JP4473862B2 - 寄生カップリングを相殺するクランプ回路 - Google Patents

寄生カップリングを相殺するクランプ回路 Download PDF

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Description

本発明はクランプ回路に係わり、特に、オンチップバスの信号線のような集積回路の信号線のクランプ回路に関する。
集積回路テクノロジは、チップ上の密度を増加させるためにスケーリングされ、オンチップ相互接続がますます狭くなっている。その上、オンチップ相互接続の高さは、相互接続の幅と直線的にスケーリングされない傾向があるので、それらのアスペクト比が拡大される。このような傾向は、隣接する配線とのカップリング容量の増加をもたらし、この増加が次に線間のクロストークを増加させる。その結果、通信バスの信号完全性を維持することは、これらが与える悪影響のために問題である。
信号完全性を改善するためにリピータ回路を使用することが知られている。しかし、リピータ回路の単独使用は、配線の受信端で依然として誤作動が発生し、論理障害および電力損の増加を生じる可能性があるので、上記の問題を解決しない。
本発明の目的は、上記の欠点を軽減するために役立つ集積回路の信号線、たとえば、オンチップバスの信号線のクランプ回路を提供することである。
本発明の第1の態様によれば、集積回路の信号線のクランプ回路が提供され、
上記クランプ回路は、
信号線上の信号に対応する入力信号を受け取る入力接続と、
信号線上の信号をクランプする出力信号を供給する出力接続と、
を具備し、
上記集積回路は、
1個以上のアグレッサ信号を受け取る手段と、
入力信号および1個以上のアグレッサ信号の状態に応じて出力信号を選択的にイネーブル状態にする手段と、
を具備することを特徴とする。
本発明の第2の態様によれば、集積回路の信号線上の信号をクランプする方法を提供し、
上記方法は、
信号線上の信号に対応する入力信号を受け取るステップと、
信号線上の信号をクランプする出力信号を供給するステップと、
を具備し、
入力信号および1個以上のアグレッサ信号の状態に応じて出力信号を選択的にイネーブル状態にするステップによって特徴付けられる。
本発明の別の態様によれば、請求項に記載されるような1台以上のクランプ回路を有する集積回路が提供される。
有利な実施形態は従属請求項に記載される。
本発明をよりよく理解し、本発明がどのように実施されるかをより明瞭に示すため、一例として、添付図面を参照する。
図1は本発明によるクランプ回路1のブロック図である。クランプ回路は、クランプされている信号線、すなわち、ビクティム線から入力信号3(Vin)を受け取る。また、クランプ回路1は、ビクティム線にクロストークを誘発する可能性のある信号線であるアグレッサ線からアグレッサ信号5,7をさらに受け取る。ビクティム線をクランプする出力信号9は、入力信号3およびアグレッサ信号5,7の論理状態に基づいて選択的にイネーブル状態になる。
検討対象の配線の経路に設置される従来のリピータ回路とは異なり、クランプ回路1は、それに代えて、入力信号3および出力信号9が検討対象の配線上の同じ点に接続されるように、ビクティム線に接続される。
アグレッサ信号5,7は、好ましくは、ビクティム線の直近にあるアグレッサ線から、たとえば、オンチップバスの直ぐ隣のアグレッサ線から取り出される。しかし、アグレッサ信号5,7は、検討対象の信号線に劣化の影響を与える他の信号線から取り出してもよいことがわかる。たとえば、アグレッサ信号は直ぐ隣の配線以外の配線から取り出してもよく、信号線の面の上または下にある金属面上の信号線から取り出してもよい。
図2は、バスシステム、たとえば、オンチップバス内のクランプ回路1の配置を表す。クランプ回路1は、ビクティム線の直ぐ隣から第1のアグレッサ信号5および第2のアグレッサ信号7を受け取る。さらに、クランプ回路は、入力信号3と出力信号9がビクティム線上の同じ点11に接続されるようにアレンジされる。
好ましくは、クランプ回路は、最大クロストークノイズ(またはピークノイズ電圧)が発生する検討対象の信号線の受信端近傍に配置される。クランプ回路1は、ビクティム線上のドライバが高速で誘導電荷を放電するために役立ち、ピーククロストークノイズの値を低下させる効果を奏する。
好ましくは、クランプ回路1は、並列形リピータ挿入法およびスタッガー形リピータ挿入法におけるあらゆる配線セクションの端に取り付けられる。
クランプ回路1は、本明細書中において後で詳述されるように、アグレッサ線とビクティム線とに同時に逆の変化が起きるときにビクティム線のスイッチングを加速する利点がある。したがって、クランパ回路は最悪ケースの遅延を減少させ、信号完全性を改善する利点がある。同時に、クランパ回路は典型ケースの遅延を増大させるが、典型ケースの遅延が最悪ケースの遅延よりも小さいならば、オンチップバスの最大通信速度に影響を与えない。
図3は本発明の好適な実施形態のクランプ回路のさらなる詳細を表す。クランプ回路1はクランプされるべき信号線から入力信号3を受け取り、信号線をクランプする出力信号9を生成する。
クランプ回路1は反転回路およびクランピング段17を具備する。好ましくは、反転回路は第1のインバータ段13および第2のインバータ段15を具備する。インバータ段13,15はそれぞれ低スイッチング閾値および高スイッチング閾値となるように設計される。第1のインバータ段13は、PMOSトランジスタ19(M1)およびNMOSトランジスタ21(M2)を具備する。PMOSトランジスタ19のソースは電源電圧Vddに接続され、一方、ドレインはNMOSトランジスタ21のドレインに接続されている。トランジスタ19(M1)のバルクソースは共に短絡されている。PMOSトランジスタ19およびNMOSトランジスタ21の各ゲートは互いに接続され、検討対象の信号線の電圧Vinに対応する入力信号3を受け取る。トランジスタ19,21のドレイン接続は、クランピング段17のプルアップ経路内のPMOSトランジスタ27(M5)のゲートに接続されている。NMOSトランジスタ21のソースは接地されている。
上記と同様に、第2のインバータ段15は、PMOSトランジスタ23(M3)およびNMOSトランジスタ25(M4)を具備する。PMOSトランジスタ23のソースは電源電圧Vddに接続され、一方、ドレインはNMOSトランジスタ25のドレインに接続されている。トランジスタ25(M4)のバルクソースは短絡されている。PMOSトランジスタ23およびNMOSトランジスタ25の各ゲートは互いに接続され、検討対象の信号線の電圧Vinに対応する入力信号3を受け取る。トランジスタ23,25のドレイン接続は、クランピング段17のプルダウン経路内のNMOSトランジスタ33(M8)のゲートに接続されている。NMOSトランジスタ25のソースは接地されている。
第1のインバータ段13の低スイッチング閾値および第2のインバータ段15の高スイッチング閾値は、配線の特定のセクションで観測される最大クロストークピークに応じて選択される。たとえば、低閾値および高閾値はそれぞれ400mVおよび700mVである。これは、(低スイッチング閾値を有する)インバータ段13および(高スイッチング閾値を有する)インバータ段15は、アグレッサ信号が切り替わるときにクロストークに起因して切り替わらないことを意味する。
クランピング段17は、PMOSトランジスタ27,29を含むプルアップ経路と、NMOSトランジスタ31,33を含むプルダウン経路とを具備する。PMOSトランジスタ27(M5)はVddに接続されたソースと、PMOSトランジスタ29(M6)に接続されたドレインとを有する。上記のように、PMOSトランジスタ27のゲートは第1のインバータ段13内のトランジスタ19,21のドレイン接続に接続される。PMOSトランジスタ29のゲートは制御信号「b」を受け取る。PMOSトランジスタ29のドレインは、プルダウン経路内のNMOSトランジスタ31(M7)のドレインに接続され、さらにクランプ回路1の出力信号9を提供する。NMOSトランジスタ31のソースはNMOSトランジスタ33(M8)のドレインに接続される。NMOSトランジスタ33のソースは接地され、一方、NMOSトランジスタ33のゲートは第2のインバータ段15内のトランジスタ23,25のドレイン接続に接続される。NMOSトランジスタ31のゲートは第2の制御信号「a」を受け取る。
制御信号aおよびbは、以下のテーブル1のアグレッサ線およびビクティム線の論理状態によって決定され、ここで、Xは「任意(don’t care)」状態を表し、Agg1およびAgg2は、第1のアグレッサ信号5および第2のアグレッサ信号7を表す。
Figure 0004473862
信号aおよび信号bの論理関数は以下の式1および式2によって表現される。
Figure 0004473862
これらの論理関数を表現するために使用される論理選択回路は、それらの遅延が式3に示された規準を満たすように実施され、ここで、TCLKはクロック周期であり、TSLは論理選択回路の遅延であり、τmaxは各配線セクションの端におけるアグレッサのスイッチング時間である。
Figure 0004473862
上記の式(1)および(2)からわかるように、論理関数はそれぞれNORゲートおよびNANDゲートに対応する。したがって、アグレッサ信号5,7から制御信号「a」および「b」を導出する選択論理は図4に示されるように達成される。
図4は、第1のアグレッサ信号5に対応する第1の入力と第2のアグレッサ信号7に対応する第2の入力を有するNORゲート41を使用して制御信号「a」を導出する方法を示す。制御信号「b」は、第1のアグレッサ信号5に対応する第1の入力と第2のアグレッサ信号7に対応する第2の入力を有するNANDゲート43を使用して導出される。
次に、図3の実施形態の動作をより詳細に説明する。受信機に誤作動を生じさせるクロストークノイズは、アグレッサ線およびビクティム線が同じ状態にあるときに発生する。アグレッサ線とビクティム線とが論理状態0である場合を考える。この状態では、制御信号「a」および「b」は論理状態1である。したがって、クランピング段17内のプルダウン経路は、トランジスタ31(M7)と33(M8)の両方がオンになるときにイネーブル状態になる。ここで、アグレッサ信号5,7が論理状態0から論理状態1へ切り替わり、ビクティム線が論理状態0のままであるならば、プルダウン経路31,33は、それぞれのビクティム線のセクションの端で誘導された電荷を放電する。したがって、ピーククロストークノイズは典型ケースでのより大きい遅延という犠牲を払って低減される。
典型ケースの遅延がより大きくなる理由は以下のように説明できる。アグレッサ線およびビクティム線が論理状態0であると仮定する。選択信号「a」および「b」は論理1であり、クランピング段17のプルダウン経路31,33をイネーブル状態にする。ここで、ビクティム線が論理状態0から論理状態1へ切り替わり、アグレッサが変化しないままであるならば、選択信号「a」および「b」は同じ論理状態1のままである。クランピング段17は、ビクティム線電圧が第2のインバータ段15のスイッチング閾値と交差するまでイネーブル状態である。ビクティム線の電圧が第2のインバータ段15の閾と交差した後、クランピング回路はディスエーブル状態になる。したがって、典型ケースでの遅延は、第2のインバータ段15によって、並びに、クランピング回路とビクティム線上のドライバと間との競合(fight)によって誘発される遅延のために増大する。
本発明のクランプ回路は、以下の通り説明されるように最悪ケースの遅延を改善する。アグレッサが論理状態1であり、ビクティム線が論理状態0であると仮定する。選択信号「a」および「b」は、これらの状態において論理状態0である。クランピング段17のプルアップ経路内のトランジスタ29(M6)はイネーブル状態である。プルダウン経路31,33はこれらの状態ではイネーブル状態でない。次に、アグレッサが論理状態1から論理状態0へ切り替わり、ビクティム線は論理状態0から論理状態1へ切り替わる。この選択信号「a」および「b」は、アグレッサのスイッチング中に論理0の状態を保つ。プルアップ経路27,29はイネーブル状態になり、かくして、ビクティム線のスイッチングを加速し、最悪ケースの遅延が減少する。
好ましくは、図3のクランプ回路は、第1のインバータ段13および第2のインバータ段15の閾値電圧を下げることを可能にするためにトリプルウェルテクノロジを使用する。図5は、トリプルウェルテクノロジが使用された場合の、第1および第2のインバータ段をバイアスさせるローカルバイアス回路50を表す。バイアス回路50は、第1のインバータ段13および第2のインバータ段15のそれぞれにトランジスタ21および23のためのバイアス信号「ノード1」および「ノード2」を供給する。バイアス回路50は、第1のPMOSトランジスタ51とNMOSトランジスタ53、55および57を具備する。PMOSトランジスタ51のソースはVddに接続され、一方、そのゲートとドレインは互いに短絡され、NMOSトランジスタ53のドレインに接続されている。NMOSトランジスタ53のドレインはそのゲートに短絡され、NMOS53のソースはNMOSトランジスタ55のドレインに接続されている。NMOSトランジスタ55のドレインはそのゲートに接続され、さらに、図3のNMOSトランジスタ21のためのバイアス電圧「ノード1」として接続されている。NMOSトランジスタ55のソースはNMOSトランジスタ57のドレインに接続されている。NMOSトランジスタ57のドレインはそのゲートに短絡され、ソースは図3のPMOSトランジスタ23にバイアス電圧「ノード2」を供給する。
バイアス回路は、第1のインバータ段13のプルアップトランジスタ21の閾値電圧と、第2のインバータ段15のトランジスタ23のプルダウン電圧を低下させるため使用され、かくして、スイッチング閾値を下げることを可能にする。当業者によって認められるように、この機能を提供するために、その他のバイアス回路を使用してもよい。付加的に、または、代替的に、閾値はトランジスタのサイジングを使用して下げることも可能である。
好ましくは、トランジスタのサイズは、非常に小さいウェルをバイアスしなければならないので、そのテクノロジによって許容される最小寸法になるように選択される。
図6および7は、メタル1面上にあるメタル2(Metal1 over Metal2)上の配線として、0.13μmで10mmの固定配線長の様々な配線構造に対して実行されたシミュレーションの結果を示す。
図6および7に関して、グラフのキーポイントを以下に説明する。
Figure 0004473862
図6は最小配線幅の(多数の最小間隔における)種々の配線間隔に対するピーククロストークノイズを示す。図7は最小配線間隔の(多数の最小配線幅における)種々の配線幅に対するピーククロストークノイズを示す。「アグレッサ認識クランパ」と呼ばれる本発明のクランプ回路は、図6に表されるように最小配線ピッチで、ピーククロストークノイズを、リピータ無しの場合に約30%減少させ、スタッガー形リピータ挿入(3−3−2−2mm)の場合に約26%減少させることがわかる。それは、図6に表されるように最小配線ピッチで並列リピータ挿入(3−3−2−2mm)の場合にピーククロストークノイズを約39.5%減少させる。テーブル2およびテーブル3は、最小配線ピッチにおける最悪ケースの遅延および最悪ケースのエネルギー遅延積の改善を示す。
Figure 0004473862
Figure 0004473862
テーブル4は最小配線ピッチの様々なスキームに対する遅延ノイズを示す。アグレッサ認識クランパは最小配線ピッチの並列形およびスタッガー形リピータ挿入の場合に遅延ノイズを著しく低減する。
Figure 0004473862
Figure 0004473862
テーブル5は、最小配線ピッチのアグレッサ認識クランパの高次クロストークの場合のクロストークノイズを示す。ここで、3個以上の直近のアグレッサのスイッチングを高次クロストークと呼ぶ。
図8〜10は、1次、2次および3次クロストークが何を意味するかを示す。1次クロストークは、図8に示されるように、ビクティム線の直ぐ隣のアグレッサによって誘発されたクロストークに関係する。2次クロストークは、図9に示されるように、ビクティム線の両側のそれぞれの2個のアグレッサ線の同時スイッチングによって誘発されたクロストークに関係し、3次クロストークは、図10に示されるように、ビクティム線の両側のそれぞれの3本のアグレッサ線の同時スイッチングによって誘発されたクロストークに関係する。かくして、n次クロストークは、バス上のビクティム線の両側にあるそれぞれn個の近傍のアグレッサ線の同時スイッチングを意味する。多数のアグレッサからの信号が使用されるならば、最悪ケースのクロストークの初期条件を形成する状態が特定され、上記のテーブル1に表された真理値表と類似した真理値表を作成するために使用される。クランプ回路は、次に、このような真理値表によって定義される論理状態に対応する論理選択信号によって制御される。
テーブル5から明らかであるように、本発明のクランプ回路は、特に並列形リピータ挿入の場合に、受信機の出力で誤作動を防止するために特に効果的である。テーブル5は、「ピークノイズ」と「誤作動」という名称の2個のサブカラムを示している。サブカラム「ピークノイズ」は配線セクションの端におけるピーククロストークノイズを示す。出力に誤作動がある場合、サブカラム「ピークノイズ」は第1の配線セクションの端で観測されたピーククロストークノイズを参照する。3次および4次クロストークの場合、誤作動は、並列形リピータ挿入(3−3−2−2mm)のケースでは、ビクティム線上の各配線セクションの端で常に発生する(強調表示されている)。この誤作動は、短時間だけ現れ、ビクティム線に過剰電荷を誘導する。この過剰電荷およびアグレッサによって誘導された電荷はピーククロストークノイズを増加させる。
上記の実施例では、クランパは、最悪ケースの遅延状況で、すなわち、アグレッサ線およびビクティム線に逆向きの変化が同時に発生したときに、ビクティム線のスイッチングを加速するために使用される。
本発明の別の態様によれば、信頼性が問題である場合、クランプ回路は、オーバーシュートおよびアンダーシュートが配線に発生するときに、ビクティム線をクランプするため使用され得る。これは、結果として最悪ケースの遅延を増大させるが、信頼性が問題である場合に、信号完全性をより高める。これはテーブル1の真理値表を変更し、クランプ回路を必要な方法で制御するために選択論理を準備することにより実現される。
注意すべきことは、好適な実施形態は第1および第2のアグレッサ信号を使用するが、本発明は、たとえば、クランプ回路がオンチップバスのエッジ近傍で使用されるときには、1個のアグレッサ信号だけに依存し得ると認められることである。さらに、クランプ回路は、たとえば、2次または3次のクロストークが信号完全性に影響を与えるときには3個以上のアグレッサ信号と共に使用可能である。
したがって、上記の本発明は、1本以上のアグレッサ信号線に応じて信号線をクランプするクランプ回路を提供する。
さらに、好適な実施形態は第1および第2のインバータ段13、15を提供するが、本発明は閾値が変化しない場合にも使用可能であり、それによって、この回路は2つのインバータ段13および15が1つのインバータ段にまとめられるので簡略化されることに注意されたい。
上記の実施例において、当業者に容易に理解されるように、好適な実施形態は、ビクティム線の直ぐ隣にあるアグレッサ線を参照するが、アグレッサ線は他の信号線から選択されてもよい。たとえば、アグレッサ線は直ぐ隣の線でなくてもよく、即ち、実際にはビクティム線と同じ通信バスからの線でなくてもよい。したがって、アグレッサ線は、ビクティム線に重大な影響を及ぼす任意の信号線から選ばれ、ビクティム線の上または下にある金属面からの隣接線を含む。本発明は、3本以上のアグレッサ線と共に使用してもよく、たとえば、2次および3次のクロストークに関連して既に説明したように2対または3対の信号線のペアと共に使用してもよい。
さらに、好適な実施形態は検討対象の信号線の端の近傍に配置されたクランプ回路を示すが、クランプ回路は信号線上の他の場所に配置してもよい。
上記の本発明は、集積回路上の他の信号線からの2個以上のアグレッサ信号の論理状態に基づいて、検討対象の信号線の信号レベルをクランプするために使用されるクランプ回路を提供するという効果を有する。
上記の実施形態は本発明を限定するのではなく例示し、当業者は、特許請求の範囲に記載されたような本発明の範囲から逸脱することなく、多数の別の実施形態を設計できることに注意すべきである。請求項中、括弧内に入れられた任意の参照符号は請求項を限定する事項として解釈されるべきでない。用語「を具備する」および「を含む」などは、請求項または明細書全体に列挙されていない要素若しくはステップの存在を排除しない。単数形による要素の参照は、このような要素の複数形による参照を排除するものではなく、その逆もまた同様である。本発明は、複数の別個の要素を具備するハードウェアを用いて実施され、かつ、適切にプログラミングされたコンピュータを用いて実施される。複数の手段を列挙する装置請求項において、これらの手段のうちの数個は全く同一のハードウェア品目によって具現化される。ある種の手段が互いに異なる従属請求項で引用されるという単なる事実は、これらの手段の組み合わせを使用しても有利にならないということを示唆しない。
本発明によるクランプ回路のブロック図である。 クランプ回路がどのようにオンチップバスの信号線と共に使用され得るかを示す図である。 本発明の一実施形態によるクランプ回路のさらなる詳細を表す図である。 図3のクランプ回路のための選択回路を表す図である。 図3のクランプ回路のためのバイアス回路を表す図である。 最小配線幅の種々のスキームにおける配線間隔に対するピーククロストークのシミュレーション結果を表す図である。 最小配線間隔の種々のスキームにおける配線幅に対するピーククロストークのシミュレーション結果を表す図である。 1次クロストークを表す図である。 2次クロストークを表す図である。 3次クロストークを表す図である。

Claims (18)

  1. 集積回路の信号線のクランプ回路であって、
    信号線上の信号に対応する入力信号を受け取る入力接続部と、
    前記信号線上の前記信号をクランプする出力信号を供給する出力接続部と、
    を具備し、
    1つ以上のアグレッサ信号を受け取る手段と、
    前記入力信号および前記1つ以上のアグレッサ信号の状態に従って、前記出力信号を選択的にイネーブル状態にする手段と、
    を具備し、
    前記入力接続部と前記出力接続部は、前記信号線上の実質的に同じポイントで接続されていることを特徴とする、クランプ回路。
  2. 前記出力信号を選択的にイネーブル状態にする第1および第2のアグレッサ信号を受け取る、請求項1に記載のクランプ回路。
  3. 前記入力信号と前記第1および第2のアグレッサ信号とが同じ論理レベルにあるときに、出力信号を供給するように適合された、請求項2に記載のクランプ回路。
  4. 前記入力信号と前記第1および第2のアグレッサ信号とが論理状態0にあるときに、前記出力信号としてプルダウン信号を供給するように適合された、請求項3に記載のクランプ回路。
  5. 前記入力信号と前記第1および第2のアグレッサ信号とが論理状態1にあるときに、前記出力信号としてプルアップ信号を供給するように適合された、請求項3に記載のクランプ回路。
  6. 前記出力信号が所定の期間に亘ってイネーブル状態にされ、前記第1および第2のアグレッサ信号が論理レベルを切り替えるとともに前記信号線が同じ論理レベルを維持する場合には、前記信号線上に誘導された電荷を放電する、請求項3に記載のクランプ回路。
  7. 所定の電圧閾値と交差する前記入力信号に応答して、前記出力信号をディスエーブル状態にするように適合された、請求項3に記載のクランプ回路。
  8. 前記第1および第2のアグレッサ信号と逆の向きに切り替わる前記入力信号に応じて、前記出力信号としてプルアップ経路またはプルダウン経路を選択的に提供する手段を有する、請求項2に記載のクランプ回路。
  9. 反転回路と、
    第1および第2の制御信号を使用して選択的にイネーブル状態にされるプルアップ経路およびプルダウン経路を含むクランプ段と、
    を具備する、請求項1に記載のクランプ回路。
  10. 前記反転回路は、
    低スイッチング閾値を有する第1のインバータ段と、
    高スイッチング閾値を有する第2のインバータ段と、
    を具備する、請求項9に記載のクランプ回路。
  11. 前記第2の制御信号は、
    Figure 0004473862
    であるように、前記第1および第2のアグレッサ信号に応じて決定され、ここで、Agg1が前記第1のアグレッサ信号であり、Agg2が前記第2のアグレッサ信号である、請求項9に記載のクランプ回路。
  12. 前記第1の制御信号は、
    Figure 0004473862
    であるように、前記第1および第2のアグレッサ信号の前記状態によって設定され、ここで、Agg1が前記第1のアグレッサ信号であり、Agg2が前記第2のアグレッサ信号である、請求項9に記載のクランプ回路。
  13. 前記入力接続部および前記出力接続部は、前記信号線の受信端の近傍で接続される、請求項に記載のクランプ回路。
  14. 前記第1および第2のアグレッサ信号は、前記信号線に最も劣化の影響を与える配線から導出される、請求項1に記載のクランプ回路。
  15. 前記第1および第2のアグレッサ信号は、通信バス上の前記信号線の直ぐ隣の信号である、請求項14に記載のクランプ回路。
  16. 前記第1および第2のアグレッサ信号は、前記信号線の面の上面および下面にある集積回路上の配線から引き出される、請求項14に記載のクランプ回路。
  17. 請求項1に記載の1つ以上のクランプ回路を有するオンチップ通信バスを具備する、集積回路。
  18. 集積回路の信号線上の信号をクランプする方法であって、
    信号線上の信号に対応する入力信号を受け取るステップと、
    前記信号線上の前記信号をクランプする出力信号を供給するステップと、
    を含み、
    前記入力信号および1つ以上のアグレッサ信号の状態に従って、前記出力信号を選択的にイネーブル状態にするステップを含み、
    前記入力信号は、前記出力信号が印加される前記信号線上の実質的に同じポイントから取られる方法。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8250295B2 (en) 2004-01-05 2012-08-21 Smart Modular Technologies, Inc. Multi-rank memory module that emulates a memory module having a different number of ranks
US7337419B2 (en) * 2004-07-29 2008-02-26 Stmicroelectronics, Inc. Crosstalk noise reduction circuit and method
US8154901B1 (en) * 2008-04-14 2012-04-10 Netlist, Inc. Circuit providing load isolation and noise reduction

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0758367B2 (ja) * 1987-11-20 1995-06-21 旭光学工業株式会社 焦点検出装置の光学系
JPH0284817A (ja) 1988-09-20 1990-03-26 Nec Corp 集積回路
KR0137105B1 (ko) * 1993-06-17 1998-04-29 모리시다 요이치 데이터 전송회로, 데이터선 구동회로, 증폭회로, 반도체 집적회로 및 반도체 기억장치
US5684429A (en) * 1995-09-14 1997-11-04 Ncr Corporation CMOS gigabit serial link differential transmitter and receiver
US5920223A (en) * 1996-12-12 1999-07-06 Xilinx, Inc. Method and apparatus to improve immunity to common-mode noise
US5900766A (en) * 1997-07-11 1999-05-04 Hewlett-Packard Company Coupling charge compensation device for VLSI circuits
US6515345B2 (en) * 2001-02-21 2003-02-04 Semiconductor Components Industries Llc Transient voltage suppressor with diode overlaying another diode for conserving space
US7116851B2 (en) * 2001-10-09 2006-10-03 Infinera Corporation Optical signal receiver, an associated photonic integrated circuit (RxPIC), and method improving performance
US7057475B2 (en) * 2003-10-22 2006-06-06 Adc Dsl Systems, Inc. Ferrite choke

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