JP4600675B2 - 断層像の輪郭抽出のためのしきい値決定方法および放射線断層撮影装置 - Google Patents
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Description
図1は本発明の実施の形態の構成図で、機械的構成を表す模式図とシステム構成を表すブロック図とを併記して示す図である。
回転テーブル3は回転駆動回路11からの駆動信号により駆動制御され、また、xyテーブル4はxy駆動回路12からの駆動信号によって駆動制御される。
輪郭抽出の指令が与えられると、まず、断層像メモリ16から断層像データを画像処理部20に読み出すとともに、その画像処理部20に対して、例えばあらかじめ設定されているn個のしきい値Th(i)(ただし、i=1,2,・・n)をTh(1)から順に設定していく。なお、このしきい値Th(i)のディメンジョンは、従来と同様に画素の濃度値(輝度値)である。
2 X線検出器
3 回転テーブル
4 xyテーブル
10 制御部
11 回転駆動回路
12 xy駆動回路
13 軸制御部
14 操作部
15 投影データ取込み回路
16 投影データメモリ
17 再構成演算部
18 断層像メモリ
19 表示器
20 画像処理部
21 順投影処理演算部
22 一致度判定部
W 被写体
Claims (6)
- 放射線源と放射線検出器の対と、これらの間に配置された被写体とを、放射線源と放射線検出器を結ぶ線に直交する回転軸の回りに相対回転させ、その微小角度ごとに取り込んだ投影データを再構成演算することにより、上記回転軸に直交する平面に沿った被写体の断層像を得た後、その断層像の輪郭情報を得るためのしきい値を決定する方法であって、 上記断層像に対し、複数のしきい値を用いてそれぞれ被写体像部分と空間像部分の境界を求める工程と、その求めた各境界に基づく空間像部分は放射線の吸収がないものと仮定して、各境界で区切られた断層像にそれぞれ順投影処理を施して仮想的な投影データを作成する工程と、その各仮想的投影データと実際に取り込んだ上記投影データとを比較して一致度の判定を行い、最も一致度の高い仮想的投影データを得たしきい値を最適しきい値として決定する工程と、を含む断層像の輪郭抽出のためのしきい値の決定方法。
- 上記一致度の判定手法が、上記各仮想的投影データの各画素データと実際に取り込んだ投影データの各画素データの差分値を算出し、その各差分値を用いた再構成演算により断層像を構築し、得られた各断層像のエッジ評価を行う手法であることを特徴とする請求項1に記載の断層像の輪郭抽出のためのしきい値の決定方法。
- 被写体に放射線を照射して取り込んだ投影データを再構成演算することにより構築した断層像について、あらかじめ設定されているしきい値を用いて被写体像部分と空間像部分の境界を求め、その境界に基づく空間像部分は放射線の吸収がないものと仮定して、当該断層像に順投影処理を施して仮想的な投影データを作成し、その仮想データと実際に取り込んだ投影データとを比較して一致度の判定を行う処理を、しきい値を変更しつつ繰り返し実行した後、最も一致度の高いしきい値を最適しきい値と決定することを特徴とする請求項1または2に記載の断層像の輪郭抽出のためのしきい値の決定方法。
- 被写体に放射線を照射して取り込んだ投影データを再構成演算することにより構築した断層像について、複数のしきい値を用いて被写体像部分と空間像部分の境界をそれぞれ求めた後、その各境界に基づく空間像部分は放射線の吸収がないものと仮定して、各境界で区切られた断層像にそれぞれ順投影処理を施して仮想的な投影データをそれぞれ作成し、次いでその各仮想的投影データと実際に取り込んだ投影データを順次比較して一致度の判定を行い、最も一致度の高いしきい値を最適しきい値と決定することを特徴とする請求項1または2に記載の断層像の輪郭抽出のためのしきい値の決定方法。
- 互いに対向配置された放射線源と放射線検出器と、これらの間に設けられ、被写体を搭載するステージと、上記放射線源と放射線検出器の対とステージとを、放射線源と放射線検出器を結ぶ線に直交する回転軸の回りに相対回転させつつ、その微小回転角度ごとに取り込んだ被写体の放射線投影データを記憶する投影データメモリと、その投影データメモリの内容を用いて上記相対回転軸に直交する平面に沿った被写体の断層像を再構成する再構成演算手段と、その再構成された断層像を記憶する断層像メモリを備えてなる放射線断層撮影装置において、 上記断層像メモリに記憶されている断層像に対し、設定されたしきい値を用いて被写体像部分と空間像部分との境界を画定する画像処理手段と、その画像処理手段により求められた境界に基づく空間像部分は放射線の吸収がないものと仮定して、当該断層像に順投影処理を施して仮想的な投影データを作成する順投影処理演算手段と、その仮想的投影データと上記投影データメモリに記憶している投影データを比較して一致度を判定する一致度判定手段と、上記しきい値を複数に変化させて上記画像処理手段による境界の画定動作および上記順投影演算手段による順投影処理動作、並びに上記一致度判定手段による判定動作を実行させる制御手段と、各しきい値ごとに求められた一致度のなかから、最も一致度の高いしきい値を最適しきい値と決定するしきい値決定手段を備えるとともに、その決定されたしきい値を用いて上記画像処理手段により画定された境界を被写体像の輪郭とする輪郭抽出手段を備えていることを特徴とする放射線断層撮影装置。
- 上記一致度判定手段が、上記仮想的投影データの各画素データと上記投影データメモリに記憶している投影データの各画素データの差分値を算出し、その各差分値を用いた再構成演算により断層像を構築し、得られた断層像のエッジ評価により一致度判定を行うことを特徴とする請求項5に記載の放射線断層撮影装置。
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