JP4508037B2 - Attenuator - Google Patents
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Description
本発明は、グランドに電気的に接続され基板上に形成された抵抗体パターンと、この抵抗体パターンを介して互いに直列接続された一対の導体パターンとを有する減衰器に関し、詳しくは、周波数に対する減衰特性の改善を図った減衰器に関するものである。 The present invention relates to an attenuator having a resistor pattern electrically connected to a ground and formed on a substrate, and a pair of conductor patterns connected in series with each other through the resistor pattern. The present invention relates to an attenuator with improved attenuation characteristics.
図7は、入力信号の周波数が数[GHz]になる高周波帯域やマイクロ波帯域で使用される従来の減衰器の構成を示した図である(例えば、特許文献1参照)。図7(a)は、斜視図であり、図7(b)は上面図である。図7において、基板10は、例えば、アルミナ等の絶縁基板である。
FIG. 7 is a diagram showing a configuration of a conventional attenuator used in a high frequency band and a microwave band where the frequency of an input signal is several [GHz] (see, for example, Patent Document 1). FIG. 7A is a perspective view, and FIG. 7B is a top view. In FIG. 7, a
裏面電極11は、基板10の裏面全体に形成される。抵抗体パターン12は、薄膜または厚膜の所定の抵抗値を持ったパターンであり、基板10の表面に概矩形状に形成される。スルーホール13は、抵抗体パターン12の長手方向の両端に設けられ、裏面電極11と抵抗体パターン12とを電気的に接続する。
The
一対のマイクロストリップライン14a、14bは、導体パターンであり、信号を伝送する伝送経路であり、抵抗体パターン12の長手方向のほぼ中央に設けられる。そして、マイクロストリップライン14a、14bの一端が、抵抗体パターン12に接続され、抵抗体パターン12を介して互いに直列接続されている。従って、抵抗体パターン12とマイクロストリップライン14a、14bとで、概十字を形成している。
The pair of
このような装置の動作を説明する。
マイクロストリップライン14aの他端に入力した高周波な入力信号が、ライン14aによって伝送される。そして、ライン14aによって伝送された高周波信号が、抵抗体パターン12により減衰される。さらに、減衰された信号が、ライン14bに伝送され、ライン14bの他端から後段の回路に伝送される。
The operation of such an apparatus will be described.
A high-frequency input signal input to the other end of the microstrip line 14a is transmitted by the line 14a. Then, the high frequency signal transmitted through the line 14 a is attenuated by the
図7に示すように、基板10上にパターン12、14a、14bで減衰器を形成する場合、入力信号の入力レベルが大きく、減衰量も大きいと、抵抗体パターン12での発熱量が大きくなる。例えば、入力信号の入力レベルが1[W]であり、減衰量が20〜30[dB]であれば、抵抗体パターン12の発熱量は、ほぼ1[W]になる。もちろん、減衰量が小さくとも、入力レベルが大きいほど、発熱量が増える。
As shown in FIG. 7, when the attenuator is formed on the
そのため、基板10裏面の裏面電極11を、減衰器を収納する金属ケース(図示せず)に密着させ、金属ケースへの放熱パスを確保している。なお、裏面電極11は、金属ケースに電気的にも接続され、電位的にグランド(接地または筐体接地)になる。そして、放熱パスの確保と熱密度の低減とを目的として分布型のパターン設計を行なう。
For this reason, the
具体的には、入力レベルが小さければ、抵抗体パターン12での発熱量が小さいため、パターンサイズを小型化できる。一方、入力レベルが大きければ、発熱量も大きくなり、パターンサイズが大型化される。
Specifically, if the input level is small, the amount of heat generated by the
ここで、図8は、図7に示す抵抗体パターン12の高周波における等価回路であり、理想的には、π型の減衰器の等価回路で表現される。図8(a)は、パターンサイズが小さい場合であり、図8(b)は、パターンサイズが大きい場合である。
Here, FIG. 8 is an equivalent circuit at a high frequency of the
図8(a)において、マイクロストリップライン14a、14bを接続するライン上に直列抵抗R1、この直列抵抗R1の両端それぞれに一端が接続され他端がグランドに接続される並列抵抗R2、R3、この並列抵抗R2,R3と対称に並列抵抗R4,R5が接続される。一方、図8(b)において、並列抵抗R2〜R5それぞれに寄生インダクタンスLがある。なお、他にも寄生インダクタンス、寄生容量が発生するが、図示を省略している。
In FIG. 8A, a series resistor R1 is connected to the line connecting the
図8(a)に示すように、パターンサイズが小さければ、寄生インダクタンスや寄生容量の影響は小さく、ほぼ理想的な集中乗数モデルであらわされる。 As shown in FIG. 8A, if the pattern size is small, the influence of the parasitic inductance and the parasitic capacitance is small, which is expressed by an almost ideal concentrated multiplier model.
しかしながら、図8(b)に示すように、パターンサイズが大きい場合、高周波信号では寄生インダクタンスや寄生容量(図示せず)が無視できぬ値となる。このため、特に並列抵抗R2〜R5につく寄生インダクタンスLの影響で、周波数が高くなるほど減衰量が小さくなり、周波数に対する減衰特性が悪化するという問題があった。 However, as shown in FIG. 8B, when the pattern size is large, the parasitic inductance and the parasitic capacitance (not shown) are values that cannot be ignored in the high-frequency signal. For this reason, in particular, due to the influence of the parasitic inductance L attached to the parallel resistors R2 to R5, there is a problem that the attenuation amount decreases as the frequency increases, and the attenuation characteristic with respect to the frequency deteriorates.
そこで本発明の目的は、周波数に対する減衰特性の改善を図った減衰器を実現することにある。 Accordingly, an object of the present invention is to realize an attenuator with improved attenuation characteristics with respect to frequency.
請求項1記載の発明は、
グランドに電気的に接続され基板上に形成された抵抗体パターンと、この抵抗体パターンを介して互いに直列接続された一対の導体パターンとを有する減衰器において、
一端が前記グランドに電気的に接続され、前記抵抗体パターンに沿って形成されるグランドパターンを設けたことを特徴とするものである。
請求項2記載の発明は、請求項1記載の発明において、
前記抵抗体パターンの一端または両端と前記基板裏面のグランドとを電気的に接続するスルーホールを設けたことを特徴とするものである。
請求項3記載の発明は、請求項1記載の発明において、
前記基板表面上に前記抵抗体パターンの長手方向に対して垂直に設けられるサイドパターンと、
このサイドパターンと前記基板裏面のグランドとを電気的に接続するスルーホールと
を設けたことを特徴とするものである。
請求項4記載の発明は、請求項1記載の発明において、
前記基板表面上に前記抵抗体パターンの長手方向に対して垂直に設けられるサイドパターンと、
前記基板側面に前記サイドパターンと前記基板裏面のグランドとを電気的に接続する側面のパターンと
を設けたことを特徴とするものである。
請求項5記載の発明は、請求項1〜4のいずれかに記載の発明において、
グランドパターンは、他端が開放端であることを特徴とするものである。
請求項6記載の発明は、請求項1〜5のいずれかに記載の発明において、
抵抗体パターンは、両端が前記グランドに接続され、
前記抵抗体パターンと前記導体パターンとで、概十字を形成していることを特徴とするものである。
請求項7記載の発明は、請求項1〜5のいずれかに記載の発明において、
抵抗体パターンは、一端が前記グランドに接続され、他端が前記導体パターンと接続され、
前記抵抗体パターンと前記導体パターンとで、概T字を形成していることを特徴とするものである。
請求項8記載の発明は、請求項1〜7のいずれかに記載の発明において、
高周波信号の信号処理を行なう信号処理装置に用いたことを特徴とするものである。
The invention described in
In an attenuator having a resistor pattern electrically connected to the ground and formed on a substrate, and a pair of conductor patterns connected in series with each other through the resistor pattern,
One end is electrically connected to the ground, and a ground pattern formed along the resistor pattern is provided.
The invention according to
A through hole for electrically connecting one or both ends of the resistor pattern and the ground on the back surface of the substrate is provided.
The invention according to
A side pattern provided perpendicular to the longitudinal direction of the resistor pattern on the substrate surface;
A through hole for electrically connecting the side pattern and the ground on the back surface of the substrate;
Is provided.
The invention according to
A side pattern provided perpendicular to the longitudinal direction of the resistor pattern on the substrate surface;
A side pattern electrically connecting the side pattern and the ground on the back surface of the substrate to the side surface of the substrate;
Is provided.
The invention according to
The ground pattern is characterized in that the other end is an open end.
The invention according to
The resistor pattern has both ends connected to the ground,
The resistor pattern and the conductor pattern form an approximate cross.
The invention according to
The resistor pattern has one end connected to the ground and the other end connected to the conductor pattern.
The resistor pattern and the conductor pattern form an approximate T-shape.
The invention according to
The present invention is characterized in that it is used in a signal processing device that performs signal processing of a high-frequency signal.
本発明によれば、以下のような効果がある。
請求項1〜8によれば、一端をグランドに電気的に接続したグランドパターンが、抵抗体パターンに沿って形成されるので、入力される信号の周波数が高くなるほど、グランドパターンがインピーダンスの低いバイパスとして機能する。これにより、抵抗体パターンのパターンサイズが大きくても、抵抗体パターンで発生する寄生インダクタンスの影響を減少することができ、周波数に対する減衰特性の改善を図ることができる。
The present invention has the following effects.
According to the first to eighth aspects, since the ground pattern in which one end is electrically connected to the ground is formed along the resistor pattern, the ground pattern has a lower impedance as the frequency of the input signal increases. Function as. Thereby, even if the pattern size of the resistor pattern is large, the influence of the parasitic inductance generated in the resistor pattern can be reduced, and the attenuation characteristic with respect to the frequency can be improved.
以下図面を用いて本発明の実施の形態を説明する。
[第1の実施例]
図1は、本発明の第1の実施例を示した構成図である。ここで、図7と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。また、斜視図も省略する。図1において、抵抗体パターン12が形成されるのと同じ面の基板10上に、グランドパターン15が新たに形成される。
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
[First embodiment]
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of the present invention. Here, the same components as those in FIG. A perspective view is also omitted. In FIG. 1, a
グランドパターン15は、スルーホール13からマイクロストリップライン14a、14b側に向けて、抵抗体パターン12の長手方向に沿ってほぼ平行に形成される。なお、グランドパターン15は、一端がスルーホール13に電気的に接続され、他端がライン14a、14bに接続されず開放端である。つまり、グランドパターン15は、いわゆる、スタブである。また、グランドパターン15は、スルーホール13それぞれに、抵抗体パターン12の両脇に形成され、合計4個形成される。離間Sは、グランドパターン15と抵抗体パターン12の距離である。
The
このような装置の動作を説明する。
マイクロストリップライン14aの他端に入力した入力信号が、ライン14aによって伝送される。そして、ライン14aによって伝送された入力信号が、抵抗体パターン12により減衰される。さらに、減衰された信号が、ライン14bに伝送され、ライン14bの他端から後段の回路に伝送される。
The operation of such an apparatus will be described.
An input signal input to the other end of the microstrip line 14a is transmitted by the line 14a. Then, the input signal transmitted through the line 14 a is attenuated by the
次に、周波数による寄生インダクタンス、寄生容量の説明をする。ここで、図2は、図1に示す抵抗体パターン12、グランドパターン15の等価回路の一例を示した図である。ここで、図8と同一のものは同一符号を付し、説明を省略する。
Next, parasitic inductance and parasitic capacitance according to frequency will be described. Here, FIG. 2 is a diagram showing an example of an equivalent circuit of the
直流〜低周波(数[GHz]以下)の入力信号では、パターンサイズによらず、図8(a)に示すような、寄生インダクタンスや寄生容量の影響が小さく、ほぼ理想的な集中乗数モデルであらわされる。なお、抵抗体パターン12からグランドパターン15には、離間Sによって、ほとんど信号が伝送されない。
For input signals of direct current to low frequency (several [GHz] or less), regardless of the pattern size, the influence of parasitic inductance and parasitic capacitance is small as shown in FIG. Appears. Note that almost no signal is transmitted from the
高周波(例えば、4[GHz]以上)の入力信号では、図2に示すように、並列抵抗R2〜R5につく寄生インダクタンスLの影響が発生するが、抵抗体パターン12に沿って追加したグランドパターン15と抵抗体パターン15間が、周波数が高くなるほどコンデンサとして動作する。そして、抵抗体パターン12への経路が、高い周波数ほどインピーダンスの低いバイパスとなる。従って、寄生インダクタンスLの影響が減少する。
As shown in FIG. 2, an input signal of high frequency (for example, 4 [GHz] or more) is affected by the parasitic inductance L attached to the parallel resistors R <b> 2 to R <b> 5. As the frequency increases, the
図3を用いて説明する。図3は、高周波な信号の伝送を模式的に示した図である。高周波信号(矢印A1)のうち所定パワー分の信号が、抵抗体パターン12によってスルーホール13に伝送される(矢印A2)。しかし、信号の周波数が高くなるほどグランドパターン15をバイパスして伝送され(矢印A3)、寄生インダクタンスLの影響が減少する。
This will be described with reference to FIG. FIG. 3 is a diagram schematically showing transmission of a high-frequency signal. Of the high-frequency signal (arrow A1), a signal for a predetermined power is transmitted to the through
図4は、図1に示す装置の電磁界解析によるシミュレーションの結果を示した図である。図4において、横軸は入力信号の周波数であり、縦軸は減衰量である。図4中、菱形は、グランドパターン15がない場合であり、丸印は、離間Sが30[μm]の場合であり、三角は、離間Sが100[μm]の場合である。
FIG. 4 is a diagram showing a result of simulation by electromagnetic field analysis of the apparatus shown in FIG. In FIG. 4, the horizontal axis represents the frequency of the input signal, and the vertical axis represents the attenuation. In FIG. 4, the rhombus is when the
図4に示すように、グランドパターン15がない場合、12[GHz]において、減衰量の傾きは1.5[dB]程度の右肩あがりだが、グランドパターン15を設け、離間Sを30[μm]とすると、約0.6[dB]程度の右肩上がりになり、減衰特性が改善されている。
As shown in FIG. 4, when there is no
また、図4に示すように、離間Sを調整することにより、右肩上がりの傾向、すなわち減衰特性を連続的に変化させることもできる。 Further, as shown in FIG. 4, by adjusting the separation S, the tendency to rise rightward, that is, the attenuation characteristic can be continuously changed.
このように、一端をグランドに電気的に接続したグランドパターン15が、抵抗体パターン12の長手方向に沿って形成されるので、入力される信号の周波数が高くなるほど、グランドパターン15はインピーダンスの低いバイパスとして機能する。これにより、抵抗体パターン12のパターンサイズが大きくても、抵抗体パターン12で発生する寄生インダクタンスLの影響が減少することができ、周波数に対する減衰特性の改善を図ることができる。
Thus, since the
また、抵抗体パターン12とグランドパターン15との離間Sを調整することにより、減衰特性の傾きを調整することができるので、周波数に対する減衰特性を所望の特性とすることができる。
In addition, since the slope of the attenuation characteristic can be adjusted by adjusting the separation S between the
[第2の実施例]
図5は、本発明の第2の実施例を示した構成図である。ここで、図1と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図5(a)は上面図であり、図5(b)はA−A’の断面図である。図5において、スルーホール13の代わりにグランド用のサイドパターン16が設けられる。サイドパターン16は、基板10の表面(抵抗体パターン12と同一面)に、概矩形状で、抵抗体パターン12の長手方向に対して垂直に設けられる。また、サイドパターン16は、基板10の側面のパターン16’を介して(または図示しないスルーホールを介して)、裏面電極11と電気的に接続される。いわゆる、ラップグランドを形成する。もちろん、グランドパターン15の一端が、このサイドパターン16に接続される。
[Second Embodiment]
FIG. 5 is a block diagram showing a second embodiment of the present invention. Here, the same components as those in FIG. FIG. 5A is a top view, and FIG. 5B is a cross-sectional view taken along line AA ′. In FIG. 5, a
すなわち、図1においては、グランドである裏面電極11と抵抗体パターン12とを電気的に接続するためスルーホール13を用いる構成としたが、スルーホール13の代わりにグランド用のサイドパターン16、パターン16’で、裏面電極11と抵抗体パターン12とを電気的に接続している。このような装置の動作は、裏面電極11への信号の伝送を、スルーホール13の代わりにサイドパターン16で行なう以外は、図1に示す装置とほぼ同様なので説明を省略する。
That is, in FIG. 1, the through
[第3の実施例]
図6は、本発明の第3の実施例を示した構成図である。ここで、図1と同一のものには同一符号を付し、説明を省略する。図1では、抵抗体パターン12とマイクロストリップライン14a、14bとで、概十字を形成したが、図6は、概T字に形成した例を示している。
[Third embodiment]
FIG. 6 is a block diagram showing a third embodiment of the present invention. Here, the same components as those in FIG. In FIG. 1, the
図6において、片方のスルーホール13およびこのスルーホールと一体に形成されるグランドパターン15が取り外される。また、抵抗体パターン12の代わりに、抵抗体パターン17が設けられる。
In FIG. 6, one through
抵抗体パターン17は、薄膜または厚膜の所定の抵抗値を持ったパターンであり、基板10の表面に概矩形状に形成される。また、抵抗体パターン17は、一端がスルーホール13と電気的に接続され、他端がライン14a、14bと電気的に接続され、他端の端辺とライン14a、14bの長辺とが直線となるように形成される。このように、抵抗体パターン17とマイクロストリップライン14a、14bとで、概T字を形成する。このような装置の動作は、抵抗体パターン17の一端のみがスルーホール13に接続されているので、減衰される信号が抵抗体パターン17の両端のスルーホール13でなく片端方向にのみ伝送される。これ以外の動作は、図1に示す装置と同様なので説明を省略する。
The resistor pattern 17 is a pattern having a predetermined resistance value of a thin film or a thick film, and is formed in a substantially rectangular shape on the surface of the
なお、本発明はこれに限定されるものではなく、以下に示すようなものでもよい。
図1、図5に示す減衰器において、両方のスルーホール13またはサイドパターン16にグランドパターン15を設ける構成を示したが、片方のみでもよい。
The present invention is not limited to this, and may be as shown below.
In the attenuator shown in FIGS. 1 and 5, the configuration in which the
図1、図5、図6に示す減衰器において、抵抗体パターン12、17の両脇にグランドパターン15を設ける構成を示したが、片方のみでもよい。
In the attenuator shown in FIGS. 1, 5, and 6, the configuration in which the
図1、図5、図6に示す減衰器において、グランドパターン15の形状を、概矩形状としたが、他端を楕円形状にしたり、長手方向の長辺を曲線等にし、所望の減衰特性となるように調整してもよい。
In the attenuator shown in FIGS. 1, 5, and 6, the shape of the
図1、図5、図6に示す減衰器において、グランドパターン15の形状、大きさ等を同一の概矩形状としたが、各グランドパターン15の形状、幅、長さ、大きさ等を変え、所望の減衰特性となるように調整してもよい。
In the attenuators shown in FIGS. 1, 5, and 6, the shape, size, etc. of the
図1、図5、図6に示す減衰器において、導体パターンとしてマイクロストリップライン14a、14bを用いる構成を示したが、その他の伝送線(例えば、ストリップライン、コプレーナライン等)でもよい。
In the attenuator shown in FIGS. 1, 5, and 6, the configuration using the
図1、図5、図6に示す基板10を、同軸タイプのなかにもうけてもよい、すなわち、同軸ケーブル内に基板10を設け、同軸ケーブルの信号線をライン14a、14bと電気的に接続し、裏面電極11を同軸ケーブルのシールド線と電気的に接続する。
The
さらに、高周波信号を取り扱う信号処理装置に用いられる回路、回路ブロックには、図1、図5、図6に示す減衰器の他に、フィルタ、分配器、カップラー等が使用される。これらの回路、回路ブロックでは、一般的に、周波数に対するロス特性が、右下がり(周波数が高くなるほど損失が大きくなる)のものが多い。そこで、本発明の減衰器(抵抗体パターン12が大きく、高周波な信号に対しては並列抵抗成分に寄生インダクタンスが生ずる)を、これらの回路、回路ブロックに接続するとよい。すなわち、図1、図5、図6に示す減衰器の抵抗体パターン12、17とグランドパターン15を適切な大きさとすることにより、周波数に対する減衰特性を調整し、右下がりのロス特性をもつ回路、回路ブロックが含まれたとしても、装置全体では、入力レベルの大小によらず、周波数に対して所望の傾斜をもつ特性にすることができる。これにより、信号処理を行なう信号処理装置全体の特性(減衰特性、ロス特性等)を改善することができる。
Furthermore, filters, distributors, couplers and the like are used in addition to the attenuators shown in FIGS. 1, 5, and 6 for circuits and circuit blocks used in signal processing apparatuses that handle high-frequency signals. In many of these circuits and circuit blocks, the loss characteristic with respect to the frequency generally decreases to the right (the loss increases as the frequency increases). Therefore, the attenuator of the present invention (the
10 基板
12、17 抵抗体パターン
14a、14b マイクロストリップライン(導体パターン)
15 グランドパターン
10
15 Ground pattern
Claims (8)
一端が前記グランドに電気的に接続され、前記抵抗体パターンに沿って形成されるグランドパターンを設けたことを特徴とする減衰器。 In an attenuator having a resistor pattern electrically connected to the ground on the back surface of the substrate and formed on the substrate surface , and a pair of conductor patterns connected in series with each other through the resistor pattern,
An attenuator, characterized in that one end is electrically connected to the ground, and a ground pattern formed along the resistor pattern is provided.
このサイドパターンと前記基板裏面のグランドとを電気的に接続するスルーホールとA through hole for electrically connecting the side pattern and the ground on the back surface of the substrate;
を設けたことを特徴とする請求項1記載の減衰器。The attenuator according to claim 1, further comprising:
前記基板側面に前記サイドパターンと前記基板裏面のグランドとを電気的に接続する側面のパターンとA side pattern electrically connecting the side pattern and the ground on the back surface of the substrate to the side surface of the substrate;
を設けたことを特徴とする請求項1記載の減衰器。The attenuator according to claim 1, further comprising:
前記抵抗体パターンと前記導体パターンとで、概十字を形成していることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の減衰器。 The resistor pattern has both ends connected to the ground,
The attenuator according to any one of claims 1 to 5, wherein the resistor pattern and the conductor pattern form an approximate cross.
前記抵抗体パターンと前記導体パターンとで、概T字を形成していることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載の減衰器。 The resistor pattern has one end connected to the ground and the other end connected to the conductor pattern.
The attenuator according to any one of claims 1 to 5, wherein the resistor pattern and the conductor pattern form an approximate T-shape.
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CN109361371A (en) * | 2018-12-05 | 2019-02-19 | 中国振华集团云科电子有限公司 | A kind of chip attenuator |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63191702U (en) * | 1987-05-28 | 1988-12-09 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0233365Y2 (en) * | 1985-05-02 | 1990-09-07 | ||
JPH03136403A (en) * | 1989-10-20 | 1991-06-11 | Fujitsu Ltd | T-type fixed attenuator |
JPH0983215A (en) * | 1995-09-14 | 1997-03-28 | Hokuriku Electric Ind Co Ltd | Small sized chip attenuator for microwave and manufacture thereof |
-
2005
- 2005-08-23 JP JP2005240915A patent/JP4508037B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63191702U (en) * | 1987-05-28 | 1988-12-09 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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