JP4483573B2 - モニタ素子及び磁気抵抗効果素子基板、並びにモニタ素子の製造方法 - Google Patents

モニタ素子及び磁気抵抗効果素子基板、並びにモニタ素子の製造方法 Download PDF

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本発明は、CPP型磁気抵抗効果素子の媒体対向面を形成する研磨加工時に使用するモニタ素子及び該モニタ素子を備えた磁気抵抗効果素子基板、並びにモニタ素子の製造方法に関する。
磁気抵抗効果素子は、一定の電流を流したときに外部磁界の強度変化を電圧変化として読み出すもので、ハードディスク装置や磁気センサなどに広く用いられている。従来では、生産性を高めるべく、1枚のウエハ(基板)上に磁気抵抗効果素子となる素子構造を複数並列に形成し、後にウエハを切断し、さらに研磨加工によって媒体対向面を形成する(素子高さを規定する)ことで、ウエハ上に複数の磁気抵抗効果素子が一列に並んで形成されたウエハバー(バー状の磁気抵抗効果素子基板)、あるいはウエハ上に1つの素子構造が形成された個々(チップ状)の磁気抵抗効果素子を得ている。この磁気抵抗効果素子には、素子を構成する各層の膜面に対して平行な方向にセンス電流が流れるCIP(Current In the Plane)型と、素子を構成する各層の膜面に対して垂直な方向にセンス電流が流れるCPP(Current Perpendicular to the Plane)型とがある。
上記媒体対向面を形成するための研磨工程では、磁気抵抗効果素子に電流を流して素子抵抗を検出しながら素子高さ方向にウエハ端面を研磨し、素子抵抗が規定値に達した時点で研磨加工を終了することが一般的である。しかし、CPP型磁気抵抗効果素子は素子抵抗が小さすぎるため、また、トンネル型磁気抵抗効果素子は研磨時に研磨面に生じるスメアによりショートが発生して素子抵抗値を正確に測定できないため、製品となる実素子の素子抵抗を検出しながら研磨加工すると、研磨終了タイミングを精度良く制御できない。このため、従来のCPP型磁気抵抗効果素子やトンネル型磁気抵抗効果素子では、製品となる実素子とは別にCIP構造で形成した磁気抵抗効果素子をモニタ素子としてウエハ上に一緒に設け、このモニタ素子の素子抵抗に基づいて研磨加工している。
モニタ素子は、次のように製造されている。
先ず、下部シールド層の上に第1エクストラギャップ層と磁気抵抗効果を発揮する多層膜とを順次全面的に形成し、フォトリソグラフィ技術を用いて多層膜の一部を除去し、該多層膜の形状を規定する。モニタ素子の多層膜は、製品となる実素子の磁気抵抗効果膜と同一工程で、所定の抵抗値をとるように形成されている。次に、多層膜よりも素子高さ方向奥側にバックフィルギャップ層を形成し、このバックフィルギャップ及び多層膜の上に、該多層膜に素子高さ方向奥側で接触する一対の電極層を形成する。続いて、電極層の素子高さ方向の奥側端部をリフトオフ用のレジストで覆い、後に第2エクストラギャップ層を形成して、レジストをリフトオフする。レジスト除去後は、第2エクストラギャップ層及び電極層の上に全面的にメッキ下地膜を成膜する。メッキ下地膜の上には、フレームメッキ法により、第2エクストラギャップ層を介して多層膜を覆う上部シールド層と、電極層の素子高さ方向の奥側端部を覆う電極端子部とを同時に形成する。そして、エッチングにより、上部シールド層と電極端子部との間に露出しているメッキ下地膜を除去する。これにより、モニタ素子が得られる。
特開平5−54336号公報 特開2001−84535号公報
しかしながら、上述した従来のモニタ素子では、メッキ下地膜を除去する際のエッチング量が多いため、該エッチングによって上部シールド層と電極端子部との間に電極層が露出し、電極層と上部シールド層との間にショートが発生しやすかった。これを回避するには電極層の上に形成する第2エクストラギャップ層の膜厚を厚くすればよいが、第2エクストラギャップ層が厚くなると、該第2エクストラギャップ層をリフトオフで形成する際にリフトオフプロセスが困難になって媒体対向面に露出する形状が変形したり、剥がれの原因になる等の不具合が生じる。
本発明は、ショート発生を防止できるモニタ素子及び磁気抵抗効果素子基板、並びにモニタ素子の製造方法を得ることを目的とする。
本発明は、電極層の表面を覆う絶縁性保護層を多層構造にして各層を薄く形成することで、剥がれ等の不具合を解消しつつ全体膜厚を確保できることに着目し、この絶縁性保護層を多層構造で形成するのに最適な電極層の配置を提案するものである。
すなわち、本発明によるモニタ素子は、上下のシールド層によりセンス電流が膜面に直交する方向に与えられる磁気抵抗効果素子の媒体対向面を形成する研磨加工時に、該磁気抵抗効果素子の素子抵抗モニタとして使用されるモニタ素子であって、所定の抵抗値を有する多層膜と、この多層膜の膜面に対して平行に電流を与える電極層とを備え、この電極層は、下部シールド層と同一の積層高さ位置に形成され、多層膜との電極接続部及び電極取出部を除く領域が絶縁性保護層により覆われていることを特徴としている。
絶縁性保護層は多層構造であることが好ましい。具体的には例えば、電極層上であって多層膜の直下に形成された第1エクストラギャップ層と、この第1エクストラギャップ層上の多層膜よりも素子高さ方向の奥側位置に形成されたバックフィルギャップ層と、このバックフィルギャップ層及び多層膜の上に形成された第2エクストラギャップ層とにより、絶縁性保護層を形成することができる。絶縁性保護層を構成する各層の膜厚は、1000Å以下であることが好ましい。この膜厚範囲内であれば、絶縁性保護層の全体膜厚が大きくても、剥がれやリフトオフ性の悪化等のプロセス上の不具合が生じない。
電極層は、下部シールド層と同一の軟磁性材料により形成されていることが好ましい。この態様によれば、電極層と下部シールド層とを同時に形成することができ、製造工程が容易になる。
電極層の電極取出部には、上部シールド層と同一の積層高さ位置に、該上部シールド層と同一の軟磁性材料により電極パッドが形成されていることが好ましい。この態様によれば、電極パッドと上部シールド層とを同時に形成することができ、製造工程が容易になる。
電極層は、磁気抵抗効果素子の素子高さ方向と平行な方向に延ばして形成され、同方向の一端部と他端部に電極接続部と電極取出部をそれぞれ有していることが実際的である。
本発明による磁気抵抗効果素子基板は、上下のシールド層によってセンス電流が膜面に直交する方向に与えられる磁気抵抗効果素子が複数並列に形成され、各磁気抵抗効果素子の近傍に該磁気抵抗効果素子と一対で上記モニタ素子を備えたことを特徴としている。
また本発明による磁気抵抗効果素子基板は、上下のシールド層によってセンス電流が膜面に直交する方向に与えられる複数の磁気抵抗効果素子が一列に配置され、各磁気抵抗効果素子の近傍に該磁気抵抗効果素子と一対で上記モニタ素子を備えたことを特徴としている。この磁気抵抗効果素子基板は、いわゆるウエハバーと呼ばれるバー状の磁気抵抗効果素子基板である。
本発明によるモニタ素子の製造方法は、上下のシールド層によりセンス電流が膜面に直交する方向に与えられる磁気抵抗効果素子の媒体対向面を形成する研磨加工時に同磁気抵抗効果素子の素子抵抗モニタとして使用される、所定の抵抗値を有する多層膜を備えたモニタ素子を製造する方法であって、下部シールド層と同一積層高さ位置に、多層膜の最下面にハイト方向奥側で接続し該多層膜の膜面に対して平行に電流を供給する電極層を形成し、この電極層の電極接続部及び電極取出部を除く領域を覆う絶縁性保護層を形成することを特徴としている。
絶縁性保護層は多層構造で形成する。具体的には、例えば、電極層を形成した後に、電極層の電極接続部と電極取出部を除く領域に、絶縁材料からなる第1エクストラギャップ層を形成する工程と、第1エクストラギャップ層及び露出している前記電極層の電極接続部の上に、所定の抵抗値を有する多層膜を形成し、この多層膜の最下面と電極層の電極接続部をハイト方向奥側で接続する工程と、露出している第1エクストラギャップ層の上に、絶縁材料からなるバックフィルギャップ層を形成する工程と、電極層の電極取出部を除く領域に、絶縁材料からなる第2エクストラギャップ層を形成する工程と、この第2エクストラギャップ層の上に上部シールド形成用のメッキ下地膜を全面的に形成し、上部シールド層と同一積層高さ位置に、露出している前記電極層の電極取出部に接続する電極パッドを形成する工程と、エッチングにより、上部シールド層と電極パッドの間の不要なメッキ下地膜を除去する工程とを有し、第1エクストラギャップ層、第2エクストラギャップ層、及びバックフィルギャップ層により絶縁性保護層を構成することができる。絶縁性保護層の各層の膜厚は、1000Å以下で形成することが好ましい。
上記製造方法において、下部シールド層と電極層は、同一の導電性軟磁性材料により同時に形成することが好ましく、また、上部シールド層と電極パッドは同一の導電性軟磁性材料により同時に形成することが好ましい。これにより、製造工程が容易になる。
本発明によれば、ショート発生を防止できるモニタ素子及び磁気抵抗効果素子基板、並びにモニタ素子の製造方法を得ることができる。
以下、図面に基づいて本発明を説明する。各図において、X方向はトラック幅方向、Y方向は素子高さ方向(記録媒体からの漏れ磁界方向)、Z方向は記録媒体の移動方向及び磁気抵抗効果素子を構成する各層の積層方向である。
図1は、本発明の一実施形態によるウエハを示す模式図である。ウエハ1には、複数のCPP型磁気抵抗効果素子10が並列に形成され、各CPP型磁気抵抗効果素子10の近傍に位置させて、該CPP型磁気抵抗効果素子10と対をなすモニタ素子20がそれぞれ形成されている。図1では、CPP型磁気抵抗効果素子10を□印で、モニタ素子20を■印でそれぞれ示してある。
CPP型磁気抵抗効果素子10は、図2に示すように、下部シールド層11と上部シールド層14の間に、多層の磁気抵抗効果膜Mを有している。下部シールド層11及び上部シールド層14は、磁気抵抗効果膜Mよりも十分に広い面積に存在してCPP型磁気抵抗効果素子10の電極として機能し、磁気抵抗効果膜Mを構成する各層の膜面に対して垂直にセンス電流を与える。この下部シールド層11及び上部シールド層14は、十分な磁気シールド効果及び導電性が得られる軟磁性材料、例えばNiFeにより形成されている。図示されていないが、下部シールド層11と磁気抵抗効果膜Mの間及び上部シールド層14と磁気抵抗効果膜Mの間(磁気抵抗効果膜Mの直下位置及び直上位置)には、例えばAu、Ag、Cu、Ru、Rh、Ir、Pd等の比抵抗が小さい非磁性金属材料からなり、上下シールド層11、14と共にCPP型磁気抵抗効果素子10の電極として機能する導電材料層がそれぞれ形成されていてもよい。
磁気抵抗効果膜Mのトラック幅方向の両側には、例えばCoFe合金等の強磁性材料からなり該磁気抵抗効果膜Mに接触するハードバイアス層15と、下部シールド層11とハードバイアス層15の間に部分的に介在する第1エクストラギャップ層22と、ハードバイアス層15と上部シールド層14の間に部分的に介在する第2エクストラギャップ層26とが形成されている。第1エクストラギャップ層22及び第2エクストラギャップ層26は、磁気抵抗効果膜Mとは非接触であり、例えばAl23やSiO2等の非磁性絶縁材料により形成されている。磁気抵抗効果膜Mの素子高さ方向の奥側位置には、例えばAl23やSiO2等の絶縁材料からなるバックフィルギャップ層16が形成されている。
磁気抵抗効果膜Mには、GMR(giant magnetoresistive)膜やTMR(tunneling magnetoresistive)膜を用いることができる。CPP型磁気抵抗効果素子10の構成は、各種タイプが周知であり、また本発明はCPP型磁気抵抗効果素子10の具体的構成を問うものではないので、説明を省略する。
モニタ素子20は、CPP型磁気抵抗効果素子10を素子高さ方向(図示Y方向)に研磨加工する(媒体対向面を形成する)際に用いるCPP型磁気抵抗効果素子10の素子抵抗モニタである。図3(A)(B)に示すようにモニタ素子20は、所定の抵抗値を有する多層膜23と、多層膜23の膜面に対して平行にセンス電流を与える一対の電極層21とを有するCIP型の磁気抵抗効果素子であり、CPP型磁気抵抗効果素子10よりも素子抵抗が大きくなっている。多層膜23は、CPP型磁気抵抗効果素子10の磁気抵抗効果膜Mと同一膜構成であることが成膜プロセスの効率向上という観点から望ましいが、該磁気抵抗効果膜Mとは異なる膜構成であってもよい。
多層膜23は、例えばアルミナ等の非磁性絶縁材料からなる第1エクストラギャップ層22と第2エクストラギャップ層26の間に介在し、下面位置で電極層21に接触する。多層膜23の平面形状は門形状をなしている。この多層膜23の周囲、すなわち、トラック幅方向の両側及び素子高さ方向奥側には、例えばアルミナ等の非磁性絶縁材料からなるバックフィルギャップ層25が形成されている。
一対の電極層21は、下部シールド層11と同一の積層高さ位置に形成されており、多層膜23の最下面に素子高さ方向(図示Y方向)奥側で接続している。各電極層21は、素子高さ方向の奥側に向かって直線的に延びた短冊状をなし、多層膜23の素子高さ方向奥側の端部が上面に接触する電極接続部21Aと、この電極接続部21Aとは素子高さ方向の反対側の端部に位置する電極取出部21Bとを有している。電極取出部21Bの上には、最表面がAuからなる電極コンタクト28と、上部シールド層14と同一の軟磁性材料からなる外部接続用の電極パッド24が形成されている。上記電極接続部21A及び電極取出部21Bを除く電極層21の表面は、絶縁性保護層27によって覆われている。絶縁性保護層27は、多層構造であり、上述の第1エクストラギャップ層22、バックフィルギャップ層25及び第2エクストラギャップ層26によって構成されている。この絶縁性保護層27を構成する各層の膜厚は、1000Å以下に薄く抑えられている。
次に、図4〜図9を参照し、モニタ素子20の製造方法について説明する。ウエハ1には、CPP型磁気抵抗効果素子10を形成するための実素子形成エリアとモニタ素子20を形成するためのモニタ形成エリアとを隣接して設け、CPP型磁気抵抗効果素子10及びモニタ素子20を複数同時に形成する。図4〜図9は、モニタ素子20の製造工程を示す平面図である。
先ず、ウエハ1上に、例えばNiFeなどの軟磁性材料により、CPP型磁気抵抗効果素子10用の下部シールド層11とモニタ素子20用の一対の電極層21とを同時に形成する。具体的には、ウエハ1上に軟磁性材料膜を全面的にスパッタ成膜した後、エッチング等により軟磁性材料膜の一部を除去することで、実素子形成エリアには下部シールド層11を素子面積よりも十分に広い面積で形成し、図4に示すモニタ形成エリアには一対の電極層21を素子高さ方向に細長く延ばした矩形状に形成する。本実施形態ではモニタ形成エリアに下部シールド層11を形成していないが、下部シールド層11は形成してもしなくてもよい。
次に、図5に示されるモニタ形成エリアでは、後に電極接続部及び電極取出部となる各電極層21の両端部の上にリフトオフ用のレジストR1を形成し、露出しているウエハ1及び電極層21の表面を覆う第1エクストラギャップ層22をスパッタ成膜する。第1エクストラギャップ層22は、例えばアルミナ等の非磁性絶縁材料により、1000Å程度の膜厚で形成する。第1エクストラギャップ層22の成膜後は、レジストR1をリフトオフする。図示されていない実素子形成エリアでは、同様に、下部シールド層11の上に部分的に第1エクストラギャップ層22を形成する。なお、実素子形成エリアには、下部シールド層11上であって後に形成する磁気抵抗効果膜Mの直下となる位置に、例えばAu、Ag、Cu、Ru、Rh、Ir、Pd等の比抵抗が小さい非磁性金属材料からなる導電材料層を形成してもよい。
続いて、CPP型磁気抵抗効果素子10の磁気抵抗効果膜M及びモニタ素子20の多層膜23を構成する各層をウエハ全面的に順に形成する。そして、素子高さ方向の磁場中でアニール処理を施し、磁気抵抗効果膜M及び多層膜23中の固定磁性層の磁化方向を素子高さ方向に固定する。
アニール処理後、モニタ形成エリアでは図6に示すように、フォトリソグラフィ技術を用いて多層膜23を所定のパターン形状とし、多層膜23の素子ハイト方向奥側の端部がその最下面で、第1エクストラギャップ層22から露出している電極層21の電極接続部21Aに接続するように形成する。同時に、露出している電極層21の電極取出部21Bの上にリフトオフ用のレジストR2を形成し、多層膜23の周囲(トラック幅方向の両側及び素子高さ方向の奥側)を埋めるバックフィルギャップ層25を形成する。バックフィルギャップ層25の膜厚は500Å程度とする。これにより、電極接続部21A及び電極取出部21Bを除く電極層21の表面上には、第1エクストラギャップ層22とバックフィルギャップ層25が積層される。バックフィルギャップ層25の形成後は、レジストR2をリフトオフする。一方、図示しない実素子形成エリアでは、フォトリソグラフィ技術を用いて磁気抵抗効果膜Mのトラック幅方向の寸法を規定し、該磁気抵抗効果膜Mのトラック幅方向の両側にハードバイアス層15を形成する。続いて、フォトリソグラフィ技術を用いて磁気抵抗効果膜Mの素子高さ方向の寸法を規定し、該磁気抵抗効果膜Mの素子高さ方向の奥側にバックフィルギャップ層16を形成する。この実素子形成エリアのバックフィルギャップ層16と上記モニタ形成エリアのバックフィルギャップ層25は、同時に形成してもよい。
続いて、図7に示すように、露出している電極層21の電極取出部21Bの上に、後に形成される電極パッドと接触する最表面がAu膜からなる電極コンタクト28を形成する。電極コンタクト28は、単層構造であっても多層構造であってもよい。
電極コンタクト28を形成したら、モニタ形成エリアでは図8に示すように、電極コンタクト28を覆うリフトオフ用のレジストR3を形成し、例えばアルミナ等の非磁性絶縁材料により、第2エクストラギャップ層26を1000Å程度の膜厚でスパッタ成膜する。第2エクストラギャップ層26の成膜後はレジストR3をリフトオフする。ここまでの工程により、電極接続部21A及び電極取出部21Bを除く電極層21の上には、第1エクストラギャップ層22、バックフィルギャップ層25及び第2エクストラギャップ層26が積層され、3層構造の絶縁性保護層27が形成される。一方、図示しない実素子形成エリアでは、ハードバイアス層15上であってCPP型磁気抵抗効果素子10のトラック幅方向の両側位置に、該CPP型磁気抵抗効果素子10とは非接触の第2エクストラギャップ層26を形成する。なお、実素子形成エリアでは、磁気抵抗効果膜Mの直上に、例えばAu、Ag、Cu、Ru、Rh、Ir、Pd等の比抵抗が小さい非磁性金属材料からなる導電材料層を形成してもよい。
続いて、図9に示すように、第2エクストラギャップ層26の上に全面的に例えばNiFeからなるメッキ下地膜29をスパッタ成膜し、フレームメッキ法を用いて、このメッキ下地膜29の上に、上部シールド層14と電極パッド24とを同時に形成する。具体的に、上部シールド層14は、モニタ形成エリアでは多層膜23の上方位置に部分的に形成し、実素子形成エリアでは素子全体を覆うように形成する。電極パッド24は、モニタ形成エリアでは電極コンタクト28の上方位置に形成し、実素子形成エリアでは端子取り出し部に形成する。
そして、エッチングにより、上部シールド層14及び電極パッド24から露出しているメッキ下地膜29をすべて除去する。上部シールド層14及び電極パッド24からメッキ下地膜29が露出している領域は、図9に示されるように、電極層21の電極接続部21Aから電極取出部21Bの間の領域である。この電極層21の電極接続部21A及び電極取出部21Bを除く領域には、上述したように第1エクストラギャップ層22、バックフィルギャップ層25及び第2エクストラギャップ層26による三層構造の絶縁性保護層27が形成されている。よって、不要なメッキ下地膜29を完全に除去すべくエッチング量が多くても、上記三層構造の絶縁性保護層27によって覆われている電極層21がエッチングによるダメージを受けることがなく、電極層21の露出や断線、ショート等の虞がない。
以上の工程により、図1に示されるようなCPP型磁気抵抗効果素子10とモニタ素子20とを多数並列に備えたウエハ(磁気抵抗効果素子基板)1が得られる。このウエハ1は、一列毎に切断され、CPP型磁気抵抗効果素子10及びモニタ素子20が対で一列に複数並んだウエハバー(バー状の磁気抵抗効果素子基板)となる。このウエハバーは、該ウエハバーに備えられたモニタ素子20の素子抵抗を検出しつつ、図示Y方向(図9の矢印方向)から研磨加工を施し、モニタ素子20の素子抵抗が、媒体対向面となる面位置まで研磨したことを示す規定値に達した時点で研磨加工を終了する。これにより、図10に示すウエハバー100が得られる。さらにこのウエハバー100を個別に切断すれば、個々(チップ状)のCPP型磁気抵抗効果素子10が得られる。なお、モニタ素子20は、個々のCPP型磁気抵抗効果素子10に切り分ける際に除去され、製品状態のCPP型磁気抵抗効果素子10には搭載されない。
以上の本実施形態によれば、モニタ素子20の電極層21がCPP型磁気抵抗効果素子10の下部シールド層11と同じ積層高さ位置に形成され、且つ、電極層21を覆う絶縁性保護層27が第1エクストラギャップ層22、バックフィルギャップ層25及び第2エクストラギャップ層26による3層構造で形成されているので、CPP型磁気抵抗効果素子10の上部シールド層形成用のメッキ下地膜29を除去する際のエッチング量が多くても、該エッチングによって電極層21がエッチングによるダメージを受けることがなく、電極層21の露出・断線及びショート発生を防止できる。また電極層21を覆う絶縁性保護層27を多層構造にしたので、各層の膜厚を1000Å以下に薄く抑えられ、例えば剥がれ等の絶縁性保護層が厚いことによる弊害を解消することができる。また本実施形態では、電極層21を下部シールド層11と同時に形成し、電極パッド24を上部シールド層14と同時に形成するので、モニタ素子20の電極形成工程を省略することができ、製造工程が容易になる。
本発明によるモニタ素子と磁気抵抗効果素子とを備えたウエハ(磁気抵抗効果基板)を示す模式平面図である。 同磁気抵抗効果素子の構成を媒体対向面側から見て示す断面図である。 同モニタ素子の構成を、(A)媒体対向面側から見て示す断面図、(B)素子中央でハイト方向に切断して示す断面図である。 モニタ素子の製造工程の一工程を示す平面図である。 図4に示す工程の次工程を示す平面図である。 図5に示す工程の次工程を示す平面図である。 図6に示す工程の次工程を示す平面図である。 図7に示す工程の次工程を示す平面図である。 図8に示す工程の次工程を示す平面図である。 ウエハバー(バー状の磁気抵抗効果素子基板)を示す平面図である。
符号の説明
1 ウエハ(磁気抵抗効果素子基板)
10 CPP型磁気抵抗効果素子
11 下部シールド層
14 上部シールド層
15 ハードバイアス層
20 モニタ素子
21 電極層
21A 電極接続部
21B 電極取出部
22 第1エクストラギャップ層
23 多層膜
24 電極パッド
25 バックフィルギャップ層
26 第2エクストラギャップ層
27 絶縁性保護層
28 電極コンタクト
100 ウエハバー(バー状の磁気抵抗効果素子基板)
M 磁気抵抗効果膜

Claims (15)

  1. 上下のシールド層によりセンス電流が膜面に直交する方向に与えられる磁気抵抗効果素子の媒体対向面を形成する研磨加工時に、該磁気抵抗効果素子の素子抵抗モニタとして使用されるモニタ素子であって、
    所定の抵抗値を有する多層膜と、この多層膜の膜面に対して平行に電流を与える電極層とを備え、
    前記電極層は、前記下部シールド層と同一の積層高さ位置に形成され、前記多層膜との電極接続部及び電極取出部を除く領域が絶縁性保護層により覆われていることを特徴とするモニタ素子。
  2. 請求項1記載のモニタ素子において、前記絶縁性保護層は多層構造であるモニタ素子。
  3. 請求項2記載のモニタ素子において、前記絶縁性保護層は、前記電極層上であって前記多層膜の直下に形成された第1エクストラギャップ層と、この第1エクストラギャップ層上の前記多層膜よりも素子高さ方向の奥側位置に形成されたバックフィルギャップ層と、このバックフィルギャップ層及び前記多層膜の上に形成された第2エクストラギャップ層とにより形成されているモニタ素子。
  4. 請求項2または3記載のモニタ素子において、前記絶縁性保護層を構成する各層の膜厚は1000Å以下であるモニタ素子。
  5. 請求項1ないし4のいずれか一項に記載のモニタ素子において、前記電極層は、前記下部シールド層と同一の軟磁性材料により形成されているモニタ素子。
  6. 請求項1ないし5のいずれか一項に記載のモニタ素子において、前記電極層の電極取出部には、前記上部シールド層と同一の積層高さ位置に、該上部シールド層と同一の軟磁性材料により電極パッドが形成されているモニタ素子。
  7. 請求項1ないし6のいずれか一項に記載のモニタ素子において、前記電極層は、前記磁気抵抗効果素子の素子高さ方向と平行な方向に延ばして形成され、同方向の一端部と他端部に前記電極接続部と前記電極取出部をそれぞれ有しているモニタ素子。
  8. 上下のシールド層によってセンス電流が膜面に直交する方向に与えられる磁気抵抗効果素子が複数並列に形成され、各磁気抵抗効果素子の近傍に該磁気抵抗効果素子と一対で請求項1ないし7のいずれか一項に記載のモニタ素子を備えたことを特徴とする磁気抵抗効果素子基板。
  9. 上下のシールド層によってセンス電流が膜面に直交する方向に与えられる複数の磁気抵抗効果素子が一列に配置され、各磁気抵抗効果素子の近傍に該磁気抵抗効果素子と一対で請求項1ないし7のいずれか一項に記載のモニタ素子を備えたことを特徴とする磁気抵抗効果素子基板。
  10. 上下のシールド層によりセンス電流が膜面に直交する方向に与えられる磁気抵抗効果素子の媒体対向面を形成する研磨加工時に同磁気抵抗効果素子の素子抵抗モニタとして使用される、所定の抵抗値を有する多層膜を備えたモニタ素子を製造する方法であって、
    前記下部シールド層と同一積層高さ位置に、前記多層膜の最下面にハイト方向奥側で接続し該多層膜の膜面に対して平行に電流を供給する電極層を形成し、この電極層の電極接続部及び電極取出部を除く領域を覆う絶縁性保護層を形成することを特徴とするモニタ素子の製造方法。
  11. 請求項10記載のモニタ素子の製造方法において、前記絶縁性保護層は多層構造で形成するモニタ素子の製造方法。
  12. 請求項11記載のモニタ素子の製造方法において、前記電極層を形成した後に、
    前記電極層の電極接続部と電極取出部を除く領域に、絶縁材料からなる第1エクストラギャップ層を形成する工程と、
    前記第1エクストラギャップ層及び露出している前記電極層の電極接続部の上に、所定の抵抗値を有する多層膜を形成し、この多層膜の最下面と前記電極層の電極接続部をハイト方向奥側で接続する工程と、
    露出している前記第1エクストラギャップ層の上に、絶縁材料からなるバックフィルギャップ層を形成する工程と、
    前記電極層の電極取出部を除く領域に、絶縁材料からなる第2エクストラギャップ層を形成する工程と、
    この第2エクストラギャップ層の上に上部シールド形成用のメッキ下地膜を全面的に形成し、前記上部シールド層と同一積層高さ位置に、露出している前記電極層の電極取出部に接続する電極パッドを形成する工程と、
    エッチングにより、前記上部シールド層と前記電極パッドの間の不要なメッキ下地膜を除去する工程とを有し、
    前記第1エクストラギャップ層、前記第2エクストラギャップ層、及び前記バックフィルギャップ層により前記絶縁性保護層を構成するモニタ素子の製造方法。
  13. 請求項11または12記載のモニタ素子の製造方法において、前記絶縁性保護層の各層の膜厚は、1000Å以下で形成するモニタ素子の製造方法。
  14. 請求項10ないし13のいずれか一項に記載のモニタ素子の製造方法において、前記下部シールド層と前記電極層は、同一の導電性軟磁性材料により、同時に形成するモニタ素子の製造方法。
  15. 請求項10ないし13のいずれか一項に記載のモニタ素子の製造方法において、前記上部シールド層と前記電極パッドは、同一の導電性軟磁性材料により、同時に形成するモニタ素子の製造方法。
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