JP4574729B2 - 不要な分子イオンの形成または再形成を減少させる方法および原子質量分析装置 - Google Patents
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Description
O++Ar=>ArO+
のような反応により発生させることができ、こうしたイオンをビームから除去できる大きさは2つ以上の反応経路の平衡に左右される。
Claims (29)
- 原子質量分析計の衝突セルまたは反応セルにおける不要な分子イオンの形成または再形成を減少させる方法であって、
(i)イオンビームを選択された範囲の質量対電荷比のイオンのみを実質的に通過させるイオン光学装置を通過させ第1の質量選択されたイオンビームを形成するステップと、
(ii)前記第1の質量選択されたイオンビームの少なくとも一部を衝突または反応セルを通過させ質量分析器に送るステップと、
(iii)前記質量分析器を動作させ、選択された範囲の質量電荷比のイオンを透過させるステップと、
を含む、
方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記ステップ(ii)は、前記衝突または反応セルの中で前記第1の質量選択されたイオンビームの一部と気体とを衝突または反応させるステップをさらに含む、
方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記気体は、水素またはヘリウムを含む、
方法。 - 請求項2に記載の方法であって、
前記衝突または反応ステップにより、人工イオンの形成を生起し、前記人工イオンは、前記選択された質量電荷比の範囲の外側の質量対電荷比を有する、
方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記質量分析器によって透過される質量対電荷比の範囲は、実質的にイオン光学装置によって透過される質量電荷比の選択された範囲と同一である、
方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記選択された質量電荷比の範囲は、16amuより小さい、
方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記選択された質量電荷比の範囲は、56m/eを含み、40m/eまたは72m/eを含まない、
方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記イオン光学装置は、補助質量フィルターを含む、
方法。 - 請求項8に記載の方法であって、
前記補助質量フィルターは、4極質量フィルターまたは磁気セクタである、
方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記選択された質量電荷比の範囲は、時間の経過に従って変化する、
方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記質量分析器は、実質的に1amuの幅の第2の選択された範囲の質量対電荷比を透過させる、
方法。 - 請求項1に記載の方法であって、
前記衝突または反応セルは、イオン光学系を含む、
方法。 - 請求項12に記載の方法であって、
前記イオン光学系は、4重極、6重極、または8重極のいずれか1つを含む、
方法。 - 請求項12に記載の方法であって、
前記イオン光学系は、質量選択的である、
方法。 - 原子質量分析装置の衝突または反応セルにおける空間電荷の影響を減少させる方法であって、
(i)イオンビームを選択された範囲の質量対電荷比のイオンのみを実質的に通過させるイオン光学装置を通過させ第1の質量選択されたイオンビームを形成するステップと、
(ii)前記第1の質量選択されたイオンビームの少なくとも一部を衝突または反応セルを通過させ質量分析器に送るステップと、
(iii)前記質量分析器を運転して、選択された範囲の質量電荷比のイオンを透過させるステップと、
を含む、
方法。 - 原子質量分析装置であって、
イオンビームを受け入れ、第1の選択された範囲の質量対電荷比のイオンの少なくとも一部のみを実質的に通過させ第1の透過イオンビームを形成する質量選択的イオン光学装置と、
前記第1の質量選択されたイオンビームの少なくとも一部を受け入れ、受け入れた第1の質量選択されたイオンビームの少なくとも一部を第2の透過イオンビームとして通過させる衝突または反応セルと、
第2の透過イオンビームの少なくとも一部を受け入れ、受け入れた第2のイオンビームの少なくとも一部であって前記選択された範囲の質量電荷比のイオンを透過させる質量分析器と、
を含む、
原子質量分析装置。 - 請求項16に記載の原子質量分析装置であって、
前記衝突または反応セルは、気体で加圧されている、
原子質量分析装置。 - 請求項17に記載の原子質量分析装置であって、
前記気体は、水素またはヘリウムを含む、
原子質量分析装置。 - 請求項17に記載の原子質量分析装置であって、
前記質量選択的イオン光学装置は、
衝突または反応セルにおいて、受け取った第1の透過イオンビームとガスの衝突または反応によって、形成される人工イオンの質量対電荷比を除外する、質量対電荷比の第1の選択された範囲を透過する、
原子質量分析装置。 - 請求項16に記載の原子質量分析装置であって、
前記質量分析器によって透過される質量対電荷比の第2の選択された範囲は、実質的に質量対電荷比の第1の選択された範囲と同一である、
原子質量分析装置。 - 請求項16に記載の原子質量分析装置であって、
前記質量選択的イオン光学装置は、前記質量電荷比の第1の選択された範囲であって、16amuより小さい幅を透過させる、
原子質量分析装置。 - 請求項16に記載の原子質量分析装置であって、
前記質量選択的イオン光学装置は、前記質量電荷比の第1の選択された範囲であって、56m/eを含み、40m/eまたは72m/eを含まない、範囲を透過させる、
原子質量分析装置。 - 請求項16に記載の原子質量分析装置であって、
前記質量選択的イオン光学装置は、補助質量フィルターを含む、
原子質量分析装置。 - 請求項23に記載の原子質量分析装置であって、
前記補助質量フィルターは、4極質量フィルターまたは磁気セクタを含む、
原子質量分析装置。 - 請求項16に記載の原子質量分析装置であって、
前記選択された質量電荷比の範囲は、時間の経過に従って変化する、
原子質量分析装置。 - 請求項16に記載の原子質量分析装置であって、
前記質量分析器は、実質的に1amuの幅の第2の選択された範囲の質量対電荷比を透過させる、
原子質量分析装置。 - 請求項16に記載の原子質量分析装置であって、
前記衝突または反応セルは、イオン光学系を含む、
原子質量分析装置。 - 請求項27に記載の原子質量分析装置であって、
前記イオン光学系は、4重極、6重極、または8重極のいずれか1つを含む、
原子質量分析装置。 - 請求項27に記載の原子質量分析装置であって、
前記イオン光学系は、質量選択的である、
原子質量分析装置。
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