JP4530222B2 - 高周波ノイズ解析装置、高周波ノイズ解析方法及び高周波ノイズ解析プログラム - Google Patents
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Description
特開2003−030273に、電源電流情報を算出せずにフロアプラン段階でEMI解析を行う不要輻射解析方法及び不要輻射解析装置が開示されている(特許文献1参照)。
高周波ノイズ解析装置。
又、動作周波数の影響を考慮した高周波ノイズを見積もることができる。
更に、共振による影響を考慮した高周波ノイズを見積もることができる。
更に、デジタルICの設計において短時間で高周波ノイズを見積もることができる。
(構成)
図1は、本発明による高周波ノイズ解析装置の第1の実施の形態におけるブロック図である。
本発明による高周波ノイズ解析装置は、CPUによって実行され、メモリやハードディスク等の記憶装置に格納されたプログラムである全容量算出部1、クロック系容量算出部(CLK系容量算出部)2、クロック占有率算出部3、高周波ノイズ見積もり部4を備える。又、メモリやハードディスク等の記憶装置で構成されるレイアウト後ネットリスト記憶部7、プロセスデータ記憶部8、見積もり情報記憶部9とを備える。更に、キーボードやマウス等のマンインターフェースである入力装置5と、モニタ等の表示装置やプリンタ等の印字装置、あるいは、他の装置とネットワークや通信回線で接続されたインターフェースである出力装置6とを備える。
図面を参照して、本発明による高周波ノイズ解析装置の第1の実施の形態における動作が説明される。
図9は、本発明による高周波ノイズ解析装置の第1の実施の形態における高周波ノイズ見積もり動作のフロー図である。
ICの設計工程において、入力装置5から入力される高周波ノイズ見積もり要求に応じ、全容量算出部1は、レイアウト後ネットリスト記憶部7から設計対象回路に使用する全てのレイアウト後ネットリスト11を抽出する。又、プロセスデータ記憶部8から設計対象回路に使用する全てのプロセスデータ12を抽出する。全容量算出部1は、抽出したレイアウト後ネットリスト11に含まれる回路情報とプロセスデータ12とを用いて回路全体におけるMOSのゲート容量を算出する。算出したゲート容量と、レイアウト後ネットリスト11に含まれる配線間容量及び電源間容量とから回路全体の全容量13を算出する(ステップS202)。
(構成)
図4は、本発明による高周波ノイズ解析装置の第2の実施の形態におけるブロック図である。
第2の実施の形態における高周波ノイズ解析装置は、第1の実施の形態における構成において、レイアウト後ネットリスト記憶部7に換えて回路設計後ネットリスト記憶部7’を備え、全容量算出部1に換えて全容量算出部1’を備え、CLK系容量算出部2に換えてCLK系容量算出部2’を備える。その他の同一符号の構成は第1の実施の形態と同じなので説明は省略される。
図9を参照して、本発明による高周波ノイズ解析装置の第2の実施の形態における高周波ノイズ見積もり動作が説明される。第2の実施の形態におけるステップS202及びステップS204の動作以外の動作は、第1の実施の形態と同じであるのでその説明は省略される。ステップS202において、全容量算出部1’は、回路設計後ネットリスト記憶部7’から回路設計後ネットリスト11’を抽出し、プロセスデータ記憶部8から抽出したプロセスデータ12とを用いて論理設計後の全容量13’を算出する。ステップS204においてCLK容量算出部2’は、回路設計後ネットリスト記憶部7’から回路設計後ネットリスト11’を抽出し、プロセスデータ記憶部8から抽出したプロセスデータ12とを用いて論理設計後のCLK系容量14’を算出する。
(構成)
図面を参照して、本発明による高周波ノイズ解析装置の第3の実施の形態が説明される。
図5は、本発明による高周波ノイズ解析装置の第3の実施の形態におけるブロック図である。第3の実施の形態における高周波ノイズ解析装置は、第1の実施の形態における構成において、全容量算出部1に換えて全容量算出部1”を備え、高周波ノイズ見積もり部4に換えて高周波ノイズ見積もり部4’を備え、入力装置5に換えて入力装置5’を備える。又、設計対象回路におけるトランジスタ数(Tr数)19と全容量13とを対応付けて記憶する全容量情報記憶部10を更に備える。その他の同一符号の構成は第1の実施の形態と同じなので説明は省略される。
高周波ノイズ見積もり部4’は、入力される全容量13とクロック占有率15とからクロック系容量14を算出し、このクロック系容量14、全容量13及び必要追加容量21とから容量追加後のクロック占有率15を算出する。入力される動作周波数16に対応する見積情報17を参照して、容量追加後の高周波ノイズを算出して追加後ノイズ量22として出力装置6に出力する。
図10は、本発明による高周波ノイズ解析装置の第3の実施の形態における容量追加後ノイズ算出動作のフロー図である。
図7を参照して、ユーザは、入力装置5’を操作して動作周波数16、CLK系占有率15、Tr数19及び必要追加容量21を入力する。例えば、動作周波数16(30MHz)、CLK系占有率15(6%)、Tr数19(753000個)及び必要追加容量21(15616.2PF)が入力される。全容量算出部1”は、全容量記憶部10から抽出した全容量情報20と、入力装置5’から入力されるTr数19とを用いて全容量13を算出する(ステップS212)。図6を参照して、Tr数19(753000個)に対応する全容量13(7808.1PF)が算出される。
(構成)
図面を参照して、本発明による高周波ノイズ解析装置の第4の実施の形態が説明される。
図8は、本発明による高周波ノイズ解析装置の第4の実施の形態におけるブロック図である。第4の実施の形態における高周波ノイズ解析装置は、第3の実施の形態における構成において、全容量算出部1’に換えて全容量算出部1”を備え、高周波ノイズ見積もり部4’に換えて高周波ノイズ見積もり部4”を備え、入力装置5’に換えて入力装置5”を備える。その他の同一符号の構成は第1の実施の形態と同じなので説明は省略される。
高周波ノイズ見積もり部4”は、入力される全容量13とクロック占有率15とからクロック系容量14を算出する。次に、入力される動作周波数16に対応する見積情報17を参照して、入力される追加後ノイズ量22に対応するクロック占有率15を容量追加後のクロック占有率15として算出する。次に、入力される全容量13とクロック占有率と、追加後ノイズ量22に対応するクロック占有率とから必要追加容量21を算出し出力装置6に出力する。
図11は、本発明による高周波ノイズ解析装置の第4の実施の形態における必要追加容量算出動作のフロー図である。
図8を参照して、ユーザは、入力装置5”を操作して動作周波数16、CLK系占有率15、Tr数19及び追加後ノイズ量22を入力する。例えば、動作周波数16(30MHz)、CLK系占有率15(6%)、Tr数19(753000個)及び追加後ノイズ量(60.0dBμA 100MHz換算)が入力される。全容量算出部1”は、全容量記憶部10から抽出した全容量情報20と、入力装置5’から入力されるTr数19とを用いて全容量13を算出する(ステップS222)。図6を参照して、Tr数19(753000個)に対応する全容量13(7808.1PF)が算出される。
又、従来技術ではパッケージのインダクタンス(L)、内部容量(C)、抵抗(R)等それぞれ情報がそろって、算出推定するが、本発明は容量の比(クロック占有率15)によりノイズを見積もるため、解析時間が短縮できる。
更に、パッケージ情報、共振情報がなくとも、LSIが動作する、動作周波数16、Tr数19、クロック占有率15がわかれば、ノイズ量、必要追加容量、追加後のノイズ量を見積もることができる。
1、1’、1” : 全容量算出部
2、2’ : クロック系容量算出部
3 : クロック占有率算出部
4、4’、4” : 高周波ノイズ見積もり部
5、5’、5” : 入力装置
6、6’、6” : 出力装置
11 : レイアウト後ネットリスト
11’ : 回路設計後ネットリスト
12 : プロセスデータ
13、13’ : 全容量
14、14’ : クロック系容量
15 : クロック占有率
16 : 動作周波数
17 : 見積情報
18 : 高周波ノイズ見積値、高周波ノイズ
19 : Tr数
20 : 全容量情報
21 : 必要追加容量
19 : 追加後ノイズ量
Claims (19)
- 回路全体の容量である全容量を算出する全容量算出部と、
前記回路中において、クロック信号が入力される回路部分であるクロック系回路の容量をクロック系容量として算出するクロック系容量算出部と、
前記全容量と前記クロック系容量とから、前記全容量に対する前記クロック系容量の比率を表すクロック占有率を算出するクロック占有率算出部と、
回路に発生し得る高周波ノイズと前記クロック占有率との相関関係を見積情報として記憶する見積もり情報記憶部と、
前記見積情報に基づいて、前記算出されたクロック占有率に対応する高周波ノイズを算出し、前記回路において発生する高周波ノイズの予想値として出力するノイズ見積もり部と
を具備する
高周波ノイズ解析装置。 - 請求項1に記載の高周波ノイズ解析装置において、
前記見積もり情報記憶部は、動作周波数毎の高周波ノイズと、前記クロック占有率とを対応付けた情報を前記見積情報として記憶し、
前記ノイズ見積もり部は、前記見積情報に基づき、前記算出されたクロック占有率と入力された動作周波数とに対応する高周波ノイズを前記予想値として算出する
高周波ノイズ解析装置。 - 請求項2に記載の高周波ノイズ解析装置において、
前記見積もり情報記憶部は、電源電圧毎の高周波ノイズと、前記クロック占有率とを対応付けた情報を前記見積情報として記憶し、
前記ノイズ見積もり部は、前記見積情報に基づき、前記算出されたクロック占有率と入力装置から入力された電源電圧とに対応する高周波ノイズを前記予想値として算出する
高周波ノイズ解析装置。 - 請求項1から3いずれか1項に記載の高周波ノイズ解析装置において、
前記全容量算出部は、前記回路のネットリスト及びプロセスデータを参照して、前記全容量を算出し、
前記クロック系容量算出部は、前記回路のネットリスト及びプロセスデータを参照して前記クロック系容量を算出する
高周波ノイズ解析装置。 - 請求項4に記載の高周波ノイズ解析装置において、
前記ネットリストは、前記回路のレイアウト設計において作成され、前記回路の回路情報、配線間容量及び電源間容量を含む
高周波ノイズ解析装置。 - 請求項4に記載の高周波ノイズ解析装置において、
前記ネットリストは、前記回路の論理設計において作成され、前記回路における素子のディメンジョン情報を含む
高周波ノイズ解析装置。 - 請求項1から3いずれか1項に記載の高周波ノイズ解析装置において、
前記全容量と前記回路に使用されるトランジスタ数とを関連付けて格納する全容量情報記憶部を更に具備し、
前記全容量算出部は、前記全容量情報記憶部を参照して、入力されるトランジスタ数に対応する全容量を算出する
高周波ノイズ解析装置。 - 請求項1から7いずれか1項に記載の高周波ノイズ解析装置において、
前記ノイズ見積もり部は、入力される全容量と、クロック占有率と、追加容量とを用いて容量追加後の前記回路における高周波ノイズ量を算出する
高周波ノイズ解析装置。 - 請求項1から8いずれか1項に記載の高周波ノイズ解析装置において、
前記ノイズ見積もり部は、入力される全容量とクロック占有率と所望のノイズ量とを用いて、前記回路における高周波ノイズ量が所望のノイズ量となるために必要な追加容量を算出する
高周波ノイズ解析装置。 - 請求項1から9いずれか1項に記載の高周波ノイズ解析装置において、
前記高周波ノイズは、前記回路中の共振の影響を考慮したノイズ量である
高周波ノイズ解析装置。 - 演算処理装置が、回路全体の容量である全容量を算出するステップと、
前記演算処理装置が、前記回路においてクロックが入力される回路部分の容量であるクロック系容量を算出するステップと、
前記演算処理装置が、前記全容量と前記クロック系容量とから、前記全容量に対する前記クロック系容量の比率を表すクロック占有率を算出するステップと、
記憶装置が、回路に発生し得る高周波ノイズと前記クロック占有率との相関関係を見積情報として記憶するステップと、
前記演算処理装置が、前記見積情報に基づいて、前記算出されたクロック占有率に対応する高周波ノイズを算出し、前記回路において発生する高周波ノイズの予想値として出力するステップと
を具備する
高周波ノイズ解析方法。 - 請求項11に記載の高周波ノイズ解析方法において、
前記予想値を出力するステップは、
前記演算処理装置が、高周波ノイズとクロック占有率との相関関係に基づいて、前記算出したクロック占有率に対応する高周波ノイズを前記予想値として算出するステップを備える
高周波ノイズ解析方法。 - 請求項11又は12に記載の高周波ノイズ解析方法において、
前記全容量を算出するステップは、前記演算処理装置が、前記回路のネットリスト及びプロセスデータに基づき前記全容量を算出するステップを含み、
前記クロック系容量を算出するステップは、前記演算処理装置が、前記回路のネットリスト及びプロセスデータを参照して前記クロック系容量を算出するステップを含む
高周波ノイズ解析方法。 - 請求項13に記載の高周波ノイズ解析方法において、
前記記憶装置が、前記回路のレイアウト設計において、前記回路の回路情報、配線間容量及び電源間容量を含めて作成された前記ネットリストを記憶するステップを更に備える
高周波ノイズ解析方法。 - 請求項13に記載の高周波ノイズ解析方法において、
前記記憶装置が、前記回路の論理回路設計において、前記回路における素子のディメンジョン情報を含めて作成された前記ネットリストを記憶するステップを更に備える
高周波ノイズ解析方法。 - 請求項11又は12に記載の高周波ノイズ解析方法において、
前記記憶装置が、前記全容量と前記回路に使用されるトランジスタ数とを関連付けて格納するステップを更に備え、
前記全容量を算出するステップは、前記演算装置が、前記全容量情報記憶部を参照して、入力されるトランジスタ数に対応する全容量を算出するステップを備える
高周波ノイズ解析方法。 - 請求項12から16いずれか1項に記載の高周波ノイズ解析方法において、
前記演算装置が、入力される全容量と、クロック占有率と、追加容量とを用いて容量追加後の前記回路における高周波ノイズ量を算出するステップを更に備える
高周波ノイズ解析方法。 - 請求項12から17いずれか1項に記載の高周波ノイズ解析方法において、
前記演算装置が、入力される全容量とクロック占有率と所望のノイズ量とを用いて、前記回路における高周波ノイズ量が所望のノイズ量となるために必要な追加容量を算出するステップを更に備える
高周波ノイズ解析方法。 - 請求項11から18いずれか1項に記載の高周波ノイズ解析方法をコンピュータに実行させる
高周波ノイズ解析プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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Family
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---|---|---|---|---|
JP2003030273A (ja) * | 2001-07-13 | 2003-01-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 不要輻射解析方法および不要輻射解析装置 |
JP2004280439A (ja) * | 2003-03-14 | 2004-10-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | クロストークノイズ検出方法、並びに半導体集積回路の設計方法及び設計検証方法 |
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