JP4509604B2 - 形状データ取得方法および形状測定装置 - Google Patents
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Description
また、サンプリング周波数が大きくなるにしたがって、カットオフ周波数が大きくなるように、カットオフ周波数を変更するに際しては、カットオフ周波数をサンプリング周波数に正比例させるのが、帯域通過特性の変更処理として演算処理が簡易であり、好ましい。
また、本発明の請求項2に係る形状データ取得方法は、請求項1に係る形状データ取得方法において、該輪郭位置に追従するように前記略直交する方向に沿ってプローブを変位させ、前記プローブの変位量を検出することによって、前記輪郭位置を検出することを特徴とする。
また、サンプリング周波数が大きくなるにしたがって、取得された形状データにはより高い周波数成分まで含まれることになるが、本発明の請求項1に係る形状データ取得方法によれば、サンプリング周波数が大きくなるにしたがって、ローパスフィルタ処理のカットオフ周波数が自動的に大きく変更されるため、形状データに含まれる周波数成分をより高周波数成分まで帯域通過させることができ、走査速度およびサンプリング間隔の設定によって要求される高周波側の周波数成分を適切に帯域通過させた形状データを得ることができる。
一方、サンプリング周波数が小さくなると、カットオフ周波数も小さくなるため、形状データに含まれる周波数成分のうち要求周波数成分よりも高い周波数成分を効果的にカットすることができ、形状データのデータ量を低減することができる。
さらに、本発明の請求項1に係る形状データ取得方法によれば、走査速度とサンプリング間隔とに基づいて算出される要求サンプリング周波数(第1のサンプリング周波数)よりも大きいサンプリング周波数(第2のサンプリング周波数)でオーバサンプリングした中間の形状データを得ることができる。
そして、このオーバサンプリングして得られた中間の形状データに対して、第2のサンプリング周波数に基づいて帯域通過特性が変更された帯域処理を施すことにより、要求サンプリング周波数よりも高い周波数成分を含む形状データを得ることができ、さらに、このより高い周波数成分を含む形状データに対して、第1のサンプリング周波数によってサンプリング処理することにより、要求サンプリング周波数に適した周波数成分を含む形状データを得ることができるとともに、そのデータ量を、要求サンプリング周波数に適したものに抑えることができる。
また、2つのサンプリング周波数によってサンプリングが行われるため、帯域処理による位相遅れの影響が低減された形状データを得ることができる。
なお、第2のサンプリング周波数は、第1のサンプリング周波数に応じて変更できるものであってもよいし、第1のサンプリング周波数に拘わらず固定的なものであってもよい。固定的な値として設定する場合には、第1のサンプリング周波数として想定される最大の値よりも大幅に大きい値(例えば、第1のサンプリング周波数として想定される最大の値の10倍程度)に設定するのが好ましい。
また、帯域処理をデジタル演算処理により行うため、帯域通過特性の変更は、この帯域通過特性を規定するデジタル演算処理の定数を変更するだけの簡単な操作で行うことができ、第1のサンプリング周波数や第2のサンプリング周波数に応じた帯域通過特性の変更を簡便に行うことができる。
しかも、デジタル演算処理の処理間隔を、第2のサンプリング周波数の周期間隔とする
ことにより、中間的に取得された形状データの位相遅れの影響を抑制することができる。
さらにまた、デジタル演算処理においてカットオフ周波数を規定する定数(定数組)が、互いに異なる複数の定数(定数組)のうちから択一的に選択されるとともに、定数(定数組)の数は、第1のサンプリング周波数に対する第2のサンプリング周波数の比と同数存在するため、この比に応じて、定数(定数組)の選択を切り替えてデジタル演算処理による帯域通過特性を変更させることにより、帯域通過特性を第1のサンプリング周波数に比例させることができる。
そして、第1のサンプリング周波数に比例する帯域通過特性を実現するうえで必要な定
数(定数組)の数としては、最低限の数であるため、これら定数(定数組)を記憶させる
ハードウェア資源の消費を最小限に抑えることができる。
f1y=Vy/Δy (3)
測長用DSP29は、このPC17によって算出された各軸方向についての第1のサンプリング周波数f1x,f1yを、データ通信部30を介してPC17から受け、この第1のサンプリング周波数f1x,f1yで、各レーザ測長器11,12,13による測長データを取得することにより、被測定体8の3次元輪郭形状を表す形状データを取得するとともに、取得された形状データに対して所定の帯域通過特性の帯域処理を施し、しかも、第1のサンプリング周波数f1x,f1yに応じて、この帯域処理の帯域通過特性を変更するプログラムが格納されており、特性変更手段としても機能する。
2a,2b エンコーダ
3 マイクロエアスライダ
4 荷重調整用ばね
5 変位計
6 Z軸ステージ
7 XYステージ
8 被測定体
9 取付治具
10
11,12,13 レーザ測長器
14,15,16 基準ミラー
17 PC
18 ディスプレイ
19 キーボード
20 CPU
21 ROM
22 RAM
23 I/O
24 HDD
25,27 コントローラ
26,28 ドライバ
29 測長用DSP
30 データ通信部
100 形状測定装置
Claims (8)
- 被測定体を所定の走査速度で2次元走査しつつ、所定のサンプリング間隔で、前記2次元走査の方向に略直交する方向における前記被測定体の輪郭位置を検出することにより、前記被測定体の3次元輪郭形状を表す形状データを取得し、この取得された形状データに対して、所定の帯域処理を施すことにより、帯域処理された形状データを取得する被測定体の形状データ取得方法において、
前記帯域処理の帯域通過特性を、前記走査速度と前記サンプリング間隔とに基づいて算出されるサンプリング周波数に応じて変更し、
前記変更される帯域通過特性はカットオフ周波数であり、前記帯域処理は前記形状データのうち前記カットオフ周波数を超える周波数成分の通過を制限するローパスフィルタ処理であり、前記サンプリング周波数が大きくなるにしたがって前記カットオフ周波数が大きくなるように、該カットオフ周波数を変更し、
前記所定の走査速度と前記所定のサンプリング間隔とに基づいて算出されるサンプリング周波数である第1のサンプリング周波数に代えて、該第1のサンプリング周波数よりも大きく設定された第2のサンプリング周波数に基づいて前記形状データを中間的に取得するとともに、前記第1のサンプリング周波数に代えて前記第2のサンプリング周波数に応じて前記帯域通過特性を変更し、前記中間的に取得された形状データに対して、前記帯域通過特性が変更された帯域処理を施し、前記帯域処理して得られた形状データを、前記第1のサンプリング周波数によってサンプリング処理し、
前記帯域処理をデジタル演算処理により行い、
該デジタル演算処理の処理間隔を、前記第2のサンプリング周波数の周期間隔とし、カットオフ周波数を規定する定数は、互いに異なる複数の定数のうちから択一的に選択されるとともに、前記定数の数は、前記第1のサンプリング周波数に対する前記第2のサンプリング周波数の比と同数であることを特徴とする形状データ取得方法。 - 前記輪郭位置に追従するように前記略直交する方向に沿ってプローブを変位させ、前記プローブの変位量を検出することによって、前記輪郭位置を検出することを特徴とする請求項1に記載の形状データ取得方法。
- 前記第2のサンプリング周波数は、前記第1のサンプリング周波数に応じて変更されることを特徴とする請求項1または2に記載の形状データ取得方法。
- 前記第2のサンプリング周波数と同一または該第2のサンプリング周波数よりも大きい第3のサンプリング周波数に基づいて、前記第1のサンプリング周波数および第2のサンプリング周波数を生成することを特徴とする請求項1から3のうちいずれか1項に記載の形状データ取得方法。
- 前記第1のサンプリング周波数および前記第2のサンプリング周波数は、前記第3のサンプリング周波数に対する演算器のタイマー割込みによって生成されることを特徴とする請求項4に記載の形状データ取得方法。
- 前記第3のサンプリング周波数を分周して生成された周波数のうち、前記第1のサンプリング周波数に最も近い周波数を、前記第1のサンプリング周波数として用いることを特徴とする請求項4または5に記載の形状データ取得方法。
- 前記第2のサンプリング周波数が、前記第1のサンプリング周波数の略定数倍となるように設定される場合において、前記第1のサンプリング周波数に最も近い周波数が生成されたときの分周比を、前記第1のサンプリング周波数に対する前記第2のサンプリング周波数の比で除算し、該除算により得られた商の整数部分で前記第3のサンプリング周波数を除算することによって生成された周波数を、前記第2のサンプリング周波数として用いることを特徴とする請求項6に記載の形状データ取得方法。
- 前記第2のサンプリング周波数が、前記第1のサンプリング周波数の略定数倍となるように設定される場合において、前記第1のサンプリング周波数に最も近い周波数が生成されたときの分周比を、前記第1のサンプリング周波数に対する前記第2のサンプリング周波数の比で除算し、該除算により得られた整数の商以外の余りの値に応じて、前記定数の選択を切り替えることを特徴とする請求項1から7のうちいずれか1項に記載の形状データ取得方法。
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