JP4494781B2 - 他区域レーザーダイオードの周波数ロッキング - Google Patents
他区域レーザーダイオードの周波数ロッキング Download PDFInfo
- Publication number
- JP4494781B2 JP4494781B2 JP2003527848A JP2003527848A JP4494781B2 JP 4494781 B2 JP4494781 B2 JP 4494781B2 JP 2003527848 A JP2003527848 A JP 2003527848A JP 2003527848 A JP2003527848 A JP 2003527848A JP 4494781 B2 JP4494781 B2 JP 4494781B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- laser
- wavelength
- value
- output
- control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/0625—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in multi-section lasers
- H01S5/06255—Controlling the frequency of the radiation
- H01S5/06256—Controlling the frequency of the radiation with DBR-structure
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/0617—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium using memorised or pre-programmed laser characteristics
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/068—Stabilisation of laser output parameters
- H01S5/0683—Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
- H01S5/0687—Stabilising the frequency of the laser
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/10—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region
- H01S5/12—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers
- H01S5/1206—Construction or shape of the optical resonator, e.g. extended or external cavity, coupled cavities, bent-guide, varying width, thickness or composition of the active region the resonator having a periodic structure, e.g. in distributed feedback [DFB] lasers having a non constant or multiplicity of periods
- H01S5/1209—Sampled grating
Description
Ierr=k((Vpd1/Vpd2)−RITU)
ここで、Vpd1、Vpd2は、前述したようにパワーP1及びP2に比例する電圧であり、RITUはITUチャンネル周波数でのVpd1/Vpd2の値であり、そして、kは常数係数である。一般に、RITUにはそれぞれのITUチャンネルに対して別個の値が用いられ、これらの値はルックアップテーブルに保存されるが、そのルックアップテーブルは制御用マイクロプロセッサのオンチップメモリの一部を形成しても良いし、EPROM又は他のメモリに保存することができる。RITUの値は、普通は製造段階で行われる較正期間に前もって設定される。位相電流の補正は、各制御サイクルでVph→Vph−Verrに設定することによって、有効となるが、それは誤差電流IerrがITUチャンネル波長からの波長偏差に比例するからである。従って、Verrの値が負であると、位相電流は僅かな量だけ増加し、逆も同様である。この手順は測定値と保存した値との差が許容値内になるまで繰り返される。位相電流はこの様にしてレーザーの出力周波数の微調整に使用され、位相電流が増加すると通常はレーザーの出力周波数を増加させる。
(a)波長チャンネルの1つ内でレーザーが出力するように設定し、
(b)その波長チャンネルに一致した周期的周波数応答を有する周波数選択装置によって伝達されるパワーを表わす第一パワー値を測定し、
(c)レーザーによって出力される全パワーを表わす第二のパワー値を測定し、
(d)第一パワー値と現在設定されている波長チャンネルに対する所望の第一パワー値の差から第一誤差値を決定し、
(e)第二パワー値と現在設定されている波長チャンネルに対する所望の第二パワー値との差から第二誤差値を決定し、
(f)第一誤差値と第二誤差値のうちの一方と、第一誤差値と第二誤差値のうちの他方に常数係数を乗算した値との差からレーザー制御パラメータを決定し、
(g)レーザー制御パラメータを用いてレーザーを所望の波長に固定すること含む方法が提供される。
(a)複数の波長チャンネルの1つのチャンネル内でレーザーが出力するように設定し、
(b)その所望の波長でレーザーによって出力されるパワーを表わす第一パワー値を測定し、
(c)レーザーによって出力される全パワーを表わす第二パワー値を測定し、
(d)第一パワー値と現在設定されている波長チャンネルに対する所望の第一パワー値との差から第一誤差値を決定し、
(e)第二パワー値と現在設定されている波長チャンネルに対する所望の第二パワー値との差から第二誤差値を決定し、そして、
(f)第一誤差値と第二誤差値からそれぞれ第一レーザー制御パラメータと第二レーザー制御パラメータを決定し、第一レーザー制御パラメータと第二レーザー制御パラメータを用いてそれぞれレーザーの第一及び第二制御入力を調節することを含む制御方法が提供される。
(a)複数の波長チャンネルのうちの1波長チャンネル内にレーザー出力を生じる波長可変レーザー源、
(c)その波長チャンネルに一致する周期的周波数応答を有し、レーザー出力の少なくとも一部を受け取るようにされた周波数選択装置、
(d)周波数選択装置によって伝達されるパワーを表わす第一パワー値を測定するように動作する第一検出器、
(e)レーザーによって出力される全パワーを表わす第二パワー値を測定するように動作する第二検出器、
(b)第一及び第二検出器から第一及び第二パワー値を受け取るとように配置され、チャンネル設定モードでレーザー源が複数の波長チャンネルのうちの1つの波長チャンネル内で出力を生じるように設定し、且つ、波長ロッキングモードでフィードバック制御を用いて各波長チャンネル内で所望の波長にレーザー出力を固定するように動作する制御装置を含み、フィードバック制御が、
(i)第一パワー値と現在設定されている波長チャンネルに対する所望の第一パワー値との差から第一誤差値を決定し、
(ii)第二パワー値と現在設定されている波長チャンネルに対する所望の第二パワー値との差から第二誤差値を決定し、そして、
(iii)第一誤差値と第二誤差値に常数係数を乗算した値との差からレーザー制御パラメータを決定し、そして、
(iv)レーザー制御パラメータを用いてレーザーに制御信号を出力して、レーザー出力を所望の波長に安定させることを含む、レーザー装置も提供される。
図4は、本発明の第一実施例による、関連した制御システムを有するレーザーを示す。多くの構成要素は図2に示し、上述した従来技術の例と共通と認められる。明確にするため、同じかそれに匹敵する構成要素を言及するのに同じ参照数字を使用する。
ΔVph=k’(Vpd1−Vspd1)−k(Vpd2−Vspd2))
で表すことができる。
ここで、ΔVphは、マイクロプロセッサ24によって供給される予め較正した位相電圧Vphに加算されるべき電圧である。係数k’は集中パラメータで、ループ利得を決めるフィードバックループ内の比例項を表すものと見ることができる。
次に、第一実施例の制御アルゴリズムを、Vspd1/Vspd2からのVpd1/Vpd2の偏差を決定することに基づく標準の従来の制御アルゴリズムと同じ数式に変形し、これにより第一実施例によるフィードバック制御が安定であることの証明がされる。
Ierr=k1((Vpd2−Vspd2)−k2(Vpd1−Vspd1)) 式1
ここで、
Vpd2=光検出器PD2(ロッカーからのエタロンのパワー)の電圧
Vspd2=DACからの設定値 SPD2
Vpd1=光検出器PD1(ロッカーからの直接のパワー)
Vspd1=DACからの設定電圧 SPD1
Ierr=レーザーの位相区域に加えられる電流、
そして、k1,k2は常数である。
ITUチャンネルに対し局部的に、次の式が真となる。
Vpd2=(mlλ+Cl)P0
且つ、
Vpd1=aP0
ここで、P0はレーザーからの出力光パワーであり、a、ml、Clは常数である。
動作では、レーザーがITUチャンネルにある期間、Vspd2及びVspd1はVpd2及びVpd1に等しい値に選ばれ、従って、
Vspd2=(mlλITU+Cl)PITU
且つ、
Vpd1=aPITU
Vpd2=((ml(λITU+Δλ)+Cl)・(PITU+ΔP)
且つ、
Vpd1=aPITU(PITU+ΔP)
これらを式1に代入すると次式を得る。
Ierr=k1(((ml(λITU+Δλ)+Cl)・(PITU+ΔP)−(mlλITU+
Cl)PITU)−k2(a(PITU+ΔP)−aPITU))
この式は次式に変形される。
Ierr=k1((mlλITUΔP+mlΔλPITU+mlΔλΔP+ClΔP)−
k2(a(ΔP))
もしも、k2を下記の式のように選ぶと、
k2=Vspd2/Vpd1=(mlλITU+Cl)/a
次が得られる。
Ierr=k1(mlΔλPITU+mlΔλΔP) ここで、mlΔλΔP→0 として、
Ierr=k1(mlΔλPITU)
従って、k1,ml,PITUはすべて常数なので、Ierrは、所望の設定点からの波長の変化に正比例する。
これに対して、従来技術は次式を使用する。
Ierr=k((Vpd1/Vpd2)−RITU)
ここで、Vpd1及びVpd2は前述したのと同じであり、RITUは1つのITUチャンネルに於けるVpd1/Vpd2の値である。従って、
Ierr=k{(a(PITU+ΔP)/(m2(λITU+Δλ)+C2)・(PITU+ΔP))−RITU}
RITU=aPITU/(m2・ITU+C2)
テイラー展開を用いて、ITUチャンネルの領域で、
ΔVpd2∝−1/ΔVpd2と示すことができる。
ここで、ΔVpd2<<Vpd2、
従って、
Vpd2=P/(−m3(λITU+Δλ)+C3)
ここで、Δλ<<λITU、即ち、ITUチャンネルの領域内である。これは、システムのループ利得が高ければ、真であり、それ故、
Claims (9)
- それぞれの波長チャンネル内に在る複数の所望の波長の任意の1つにレーザーを固定する制御方法であって、
(a)前記波長チャンネルの1つ内で前記レーザーが出力するように設定し、
(b)前記波長チャンネルに一致した波長応答を有する波長選択装置によって伝達されるパワーを表わす第一パワー値を測定し、
(c)前記レーザーによって出力される全パワーを表わす第二パワー値を測定し、
(d)前記第一パワー値と現在設定されている波長チャンネルに対する所望の第一パワー値との差から第一誤差値を決定し、
(e)前記第二パワー値と現在設定されている波長チャンネルに対する所望の第二パワー値との差から第二誤差値を決定し、
(f1)前記第一誤差値と、前記第二誤差値に前記所望の第一パワー値を前記所望の第二パワー値で除算した値に等しい常数係数を乗算した値との差からレーザー制御パラメータを決定し、前記レーザー制御パラメータを位相区域に印加して前記レーザーを前記所望の波長に固定すること、又は、
(f2)前記第一誤差値と前記第二誤差値にそれぞれ常数係数k’’’及びk’’を乗算し、該積にそれぞれ位相電圧と利得電圧とを加算して第一レーザー制御パラメータと第二レーザー制御パラメータを決定し、前記得られた第一レーザー制御パラメータと前記第二レーザー制御パラメータを用いてそれぞれ前記レーザーの第一及び第二制御入力を調節すること
を含む制御方法。 - 前記レーザー制御パラメータを用いて前記位相区域に供給される位相電流を調節する、請求項1に記載の制御方法。
- 前記第二誤差値を用いて、前記レーザー又はその出力の利得又は減衰を調節するために印加される第二レーザー制御パラメータを決定する、請求項1又は2に記載の制御方法。
- 前記第一制御入力が前記レーザーの位相区域の位相電流である、請求項1〜3のいずれか1項に記載の制御方法。
- 前記第二制御入力が、前記レーザーの利得区域に印加される利得電流であるか、又は、前記レーザーの出力経路中に配置される可変減衰器若しくは利得装置に印加される制御電流である、請求項1〜4のいずれか1項に記載の制御方法。
- (a)複数の波長チャンネルのうちの任意の1つにレーザー出力を生じる波長可変レーザー源、
(b)前記波長チャンネルに一致する波長応答を有し、前記レーザー出力の少なくとも一部を受け取るようにされた波長選択装置、
(c)前記波長選択装置によって伝達されるパワーを表わす第一パワー値を測定するように動作する第一検出器、
(d)前記レーザー源によって出力される全パワーを表わす第二パワー値を測定するように動作する第二検出器、
(e)前記第一及び第二検出器から前記第一及び第二パワー値を受け取るように配置され、チャンネル設定モードで前記レーザー源が前記複数の波長チャンネルのうちの任意の1つのチャンネル内で出力を生じるように設定し、且つ、波長ロッキングモードでフィードバック制御を用いて各波長チャンネル内で所望の波長に前記レーザー出力を固定するように動作する制御装置を含み、前記フィードバック制御が、
(i)前記第一パワー値と現在設定されている波長チャンネルに対する所望の第一パワー値との差から第一誤差値を決定し、
(ii)前記第二パワー値と現在設定されている波長チャンネルに対する所望の第二パワー値との差から第二誤差値を決定し、
(iii)前記第一誤差値と、前記第二誤差値に前記所望の第一パワー値を前記所望の第二パワー値で除算した値に等しい常数係数を乗算した値との差からレーザー制御パラメータを決定し、そして、
(iv)前記レーザー制御パラメータを位相区域に印加して前記レーザーを前記所望の波長に固定すること、
を含む、レーザー装置。 - 前記レーザー制御パラメータを用いて前記位相区域に供給される位相電流を調節する、請求項6に記載のレーザー装置。
- 前記波長ロッキングモードが前記チャンネル設定モードの期間中は不作動にされる請求項6又は7に記載のレーザー装置。
- 前記第一検出器はさらに、前記制御装置に前記波長選択装置によって伝達されるパワーを表わす第一パワー値を供給するように動作し、
前記第二検出器はさらに、前記制御装置に前記レーザー源によって出力される全パワーを表わす第二パワー値を供給するように動作する
請求項6〜8のいずれか1項に記載のレーザー装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EP01307668A EP1291988A1 (en) | 2001-09-10 | 2001-09-10 | Frequency locking of multi-section laser diodes |
PCT/IB2002/003655 WO2003023916A1 (en) | 2001-09-10 | 2002-08-12 | Frequency locking of multisection laser diodes |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005503028A JP2005503028A (ja) | 2005-01-27 |
JP4494781B2 true JP4494781B2 (ja) | 2010-06-30 |
Family
ID=8182254
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003527848A Expired - Lifetime JP4494781B2 (ja) | 2001-09-10 | 2002-08-12 | 他区域レーザーダイオードの周波数ロッキング |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7339962B2 (ja) |
EP (2) | EP1291988A1 (ja) |
JP (1) | JP4494781B2 (ja) |
AT (1) | ATE324690T1 (ja) |
DE (1) | DE60210998T2 (ja) |
WO (1) | WO2003023916A1 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1432087A1 (en) * | 2002-12-20 | 2004-06-23 | Intune Technologies Limited | Multisection laser diode system and frequency sweeping method |
IES20030281A2 (en) | 2003-04-14 | 2004-10-20 | Intune Technologies Ltd | Method and apparatus for continuous sweeping of a tunable laser |
US20070242711A1 (en) * | 2006-03-30 | 2007-10-18 | Matisse Networks | Compensation for dynamic thermal effects in fast tunable lasers |
JP4388556B2 (ja) * | 2007-01-09 | 2009-12-24 | 株式会社日立コミュニケーションテクノロジー | パッシブ光ネットワークシステムおよび波長割当方法 |
EP2031715B1 (en) * | 2007-08-29 | 2017-08-16 | Intune Networks Limited | Reduction of wavelength tuning time of laser diodes |
WO2009055687A2 (en) * | 2007-10-25 | 2009-04-30 | Stuart Martin A | Laser energy source device and method |
US8950900B2 (en) | 2007-10-25 | 2015-02-10 | Martin A. Stuart | Laser energy source device |
WO2009105633A2 (en) * | 2008-02-21 | 2009-08-27 | Luna Innovations Incorporated | High precision wavelength measurement and contrl of a tunable laser |
EP2440896A2 (en) | 2009-06-08 | 2012-04-18 | Sensortran, Inc. | High sampling resolution dts system and method |
CN101888269B (zh) * | 2010-04-15 | 2014-06-18 | 烽火通信科技股份有限公司 | Wdm-tdma混合pon系统中光发送机在突发模式下稳定波长的方法 |
US8457165B2 (en) | 2010-05-26 | 2013-06-04 | Google Inc. | Tunable multi-wavelength semiconductor laser array for optical communications based on wavelength division multiplexing |
US8472805B2 (en) | 2010-05-26 | 2013-06-25 | Google Inc. | Tunable multi-wavelength optical transmitter and transceiver for optical communications based on wavelength division multiplexing |
US9692207B2 (en) | 2011-09-30 | 2017-06-27 | Aurrion, Inc. | Tunable laser with integrated wavelength reference |
JP6308456B2 (ja) | 2013-07-31 | 2018-04-11 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 波長可変レーザの制御方法 |
JP6304582B2 (ja) * | 2013-10-30 | 2018-04-04 | 住友電工デバイス・イノベーション株式会社 | 波長可変レーザの制御方法 |
EP3213378B1 (en) * | 2014-10-31 | 2020-01-08 | OE Solutions America Inc. | Fast calibration and programming optical components |
JP6589273B2 (ja) | 2014-11-28 | 2019-10-16 | 富士通株式会社 | 波長可変レーザ及び波長可変レーザモジュール |
JP6333799B2 (ja) * | 2015-12-04 | 2018-05-30 | ファナック株式会社 | レーザ発振器を制御する制御装置 |
US10944240B2 (en) | 2018-09-25 | 2021-03-09 | Microsoft Technology Licensing, Llc | Multi-section laser for fast modulation and broad spectral linewidth |
EP3940900B1 (en) * | 2020-07-15 | 2024-02-14 | Nokia Solutions and Networks Oy | Tunable laser stabilization |
CN112615251A (zh) * | 2020-12-15 | 2021-04-06 | 北京航天控制仪器研究所 | 一种用于原子陀螺仪的激光频率和功率的双重稳定方法及装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3334787B2 (ja) * | 1996-05-22 | 2002-10-15 | 松下電器産業株式会社 | 光源の発振波長安定化装置及び光源の高調波出力安定化装置とそれらを使用した光ディスクシステム |
JP3347644B2 (ja) * | 1997-07-11 | 2002-11-20 | サンテック株式会社 | レーザ光源装置 |
SE515435C2 (sv) * | 1999-02-17 | 2001-08-06 | Altitun Ab | Metod för att våglängdslåsa och modkontrollera en avstämbar laser |
US6181717B1 (en) * | 1999-06-04 | 2001-01-30 | Bandwidth 9 | Tunable semiconductor laser system |
SE514187C2 (sv) * | 1999-07-06 | 2001-01-22 | Altitun Ab | Förfarande och anordning för att utstyra en avstämbar laser |
CA2327778A1 (en) * | 1999-12-15 | 2001-06-15 | Scott L. Broutin | Method to actively assure correct channel selection in a wavelength stabilized control system |
US20020181521A1 (en) * | 2000-05-04 | 2002-12-05 | Crowder Paul F. | Gain voltage control of sampled grating distributed bragg reflector lasers |
-
2001
- 2001-09-10 EP EP01307668A patent/EP1291988A1/en not_active Withdrawn
-
2002
- 2002-08-12 US US10/489,115 patent/US7339962B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-08-12 EP EP02765192A patent/EP1433230B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2002-08-12 AT AT02765192T patent/ATE324690T1/de not_active IP Right Cessation
- 2002-08-12 JP JP2003527848A patent/JP4494781B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 2002-08-12 WO PCT/IB2002/003655 patent/WO2003023916A1/en active IP Right Grant
- 2002-08-12 DE DE60210998T patent/DE60210998T2/de not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ATE324690T1 (de) | 2006-05-15 |
JP2005503028A (ja) | 2005-01-27 |
EP1291988A1 (en) | 2003-03-12 |
DE60210998D1 (de) | 2006-06-01 |
EP1433230B1 (en) | 2006-04-26 |
DE60210998T2 (de) | 2007-06-21 |
WO2003023916A1 (en) | 2003-03-20 |
US20050030986A1 (en) | 2005-02-10 |
EP1433230A1 (en) | 2004-06-30 |
US7339962B2 (en) | 2008-03-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4494781B2 (ja) | 他区域レーザーダイオードの周波数ロッキング | |
US6928092B2 (en) | Method and apparatus for active numeric temperature compensation of an etalon in a wavelength stabilized laser | |
KR100733172B1 (ko) | 튜닝가능 레이저용 제어기와 제어 방법 및 레이저 시스템 | |
US7161725B2 (en) | Frequency locker | |
US6353623B1 (en) | Temperature-corrected wavelength monitoring and control apparatus | |
US6400737B1 (en) | Automatic closed-looped gain adjustment for a temperature tuned, wavelength stabilized laser source in a closed-loop feedback control system | |
US7483453B2 (en) | Frequency setting of a multisection laser diode taking into account thermal effects | |
US7924893B2 (en) | Method and system for switching of tunable lasers | |
US20180172907A1 (en) | Arrayed waveguide grating based hybrid integrated laser having adjustable external cavity | |
US6898221B2 (en) | Apparatus for frequency tuning and locking and method for operating same | |
JPWO2019160064A1 (ja) | 光モジュール、その波長制御方法およびそのキャリブレーション方法 | |
GB2394118A (en) | Characterisation and non-invasive correction of operational currents of a tuneable laser. | |
US6724790B1 (en) | Laser facet phase control | |
JP2001196689A (ja) | レーザ波長を安定させる方法および装置 | |
US9742149B2 (en) | Method for controlling tunable wavelength laser | |
US10673205B2 (en) | Wavelength tunable laser module and method of controlling wavelength thereof | |
EP2031715B1 (en) | Reduction of wavelength tuning time of laser diodes | |
US11721951B2 (en) | Tunable laser with active material on at least one end for monitoring performance | |
JP7207651B2 (ja) | 波長可変レーザ装置の制御方法 | |
JP2018117161A (ja) | 波長可変レーザの制御方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050812 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20081111 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090212 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090219 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090311 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090514 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090811 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090818 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090911 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090918 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091014 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091218 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091222 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100312 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100408 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4494781 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130416 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140416 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |