれら磁気抵抗素子に印加する電流を第一導体の前記他方に流し、
    第二導体の一方と交差している2個の磁気抵抗素子を飽和させる磁界をそれら磁気抵抗素子に印加する電流を第二導体の前記一方に流し、
    第二導体の他方と交差している2個の磁気抵抗素子を反対方向に飽和させる磁界をそれら磁気抵抗素子に印加する電流を第二導体の前記他方に流し、
    その後、各磁気抵抗素子に加えられた飽和させる磁界に反対向きのある大きさのバイアス磁界と、外部オフセット磁界を打ち消す磁界との合計磁界をそれぞれの磁気抵抗素子に印加する電流を第一導体と第二導体それぞれに流すための直流電源と、
    1対の第一磁気抵抗素子の2本の第一導体の外側にある端間と、1対の第二磁気抵抗素子の2本の第一導体の外側にある端間と、1対の第三磁気抵抗素子の2本の第二導体の外側にある端間と、1対の第四磁気抵抗素子の2本の第二導体の外側にある端間とに測定用直流電圧を印加する測定電源と、
    前記測定用直流電圧を各磁気抵抗素子対に印加している間に、1対の第一磁気抵抗素子の前記接続された端から第一中間電位出力を取り出し、1対の第二磁気抵抗素子の前記接続された端から第二中間電位出力を取り出し、第一中間電位出力と第二中間電位出力との第一電位出力差を求め、1対の第三磁気抵抗素子の前記接続された端から第三中間電位出力を取り出し、1対の第四磁気抵抗素子の前記接続された端から第四中間電位出力を取り出し、第三中間電位出力と第四中間電位出力との第二電位出力差を求め、前記第一電位出力差と前記第二電位出力差から磁界方位を求める機器とを有する2軸磁界センサ。
  2. 各磁気抵抗素子の長手方向が導体と40度以上70度未満で交差している請求の範囲1記載の2軸磁界センサ。
  3. 2本の第一導体の一方と2本の第二導体の他方とで直角三角形平面コイルの2辺を形成して直列に接続されて直流電源に接続されているとともに、2本の第二導体の一方と2本の第一導体の他方とで他の直角三角形平面コイルの2辺を形成して直列に接続されて直流電源に接続されている請求の範囲2記載の2軸磁界センサ。
  4. 前記2個の直角三角形平面コイルの斜辺にある導体同士が隣り合って設けられている請求の範囲3記載の2軸磁界センサ。
  5. 1対の第一磁気抵抗素子の一方と1対の第二磁気抵抗素子の他方とに交差している第一導体の一方と、第二導体の他方が1対の第三磁気抵抗素子の他方と交差している第二導体の前記他方の部分と、第二導体の一方が1対の第四磁気抵抗素子の他方と交差している第二導体の前記一方の部分とによって長方形平面コイルの三辺を形成して接続されて直流電源につながれており、
    1対の第一磁気抵抗素子の他方と1対の第二磁気抵抗素子の一方とに交差している第一導体の他方と、第二導体の一方が1対の第三磁気抵抗素子の一方と交差している第二導体の前記一方の部分と、第二導体の他方が1対の第四磁気抵抗素子の一方と交差している第二導体の前記他方の部分とによって他の長方形平面コイルの三辺を形成して接続されて直流電源につながれており、
    前記2個の長方形平面コイルの残りの辺にある導体同士が隣り合って設けられている請求の範囲2記載の2軸磁界センサ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10191123B2 (en) 2014-09-10 2019-01-29 Aichi Steel Corporation Magnetic field measurement device

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4936030B2 (ja) * 2010-03-10 2012-05-23 Tdk株式会社 磁気センサ
DE102010029669B4 (de) * 2010-06-02 2023-10-05 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Abgleich eines Messwertversatzes
JP5195845B2 (ja) * 2010-08-23 2013-05-15 Tdk株式会社 磁気センサ及び磁場強度測定方法
IT1403433B1 (it) 2010-12-27 2013-10-17 St Microelectronics Srl Sensore magnetoresistivo con capacita' parassita ridotta, e metodo
IT1403434B1 (it) 2010-12-27 2013-10-17 St Microelectronics Srl Sensore di campo magnetico avente elementi magnetoresistivi anisotropi, con disposizione perfezionata di relativi elementi di magnetizzazione
CN103718057B (zh) * 2011-02-03 2016-08-10 森赛泰克股份有限公司 磁场检测装置
CN102226836A (zh) * 2011-04-06 2011-10-26 江苏多维科技有限公司 单一芯片桥式磁场传感器及其制备方法
CN102540113B (zh) * 2011-11-11 2014-07-02 江苏多维科技有限公司 磁场传感器
US9638824B2 (en) * 2011-11-14 2017-05-02 SeeScan, Inc. Quad-gradient coils for use in locating systems
CN107370249B (zh) * 2012-03-14 2020-06-09 索尼公司 电力发送装置以及非接触电力提供系统
US9372242B2 (en) * 2012-05-11 2016-06-21 Memsic, Inc. Magnetometer with angled set/reset coil
ITTO20120614A1 (it) * 2012-07-11 2014-01-12 St Microelectronics Srl Sensore magnetoresistivo integrato multistrato e relativo metodo di fabbricazione
TWI493209B (zh) * 2013-07-05 2015-07-21 Voltafield Technology Corp 一種單晶片三軸磁阻感測裝置
JP6234619B2 (ja) * 2015-12-08 2017-11-22 三菱電機株式会社 磁界測定方法及び磁界測定装置
CN107037380B (zh) * 2016-11-18 2019-03-19 清华大学 一种宽磁场范围测量方法及装置
US10788517B2 (en) 2017-11-14 2020-09-29 Analog Devices Global Unlimited Company Current measuring apparatus and methods
CN111566495B (zh) 2017-12-27 2022-06-24 旭化成微电子株式会社 磁传感器模块和用于该磁传感器模块的ic芯片
US10712369B2 (en) * 2018-03-23 2020-07-14 Analog Devices Global Unlimted Company Current measurement using magnetic sensors and contour intervals
JP6644343B1 (ja) * 2019-08-09 2020-02-12 ビフレステック株式会社 ゼロフラックス型磁気センサ

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002516999A (ja) * 1998-05-27 2002-06-11 ハネウエル・インコーポレーテッド 磁場検出デバイス
JP2002310659A (ja) * 2001-02-06 2002-10-23 Hitachi Metals Ltd 方位計及び方位の測定方法
JP2003202365A (ja) * 2001-10-29 2003-07-18 Yamaha Corp 磁気センサ

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4006674B2 (ja) * 2001-05-22 2007-11-14 日立金属株式会社 方位計
US6717403B2 (en) 2001-09-06 2004-04-06 Honeywell International Inc. Method and system for improving the efficiency of the set and offset straps on a magnetic sensor
JP4023476B2 (ja) * 2004-07-14 2007-12-19 日立金属株式会社 スピンバルブ型巨大磁気抵抗効果素子を持った方位計
US7504824B2 (en) * 2004-10-21 2009-03-17 International Business Machines Corporation Magnetic sensor with offset magnetic field

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002516999A (ja) * 1998-05-27 2002-06-11 ハネウエル・インコーポレーテッド 磁場検出デバイス
JP2002310659A (ja) * 2001-02-06 2002-10-23 Hitachi Metals Ltd 方位計及び方位の測定方法
JP2003202365A (ja) * 2001-10-29 2003-07-18 Yamaha Corp 磁気センサ

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10191123B2 (en) 2014-09-10 2019-01-29 Aichi Steel Corporation Magnetic field measurement device

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