JP4601409B2 - Icソケット及びicソケットを使用したテスト方法 - Google Patents
Icソケット及びicソケットを使用したテスト方法 Download PDFInfo
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Description
一般にICデバイスは、電子機器に搭載されるまえに所定の電気的特性を奏するか否かテストを行う。小型化が進んでいるため、ICデバイス単体では電気的信号を入出力するのは難しくICソケットと呼ばれる信号の入出力を補助する装置を使用する。下記文献にはICソケットに関する発明が記載されている。
よって、本願発明の目的は上記問題を解決し、ICソケットの押圧部へのICデバイスの付着を防止し、テスト時間の短縮を図ることが可能なICソケット及びICソケットを使用したテスト方法を提供することである。
11 土台
12 蓋部
13 第1のヒンジ
14 ICデバイス
15 支持体
16 押圧部
17 空洞
18 第1の突起部
19 調節部
20 第2の突起部
21 外部接続端子
22 固定部
23 第2のヒンジ
24 押圧上部
25 押圧下部
Claims (11)
- 5mm角より小さいICデバイスを搭載する支持部及び前記ICデバイスへ信号を入力する或いは前記ICデバイスから信号を出力する外部接続端子を有する土台と、
前記ICデバイスを押圧する押圧部と該押圧部の周囲に設けられ前記土台との固定を図る固定部とを有する蓋部と、
前記土台と前記蓋部とを可動的に支持する第1のヒンジと、
を有するICソケットであって、
前記押圧部は、
押圧上部と、
底面を有する凹部と、該底面に設けられ、前記ICデバイスを搭載する前記支持部に対応する位置に設けられた第1の貫通孔とを有し、前記押圧上部に接続することで該凹部及び該第1の貫通孔により空洞を構成する押圧下部と、
前記第1の貫通孔内に配置されるとともに前記凹部に延在し、該第1の貫通孔を上下動する第1の突起部と、
を有することを特徴とするICソケット。 - 前記支持部は前記土台に対して凹状であり、前記押圧部は前記蓋部に対して前記ICデバイスを搭載する該支持部に対応する位置が凸状であることを特徴とする請求項1に記載のICソケット。
- 前記押圧下部は、前記凹部の前記ICデバイスを搭載する前記支持部に対応する位置の周辺に設けられた第2の貫通孔を有し、
前記空洞は前記凹部と前記第1の貫通孔と前記第2の貫通孔とにより構成され、
前記第2の貫通孔内に配置され、前記第1の突起部と前記空洞の前記凹部にて接続されるとともに該第1の突起部と一体で形成されてなる調節部をさらに有し、
前記調節部は、押圧時の該調節部と前記支持部の該調節部に対向する位置との距離が押圧時の該第1の突起部と前記ICデバイスの上面との距離と等しく、かつ、押圧時に該調節部と該支持部及び該第1の突起部と該ICデバイスの上面がそれぞれ当接する長さに調節されること
を特徴とする請求項1又は請求項2のいずれかに記載のICソケット。 - 前記押圧下部は、前記凹部の前記ICデバイスを搭載する前記支持部に対応する位置の周辺に設けられた第2の貫通孔を有し、
前記空洞は前記凹部と前記第1の貫通孔と前記第2の貫通孔とにより構成され、
前記第2の貫通孔内に配置され、前記第1の突起部と前記空洞の前記凹部にて接続されるとともに該第1の突起部と一体で形成されてなる調節部を有し、
前記土台は、前記支持部の前記調節部に対向する位置に第2の突起部を有し、
前記調節部は、押圧時の該調節部と前記第2の突起部との距離が押圧時の該第1の突起部と前記ICデバイスの上面との距離と等しく、かつ、押圧時に該調節部と該第2の突起部及び該第1の突起部と該ICデバイスの上面がそれぞれ当接する長さに調節されること
を特徴とする請求項1又は請求項2のいずれかに記載のICソケット。 - 前記第2の突起部は、上方に向かうにつれて細くなる形状であることを特徴とする請求項4に記載のICソケット。
- 前記押圧部が前記ICデバイスを押圧時、前記第2の突起部に応じて前記調節部及び前記第1の突起部の前記押圧部に内蔵される距離が調節されることを特徴とする請求項4又は請求項5のいずれかに記載のICソケット。
- 前記調節部及び前記第1の突起部は、弾性体を介して前記押圧上部と接続されていることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のICソケット。
- 前記支持部は、上下可動に形成されていることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載のICソケット。
- 前記外部接続端子は、前記支持部のICデバイスを搭載する面から突出可能であり、前記外部接続端子が該搭載する面から突出することにより前記支持部が上下動することを特徴とする請求項8に記載のICソケット。
- 請求項1〜9のいずれかのICソケットを準備する工程と、
前記支持部上に前記ICデバイスを搭載する工程と、
前記ICソケットの前記蓋部を閉める工程と、
前記ICソケットの前記蓋部を開ける工程と、
前記ICデバイスを取り出す工程と、
を含むテスト方法。 - 前記ICソケットをテスタに接続する工程とを含む請求項10に記載のテスト方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004358707A JP4601409B2 (ja) | 2004-12-10 | 2004-12-10 | Icソケット及びicソケットを使用したテスト方法 |
US11/226,207 US20060128178A1 (en) | 2004-12-10 | 2005-09-15 | IC socket and test method using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004358707A JP4601409B2 (ja) | 2004-12-10 | 2004-12-10 | Icソケット及びicソケットを使用したテスト方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006162565A JP2006162565A (ja) | 2006-06-22 |
JP4601409B2 true JP4601409B2 (ja) | 2010-12-22 |
Family
ID=36584578
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004358707A Expired - Fee Related JP4601409B2 (ja) | 2004-12-10 | 2004-12-10 | Icソケット及びicソケットを使用したテスト方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20060128178A1 (ja) |
JP (1) | JP4601409B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2004
- 2004-12-10 JP JP2004358707A patent/JP4601409B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2005
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006162565A (ja) | 2006-06-22 |
US20060128178A1 (en) | 2006-06-15 |
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