JP2006145406A - 電子スペクトル測定方法及び装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 分光測定装置は、周波数ω1の挟帯域なフェムト秒可視・近赤外光の発光と、周波数ω2が広帯域な可視・近赤外パルス光L2は、白色光を540nm以下の短波長側をカットするフィルターにより得る。周波数ω1の狭帯域なパルス光L1と540nmから1.1μmの範囲に広がる周波数ω2の広帯域な可視・近赤外パルス光L2とを、試料1の気/液界面1aの同一点に非同軸的に集光する。両光L1、L2が、界面1aにおいて、時間的・空間的に一致したとき、和周波ω1+ω2の信号光L4が発生する。信号光L4はポリクロメーター5に導かれる。ポリクロメーター5は、回折格子を1枚有する、分光器内の凹面鏡の焦点距離300mm、回折格子の刻線数300本/mmブレーズに導かれて波長分散され、CCD7によって検出される。
【選択図】 図2
Description
Claims (6)
- 2次非線形電子スペクトル測定装置であって、
狭帯域近赤外パルス光である第1のパルス光と、広帯域可視・近赤外パルス光である第2のパルス光とを、前記試料界面のある点に非同軸的に集光させるパルス光集光手段と、
該パルス光集光手段により集光され界面において得られる前記第1のパルス光と前記第2のパルス光との広帯域和周波信号を波長分散し多波長同時検出するマルチチャネル検出手段と
を有することを特徴とする電子スペクトル測定装置。 - 2次非線形電子スペクトル測定装置であって、
狭帯域近赤外パルス光である第1のパルス光を発生する第1のパルス光発生器と、
広帯域可視・近赤外パルス光である第2のパルス光を発生する第2のパルス光発生器と、
前記第1のパルス光と前記第2のパルス光とを前記試料界面のある点に非同軸的に集光させるパルス光集光手段と、
該パルス光集光手段により集光され界面において得られる前記第1のパルス光と前記第2のパルス光との広帯域和周波信号を波長分散し多波長同時検出するマルチチャネル検出手段と
を有することを特徴とする電子スペクトル測定装置。 - 前記和周波信号に対して前記第1のパルス光と前記第2のパルス光とをフィルタリングするフィルター手段を前記マルチチャネル検出手段の入射光側に設けたことを特徴とする請求項1又は2に記載の電子スペクトル測定装置。
- さらに、前記第1の光パルスと前記第2の光パルスとの少なくともいずれかを遅延させる遅延手段を有することを特徴とする請求項1から3までのいずれか1項に記載の電子スペクトル測定装置。
- 2次非線形電子スペクトル測定方法であって、
狭帯域近赤外パルス光である第1のパルス光と、広帯域可視・近赤外パルス光である第2のパルス光とを、前記試料界面のある点に非同軸的に集光させるステップと、
集光され界面において得られる前記第1のパルス光と前記第2のパルス光との和周波信号を波長分散し多波長同時検出するマルチチャネル検出ステップと
を有することを特徴とする電子スペクトル測定方法。 - 2次非線形電子スペクトル測定装置であって、
第1の帯域幅を有するパルス光である第1のパルス光と、前記第1の帯域幅よりも広い第2の帯域幅を有する第2のパルス光とを、前記試料界面のある点に非同軸的に集光させるパルス光集光手段と、
該パルス光集光手段により集光され界面において得られる前記第1のパルス光と前記第2のパルス光との広帯域和周波信号を波長分散し多波長同時検出するマルチチャネル検出手段と
を有することを特徴とする電子スペクトル測定装置。
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JP2009229386A (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-08 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 和周波発生分光装置及びその分光方法 |
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- 2004-11-19 JP JP2004336581A patent/JP4538301B2/ja not_active Expired - Fee Related
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JP2009229386A (ja) * | 2008-03-25 | 2009-10-08 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 和周波発生分光装置及びその分光方法 |
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