JP4475133B2 - 光ディスク装置及び光ディスク検査方法 - Google Patents
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Description
M1.ディスクを取り出す
M2.強い汚れを記録禁止にする
M3.全ての汚れを記録禁止にする
M4.戻る(何もしない)
a.ユーザがメニューM4(戻る)を選んだ場合
b.ユーザがメニューM2(強い汚れを記録禁止にする)を選び、かつ、強以外の汚れ判定がある場合
c.ユーザが何も選ばずに記録開始操作をした場合
Claims (4)
- 光ディスクにレーザ光源よりレーザ光を照射して記録又は再生を行う記録及び/又は再生手段と、
前記レーザ光源から光ディスクに照射したレーザ光の光ディスクからの戻り光を検出する検出手段と、
前記光ディスクの汚れに関する検査パラメータを保持するメモリと、
前記検出手段が検出した戻り光と、前記メモリに保持された検査パラメータに応じて、光ディスクの汚れ検査を制御し、前記光ディスクの記録可能領域に対して所定数のトラックごとの第1のトラック間隔で検査を実行し、前記第1のトラック間隔での検査の結果、汚れの可能性がある箇所には、前記第1のトラック間隔よりも狭い第2のトラック間隔で検査し、前記光ディスクの管理領域とユーザデータ記録領域とで、前記第1のトラック間隔を決めるトラック数を変化させる制御手段と、
前記制御手段が判定した汚れ検査に関する情報として、前記制御手段で汚れが検出された場合に、前記検出された汚れの前記光ディスクの記録面上のおよその位置と共に、前記検出された汚れの度合いによって異なる記録可能時間を表示する表示手段と、
前記表示手段に表示された前記異なる記録可能時間に基づいて、許容する記録可能時間における記録を選択指示する操作部と、を備える
光ディスク装置。 - 請求項1記載の光ディスク装置において、
前記制御手段は、前記記録及び/又は再生手段で記録を行うための汚れ検査である場合に、光ディスクの記録可能領域、及び/又は前記光ディスクの記録済で有効なデータ領域だけを検査する
光ディスク装置。 - 請求項1又は2記載の光ディスク装置において、
前記制御手段は、汚れが検出された記録可能領域を記録禁止にする
光ディスク装置。 - 請求項1〜3のいずれか1項に記載の光ディスク装置において、
前記制御手段は、前記光ディスクが装填された場合、前記光ディスクをフォーマットした場合、前記光ディスクの記録済み領域を削除した場合のうち、いずれかの場合に前記汚れ検査を行う
光ディスク装置。
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JP2005032081A JP4475133B2 (ja) | 2005-02-08 | 2005-02-08 | 光ディスク装置及び光ディスク検査方法 |
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