JP4538301B2 - 電子スペクトル測定方法及び装置 - Google Patents
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- 2次非線形電子スペクトル測定装置であって、
狭帯域近赤外パルス光である第1のパルス光と、広帯域可視・近赤外パルス光である第2のパルス光とを、試料界面のある点に非同軸的に集光させるパルス光集光手段と、
該パルス光集光手段により集光され界面において得られる前記第1のパルス光と前記第2のパルス光との広帯域和周波信号を波長分散し多波長同時検出するマルチチャネル検出手段と
を有することを特徴とする電子スペクトル測定装置。 - 2次非線形電子スペクトル測定装置であって、
狭帯域近赤外パルス光である第1のパルス光を発生する第1のパルス光発生器と、
広帯域可視・近赤外パルス光である第2のパルス光を発生する第2のパルス光発生器と、
前記第1のパルス光と前記第2のパルス光とを、試料界面のある点に非同軸的に集光させるパルス光集光手段と、
該パルス光集光手段により集光され界面において得られる前記第1のパルス光と前記第2のパルス光との広帯域和周波信号を波長分散し多波長同時検出するマルチチャネル検出手段と
を有することを特徴とする電子スペクトル測定装置。 - 前記マルチチャネル検出手段により得られた信号のチャープを補正するための基準となる信号を得るための水晶波長板を備えることを特徴とする請求項1又は2に記載の電子スペクトル測定装置。
- 前記広帯域和周波信号に対して前記第1のパルス光と前記第2のパルス光とをフィルタリングするフィルター手段を前記マルチチャネル検出手段の入射光側に設けたことを特徴とする請求項3に記載の電子スペクトル測定装置。
- 前記第1の光パルスと前記第2の光パルスとの少なくともいずれかを遅延させる遅延手段を有することを特徴とする請求項3に記載の電子スペクトル測定装置。
- 2次非線形電子スペクトル測定方法であって、
狭帯域近赤外パルス光である第1のパルス光と、広帯域可視・近赤外パルス光である第2のパルス光とを、試料界面のある点に非同軸的に集光させるステップと、
集光され界面において得られる前記第1のパルス光と前記第2のパルス光との和周波信号を波長分散し多波長同時検出するマルチチャネル検出ステップと
を有することを特徴とする電子スペクトル測定方法。 - 前記マルチチャネル検出ステップで得られた信号のチャープを水晶波長板から得られた基準信号を用いて補正する補正ステップを備えることを特徴とする請求項6に記載の電子スペクトル測定方法。
- 前記補正ステップでの補正は前記マルチチャネル検出ステップにより得られた信号の強度を前記水晶波長板から得られた信号の強度で除することを特徴とする請求項7に記載の電子スペクトル測定方法。
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