JP4580236B2 - 半導体レーザ装置 - Google Patents
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Description
Claims (23)
- 第1の方向(Y)においてそれに垂直な第2の方向におけるよりも大きなダイバージェンスを有するレーザ光が出射できる少なくとも1つの出射面(5)を備える半導体レーザ素子(1)と、
該半導体レーザ素子(1)外に前記出射面(5)から離れて配置され、前記半導体レーザ素子(1)から前記出射面(5)を通過して出射された光の少なくとも一部を半導体レーザ素子(1)のモードスペクトルが影響されるように半導体レーザ素子(1)へ再反射できる反射面(4,10)を備えた少なくとも1つの反射手段(3,9)と、さらに
前記反射手段(3,9)と前記半導体レーザ素子(1)との間に配置され、少なくとも前記第1方向(Y)においてレーザ光のダイバージェンスを少なくとも部分的に減少できるレンズ手段(2)からなる半導体レーザ装置において、
反射手段(3,9)の反射面(4,10)が凹状湾曲しており、
半導体レーザ素子(1)と反射手段(3)との間に転向手段が配置されており、該手段は出射面(5)上の法線(8)に対して角度(α)をなして出射面から出射される部分ビーム(6,7)を反射手段(3)へ転向でき、
前記転向手段および反射手段(3)は出射面(5)上で中央垂線により定められる軸上に配置され、
前記転向手段はプリズム素子(15)として構成され、
プリズム素子(15)の斜辺面(16)と2辺面(17)との間の角度(β)を適切に選択することにより、および/またはプリズム素子(15)の位置を適切に選択することにより、出射面(5)上の法線(8)に対して角度(±α)をなして出射面から出射される部分ビーム(6,7)は反射手段(3)の反射面(4)により互いに移行できることを特徴とする半導体レーザ装置。 - 反射面(4,10)が球状湾曲していることを特徴とする請求項1記載の半導体レーザ装置。
- 反射面(4,10)は第1方向(Y)およびそれに垂直な第2方向において基本的に等しい湾曲度を有することを特徴とする請求項1または2記載の半導体レーザ装置。
- 反射面(4,10)は第1方向(Y)およびそれに垂直な第2方向において異なる湾曲度を有することを特徴とする請求項1または2記載の半導体レーザ装置。
- 反射面(4,10)と半導体レーザ素子(1)の出射面(5)との間の光学的距離(D)は両方向の少なくとも一方(Y)に関して基本的に反射面(4,10)の焦点距離(F)に等しいことを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
- 反射手段(3,9)側の半導体レーザ素子の出射面(5)は200μm以上の幅を有しており、また反射面(4,10)は全くあるいは僅少にしか湾曲していないことを特徴とする請求項1の上位概念に記載の半導体レーザ装置。
- 出射面(5)は500μm以上、特に1mm以上の幅を有することを特徴とする請求項6記載の半導体レーザ装置。
- 反射面(4,10)またはそれら(4,10)の少なくとも1つが波長選択素子、特に格子として構成されることを特徴とする請求項6または7記載の半導体レーザ装置。
- 反射面(4,10)の光学的距離(D)および/または湾曲は、半導体レーザ素子(1)へ再反射された光の少なくとも部分ビーム(6,7)の出射面(5)上のビームウェストが基本的に出射面(5)により形成される開口に合致するように選択されていることを特徴とする請求項1〜8のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
- 半導体レーザ素子(1)はブロードストライプ型発光器として構成されることを特徴とする請求項2〜9のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
- 半導体レーザ素子(1)はブロードストライプ型発光器の平行列またはスタックとして構成されることを特徴とする請求項10記載の半導体レーザ装置。
- 反射面(4,10)側の半導体レーザ素子(1)の出射面(5)が反射防止加工されることを特徴とする請求項1〜11のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
- 半導体レーザ装置は2つの反射面(4,10)を備えた2つの反射手段(3,9)からなり、これらの両反射面(4,10)は出射面(5)上の法線(8)に対してそれぞれ逆方向に等しい角度(α)をなして傾斜していることを特徴とする請求項1〜12のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
- 両反射手段(3,9)の両反射面(4,10)は半導体レーザ素子(1)の出射面(5)に対する等しい光学的距離(D)を有することを特徴とする請求項13記載の半導体レーザ装置。
- 反射手段(3,9)の反射面(4,10)の少なくとも1つが部分反射面として構成されて、該部分反射面(10)を備えた少なくとも1つの反射手段(9)が減結合器として機能することを特徴とする請求項13または14のいずれかに記載の半導体レーザ装置。
- 反射手段(3,9)のこれらの両反射面(4,10)が高反射性に構成されており、反射面(4,10)とは反対側の半導体レーザ素子(1)の出射面(13)が部分反射性に構成されており、減結合器として機能することを特徴とする請求項13または14のいずれかに記載の半導体レーザ装置。
- プリズム素子(15)は直角を挟む2辺面(17)が半導体素子の出射面(5)に対向するように配置されていることを特徴とする請求項1記載の半導体レーザ装置。
- 反射手段(3)の反射面(4)は部分反射性に構成されており、反射手段(3)が減結合器として機能できることを特徴とする請求項1または17に記載の半導体レーザ装置。
- 反射手段(3)の反射面(4)は高反射性に構成されており、また反射面(4)とは反対側の半導体レーザ素子(1)の出射面(13)が部分反射性に構成されており、このようにして減結合器として機能できることを特徴とする請求項1,17および18のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
- 半導体レーザ素子(1)と反射手段(3,9)との間に特にエタロンとして構成された波長選択素子(12)が配置されることを特徴とする請求項1〜19のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
- レンズ手段(2)はシリンドリカルレンズとして構成されており、そのシリンドリカル軸は基本的に第1方向(Y)に垂直な第2方向に延びることを特徴とする請求項1〜20のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
- レンズ手段(2)は、出射面(5)から出射されたレーザ光がレンズ手段(2)の通過後に第1方向(Y)においてそれに垂直な第2方向におけるものとほぼ等しい大きさのダイバージェンスを有することを特徴とする請求項1〜21のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
- 半導体レーザ素子(1)はレーザ光の所望モードの空間的拡散に合致した部分区域においてのみ電圧が印加される、または電子正孔対を製作するための電流が供給されることを特徴とする請求項1〜22のいずれか1項に記載の半導体レーザ装置。
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